JPH09116078A - 封止型半導体装置 - Google Patents

封止型半導体装置

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JPH09116078A
JPH09116078A JP26957595A JP26957595A JPH09116078A JP H09116078 A JPH09116078 A JP H09116078A JP 26957595 A JP26957595 A JP 26957595A JP 26957595 A JP26957595 A JP 26957595A JP H09116078 A JPH09116078 A JP H09116078A
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JP
Japan
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semiconductor device
adhesive
sealed semiconductor
sealed
external lead
Prior art date
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Pending
Application number
JP26957595A
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English (en)
Inventor
Koji Tani
幸治 谷
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Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH09116078A publication Critical patent/JPH09116078A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3421Leaded components

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  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、多ピン化、狭ピッチ化が進んでも
基板との接着強度の低下を防止しできる封止型半導体装
置を提供することにある。 【解決手段】 本発明の封止型半導体装置は、内部に半
導体素子を封止した封止部1と、封止部1から外部に引
出された複数の外部リード3とを備え、外部リード3が
その中間部で実装面側に折曲げられるとともに、さらに
先端部にて前記実装面とほぼ平行に外側に向けて折曲げ
られておりものであって、外部リード3の実装面3a及
び先端面3bに溝を設けたことを特徴とするものであ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、封止型半導体装置
に関し、特に表面実装型の封止型半導体装置の外部リー
ドに関する。
【0002】
【従来の技術】基板への実装密度を上げるため、基板挿
入型の封止型半導体装置に代えて表面実装型の封止型半
導体装置が多く使用されるようになってきた。従来の表
面実装型の封止型半導体装置10は、図4(a)に示す
ように、内部に半導体素子等を封止した封止部11と、
この封止部11から外部に引出された複数の外部リード
12とを備えている。この外部リード12は、実装面側
に折曲げられるとともに、さらにほぼ先端側で実装面に
対して平行に外側に向けて折曲げられている。そして、
封止型半導体装置10は、これを搭載するための基板1
3表面に形成されたフットプリント14上に外部リード
12が重なるように、自動マウンターで位置決めされた
状態で基板13に搭載される。
【0003】その後、図4(b)に示すように、リフロ
ー方式等により、外部リード12とフットプリント14
とを半田ペースト等の接着剤15により接着固定するこ
とにより、基板13に封止型半導体装置10を実装して
いる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、表面実装型
の封止型半導体装置10は、近年の電気機器の小型化に
ともない、多ピン化、狭ピッチ化が進み、外部リード1
2及びフットプリント14のパターン幅が一層細くる傾
向にある。それに伴って、接着剤15と外部リード12
及びフットプリント14との接触面積が小さくなるとと
もに、接着剤15の使用量が少なくなっている。その結
果、接着強度の低下を招来し、外部リード12が接着剤
15との界面で剥離し、フットプリント14から剥がれ
るおそれがあった。
【0005】本発明の目的は、上述した問題点に鑑み、
多ピン化、狭ピッチ化が進んでも基板との接着強度の低
下を防止しできる封止型半導体装置を提供することにあ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために次のような構成をとる。すなわち、本発明
の封止型半導体装置は、内部に半導体素子を封止した封
止部と、前記封止部から外部に引出された複数の外部リ
ードとを備え、前記外部リードが実装面側に折曲げられ
るとともに、さらにほぼ水平に外側に向けて折曲げられ
ており、前記外部リードの基板実装面及び先端面には溝
が設られている。
【0007】また、本発明の封止型半導体装置は、外部
リードの基板実装面及び先端面に設けられた溝の深さ
が、外部リードの板厚の1/4〜3/4であることを特
徴とするものである。本発明の表面実装型の封止型半導
体装置は、外部リードの基板実装面及び先端面に溝が設
けられているので、接着剤との接触面積を拡大すること
ができ、接着剤の量を少なくしても接着強度の低下を抑
えることができる。特に、先端面の溝には接着剤がくい
込むので、上方向に対する引っ張り強度の低下をさらに
抑えることができる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を、図面を
参照しつつ具体的に説明する。図1は、本発明に係る表
面実装型の封止型半導体装置の外部リードを含む要部側
面を示している。この封止型半導体装置1は、内部に半
導体素子等を封止した封止部2と、この封止部2から外
部に引出された複数の外部リード3とを備えており、こ
の外部リード3は、半導体装置が実装される面として規
定される実装面側にその中間部で折曲げられるととも
に、中間部より先端側の先端部で実装面に対してほぼ平
行に外側に向けて折曲げられている。この構造に関して
は、従来の表面実装型の封止型半導体装置と同様の構造
をしている。
【0009】本発明の封止型半導体装置1の外部リード
3の実装面3a及び先端面3bに複数の溝4が形成され
ている。これらの溝4は、外部リード3の長手方向と直
交する方向に、しかも、その深さt1は外部リード3の
肉厚t2の1/4〜3/4と範囲の値となるように形成
されている。深さt1は、外部リード3の強度を確保と
接着強度の確保との点から上記の範囲内で適宜決定され
る。この値の範囲内では、t1の深さを外部リード3の
肉厚t2の1/3程度にするのが、外部リードの強度及
び接着強度の点から最良と考えられる。
【0010】次に、本発明に係る封止型半導体装置1を
基板5に実装する手順を図2を参照に説明する。まず、
図2(a)に示すように、ガラスエポキシ等の基板5表
面に形成された導体パターンからなるフットプリント6
上に、半田ペースト等の接着剤7をスクリーン印刷等で
塗布する。
【0011】次に、自動マウンターにより、図2(b)
に示すように、封止部2から引き出された複数の外部リ
ード3の実装面3aと接着剤7とが重なり合うように封
止型半導体装置1を基板5に位置合わせした後、外部リ
ード3を接着剤7に押圧するようにして基板5に搭載す
る。この封止型半導体装置1の外部リード3の実装面3
a及び先端面3bには複数の溝4が設けられている。
【0012】次に、基板5に封止型半導体装置1を搭載
した状態で、リフロー炉に搬入し、例えば熱風法、赤外
線法により加熱することで接着剤7を溶融させる。その
後、冷却することで接着剤7が固まり、図2(c)に示
すように、外部リード3とフットプリント6とが接着剤
7により接着固定されることになる。このとき、溶融し
た接着剤7は外部リード3に設けられた溝4の隙間に入
り込むことになるので、接着剤7と外部リード3との接
触面積は大きくなる。従って、多ピン化、狭ピッチ化に
よりパターン幅が細くなっても、接着剤7と外部リード
3との間の接着強度の低下はほとんど生じない。特に、
先端面3bに設けられた溝4にくい込んだ接着剤7によ
り、上方向に対する引っ張り強度のを増大させることが
できる。
【0013】次に、本発明の他の実施例を図3に示す。
上述と同様、外部リード3の基板実装面3a及び先端面
3bに溝4が設けられた封止型半導体装置1が、接着剤
7により基板5のフットプリント6に接着固定されてい
る。但し、フットプリント6の表面には、外部リード3
と同じように溝8が形成されている。従って、接着剤7
を溶融させたときに、外部リード3の溝4だけでなくフ
ットプリント6の溝8の隙間にも接着剤7がくい込む。
その結果、接着剤7とフットプリント6との接触面積が
大きくなり、接着剤7とフットプリント6間の接着強度
の低下も抑えることができる。
【0014】最後に溝4の形成方法であるが、これは外
部リード3をハーフエッチングすることで、容易にその
実装面3a及び先端面3bに溝4を形成することができ
る。尚、本実施例では溝4,溝8の断面が三角形状であ
るが、他に円弧状、四角状等にしても接着面積を大きく
するあらゆる形状により同様の効果を得ることができ
る。
【0015】
【発明の効果】以上、説明したように本発明による封止
型半導体装置によれば、外部リードの基板実装面及び先
端面に溝が設けられているので、接着剤が溝の隙間にく
い込むので、狭ピッチ化により外部リード及びフットプ
リントのパターンが細くなっても、接着剤との接触面積
を広くでき、接着強度が低下するのを抑えることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の封止型半導体装置の要部を示す側面
図。
【図2】本発明の封止型半導体装置と基板の実装工程を
示す説明図。
【図3】本発明の封止型半導体装置の他の実施例による
実装状態を示す側面図。
【図4】従来の封止型半導体装置の製造方法を示す斜視
図。
【符号の説明】
1 封止型半導体装置 2 封止部 3 外部リード 4 溝 5 基板 6 フットプリント 7 接着剤 8 溝

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部に半導体素子を封止した封止部と、
    前記封止部から外部に引出された複数の外部リードとを
    備え、前記外部リードがその中間部で実装面側に折曲げ
    られるとともに、さらに先端部にて前記実装面とほぼ平
    行に外側に向けて折曲げられている封止型半導体装置に
    おいて、前記外部リードの実装面及び先端面に溝を設け
    たことを特徴とする封止型半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記外部リードの実装面及び先端面に設
    けられた溝の深さは、前記外部リードの板厚の1/4〜
    3/4であることを特徴とする請求項1記載の封止型半
    導体装置。
JP26957595A 1995-10-18 1995-10-18 封止型半導体装置 Pending JPH09116078A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980085416A (ko) * 1997-05-29 1998-12-05 윤종용 홈을 갖는 리드 프레임
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KR20110114966A (ko) * 2010-04-14 2011-10-20 (주) 미코티엔 프로브 카드

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