JPH085539Y2 - トランス - Google Patents
トランスInfo
- Publication number
- JPH085539Y2 JPH085539Y2 JP9865591U JP9865591U JPH085539Y2 JP H085539 Y2 JPH085539 Y2 JP H085539Y2 JP 9865591 U JP9865591 U JP 9865591U JP 9865591 U JP9865591 U JP 9865591U JP H085539 Y2 JPH085539 Y2 JP H085539Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic material
- test
- transformer
- coil bobbin
- present
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Landscapes
- Insulating Of Coils (AREA)
- Coils Or Transformers For Communication (AREA)
- Coils Of Transformers For General Uses (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は各種の映像機器、家電機
器、音響機器、産業機器、通信機器等に使用されるトラ
ンスに関するものである。
器、音響機器、産業機器、通信機器等に使用されるトラ
ンスに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来のトランスは、図６の斜視図に示す
ように構成されていた。すなわち、中央に磁性材１を貫
通させるための筒状の巻胴２の上下端に、上端鍔３と複
数本のピン端子４を植設した下端鍔５を設けたコイルボ
ビン６に胴線を巻回してコイル部７とし、このコイル部
７の引出線８を任意のピン端子４へ巻き付けて配線する
とともに半田接続し、磁性材１を組み込んだ後、プラス
チック樹脂で一体モールド成形することにより外装９を
形成して全体を密閉してトランスが構成されていた。
ように構成されていた。すなわち、中央に磁性材１を貫
通させるための筒状の巻胴２の上下端に、上端鍔３と複
数本のピン端子４を植設した下端鍔５を設けたコイルボ
ビン６に胴線を巻回してコイル部７とし、このコイル部
７の引出線８を任意のピン端子４へ巻き付けて配線する
とともに半田接続し、磁性材１を組み込んだ後、プラス
チック樹脂で一体モールド成形することにより外装９を
形成して全体を密閉してトランスが構成されていた。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】このような従来の構造
では、磁性材１の露出部がなくトランスの完成検査でコ
イル部７と磁性材１間の耐圧検査ができず、コイル部７
と磁性材１間の絶縁性能の確認が不可能となる。そのた
め、耐圧検査用の孔を磁性材面の一部に設ければ検査可
能となるが、その場合、孔の表面に成形時に発生した薄
膜あるいはバリ等によって、テストピンと磁性材の間で
導通不良が発生し、コイルと磁性材間の耐電圧不良品を
良品として判定する可能性があり、製品安全上重大な課
題を有するものとなるものであった。
では、磁性材１の露出部がなくトランスの完成検査でコ
イル部７と磁性材１間の耐圧検査ができず、コイル部７
と磁性材１間の絶縁性能の確認が不可能となる。そのた
め、耐圧検査用の孔を磁性材面の一部に設ければ検査可
能となるが、その場合、孔の表面に成形時に発生した薄
膜あるいはバリ等によって、テストピンと磁性材の間で
導通不良が発生し、コイルと磁性材間の耐電圧不良品を
良品として判定する可能性があり、製品安全上重大な課
題を有するものとなるものであった。
【０００４】本考案は上記従来の問題点を解決するもの
で、耐電圧試験時の検査精度の向上を図るトランスを提
供することを目的とするものである。
で、耐電圧試験時の検査精度の向上を図るトランスを提
供することを目的とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本考案は、端子を有するコイルボビンと巻回された巻
線と、このコイルボビンに組込まれる磁性材を、上記端
子の一部を突出させるようにコイルボビン、巻線および
磁性材からなるトランス本体の外周に形成されたモール
ドによる外装の一部に磁性材に達するテスト用の２種類
以上のテストピンが同時に挿入できる長孔または複数個
の孔を形成するものである。
に本考案は、端子を有するコイルボビンと巻回された巻
線と、このコイルボビンに組込まれる磁性材を、上記端
子の一部を突出させるようにコイルボビン、巻線および
磁性材からなるトランス本体の外周に形成されたモール
ドによる外装の一部に磁性材に達するテスト用の２種類
以上のテストピンが同時に挿入できる長孔または複数個
の孔を形成するものである。
【０００６】
【作用】耐圧検査用の孔をモールド成形時に磁性材面の
一部に設ければ検査可能となるが、孔に薄膜あるいはバ
リ等によってテストピンと磁性材間に導通不良が発生し
た場合、コイルと磁性材間の耐圧不良品を良品判定する
可能性があるが、本考案のように磁性材に達する２種類
以上のテストピンが同時に挿入できるような長孔または
複数個の孔を形成することにより、磁性材を介して耐圧
試験テストピンと導通テストピン間の導通チェックが可
能となり、耐圧検査時での導通不良による誤判定をチェ
ックできることになる。
一部に設ければ検査可能となるが、孔に薄膜あるいはバ
リ等によってテストピンと磁性材間に導通不良が発生し
た場合、コイルと磁性材間の耐圧不良品を良品判定する
可能性があるが、本考案のように磁性材に達する２種類
以上のテストピンが同時に挿入できるような長孔または
複数個の孔を形成することにより、磁性材を介して耐圧
試験テストピンと導通テストピン間の導通チェックが可
能となり、耐圧検査時での導通不良による誤判定をチェ
ックできることになる。
【０００７】
【実施例】（実施例１） 以下、本考案の第一の実施例について、図面を参照しな
がら説明する。図１は本考案の第一の実施例におけるト
ランスの斜視図である。図１において、中央に磁性材１
０を貫通させるための筒状の巻胴１１の上下端に、上端
鍔１２と下端鍔１３を設け、上端鍔１２に一対の磁性材
１０をガイドする磁性材ガイドリブ１４と方向性判別用
の方向性判別リブ１５を設ける。下端鍔１３には、膨大
部１６を形成し、巻線１７より引き出される引出リード
線１８をガイドするガイド溝１９を複数個設けるととも
に、上記膨大部１６の下端面に複数本のピン端子２０を
植設してコイルボビン２１を構成する。上記コイルボビ
ン２１に、任意のピン端子２０へ巻始めの引出リード線
１８をガイド溝１９を通して巻き付けて配線し、巻線１
７を巻回して巻き終わりの引出リード線１８をガイド溝
１９を通して他のピン端子２０へ巻き付けて配線する。
複数個の巻線１７を巻回し、引出リード線１８のピン端
子２０への巻き付け配線部を半田接続してコイル部を構
成する。上記コイル部に、ＥＩ型又は、ＥＥ型の磁性材
１０を組み込んで、全体を樹脂でモールド成形して外装
２２を構成し、ピン端子２０を植設する面の一部に外装
２２で密閉された磁性材１０の一部まで貫通した耐圧試
験用の長孔２３を形成しトランスを構成する。
がら説明する。図１は本考案の第一の実施例におけるト
ランスの斜視図である。図１において、中央に磁性材１
０を貫通させるための筒状の巻胴１１の上下端に、上端
鍔１２と下端鍔１３を設け、上端鍔１２に一対の磁性材
１０をガイドする磁性材ガイドリブ１４と方向性判別用
の方向性判別リブ１５を設ける。下端鍔１３には、膨大
部１６を形成し、巻線１７より引き出される引出リード
線１８をガイドするガイド溝１９を複数個設けるととも
に、上記膨大部１６の下端面に複数本のピン端子２０を
植設してコイルボビン２１を構成する。上記コイルボビ
ン２１に、任意のピン端子２０へ巻始めの引出リード線
１８をガイド溝１９を通して巻き付けて配線し、巻線１
７を巻回して巻き終わりの引出リード線１８をガイド溝
１９を通して他のピン端子２０へ巻き付けて配線する。
複数個の巻線１７を巻回し、引出リード線１８のピン端
子２０への巻き付け配線部を半田接続してコイル部を構
成する。上記コイル部に、ＥＩ型又は、ＥＥ型の磁性材
１０を組み込んで、全体を樹脂でモールド成形して外装
２２を構成し、ピン端子２０を植設する面の一部に外装
２２で密閉された磁性材１０の一部まで貫通した耐圧試
験用の長孔２３を形成しトランスを構成する。
【０００８】（実施例２） 以下、本考案の第二の実施例について、図面を参照しな
がら説明する。図２は、本考案の第二の実施例における
トランスの斜視図、図３は、本考案の第二の実施例にお
ける孔２５の拡大図を示すものである。図２において、
上記第一の実施例に記載する磁性材１０を組み込んだコ
イル部を樹脂モールド成形した外装２２でコイル部を密
閉し、トランスのピン端子２０を植設する面の一部に外
装２２で密閉された磁性材１０の一部まで貫通した耐圧
試験用のテストピン２４が入るような孔２５と、導通試
験用のテストピン２６が入るような孔２５を複数個形成
してトランスを構成する。図３は、一方の孔２５に耐圧
試験用のテストピン２４を装着し、他方の孔２５に導通
試験用のテストピン２６を装着した一実施例である。
がら説明する。図２は、本考案の第二の実施例における
トランスの斜視図、図３は、本考案の第二の実施例にお
ける孔２５の拡大図を示すものである。図２において、
上記第一の実施例に記載する磁性材１０を組み込んだコ
イル部を樹脂モールド成形した外装２２でコイル部を密
閉し、トランスのピン端子２０を植設する面の一部に外
装２２で密閉された磁性材１０の一部まで貫通した耐圧
試験用のテストピン２４が入るような孔２５と、導通試
験用のテストピン２６が入るような孔２５を複数個形成
してトランスを構成する。図３は、一方の孔２５に耐圧
試験用のテストピン２４を装着し、他方の孔２５に導通
試験用のテストピン２６を装着した一実施例である。
【０００９】（実施例３） 以下、本考案の第三の実施例について、図面を見ながら
説明する。図４は本考案の第三の実施例におけるトラン
スの斜視図、図５は本考案の第三の実施例におけるトラ
ンスの拡大図を示すものである。図４において上記第一
の実施例に記載する磁性材１０を組込んだコイル部を樹
脂モールド成形した外装２２でコイル部を密閉し、トラ
ンスのピン端子２０を植設する面の一部に、外装２２で
密閉された磁性材１０の一部まで貫通した耐圧試験用の
テストピン２４と、導通試験用のテストピン２６が図５
に示すように同時に入るような長孔２７を設ける。
説明する。図４は本考案の第三の実施例におけるトラン
スの斜視図、図５は本考案の第三の実施例におけるトラ
ンスの拡大図を示すものである。図４において上記第一
の実施例に記載する磁性材１０を組込んだコイル部を樹
脂モールド成形した外装２２でコイル部を密閉し、トラ
ンスのピン端子２０を植設する面の一部に、外装２２で
密閉された磁性材１０の一部まで貫通した耐圧試験用の
テストピン２４と、導通試験用のテストピン２６が図５
に示すように同時に入るような長孔２７を設ける。
【００１０】
【考案の効果】以上のように本考案は、モールド成形時
に設けた磁性材まで貫通した長孔又は複数個の孔を用い
て、耐圧試験用のテストピンと導通試験用のテストピン
間の導通チェックを実施し、耐電圧試験用テストピンと
磁性材間の導通不良を検出する。トランスの安全上重欠
点項目であるコイルと磁性材間の耐電圧検査の信頼性を
大幅に向上させる大きな効果が得られ、高安全性、高品
質のトランスを提供することができる。
に設けた磁性材まで貫通した長孔又は複数個の孔を用い
て、耐圧試験用のテストピンと導通試験用のテストピン
間の導通チェックを実施し、耐電圧試験用テストピンと
磁性材間の導通不良を検出する。トランスの安全上重欠
点項目であるコイルと磁性材間の耐電圧検査の信頼性を
大幅に向上させる大きな効果が得られ、高安全性、高品
質のトランスを提供することができる。
【図１】本考案の第一の実施例におけるトランスの一部
切欠斜視図
切欠斜視図
【図２】本考案の第二の実施例におけるトランスの斜視
図
図
【図３】本考案の第二の実施例における耐電圧試験時の
要部の拡大斜視図
要部の拡大斜視図
【図４】本考案の第三の実施例におけるトランスの斜視
図
図
【図５】本考案の第三の実施例におけるトランス耐圧試
験時の要部の拡大斜視図
験時の要部の拡大斜視図
【図６】従来のトランスの斜視図
１０ 磁性材 １１ 巻胴 １２ 上端鍔 １３ 下端鍔 １６ 膨大部 １７ 巻線 １８ 引出リード線 １９ ガイド溝 ２０ ピン端子 ２１ コイルボビン ２２ 外装 ２３ 長孔 ２５ 孔 ２４ 耐圧試験用テストピンＡ ２６ 導通試験用テストピンＢ ２７ 長孔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 山根 敏宏 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)考案者 杉達 芳雄 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (56)参考文献 実開 昭57−20125（ＪＰ，Ｕ)
Claims (3)
- 【請求項１】端子を有するコイルボビンと、このコイル
ボビンに巻回された巻線と、このコイルボビンに組込ま
れる磁性材と上記端子の一部を突出させるようにコイル
ボビン、巻線および磁性材からなるトランス本体の外周
に形成されたモールドによる外装と、この外装の一部に
磁性材に達するテスト用の長孔を設けたトランス。 - 【請求項２】テスト用の孔を複数個設けた請求項１記載
のトランス。 - 【請求項３】テスト用の孔が２種類以上のテストピンが
同時に挿入できる大きさに形成された請求項１記載のト
ランス。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9865591U JPH085539Y2 (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | トランス |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9865591U JPH085539Y2 (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | トランス |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0548317U JPH0548317U (ja) | 1993-06-25 |
| JPH085539Y2 true JPH085539Y2 (ja) | 1996-02-14 |
Family
ID=14225529
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9865591U Expired - Lifetime JPH085539Y2 (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | トランス |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH085539Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2757764B2 (ja) * | 1994-03-23 | 1998-05-25 | 松下電器産業株式会社 | モールドトランス |
| JP5267240B2 (ja) * | 2009-03-16 | 2013-08-21 | 住友電気工業株式会社 | リアクトル、及びコンバータ |
| JP2012043959A (ja) * | 2010-08-19 | 2012-03-01 | Panasonic Corp | コイル部品およびその製造方法 |
-
1991
- 1991-11-29 JP JP9865591U patent/JPH085539Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0548317U (ja) | 1993-06-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |