JPH09118583A - 結晶引上設備 - Google Patents
結晶引上設備Info
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- JPH09118583A JPH09118583A JP8253151A JP25315196A JPH09118583A JP H09118583 A JPH09118583 A JP H09118583A JP 8253151 A JP8253151 A JP 8253151A JP 25315196 A JP25315196 A JP 25315196A JP H09118583 A JPH09118583 A JP H09118583A
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- JP
- Japan
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- protective gas
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- crystal pulling
- crucible
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
- C30B15/14—Heating of the melt or the crystallised materials
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10T117/10—Apparatus
- Y10T117/1024—Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
- Y10T117/1032—Seed pulling
-
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- Y10T117/1068—Seed pulling including heating or cooling details [e.g., shield configuration]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10T117/1024—Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
- Y10T117/1076—Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state having means for producing a moving solid-liquid-solid zone
- Y10T117/1088—Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state having means for producing a moving solid-liquid-solid zone including heating or cooling details
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 結晶引上設備の内壁及び加熱体への保護ガス
中のチリ状物質成分の堆積傾向並びに該設備のエネルギ
消費量を少なくする。 【解決手段】 容器1が、坩堝4を取り囲む加熱体5の
外側に、保護ガス出口14,15 に接続された環状室
8を有し、該環状室が、該環状室の加熱体5側の内側を
制限する内側の保護管6と、該環状室の外側を制限する
外側の保護管7とによって形成されており、該外側の保
護管7の外側に容器1の熱絶縁体10が配置されてい
る。
中のチリ状物質成分の堆積傾向並びに該設備のエネルギ
消費量を少なくする。 【解決手段】 容器1が、坩堝4を取り囲む加熱体5の
外側に、保護ガス出口14,15 に接続された環状室
8を有し、該環状室が、該環状室の加熱体5側の内側を
制限する内側の保護管6と、該環状室の外側を制限する
外側の保護管7とによって形成されており、該外側の保
護管7の外側に容器1の熱絶縁体10が配置されてい
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術】本発明は、坩堝内で熔融可能な材
料から結晶ブロックを生ぜしめるための結晶引上設備で
あって、坩堝が加熱体によって取り囲まれていて容器内
に配置されており、該容器の壁が熱絶縁体を有しかつ外
側に冷却媒体用の冷却通路を有しており、かつ容器が少
なくとも1つの保護ガス入口及び保護ガス出口を有して
いる形式のものにに関する。
料から結晶ブロックを生ぜしめるための結晶引上設備で
あって、坩堝が加熱体によって取り囲まれていて容器内
に配置されており、該容器の壁が熱絶縁体を有しかつ外
側に冷却媒体用の冷却通路を有しており、かつ容器が少
なくとも1つの保護ガス入口及び保護ガス出口を有して
いる形式のものにに関する。
【0002】
【従来の技術】このような結晶引上設備は殊に単結晶珪
素又はゲルマニウムのブロックの製造に使用され、従っ
て当該技術分野において公知である。この場合保護ガス
として、酸素が入ることを防ぐために、多くの場合アル
ゴンが使用される。この保護ガスは通常は加熱体の上側
で、容器の熱絶縁体外側において環状室内へ流入し、次
いで熱絶縁体と冷却通路との間のこの環状室を経て排出
される。
素又はゲルマニウムのブロックの製造に使用され、従っ
て当該技術分野において公知である。この場合保護ガス
として、酸素が入ることを防ぐために、多くの場合アル
ゴンが使用される。この保護ガスは通常は加熱体の上側
で、容器の熱絶縁体外側において環状室内へ流入し、次
いで熱絶縁体と冷却通路との間のこの環状室を経て排出
される。
【0003】実地において示されたところでは、このよ
うな結晶引上設備においては加熱体及び容器内壁に比較
的早く、保護ガス中の塵状の物質が沈降堆積し、その結
果設備を望ましくない短い時間間隔で清浄化しなければ
ならない。殊に珪素結晶ブロックを製造する場合には酸
化珪素が容器内壁及び加熱体に沈降堆積する。さらにこ
のような結晶引上設備はエネルギ消費量が高い。
うな結晶引上設備においては加熱体及び容器内壁に比較
的早く、保護ガス中の塵状の物質が沈降堆積し、その結
果設備を望ましくない短い時間間隔で清浄化しなければ
ならない。殊に珪素結晶ブロックを製造する場合には酸
化珪素が容器内壁及び加熱体に沈降堆積する。さらにこ
のような結晶引上設備はエネルギ消費量が高い。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、はじ
めに述べた形式の結晶引上設備の内壁及び加熱体への物
質の沈降堆積傾向並びに該設備のエネルギ消費量を出来
る限り少なくすることにある。
めに述べた形式の結晶引上設備の内壁及び加熱体への物
質の沈降堆積傾向並びに該設備のエネルギ消費量を出来
る限り少なくすることにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の課題は本発明によ
れば、容器が、坩堝の範囲に、内側の保護管によって加
熱体に向かって制限されている、保護ガス出口に接続さ
れた環状室を有し、該環状室が外側で外側の保護管によ
って制限されており、その後側に容器の熱絶縁体がある
ことによって、解決されている。
れば、容器が、坩堝の範囲に、内側の保護管によって加
熱体に向かって制限されている、保護ガス出口に接続さ
れた環状室を有し、該環状室が外側で外側の保護管によ
って制限されており、その後側に容器の熱絶縁体がある
ことによって、解決されている。
【0006】
【発明の効果】このような結晶引上設備においては保護
ガスは熱絶縁体によって冷却媒体から離隔されている。
従って保護ガスは従来技術の場合よりも著しく高温で容
器を出る。これにより、冷却媒体、多くの場合水、には
僅かな熱が供給されるに過ぎず、その結果比較的僅かな
冷却媒体流を必要とするに過ぎない。排出される保護ガ
スはもはや冷却媒体によって冷却されないから、保護ガ
ス中における物質の凝結量が減少し、その結果設備、特
に加熱体の耐用時間は著しく延長される。加熱体を取り
囲む本発明の環状室によって容器内には極めて一様な温
度分布が生じ、このことは結晶引上過程にとって有利で
ある。
ガスは熱絶縁体によって冷却媒体から離隔されている。
従って保護ガスは従来技術の場合よりも著しく高温で容
器を出る。これにより、冷却媒体、多くの場合水、には
僅かな熱が供給されるに過ぎず、その結果比較的僅かな
冷却媒体流を必要とするに過ぎない。排出される保護ガ
スはもはや冷却媒体によって冷却されないから、保護ガ
ス中における物質の凝結量が減少し、その結果設備、特
に加熱体の耐用時間は著しく延長される。加熱体を取り
囲む本発明の環状室によって容器内には極めて一様な温
度分布が生じ、このことは結晶引上過程にとって有利で
ある。
【0007】容器内における特に一様なガス流、ひいて
は特に一様な温度分布は、本発明の有利な一構成によれ
ば、環状室がその下側の端面でふるい板により制限され
ていて該ふるい板を介して保護ガス出口に接続している
ことによってえられている。結晶引上設備配置のための
スペースは、容器がその底部に、容器に対して軸方向に
向けられた2つの互に反対側に位置する保護ガス出口を
有している場合、良好に利用される。
は特に一様な温度分布は、本発明の有利な一構成によれ
ば、環状室がその下側の端面でふるい板により制限され
ていて該ふるい板を介して保護ガス出口に接続している
ことによってえられている。結晶引上設備配置のための
スペースは、容器がその底部に、容器に対して軸方向に
向けられた2つの互に反対側に位置する保護ガス出口を
有している場合、良好に利用される。
【0008】さらに本発明により、内側の保護管が上方
へ向かって加熱体の上縁の高さまで達している場合、坩
堝は専らその上側だけに保護ガスの高速流の作用を受
け、さらに内側に位置する範囲では保護ガスは殆ど静止
している。保護ガスの流れがこのように制限されること
により、保護ガスと一緒に連行された物質成分が凝結す
る危険がある比較的低温の範囲に保護ガスがあまり流れ
ないようにすることができる。
へ向かって加熱体の上縁の高さまで達している場合、坩
堝は専らその上側だけに保護ガスの高速流の作用を受
け、さらに内側に位置する範囲では保護ガスは殆ど静止
している。保護ガスの流れがこのように制限されること
により、保護ガスと一緒に連行された物質成分が凝結す
る危険がある比較的低温の範囲に保護ガスがあまり流れ
ないようにすることができる。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明は種々異なる多くの態様で
実施することができる。その原理をさらに明瞭にするた
めに図面には本発明による結晶引上設備の縦断面が示さ
れており、以下この図面につき本発明を説明する。
実施することができる。その原理をさらに明瞭にするた
めに図面には本発明による結晶引上設備の縦断面が示さ
れており、以下この図面につき本発明を説明する。
【0010】図は容器1を示し、該容器の壁2は二重壁
に構成されており、従って壁内に冷却媒体、通常は水、
用の冷却通路3が存在している。容器1内には坩堝4が
配置されており、該坩堝は電気的な加熱体5によって取
り囲まれている。この加熱体5は外側で僅かな距離をお
いて内側の保護管6及び外側の保護管7によって包囲さ
れている。この形式で保護管6、7の間には環状室8が
形成され、該環状室の下側の端面はやはり環状のふるい
板9によって制限されている。内側の保護管6の上縁は
加熱体5の上縁の高さに延びている。外側の保護管7と
容器1の壁2との間には坩堝4の範囲に熱絶縁体10が
ある。
に構成されており、従って壁内に冷却媒体、通常は水、
用の冷却通路3が存在している。容器1内には坩堝4が
配置されており、該坩堝は電気的な加熱体5によって取
り囲まれている。この加熱体5は外側で僅かな距離をお
いて内側の保護管6及び外側の保護管7によって包囲さ
れている。この形式で保護管6、7の間には環状室8が
形成され、該環状室の下側の端面はやはり環状のふるい
板9によって制限されている。内側の保護管6の上縁は
加熱体5の上縁の高さに延びている。外側の保護管7と
容器1の壁2との間には坩堝4の範囲に熱絶縁体10が
ある。
【0011】容器1の上側の範囲には2つの保護ガス入
口11、12が略示的に示されている。これらの入口及
び上側開口13を通って同時に、結晶引上設備の作業中
保護ガス、多くの場合アルゴン、が容器1内へ流入す
る。この保護ガスは容器1から2つの保護ガス出口1
4、15を通って排出される。該保護ガス出口は容器1
の底部16の互に反対側に位置していて容器1に対して
軸方向に向けられておりかつそれぞれふるい板9を介し
て環状室8に接続している。
口11、12が略示的に示されている。これらの入口及
び上側開口13を通って同時に、結晶引上設備の作業中
保護ガス、多くの場合アルゴン、が容器1内へ流入す
る。この保護ガスは容器1から2つの保護ガス出口1
4、15を通って排出される。該保護ガス出口は容器1
の底部16の互に反対側に位置していて容器1に対して
軸方向に向けられておりかつそれぞれふるい板9を介し
て環状室8に接続している。
【0012】結晶引上設備の作業中保護ガスは上から下
へ略示的に示されている結晶ブロック17に沿って坩堝
4の上側へ流れ、さらにここから加熱体5を越えてあら
ゆる側で上方へ流れ環状室8内へ入り、ここから保護ガ
ス出口14、15を経て排出される。容器1内の他の室
も保護ガスで満たされるが、しかし主たる流れは上記の
経路をとる。
へ略示的に示されている結晶ブロック17に沿って坩堝
4の上側へ流れ、さらにここから加熱体5を越えてあら
ゆる側で上方へ流れ環状室8内へ入り、ここから保護ガ
ス出口14、15を経て排出される。容器1内の他の室
も保護ガスで満たされるが、しかし主たる流れは上記の
経路をとる。
【図1】本発明による結晶引上設備の縦断面図
1 容器 2 壁 3 冷却通路 4 坩堝 5 加熱体 6 内側の保護管 7 外側の保護管 8 環状室 9 ふるい板 10 熱絶縁体 11 保護ガス入口 12 保護ガス入口 13 開口 14 保護ガス出口 15 保護ガス出口 16 底部 17 結晶ブロック
フロントページの続き (72)発明者 ヴィンフリート シュールマン ドイツ連邦共和国 クラインオストハイム ハイデルベルガー シュトラーセ 3 (72)発明者 ヨハン ショラー ドイツ連邦共和国 エッペルツハウゼン ベルリーナー シュトラーセ (番地な し)
Claims (4)
- 【請求項1】 坩堝内で熔融可能な材料から結晶ブロッ
クを生ぜしめるための結晶引上設備であって、坩堝が加
熱体によって取り囲まれていて容器内に配置されてお
り、該容器の壁が熱絶縁体を有しかつ外側に冷却媒体用
の冷却通路を有しており、かつ容器が少なくとも1つの
保護ガス入口及び保護ガス出口を有している形式のもの
において、容器(1)が坩堝(4)の範囲に、内側の保
護管(6)によって加熱体(5)に向かって制限されて
いる、保護ガス出口(14,15)に接続された環状室
(8)を有し、該環状室が外側で外側の保護管(7)に
よって制限されており、その後側に容器(1)の熱絶縁
体(10)があることを特徴とする、結晶引上設備。 - 【請求項2】 環状室(8)がその下側の端面でふるい
板(9)により制限されていて該ふるい板を介して保護
ガス出口(14,15)に接続していることを特徴とす
る、請求項1記載の結晶引上設備。 - 【請求項3】 容器(1)がその底部(16)に、容器
(1)に対して軸方向に向けられた2つの互に反対側に
位置する保護ガス出口(14,15)を有していること
を特徴とする、請求項1又は2記載の結晶引上設備。 - 【請求項4】 内側の保護管(6)が上方へ向かって加
熱体(5)の上縁の高さまで達していることを特徴とす
る、請求項1から3までのいずれか1項記載の結晶引上
設備。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19535750 | 1995-09-26 | ||
DE19535750.7 | 1995-09-26 | ||
DE19539316A DE19539316A1 (de) | 1995-09-26 | 1995-10-23 | Kristallziehanlage |
DE19539316.3 | 1995-10-23 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09118583A true JPH09118583A (ja) | 1997-05-06 |
Family
ID=26018935
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8253151A Pending JPH09118583A (ja) | 1995-09-26 | 1996-09-25 | 結晶引上設備 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5707447A (ja) |
EP (1) | EP0765954B1 (ja) |
JP (1) | JPH09118583A (ja) |
TW (1) | TW393526B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010501466A (ja) * | 2006-09-01 | 2010-01-21 | オクメティック オサケユフティオ ユルキネン | 結晶製造 |
Families Citing this family (6)
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WO1997029224A1 (fr) * | 1996-02-08 | 1997-08-14 | Sumitomo Sitix Corporation | Appareil de pousse de monocristal et procede correspondant |
JP3531333B2 (ja) * | 1996-02-14 | 2004-05-31 | 信越半導体株式会社 | チョクラルスキー法による結晶製造装置、結晶製造方法、およびこの方法から製造される結晶 |
JP3653647B2 (ja) * | 1996-05-31 | 2005-06-02 | イビデン株式会社 | シリコン単結晶引き上げ装置用の保温筒 |
JPH10101482A (ja) * | 1996-10-01 | 1998-04-21 | Komatsu Electron Metals Co Ltd | 単結晶シリコンの製造装置および製造方法 |
KR20020096097A (ko) * | 2001-06-16 | 2002-12-31 | 주식회사 실트론 | 실리콘 잉곳 성장 장치 |
CN102400210A (zh) * | 2010-09-08 | 2012-04-04 | 北京有色金属研究总院 | 一种直拉硅单晶棒内缺陷的调节方法 |
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DE2821481C2 (de) * | 1978-05-17 | 1985-12-05 | Wacker-Chemitronic Gesellschaft für Elektronik-Grundstoffe mbH, 8263 Burghausen | Vorrichtung zum Ziehen von hochreinen Halbleiterstäben aus der Schmelze |
JPS59141494A (ja) * | 1983-01-31 | 1984-08-14 | Hitachi Ltd | 単結晶製造装置 |
JPH0639352B2 (ja) * | 1987-09-11 | 1994-05-25 | 信越半導体株式会社 | 単結晶の製造装置 |
JPH0388794A (ja) * | 1989-08-31 | 1991-04-15 | Nippon Steel Corp | シリコン単結晶の引上げ方法および装置 |
JPH04198086A (ja) * | 1990-11-28 | 1992-07-17 | Osaka Titanium Co Ltd | 単結晶成長方法 |
EP0530397A1 (en) * | 1991-09-04 | 1993-03-10 | Kawasaki Steel Corporation | Czochralski crystal pulling process and an apparatus for carrying out the same |
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JPH05254988A (ja) * | 1992-03-13 | 1993-10-05 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 単結晶の製造方法および装置 |
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-
1996
- 1996-08-24 EP EP96113592A patent/EP0765954B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-09-25 JP JP8253151A patent/JPH09118583A/ja active Pending
- 1996-09-25 TW TW085111727A patent/TW393526B/zh not_active IP Right Cessation
- 1996-09-26 US US08/718,965 patent/US5707447A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2010501466A (ja) * | 2006-09-01 | 2010-01-21 | オクメティック オサケユフティオ ユルキネン | 結晶製造 |
US8641820B2 (en) | 2006-09-01 | 2014-02-04 | Okmetic Oyj | Crystal manufacturing |
KR101472330B1 (ko) * | 2006-09-01 | 2014-12-12 | 옥메틱 오와이제이 | 결정 제조 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW393526B (en) | 2000-06-11 |
EP0765954A1 (de) | 1997-04-02 |
EP0765954B1 (de) | 1999-04-28 |
US5707447A (en) | 1998-01-13 |
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