JPH088463Y2 - 交流検出回路の診断装置 - Google Patents
交流検出回路の診断装置Info
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- JPH088463Y2 JPH088463Y2 JP2644190U JP2644190U JPH088463Y2 JP H088463 Y2 JPH088463 Y2 JP H088463Y2 JP 2644190 U JP2644190 U JP 2644190U JP 2644190 U JP2644190 U JP 2644190U JP H088463 Y2 JPH088463 Y2 JP H088463Y2
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- pulse signal
- pulse
- circuit
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
本考案は、交流検出回路の診断装置に係り、特に、そ
の診断装置自身の状態を監視することのできる、いわゆ
るセルフチェック方式の診断装置に関する。
の診断装置自身の状態を監視することのできる、いわゆ
るセルフチェック方式の診断装置に関する。
電子連動装置においては、中央処理装置が多数の端末
制御装置から軌道回路などの情報を入力して演算処理
し、制御用データを得、これを当該端末制御装置に伝送
し、端末制御装置では制御データに基づいて交流電源に
接続された半導体スイッチに制御信号を与えて、所要の
制御対象、例えば信号機及び転てつ機に、その半導体ス
イッチを介して交流駆動電流を与えている。 この交流駆動電流が正常に存在しているか否かを交流
検出回路を用いて検出し、監視するようになっている
が、安全性が全てに優先される電子連動装置において
は、その交流検出回路自体もセルフチェックできるよう
に構成されている。 従来の交流検出回路は、第４図に示すように、交流出
力回路51に結合したトランス52の二次側コイルに整流回
路53を接続し、その整流回路の出力を平滑回路54,55に
より平滑化して、ホトカプラからなるスイッチング素子
56に与え、そのスイッチング素子がONされたときに動作
されるドライバ57を設けて構成してあり、そのドライバ
の出力DIが“1"か“0"かにより、交流出力回路51の交番
出力の有無を検出している。 しかし、交流出力回路51の交番出力がなくとも、スイ
ッチング素子56の、例えばトランジスタがショート故障
した場合にもドライバ57の出力が“1"となり、交流出力
を誤検出する虞があるので、これをセルフチェックする
ための診断回路が設けられている。 この診断回路には、ホトカプラからなるスイッチング
素子58を前記検出用スイッチング素子56と直列接続され
ていて、判定部60の診断論理プログラムを実行するマイ
クロコンピュータCPUがサンプリングデータを採集する
間、このスイッチング素子58にドライバ59を介して照査
パルスckpを出力するようにしている。 第５図のタイムチャートはこの診断論理プログラムの
内容をタイムチャートで示したもので、交流出力回路51
に交流出力が出力されている場合（第５図（イ））は、
同図（ロ）に示されるように、整流回路53は所定の出力
を維持している。CPUが照査パルスCKPを同図（ハ）のよ
うに与えた時、検知出力DIは同図（ニ）のごとく照査パ
ルスに対応して“1"“0"を出力する。CPUはこの“1"
“0"の値を同図（ホ）のようにサンプリング入力するこ
とにより、診断回路自体の正常を判定する。
制御装置から軌道回路などの情報を入力して演算処理
し、制御用データを得、これを当該端末制御装置に伝送
し、端末制御装置では制御データに基づいて交流電源に
接続された半導体スイッチに制御信号を与えて、所要の
制御対象、例えば信号機及び転てつ機に、その半導体ス
イッチを介して交流駆動電流を与えている。 この交流駆動電流が正常に存在しているか否かを交流
検出回路を用いて検出し、監視するようになっている
が、安全性が全てに優先される電子連動装置において
は、その交流検出回路自体もセルフチェックできるよう
に構成されている。 従来の交流検出回路は、第４図に示すように、交流出
力回路51に結合したトランス52の二次側コイルに整流回
路53を接続し、その整流回路の出力を平滑回路54,55に
より平滑化して、ホトカプラからなるスイッチング素子
56に与え、そのスイッチング素子がONされたときに動作
されるドライバ57を設けて構成してあり、そのドライバ
の出力DIが“1"か“0"かにより、交流出力回路51の交番
出力の有無を検出している。 しかし、交流出力回路51の交番出力がなくとも、スイ
ッチング素子56の、例えばトランジスタがショート故障
した場合にもドライバ57の出力が“1"となり、交流出力
を誤検出する虞があるので、これをセルフチェックする
ための診断回路が設けられている。 この診断回路には、ホトカプラからなるスイッチング
素子58を前記検出用スイッチング素子56と直列接続され
ていて、判定部60の診断論理プログラムを実行するマイ
クロコンピュータCPUがサンプリングデータを採集する
間、このスイッチング素子58にドライバ59を介して照査
パルスckpを出力するようにしている。 第５図のタイムチャートはこの診断論理プログラムの
内容をタイムチャートで示したもので、交流出力回路51
に交流出力が出力されている場合（第５図（イ））は、
同図（ロ）に示されるように、整流回路53は所定の出力
を維持している。CPUが照査パルスCKPを同図（ハ）のよ
うに与えた時、検知出力DIは同図（ニ）のごとく照査パ
ルスに対応して“1"“0"を出力する。CPUはこの“1"
“0"の値を同図（ホ）のようにサンプリング入力するこ
とにより、診断回路自体の正常を判定する。
しかしながら、上記のような従来の故障診断回路は、
交流信号を整流した信号に基づいて行なうようにしてい
るため、整流回路及び平滑回路を必要とし、回路構成が
複雑化し、コスト高となる問題点があった。 本考案は、上記の点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的は、交流信号を整流することなく、安価に、しか
も確実に故障診断ができるようにした交流検出回路の診
断装置を提供することにある。
交流信号を整流した信号に基づいて行なうようにしてい
るため、整流回路及び平滑回路を必要とし、回路構成が
複雑化し、コスト高となる問題点があった。 本考案は、上記の点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的は、交流信号を整流することなく、安価に、しか
も確実に故障診断ができるようにした交流検出回路の診
断装置を提供することにある。
上記の目的を達成するため、本考案に係る交流検出回
路の診断装置は、交流出力信号に同期したパルス信号を
発生させるパルス発生手段と、前記パルス信号よりもパ
ルス幅が小さく、かつそのパルス信号よりも周期の短い
照査信号を発生させる照査信号発生手段と、前記パルス
信号と照査信号との論理積値がそのパルス信号の一周期
間、そのパルス信号発生時に継続して同一のときは故障
と判断する判定手段とからなることを特徴としている。
路の診断装置は、交流出力信号に同期したパルス信号を
発生させるパルス発生手段と、前記パルス信号よりもパ
ルス幅が小さく、かつそのパルス信号よりも周期の短い
照査信号を発生させる照査信号発生手段と、前記パルス
信号と照査信号との論理積値がそのパルス信号の一周期
間、そのパルス信号発生時に継続して同一のときは故障
と判断する判定手段とからなることを特徴としている。
上記構成において、パルス発生手段から発生されたパ
ルス信号と照査信号発生手段から発生された照査信号と
の論理積値がそのパルス信号の一周期間、そのパルス信
号発生時に継続して同一のときは、判定手段は交流検出
回路の故障と判定する。
ルス信号と照査信号発生手段から発生された照査信号と
の論理積値がそのパルス信号の一周期間、そのパルス信
号発生時に継続して同一のときは、判定手段は交流検出
回路の故障と判定する。
本考案の実施例について、第１図より第３図の図面に
基づいて説明する。 第１図は本考案の基本的構成を有する実施例の回路図
である。 交流出力回路１に、トランス２を結合し、その二次側
コイルにホトカプラからなるスイッチング素子３を接続
し、そのスイッチング素子がONされたとき動作されて、
直流信号を出力するドライバ４を設け、そのドライバの
出力を判定部５に与えるように構成されている。 ６はスイッチング素子にホトカプラが用いられた場合
に、発光ダイオードを保護するために挿入された通常ダ
イオードである。 判定部５は、ドライバ４の信号を入力するとともに、
照査信号発生器5aの信号を入力し、ROM5bに格納された
プログラムとRAM5cに格納されたワーキングとを用いて
演算処理するCPU5dとから構成されている。 次に、第２図のタイムチャートを参照しながら、判定
部５における判定アルゴリズムについて説明する。 今、交流出力回路１は正常な交流出力を行なっている
とすると、同図（イ）に示される波形の信号がスイッチ
ング素子３へ入力される。そして、このスイッチング素
子３及びドライバ４を介して、CPU5dに同図（ロ）に示
されるパルス信号が入力される。このパルス信号は、交
流出力回路１の交流出力と同期しているので、このパル
スの有無の状態がCPU5dで判定されて交流出力回路１の
出力状態が検出される。 さて、この検出結果が、真実が否か、すなわち、検出
が正常に行なわれているか否かは、次のようにして行な
われる。 まず、照査信号発生器5aは、交流出力回路１の周波数
よりも大きな周波数を発生するもので、第２図（ハ）に
示されるような、すなわち、パルス信号（ロ）よりもパ
ルス幅が小さく、かつそのパルス信号の周期よりも短い
周期の照査信号（ハ）をCPU5dに入力している。したが
って、照査信号（ハ）はパルス信号（ロ）の一周期の間
に２以上存在することとなる。 CPU5dでは、パルス信号（ロ）及び照査信号（ハ）を
取込む毎にRAM5c内に記憶するとともに、これら両信号
の論理積値（同図（ニ）参照）を演算処理し、これを再
びRAM5c内に記憶する。 この論理積値の記憶状態は、パルス信号（ロ）が交流
出力信号（イ）に同期し、正常に出力されているとすれ
ば、同図（ニ）に示されるように、パルス信号（ロ）の
一周期の間に、同一値が継続することがない。 もし、“1"の論理積値が継続して出現したとすれば、
スイッチング素子３が短絡事故等を起こして、パルス信
号（ロ）が常時、立上り状態を意味しているので、この
交流検出回路は故障状態であると判定される。もちろ
ん、このような判定の場合は、CPU5dは外部へその旨を
報知する。 また、交流出力回路１が出力中であるにもかかわら
ず、パルス信号（ロ）が立上らないで“0"の論理積値が
継続して出現したときも、交流検出回路の異常と判定さ
れる。 第２図（ハ′）は、照査信号発生器5aからの照査信号
周期が、同図（ハ）のときよりも大きい場合の例であ
り、この場合、パルス信号（ロ）の周期と照査信号
（ハ′）の周期の関係から、パルス信号（ロ）の一周期
以上に亘って、論理積値“1"（又は“0"）が継続したと
きは、即、故障との判定をせずに、同図（ハ′）の後端
に示されるような、パルス信号（ロ）の数分の１（例え
ば1/10）の周期の照査信号を照査信号発生器5aからCPU5
dに送出し、この周期の短い照査信号で論理積値が求め
られる。 この周期の短い照査信号発生において、交流検出回路
が正常であれば、論理積値“1"の次に“0"（又は“0"の
次に“1"）が出現するので、誤判断を防止することがで
きる。 本実施例装置によれば、交流出力回路１の交流出力信
号に同期したパルス信号（ロ）を整流することなく、そ
のままソフト的に処理して診断できるようにしたので、
従来よりもローコストに製作できる。 第３図は、ダイオード6a,6bを並列に接続したスイッ
チング素子3a,3bを２個直列に接続した検出回路が示さ
れている。この回路では、それぞれのスイッチング素子
3a,3bに接続されているドライバ4a,4bから、それぞれ別
個にパルス信号が得られる。つまり、ドライバ4aから
は、上記第２図（ロ）に示すパルス信号が得られ、他
方、ドライバ4bからは同図（ロ）から半周期遅れた同形
状のパルス信号が得られる。 したがって、判定部５では、これらドライバ4a,4bか
らのパルス信号を用いて、上述と同様に処理して判定が
行なわれる。この場合、この判定は、ダブルチェックと
なり、より信頼性の優れたものとすることができる。 また、各スイッチング素子3a,3bに並列に同様なスイ
ッチング素子を設け、すなわち、四重に接続して検出す
るようにすることもでき、この場合は、さらに信頼性の
高いものとすることができる。 なお、得られた論理積値の判定に当っては、予め、RO
M5b内に正常時のパターンを記憶させておき、これと照
合して判定するようにしてもよい。
基づいて説明する。 第１図は本考案の基本的構成を有する実施例の回路図
である。 交流出力回路１に、トランス２を結合し、その二次側
コイルにホトカプラからなるスイッチング素子３を接続
し、そのスイッチング素子がONされたとき動作されて、
直流信号を出力するドライバ４を設け、そのドライバの
出力を判定部５に与えるように構成されている。 ６はスイッチング素子にホトカプラが用いられた場合
に、発光ダイオードを保護するために挿入された通常ダ
イオードである。 判定部５は、ドライバ４の信号を入力するとともに、
照査信号発生器5aの信号を入力し、ROM5bに格納された
プログラムとRAM5cに格納されたワーキングとを用いて
演算処理するCPU5dとから構成されている。 次に、第２図のタイムチャートを参照しながら、判定
部５における判定アルゴリズムについて説明する。 今、交流出力回路１は正常な交流出力を行なっている
とすると、同図（イ）に示される波形の信号がスイッチ
ング素子３へ入力される。そして、このスイッチング素
子３及びドライバ４を介して、CPU5dに同図（ロ）に示
されるパルス信号が入力される。このパルス信号は、交
流出力回路１の交流出力と同期しているので、このパル
スの有無の状態がCPU5dで判定されて交流出力回路１の
出力状態が検出される。 さて、この検出結果が、真実が否か、すなわち、検出
が正常に行なわれているか否かは、次のようにして行な
われる。 まず、照査信号発生器5aは、交流出力回路１の周波数
よりも大きな周波数を発生するもので、第２図（ハ）に
示されるような、すなわち、パルス信号（ロ）よりもパ
ルス幅が小さく、かつそのパルス信号の周期よりも短い
周期の照査信号（ハ）をCPU5dに入力している。したが
って、照査信号（ハ）はパルス信号（ロ）の一周期の間
に２以上存在することとなる。 CPU5dでは、パルス信号（ロ）及び照査信号（ハ）を
取込む毎にRAM5c内に記憶するとともに、これら両信号
の論理積値（同図（ニ）参照）を演算処理し、これを再
びRAM5c内に記憶する。 この論理積値の記憶状態は、パルス信号（ロ）が交流
出力信号（イ）に同期し、正常に出力されているとすれ
ば、同図（ニ）に示されるように、パルス信号（ロ）の
一周期の間に、同一値が継続することがない。 もし、“1"の論理積値が継続して出現したとすれば、
スイッチング素子３が短絡事故等を起こして、パルス信
号（ロ）が常時、立上り状態を意味しているので、この
交流検出回路は故障状態であると判定される。もちろ
ん、このような判定の場合は、CPU5dは外部へその旨を
報知する。 また、交流出力回路１が出力中であるにもかかわら
ず、パルス信号（ロ）が立上らないで“0"の論理積値が
継続して出現したときも、交流検出回路の異常と判定さ
れる。 第２図（ハ′）は、照査信号発生器5aからの照査信号
周期が、同図（ハ）のときよりも大きい場合の例であ
り、この場合、パルス信号（ロ）の周期と照査信号
（ハ′）の周期の関係から、パルス信号（ロ）の一周期
以上に亘って、論理積値“1"（又は“0"）が継続したと
きは、即、故障との判定をせずに、同図（ハ′）の後端
に示されるような、パルス信号（ロ）の数分の１（例え
ば1/10）の周期の照査信号を照査信号発生器5aからCPU5
dに送出し、この周期の短い照査信号で論理積値が求め
られる。 この周期の短い照査信号発生において、交流検出回路
が正常であれば、論理積値“1"の次に“0"（又は“0"の
次に“1"）が出現するので、誤判断を防止することがで
きる。 本実施例装置によれば、交流出力回路１の交流出力信
号に同期したパルス信号（ロ）を整流することなく、そ
のままソフト的に処理して診断できるようにしたので、
従来よりもローコストに製作できる。 第３図は、ダイオード6a,6bを並列に接続したスイッ
チング素子3a,3bを２個直列に接続した検出回路が示さ
れている。この回路では、それぞれのスイッチング素子
3a,3bに接続されているドライバ4a,4bから、それぞれ別
個にパルス信号が得られる。つまり、ドライバ4aから
は、上記第２図（ロ）に示すパルス信号が得られ、他
方、ドライバ4bからは同図（ロ）から半周期遅れた同形
状のパルス信号が得られる。 したがって、判定部５では、これらドライバ4a,4bか
らのパルス信号を用いて、上述と同様に処理して判定が
行なわれる。この場合、この判定は、ダブルチェックと
なり、より信頼性の優れたものとすることができる。 また、各スイッチング素子3a,3bに並列に同様なスイ
ッチング素子を設け、すなわち、四重に接続して検出す
るようにすることもでき、この場合は、さらに信頼性の
高いものとすることができる。 なお、得られた論理積値の判定に当っては、予め、RO
M5b内に正常時のパターンを記憶させておき、これと照
合して判定するようにしてもよい。
上記のように、本考案に係る診断装置によれば、交流
出力回路に同期したパルス信号をそのまま入力し、これ
をソフト的に処理して判定するようにしたので、従来の
ような整流回路を必要とせず、低コストで製作できる効
果がある。
出力回路に同期したパルス信号をそのまま入力し、これ
をソフト的に処理して判定するようにしたので、従来の
ような整流回路を必要とせず、低コストで製作できる効
果がある。
第１図は本考案の基本構成を有する実施例の回路図、第
２図は第１図の回路図の作用を説明するタイムチャー
ト、第３図は他の実施例を示す回路図である。 第４図は従来の診断装置の構成を示す回路図、第５図は
同回路の作用を説明するタイムチャートである。 １…交流出力回路、3,3a,3b…スイッチング素子、4,4a,
4b…ドライバ、５…判定部（判定手段）、5a…照査信号
発生器（照査信号発生手段）。
２図は第１図の回路図の作用を説明するタイムチャー
ト、第３図は他の実施例を示す回路図である。 第４図は従来の診断装置の構成を示す回路図、第５図は
同回路の作用を説明するタイムチャートである。 １…交流出力回路、3,3a,3b…スイッチング素子、4,4a,
4b…ドライバ、５…判定部（判定手段）、5a…照査信号
発生器（照査信号発生手段）。
Claims (1)
- 【請求項１】交流出力信号に同期したパルス信号を発生
させるパルス発生手段と、 前記パルス信号よりもパルス幅が小さく、かつそのパル
ス信号よりも周期の短い照査信号を発生させる照査信号
発生手段と、 前記パルス信号と照査信号との論理積値がそのパルス信
号の一周期間、そのパルス信号発生時に継続して同一の
ときは故障と判定する判定手段と、 とからなることを特徴とする交流検出回路の診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2644190U JPH088463Y2 (ja) | 1990-03-15 | 1990-03-15 | 交流検出回路の診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2644190U JPH088463Y2 (ja) | 1990-03-15 | 1990-03-15 | 交流検出回路の診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03117777U JPH03117777U (ja) | 1991-12-05 |
| JPH088463Y2 true JPH088463Y2 (ja) | 1996-03-06 |
Family
ID=31529331
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2644190U Expired - Fee Related JPH088463Y2 (ja) | 1990-03-15 | 1990-03-15 | 交流検出回路の診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH088463Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007239370A (ja) * | 2006-03-10 | 2007-09-20 | Wood One:Kk | 屋外用床材およびウッドデッキ |
-
1990
- 1990-03-15 JP JP2644190U patent/JPH088463Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03117777U (ja) | 1991-12-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |