JPH0854923A - プロセスデータ診断方法および診断装置 - Google Patents

プロセスデータ診断方法および診断装置

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JPH0854923A
JPH0854923A JP6188374A JP18837494A JPH0854923A JP H0854923 A JPH0854923 A JP H0854923A JP 6188374 A JP6188374 A JP 6188374A JP 18837494 A JP18837494 A JP 18837494A JP H0854923 A JPH0854923 A JP H0854923A
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JP6188374A
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Kazuhisa Tanimoto
和久 谷本
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 互いに関連する複数のプロセスデータの異常
値を簡単に検出することができるプロセスデータ診断方
法を提供すること。 【構成】 第1記憶手段25に記憶された複数のプロセス
データを、加算手段28で加算して和データを算出する。
この和データが第2記憶手段27に記憶された和データ用
設定値の許容範囲内であるか否かを第1判別手段29で判
別する。設定値の許容範囲外であれば、各プロセスデー
タが第2記憶手段27に記憶されたプロセスデータ用設定
値の許容範囲内であるか否かを第2判別手段30で判別し
て異常データを検出し、プリンタ23にエラー情報を印刷
する。また、各プロセスデータ、和データはディスプレ
イ22に表示され、光磁気ディスク装置21で保存される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プロセスデータ診断方
法および診断装置に係り、特に複数のプロセスデータの
管理が必要なスパッタ成膜装置等の異常診断に利用でき
る。
【0002】
【背景技術】光磁気ディスク(MO)、コンパクトディ
スク(CD−ROM)、ミニディスク(MD)等の各種
光ディスクは、プラスチック製の基板上にスパッタ成膜
装置を用いて保護膜、記録膜、反射膜等の複数の膜を成
膜して生産されていた。
【0003】ところで、スパッタ成膜装置では、成膜不
良が発生しないように、ターゲット電力、チャンバー内
圧(クライオポンプのオリフィス開口度およびプロセス
ガスの流量で設定される)等の各プロセスデータの大き
さおよびタイミングを管理しなければならない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】プロセスデータを管理
するにあたって、化学工場の各種処理装置のように、装
置を制御するシーケンサ等の指示値と実際値とを得て各
データを比較することで正常値であるか否かを検出して
データ値およびタイミングを管理する方法が知られてい
る。しかしながら、各指示値および実際値を比較検出す
ることは、処理対象となるデータ数が多くなって処理が
複雑となり、スパッタ成膜装置のように1つのプロセス
サイクルが短い管理には適しないという問題があった。
【0005】このため、従来のスパッタ成膜装置では、
成膜装置がシーケンサで制御されており異常動作が起こ
る可能性が低い点、および指示値にはノイズ等がのって
誤差が生じる可能性がある点を考慮し、1つのプロセス
中に実際値を一度だけ取り込んでその値をチェックする
ことで異常発生を管理していた。しかしながら、1つの
実際値のみで管理するのでは、データ取得時以外の異常
発生を検出することができず、正確な管理が行えないと
いう問題があった。また、実際値を数多く取得してチェ
ックすることも考えられるが、管理対象のデータ数が多
くなり、かつ各実際値は通常複雑に関連しているため、
データ処理が複雑で管理しにくいという問題があった。
【0006】本発明の目的は、互いに関連する複数のプ
ロセスデータの異常値(データ量異常およびタイミング
異常)を簡単に検出することができるプロセスデータ診
断方法およびその診断装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のプロセスデータ
診断方法は、複数のプロセスデータを加算して和データ
を算出し、この和データが予め設定されている和データ
用設定値の許容範囲内であるか否かを判別し、設定値の
許容範囲外であれば各プロセスデータを個別に設定され
ているプロセスデータ用設定値の許容範囲内であるか否
かを判別して異常データを検出することを特徴とするも
のである。
【0008】この際、本発明をスパッタ成膜装置におい
て利用する際には、前記プロセスデータはスパッタ成膜
装置から得られるターゲット電力データ、クライオポン
プのオリフィス開口度データ、およびプロセスガスのガ
ス流量データの3種類のプロセスデータとすればよい。
【0009】一方、本発明のプロセスデータ診断装置
は、複数のプロセスデータが記憶される第1記憶手段
と、予め設定された和データ用および各プロセスデータ
用設定値が記憶される第2記憶手段と、前記プロセスデ
ータを加算して和データを算出する加算手段と、前記和
データが前記和データ用設定値の許容範囲内かを判別す
る第1判別手段と、前記各プロセスデータが各プロセス
データ用設定値の許容範囲内かを判別する第2判別手段
とを備えていることを特徴とするものである。
【0010】
【作用】このような本発明においては、複数のプロセス
データを加算した和データを和データ用設定値と比較し
てその許容範囲内にあるか否かを判別して異常検出を行
う。このため、管理対象のデータが1種類となってその
処理が容易となり、短いサイクルで繰り返されるプロセ
スでも異常診断を容易にかつ確実に行える。
【0011】さらに、和データが和データ用設定値の範
囲外となったときには、各プロセスデータが個別に設定
されたプロセスデータ用設定値と比較されるため、どの
データが異常値であるかが確実に判別される。このた
め、常時各プロセスデータを個別に監視する場合に比べ
て異常データ検出処理が簡単となるとともに、異常デー
タが特定されるために異常発生箇所が確実に判別されて
対応が容易となる。
【0012】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図1には、本発明を適用した光ディスクのスパ
ッタ成膜装置1の模式図が示されている。スパッタ成膜
装置1のスパッタ室2内には、2つのカソード3が配置
され、カソード3には成膜材料となるターゲット4が取
り付けられている。
【0013】一方、ターゲット4に対向して円盤状のキ
ャリア5が配置され、キャリア5のターゲット4側の面
には、複数のプラスチック製の基板6が円周に沿って取
り付けられている。なお、スパッタ室2の両側面には、
キャリア5を出入りさせるためのゲートバルブ7が設け
られている。
【0014】前記カソード3およびキャリア5間には電
源10が接続されている。また、スパッタ室2には、室
内を排気するクライオポンプ11がオリフィス12を介
して接続されているとともに、スパッタ室2内にアルゴ
ンガス等のプロセスガス(スパッタリングガス)を供給
するポンプ13がマスフローコントローラ14を介して
接続されている。また、スパッタ室2には、室内の真空
度(圧力)を測定するバラトロンゲージ(絶対圧真空
計)15が設けられている。
【0015】電源10、オリフィス12、マスフローコ
ントローラ14、バラトロンゲージ15は、それぞれA
/Dボード(変換器)16を介して本発明のプロセスデ
ータ診断装置20に接続されており、電源10からの電
力データ、オリフィス12からのオリフィス開口度デー
タ、マスフローコントローラ14からのガス流量デー
タ、バラトロンゲージ15からの圧力データの各プロセ
スデータが、デジタルデータに変換されて診断装置20
に送られるように構成されている。
【0016】プロセスデータ診断装置20には、各プロ
セスデータや和データを保存するための光磁気ディスク
(MO)装置21、各プロセスデータおよび和データを
グラフ形式で表示するディスプレイ(CRT)22、エ
ラー(異常値)データをグラフ形式で印刷したり、エラ
ーが発生したときにスパッタ室2内にあったキャリア5
の番号、そのスパッタ室2、エラー発生理由等をそれぞ
れ印刷するプリンタ23が接続されている。
【0017】プロセスデータ診断装置20は、図2に示
すように、A/Dボード16からの各プロセスデータが
記憶される第1記憶手段(メモリ)25と、キーボード
等のデータ入力手段26によって和データ用および各プ
ロセスデータ用の設定値が記憶される第2記憶手段(メ
モリ)27と、第1記憶手段25に記憶された各プロセ
スデータを加算して和データを算出する加算手段28
と、この和データを前記第2記憶手段27の和データ用
設定値と比較して許容範囲内にあるか否かを判別する第
1判別手段29と、前記各プロセスデータと各プロセス
データ用設定値とを比較判別する第2判別手段30とを
備えて構成されている。
【0018】また、前記第1記憶手段25および加算手
段28は、光磁気ディスク装置21およびディスプレイ
22に接続されて、各プロセスデータおよび和データを
光磁気ディスクに保存するとともに、ディスプレイ22
に表示するように構成されている。さらに、第2判別手
段30には、前記プリンタ23が接続され、各種エラー
データを印字できるように構成されている。
【0019】次に、まず本実施例におけるプロセスデー
タ診断装置20の処理手順について図3のフローチャー
トを参照して説明する。スパッタ成膜装置1で成膜プロ
セスが行われている間、プロセスデータ診断装置20
は、A/Dボード16を介して複数のプロセスデータ
(電力、オリフィス開度、ガス流量、圧力の各データ)
を第1記憶手段25に取り込むデータ取り込みルーチン
S31を行う。この際のサンプリングタイムは例えば
0.5秒に設定されている。
【0020】データ取り込みルーチンS31に続いて、
自動キャリア数カウントルーチンS32が行われる。自
動キャリア数カウントルーチンS32は、プロセスが何
回実行されているかをカウントするものであり、スパッ
タ成膜装置1で異常が発生した場合に、その異常発生が
どのプロセスで生じたかを検出し、その際のプロセスで
成膜されたキャリア5を特定できるように設けられてい
る。
【0021】続いて、プロセスデータ診断装置20が動
作状態であれば、和データを利用した自動異常検出ルー
チンS33が行われる。自動異常検出ルーチンS33で
は、図4に示すように、まず加算手段28でプロセスデ
ータを加算して和データを算出し(S41)、この和デ
ータを第1判別手段29で和データ用設定値の許容範囲
内にあるかを調べる(S42)。ここで、範囲内であれ
ば異常無し(S43)と、範囲外であれば異常有り(S
44)と判断し、自動異常検出ルーチンを終了する(S
45)。
【0022】メインルーチンに戻って、前記自動異常検
出ルーチンS33で異常無しと判断されていれば(S3
4)、プロセスデータや和データを光磁気ディスク装置
21を用いて光磁気ディスクに記憶するデータ保存ルー
チンS35が行われる。
【0023】一方、異常有りと判断された場合には、第
2判別手段30で各プロセスデータが各プロセスデータ
用設定値の許容範囲内にあるかを個別に判断し、エラー
グラフ、エラーキャリアナンバー、エラーが発生したス
パッタ室2やエラー理由をプリンタ23で印刷する異常
処理ルーチンS36が行われる。以上の処理は、データ
を取り込んだ毎に繰り返される。なお、プロセスデータ
診断装置20が待機状態であれば、自動異常検出ルーチ
ンS33は行われず、自動キャリア数カウントルーチン
S32から直ちにデータ保存ルーチンS35が行われ
る。また、各プロセスデータおよび和データのディスプ
レイ22への表示は、動作あるいは待機状態にかかわら
ず、また異常の有無にかかわらず常時行われる。
【0024】次に、以上の処理手順を、実際のスパッタ
成膜装置1で行った際の動作を、図5,6の動作説明図
および図7のプロセスデータと和データとの比較図をも
参照して詳述する。まず、成膜プロセス前(図7のA区
間)においては、クライオポンプ11でスパッタ室2内
の排気が終わった後に、スパッタ成膜装置1は、図5
に示すようにオリフィス12の開口度を設定するととも
に、図5’に示すようにスパッタリングガスをスパッ
タ室2内に供給する。なお、各プロセスデータは横軸を
時間に縦軸をデジタル値とされてグラフ化され、ディス
プレイ22に順次表示され、図7に示すように和データ
もグラフ化されてディスプレイ22に表示される。
【0025】このプロセスの開始前(図7のA区間)で
は、プロセスデータ診断装置20は、ガスおよびオリフ
ィスの立ち上がり時間(図7のB区間)となったかを、
ガス流量データおよびオリフィス開口度データの和デー
タの値がノイズの大きさ以上になったかどうかでチェッ
クする。そして、前記和データがノイズ以上になった
ら、ガスおよびオリフィスの立ち上がり時間(図7のB
区間)に入ったと判断し、ガスやオリフィスが設定値と
なるまでの一定時間待機する(データの取込、ディスプ
レイ22への表示、データの保存のみが行われる)。
【0026】一定時間が過ぎたら、プロセスデータ診断
装置20は、取り込んだプロセスデータの和データが設
定値(ガス+オリフィス)±許容範囲に入っているかを
どうかを、自動異常検出ルーチンS33で判別する。こ
こで、和データが範囲外であれば、異常有りと判断され
て(S34)、異常処理ルーチンS36で各プロセスデ
ータを個別に設定された設定値と比較し、どのデータが
異常値であるか、つまりどの部分に異常が発生したかを
検出する。そして、前述の通り、エラー情報をプリント
した後、データ保存ルーチンS35でプロセスデータ、
和データ、エラー情報を保存する。
【0027】一方、和データが範囲内であれば、各デー
タを保存する(S35)。そして、図5に示すよう
に、スパッタ室2内の圧力は所定値になるまで時間がか
かるため、圧力が所定値になるまでの間、プロセスデー
タ診断装置20は取り込んだデータの和データが設定値
の許容範囲内にあるかを常時チェックする。なお、圧力
自体はスパッタ成膜装置1が監視しており、圧力が所定
値になると成膜装置1は電源を投入する。
【0028】電源が投入されると、プロセスデータ診断
装置20は電力が設定値になるまで一定時間待機する
(図7のD区間:電力立ち上がり時間)。そして、一定
時間が過ぎて電力が設定値になると、図6に示すよう
に、スパッタ成膜装置1によって放電が開始される。こ
の際、プロセスデータ診断装置20は、ガス流量、オリ
フィス開口度、電力の各データの和データが設定値±許
容範囲に入っているかを判断する(図7のE区間)。
【0029】ここで、例えば、図8に示すように、放電
中に和データが設定値の範囲から外れた場合には、設定
された放電時間中であるのに設定範囲から外れたこと
で、あるいは和データが一度設定範囲から外れたことで
放電終了と判断した後に再度和データが設定範囲内に戻
ってきたことで、プロセスデータ診断装置20はプロセ
スデータ異常(放電異常)と判断し、異常検出ルーチン
S36で各個別データをチェックし、異常データつまり
異常箇所を検出し、エラー情報を印刷する。一方、和デ
ータが設定値内であれば、プロセスデータ診断装置20
は、放電が終了するまで(放電時間は予め設定されてい
る)、前記和データのチェックを繰り返す。
【0030】放電終了後、スパッタ成膜装置1によって
図6および’に示すように、ガス、オリフィス、電
力はもとの状態(値)に戻るように制御され、この初期
状態に戻るまでに一定時間かかるため(図7のF区
間)、プロセスデータ診断装置20は異常検出処理を行
わず、データ取込のみを行って一定時間待機する。
【0031】ガス、オリフィス、電力がもとの状態に戻
ってプロセスが終了したら(図7のG区間)、前記プロ
セス前の状態(図7のA区間)に戻って上記の手順を繰
り返す。
【0032】プロセス終了によってキャリア5は次工程
に運ばれるが、プリンタ23に印刷されたプロセス異常
が発生されたキャリア5は製造工程から外され、不良品
が次工程に運ばれないようにされている。
【0033】このような本実施例によれば、次のような
効果がある。すなわち、互いに関連する複数のプロセス
データを管理するにあたって、各プロセスデータを個別
に管理するのではなく、各プロセスデータを加算した和
データを用いて管理したので、データ処理作業が簡単と
なり、データ処理時間も短くすることができる。このた
め、スパッタ成膜装置1等のプロセスデータの種類が多
い複雑な管理を必要とする各種装置においても、データ
異常を確実に検出することができ、かつ診断装置20も
簡単な構成にできるため、安価に提供することができ
る。
【0034】また、各プロセスデータの和データを利用
して異常値検出を行っているため、各プロセスデータの
値(大きさ)の異常だけでなく、立ち上がり等のタイミ
ング異常も検出することができ(例えば、他のプロセス
データが一定となっていれば、和データが変化し始める
ことであるプロセスデータが増加あるいは減少し始めた
タイミングが判明する)、異常データつまりは異常発生
を確実にかつ精度良く検出することができる。
【0035】さらに、自動キャリア数カウントルーチン
S32によって、成膜プロセスにおいて異常が発生した
キャリア5を特定することができ、異常発生によって不
良品となっている可能性があるキャリア5を次工程に送
らずに排除することができ、不良品発生を未然に防止で
きるとともに、生産効率を向上することができる。
【0036】以上、本発明について好適な実施例をあげ
て説明したが、本発明は前記実施例に限らず、本発明の
要旨を逸脱しない範囲において種々の改良並びに設計の
変更が可能である。例えば、和データ用および各プロセ
スデータ用の設定値の許容範囲は、実施にあたって適宜
設定すればよい。例えば、非常に高精度の診断が必要で
あれば、許容範囲を狭くして僅かな変動であっても各プ
ロセスデータを個別にチェックするようにすればよい。
【0037】また、和データを算出する際に、各プロセ
スデータに重みづけをおこなってから加算して和データ
を算出してもよい。このようにすれば、特にエラー原因
となりやすいデータを重視して診断することもできる。
さらに、本発明は、前記実施例のようなスパッタ成膜装
置1のプロセスデータ診断装置20に用いられるものに
限らず、各種プロセスデータの管理が必要な様々な装置
に広く適用することができる。
【0038】また、和データを元に異常診断を行う場
合、実際には殆ど可能性はないが、理論上は各プロセス
データが設定値の許容範囲外にあってもその和データは
設定値の許容範囲内にあって異常を検出できない可能性
がある。このため、和データを診断する当初の数回など
に、和データが設定値の許容範囲内であってもそのプロ
セスデータをチェックするように設定してもよい。
【0039】さらに、プロセスデータ診断装置20とし
ては、前記実施例の構成に限らず、和データの算出、各
設定値との比較処理が行えればよい。特に、近年パーソ
ナルコンピュータの能力が向上しているため、適切なデ
ータ診断ソフトを作成してコンピュータで実行させてプ
ロセスデータの診断処理を行うことができる。
【0040】
【発明の効果】このような本発明によれば、互いに関連
する複数のプロセスデータの異常値(データ量異常およ
びタイミング異常)を簡単に検出することができるとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のスパッタ成膜装置を示す模
式図である。
【図2】前記実施例のプロセスデータ診断装置を示すブ
ロック図である。
【図3】前記実施例のプロセスデータ診断装置における
処理手順を示すフローチャートである。
【図4】図3に示すフローチャートにおける自動異常検
出ルーチンの処理手順を示すフローチャートである。
【図5】前記実施例におけるスパッタ成膜装置の動作を
示す動作説明図およびプロセスデータを示すグラフであ
る。
【図6】前記実施例におけるスパッタ成膜装置の動作を
示す動作説明図およびプロセスデータを示すグラフであ
る。
【図7】前記実施例におけるプロセスデータおよび和デ
ータを示すグラフである。
【図8】前記実施例におけるエラー発生例を示すグラフ
である。
【符号の説明】
1 スパッタ成膜装置 2 スパッタ室 10 電源 12 オリフィス 14 マスフローコントローラ 15 バラトロンゲージ 16 A/Dボード 20 プロセスデータ診断装置 25 第1記憶手段 27 第2記憶手段 28 加圧手段 29 第1判別手段 30 第2判別手段

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のプロセスデータを加算して和デー
    タを算出し、この和データが予め設定されている和デー
    タ用設定値の許容範囲内であるか否かを判別し、設定値
    の許容範囲外であれば各プロセスデータが個別に設定さ
    れているプロセスデータ用設定値の許容範囲内であるか
    否かを判別して異常データを検出することを特徴とする
    プロセスデータ診断方法。
  2. 【請求項2】 請求項1のプロセスデータ診断方法にお
    いて、前記プロセスデータはスパッタ成膜装置から得ら
    れるターゲット電力データ、クライオポンプのオリフィ
    ス開口度データ、およびプロセスガスのガス流量データ
    の3種類のプロセスデータであることを特徴とするプロ
    セスデータ診断方法。
  3. 【請求項3】 複数のプロセスデータが記憶される第1
    記憶手段と、予め設定された和データ用および各プロセ
    スデータ用設定値が記憶される第2記憶手段と、前記プ
    ロセスデータを加算して和データを算出する加算手段
    と、前記和データが前記和データ用設定値の許容範囲内
    にあるか否かを判別する第1判別手段と、前記各プロセ
    スデータが各プロセスデータ用設定値の許容範囲内にあ
    るか否かを判別する第2判別手段とを備えていることを
    特徴とするプロセスデータ診断装置。
JP6188374A 1994-08-10 1994-08-10 プロセスデータ診断方法および診断装置 Pending JPH0854923A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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