JPH09105768A - 温湿度試験器 - Google Patents
温湿度試験器Info
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- JPH09105768A JPH09105768A JP26443995A JP26443995A JPH09105768A JP H09105768 A JPH09105768 A JP H09105768A JP 26443995 A JP26443995 A JP 26443995A JP 26443995 A JP26443995 A JP 26443995A JP H09105768 A JPH09105768 A JP H09105768A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 温湿度試験器のチャンバドレンとその排水
管、露受ドレンとその排水管およびオーバーフロードレ
ン配管の水が、長時間の高温高湿環境のもとで腐敗し、
これら排水管が詰まるのを防止する。 【解決手段】 オーバーフロー用排水管２０、チャンバ
ドレン用排水管２３および露受ドレン用排水管２５が接
続されている共通排水管２１系に、真空ポンプ４と、バ
ッフアボックス３２およびタイムシーケンシャル制御さ
れる３個の電磁弁３１ａ、３１ｂ、３１ｃとを具備した
バッフアボックス部とにより構成された強制排水手段３
を付加する。 【効果】 排水管が詰まる事態発生を防止でき、信頼性
試験における製品の開発、製造上での損失が回避でき
る。
管、露受ドレンとその排水管およびオーバーフロードレ
ン配管の水が、長時間の高温高湿環境のもとで腐敗し、
これら排水管が詰まるのを防止する。 【解決手段】 オーバーフロー用排水管２０、チャンバ
ドレン用排水管２３および露受ドレン用排水管２５が接
続されている共通排水管２１系に、真空ポンプ４と、バ
ッフアボックス３２およびタイムシーケンシャル制御さ
れる３個の電磁弁３１ａ、３１ｂ、３１ｃとを具備した
バッフアボックス部とにより構成された強制排水手段３
を付加する。 【効果】 排水管が詰まる事態発生を防止でき、信頼性
試験における製品の開発、製造上での損失が回避でき
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は電子機器や半導体デ
バイス用のエージング試験、特性試験、寿命評価試験等
に供せられる温湿度試験器に関し、さらに詳しくは、温
湿度試験器の排水機構に関するものである。
バイス用のエージング試験、特性試験、寿命評価試験等
に供せられる温湿度試験器に関し、さらに詳しくは、温
湿度試験器の排水機構に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来例の温湿度試験器は、図３の概略断
面図に示すような構成になっている。即ち温湿度試験器
は、断熱材１１で覆われた側壁と断熱材を内包した開閉
扉１２とで囲われた試験室１と調温調湿室２より構成さ
れている。この調温調湿室２内には、加熱ヒータにより
水液の温度を上げて加湿する加湿器部１３と、試験室１
内にある湿度センサ１６からの信号をもとに湿度をコン
トロールする除湿コイル１４および冷却コイル１５と、
温度センサ１８からの信号をもとに温度をコントロール
する加温ヒータ１７と、調温調湿室２の雰囲気を試験室
１へ送りだす送風器である、クロスフローファン１９が
設けられている。
面図に示すような構成になっている。即ち温湿度試験器
は、断熱材１１で覆われた側壁と断熱材を内包した開閉
扉１２とで囲われた試験室１と調温調湿室２より構成さ
れている。この調温調湿室２内には、加熱ヒータにより
水液の温度を上げて加湿する加湿器部１３と、試験室１
内にある湿度センサ１６からの信号をもとに湿度をコン
トロールする除湿コイル１４および冷却コイル１５と、
温度センサ１８からの信号をもとに温度をコントロール
する加温ヒータ１７と、調温調湿室２の雰囲気を試験室
１へ送りだす送風器である、クロスフローファン１９が
設けられている。
【０００３】加湿器部１３には、図は省略したが、水が
給水タンクから純水器を通して給水され、オーバーフロ
ーした水はオーバーフロー用排水管２０より共通排水管
２１を通って排水される。また、試験室１の側壁部等で
露結した水滴はチャンバドレン２２に集められ、チャン
バドレン用排水管２３より共通排水管２１を通って排水
される。開閉扉１２に露結した水滴は、開閉扉１２下に
設けられた露受ドレン２４に集まり、この露受ドレン２
４の水は、露受ドレン用排水管２５より共通排水管２１
を通って排水される。共通排水管２１には、上記の排水
管の他にも、給水タンクのオーバーフローした水や、給
水タンクや純水器の整備時に放出される水の排水管２６
等が接続されている。
給水タンクから純水器を通して給水され、オーバーフロ
ーした水はオーバーフロー用排水管２０より共通排水管
２１を通って排水される。また、試験室１の側壁部等で
露結した水滴はチャンバドレン２２に集められ、チャン
バドレン用排水管２３より共通排水管２１を通って排水
される。開閉扉１２に露結した水滴は、開閉扉１２下に
設けられた露受ドレン２４に集まり、この露受ドレン２
４の水は、露受ドレン用排水管２５より共通排水管２１
を通って排水される。共通排水管２１には、上記の排水
管の他にも、給水タンクのオーバーフローした水や、給
水タンクや純水器の整備時に放出される水の排水管２６
等が接続されている。
【０００４】上記のような構造の温湿度試験器において
は、チャンバドレン２２やチャンバドレン用排水管２３
の水、露受ドレン２４や露受ドレン用排水管２５の水、
およびオーバーフロー用排水管２０の水が、長時間の高
温高湿環境のもとで腐敗し、これら排水管が詰まる現象
が起きる。この様な状態となると、露結した水、又は加
湿器部１３に給水される水が温湿度試験器外に流れ出し
たり、温湿度コントロールができ難くなって、温湿度試
験条件が変動する事態が起きたりして、温湿度試験を途
中で中止せざるを得ない事態となることがある。この様
な事態が起きて、信頼性試験を再度行うのは製品の開
発、製造上で大きな損失となる。
は、チャンバドレン２２やチャンバドレン用排水管２３
の水、露受ドレン２４や露受ドレン用排水管２５の水、
およびオーバーフロー用排水管２０の水が、長時間の高
温高湿環境のもとで腐敗し、これら排水管が詰まる現象
が起きる。この様な状態となると、露結した水、又は加
湿器部１３に給水される水が温湿度試験器外に流れ出し
たり、温湿度コントロールができ難くなって、温湿度試
験条件が変動する事態が起きたりして、温湿度試験を途
中で中止せざるを得ない事態となることがある。この様
な事態が起きて、信頼性試験を再度行うのは製品の開
発、製造上で大きな損失となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述した温湿
度試験器における問題点を解決することをその目的とす
る。即ち本発明の課題は、温湿度試験器のチャンバドレ
ンとその排水管、露受ドレンとその排水管およびオーバ
ーフロー用排水管の水が、長時間の高温高湿環境のもと
で腐敗し、これら排水管が詰まる事態発生を防止できる
温湿度試験器を提供することである。
度試験器における問題点を解決することをその目的とす
る。即ち本発明の課題は、温湿度試験器のチャンバドレ
ンとその排水管、露受ドレンとその排水管およびオーバ
ーフロー用排水管の水が、長時間の高温高湿環境のもと
で腐敗し、これら排水管が詰まる事態発生を防止できる
温湿度試験器を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の温湿度試験器
は、上述の課題を解決するために提案するものであり、
断熱材で囲まれた試験室および試験室を恒温恒湿状態に
保持するようコントロールされた加熱器と加湿器と送風
機を具備する温湿度試験器にあって、試験室内の水蒸気
が露結し、水滴となって試験室の底部と開閉扉の底部と
に集まる水を排水する２個の排水管および加湿器のオー
バーフローした水を排水する排水管が接続している共通
排水管系に、真空ポンプとバッファボックス部とで構成
される強制排水手段を設け、バッファボックス部は、３
個の排水管内の容積に略等しい容積を持つバッファボッ
クスと、共通排水管とバッファボックスとの間の第１の
電磁弁と、前記バッファボックスと外部の共通排水管と
の間の第２の電磁弁およびバッファボックスと真空ポン
プに接続した真空配管との間の第３の電磁弁とにより構
成され、３個の電磁弁は、電磁弁コントローラによりタ
イムシーケンシャル制御されることを特徴とするもので
ある。
は、上述の課題を解決するために提案するものであり、
断熱材で囲まれた試験室および試験室を恒温恒湿状態に
保持するようコントロールされた加熱器と加湿器と送風
機を具備する温湿度試験器にあって、試験室内の水蒸気
が露結し、水滴となって試験室の底部と開閉扉の底部と
に集まる水を排水する２個の排水管および加湿器のオー
バーフローした水を排水する排水管が接続している共通
排水管系に、真空ポンプとバッファボックス部とで構成
される強制排水手段を設け、バッファボックス部は、３
個の排水管内の容積に略等しい容積を持つバッファボッ
クスと、共通排水管とバッファボックスとの間の第１の
電磁弁と、前記バッファボックスと外部の共通排水管と
の間の第２の電磁弁およびバッファボックスと真空ポン
プに接続した真空配管との間の第３の電磁弁とにより構
成され、３個の電磁弁は、電磁弁コントローラによりタ
イムシーケンシャル制御されることを特徴とするもので
ある。
【０００７】また、本発明の温湿度試験器は、強制排水
手段の３個の電磁弁のタイムシーケンシャル制御とし
て、まず第３の電磁弁を開き、バッファボックスが真空
となる時点で第３の電磁弁を閉じ、次に第１の電磁弁を
開き、３個の排水管の水をバッファボックスの方へ移動
させ、その直後第２の電磁弁を開き、３個の排水管の排
水が完了した後、第１および第２の電磁弁を閉じるとい
う制御であることを特徴とするものである。
手段の３個の電磁弁のタイムシーケンシャル制御とし
て、まず第３の電磁弁を開き、バッファボックスが真空
となる時点で第３の電磁弁を閉じ、次に第１の電磁弁を
開き、３個の排水管の水をバッファボックスの方へ移動
させ、その直後第２の電磁弁を開き、３個の排水管の排
水が完了した後、第１および第２の電磁弁を閉じるとい
う制御であることを特徴とするものである。
【０００８】更に、本発明の温湿度試験器は、複数台の
温湿度試験器に強制排水系を取り付ける際に、真空ポン
プからの真空配管系を共通にしたことを特徴とするもの
である。
温湿度試験器に強制排水系を取り付ける際に、真空ポン
プからの真空配管系を共通にしたことを特徴とするもの
である。
【０００９】
【作用】本発明の骨子は、強制排水系のバッファボック
スを真空ポンプにて真空にし、温湿度試験器の試験室と
バッファボックス間の約１気圧の圧力差を利用し、上記
３個の排水管を詰まらせていた腐敗した水をバッファボ
ックスの方へ移動させ、その後直ちに排水口の方へ排出
させる強制排水系機構を付加したことにある。
スを真空ポンプにて真空にし、温湿度試験器の試験室と
バッファボックス間の約１気圧の圧力差を利用し、上記
３個の排水管を詰まらせていた腐敗した水をバッファボ
ックスの方へ移動させ、その後直ちに排水口の方へ排出
させる強制排水系機構を付加したことにある。
【００１０】ここで、バッファボックスの容積を３個の
排水管内の容積に略等しい容積とした理由は、強制排水
動作を行う時、試験室の瞬時の温度低下を極力押さえる
ためである。即ち強制排水動作を行う時は、温湿度試験
器の試験室の容積が断熱膨張して試験室の温度が瞬時に
低下するが、この試験室と調温調湿室との容積増加分
（約バッファボックスの容積）を試験室と調温調湿室と
の容積に比べて十分小さくすることで試験室内温度の瞬
時低下を無視できるようにするためである。この断熱膨
張による温度と容積の関係は次式にて与えられる。 ＴＶD-1 ＝ 一定 ここで、Ｔは温湿度試験器の雰囲気の絶対温度（Ｋ）、
Ｖは試験室と調温調湿室との容積、Ｄは定圧比熱容量と
定積比熱容量の比であり、雰囲気が空気であるときは約
１．４である。
排水管内の容積に略等しい容積とした理由は、強制排水
動作を行う時、試験室の瞬時の温度低下を極力押さえる
ためである。即ち強制排水動作を行う時は、温湿度試験
器の試験室の容積が断熱膨張して試験室の温度が瞬時に
低下するが、この試験室と調温調湿室との容積増加分
（約バッファボックスの容積）を試験室と調温調湿室と
の容積に比べて十分小さくすることで試験室内温度の瞬
時低下を無視できるようにするためである。この断熱膨
張による温度と容積の関係は次式にて与えられる。 ＴＶD-1 ＝ 一定 ここで、Ｔは温湿度試験器の雰囲気の絶対温度（Ｋ）、
Ｖは試験室と調温調湿室との容積、Ｄは定圧比熱容量と
定積比熱容量の比であり、雰囲気が空気であるときは約
１．４である。
【００１１】今、３個の排水管内の容積を２００ｃｍ3
としてバッファボックスの容積をこの容積とし、試験室
と調温調湿室との容積を３Ｅ５ｃｍ3 とし、試験室温度
を８０℃、即ち３５３Ｋとした時、強制排水動作時、２
００ｃｍ3 の容積膨張による温度低下（ΔＴ）は、ΔＴ
≒０．１Ｋ である。 従って、２００ｃｍ3 程度の容積膨張時における瞬時の
温度低下は無視でき、温湿度試験器による信頼性試験に
影響を与えない。
としてバッファボックスの容積をこの容積とし、試験室
と調温調湿室との容積を３Ｅ５ｃｍ3 とし、試験室温度
を８０℃、即ち３５３Ｋとした時、強制排水動作時、２
００ｃｍ3 の容積膨張による温度低下（ΔＴ）は、ΔＴ
≒０．１Ｋ である。 従って、２００ｃｍ3 程度の容積膨張時における瞬時の
温度低下は無視でき、温湿度試験器による信頼性試験に
影響を与えない。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的実施の形態
例につき、添付図面を参照して説明する。なお従来技術
の説明で参照した図３中の構成部分と同様の構成部分に
は、同一の参照符号を付すものとする。
例につき、添付図面を参照して説明する。なお従来技術
の説明で参照した図３中の構成部分と同様の構成部分に
は、同一の参照符号を付すものとする。
【００１３】実施の形態例１ 本実施の形態例は温湿度試験器に本発明を適用した例で
あり、これを図１を参照して説明する。図１は本発明の
温湿度試験器の概略断面図で、試験室１や調温調湿室２
の構造に関しては従来例と同様なので説明を省略する。
まず、オーバーフロー用排水管２０、チャンバドレン用
排水管２３および露受ドレン用排水管２５が接続されて
いる共通排水管２１系に強制排水手段３が取り付けられ
ている。この強制排水手段３は、図１に示すように、真
空ポンプ４とバッファボックス部５にて構成されてお
り、バッファボックス部５は、温湿度試験器内部の共通
排水管２１とバッファボックス３２との間の第１の電磁
弁３１ａと、バッファボックスと外部の共通排水管２１
との間の第２の電磁弁３１ｂおよびバッファボックスと
真空ポンプ４に接続した真空配管３３との間の第３の電
磁弁３１ｃとにより構成されている。なお、本実施例に
おいては、図３の従来例に示した、共通排水管２１に接
続されていた給水タンクのオーバーフローした水や、給
水タンクや純水器の整備時に放出される水の排水管２６
等は、別途設けた共通排水管（図示略部）に接続して排
水するようになっている。 バッファボックス３２の容
積は、オーバーフロー排水管２０とチャンバドレン排水
管２３と露受ドレン用排水管２５の内部容積とほぼ等し
い容積となっている。上述した３個の電磁弁３１ａ、３
１ｂ、３１ｃは、電気的に接続された電磁弁コントロー
ラ３４によりタイムシーケンシャル制御がなされる。
あり、これを図１を参照して説明する。図１は本発明の
温湿度試験器の概略断面図で、試験室１や調温調湿室２
の構造に関しては従来例と同様なので説明を省略する。
まず、オーバーフロー用排水管２０、チャンバドレン用
排水管２３および露受ドレン用排水管２５が接続されて
いる共通排水管２１系に強制排水手段３が取り付けられ
ている。この強制排水手段３は、図１に示すように、真
空ポンプ４とバッファボックス部５にて構成されてお
り、バッファボックス部５は、温湿度試験器内部の共通
排水管２１とバッファボックス３２との間の第１の電磁
弁３１ａと、バッファボックスと外部の共通排水管２１
との間の第２の電磁弁３１ｂおよびバッファボックスと
真空ポンプ４に接続した真空配管３３との間の第３の電
磁弁３１ｃとにより構成されている。なお、本実施例に
おいては、図３の従来例に示した、共通排水管２１に接
続されていた給水タンクのオーバーフローした水や、給
水タンクや純水器の整備時に放出される水の排水管２６
等は、別途設けた共通排水管（図示略部）に接続して排
水するようになっている。 バッファボックス３２の容
積は、オーバーフロー排水管２０とチャンバドレン排水
管２３と露受ドレン用排水管２５の内部容積とほぼ等し
い容積となっている。上述した３個の電磁弁３１ａ、３
１ｂ、３１ｃは、電気的に接続された電磁弁コントロー
ラ３４によりタイムシーケンシャル制御がなされる。
【００１４】ここで、上述した強制排水手段３の動作を
説明する。強制排水手段３の動作は、電磁弁コントロー
ラ３４からのタイムシーケンシャル制御信号で、３個の
電磁弁を開閉することにより行われる。まず第３の電磁
弁３１ｃを開けてバッフアボックス３２内を真空ポンプ
４で排気して真空にする。次に、第３の電磁弁３１ｃを
閉めた後、第１の電磁弁３１ａを開けてチャンバドレン
２２やチャンバドレン用排水管２３の水、露受ドレン２
４や露受ドレン用排水管２５の水、およびオーバーフロ
ー用排水管２０の水を強制的に各排水管に沿って移動さ
せ、その後直ちに第２の電磁弁３１ｂを開けて各排水管
の水を外部の共通排水管２１へ排出させる。その後、各
排水管の水の排出がほぼ終わった時点で第１の電磁弁３
１ａを閉める。更にその後、バッフアボックス３２の水
がほぼ無くなった時点で第２の電磁弁３１ｂを閉める。
上述した強制排水手段３の動作は、所定の時間間隔をも
って、繰り返し行われるようになっている。以上の説明
で明らかなように、本実施例の温湿度試験器において
は、上記各排水管が詰まる事態発生を防止することがで
きる。
説明する。強制排水手段３の動作は、電磁弁コントロー
ラ３４からのタイムシーケンシャル制御信号で、３個の
電磁弁を開閉することにより行われる。まず第３の電磁
弁３１ｃを開けてバッフアボックス３２内を真空ポンプ
４で排気して真空にする。次に、第３の電磁弁３１ｃを
閉めた後、第１の電磁弁３１ａを開けてチャンバドレン
２２やチャンバドレン用排水管２３の水、露受ドレン２
４や露受ドレン用排水管２５の水、およびオーバーフロ
ー用排水管２０の水を強制的に各排水管に沿って移動さ
せ、その後直ちに第２の電磁弁３１ｂを開けて各排水管
の水を外部の共通排水管２１へ排出させる。その後、各
排水管の水の排出がほぼ終わった時点で第１の電磁弁３
１ａを閉める。更にその後、バッフアボックス３２の水
がほぼ無くなった時点で第２の電磁弁３１ｂを閉める。
上述した強制排水手段３の動作は、所定の時間間隔をも
って、繰り返し行われるようになっている。以上の説明
で明らかなように、本実施例の温湿度試験器において
は、上記各排水管が詰まる事態発生を防止することがで
きる。
【００１５】実施の形態例２ 本実施の形態例は温湿度試験器に本発明を適用した例で
あり、これを図２を参照して説明する。図２は、多数台
（一例として図２では３台）の温湿度試験器Ｔに本発明
を適用した例のブロック図である。図２に示す様に、各
々の温湿度試験器Ｔにバッファボックス部５を取り付
け、これらバッファボックス部５に取り付けられた真空
配管３３は共通真空配管３５に配管され１台の真空ポン
プ３３に接続している。また、各々のバッファボックス
部５にある３個の電磁弁は多数のコントロール端子を持
つ電磁弁コントローラ３６に電気的に接続されている。
あり、これを図２を参照して説明する。図２は、多数台
（一例として図２では３台）の温湿度試験器Ｔに本発明
を適用した例のブロック図である。図２に示す様に、各
々の温湿度試験器Ｔにバッファボックス部５を取り付
け、これらバッファボックス部５に取り付けられた真空
配管３３は共通真空配管３５に配管され１台の真空ポン
プ３３に接続している。また、各々のバッファボックス
部５にある３個の電磁弁は多数のコントロール端子を持
つ電磁弁コントローラ３６に電気的に接続されている。
【００１６】上記のような多数台の温湿度試験器Ｔの排
水動作は、まず実施の形態例１と同じようなタイムシー
ケンシャル制御信号を電磁弁コントローラ３６の一つの
端子より出してバッファボックス部５を作動させ、１台
目の温湿度試験器Ｔの排水を行う。次に、一定期間を置
いて、電磁弁コントローラ３６の次の端子よりタイムシ
ーケンシャル制御信号を出してバッファボックス部５を
作動させ、次の温湿度試験器Ｔの排水を行う。この様に
して、次々とバッファボックス部５を作動させて温湿度
試験器Ｔの排水を行い、最後の温湿度試験器Ｔの排水が
終了したら、また最初の温湿度試験器Ｔに戻って排水を
始める。電磁弁コントローラ３６からのタイムシーケン
シャル制御信号により、次々と温湿度試験器Ｔのバッフ
ァボックス部５を作動させ、排水動作が繰り返し行われ
る機構となっている。図２に示すような構成をとり、上
述した動作を繰り返し行うことで、多数台の温湿度試験
器Ｔの上記各排水管が詰まる事態発生を防止することが
できる。
水動作は、まず実施の形態例１と同じようなタイムシー
ケンシャル制御信号を電磁弁コントローラ３６の一つの
端子より出してバッファボックス部５を作動させ、１台
目の温湿度試験器Ｔの排水を行う。次に、一定期間を置
いて、電磁弁コントローラ３６の次の端子よりタイムシ
ーケンシャル制御信号を出してバッファボックス部５を
作動させ、次の温湿度試験器Ｔの排水を行う。この様に
して、次々とバッファボックス部５を作動させて温湿度
試験器Ｔの排水を行い、最後の温湿度試験器Ｔの排水が
終了したら、また最初の温湿度試験器Ｔに戻って排水を
始める。電磁弁コントローラ３６からのタイムシーケン
シャル制御信号により、次々と温湿度試験器Ｔのバッフ
ァボックス部５を作動させ、排水動作が繰り返し行われ
る機構となっている。図２に示すような構成をとり、上
述した動作を繰り返し行うことで、多数台の温湿度試験
器Ｔの上記各排水管が詰まる事態発生を防止することが
できる。
【００１７】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の温湿度試験器は、真空ポンプに接続された強制排水系
を有することで、温湿度試験器のチャンバドレンとその
排水管、露受ドレンとその排水管およびオーバーフロー
用排水管の水が、長時間の高温高湿環境のもとで腐敗
し、これら排水管が詰まる事態発生を防止できる。従っ
て、従来のような排水管が詰まる異常事態発生で、信頼
性試験の再度実施をする必要がなく、製品の開発、製造
上での損失が回避できる。
の温湿度試験器は、真空ポンプに接続された強制排水系
を有することで、温湿度試験器のチャンバドレンとその
排水管、露受ドレンとその排水管およびオーバーフロー
用排水管の水が、長時間の高温高湿環境のもとで腐敗
し、これら排水管が詰まる事態発生を防止できる。従っ
て、従来のような排水管が詰まる異常事態発生で、信頼
性試験の再度実施をする必要がなく、製品の開発、製造
上での損失が回避できる。
【図１】本発明を適用した実施の形態例１の温湿度試験
器の概略断面図である。
器の概略断面図である。
【図２】本発明を適用した実施の形態例２の多数台の温
湿度試験器Ｔに本発明を適用したブロック図である。
湿度試験器Ｔに本発明を適用したブロック図である。
【図３】従来例の温湿度試験器の概略断面図である。
１ 試験室 ２ 調温調湿室 ３ 強制排水手段 ４ 真空ポンプ ５ バッファボックス部 １１ 断熱材 １２ 開閉扉 １３ 加湿器部 １４ 除湿コイル １５ 冷却コイル １６ 湿度センサ １７ 加温ヒータ １８ 温度センサ １９ クロスフローファン ２０ オーバーフロードレン用排水管 ２１ 共通排水管 ２２ チャンバドレン ２３ チャンバドレン用排水管 ２４ 露受ドレン ２５ 露受ドレン用排水管 ２６ 排水管 ３１ａ 第１の電磁弁 ３１ｂ 第１の電磁弁 ３１ｃ 第１の電磁弁 ３２ バッファボックス ３３ 真空配管 ３４、３６ 電磁弁コントローラ ３５ 共通真空配管 Ｔ 温湿度試験器
Claims (3)
- 【請求項１】 断熱材で囲まれた試験室および前記試験
室を恒温恒湿状態に保持するようコントロールされた加
熱器と加湿器と送風機を具備する温湿度試験器におい
て、 前記試験室内の水蒸気が露結し、水滴となって前記試験
室の底部と開閉扉の底部とに集まる水を排水する２個の
排水管および前記加湿器のオーバーフローした水を排水
する排水管が接続している共通排水管系に、真空ポンプ
とバッファボックス部とで構成される強制排水手段を設
け、 前記バッファボックス部は、前記３個の排水管内の容積
に略等しい容積を持つバッファボックスと、前記共通排
水管と前記バッファボックスとの間の第１の電磁弁と、
前記バッファボックスと外部の共通排水管との間の第２
の電磁弁および前記バッファボックスと前記真空ポンプ
に接続した真空配管との間の第３の電磁弁とにより構成
され、 前記３個の電磁弁は、電磁弁コントローラによりタイム
シーケンシャル制御されることを特徴とする温湿度試験
器。 - 【請求項２】 前記タイムシーケンシャル制御は、前記
第３の電磁弁を開き、バッファボックスが真空となる時
点で前記第３の電磁弁を閉じ、次に前記第１の電磁弁を
開き、前記３個の排水管の水をバッファボックスの方へ
移動させ、その直後前記第２の電磁弁を開き、前記３個
の排水管の排水が完了した後、前記第１および第２の電
磁弁を閉じる順序による制御であることを特徴とする請
求項１記載の温湿度試験器。 - 【請求項３】 複数台の温湿度試験器に前記強制排水系
を取り付ける際に、前記真空ポンプからの真空配管系を
共通にしたことを特徴とする請求項１記載の温湿度試験
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26443995A JPH09105768A (ja) | 1995-10-12 | 1995-10-12 | 温湿度試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26443995A JPH09105768A (ja) | 1995-10-12 | 1995-10-12 | 温湿度試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09105768A true JPH09105768A (ja) | 1997-04-22 |
Family
ID=17403216
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26443995A Pending JPH09105768A (ja) | 1995-10-12 | 1995-10-12 | 温湿度試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09105768A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102621284A (zh) * | 2012-02-24 | 2012-08-01 | 中国石油天然气股份有限公司 | 含聚采出水对蒸汽驱锅炉腐蚀和结垢评价模拟装置 |
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-
1995
- 1995-10-12 JP JP26443995A patent/JPH09105768A/ja active Pending
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| CN114544209B (zh) * | 2021-12-28 | 2024-01-12 | 中核武汉核电运行技术股份有限公司 | 一种用于核级蒸汽发生器堵管工艺验证的热冲击试验装置 |
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