JPH0886826A - プリント配線板の故障時間推定方法及び推定装置 - Google Patents
プリント配線板の故障時間推定方法及び推定装置Info
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- JPH0886826A JPH0886826A JP6246731A JP24673194A JPH0886826A JP H0886826 A JPH0886826 A JP H0886826A JP 6246731 A JP6246731 A JP 6246731A JP 24673194 A JP24673194 A JP 24673194A JP H0886826 A JPH0886826 A JP H0886826A
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 プリント配線板に残存されるフラックス残渣
が原因とされる配線間の絶縁不良により故障が発生する
までの時間を推定することを可能にする。 【構成】 プリント配線板におけるフラックス残渣の単
位量に含まれる活性剤量と水分量をそれぞれ測定部１，
２で測定し、またプリント配線板における配線間での電
界強度を測定部３で測定し、これら活性剤量、水分量、
及び電界強度の各測定値Ｃ，Ｗ，Ｅを演算部４において
次の関係式に代入して演算を行なない、故障推定時間Ｌ
を算出し、表示部５に表示する。 Ｌ＝Ｂ・Ｃx ・Ｗy ・Ｅz （Ｂ，ｘ，ｙ，ｚ：定数）
が原因とされる配線間の絶縁不良により故障が発生する
までの時間を推定することを可能にする。 【構成】 プリント配線板におけるフラックス残渣の単
位量に含まれる活性剤量と水分量をそれぞれ測定部１，
２で測定し、またプリント配線板における配線間での電
界強度を測定部３で測定し、これら活性剤量、水分量、
及び電界強度の各測定値Ｃ，Ｗ，Ｅを演算部４において
次の関係式に代入して演算を行なない、故障推定時間Ｌ
を算出し、表示部５に表示する。 Ｌ＝Ｂ・Ｃx ・Ｗy ・Ｅz （Ｂ，ｘ，ｙ，ｚ：定数）
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は半田およびフラックスを
用いて各種電子部品を搭載したプリント配線板（以下、
ＰＷＢと略称する）に関し、特にフラックスが原因で発
生されるエレクトロマイグレーションの影響によるＰＷ
Ｂの寿命、即ち故障が発生するまでの時間を推定する方
法及び推定装置に関する。
用いて各種電子部品を搭載したプリント配線板（以下、
ＰＷＢと略称する）に関し、特にフラックスが原因で発
生されるエレクトロマイグレーションの影響によるＰＷ
Ｂの寿命、即ち故障が発生するまでの時間を推定する方
法及び推定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＰＷＢは周知のように絶縁基板上に銅や
アルミニウム等の金属薄膜からなる回路パターンを形成
しており、この回路パターンに対して半導体素子やチッ
プ抵抗等の各種電子部品を実装している。この実装に際
しては、半田を用いることが一般的であり、かつその半
田付けに際しては回路パターンと半田との濡れ性を高め
るためにフラックスが利用される。しかしながら、この
フラックスは半田付け後にＰＷＢの表面から完全に除去
することができないため、このフラックスの残り、即ち
フラックス残渣によりエレクトロマイグレーションによ
る回路パターンの電気的な短絡が生じ、ＰＷＢに故障を
発生させることがある。
アルミニウム等の金属薄膜からなる回路パターンを形成
しており、この回路パターンに対して半導体素子やチッ
プ抵抗等の各種電子部品を実装している。この実装に際
しては、半田を用いることが一般的であり、かつその半
田付けに際しては回路パターンと半田との濡れ性を高め
るためにフラックスが利用される。しかしながら、この
フラックスは半田付け後にＰＷＢの表面から完全に除去
することができないため、このフラックスの残り、即ち
フラックス残渣によりエレクトロマイグレーションによ
る回路パターンの電気的な短絡が生じ、ＰＷＢに故障を
発生させることがある。
【０００３】即ち、フラックス残渣が回路パターン間の
ＰＷＢ表面上に存在していると、経時的な環境下でフラ
ックス残渣が水分を吸収する状態となり、これによりフ
ラックス残渣に含まれる化学成分、特に塩素が水と反応
され、この反応物により回路パターンの金属が溶出され
てフラックス残渣中で金属イオンが生成される。そし
て、この金属イオンがフラックス残渣中においてある割
合以上に生成されると、この金属イオンを介して隣接す
る回路パターンが相互に電気接続され、前記した短絡事
故が発生されることになる。
ＰＷＢ表面上に存在していると、経時的な環境下でフラ
ックス残渣が水分を吸収する状態となり、これによりフ
ラックス残渣に含まれる化学成分、特に塩素が水と反応
され、この反応物により回路パターンの金属が溶出され
てフラックス残渣中で金属イオンが生成される。そし
て、この金属イオンがフラックス残渣中においてある割
合以上に生成されると、この金属イオンを介して隣接す
る回路パターンが相互に電気接続され、前記した短絡事
故が発生されることになる。
【０００４】このような故障はＰＷＢの信頼性に関わる
ため、従来から、いわゆる信頼性試験が行われている。
例えば、図６はその信頼性試験方法を示す模式図であ
り。試験対象として、絶縁基板の表面に対象フラックス
を含むソルダーペーストを印刷しかつリフローして櫛型
電極２２を形成して試験片２１とし、これを恒温恒湿器
２３に入れ、かつ前記櫛型電極２２間に絶縁抵抗計２４
を接続する。そして、恒温恒湿器２３により試験片２１
を所定の環境条件下においた上で前記絶縁抵抗計２４を
介して櫛型電極２２間に所定電圧を印加し、櫛型電極間
の絶縁抵抗を経時的に測定し、この絶縁抵抗の劣化によ
り信頼性を確認する。また、これと同時に拡大鏡等によ
りフラックス残渣の状態を観察することも行われる。
ため、従来から、いわゆる信頼性試験が行われている。
例えば、図６はその信頼性試験方法を示す模式図であ
り。試験対象として、絶縁基板の表面に対象フラックス
を含むソルダーペーストを印刷しかつリフローして櫛型
電極２２を形成して試験片２１とし、これを恒温恒湿器
２３に入れ、かつ前記櫛型電極２２間に絶縁抵抗計２４
を接続する。そして、恒温恒湿器２３により試験片２１
を所定の環境条件下においた上で前記絶縁抵抗計２４を
介して櫛型電極２２間に所定電圧を印加し、櫛型電極間
の絶縁抵抗を経時的に測定し、この絶縁抵抗の劣化によ
り信頼性を確認する。また、これと同時に拡大鏡等によ
りフラックス残渣の状態を観察することも行われる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このような従来のＰＷ
Ｂの信頼性試験では、信頼性の低いＰＷＢの場合には比
較的に短い時間で短絡による故障が発生するために信頼
性が確認できるが、高信頼性を目的として製造されるＰ
ＷＢの場合には、故障の発生を確認するまでには、数
万、或いは数十万以上の時間が必要とされるため、現実
的ではないという問題がある。したがって、結果として
は「何時間の試験に合格した」との試験結果を得ること
しかできず、そのＰＷＢの寿命がどの程度であるのかを
推定することができず、実際にＰＷＢを各種機器に装備
した際に長期間にわたって信頼性を保証することが難し
いという問題がある。
Ｂの信頼性試験では、信頼性の低いＰＷＢの場合には比
較的に短い時間で短絡による故障が発生するために信頼
性が確認できるが、高信頼性を目的として製造されるＰ
ＷＢの場合には、故障の発生を確認するまでには、数
万、或いは数十万以上の時間が必要とされるため、現実
的ではないという問題がある。したがって、結果として
は「何時間の試験に合格した」との試験結果を得ること
しかできず、そのＰＷＢの寿命がどの程度であるのかを
推定することができず、実際にＰＷＢを各種機器に装備
した際に長期間にわたって信頼性を保証することが難し
いという問題がある。
【０００６】
【発明の目的】本発明の目的は、ＰＷＢにおけるフラッ
クス残渣が原因とされる故障が発生するまでの時間を推
定することを可能にした推定方法を提供することにあ
る。また、本発明の他の目的、ＰＷＢにおけるフラック
ス残渣が原因とされる故障が発生するまでの時間を推定
することが可能な推定装置を提供することにある。
クス残渣が原因とされる故障が発生するまでの時間を推
定することを可能にした推定方法を提供することにあ
る。また、本発明の他の目的、ＰＷＢにおけるフラック
ス残渣が原因とされる故障が発生するまでの時間を推定
することが可能な推定装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明のＰＷＢの故障時
間推定方法は、ＰＷＢのフラックス残渣の単位量に含ま
れる活性剤量と水分量を測定し、またＰＷＢにおける配
線間での電界強度を測定し、これら活性剤量、水分量、
及び電界強度の各測定値を所定の関係式に代入して演算
を行なって故障時間を算出することを特徴とする。
間推定方法は、ＰＷＢのフラックス残渣の単位量に含ま
れる活性剤量と水分量を測定し、またＰＷＢにおける配
線間での電界強度を測定し、これら活性剤量、水分量、
及び電界強度の各測定値を所定の関係式に代入して演算
を行なって故障時間を算出することを特徴とする。
【０００８】この場合、フラックス残渣の活性剤量
（Ｃ）、水分量（Ｗ）、及びプリント配線板での電界強
度（Ｅ）から推定故障時間（Ｌ）を次式により算出す
る。 Ｌ＝Ｂ・Ｃx ・Ｗy ・Ｅz （Ｂ，ｘ，ｙ，ｚ：定数） ここで、例えば、Ｂ＝４０００００，ｘ＝−０．６，ｙ
＝−３，ｚ＝−１である。
（Ｃ）、水分量（Ｗ）、及びプリント配線板での電界強
度（Ｅ）から推定故障時間（Ｌ）を次式により算出す
る。 Ｌ＝Ｂ・Ｃx ・Ｗy ・Ｅz （Ｂ，ｘ，ｙ，ｚ：定数） ここで、例えば、Ｂ＝４０００００，ｘ＝−０．６，ｙ
＝−３，ｚ＝−１である。
【０００９】本発明のＰＷＢの故障時間推定装置は、Ｐ
ＷＢのフラックス残渣の単位量に含まれる活性剤量を測
定する手段と、フラックス残渣の単位量に含まれる水分
量を測定する手段と、ＰＷＢの配線間における電界強度
を測定する手段と、これら各手段で測定された活性剤
量，水分量，及び電界強度の各測定値に基づいて所定の
関係式で演算を行って故障推定時間を算出し、かつこれ
を表示する手段とを備えることを特徴とする。
ＷＢのフラックス残渣の単位量に含まれる活性剤量を測
定する手段と、フラックス残渣の単位量に含まれる水分
量を測定する手段と、ＰＷＢの配線間における電界強度
を測定する手段と、これら各手段で測定された活性剤
量，水分量，及び電界強度の各測定値に基づいて所定の
関係式で演算を行って故障推定時間を算出し、かつこれ
を表示する手段とを備えることを特徴とする。
【００１０】
【作用】ＰＷＢにおけるフラックス残渣における活性剤
量と水分量、及びＰＷＢにおける配線間の電界強度をそ
れぞれエレクトロマイグレーションの発生因子とし、こ
れら因子の積をとることで、エレクトロマイグレーショ
ンにより生じる配線間の絶縁不良が原因とされるＰＷＢ
の故障時間を推定することが可能となる。
量と水分量、及びＰＷＢにおける配線間の電界強度をそ
れぞれエレクトロマイグレーションの発生因子とし、こ
れら因子の積をとることで、エレクトロマイグレーショ
ンにより生じる配線間の絶縁不良が原因とされるＰＷＢ
の故障時間を推定することが可能となる。
【００１１】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図１は本発明の故障時間推定方法を推定するため
の推定装置の概念構成を示すブロック構成図である。同
図において、１は実際に使用するフラックス残渣の単位
量に含まれる活性剤量（Ｃ）を測定するための活性剤量
測定部である。この活性剤量測定部では、例えば、対象
となるフラックスを一定量だけ取り、これを水とＩＰＡ
の混合溶液に溶解させ、そのときの導電率変化から活性
剤量を測定する。
する。図１は本発明の故障時間推定方法を推定するため
の推定装置の概念構成を示すブロック構成図である。同
図において、１は実際に使用するフラックス残渣の単位
量に含まれる活性剤量（Ｃ）を測定するための活性剤量
測定部である。この活性剤量測定部では、例えば、対象
となるフラックスを一定量だけ取り、これを水とＩＰＡ
の混合溶液に溶解させ、そのときの導電率変化から活性
剤量を測定する。
【００１２】２はフラックス残渣の単位量に含まれる水
分量（Ｗ）を測定するための水分量測定部であり、ここ
ではフラックス残渣を一定量だけ取り、これを十分乾燥
させ、その後高温高湿状態に一定時間放置し、その前後
の重量から水分量を測定する。
分量（Ｗ）を測定するための水分量測定部であり、ここ
ではフラックス残渣を一定量だけ取り、これを十分乾燥
させ、その後高温高湿状態に一定時間放置し、その前後
の重量から水分量を測定する。
【００１３】３はＰＷＢの回路パターンにおける電界強
度（Ｅ）を測定するための電界強度測定部であり、ＰＷ
Ｂに実際に形成する回路パターンの最小配線間距離Ｌと
ＰＷＢに使用する印加電圧Ｖとで、Ｅ＝Ｖ／Ｌの関係式
から測定する。
度（Ｅ）を測定するための電界強度測定部であり、ＰＷ
Ｂに実際に形成する回路パターンの最小配線間距離Ｌと
ＰＷＢに使用する印加電圧Ｖとで、Ｅ＝Ｖ／Ｌの関係式
から測定する。
【００１４】４は前記活性剤量測定部１、水分量測定部
２、電界強度測定部３でそれぞれ測定されたデータを入
力し、後述する演算式に基づいて演算を行う演算部、５
はこの演算部で演算された結果からＰＷＢの推定故障時
間を表示する表示部である。これらの演算部４と表示部
５は通常ではパーソナルコンピュータにより構成され
る。
２、電界強度測定部３でそれぞれ測定されたデータを入
力し、後述する演算式に基づいて演算を行う演算部、５
はこの演算部で演算された結果からＰＷＢの推定故障時
間を表示する表示部である。これらの演算部４と表示部
５は通常ではパーソナルコンピュータにより構成され
る。
【００１５】また、図２は本発明を実施する際の前提と
なるデータを得るための試験装置であり、１１は試験対
象として、絶縁基板の表面に対象フラックスを含むソル
ダーペーストを印刷しかつリフローして櫛型電極１２を
形成した試験片である。１３はこの試験片１１を入れて
所定の温度および湿度環境に設定するための恒温恒湿
器、１４は前記試験片の櫛型電極間に接続されて電極間
に所定電圧を印加し、かつ出力波形に基づいてその電極
間の絶縁状態、即ち短絡状態を検出する短絡波形検出装
置である。１５は短絡波形検出装置１４からの信号をＡ
／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、１６は試験開始から短絡が
生じた時までの時間を計測して表示する制御用パーソナ
ルコンピュータである。
なるデータを得るための試験装置であり、１１は試験対
象として、絶縁基板の表面に対象フラックスを含むソル
ダーペーストを印刷しかつリフローして櫛型電極１２を
形成した試験片である。１３はこの試験片１１を入れて
所定の温度および湿度環境に設定するための恒温恒湿
器、１４は前記試験片の櫛型電極間に接続されて電極間
に所定電圧を印加し、かつ出力波形に基づいてその電極
間の絶縁状態、即ち短絡状態を検出する短絡波形検出装
置である。１５は短絡波形検出装置１４からの信号をＡ
／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、１６は試験開始から短絡が
生じた時までの時間を計測して表示する制御用パーソナ
ルコンピュータである。
【００１６】次に、図１に示した推定装置を用いた本発
明の故障時間推定方法を説明する。先ず、活性剤量測定
部１、水分量測定部２、電界強度測定部３において、Ｐ
ＷＢで使用するフラックスの活性剤量（Ｃ）、水分量
（Ｗ）、電界強度（Ｅ）をそれぞれ前記した手法により
測定する。そして、各部で測定された値は演算部４に入
力され、ここで演算が行われる。
明の故障時間推定方法を説明する。先ず、活性剤量測定
部１、水分量測定部２、電界強度測定部３において、Ｐ
ＷＢで使用するフラックスの活性剤量（Ｃ）、水分量
（Ｗ）、電界強度（Ｅ）をそれぞれ前記した手法により
測定する。そして、各部で測定された値は演算部４に入
力され、ここで演算が行われる。
【００１７】先ず、活性剤量（Ｃ）は、故障時間との間
に図３（ａ）のような特性を有していることが知られて
いる。即ち、フラックスに含まれる活性剤の量が多いほ
ど、前記した金属イオンの生成が高いため、故障時間が
短くなる。ここで、故障時間ｔｃは、活性剤量（Ｃ）の
関数として（１）式で表わされる。 ｔC ＝Ｃx ・ｅB1 …（１）
に図３（ａ）のような特性を有していることが知られて
いる。即ち、フラックスに含まれる活性剤の量が多いほ
ど、前記した金属イオンの生成が高いため、故障時間が
短くなる。ここで、故障時間ｔｃは、活性剤量（Ｃ）の
関数として（１）式で表わされる。 ｔC ＝Ｃx ・ｅB1 …（１）
【００１８】また、水分量（Ｗ）は、故障時間との間に
図３（ｂ）のような特性を有していることが知られてい
る。即ち、フラックスに含まれる水分の量が多いほど、
前記した金属イオンの生成が高いため、故障時間が短く
なる。ここで、故障時間ｔｗは、水分量（Ｗ）の関数と
して（２）式で表わされる。 ｔW ＝Ｗy ・ｅB2 …（２）
図３（ｂ）のような特性を有していることが知られてい
る。即ち、フラックスに含まれる水分の量が多いほど、
前記した金属イオンの生成が高いため、故障時間が短く
なる。ここで、故障時間ｔｗは、水分量（Ｗ）の関数と
して（２）式で表わされる。 ｔW ＝Ｗy ・ｅB2 …（２）
【００１９】同様に、電界強度（Ｅ）は、故障時間との
間に図３（ｃ）のような特性を有していることが知られ
ている。即ち、ＰＷＢの電極間の電界が高いほど、前記
した金属イオンを通しての電気的な導通が生じ易くな
り、故障時間が短くなる。ここで、故障時間ｔｅは、電
界強度（Ｅ）の関数として（３）式で表わされる。 ｔE ＝Ｅz ・ｅB3 …（３）
間に図３（ｃ）のような特性を有していることが知られ
ている。即ち、ＰＷＢの電極間の電界が高いほど、前記
した金属イオンを通しての電気的な導通が生じ易くな
り、故障時間が短くなる。ここで、故障時間ｔｅは、電
界強度（Ｅ）の関数として（３）式で表わされる。 ｔE ＝Ｅz ・ｅB3 …（３）
【００２０】そして、ＰＷＢの故障時間を決定するため
に、これらの複数の因子が存在する場合には、各因子の
積で故障時間を見積もることが一般に行われているた
め、前記した各時間因子に基づいて故障推定時間（Ｌ）
を求めるために（４）式の演算を実行する。 Ｌ＝ｔC ×ｔW ×ｔE ＝Ｃx ・ｅB1×Ｗy ・ｅB2×Ｅz
・ｅB3＝ｅB1・ｅB2・ｅB3・Ｃx ・Ｗy ・Ｅz …（４） ここで、Ｂ＝ｅB1・ｅB2・ｅB3とすると、前記（４）式
は、 Ｌ＝Ｂ・Ｃx ・Ｗy ・Ｅz …（５） と表される。
に、これらの複数の因子が存在する場合には、各因子の
積で故障時間を見積もることが一般に行われているた
め、前記した各時間因子に基づいて故障推定時間（Ｌ）
を求めるために（４）式の演算を実行する。 Ｌ＝ｔC ×ｔW ×ｔE ＝Ｃx ・ｅB1×Ｗy ・ｅB2×Ｅz
・ｅB3＝ｅB1・ｅB2・ｅB3・Ｃx ・Ｗy ・Ｅz …（４） ここで、Ｂ＝ｅB1・ｅB2・ｅB3とすると、前記（４）式
は、 Ｌ＝Ｂ・Ｃx ・Ｗy ・Ｅz …（５） と表される。
【００２１】したがって、フラックスの単位量における
活性剤量（Ｃ）と水分量（Ｗ）と、ＰＷＢにおける電界
強度（Ｅ）を求めることで、ＰＷＢにおける故障推定時
間（Ｌ）を算出することができる。ここで、前記した
Ｂ，ｘ，ｙ，ｚはフラックスやＰＷＢによって決定され
る定数である。この定数を決定するために、推定するＰ
ＷＢとフラックスを用いた試験対象を図２において説明
したように作成し、その故障時間を測定する。図４はそ
の測定結果の一例であり、フラックス（イ），（ロ），
（ハ）について、試験片の配線間距離０．１ｍｍ，０．
１５ｍｍ，０．３ｍｍについて試験を行った。また、図
４には示していないが、その際のフラックスの活性剤量
（Ｃ）と水分量（Ｗ）、及びこの試験片の電界強度
（Ｅ）とを図１の装置の各測定部１，２，３を利用して
測定しておく。
活性剤量（Ｃ）と水分量（Ｗ）と、ＰＷＢにおける電界
強度（Ｅ）を求めることで、ＰＷＢにおける故障推定時
間（Ｌ）を算出することができる。ここで、前記した
Ｂ，ｘ，ｙ，ｚはフラックスやＰＷＢによって決定され
る定数である。この定数を決定するために、推定するＰ
ＷＢとフラックスを用いた試験対象を図２において説明
したように作成し、その故障時間を測定する。図４はそ
の測定結果の一例であり、フラックス（イ），（ロ），
（ハ）について、試験片の配線間距離０．１ｍｍ，０．
１５ｍｍ，０．３ｍｍについて試験を行った。また、図
４には示していないが、その際のフラックスの活性剤量
（Ｃ）と水分量（Ｗ）、及びこの試験片の電界強度
（Ｅ）とを図１の装置の各測定部１，２，３を利用して
測定しておく。
【００２２】そして、このときの活性剤量（Ｃ），水分
量（Ｗ），電界強度（Ｅ）の各値を（５）式に代入し、
かつ図４の試験結果から得られた故障時間を前記（Ｌ）
に代入することで、Ｂ，ｘ，ｙ，ｚを未知数とする式が
得られる。そして、種々の（Ｃ），（Ｗ），（Ｅ），
（Ｌ）の値に基づいて得られる式を解くことで、前記
Ｂ，ｘ，ｙ，ｚを得ることができる。因みに、本発明者
が種々のフラックスや試験片に対して試験を行い、かつ
前記した式解法により算出し、多少のばらつきを平均化
したところ、概ね次の値が得られた。 Ｂ：４０００００ ｘ：−０．６ ｙ：−３ ｚ：−１
量（Ｗ），電界強度（Ｅ）の各値を（５）式に代入し、
かつ図４の試験結果から得られた故障時間を前記（Ｌ）
に代入することで、Ｂ，ｘ，ｙ，ｚを未知数とする式が
得られる。そして、種々の（Ｃ），（Ｗ），（Ｅ），
（Ｌ）の値に基づいて得られる式を解くことで、前記
Ｂ，ｘ，ｙ，ｚを得ることができる。因みに、本発明者
が種々のフラックスや試験片に対して試験を行い、かつ
前記した式解法により算出し、多少のばらつきを平均化
したところ、概ね次の値が得られた。 Ｂ：４０００００ ｘ：−０．６ ｙ：−３ ｚ：−１
【００２３】したがって、前記（５）式は、次の（６）
式として書き換えることができる。 Ｌ＝４０００００・Ｃ-0.6・Ｗ-3・Ｅ-1 …（５） そこで、推定対象となるフラックスやＰＷＢについて実
際に図１の推定装置においてフラックスの活性剤量
（Ｃ），水分量（Ｗ）とＰＷＢの電界強度（Ｅ）を測定
し、この測定値を（６）式に基づい演算を行った結果か
ら得られた故障推定時間を図５に示す。この図５は図４
に対応しているものであり、これらの図を比較すると、
図５で推定された推定故障時間と、実際に測定した図４
の故障時間とが略一致していることが確認できる。特
に、実際の測定では故障の発生が確認できなかった場合
においても、図５では推定故障時間が算出されている。
式として書き換えることができる。 Ｌ＝４０００００・Ｃ-0.6・Ｗ-3・Ｅ-1 …（５） そこで、推定対象となるフラックスやＰＷＢについて実
際に図１の推定装置においてフラックスの活性剤量
（Ｃ），水分量（Ｗ）とＰＷＢの電界強度（Ｅ）を測定
し、この測定値を（６）式に基づい演算を行った結果か
ら得られた故障推定時間を図５に示す。この図５は図４
に対応しているものであり、これらの図を比較すると、
図５で推定された推定故障時間と、実際に測定した図４
の故障時間とが略一致していることが確認できる。特
に、実際の測定では故障の発生が確認できなかった場合
においても、図５では推定故障時間が算出されている。
【００２４】なお、実際に種々のフラックスについて故
障時間の測定と推定を行った結果、前記したＢ，ｘ，
ｙ，ｚの定数値はフラックスの種類やＰＷＢの種類等に
かかわらず略近似した値となり、推定時間に潜在されて
いると考えられる誤差を考慮すれば、この定数値を利用
することで十分な推定が実現できると考えられる。勿
論、高精度の推定時間を行う場合には、各フラックスや
ＰＷＢに特有の定数値を設定して演算を行うようにして
もよいことは言うまでもない。
障時間の測定と推定を行った結果、前記したＢ，ｘ，
ｙ，ｚの定数値はフラックスの種類やＰＷＢの種類等に
かかわらず略近似した値となり、推定時間に潜在されて
いると考えられる誤差を考慮すれば、この定数値を利用
することで十分な推定が実現できると考えられる。勿
論、高精度の推定時間を行う場合には、各フラックスや
ＰＷＢに特有の定数値を設定して演算を行うようにして
もよいことは言うまでもない。
【００２５】また、図１の装置は各測定部と演算部とを
オンライン化しているため、故障時間の推定を迅速に行
うことができる。但し、図１は本発明の推定装置を概念
的に示したものであり、各測定部はそれぞれ独立された
ものであってもよく、各測定部で距離的及び時間的に離
された状態において測定された各データをそれぞれ記録
手段に記録し、その上で各記録手段からのデータを一括
してコンピュータ処理して推定時間を算出するように構
成してもよいことは勿論である。
オンライン化しているため、故障時間の推定を迅速に行
うことができる。但し、図１は本発明の推定装置を概念
的に示したものであり、各測定部はそれぞれ独立された
ものであってもよく、各測定部で距離的及び時間的に離
された状態において測定された各データをそれぞれ記録
手段に記録し、その上で各記録手段からのデータを一括
してコンピュータ処理して推定時間を算出するように構
成してもよいことは勿論である。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ＰＷＢに
おけるフラックス残渣の単位量に含まれる活性剤量及び
水分量と、ＰＷＢにおける配線間での電界強度とをそれ
ぞれ測定し、これらをそれぞれエレクトロマイグレーシ
ョンの発生因子とし、これら因子の積をとることで、エ
レクトロマイグレーションにより生じる配線間の絶縁不
良が原因とされるＰＷＢの故障時間を推定することが可
能となる。これにより、従来の信頼性試験では数万時間
必要とされるような高信頼度のＰＷＢについても故障時
間を推定することが可能となり、ＰＷＢを装備する各種
機器の信頼度を把握し、機器管理等に有効に利用するこ
とができる。
おけるフラックス残渣の単位量に含まれる活性剤量及び
水分量と、ＰＷＢにおける配線間での電界強度とをそれ
ぞれ測定し、これらをそれぞれエレクトロマイグレーシ
ョンの発生因子とし、これら因子の積をとることで、エ
レクトロマイグレーションにより生じる配線間の絶縁不
良が原因とされるＰＷＢの故障時間を推定することが可
能となる。これにより、従来の信頼性試験では数万時間
必要とされるような高信頼度のＰＷＢについても故障時
間を推定することが可能となり、ＰＷＢを装備する各種
機器の信頼度を把握し、機器管理等に有効に利用するこ
とができる。
【００２７】また、本発明はＰＷＢのフラックス残渣の
単位量に含まれる活性剤量と水分量を測定するそれぞれ
の手段と、ＰＷＢの配線間における電界強度を測定する
手段と、これら各手段で測定された活性剤量，水分量，
及び電界強度に基づいて所定の関係式で演算を行って故
障推定時間を算出し、かつこれを表示する手段とを備え
ることにより、前記したＰＷＢの故障時間を自動的に推
定することができる。
単位量に含まれる活性剤量と水分量を測定するそれぞれ
の手段と、ＰＷＢの配線間における電界強度を測定する
手段と、これら各手段で測定された活性剤量，水分量，
及び電界強度に基づいて所定の関係式で演算を行って故
障推定時間を算出し、かつこれを表示する手段とを備え
ることにより、前記したＰＷＢの故障時間を自動的に推
定することができる。
【００２８】また、本発明では、活性剤量及び水分量を
測定する各手段と、電界強度を測定する手段とをそれぞ
れコンピュータに接続することで、各測定と推定時間の
演算処理とをオンライン化でき、故障時間の推定を迅速
に行うことが可能となる。
測定する各手段と、電界強度を測定する手段とをそれぞ
れコンピュータに接続することで、各測定と推定時間の
演算処理とをオンライン化でき、故障時間の推定を迅速
に行うことが可能となる。
【図１】本発明の故障時間推定装置の概念構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】本発明の推定方法に利用する定数値を求めるた
めの故障時間測定装置のブロック構成図である。
めの故障時間測定装置のブロック構成図である。
【図３】故障時間と活性剤量、水分量、電界強度の関係
を概略的に示す特性図である。
を概略的に示す特性図である。
【図４】本発明にかかる関係式の定数値を求めるために
行った故障時間の測定結果の一例を示す図である。
行った故障時間の測定結果の一例を示す図である。
【図５】本発明の推定方法により求めた推定故障時間を
図４に対比して示す図である。
図４に対比して示す図である。
【図６】従来のＰＷＢの信頼性試験装置の構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
１ 活性剤量測定部 ２ 水分量測定部 ３ 電界強度測定部 ４ 演算部 ５ 表示部 １１ 測定片 １２ 櫛型電極 １４ 短絡波形検出装置 １６ 制御用パーソナルコンピュータ
Claims (5)
- 【請求項１】 プリント配線板のフラックス残渣の単位
量に含まれる活性剤量と水分量を測定し、かつ前記プリ
ント配線板における配線間での電界強度を測定し、前記
活性剤量、水分量、及び電界強度の各測定値を所定の関
係式に代入して演算を行ない前記プリント配線板の故障
推定時間を算出することを特徴とするプリント配線板の
故障時間推定方法 - 【請求項２】 フラックス残渣の活性剤量（Ｃ），水分
量（Ｗ）、及びプリント配線板での電界強度（Ｅ）の各
測定値から故障推定時間（Ｌ）を次式により算出する請
求項１のプリント配線板の故障時間推定方法。 Ｌ＝Ｂ・Ｃx ・Ｗy ・Ｅz （Ｂ，ｘ，ｙ，ｚ：定数） - 【請求項３】 Ｂ＝４０００００，ｘ＝−０．６，ｙ＝
−３，ｚ＝−１である請求項２のプリント配線板の故障
時間推定方法。 - 【請求項４】 プリント配線板のフラックス残渣の単位
量に含まれる活性剤量を測定する手段と、前記フラック
ス残渣の単位量に含まれる水分量を測定する手段と、プ
リント配線板の配線間における電界強度を測定する手段
と、前記各手段で測定された活性剤量，水分量，及び電
界強度の各測定値に基づいて所定の関係式で演算を行っ
て故障推定時間を算出し、かつこれを表示する手段とを
備えることを特徴とするプリント配線板の故障時間推定
装置。 - 【請求項５】 活性剤量測定手段，水分量測定手段，及
び電界強度測定手段をコンピュータに接続し、このコン
ピュータにおいて前記手段から入力される活性剤量，水
分量，電界強度の各測定値に基づく演算を行い、かつ算
出された故障推定時間を表示するように構成してなる請
求項４のプリント配線板の故障時間推定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6246731A JP2679646B2 (ja) | 1994-09-16 | 1994-09-16 | プリント配線板の故障時間推定方法及び推定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6246731A JP2679646B2 (ja) | 1994-09-16 | 1994-09-16 | プリント配線板の故障時間推定方法及び推定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0886826A true JPH0886826A (ja) | 1996-04-02 |
| JP2679646B2 JP2679646B2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=17152812
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6246731A Expired - Lifetime JP2679646B2 (ja) | 1994-09-16 | 1994-09-16 | プリント配線板の故障時間推定方法及び推定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2679646B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009533695A (ja) * | 2006-04-17 | 2009-09-17 | ケスター，インコーポレイティド | 半田付けプロセス改善のための熱・電気伝導度分析器 |
| JP2009216659A (ja) * | 2008-03-12 | 2009-09-24 | Espec Corp | 接続品質検査装置 |
-
1994
- 1994-09-16 JP JP6246731A patent/JP2679646B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009533695A (ja) * | 2006-04-17 | 2009-09-17 | ケスター，インコーポレイティド | 半田付けプロセス改善のための熱・電気伝導度分析器 |
| JP2009216659A (ja) * | 2008-03-12 | 2009-09-24 | Espec Corp | 接続品質検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2679646B2 (ja) | 1997-11-19 |
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