JPH0887771A - 光ヘッド - Google Patents

光ヘッド

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Publication number
JPH0887771A
JPH0887771A JP6218970A JP21897094A JPH0887771A JP H0887771 A JPH0887771 A JP H0887771A JP 6218970 A JP6218970 A JP 6218970A JP 21897094 A JP21897094 A JP 21897094A JP H0887771 A JPH0887771 A JP H0887771A
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JP
Japan
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optical
light beam
light
shift
semiconductor laser
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Pending
Application number
JP6218970A
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English (en)
Inventor
Takashi Yoshizawa
隆 吉澤
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は中空円筒を用いることなく、簡単な構
成でビ−ムシフトできるようにした光学ヘッドを提供す
ることを目的とする。 【構成】本発明は光学ベース2aに所定間隔を存して固
定され前記半導体レーザ11からの光ビームを所定方向
に導くコリメータレンズ12、ビームスプリッタ13
と、前記光ディスク1の径方向に沿って移動自在に設け
られ前記コリメータレンズ12、ビームスプリッタ13
により導かれて前記光学ベース2aから出射される光ビ
−ムを前記光ディスク1に照射させる対物レンズ43
と、前記光学ベ−ス2aにおける光ビ−ム出射部に前記
光ビームの光軸に対して略直交する状態に設けられた透
明な防塵ガラス10と、この防塵ガラス10の両面部に
必要に応じてテーパ面が互いに平行になるように接合さ
れ、前記光ビームのシフトを補正する一対の透明なテー
パガラス22a,22bとを具備してなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、たとえば、光ディスク
装置に適用される光ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】図17は光ディスク装置の概略構成を示
すものである。光ディスク1の表面には、たとえばスパ
イラル状に溝(記録トラック)が形成されており、この
光ディスク1は固定部としてのベース2の上に固定され
ているスピンドルモータ(図示せず)によって例えば一
定の線速度で回転される。
【0003】上記光ディスク1に対する情報の記録、再
生あるいは上記光ディスク1の下部に設けられている光
学ヘッド3によって行なわれる。この光学ヘッド3は移
動光学系5とベ−ス2上に固定されている固定光学系4
によって構成されている。
【0004】上記移動光学系5は、リニアモータによっ
て光ディスク1の半径方向に駆動可能となっている。上
記固定光学系4は図18に示すように、光学ベース2a
に配設されている半導体レーザ11、コリメータレンズ
12、ビームスプリッタ13および17、シフト補正ユ
ニット30、防塵カバーガラス10、1/2波長板1
5、収束レンズ16および光検出器18、19によって
構成されている。
【0005】一方、上記光学ヘッド3の移動光学系5は
立上げミラー41、対物レンズ43、フォーカシングコ
イル44およびリニアモータ(図示せず)などにより、
構成されている。
【0006】次に、上記光学ヘッド3における光ビーム
の流れについて説明する。半導体レーザ11から出射さ
れたレーザビームRはコリメータレンズ12により平行
光束に変換され、ビームスプリッタ13を透過する。こ
の後、レーザビームRはシフト補正ユニット30を透過
する。さらに、レーザビームRは防塵カバーガラス10
を通過して移動光学系5へ向かう。さて、固定光学系4
から出射したレーザビームRは立ち上げミラー42によ
り光路を90°変更されて対物レンズ43に入射する。
このとき、レーザビームRの強度中心と対物レンズ43
の中心とは一致した状態であることが望ましい。レーザ
ビームRは対物レンズ43に導かれ収束された後、スポ
ットとして光ディスク1へ照射される。光ディスク1で
の反射光R´は上記の光路を逆走し、ビームスプリッタ
13へ達する。反射光R´はこのビームスプリッタ13
で反射され、1/2波長板15、収束レンズ16および
ビームスプリッタ17を透過して、光検出器18および
光検出器19に導かれる。これら光検出器18および光
検出器19の所定の光感受部に入射した光を光電変換し
て、情報信号、フォーカスエラー信号およびトラッキン
グエラー信号を得る。
【0007】トラッキングエラー信号をもとに、対物レ
ンズ43で収束された光スポットと光ディスク1の所定
トラック中心との半径方向のずれをなくす制御をかけ
る。一方、フォーカスエラー信号をもとに、対物レンズ
6で収束された光スポットの焦点と光ディスク17の記
録面との光軸方向のずれをなくす制御をかける。
【0008】以上のような構成をとる光ヘッドでは、部
材自身の加工精度や部材の取り付け精度、あるいは半導
体レーザ11中の発光点の取り付け角度ずれ等のため
に、平行光束の強度中心と対物レンズの光軸中心とのず
れ(以下、ビームシフトという)が生じる。これは、フ
ォーカスエラー信号あるいはトラッキングエラー信号に
オフセットを発生させたり、情報信号の読取りに関して
C/Nを低下させたりという不都合を引き起こす。
【0009】この問題点を解決するために、図19に示
すように、従来はテーパ形状をした中空円筒32の端面
に光学ガラスより成る平行平板31を接合したユニット
(以下、シフト補正ユニット30という)を平行光束中
に挿入し、このシフト補正ユニット30全体を回転させ
て対物レンズ出射光の輝度分布の中心と対物レンズ中心
とができるだけ一致するように調整をするという方法を
取っていた。
【0010】このときのシフト補正量は次式で与えられ
る。 d=t・sin Φ{1−cos Φ/(n・cos Φ´)} ただし、d:シフト補正量 t:平行平板の厚さ Φ:平行平板に対する光軸の入射角 Φ´:平行平板に対する光軸の屈折角 n:平行平板の材質の屈折率 ここで、具体的なシフト補正の方法を簡単に述べる。
【0011】図20に示すように、対物レンズ6から出
射したパターンをCCDカメラ119で受光し、これを
モニタ用CRT120に映し出す。図21に対物レンズ
を出射した直後の光束の輝度分布の中心位置と対物レン
ズ外径との関係を模式的に示す。154は対物レンズ外
径であり、4.5mmである。
【0012】まず、輝度分布の中心が領域151にある
ときには、出射光にビームシフトが生じていても実用上
問題がなく、シフト補正は行なわない、すなわち、シフ
ト補正ユニット30を挿入しない。
【0013】また、領域152(領域151の半径の約
2倍の半径の円内から領域151を除いたリング状の領
域)はシフト補正ユニット30を用いて補正が可能な範
囲である。
【0014】輝度中心が152内の場合について、補正
前後の輝度中心の様子を図22およびシフト補正ユニッ
ト30の挿入方法を示す図23〜図26を参照しなが
ら、少し詳しく説明する。
【0015】まず、輝度中心が右方にずれている場合に
ついて説明する(図22(a)、図23)。点P1、P
2およびP3はすべて補正前の輝度中心位置の例であ
る。この場合、輝度中心を左方へ移動させなければなら
ないので、シフト補正ユニット30は図23の状態でビ
ームスプリッタ3の後に挿入する。(1)式で定められ
る補正量は従来例の場合、約0.3mmであり、これは
領域152の半径の約4分の3に相当する。したがっ
て、図23に示す状態でシフト補正ユニット30を挿入
することにより、点P1、P2およびP3はそれぞれ点
P1´、P2´およびP3´に移動し、シフト補正がな
される。
【0016】なお、点P1は補正が可能な場合の中で最
も大きなシフトを生じているときであり、点P3は最も
小さなシフトを生じているときである。輝度中心が左
方、上方あるいは下方にずれている場合についても同様
に補正される。すなわち、左方にずれている場合にはシ
フト補正ユニット30を図24に示す状態で挿入し、上
方にずれている場合にはシフト補正ユニット30を図2
5に示す状態で挿入し、下方にずれている場合にはシフ
ト補正ユニット30を図26に示す状態で挿入すればよ
い。
【0017】このときの補正前後の輝度中心の様子を図
22(b)に示す。なお、ここで述べる上方とは図18
において図面の表面側、下方とは図面の裏面側、右方と
は図面に向かって下側、および左方とは図面に向かって
上側である。
【0018】また、ずれ方向がきれいに右方、左方、上
方あるいは下方でない場合、たとえば図22(c)に示
すような方向の場合には、右方のときの補正方向(図2
3)上方のときの補正方向(図25)との中間の状態で
シフト補正ユニット30を挿入すればよい。一方、15
3はビームシフトが大きすぎて補正ができない範囲であ
り、この場合光ヘッドは不良品となってしまう。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来に
おいてはシフト補正手段30を中空円筒32を用いて構
成したため、ビームスプリッタ13と防塵カバーガラス
10との間隔が広がってしまう。
【0020】すなわち、中空円筒32は安定的に回転し
なければならないことから、その長さは直径の1.5〜
2倍程度必要になり、具体的には7〜10mm程度の長
さとなる。
【0021】このため、光ヘッドが大きくなり、光ディ
スクドライブ全体の小型化という要請には反する。ま
た、図27に示す防塵カバ−40を用いて図28に示す
ように、光ヘッド2aを覆う場合には、防塵カバ−40
が大型化してしまう不都合がある。そこで、本発明は中
空円筒を用いることなく、ビ−ムシフトでき、小型化を
可能とする光学ヘッドを提供することを目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するため、情報記録媒体に光ビームを供給する半導体レ
ーザと、この半導体レーザを固定する光学ベースと、こ
の光学ベースに所定間隔を存して固定され前記半導体レ
ーザからの光ビームを所定方向に導く複数の送光光学素
子と、前記情報記録媒体の径方向に沿って移動自在に設
けられ前記送光光学素子により導かれて前記光学ベース
から出射される光ビ−ムを前記情報記録媒体に照射させ
る対物レンズと、前記光学ベ−スにおける光ビ−ム出射
部に前記光ビームの光軸に対して略直交する状態に設け
られた透明な平行平板と、この平行平板の両面部に必要
に応じてテーパ面が互いに平行になるように接合され、
前記光ビームのシフトを補正する一対の透明なテーパ部
材からなるシフト補正手段とを具備してなる。
【0023】また、情報記録媒体に光ビームを供給する
半導体レーザと、この半導体レーザを固定する光学ベー
スと、この光学ベ−スに設けられ光路を構成する溝部
と、この溝部内に所定間隔を存して固定され前記半導体
レーザからの光ビームを所定方向に導く複数の送光光学
素子と、前記情報記録媒体の径方向に沿って移動自在に
設けられ前記送光光学素子により導かれて前記光学ベー
スから出射される光ビ−ムを前記情報記録媒体に照射さ
せる対物レンズと、前記光学ベ−スにおける光ビ−ム出
射部に前記光ビームの光軸に対して略直交する状態に設
けられた透明な平行平板と、この平行平板の両面部に必
要に応じてテーパ面が互いに平行になるように接合さ
れ、前記光ビームのシフトを補正する一対の透明なテー
パ部材からなるシフト補正手段と、前記光学ベ−スの送
光光学素子を配設する溝部の開口部分を覆う防塵カバー
とを具備してなる。
【0024】また、情報記録媒体に光ビームを供給する
半導体レーザと、この半導体レーザを固定する光学ベー
スと、この溝部内に所定間隔を存して固定され前記半導
体レーザからの光ビームを所定方向に導く複数の送光光
学素子と、前記情報記録媒体の径方向に沿って移動自在
に設けられ前記送光光学素子により導かれて前記光学ベ
ースから出射される光ビ−ムを前記情報記録媒体に照射
させる対物レンズと、前記光学ベ−スにおける光ビ−ム
出射部に前記光ビームの光軸に対して略直交する状態に
設けられた透明な平行平板と、この平行平板の両面部に
必要に応じてテーパ面が互いに平行になるように接合さ
れ、前記光ビームのシフトを補正する一対の透明なテー
パ部材からなるシフト補正手段と、前記テーパ部材の最
厚肉部および最薄肉部にそれぞれマ−キング部を設け、
前記平行板への接合時に、一方のテーパ部材の最厚肉部
と他方のテ−パ部材の最薄肉部のマ−キング部を互いに
対向させて、前記一対のテーパ部材のテーパ面が互いに
平行になるように位置決めする位置決め手段とを具備し
てなる。
【0025】
【作用】前記平行平板の両面部に必要に応じてテーパ面
が互いに平行になるように一対の透明なテーパ部材を接
合して光ビームのシフトを補正することにより、中空円
筒を用いることなく、光ビームのシフトを可能とし、構
成を簡略化するとともに、ビームスプリッタと平行平板
との間隔を小とし、送光光学素子を配設する溝部の開口
部分を覆う防塵カバーを小形化する。
【0026】また、一対のテーパ部材の最厚肉部および
最薄肉部にそれぞれマ−キングを設け、これら一方のテ
ーパ部材の最厚肉部と他方のテ−パ部材の最薄肉部のマ
−キング部を平行板への接合時に互いに対向させること
により、前記一対のテーパ部材のテーパ面を互いに平行
な状態になるように位置決めする。
【0027】
【実施例】以下に、本発明の実施例を図面を参照しなが
ら詳細に説明する。なお、図17〜図28に示す部分と
同一部分については同一番号を付す。図3は光ディスク
装置の概略構成を示すものである。光ディスク1の表面
には、たとえばスパイラル状に溝(記録トラック)が形
成されており、この光ディスク1は固定部としてのベー
ス2の上に固定されているスピンドルモータ(図示せ
ず)によって例えば一定の線速度で回転される。
【0028】上記光ディスク1に対する情報の記録、再
生あるいは上記光ディスク1の下部に設けられている光
学ヘッド3によって行なわれる。この光学ヘッド3は移
動光学系5とベ−ス2a上に固定されている固定光学系
4によって構成されている。上記移動光学系5は、リニ
アモータによって光ディスク1の半径方向に駆動可能と
なっている。
【0029】上記固定光学系4は図1および図2に示す
ように、光学ベース2aに配設されている半導体レーザ
11、コリメータレンズ12、ビームスプリッタ13お
よび17、透明な平行平板としての防塵カバーガラス1
0、1/2波長板15、収束レンズ16および光検出器
18、19によって構成されている。
【0030】上記防塵カバーガラス10には、必要に応
じてシフト補正手段としてのシフト補正部材20が設け
られようになっている。一方、上記光学ヘッド3の移動
光学系5は図3に示すように、立上げミラー41、対物
レンズ43、フォーカシングコイル44およびリニアモ
ータ(図示せず)などにより構成されている。
【0031】次に、上記光学ヘッド3における光ビーム
の流れについて説明する。半導体レーザ11から出射さ
れたレーザビームRはコリメータレンズ12により平行
光束に変換され、ビームスプリッタ13を透過する。こ
の後、レーザビームRはシフト補正部材20を透過す
る。このシフト補正部材20の具体的な調整方法および
補正の原理については後述する。
【0032】シフト補正部材20を通過したレーザビー
ムRは立ち上げミラー42により光路を90°変更され
て対物レンズ43に入射する。このとき、レーザビーム
Rの強度中心と対物レンズ43の中心とは一致した状態
であることが望ましい。レーザビームRは対物レンズ4
3に導かれ収束された後、スポットとして光ディスク1
へ照射される。光ディスク1での反射光R´は上記の光
路を逆走し、ビームスプリッタ13へ達する。反射光R
´はこのビームスプリッタ13で反射され、1/2波長
板15、収束レンズ16およびビームスプリッタ17を
透過して、光検出器18および光検出器19に導かれ
る。これら光検出器18および光検出器19の所定の光
感受部に入射した光を光電変換して、情報信号、フォー
カスエラー信号およびトラッキングエラー信号を得る。
【0033】トラッキングエラー信号をもとに、対物レ
ンズ43で収束された光スポットと光ディスク1の所定
トラック中心との半径方向のずれをなくす制御をかけ
る。一方、フォーカスエラー信号をもとに、対物レンズ
6で収束された光スポットの焦点と光ディスク17の記
録面との光軸方向のずれをなくす制御をかける。
【0034】以上のような構成をとる光ヘッドでは、部
材自身の加工精度や部材の取り付け精度、あるいは半導
体レーザ11中の発光点の取り付け角度ずれ等のため
に、平行光束の強度中心と対物レンズ43の光軸中心と
のずれ(以下、ビームシフトという)が生じる。これ
は、フォーカスエラー信号あるいはトラッキングエラー
信号にオフセットを発生させたり、情報信号の読取りに
関してC/Nを低下させたりという不都合を引き起こ
す。
【0035】次に、上記シフト補正部材20の構造につ
いて図4および図5を参照しながら説明する。本実施例
におけるシフト補正部材20は、両端面が20°の角度
をなしている2枚の平板円形状のテ−パ部材としてのテ
ーパガラス22a、22bと平行平板としてのカバーガ
ラス10とから成る。
【0036】上記テーパガラス22a、22bの最も厚
い部分と最も薄い部分には異なるマーキング24a,2
4b,23a,23bが施してある。なお、上記テーパ
ガラス22a、22bの20°という角度はこれらに限
られるものではなく、詳細設計により適宜最適なものと
すればよい。
【0037】上記テーパガラス22a、22bの底面の
直径は6mmであり、最も厚い部分は2mm、最も薄い
部分は1mmである。次に、具体的なシフト補正方法に
ついて説明する。
【0038】カバーガラス10はシフト補正の要否にか
かわらずあらかじめ接合しておく、まず、ビームの輝度
中心と対物レンズ中心とのシフト量およびシフト方向を
確認する。
【0039】すなわち、図6に示すように、対物レンズ
43から出射したパターンをCCDカメラ119で受光
し、これをモニタ用CRT120に映し出す。図7に対
物レンズ43を出射した直後の光束の輝度分布の中心位
置と対物レンズ外径との関係を模式的に示す。
【0040】154は対物レンズ外径であり、4.5m
mである。まず、輝度分布の中心が領域151にあると
きには、出射光にビームシフトが生じていても実用上問
題がなく、シフト補正は行なわない、すなわち、テ−パ
ガラス22a,22bは取り付けない。
【0041】また、領域152(領域151の半径の約
2倍の半径の円内から領域151を除いたリング状の領
域)はテ−パガラス22a,22bを用いて補正が可能
な範囲である。
【0042】シフト補正が必要と認められたときには、
光硬化性接着剤25、たとえばNOA61(ノーランド
製)をカバーガラス10の両面に塗布し、このカバーガ
ラス10に2枚のテーパガラス22a、22bを以下の
要領で接着する。
【0043】まず、図8(a)に示すように、輝度中心
P1、P2およびP3が右方にずれている場合には、テ
ーパガラス22a、22bを図9に示すように取り付け
る。すなわち、2枚のテーパガラス22a、22bのう
ち、固定光学系4の内部側に取り付けられるテーパガラ
ス22bをその薄肉側マーク23bが右側、厚肉側マー
ク24bが左側にくるように接着する。ついで、固定光
学系4の外部側に取り付けられるテーパガラス22aを
その薄肉側マーク23aが左側、厚肉側マーク24aが
右側にくるように接着する。
【0044】このように接着することにより、テーパガ
ラス22a、22bおよびカバーガラス10の3部材は
全体として光ビームRに対して、垂直位置からずれた位
置で配置された透明状の平行平板となる。
【0045】これにより、光ビームRが左方にシフトさ
れ、輝度中心が領域151内の点P1´,P2´および
P3´に移動しシフト補正される。なお、点P1は補正
が可能な場合の中で最も大きなシフトを生じているとき
であり、点P3は最も小さなシフトを生じているときで
ある。
【0046】また、図8(b)に示すように、輝度中心
Rが左方にずれている場合には、テーパガラス22a、
22bを図10に示すように取り付ける。すなわち、2
枚のテーパガラス22a、22bのうち、固定光学系4
の内部側に取り付けられるテーパガラス22bをその薄
肉側マーク23bが左側、厚肉側マーク24bが右側に
くるように接着する。ついで、固定光学系4の外部側に
取り付けられるテーパガラス22aをその薄肉側マーク
23aが右側、厚肉側マーク24aが左側にくるように
接着する。
【0047】このように接着することにより、テーパガ
ラス22a、22bおよびカバーガラス10の3部材は
全体として光ビームRに対して、垂直位置からずれた位
置で配置された透明状の平行平板となる。
【0048】これにより、これは光ビームRが右方にシ
フトされ、輝度中心が領域151内の点R´の位置に移
動しシフト補正される。また、図8(b)に示すよう
に、輝度中心Sが下方にずれている場合には、テーパガ
ラス22a、22bを図11に示すように取り付ける。
【0049】すなわち、2枚のテーパガラス22a、2
2bのうち、固定光学系4の内部側に取り付けられるテ
ーパガラス22bをその薄肉側マーク23bが下側、厚
肉側マーク24bが上側にくるように接着する。つい
で、固定光学系4の外部側に取り付けられるテーパガラ
ス22aをその薄肉側マーク23aが上側、厚肉側マー
ク24aが下側にくるように接着する。
【0050】このように接着することにより、テーパガ
ラス22a、22bおよびカバーガラス10の3部材は
全体として光ビームRに対して、垂直位置からずれた位
置で配置された透明状の平行平板となる。
【0051】これにより、これは光ビームRが上方にシ
フトされ、輝度中心が領域151内のQ´の位置に移動
しシフト補正される。また、図8(b)に示すように、
輝度中心Qが上方にずれている場合には、テーパガラス
22a、22bを図12に示すように取り付ける。
【0052】すなわち、2枚のテーパガラス22a、2
2bのうち、固定光学系4の内部側に取り付けられるテ
ーパガラス22bをその薄肉側マーク23bが上側、厚
肉側マーク24bが下側にくるように接着する。つい
で、固定光学系4の外部側に取り付けられるテーパガラ
ス22aをその薄肉側マーク23aが下側、厚肉側マー
ク24aが上側にくるように接着する。
【0053】このように接着することにより、テーパガ
ラス22a、22bおよびカバーガラス10の3部材は
全体として光ビームRに対して、垂直位置からずれた位
置で配置された透明状の平行平板となる。
【0054】これにより、これは光ビームRが下方にシ
フトされ、輝度中心が領域151内のQ´の位置に移動
しシフト補正される。以上のようにして調整が完了した
ならば、所定の光を2枚のテーパガラス22a、22b
に照射して光硬化性接着剤25を硬化させる。この際の
照射時間は30秒程度と短いので、工数的にも有利であ
る。
【0055】なお、ここで述べる上方とは図1において
図面の表面側、下方とは図面の裏面側、右方とは図面に
向かって下側、および左方とは図面に向かって上側であ
る。また、ずれ方向がきれいに右方、左方、上方あるい
は下方でない場合、たとえば図8(c)に示すような方
向の場合には、右方のときの補正方向(図9)と上方の
ときの補正方向(図12)との中間の状態でテーパガラ
ス22a、22bを取り付ける。
【0056】一方、153はビームシフトが大きすぎて
補正ができない範囲であり、この場合光ヘッドは不良品
となってしまう。なお、カバーガラス10かつ、または
テーパガラス22a、22bの材質としては、BK−
7、SF−11といった光学ガラスに限るものではな
く、ポリカーボネイト樹脂の他にアクリル樹脂、アモル
ファスポリオレフィン樹脂といった透明な樹脂材料ある
いは、BK−7といった光学ガラスでも構わない。
【0057】なお、本発明は上記一実施例に限られるも
のではなく、図13に示すように、テーパガラス22
a、22bの最も厚い部分と、最も薄い部分に同一のマ
ーキング60c、60dをし、さらに、最も厚い部分と
最も薄い部分の中間の部分に別のマーキング60a、6
0bを施すようにしても良い。
【0058】この実施例の場合には、図14(a)に示
すように、テ−パガラス22aのマーキング60cとテ
−パガラス22bのマーキング60dが一致するよう
に、あるいは、図14(b)に示すように、テ−パガラ
ス22aのマーキング60aとテ−パガラス22bのマ
ーキング60bが一致するように、テ−パガラス22
a,22bをカバーガラス10に接着する。
【0059】これによれば、テーパガラス22a、22
bのテーパ面の平行性がより確実になり、組み立て性が
さらに向上する。図15は防塵カバ−40を示すもので
ある。
【0060】この防塵カバ−40は図16に示すよう
に、光学ゲ−ス2aの上面部に取り付けられる。上記し
たように、カバーガラス10の両面部にテーパガラス2
2a、22bを接合してシフト補正手段を構成するた
め、従来のような中空円筒を必要とすることがなく、ビ
−ムスプリッタ13とカバ−ガラス10との間の間隔を
狭めることができ、光学ベース2aを小形化できるとと
もに、防塵カバー40の小型化も可能となる。
【0061】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
平行平板の両面部に必要に応じてテーパ面が互いに平行
になるように一対の透明なテーパ部材を接合して光ビー
ムのシフトを補正するから、中空円筒を用いることな
く、光ビームのシフトが可能となる。
【0062】したがって、構成が簡略化しコストを低減
できるとともに、ビームスプリッタと平行平板との間隔
を小とし、光学ベ−スおよび防塵カバーの小形化を可能
とする。
【0063】また、一対のテーパ部材の最厚肉部および
最薄肉部にそれぞれマ−キング部をを設け、平行平板へ
の接合時に一方のテーパ部材の最厚肉部のマ−キング部
と他方のテーパ部材の最薄肉部のマ−キング部とを互い
に対向させることにより、一対のテーパ部材のテーパ面
が互いに平行な状態になるように位置決めするから、一
対のテーパ部材のテーパ面を確実、容易に互いに平行な
状態にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である固定光学系の構成を示
す平面図。
【図2】図1の固定光学系の構成を示す斜視図。
【図3】図1の固定光学系を備える光ディスク装置を示
す構成図。
【図4】図1の固定光学系に用いられるシフト補正部材
を示すもので、図4(a)はその平面図、図4(b)は
その正面図、図4(c)はその側面図。
【図5】図4のシフト補正部材を示すもので、図5
(a)はその分解斜視図、図5(b)はその組立状態を
示す斜視図。
【図6】図3の光ディスク装置の対物レンズ出射光の輝
度分布をモニタするための測定装置を示す構成図。
【図7】図6の測定装置によって測定される対物レンズ
出射光の輝度分布と対物レンズの外径との関係を説明す
るための図。
【図8】図6の測定装置によって測定される対物レンズ
出射光の補正前後の輝度中心の様子を示すもので、図8
(a)は右にずれた輝度中心を補正する場合を示す図、
図8(b)は上下および左にずれた輝度中心を補正する
場合を示す図、図8(c)は右斜め上方にずれた輝度中
心を補正する場合を示す図。
【図9】図4のシフト補正手段により、ビ−ムを左へシ
フトさせる場合を示すもので、図9(a)はその平面
図、図9(b)はその側面図、図9(c)はその正面
図。
【図10】図4のシフト補正手段により、ビ−ムを右へ
シフトさせる場合を示すもので、図10(a)はその平
面図、図10(b)はその側面図、図10(c)はその
正面図。
【図11】図4のシフト補正手段により、ビ−ムを上へ
シフトさせる場合を示すもので、図11(a)はその平
面図、図11(b)はその側面図、図11(c)はその
正面図。
【図12】図4のシフト補正手段により、ビ−ムを下へ
シフトさせる場合を示すもので、図12(a)はその平
面図、図12(b)はその側面図、図12(c)はその
正面図。
【図13】本発明の他の実施例であるテ−パガラスに施
されたマ−キングを示す説明図。
【図14】図13のテ−パガラスを防塵ガラスに取り付
けた状態を示すもので、図14(a)はその平面図、図
14(b)はその側面図。
【図15】本発明の一実施例である防塵カバーを示す斜
視図。
【図16】図15の防塵カバーをベ−スに取り付けた状
態を示す斜視図。
【図17】従来の光ディスク装置を示す構成図。
【図18】図17の光ディスク装置における固定光学系
の構成を示す平面図。
【図19】図18の固定光学系に備えられるシフト補正
装置を示すもので、図19(a)はその側面図、図19
(b)はその正面図。
【図20】図17の光ディスク装置の対物レンズ出射光
の輝度分布をモニタするための測定装置を示す構成図。
【図21】図20の測定装置によって測定される対物レ
ンズ出射光の輝度分布と対物レンズの外径との関係を説
明するための図。
【図22】図20の測定装置によって測定される対物レ
ンズ出射光の補正前後の輝度中心の様子を示すもので、
図22(a)は右にずれた輝度中心を補正する場合を示
す図、図22(b)は上下および左にずれた輝度中心を
補正する場合を示す図、図22(c)は右斜め上方にず
れた輝度中心を補正する場合を示す図。
【図23】図19のシフト補正手段により、ビ−ムを左
へシフトさせる場合を示すもので、図23(a)はその
平面図、図23(b)はその側面図。
【図24】図19のシフト補正手段により、ビ−ムを右
へシフトさせる場合を示すもので、図24(a)はその
平面図、図24(b)はその側面図。
【図25】図19のシフト補正手段により、ビ−ムを下
へシフトさせる場合を示すもので、図25(a)はその
平面図、図25(b)はその側面図。
【図26】図19のシフト補正手段により、ビ−ムを上
へシフトさせる場合を示すもので、図26(a)はその
平面図、図26(b)はその側面図。
【図27】従来の防塵カバ−を示す斜視図。
【図28】図27の防塵カバ−を光学ベ−スに取り付け
た状態を示す斜視図。
【符号の説明】
1…光ディスク(情報記憶媒体)、2a…光学ベース、
10…防塵ガラス(平行平板)、11…半導体レーザ、
12…コリメータレンズ(送光光学素子)、13,17
…ビームスプリッタ(送光光学素子)、22a,22b
…テ−パガラス(シフト補正手段)、40…防塵カバ
ー、43…対物レンズ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 情報記録媒体に光ビームを供給する半導
    体レーザと、 この半導体レーザを固定する光学ベースと、 この光学ベースに所定間隔を存して固定され前記半導体
    レーザからの光ビームを所定方向に導く複数の送光光学
    素子と、 前記情報記録媒体の径方向に沿って移動自在に設けられ
    前記送光光学素子により導かれて前記光学ベースから出
    射される光ビ−ムを前記情報記録媒体に照射させる対物
    レンズと、 前記光学ベ−スにおける光ビ−ム出射部に前記光ビーム
    の光軸に対して略直交する状態に設けられた透明な平行
    平板と、 この平行平板の両面部に必要に応じてテーパ面が互いに
    平行になるように接合され、前記光ビームのシフトを補
    正する一対の透明なテーパ部材からなるシフト補正手段
    と、 を具備してなることを特徴とする光ヘッド。
  2. 【請求項2】 情報記録媒体に光ビームを供給する半導
    体レーザと、 この半導体レーザを固定する光学ベースと、 この光学ベ−スに設けられ光路を構成する溝部と、 この溝部内に所定間隔を存して固定され前記半導体レー
    ザからの光ビームを所定方向に導く複数の送光光学素子
    と、 前記情報記録媒体の径方向に沿って移動自在に設けられ
    前記送光光学素子により導かれて前記光学ベースから出
    射される光ビ−ムを前記情報記録媒体に照射させる対物
    レンズと、 前記光学ベ−スにおける光ビ−ム出射部に前記光ビーム
    の光軸に対して略直交する状態に設けられた透明な平行
    平板と、 この平行平板の両面部に必要に応じてテーパ面が互いに
    平行になるように接合され、前記光ビームのシフトを補
    正する一対の透明なテーパ部材からなるシフト補正手段
    と、 前記光学ベ−スの送光光学素子を配設する溝部の開口部
    分を覆う防塵カバーと、 を具備してなることを特徴とする光ヘッド。
  3. 【請求項3】 情報記録媒体に光ビームを供給する半導
    体レーザと、 この半導体レーザを固定する光学ベースと、 この溝部内に所定間隔を存して固定され前記半導体レー
    ザからの光ビームを所定方向に導く複数の送光光学素子
    と、 前記情報記録媒体の径方向に沿って移動自在に設けられ
    前記送光光学素子により導かれて前記光学ベースから出
    射される光ビ−ムを前記情報記録媒体に照射させる対物
    レンズと、 前記光学ベ−スにおける光ビ−ム出射部に前記光ビーム
    の光軸に対して略直交する状態に設けられた透明な平行
    平板と、 この平行平板の両面部に必要に応じてテーパ面が互いに
    平行になるように接合され、前記光ビームのシフトを補
    正する一対の透明なテーパ部材からなるシフト補正手段
    と、 前記テーパ部材の最厚肉部および最薄肉部にそれぞれマ
    −キング部を設け、前記平行板への接合時に、一方のテ
    ーパ部材の最厚肉部と他方のテ−パ部材の最薄肉部のマ
    −キング部を互いに対向させて、前記一対のテーパ部材
    のテーパ面が互いに平行になるように位置決めする位置
    決め手段と、 を具備してなることを特徴とする光ヘッド。
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