JPH0870068A - 電子チップ温度制御装置及び方法 - Google Patents
電子チップ温度制御装置及び方法Info
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- JPH0870068A JPH0870068A JP7205622A JP20562295A JPH0870068A JP H0870068 A JPH0870068 A JP H0870068A JP 7205622 A JP7205622 A JP 7205622A JP 20562295 A JP20562295 A JP 20562295A JP H0870068 A JPH0870068 A JP H0870068A
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- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電子チップの温度をモニタ及び制御して信頼
性を向上する、熱電気冷却装置を含む装置を提供する。 【構成】 熱電気冷却(TEC)装置18の低温面20
が熱的にチップ12に固定され、高温面26がヒート・
シンク24に取り付けられる。熱電対がTEC装置18
とチップ12との間に配置され、フィードバック制御回
路30が熱電対と電圧源32との間に接続される。電圧
源32は、チップ12を実質的に一定の目標温度に維持
する電圧をTEC装置18に供給する。
性を向上する、熱電気冷却装置を含む装置を提供する。 【構成】 熱電気冷却(TEC)装置18の低温面20
が熱的にチップ12に固定され、高温面26がヒート・
シンク24に取り付けられる。熱電対がTEC装置18
とチップ12との間に配置され、フィードバック制御回
路30が熱電対と電圧源32との間に接続される。電圧
源32は、チップ12を実質的に一定の目標温度に維持
する電圧をTEC装置18に供給する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般に、電子チップの冷
却装置に関し、特に、電子チップの温度変化幅を低減す
ることにより熱疲労を制限し、製品寿命を伸ばし、より
大きなチップを許容し、異なる熱膨張率を有する基板
に、信頼性に影響を及ぼすこと無く、チップを直接付着
することを可能にする能動的な冷却を提供する装置に関
する。
却装置に関し、特に、電子チップの温度変化幅を低減す
ることにより熱疲労を制限し、製品寿命を伸ばし、より
大きなチップを許容し、異なる熱膨張率を有する基板
に、信頼性に影響を及ぼすこと無く、チップを直接付着
することを可能にする能動的な冷却を提供する装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】今日の大電力PC及びワークステーショ
ンでは、大電力消費に起因するチップの高い動作温度に
よるはんだ相互接続及び素子配線の疲労により、オン/
オフ・サイクル数が制限される。従来の消極的な冷却
は、チップとファンにより冷却される動作雰囲気との温
度差に依存するために限界があった。そのため動作温度
が高くなり、オン状態とオフ状態の間の温度変化幅が大
きくなった。チップが受けるこれらの大きな温度変化の
結果、要求のオン/オフ・サイクルを許容するように、
チップのサイズが制限される。
ンでは、大電力消費に起因するチップの高い動作温度に
よるはんだ相互接続及び素子配線の疲労により、オン/
オフ・サイクル数が制限される。従来の消極的な冷却
は、チップとファンにより冷却される動作雰囲気との温
度差に依存するために限界があった。そのため動作温度
が高くなり、オン状態とオフ状態の間の温度変化幅が大
きくなった。チップが受けるこれらの大きな温度変化の
結果、要求のオン/オフ・サイクルを許容するように、
チップのサイズが制限される。
【0003】より最近の環境PCでは、システムの活動
状態をモニタし、システムの部品の消費電力レベルを低
減することにより電力を節約する、電力管理技法が使用
されている。各非活動モードはチップを冷却する時間を
与えるので、熱サイクルが潜在的に大きな問題となる。
環境PCの通常のサイクルが、図1の曲線1により示さ
れ、ここでは通常の動作温度が80℃として示され、ス
リープ・サイクルの間の温度は70℃に低減される。曲
線1は、こうしたマシンの温度変化サイクルが通常のオ
ン/オフ・サイクル(通常1日)に対して、数秒のオー
ダであることを示す。平均2秒のサイクル時間を仮定す
ると、10℃の変化幅で1日8時間として、約1500
0サイクル生じることになる。これはサイクル数だけを
比較すれば、マシン寿命に対する仕様である20000
回のオン/オフ・サイクル(但し、温度変化幅50℃)
にほぼ匹敵する。これらの小さな温度変化サイクルは合
計4百万サイクル/年となり、重大な信頼性問題を与え
ることになる。
状態をモニタし、システムの部品の消費電力レベルを低
減することにより電力を節約する、電力管理技法が使用
されている。各非活動モードはチップを冷却する時間を
与えるので、熱サイクルが潜在的に大きな問題となる。
環境PCの通常のサイクルが、図1の曲線1により示さ
れ、ここでは通常の動作温度が80℃として示され、ス
リープ・サイクルの間の温度は70℃に低減される。曲
線1は、こうしたマシンの温度変化サイクルが通常のオ
ン/オフ・サイクル(通常1日)に対して、数秒のオー
ダであることを示す。平均2秒のサイクル時間を仮定す
ると、10℃の変化幅で1日8時間として、約1500
0サイクル生じることになる。これはサイクル数だけを
比較すれば、マシン寿命に対する仕様である20000
回のオン/オフ・サイクル(但し、温度変化幅50℃)
にほぼ匹敵する。これらの小さな温度変化サイクルは合
計4百万サイクル/年となり、重大な信頼性問題を与え
ることになる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従って、製品の信頼性
を向上するために、熱サイクル数または温度変化幅を制
限しうる方法または構造が必要とされる。本発明はこの
ような要求を満たすのに適したチップ温度制御技術を提
供することである。
を向上するために、熱サイクル数または温度変化幅を制
限しうる方法または構造が必要とされる。本発明はこの
ような要求を満たすのに適したチップ温度制御技術を提
供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、信頼性の向上
及び有効寿命を伸ばすために、薄膜熱電対と協働して、
電子チップに能動的な温度制御を提供する熱電気冷却
(TEC:thermal electric cooling)装置の利用に関
する。本発明の電子チップ冷却装置は、TEC装置の低
温面を電子チップに取り付け、ヒート・シンク手段をT
EC装置の高温面に取り付ける。熱電対などの温度セン
ス手段が、チップの温度をセンスするために、TEC装
置とチップとの間に取り付けられる。電圧源がTEC装
置に接続され、フィードバック制御回路手段が熱電対と
電圧源との間に接続される。フィードバック制御回路は
チップ温度に応答して、TEC装置に供給される電圧レ
ベルを制御し、チップを実質的に一定の目標温度に維持
する。
及び有効寿命を伸ばすために、薄膜熱電対と協働して、
電子チップに能動的な温度制御を提供する熱電気冷却
(TEC:thermal electric cooling)装置の利用に関
する。本発明の電子チップ冷却装置は、TEC装置の低
温面を電子チップに取り付け、ヒート・シンク手段をT
EC装置の高温面に取り付ける。熱電対などの温度セン
ス手段が、チップの温度をセンスするために、TEC装
置とチップとの間に取り付けられる。電圧源がTEC装
置に接続され、フィードバック制御回路手段が熱電対と
電圧源との間に接続される。フィードバック制御回路は
チップ温度に応答して、TEC装置に供給される電圧レ
ベルを制御し、チップを実質的に一定の目標温度に維持
する。
【0006】電力節約のために環境PCで提案されるよ
うな非活動モードの動作を有するシステムの場合には、
動作中にチップが遭遇する熱変化の回数及び変化幅を本
発明の装置により制限することにより、チップ温度が制
御される。従来のチップでは、チップの動作温度を著し
く低下させて、許容できるオン/オフ・サイクル数を増
やすことができる。更に本発明は、チップを効果的に低
い温度に冷却することができるため、チップの使用を可
能にする。本発明はまた、チップの熱膨張率がカードの
それと合致しない場合であっても、チップのカードへの
直接取り付けを可能にする。
うな非活動モードの動作を有するシステムの場合には、
動作中にチップが遭遇する熱変化の回数及び変化幅を本
発明の装置により制限することにより、チップ温度が制
御される。従来のチップでは、チップの動作温度を著し
く低下させて、許容できるオン/オフ・サイクル数を増
やすことができる。更に本発明は、チップを効果的に低
い温度に冷却することができるため、チップの使用を可
能にする。本発明はまた、チップの熱膨張率がカードの
それと合致しない場合であっても、チップのカードへの
直接取り付けを可能にする。
【0007】
【実施例】図2を参照すると、本発明は、チップ温度を
能動的に制御する電子チップ冷却装置10を提供する。
図2に示されるように、電子チップ12は例えばはんだ
ボール16により、基板14に取り付けられる。熱電気
冷却(TEC)装置18はチップ12の露出面に、熱伝
導性の接着剤またはペーストにより固定される。TEC
装置18は、TEC装置18の低温面すなわち低温側2
0がチップ12に固定されるように、チップ12に固定
される。薄膜熱電対22のような温度センス手段が、T
EC装置18の低温面20とチップ12との間に取り付
けられる。温度センス手段は、チップ内に、またはTE
C装置18とチップ12との間の相互接続に隣接する電
子パッケージ内に組込まれてもよい。ヒート・シンク2
4は、熱伝導性の接着剤またはペーストにより、TEC
装置18の高温面すなわち高温側26に固定される。熱
電対22の出力28は、フィードバック制御回路30に
接続される。制御回路30は電圧源32に接続され、電
圧源32はTEC装置18への入力34に接続される。
この入力34は、TEC装置18の高温面26と低温面
20との間に電圧を提供する。制御回路30と電圧源3
2の両者は、チップまたは電子パッケージ、或いは別々
の外部回路に組込まれてもよい。
能動的に制御する電子チップ冷却装置10を提供する。
図2に示されるように、電子チップ12は例えばはんだ
ボール16により、基板14に取り付けられる。熱電気
冷却(TEC)装置18はチップ12の露出面に、熱伝
導性の接着剤またはペーストにより固定される。TEC
装置18は、TEC装置18の低温面すなわち低温側2
0がチップ12に固定されるように、チップ12に固定
される。薄膜熱電対22のような温度センス手段が、T
EC装置18の低温面20とチップ12との間に取り付
けられる。温度センス手段は、チップ内に、またはTE
C装置18とチップ12との間の相互接続に隣接する電
子パッケージ内に組込まれてもよい。ヒート・シンク2
4は、熱伝導性の接着剤またはペーストにより、TEC
装置18の高温面すなわち高温側26に固定される。熱
電対22の出力28は、フィードバック制御回路30に
接続される。制御回路30は電圧源32に接続され、電
圧源32はTEC装置18への入力34に接続される。
この入力34は、TEC装置18の高温面26と低温面
20との間に電圧を提供する。制御回路30と電圧源3
2の両者は、チップまたは電子パッケージ、或いは別々
の外部回路に組込まれてもよい。
【0008】周知のように、TEC装置18はペルチエ
効果の下で動作するバイメタルのストリップから成る。
TEC装置18の低温面20はチップ12に熱的に結合
され、高温面26はヒート・シンク24により十分に冷
却される。ストリップの低温面20と高温面26との間
に電圧が印加され、高温面26と低温面20との温度差
がTEC装置18に供給される電圧に直接比例する。
効果の下で動作するバイメタルのストリップから成る。
TEC装置18の低温面20はチップ12に熱的に結合
され、高温面26はヒート・シンク24により十分に冷
却される。ストリップの低温面20と高温面26との間
に電圧が印加され、高温面26と低温面20との温度差
がTEC装置18に供給される電圧に直接比例する。
【0009】動作に際し、温度センス手段がチップ12
の温度をセンスし、その温度を示す信号がフィードバッ
ク制御回路30に提供される。フィードバック制御回路
30はチップ温度に応答して、電圧源32により供給さ
れる電圧レベルを制御する。フィードバック制御回路3
0は、TEC装置18に供給される電圧を連続的に調整
することにより、実質的に一定の設定温度を維持するよ
うに設計され、それにより高温面26と低温面20との
間の温度差が実質的に一定に維持される。この目的を達
成するためのフィードバック制御回路は既知であるの
で、ここでは説明を省略する。
の温度をセンスし、その温度を示す信号がフィードバッ
ク制御回路30に提供される。フィードバック制御回路
30はチップ温度に応答して、電圧源32により供給さ
れる電圧レベルを制御する。フィードバック制御回路3
0は、TEC装置18に供給される電圧を連続的に調整
することにより、実質的に一定の設定温度を維持するよ
うに設計され、それにより高温面26と低温面20との
間の温度差が実質的に一定に維持される。この目的を達
成するためのフィードバック制御回路は既知であるの
で、ここでは説明を省略する。
【0010】チップ温度はチップに隣接して配置され、
フィードバック制御回路ループに接続される薄膜熱電対
22により、能動的に制御される。このフィードバック
・ループはチップ温度をモニタし、それを短い応答時間
で、実時間で目標値に効果的に制御する。例えばチップ
温度が上昇すると、熱電対はこの上昇をセンスし、フィ
ードバック制御回路30は電圧源32に信号を送り、チ
ップ背面を目標温度に下げるためにTEC装置18の低
温面20の温度を下げる電圧をTEC装置18に供給す
るように制御する。チップから除去された熱はTEC装
置18の高温面26に伝えられ、ヒート・シンク24を
通じて放散される。従って、本発明の電子チップ冷却装
置10は、動作中にチップが遭遇する熱変化の回数及び
変化幅の両方を制限するように、チップ温度を制御す
る。曲線2は、本発明の電子チップ冷却装置10を用い
て冷却されるチップの熱変化の時間と温度の関係を示
す。曲線2からチップ温度が実質的に70℃に維持され
ることがわかる。温度変化の回数及び変化幅が共に著し
く減少する。
フィードバック制御回路ループに接続される薄膜熱電対
22により、能動的に制御される。このフィードバック
・ループはチップ温度をモニタし、それを短い応答時間
で、実時間で目標値に効果的に制御する。例えばチップ
温度が上昇すると、熱電対はこの上昇をセンスし、フィ
ードバック制御回路30は電圧源32に信号を送り、チ
ップ背面を目標温度に下げるためにTEC装置18の低
温面20の温度を下げる電圧をTEC装置18に供給す
るように制御する。チップから除去された熱はTEC装
置18の高温面26に伝えられ、ヒート・シンク24を
通じて放散される。従って、本発明の電子チップ冷却装
置10は、動作中にチップが遭遇する熱変化の回数及び
変化幅の両方を制限するように、チップ温度を制御す
る。曲線2は、本発明の電子チップ冷却装置10を用い
て冷却されるチップの熱変化の時間と温度の関係を示
す。曲線2からチップ温度が実質的に70℃に維持され
ることがわかる。温度変化の回数及び変化幅が共に著し
く減少する。
【0011】ヒート・シンク24のサイズ及び効率は、
TEC装置18により消費される追加の電力を許容しな
ければならない。ヒート・シンク24の温度が上昇する
と、これはより効率的となる。TEC装置18を使用す
るとヒート・シンク24はチップ温度からデカップリン
グされる。チップに取り付けられたときのヒート・シン
ク24の応答時間は、チップ温度の効果的な制御を行う
には遅すぎる。本発明では、チップの温度とヒート・シ
ンク24の温度とのデカップリングにより、TEC装置
18の早い応答時間により、こうした遅い応答時間が克
服される。複数のフィンを有する金属ヒート・シンクが
典型的であるが、任意の構成または形態のヒート・シン
クが使用されうる。TEC装置18により消費される電
力は、チップから抽出される電力のほぼ2倍である。こ
の追加の電力消費は、より大きなヒート・シンクまたは
高速ファンを使用することにより補償されうる。その結
果、パッケージ温度は多少高くなるが、チップ温度はよ
り低くまた均一となる。またフィードバック制御回路3
0を可変速ファンに接続し、チップ温度に応答して、追
加の冷却効果を提供することも可能である。
TEC装置18により消費される追加の電力を許容しな
ければならない。ヒート・シンク24の温度が上昇する
と、これはより効率的となる。TEC装置18を使用す
るとヒート・シンク24はチップ温度からデカップリン
グされる。チップに取り付けられたときのヒート・シン
ク24の応答時間は、チップ温度の効果的な制御を行う
には遅すぎる。本発明では、チップの温度とヒート・シ
ンク24の温度とのデカップリングにより、TEC装置
18の早い応答時間により、こうした遅い応答時間が克
服される。複数のフィンを有する金属ヒート・シンクが
典型的であるが、任意の構成または形態のヒート・シン
クが使用されうる。TEC装置18により消費される電
力は、チップから抽出される電力のほぼ2倍である。こ
の追加の電力消費は、より大きなヒート・シンクまたは
高速ファンを使用することにより補償されうる。その結
果、パッケージ温度は多少高くなるが、チップ温度はよ
り低くまた均一となる。またフィードバック制御回路3
0を可変速ファンに接続し、チップ温度に応答して、追
加の冷却効果を提供することも可能である。
【0012】更に本発明の装置は、チップ寿命を伸ばす
ように、実質的に低いチップ動作温度を提供するために
使用されうる。例えば曲線3により示されるように、チ
ップの動作温度は約35℃に低下されうる。こうした著
しく低い温度では、現在許容されるよりも、より大きな
チップを使用することが可能である。更にチップ温度を
能動的に制御することにより、熱膨張率が合致しない場
合にも、チップをカードに直接取り付けることが可能に
なる。
ように、実質的に低いチップ動作温度を提供するために
使用されうる。例えば曲線3により示されるように、チ
ップの動作温度は約35℃に低下されうる。こうした著
しく低い温度では、現在許容されるよりも、より大きな
チップを使用することが可能である。更にチップ温度を
能動的に制御することにより、熱膨張率が合致しない場
合にも、チップをカードに直接取り付けることが可能に
なる。
【0013】従って、本発明は、単にチップの動作温度
を制限するだけでなく、動作温度を任意の目標温度に能
動的に制御する装置を提供する。本発明の装置は、電力
管理技法に関連する非活動モードによるチップの温度変
化を制限する。本発明は、たとえ熱膨張率が合致しない
場合にも、チップをカードに直接取り付けることを可能
にする。更に本発明は、既存の構成において、チップ有
効寿命を短縮することなく、より大きなチップを使用す
ることを可能にする。
を制限するだけでなく、動作温度を任意の目標温度に能
動的に制御する装置を提供する。本発明の装置は、電力
管理技法に関連する非活動モードによるチップの温度変
化を制限する。本発明は、たとえ熱膨張率が合致しない
場合にも、チップをカードに直接取り付けることを可能
にする。更に本発明は、既存の構成において、チップ有
効寿命を短縮することなく、より大きなチップを使用す
ることを可能にする。
【0014】別の実施例では、本発明の構造は外部の温
度制御回路を必要としない。例えば、TEC装置18に
供給される電圧は、チップの使用モードまたはその時の
活動レベルにもとづき、特定の値に予めプログラムでき
る。この場合、チップはチップの使用モードまたは活動
レベルを示す信号をフィードバック制御回路30に供給
するように制御される。チップが"通常"の場合、制御回
路30は電圧を事前設定された適切な値に調整し、チッ
プがスリープ・モードの場合には、電圧は目標のチップ
温度に維持するために、別の事前設定値に調整される。
これは、フィードバック制御回路を必要としないので制
御回路30の構成を簡素化する。
度制御回路を必要としない。例えば、TEC装置18に
供給される電圧は、チップの使用モードまたはその時の
活動レベルにもとづき、特定の値に予めプログラムでき
る。この場合、チップはチップの使用モードまたは活動
レベルを示す信号をフィードバック制御回路30に供給
するように制御される。チップが"通常"の場合、制御回
路30は電圧を事前設定された適切な値に調整し、チッ
プがスリープ・モードの場合には、電圧は目標のチップ
温度に維持するために、別の事前設定値に調整される。
これは、フィードバック制御回路を必要としないので制
御回路30の構成を簡素化する。
【0015】更に別の実施例では、本発明の装置はTE
C装置18を駆動するために、クロック・パルス、電圧
駆動オフ式クロック信号(voltage driven off the clo
ck signal)、或いは他の類似の組込みパルス電圧を使
用する。TEC装置18に供給される総電力は、熱電対
または事前プログラムされた制御を含む他の制御システ
ムからの出力に依存して、パルス期間にクロック信号を
オン/オフ切替えすることにより制御される。図3は、
クロック電圧パルス列と、通常モード、オフ・モード、
及び中間モードを持つように変更されたクロック・パル
スを有するパルス列とを示す。
C装置18を駆動するために、クロック・パルス、電圧
駆動オフ式クロック信号(voltage driven off the clo
ck signal)、或いは他の類似の組込みパルス電圧を使
用する。TEC装置18に供給される総電力は、熱電対
または事前プログラムされた制御を含む他の制御システ
ムからの出力に依存して、パルス期間にクロック信号を
オン/オフ切替えすることにより制御される。図3は、
クロック電圧パルス列と、通常モード、オフ・モード、
及び中間モードを持つように変更されたクロック・パル
スを有するパルス列とを示す。
【図1】従来の冷却装置による温度変化(曲線1)と、
本発明の装置による冷却による温度変化(曲線2)とを
比較するための、時間と温度との関係を表す3つの異な
る曲線を示すグラフを示す図である。
本発明の装置による冷却による温度変化(曲線2)とを
比較するための、時間と温度との関係を表す3つの異な
る曲線を示すグラフを示す図である。
【図2】本発明の電子チップ冷却装置の断面図である。
【図3】クロック電圧パルス列と、通常モード、オフ・
モード、及び中間モードを持つように変更されたクロッ
ク・パルスを有するパルス列とを示す。
モード、及び中間モードを持つように変更されたクロッ
ク・パルスを有するパルス列とを示す。
10 電子チップ冷却装置 12 電子チップ 14 基板 16 はんだボール 18 熱電気冷却(TEC)装置 20 TEC装置の低温面 22 薄膜熱電対 24 ヒート・シンク 28 熱電対出力 30 フィードバック制御回路 32 電圧源 34 TEC装置入力
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 チャンドラセッカー・ナラヤン アメリカ合衆国12533、ニューヨーク州ホ ープウェル・ジャンクション、ケンシント ン・ドライブ 62
Claims (7)
- 【請求項1】電子チップの温度を実質的に一定の温度に
維持するための装置であって、 高温面と前記電子チップに固定される低温面とを有する
熱電気冷却(TEC)装置と、 前記チップの温度をモニタする温度センス手段と、 前記TEC装置の前記高温面に固定されるヒート・シン
ク手段と、 前記熱電気冷却装置に接続された電圧源と、 前記温度センス手段と前記電圧源との間に接続され、前
記チップの温度に応答して、前記チップを実質的に一定
の温度に維持するように、前記電圧源から前記TEC装
置に供給される電圧レベルを制御するフィードバック制
御回路手段と、 を含む、装置。 - 【請求項2】前記温度センス手段が薄膜熱電対である、
請求項1記載の装置。 - 【請求項3】前記温度センス手段が前記TEC装置と前
記チップとの間に設けられている、請求項1記載の装
置。 - 【請求項4】前記TEC装置に供給される電圧が、チッ
プの使用モードに対応して、異なる値に事前設定され
る、請求項1記載の装置。 - 【請求項5】電子チップの温度を実質的に一定の温度に
維持する方法であって、 前記電子チップをTEC装置の低温面に取り付け、ヒー
ト・シンクを前記TEC装置の高温面に取り付けた状態
で、前記電子チップの温度をモニタするステップと、 前記チップ温度に応答して、前記熱電気冷却(TEC)
装置に供給される電圧を制御して、前記チップを実質的
に一定の温度に維持するステップと、 を含む、方法。 - 【請求項6】前記モニタするステップが、前記チップに
取り付けられる熱電対からの信号をフィードバック制御
回路に供給するステップを含む、請求項5記載の方法。 - 【請求項7】電子チップの温度を実質的に一定の温度に
維持する方法であって、 前記チップからのチップ活動レベルを示す信号にもとづ
き、このチップ活動レベルに応じて予め設定された電圧
を、チップ温度制御用の熱電気冷却(TEC)装置に供
給するステップを含む、方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US29122294A | 1994-08-16 | 1994-08-16 | |
US291222 | 1994-08-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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