JPH0853759A - 陰極スパッタリング装置 - Google Patents
陰極スパッタリング装置Info
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- JPH0853759A JPH0853759A JP7185864A JP18586495A JPH0853759A JP H0853759 A JPH0853759 A JP H0853759A JP 7185864 A JP7185864 A JP 7185864A JP 18586495 A JP18586495 A JP 18586495A JP H0853759 A JPH0853759 A JP H0853759A
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- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 12
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract description 8
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- 239000011810 insulating material Substances 0.000 abstract description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3411—Constructional aspects of the reactor
- H01J37/345—Magnet arrangements in particular for cathodic sputtering apparatus
- H01J37/3455—Movable magnets
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/35—Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
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- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3402—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
- H01J37/3405—Magnetron sputtering
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 大面積の基板を絶縁材料で被覆するために適
しているような陰極スパッタリング装置を提供する。 【構成】 ターゲット10を有した陰極4と、磁石装置
5と、陽極6と、陰極の、高周波源9への接続部7とを
設け、スパッタリング面3と磁石装置とを、排気可能な
ケーシング8内に配置し、磁石装置を取り囲む室壁部1
2と、ターゲットを支持するバッキングプレート22と
を、ケーシング壁に対して絶縁し、陰極の、陽極とは反
対の側をシールド14によって取り囲み、室11を、管
路16を介して真空源に接続し、2つの管片16a,1
6bから形成された管路をシールドの内室17に貫通案
内し、両管片の間に配置した2つの金属グリッドによっ
て、2次プラズマを阻止するために、一方の管片をアー
スに、他方の管片を高周波源に、それぞれ接続する。
しているような陰極スパッタリング装置を提供する。 【構成】 ターゲット10を有した陰極4と、磁石装置
5と、陽極6と、陰極の、高周波源9への接続部7とを
設け、スパッタリング面3と磁石装置とを、排気可能な
ケーシング8内に配置し、磁石装置を取り囲む室壁部1
2と、ターゲットを支持するバッキングプレート22と
を、ケーシング壁に対して絶縁し、陰極の、陽極とは反
対の側をシールド14によって取り囲み、室11を、管
路16を介して真空源に接続し、2つの管片16a,1
6bから形成された管路をシールドの内室17に貫通案
内し、両管片の間に配置した2つの金属グリッドによっ
て、2次プラズマを阻止するために、一方の管片をアー
スに、他方の管片を高周波源に、それぞれ接続する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、陰極スパッタリング装
置であって、ターゲットのスパッタリングしたい面を有
した陰極が設けられており、該陰極の近傍でスパッタリ
ングしたい前記面とは反対側に、磁力線を形成するため
の磁石装置が設けられており、前記磁力線が主に、スパ
ッタリングしたい前記面に侵入し該面から再び進出して
トンネル形の範囲を形成し、該トンネル形の範囲が、こ
れにより規定されるループに沿って、ターゲットのスパ
ッタリングしたい前記面上に位置しており、基板によっ
て形成された陽極が陰極の近傍に設けられており、陰極
の、高周波源との接続部が設けられており、スパッタリ
ングしたい前記面と磁石装置とが、排気可能なケーシン
グの内部に設けられており、磁石装置が陰極に対して相
対的に運動可能に支承されていて運動装置によって駆動
され、運動サイクル中に前記ループが、スパッタリング
したい面を擦過する形式のものに関する。
置であって、ターゲットのスパッタリングしたい面を有
した陰極が設けられており、該陰極の近傍でスパッタリ
ングしたい前記面とは反対側に、磁力線を形成するため
の磁石装置が設けられており、前記磁力線が主に、スパ
ッタリングしたい前記面に侵入し該面から再び進出して
トンネル形の範囲を形成し、該トンネル形の範囲が、こ
れにより規定されるループに沿って、ターゲットのスパ
ッタリングしたい前記面上に位置しており、基板によっ
て形成された陽極が陰極の近傍に設けられており、陰極
の、高周波源との接続部が設けられており、スパッタリ
ングしたい前記面と磁石装置とが、排気可能なケーシン
グの内部に設けられており、磁石装置が陰極に対して相
対的に運動可能に支承されていて運動装置によって駆動
され、運動サイクル中に前記ループが、スパッタリング
したい面を擦過する形式のものに関する。
【0002】
【従来の技術】プレーナマグネトロン陰極スパッタリン
グにおいて磁石装置がターゲットに対して円軌道を描い
て運動することは、米国特許第4444643号明細書
により公知である。このためには、磁石は軸に相対回動
不能に固定されており、軸は、ターゲットの面に対して
垂直に配置されていて、かつモータで駆動される。室内
で磁石装置が回転し、この室は、外方に向かってカバー
で閉鎖されている。このカバーは、電気的に絶縁性の材
料、有利にはプラスチックから製造されている。室自体
は、大気圧下にある。
グにおいて磁石装置がターゲットに対して円軌道を描い
て運動することは、米国特許第4444643号明細書
により公知である。このためには、磁石は軸に相対回動
不能に固定されており、軸は、ターゲットの面に対して
垂直に配置されていて、かつモータで駆動される。室内
で磁石装置が回転し、この室は、外方に向かってカバー
で閉鎖されている。このカバーは、電気的に絶縁性の材
料、有利にはプラスチックから製造されている。室自体
は、大気圧下にある。
【0003】ターゲットに対して平行な平面内で、平ら
なターゲットに対して往復運動可能な磁石装置も、ドイ
ツ連邦共和国特許出願公開第2707144号明細書か
ら公知である。この場合にも、磁石装置はプロセス室の
外側に配置されていて、大気圧にさらされている。
なターゲットに対して往復運動可能な磁石装置も、ドイ
ツ連邦共和国特許出願公開第2707144号明細書か
ら公知である。この場合にも、磁石装置はプロセス室の
外側に配置されていて、大気圧にさらされている。
【0004】ドイツ連邦共和国特許出願第P44152
32.9号明細書に開示された被覆装置においては、被
覆室の内部に配置された、磁石セットを有したスパッタ
リング陰極が設けられている。このスパッタリング陰極
は、磁石セットを備えた、負の電位に接続された電極を
有しており、このスパッタリング陰極の場合、前記電極
の、磁石セットに面した側には、スパッタリングしたい
材料を形成するターゲットが固定されている。前記電極
の、ターゲットとは反対の側には圧力調整室が設けられ
ており、この圧力調整室は、被覆室内の負圧に対抗して
作用する負圧を調整するために、真空接続部を有してい
る。
32.9号明細書に開示された被覆装置においては、被
覆室の内部に配置された、磁石セットを有したスパッタ
リング陰極が設けられている。このスパッタリング陰極
は、磁石セットを備えた、負の電位に接続された電極を
有しており、このスパッタリング陰極の場合、前記電極
の、磁石セットに面した側には、スパッタリングしたい
材料を形成するターゲットが固定されている。前記電極
の、ターゲットとは反対の側には圧力調整室が設けられ
ており、この圧力調整室は、被覆室内の負圧に対抗して
作用する負圧を調整するために、真空接続部を有してい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、運動
可能な磁石セットを備えた公知の陰極スパッタリング装
置を改良して、層厚さの均一性及び層均質性に対する高
い要求のもとで、特に大面積の基板を特に電気的に絶縁
性の材料で被覆するために適しているような陰極スパッ
タリング装置を提供することである。
可能な磁石セットを備えた公知の陰極スパッタリング装
置を改良して、層厚さの均一性及び層均質性に対する高
い要求のもとで、特に大面積の基板を特に電気的に絶縁
性の材料で被覆するために適しているような陰極スパッ
タリング装置を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明の構成では、磁石装置を取り囲む室壁部と、タ
ーゲットを支持するバッキングプレートとが、ケーシン
グの壁に対して電気的に絶縁された状態に保たれてお
り、陰極の、陽極とは反対の側が、コップ形のシールド
によって取り囲まれており、該シールドの、前記ケーシ
ングに面した環状の縁部が、前記ケーシングの外壁に固
く載着されており、室が、管路を介して真空源に接続さ
れており、前記管路が、コップ形の前記シールドの自由
な内室を貫いて貫通案内されていて、かつ前記内室の範
囲で絶縁スリーブによって2つの管片に分割されてお
り、前記管路の、前記両管片によって形成されていて暗
部として作用するギャップ内に、互いに平行な2つの金
属グリッドが配置されており、これらの金属グリッドの
うちの一方の金属グリッドがコップ形の前記シールドを
介してアースに、他方の金属グリッドが一方の管片を介
して高周波源に、それぞれ接続されていて、2次プラズ
マが点弧されないようにした。
に本発明の構成では、磁石装置を取り囲む室壁部と、タ
ーゲットを支持するバッキングプレートとが、ケーシン
グの壁に対して電気的に絶縁された状態に保たれてお
り、陰極の、陽極とは反対の側が、コップ形のシールド
によって取り囲まれており、該シールドの、前記ケーシ
ングに面した環状の縁部が、前記ケーシングの外壁に固
く載着されており、室が、管路を介して真空源に接続さ
れており、前記管路が、コップ形の前記シールドの自由
な内室を貫いて貫通案内されていて、かつ前記内室の範
囲で絶縁スリーブによって2つの管片に分割されてお
り、前記管路の、前記両管片によって形成されていて暗
部として作用するギャップ内に、互いに平行な2つの金
属グリッドが配置されており、これらの金属グリッドの
うちの一方の金属グリッドがコップ形の前記シールドを
介してアースに、他方の金属グリッドが一方の管片を介
して高周波源に、それぞれ接続されていて、2次プラズ
マが点弧されないようにした。
【0007】
【発明の効果】本発明によれば、特に大面積の基板を特
に電気的に絶縁性の材料で被覆するために適していて、
かつ2次プラズマが点弧されないような陰極スパッタリ
ング装置が得られる。
に電気的に絶縁性の材料で被覆するために適していて、
かつ2次プラズマが点弧されないような陰極スパッタリ
ング装置が得られる。
【0008】
【実施例】以下に、本発明の実施例を図面につき詳しく
説明する。
説明する。
【0009】陰極スパッタリング装置は主に、排気可能
なケーシング8と、ケーシング壁の切欠きに配置されタ
ーゲット10を備えた陰極4と、ターゲットのバッキン
グプレート22と、磁石装置5と、室11をバッキング
プレート22のターゲット10とは反対の側で閉鎖する
室壁部12と、バッキングプレート22をケーシング壁
8に対して電気的に絶縁する絶縁リング23と、室11
を真空源に接続する管路16とから成っている。管路1
6は2つの管片16a,16bから形成されており、両
管片16a,16bは、電気的に絶縁性の材料から成る
絶縁スリーブ18を介して互いに結合されている。一方
の管片16bは他方の管片16aに対して間隔を有して
おり、この間隔は暗部の間隔(約2−3mm)に相当し
ており、この間隔は互いに平行な2つの金属グリッド2
0,21のディスクを組み込むことを可能にし、これら
の金属グリッドのうちの一方の金属グリッド21は、導
電的に管片16bに接続され、かつ向い合った金属グリ
ッド20は管片16a、ひいてはアースに接続されてい
るので、この箇所で2次プラズマが発生することはな
い。バッキングプレート22と室壁部12とによって形
成される室11内では、磁石装置5が、モータで駆動さ
れる軸25に支承されている。軸25は軸受け26,2
7に支持されており、これらの軸受け26,27は、絶
縁材料から製造された軸25と協働して、アース接続さ
れたケーシング8に結合されたコップ形のシールド14
と、高周波源9に接続された陰極4との間の導電接続を
阻止する。ケーシング8内には陰極4若しくはターゲッ
ト10とは反対側に、基板プレート29と基板13とを
備えた基板支持体28が設けられており、基板プレート
29はアース30に接続されており、これに対して金属
の室壁部12は、接続部7を介して高周波源9に接続さ
れている。絶縁リング23に支持されたバッキングプレ
ート22と室壁部12とは、一緒になって排気可能な室
11を形成する。この室11により、いかなる場合でも
ターゲット10の撓みが阻止されるという利点が得られ
る。なぜならば、被覆室31と室11との間の圧力差を
極めてわずかに保つことができるからである。更に、タ
ーゲット10が圧力を受けて変形しその結果損傷を受け
るという危険なしに、比較的大面積で薄い壁のターゲッ
ト10を設けることも可能である。特に、圧力に敏感な
複数の部分片から構成されたターゲットを、既述の構成
で問題なく使用することができる。なぜならば、バッキ
ングプレート22の底部が、比較的薄い壁の構成でもス
パッタリングプロセス中に湾曲若しくは変形しないから
である。
なケーシング8と、ケーシング壁の切欠きに配置されタ
ーゲット10を備えた陰極4と、ターゲットのバッキン
グプレート22と、磁石装置5と、室11をバッキング
プレート22のターゲット10とは反対の側で閉鎖する
室壁部12と、バッキングプレート22をケーシング壁
8に対して電気的に絶縁する絶縁リング23と、室11
を真空源に接続する管路16とから成っている。管路1
6は2つの管片16a,16bから形成されており、両
管片16a,16bは、電気的に絶縁性の材料から成る
絶縁スリーブ18を介して互いに結合されている。一方
の管片16bは他方の管片16aに対して間隔を有して
おり、この間隔は暗部の間隔(約2−3mm)に相当し
ており、この間隔は互いに平行な2つの金属グリッド2
0,21のディスクを組み込むことを可能にし、これら
の金属グリッドのうちの一方の金属グリッド21は、導
電的に管片16bに接続され、かつ向い合った金属グリ
ッド20は管片16a、ひいてはアースに接続されてい
るので、この箇所で2次プラズマが発生することはな
い。バッキングプレート22と室壁部12とによって形
成される室11内では、磁石装置5が、モータで駆動さ
れる軸25に支承されている。軸25は軸受け26,2
7に支持されており、これらの軸受け26,27は、絶
縁材料から製造された軸25と協働して、アース接続さ
れたケーシング8に結合されたコップ形のシールド14
と、高周波源9に接続された陰極4との間の導電接続を
阻止する。ケーシング8内には陰極4若しくはターゲッ
ト10とは反対側に、基板プレート29と基板13とを
備えた基板支持体28が設けられており、基板プレート
29はアース30に接続されており、これに対して金属
の室壁部12は、接続部7を介して高周波源9に接続さ
れている。絶縁リング23に支持されたバッキングプレ
ート22と室壁部12とは、一緒になって排気可能な室
11を形成する。この室11により、いかなる場合でも
ターゲット10の撓みが阻止されるという利点が得られ
る。なぜならば、被覆室31と室11との間の圧力差を
極めてわずかに保つことができるからである。更に、タ
ーゲット10が圧力を受けて変形しその結果損傷を受け
るという危険なしに、比較的大面積で薄い壁のターゲッ
ト10を設けることも可能である。特に、圧力に敏感な
複数の部分片から構成されたターゲットを、既述の構成
で問題なく使用することができる。なぜならば、バッキ
ングプレート22の底部が、比較的薄い壁の構成でもス
パッタリングプロセス中に湾曲若しくは変形しないから
である。
【図1】運動可能な磁石装置及びコップ形のシールドを
備えた、高周波スパッタリングのための真空管装置の縦
断面図である。
備えた、高周波スパッタリングのための真空管装置の縦
断面図である。
3 面、 4 陰極、 5 磁石装置、 6 陽極、
7 接続部、 8 ケーシング、 9 高周波源、 1
0 ターゲット、 11 圧力補償室、 12室壁部、
13 基板、 14 シールド、 15 縁部、 1
6 管路、16a,16b 管片、 17 内室、 1
8 絶縁スリーブ、 19 ギャップ、 20,21
金属グリッド、 22 バッキングプレート、 23
絶縁リング、 24 プロセス室、 25 軸、 2
6,27 軸受け、 28 基板支持体、 29 基板
プレート、 30 アース、 31 被覆室
7 接続部、 8 ケーシング、 9 高周波源、 1
0 ターゲット、 11 圧力補償室、 12室壁部、
13 基板、 14 シールド、 15 縁部、 1
6 管路、16a,16b 管片、 17 内室、 1
8 絶縁スリーブ、 19 ギャップ、 20,21
金属グリッド、 22 バッキングプレート、 23
絶縁リング、 24 プロセス室、 25 軸、 2
6,27 軸受け、 28 基板支持体、 29 基板
プレート、 30 アース、 31 被覆室
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ローラント ゲッシェ ドイツ連邦共和国 ゼーリゲンシュタット フライヘル−フォム−シュタイン−リン グ 26 (72)発明者 マーク ソーンダース ドイツ連邦共和国 ローデンバッハ ノル トリング 6−8
Claims (2)
- 【請求項1】 陰極スパッタリング装置であって、ター
ゲット(10)のスパッタリングしたい面(3)を有し
た陰極(4)が設けられており、該陰極(4)の近傍で
スパッタリングしたい前記面(3)とは反対側に、磁力
線を形成するための磁石装置(5)が設けられており、
前記磁力線が主に、スパッタリングしたい前記面(3)
に侵入し該面から再び進出してトンネル形の範囲を形成
し、該トンネル形の範囲が、これにより規定されるルー
プに沿って、ターゲット(10)のスパッタリングした
い前記面(3)上に位置しており、基板(13)によっ
て形成された陽極(6)が陰極(4)の近傍に設けられ
ており、陰極(4)の、高周波源(9)との接続部
(7)が設けられており、スパッタリングしたい前記面
(3)と磁石装置(5)とが、排気可能なケーシング
(8)の内部に設けられており、前記磁石装置(5)が
陰極(4)に対して相対的に運動可能に支承されていて
運動装置によって駆動され、運動サイクル中に前記ルー
プが、スパッタリングしたい面を擦過する形式のものに
おいて、前記磁石装置(5)を取り囲む室壁部(12)
と、ターゲット(10)を支持するバッキングプレート
(22)とが、前記ケーシング(8)の壁に対して電気
的に絶縁された状態に保たれており、陰極(4)の前記
陽極(6)とは反対の側が、コップ形のシールド(1
4)によって取り囲まれており、該シールド(14)
の、前記ケーシング(8)に面した環状の縁部(15)
が、前記ケーシング(8)の外壁に固く載着されてお
り、室(11)が、管路(16)を介して真空源に接続
されており、前記管路(16)が、コップ形の前記シー
ルド(14)の自由な内室(17)を貫いて貫通案内さ
れていて、かつ前記内室(17)の範囲で絶縁スリーブ
(18)によって2つの管片(16a,16b)に分割
されており、前記管路(16)の、前記両管片(16
a,16b)によって形成されていて暗部として作用す
るギャップ(19)内に、互いに平行な2つの金属グリ
ッド(20,21)が配置されており、これらの金属グ
リッド(20,21)のうちの一方の金属グリッド(2
0)がコップ形の前記シールド(14)を介してアース
に、他方の金属グリッド(21)が一方の管片(16
b)を介して高周波源に、それぞれ接続されていること
を特徴とする、陰極スパッタリング装置。 - 【請求項2】 前記磁石装置(5)が、前記室壁部(1
2)に支承された軸(25)によって駆動され、該軸
(25)が、電気的に絶縁性の材料から形成されてい
て、高周波源(9)に接続された室壁部(12)からプ
ロセス室のアース接続された前記ケーシング(8)への
通電が不可能となっている、請求項1記載の陰極スパッ
タリング装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4426200A DE4426200A1 (de) | 1994-07-23 | 1994-07-23 | Kathodenzerstäubungsvorrichtung |
DE4426200.0 | 1994-07-23 | ||
US08/448,837 US5538609A (en) | 1994-07-23 | 1995-05-24 | Cathodic sputtering system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0853759A true JPH0853759A (ja) | 1996-02-27 |
Family
ID=25938640
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7185864A Pending JPH0853759A (ja) | 1994-07-23 | 1995-07-21 | 陰極スパッタリング装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5538609A (ja) |
JP (1) | JPH0853759A (ja) |
DE (1) | DE4426200A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6039848A (en) * | 1995-07-10 | 2000-03-21 | Cvc Products, Inc. | Ultra-high vacuum apparatus and method for high productivity physical vapor deposition. |
US6221217B1 (en) | 1995-07-10 | 2001-04-24 | Cvc, Inc. | Physical vapor deposition system having reduced thickness backing plate |
WO1997003220A1 (en) * | 1995-07-10 | 1997-01-30 | Cvc Products, Inc. | Permanent magnet array apparatus and method |
WO1997003221A1 (en) * | 1995-07-10 | 1997-01-30 | Cvc Products, Inc. | Magnetron cathode apparatus and method for sputtering |
DE19543375A1 (de) * | 1995-11-21 | 1997-05-22 | Leybold Ag | Vorrichtung zum Beschichten von Substraten mittels Magnetronzerstäuben |
DE19654604A1 (de) * | 1996-12-20 | 1998-07-02 | Gregor Wartig | Zellaktivator |
US6340415B1 (en) | 1998-01-05 | 2002-01-22 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for enhancing a sputtering target's lifetime |
US6436252B1 (en) | 2000-04-07 | 2002-08-20 | Surface Engineered Products Corp. | Method and apparatus for magnetron sputtering |
US6264804B1 (en) | 2000-04-12 | 2001-07-24 | Ske Technology Corp. | System and method for handling and masking a substrate in a sputter deposition system |
TWI242052B (en) * | 2004-03-19 | 2005-10-21 | Promos Technologies Inc | Physical vapor deposition process and apparatus thereof |
TWI427175B (zh) * | 2005-12-23 | 2014-02-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 陽極板及包括該陽極板之濺鍍裝置 |
WO2017142351A1 (ko) * | 2016-02-17 | 2017-08-24 | 이찬용 | 플라즈마 처리장치용 캐소드 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2707144A1 (de) * | 1976-02-19 | 1977-08-25 | Sloan Technology Corp | Kathodenzerstaeubungsvorrichtung |
US4444643A (en) * | 1982-09-03 | 1984-04-24 | Gartek Systems, Inc. | Planar magnetron sputtering device |
JPS6247478A (ja) * | 1985-08-26 | 1987-03-02 | バリアン・アソシエイツ・インコ−ポレイテツド | 磁場の円運動と放射状運動を組み合わせたプレ−ナ・マグネトロン・スパツタリング装置 |
US4714536A (en) * | 1985-08-26 | 1987-12-22 | Varian Associates, Inc. | Planar magnetron sputtering device with combined circumferential and radial movement of magnetic fields |
JPH0774437B2 (ja) * | 1986-01-25 | 1995-08-09 | 株式会社東芝 | 薄膜堆積装置 |
GB8909747D0 (en) * | 1989-04-27 | 1989-06-14 | Ionic Coatings Limited | Sputtering apparatus |
US5433835B1 (en) * | 1993-11-24 | 1997-05-20 | Applied Materials Inc | Sputtering device and target with cover to hold cooling fluid |
DE4415232A1 (de) * | 1994-04-30 | 1995-11-02 | Leybold Ag | Beschichtungsanlage |
-
1994
- 1994-07-23 DE DE4426200A patent/DE4426200A1/de not_active Withdrawn
-
1995
- 1995-05-24 US US08/448,837 patent/US5538609A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-07-21 JP JP7185864A patent/JPH0853759A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5538609A (en) | 1996-07-23 |
DE4426200A1 (de) | 1996-01-25 |
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