JPH085345A - 実装基板外観検査装置 - Google Patents

実装基板外観検査装置

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Publication number
JPH085345A
JPH085345A JP6137079A JP13707994A JPH085345A JP H085345 A JPH085345 A JP H085345A JP 6137079 A JP6137079 A JP 6137079A JP 13707994 A JP13707994 A JP 13707994A JP H085345 A JPH085345 A JP H085345A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
laser
circuit boards
light
substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP6137079A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomoaki Kodama
知晃 児玉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP6137079A priority Critical patent/JPH085345A/ja
Publication of JPH085345A publication Critical patent/JPH085345A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 低コストで、組み立て調整が容易で、複数の
プリント基板の高さ・輝度データを効率よく得る。 【構成】 部品13が実装されたプリント基板12を複
数固定した基板回転テーブル11が回転する。レーザ光
17をプリント基板12上に照射するレーザ光源15
と、プリント基板12からの反射光18を受光して部品
13の高さ・輝度データを得るための受光素子16とか
らなるレーザー照射受光部14をレーザ照射受光部移動
装置19により基板回転テーブル11の半径方向に基板
回転テーブル11の回転と同期させて移動する。基板回
転テーブル11の回転とレーザ照射受光部14の移動を
組み合わせることにより、複数のプリント基板12の全
面をレーザ光17で照射し、高さ・輝度データを得るこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、部品を実装したプリン
ト基板の外観を検査するために用いる実装基板外観検査
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図2は従来の実装基板外観検査装置の構
成を示している。図2に示すように、レーザ光源21か
ら出力されたレーザ光22は、ポリゴンミラー23とf
θレンズ24により基板搬送装置25上のプリント基板
26上に照射される。プリント基板26の表面で反射し
た反射光27は受光素子28で受光される。
【0003】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。レーザ光源21から出力されたレーザ光
22はポリゴンミラー23の回転とfθレンズ24によ
りプリント基板26上で図2の左右方向に走査される。
一方、基板搬送装置25がポリゴンミラー23の回転と
同期しながら、レーザ光22が走査する方向と垂直方向
にプリント基板26を搬送する。これによりレーザ光2
2がプリント基板26の全面を照射することができる。
そして、プリント基板26を照射したレーザ光22の反
射光27を受光素子28で受光することにより、プリン
ト基板26の高さ・輝度データを得ることができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の実装基板外観検査装置では、ポリゴンミラー23、
fθレンズ24が高価であるため、装置全体が高価なも
のになり、また、光学部の高精度な調整が必要であるた
め、組立に高度な技能を必要とする。更に、ポリゴンミ
ラー23によるレーザ光22の走査幅に限界があること
から、一度にプリント基板26一枚の高さ・輝度データ
しか得ることができないなどの問題があった。
【0005】本発明は、このような従来の問題を解決す
るものであり、ポリゴンミラーおよびfθレンズを不要
として低コスト化を図ることができ、また、組み立て調
整を容易に行うことができ、更に、複数のプリント基板
の高さ・輝度データを効率よく得ることができるように
した実装基板外観検査装置を提供することを目的とする
ものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、部品の実装されたプリント基板を複数固
定して回転させる基板回転テーブルと、レーザ光を上記
プリント基板上に照射するレーザ光源および上記プリン
ト基板からの反射光を受光する受光素子を有するレーザ
照射受光部と、このレーザ照射受光部を上記基板回転テ
ーブルの回転と同期して上記基板回転テーブルの半径方
向に移動させるレーザ照射受光部移動装置とを備えたも
のである。
【0007】
【作用】したがって、本発明によれば、部品を実装した
複数のプリント基板を基板回転テーブルに固定して回転
させ、それと同期させてレーザ光を出力するレーザ光源
とプリント基板からの反射光を受光する受光素子をレー
ザ照射受光部移動装置により基板回転テーブルの半径方
向に移動させることにより、ポリゴンミラー、fθレン
ズを用いることなく、複数のプリント基板全面をレーザ
光により照射し、それらの高さ・輝度データを得ること
ができる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。
【0009】図1(a)および(b)は本発明の一実施
例における実装基板外観検査装置を示す概略平面図およ
び概略側面図である。
【0010】図1(a)、(b)において、11は基板
回転テーブルであり、部品13を実装したプリント基板
12が周上複数箇所に固定される。14はレーザ照射受
光部であり、プリント基板12にレーザ光17を照射す
るレーザ光源15と、プリント基板12によって反射す
る反射光18を受光し、高さ・輝度データを得るための
受光素子16を有している。19はレーザ照射受光部移
動装置であり、レーザ光源15、受光素子16からなる
レーザ照射受光部14を基板回転テーブル11の回転と
同期させて基板回転テーブル11の半径方向へ移動させ
ることができる。
【0011】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。複数のプリント基板12を固定した基板
回転テーブル11を回転させ、基板回転テーブル11の
一回転につきレーザ光源15から出力されるレーザ光1
7の直径分だけレーザ照射受光部移動装置19がレーザ
照射受光部14を基板回転テーブル11の半径方向に移
動させる。この間、レーザ照射受光部14ではレーザ光
源15からレーザ光17を出力して基板回転テーブル1
1上のプリント基板12に照射し、その反射光18を受
光素子16が受光することにより、基板回転テーブル1
1に固定された複数のプリント基板12の全面の高さ・
輝度データを得ることができる。
【0012】このように上記実施例によれば、複数のプ
リント基板12を固定した基板回転テーブル11の回転
と同期させてレーザ照射受光部14をレーザ照射受光部
移動装置19により基板回転テーブル11の半径方向へ
移動させるので、レーザ光源15から出力されたレーザ
光17が基板回転テーブル11上に固定されたプリント
基板12に照射され、その反射光18を受光素子16が
受光することにより、複数のプリント基板12に実装さ
れた部品の高さ・輝度データを効率よく得ることができ
る。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、基
板回転テーブルの回転とレーザ照射受光部の移動により
プリント基板全面の高さ・輝度データを得るので、ポリ
ゴンミラー、fθレンズが不要であり、低コスト化を図
ることができ、また、組み立て調整を容易に行うことが
でき、更に、複数のプリント基板の高さ・輝度データを
効率よく得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明の一実施例における実装基板外
観検査装置の平面図 (b)は同実装基板外観検査装置の側面図
【図2】従来の実装基板外観検査装置の側面図
【符号の説明】
11 基板回転テーブル 12 プリント基板 13 部品 14 レーザ照射受光部 15 レーザ光源 16 受光素子 17 レーザ光 18 反射光 19 レーザ照射受光部移動装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 部品の実装されたプリント基板を複数固
    定して回転させる基板回転テーブルと、レーザ光を上記
    プリント基板上に照射するレーザ光源および上記プリン
    ト基板からの反射光を受光する受光素子を有するレーザ
    照射受光部と、このレーザ照射受光部を上記基板回転テ
    ーブルの回転と同期して上記基板回転テーブルの半径方
    向に移動させるレーザ照射受光部移動装置とを備えた実
    装基板外観検査装置。
JP6137079A 1994-06-20 1994-06-20 実装基板外観検査装置 Pending JPH085345A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6137079A JPH085345A (ja) 1994-06-20 1994-06-20 実装基板外観検査装置

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JP6137079A JPH085345A (ja) 1994-06-20 1994-06-20 実装基板外観検査装置

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Publication Number Publication Date
JPH085345A true JPH085345A (ja) 1996-01-12

Family

ID=15190409

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JP6137079A Pending JPH085345A (ja) 1994-06-20 1994-06-20 実装基板外観検査装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100622853B1 (ko) * 2004-09-22 2006-09-19 주식회사 에이디피엔지니어링 기판 외관 검사 장치
WO2012063097A1 (en) 2010-11-08 2012-05-18 Reametrix Inc. Sample assembly for a measurement device
CN102495456A (zh) * 2011-11-30 2012-06-13 肖全忠 一种镜头组装设备及其组装镜头的方法
US9446411B2 (en) 2011-02-24 2016-09-20 Reametrix, Inc. Sample assembly for a measurement device

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US9669406B2 (en) 2010-11-08 2017-06-06 Reametrix, Inc. Sample assembly for a measurement device
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