JPH0894587A - 磁性材料検査装置 - Google Patents
磁性材料検査装置Info
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- JPH0894587A JPH0894587A JP6231393A JP23139394A JPH0894587A JP H0894587 A JPH0894587 A JP H0894587A JP 6231393 A JP6231393 A JP 6231393A JP 23139394 A JP23139394 A JP 23139394A JP H0894587 A JPH0894587 A JP H0894587A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 17
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
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- Electromechanical Clocks (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明の目的は、磁性材料の欠陥を正確に検出
できる磁性材料検査装置を提供することである。 【構成】円筒状の保持部１の上部には、ロータマグネッ
ト６が挿入される凹部２が設けられ、その凹部２の中心
部には貫通孔３が設けられている。この貫通孔３内の圧
力は環境圧に対して負となるように設定されている。凹
部２の周囲には検知コイル４が巻回され、検知コイル４
の下部の周囲には、励磁用のダミーコイル５が巻回され
ている。そして、このダミーコイル５を励磁し、そのと
きロータマグネット６から発生する磁界を検知コイル４
で検出するようになっている。
できる磁性材料検査装置を提供することである。 【構成】円筒状の保持部１の上部には、ロータマグネッ
ト６が挿入される凹部２が設けられ、その凹部２の中心
部には貫通孔３が設けられている。この貫通孔３内の圧
力は環境圧に対して負となるように設定されている。凹
部２の周囲には検知コイル４が巻回され、検知コイル４
の下部の周囲には、励磁用のダミーコイル５が巻回され
ている。そして、このダミーコイル５を励磁し、そのと
きロータマグネット６から発生する磁界を検知コイル４
で検出するようになっている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁性材料の欠陥を検出
する磁性材料検査装置に関する。
する磁性材料検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】腕時計の駆動用モータのロータマグネッ
トには、安価でかつ軽量化が可能なサマリウム、コバル
ト等の磁性材料が用いられており、この磁性材料を圧縮
成形してロータマグネットが構成されている。
トには、安価でかつ軽量化が可能なサマリウム、コバル
ト等の磁性材料が用いられており、この磁性材料を圧縮
成形してロータマグネットが構成されている。
【０００３】ロータマグネットを圧縮成形により成形す
る場合、圧縮成形時にクラック等が発生し易いので、成
形後にクラック、欠損等の有無を検査する必要がある。
また、ロータマグネットを圧縮成形した後、回転軸を圧
入する場合、回転軸を圧入する際に機械的応力が加わ
り、さらにロータマグネットにクラックや欠けが発生し
易くなる。
る場合、圧縮成形時にクラック等が発生し易いので、成
形後にクラック、欠損等の有無を検査する必要がある。
また、ロータマグネットを圧縮成形した後、回転軸を圧
入する場合、回転軸を圧入する際に機械的応力が加わ
り、さらにロータマグネットにクラックや欠けが発生し
易くなる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、成形品のク
ラック等を発見するために、従来は、２０倍程度の拡大
鏡を用いて目視により検査しているが、この検査方法で
は、検査時間がかかるとともに、微小なクラック、欠損
を検出できないという問題点があった。
ラック等を発見するために、従来は、２０倍程度の拡大
鏡を用いて目視により検査しているが、この検査方法で
は、検査時間がかかるとともに、微小なクラック、欠損
を検出できないという問題点があった。
【０００５】本発明の課題は、磁性材料のクラック等を
正確に検出できる磁性材料検査装置を提供することであ
る。
正確に検出できる磁性材料検査装置を提供することであ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の磁性材料検査装
置は、磁性材料を保持する保持部と、この保持部の周囲
に卷回された励磁用コイルと、保持部の周囲に巻回され
た検出用コイルと、励磁用コイルを励磁したときに検出
用コイルに発生する電圧から保持部に保持されている磁
性材料の欠陥を検出する検出手段とを備える。
置は、磁性材料を保持する保持部と、この保持部の周囲
に卷回された励磁用コイルと、保持部の周囲に巻回され
た検出用コイルと、励磁用コイルを励磁したときに検出
用コイルに発生する電圧から保持部に保持されている磁
性材料の欠陥を検出する検出手段とを備える。
【０００７】保持部は、例えば貫通孔を有する凹部を備
え、その凹部にロータマグネットを挿入し、凹部の貫通
孔内の圧力を減少させて、貫通孔のほぼ中央にロータマ
グネットを保持する。また、検出用コイルは、凹部の周
囲に巻回されている。
え、その凹部にロータマグネットを挿入し、凹部の貫通
孔内の圧力を減少させて、貫通孔のほぼ中央にロータマ
グネットを保持する。また、検出用コイルは、凹部の周
囲に巻回されている。
【０００８】
【作用】本発明によれば、磁性材料を保持部に保持した
状態で、励磁用コイルを励磁して磁性材料に磁界を印加
し、磁性材料の渦電流により発生する磁界を検知用コイ
ルで検出することで、磁性材料の欠陥の有無を判定する
ことができる。これにより、従来目視で行っていた、ク
ラック、欠損等の検査を、電気的に行うことができるの
で、検査精度を向上でき、検査時間も短縮することがで
きる。
状態で、励磁用コイルを励磁して磁性材料に磁界を印加
し、磁性材料の渦電流により発生する磁界を検知用コイ
ルで検出することで、磁性材料の欠陥の有無を判定する
ことができる。これにより、従来目視で行っていた、ク
ラック、欠損等の検査を、電気的に行うことができるの
で、検査精度を向上でき、検査時間も短縮することがで
きる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しながら
説明する。図１は、本発明の実施例の磁性材料検査装置
の要部断面図であり、この実施例は、時計用アナログム
ーブメントのロータマグネットの欠陥を検出するロータ
マグネットの検査装置である。
説明する。図１は、本発明の実施例の磁性材料検査装置
の要部断面図であり、この実施例は、時計用アナログム
ーブメントのロータマグネットの欠陥を検出するロータ
マグネットの検査装置である。
【００１０】同図において、円筒状の保持部１の上部に
は、サマリウム・コバルト（Ｓｍ・Ｃｏ）等からなるロ
ータマグネット６が挿入される凹部２が設けられ、その
凹部２の中心部には貫通孔３が設けられている。そし
て、貫通孔３内の空気を図示しない吸引装置により吸引
し、貫通孔３内の圧力を減少させ、ロータマグネット６
を凹部２のほぼ中心に固定して保持するようになってい
る。
は、サマリウム・コバルト（Ｓｍ・Ｃｏ）等からなるロ
ータマグネット６が挿入される凹部２が設けられ、その
凹部２の中心部には貫通孔３が設けられている。そし
て、貫通孔３内の空気を図示しない吸引装置により吸引
し、貫通孔３内の圧力を減少させ、ロータマグネット６
を凹部２のほぼ中心に固定して保持するようになってい
る。
【００１１】ロータマグネット６が保持される凹部２の
外周には、検知コイル４が巻回され、その検知コイル４
の下部の外周には励磁用のダミーコイル５が卷回されて
いる。ダミーコイル５と検知コイル４と、図示しない可
変抵抗によりブリッジ回路を構成しており、検知コイル
４及びダミーコイル５に交流電圧を印加してロータマグ
ネット６に磁界を加えたとき、検査対象のロータマグネ
ット６に発生する渦電流による磁界の変化を検知コイル
４で検出し、ロータマグネット６のクラック等の有無を
判定している。
外周には、検知コイル４が巻回され、その検知コイル４
の下部の外周には励磁用のダミーコイル５が卷回されて
いる。ダミーコイル５と検知コイル４と、図示しない可
変抵抗によりブリッジ回路を構成しており、検知コイル
４及びダミーコイル５に交流電圧を印加してロータマグ
ネット６に磁界を加えたとき、検査対象のロータマグネ
ット６に発生する渦電流による磁界の変化を検知コイル
４で検出し、ロータマグネット６のクラック等の有無を
判定している。
【００１２】次に、図２は、実施例の磁性材料検査装置
の回路ブロック図である。前述した検知コイル４及びダ
ミーコイル５と、可変抵抗Ｒ１、Ｒ２とによりブリッジ
回路を構成している。このブリッジ回路の検知コイル４
とダミーコイル５との接続点Ｃと、可変抵抗Ｒ１と可変
抵抗Ｒ２との接続点Ｄとの間に、発振器１１の出力端子
が接続され、発振器１１で生成される所定周波数の交流
信号がブリッジ回路のＣ、Ｄ端子間に供給される。ま
た、ブリッジ回路の検知コイル４と可変抵抗Ｒ１との接
続点Ａと、ダミーコイル５と可変抵抗Ｒ２との接続点Ｂ
との間に、増幅器１２の入力端子が接続され、ブリッジ
回路のＡ，Ｂ間の電圧差が増幅器１２で増幅される。
の回路ブロック図である。前述した検知コイル４及びダ
ミーコイル５と、可変抵抗Ｒ１、Ｒ２とによりブリッジ
回路を構成している。このブリッジ回路の検知コイル４
とダミーコイル５との接続点Ｃと、可変抵抗Ｒ１と可変
抵抗Ｒ２との接続点Ｄとの間に、発振器１１の出力端子
が接続され、発振器１１で生成される所定周波数の交流
信号がブリッジ回路のＣ、Ｄ端子間に供給される。ま
た、ブリッジ回路の検知コイル４と可変抵抗Ｒ１との接
続点Ａと、ダミーコイル５と可変抵抗Ｒ２との接続点Ｂ
との間に、増幅器１２の入力端子が接続され、ブリッジ
回路のＡ，Ｂ間の電圧差が増幅器１２で増幅される。
【００１３】移相器１３は、発振器１１の高周波信号の
位相をシフトした信号を検波器１４出力する。検波器１
４は、移相器１３から出力される信号に基づいて増幅器
１２の出力信号を検波して、ロータマグネット６の欠陥
に比例した直流信号を得る。この直流信号はメータ１５
に表示されるとともに、信号処理回路１６で記録計１７
を駆動する信号に変換される。
位相をシフトした信号を検波器１４出力する。検波器１
４は、移相器１３から出力される信号に基づいて増幅器
１２の出力信号を検波して、ロータマグネット６の欠陥
に比例した直流信号を得る。この直流信号はメータ１５
に表示されるとともに、信号処理回路１６で記録計１７
を駆動する信号に変換される。
【００１４】ここで、図２の回路の動作原理を説明す
る。保持部１の凹部２にロータマグネット６を載せ、ブ
リッジ回路の端子Ｃ、Ｄ間、すなわち検知コイル４と可
変抵抗Ｒ１との間及びダミーコイル５と可変抵抗Ｒ２と
の間に交流信号を供給してロータマグネット６に交流磁
界を印加すると、この交流磁界によりロータマグネット
６に渦電流が流れ、その渦電流により磁力線が発生す
る。そして、その磁力線により検知コイル４に誘起電圧
が発生し、検知コイル４の電流が変化する。検知コイル
４の電流の変化は、ロータマグネット６に発生する渦電
流に依存し、渦電流はロータマグネット６の欠陥の有無
により変化するので、検知コイル４の電流変化を検出す
ることで、ロータマグネット６の欠陥の有無を検出する
ことができる。
る。保持部１の凹部２にロータマグネット６を載せ、ブ
リッジ回路の端子Ｃ、Ｄ間、すなわち検知コイル４と可
変抵抗Ｒ１との間及びダミーコイル５と可変抵抗Ｒ２と
の間に交流信号を供給してロータマグネット６に交流磁
界を印加すると、この交流磁界によりロータマグネット
６に渦電流が流れ、その渦電流により磁力線が発生す
る。そして、その磁力線により検知コイル４に誘起電圧
が発生し、検知コイル４の電流が変化する。検知コイル
４の電流の変化は、ロータマグネット６に発生する渦電
流に依存し、渦電流はロータマグネット６の欠陥の有無
により変化するので、検知コイル４の電流変化を検出す
ることで、ロータマグネット６の欠陥の有無を検出する
ことができる。
【００１５】以下、ロータマグネット６の欠陥を検出す
る場合について説明する。先ず、欠陥の無い良品サンプ
ルを保持部１の凹部２に載せる。このとき、凹部２の貫
通孔３内部の圧力は環境圧に対して負となっているの
で、良品サンプルを貫通孔３の内部に押圧する力が働
き、良品サンプルは貫通孔３のほぼ中央、すなわち凹部
２のほぼ中央に保持される。この状態で、ブリッジ回路
の端子Ｃ、Ｄ間に交流信号を供給すると、ブリッジ回路
の端子Ａ，Ｂ間には、良品サンプルに発生する渦電流に
より決まる交流信号が発生する。その交流信号が増幅器
１２で増幅され、さらに検波器１４で検波されて直流信
号に変換され、その直流信号がメータ１５に表示され
る。この状態で、メータ１５の指示値が「０」となるよ
うに、すなわちブリッジ回路の端子Ａ，Ｂ間の出力電圧
が「０」となるように可変抵抗Ｒ１，Ｒ２の値を調整す
る。
る場合について説明する。先ず、欠陥の無い良品サンプ
ルを保持部１の凹部２に載せる。このとき、凹部２の貫
通孔３内部の圧力は環境圧に対して負となっているの
で、良品サンプルを貫通孔３の内部に押圧する力が働
き、良品サンプルは貫通孔３のほぼ中央、すなわち凹部
２のほぼ中央に保持される。この状態で、ブリッジ回路
の端子Ｃ、Ｄ間に交流信号を供給すると、ブリッジ回路
の端子Ａ，Ｂ間には、良品サンプルに発生する渦電流に
より決まる交流信号が発生する。その交流信号が増幅器
１２で増幅され、さらに検波器１４で検波されて直流信
号に変換され、その直流信号がメータ１５に表示され
る。この状態で、メータ１５の指示値が「０」となるよ
うに、すなわちブリッジ回路の端子Ａ，Ｂ間の出力電圧
が「０」となるように可変抵抗Ｒ１，Ｒ２の値を調整す
る。
【００１６】次に、欠陥の有無を検査する被検体のロー
タマグネット６を、保持部１の凹部２に載せる。そし
て、ブリッジ回路のＣ、Ｄ間に、発振器１１で生成され
る交流信号を供給し、被検体のロータマグネット６に交
流磁界を印加する。この交流磁界により被検体のロータ
マグネット６に渦電流が発生するが、そのとき被検体の
ロータマグネット６にクラック、欠損等が有ると、発生
する渦電流は欠陥の無い良品サンプルとは異なるものと
なる。その結果、検知コイル４に誘起される電圧は、良
品サンプルとは異なった値となり、ブリッジ回路が不平
衡となり、端子Ａ，Ｂ間に交流信号が発生する。この交
流信号を増幅器１２で増幅し、検波器１４で検波したも
のをメータ１５に表示し、さらに記録計１７に記録させ
る。このとき、ブリッジ回路の出力電圧が一定レベル以
上あるときには、被検体のロータマグネット６にクラッ
ク、欠損等の欠陥があるものと判断して不良であること
を報知するようにすれば、ロータマグネットの良否の判
定を自動化することができる。
タマグネット６を、保持部１の凹部２に載せる。そし
て、ブリッジ回路のＣ、Ｄ間に、発振器１１で生成され
る交流信号を供給し、被検体のロータマグネット６に交
流磁界を印加する。この交流磁界により被検体のロータ
マグネット６に渦電流が発生するが、そのとき被検体の
ロータマグネット６にクラック、欠損等が有ると、発生
する渦電流は欠陥の無い良品サンプルとは異なるものと
なる。その結果、検知コイル４に誘起される電圧は、良
品サンプルとは異なった値となり、ブリッジ回路が不平
衡となり、端子Ａ，Ｂ間に交流信号が発生する。この交
流信号を増幅器１２で増幅し、検波器１４で検波したも
のをメータ１５に表示し、さらに記録計１７に記録させ
る。このとき、ブリッジ回路の出力電圧が一定レベル以
上あるときには、被検体のロータマグネット６にクラッ
ク、欠損等の欠陥があるものと判断して不良であること
を報知するようにすれば、ロータマグネットの良否の判
定を自動化することができる。
【００１７】すなわち、良品サンプルを保持部１に載せ
て交流磁界を印加し、そのときのブリッジ回路の出力端
子Ａ，Ｂの出力電圧が「０」となるようにブリッジ回路
の可変抵抗Ｒ１，Ｒ２を調整した後、被検体のロータマ
グネット６を保持部１に載せてブリッジ回路の出力電圧
を調べることにより、被検体のロータマグネット６にク
ラック、欠損等があるか否かを判定することができる。
て交流磁界を印加し、そのときのブリッジ回路の出力端
子Ａ，Ｂの出力電圧が「０」となるようにブリッジ回路
の可変抵抗Ｒ１，Ｒ２を調整した後、被検体のロータマ
グネット６を保持部１に載せてブリッジ回路の出力電圧
を調べることにより、被検体のロータマグネット６にク
ラック、欠損等があるか否かを判定することができる。
【００１８】上述した実施例は、ロータマグネット単品
の状態で、クラック、欠損を検出する場合について説明
したが、ロータアッシ（ロータ車）にした状態でもクラ
ック、欠損等を検出することができるのはむろんのこと
である。最近では、ロータマグネットに回転軸をインサ
ート成形する技術が開発されているが、射出成形時の圧
力等によりクラックが発生し易いという問題がある。こ
の場合でも、上述した磁性材料検査装置によりロータマ
グネットの欠陥を検出することができる。
の状態で、クラック、欠損を検出する場合について説明
したが、ロータアッシ（ロータ車）にした状態でもクラ
ック、欠損等を検出することができるのはむろんのこと
である。最近では、ロータマグネットに回転軸をインサ
ート成形する技術が開発されているが、射出成形時の圧
力等によりクラックが発生し易いという問題がある。こ
の場合でも、上述した磁性材料検査装置によりロータマ
グネットの欠陥を検出することができる。
【００１９】なお、上述した実施例では、本発明を時計
用のロータマグネットの検査装置に適用した場合につい
て説明した、これに限らず他の用途の磁性材料にも本発
明を適用できる。
用のロータマグネットの検査装置に適用した場合につい
て説明した、これに限らず他の用途の磁性材料にも本発
明を適用できる。
【００２０】
【発明の効果】本発明によれば、磁性材料の欠陥の有無
を目視によらず判定することができるので、目視では発
見できないような小さな欠陥も検出でき、また、検査時
間も短縮することができる。
を目視によらず判定することができるので、目視では発
見できないような小さな欠陥も検出でき、また、検査時
間も短縮することができる。
【図１】本発明の実施例の磁性材料検査装置の要部断面
図である。
図である。
【図２】実施例の回路ブロック図である。
１ 保持部 ２ 凹部 ４ 検知コイル ５ ダミーコイル ６ ロータマグネット
Claims (2)
- 【請求項１】 磁性材料を保持する保持部と、 この保持部の周囲に卷回された励磁用コイルと、 前記保持部の周囲に巻回された検出用コイルと、 前記励磁用コイルを励磁したときに前記検出用コイルに
発生する電圧から前記保持部に保持されている磁性材料
の欠陥を検出する検出手段と、 を備えることを特徴とする磁性材料検査装置。 - 【請求項２】 前記保持部は、貫通孔を有する凹部を備
え、該凹部にロータマグネットを挿入し、該凹部の貫通
孔内の圧力を減少させて、該貫通孔のほぼ中央に該ロー
タマグネットを保持し、 前記検出用コイルは、前記凹部の周囲に巻回されている
こと、 を特徴とする請求項１記載の磁性材料検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23139394A JP3632224B2 (ja) | 1994-09-27 | 1994-09-27 | 磁性材料検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23139394A JP3632224B2 (ja) | 1994-09-27 | 1994-09-27 | 磁性材料検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0894587A true JPH0894587A (ja) | 1996-04-12 |
| JP3632224B2 JP3632224B2 (ja) | 2005-03-23 |
Family
ID=16922908
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23139394A Expired - Fee Related JP3632224B2 (ja) | 1994-09-27 | 1994-09-27 | 磁性材料検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3632224B2 (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6259856A (ja) * | 1985-09-10 | 1987-03-16 | Hara Denshi Sokki Kk | 長手傷検出装置 |
| JPH01123143A (ja) * | 1987-11-09 | 1989-05-16 | Nippon Nuclear Fuel Dev Co Ltd | 過電流欠陥探傷方法及びその装置 |
| JPH0490946U (ja) * | 1990-12-26 | 1992-08-07 | ||
| JPH05249209A (ja) * | 1992-03-06 | 1993-09-28 | Fujitsu Ltd | 走査型顕微鏡 |
| JPH06194436A (ja) * | 1992-09-10 | 1994-07-15 | Toshiba Corp | 磁気特性測定装置 |
-
1994
- 1994-09-27 JP JP23139394A patent/JP3632224B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6259856A (ja) * | 1985-09-10 | 1987-03-16 | Hara Denshi Sokki Kk | 長手傷検出装置 |
| JPH01123143A (ja) * | 1987-11-09 | 1989-05-16 | Nippon Nuclear Fuel Dev Co Ltd | 過電流欠陥探傷方法及びその装置 |
| JPH0490946U (ja) * | 1990-12-26 | 1992-08-07 | ||
| JPH05249209A (ja) * | 1992-03-06 | 1993-09-28 | Fujitsu Ltd | 走査型顕微鏡 |
| JPH06194436A (ja) * | 1992-09-10 | 1994-07-15 | Toshiba Corp | 磁気特性測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3632224B2 (ja) | 2005-03-23 |
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