JPH0548317U - トランス - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 各種電気機器に使用されるトランスにおい
て、高安全性・高品質・高信頼性のトランスを提供する
ことを目的とする。 【構成】 巻線１７を巻回したコイルボビン２１に磁性
材１０を組込んだものを樹脂モールドにより外装２２を
形成し、この外装２２の一部に磁性材１０に達する長孔
２３を設け、耐電圧試験の検査精度の向上を図る。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は各種の映像機器、家電機器、音響機器、産業機器、通信機器等に使用 されるトランスに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

従来のトランスは、図６の斜視図に示すように構成されていた。すなわち、中 央に磁性材１を貫通させるための筒状の巻胴２の上下端に、上端鍔３と複数本の ピン端子４を植設した下端鍔５を設けたコイルボビン６に胴線を巻回してコイル 部７とし、このコイル部７の引出線８を任意のピン端子４へ巻き付けて配線する とともに半田接続し、磁性材１を組み込んだ後、プラスチック樹脂で一体モール ド成形することにより外装９を形成して全体を密閉してトランスが構成されてい た。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

このような従来の構造では、磁性材１の露出部がなくトランスの完成検査でコ イル部７と磁性材１間の耐圧検査ができず、コイル部７と磁性材１間の絶縁性能 の確認が不可能となる。そのため、耐圧検査用の孔を磁性材面の一部に設ければ 検査可能となるが、その場合、孔の表面に成形時に発生した薄膜あるいはバリ等 によって、テストピンと磁性材の間で導通不良が発生し、コイルと磁性材間の耐 電圧不良品を良品として判定する可能性があり、製品安全上重大な課題を有する ものとなるものであった。

【０００４】 本考案は上記従来の問題点を解決するもので、耐電圧試験時の検査精度の向上 を図るトランスを提供することを目的とするものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

この目的を達成するために本考案は、端子を有するコイルボビンと巻回された 巻線と、このコイルボビンに組込まれる磁性材を、上記端子の一部を突出させる ようにコイルボビン、巻線および磁性材からなるトランス本体の外周に形成され たモールドによる外装の一部に磁性材に達するテスト用の２種類以上のテストピ ンが同時に挿入できる長孔または複数個の孔を形成するものである。

【０００６】

【作用】

耐圧検査用の孔をモールド成形時に磁性材面の一部に設ければ検査可能となる が、孔に薄膜あるいはバリ等によってテストピンと磁性材間に導通不良が発生し た場合、コイルと磁性材間の耐圧不良品を良品判定する可能性があるが、本考案 のように磁性材に達する２種類以上のテストピンが同時に挿入できるような長孔 または複数個の孔を形成することにより、磁性材を介して耐圧試験テストピンと 導通テストピン間の導通チェックが可能となり、耐圧検査時での導通不良による 誤判定をチェックできることになる。

【０００７】

【実施例】

（実施例１） 以下、本考案の第一の実施例について、図面を参照しながら説明する。図１は 本考案の第一の実施例におけるトランスの斜視図である。図１において、中央に 磁性材１０を貫通させるための筒状の巻胴１１の上下端に、上端鍔１２と下端鍔 １３を設け、上端鍔１２に一対の磁性材１０をガイドする磁性材ガイドリブ１４ と方向性判別用の方向性判別リブ１５を設ける。下端鍔１３には、膨大部１６を 形成し、巻線１７より引き出される引出リード線１８をガイドするガイド溝１９ を複数個設けるとともに、上記膨大部１６の下端面に複数本のピン端子２０を植 設してコイルボビン２１を構成する。上記コイルボビン２１に、任意のピン端子 ２０へ巻始めの引出リード線１８をガイド溝１９を通して巻き付けて配線し、巻 線１７を巻回して巻き終わりの引出リード線１８をガイド溝１９を通して他のピ ン端子２０へ巻き付けて配線する。複数個の巻線１７を巻回し、引出リード線１ ８のピン端子２０への巻き付け配線部を半田接続してコイル部を構成する。上記 コイル部に、ＥＩ型又は、ＥＥ型の磁性材１０を組み込んで、全体を樹脂でモー ルド成形して外装２２を構成し、ピン端子２０を植設する面の一部に外装２２で 密閉された磁性材１０の一部まで貫通した耐圧試験用の長孔２３を形成しトラン スを構成する。

【０００８】 （実施例２） 以下、本考案の第二の実施例について、図面を参照しながら説明する。図２は 、本考案の第二の実施例におけるトランスの斜視図、図３は、本考案の第二の実 施例における孔２５の拡大図を示すものである。図２において、上記第一の実施 例に記載する磁性材１０を組み込んだコイル部を樹脂モールド成形した外装２２ でコイル部を密閉し、トランスのピン端子２０を植設する面の一部に外装２２で 密閉された磁性材１０の一部まで貫通した耐圧試験用のテストピン２４が入るよ うな孔２５と、導通試験用のテストピン２６が入るような孔２５を複数個形成し てトランスを構成する。図３は、一方の孔２５に耐圧試験用のテストピン２４を 装着し、他方の孔２５に導通試験用のテストピン２６を装着した一実施例である 。

【０００９】 （実施例３） 以下、本考案の第三の実施例について、図面を見ながら説明する。図４は本考 案の第三の実施例におけるトランスの斜視図、図５は本考案の第三の実施例にお けるトランスの拡大図を示すものである。図４において上記第一の実施例に記載 する磁性材１０を組込んだコイル部を樹脂モールド成形した外装２２でコイル部 を密閉し、トランスのピン端子２０を植設する面の一部に、外装２２で密閉され た磁性材１０の一部まで貫通した耐圧試験用のテストピン２４と、導通試験用の テストピン２６が図５に示すように同時に入るような長孔２７を設ける。

【００１０】

【考案の効果】

以上のように本考案は、モールド成形時に設けた磁性材まで貫通した長孔又は 複数個の孔を用いて、耐圧試験用のテストピンと導通試験用のテストピン間の導 通チェックを実施し、耐電圧試験用テストピンと磁性材間の導通不良を検出する 。トランスの安全上重欠点項目であるコイルと磁性材間の耐電圧検査の信頼性を 大幅に向上させる大きな効果が得られ、高安全性、高品質のトランスを提供する ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の第一の実施例におけるトランスの一部
切欠斜視図

【図２】本考案の第二の実施例におけるトランスの斜視
図

【図３】本考案の第二の実施例における耐電圧試験時の
要部の拡大斜視図

【図４】本考案の第三の実施例におけるトランスの斜視
図

【図５】本考案の第三の実施例におけるトランス耐圧試
験時の要部の拡大斜視図

【図６】従来のトランスの斜視図

【符号の説明】

１０ 磁性材 １１ 巻胴 １２ 上端鍔 １３ 下端鍔 １６ 膨大部 １７ 巻線 １８ 引出リード線 １９ ガイド溝 ２０ ピン端子 ２１ コイルボビン ２２ 外装 ２３ 長孔 ２５ 孔 ２４ 耐圧試験用テストピンＡ ２６ 導通試験用テストピンＢ ２７ 長孔

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 山根 敏宏 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)考案者 杉達 芳雄 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】端子を有するコイルボビンと、このコイル
   ボビンに巻回された巻線と、このコイルボビンに組込ま
   れる磁性材と上記端子の一部を突出させるようにコイル
   ボビン、巻線および磁性材からなるトランス本体の外周
   に形成されたモールドによる外装と、この外装の一部に
   磁性材に達するテスト用の長孔を設けたトランス。
2. 【請求項２】テスト用の孔を複数個設けた請求項１記載
   のトランス。
3. 【請求項３】テスト用の孔が２種類以上のテストピンが
   同時に挿入できる大きさに形成された請求項１記載のト
   ランス。