JPH0850852A - マイクロチップ型蛍光ディスプレイスクリーンのカソード製造方法 - Google Patents
マイクロチップ型蛍光ディスプレイスクリーンのカソード製造方法Info
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- JPH0850852A JPH0850852A JP5517895A JP5517895A JPH0850852A JP H0850852 A JPH0850852 A JP H0850852A JP 5517895 A JP5517895 A JP 5517895A JP 5517895 A JP5517895 A JP 5517895A JP H0850852 A JPH0850852 A JP H0850852A
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- H01J31/10—Image or pattern display tubes, i.e. having electrical input and optical output; Flying-spot tubes for scanning purposes
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- H01J2201/30—Cold cathodes
- H01J2201/319—Circuit elements associated with the emitters by direct integration
Abstract
3ステップに減らすことによって、マイクロチップ型蛍
光スクリーンのカソードの製造を単純化する。 【構成】 マイクロチップ4を含む蛍光ディスプレイス
クリーンのカソード製造方法は、網状の列をなすカソー
ド導体を乗せている支持板1と、マイクロチップ4を乗
せている抵抗層3と、絶縁層5と、行をなすグリッド導
電層6とを含む。該方法は、グリッド行と、抵抗層3を
通るマイクロチップ4へのアクセス抵抗との両方を規定
している単一のさん孔されたパターンにしたがって、グ
リッド層と、絶縁層5と、抵抗層3の上側の3層を、同
時にエッチングするステップを含んでいる。
Description
る蛍光ディスプレイスクリーンのカソードを製造するた
めの方法、及びこの方法で得られる製品に関する。
を有するフラットディスプレイスクリーンの産業分野に
関するものであり、より特定すればマイクロチップ技術
を用いるディスプレイスクリーンに関し、すなわちスク
リーンは真空管を有し、該真空管は2枚の薄いガラス板
と、薄膜技術に従って構成される電界効果エミッタのマ
トリックス配列を含む背面板、つまりカソード板と、蛍
光素子を乗せている透明導電層によって内部面が覆われ
ている、前面板、つまりアノード板によって構成され
る。
の前で、多数のマイクロチップが形成され、放出面を構
成している。この放出表面は、マトリックスの行(グリ
ッド導体)と列(カソード導体)の交差部によって規定
される。
ドは、本質的に4層によって形成されており、それらの
層は順次にガラス、あるいはシリコン基板上にデポジッ
トされ、エッチングされる。つまり、カソード(列導
体)の役目をする導電層と、通常シリコンから成り、放
出電流の値を制限するための抵抗層と、絶縁層と、グリ
ッド(行導体)を構成している第2の導電層の4層であ
る。これらの層をデポジットした後、グリッドと絶縁層
内で穴がエッチングされ、その中にマイクロチップが形
成される。
ードを構成する層を製造するために、少なくとも4回
(好ましくは、5回)のマスキングとフォトエッチング
の操作が必要である。つまり、カソード列のエッチン
グ、穴のエッチング、グリッド行のエッチング、カソー
ド接点のエッチングと、そして好ましくは、リークと、
列の結合を防ぐために、カソード列の間の抵抗層の部分
的なエッチングの操作が必要である。
クリーンによって形成される画像は、通常、アノード板
を通して観測される。従って、それは蛍光素子を乗せて
いる表面であり、電子を受けている表面、つまり最も明
るさが弱く、見えている表面とは反対である。
ステップではなく3ステップに減らすことによって、マ
イクロチップ型蛍光スクリーンのカソードの製造を単純
化することである。
するためカソードを透明にし、電子が当たる側におい
て、蛍光物質のカソードを通しての観測を可能にするこ
とである。
ドの上側の3層(グリッド、グリッドの絶縁層、抵抗
層)を同時に、単一のさん孔されたパターンでエッチン
グすることによって達成され、そのパターンによりグリ
ッド行と、抵抗層を通してのマイクロチップへのアクセ
ス抵抗との両方が規定され、列導体が、薄い金属の格子
配列によって形成される。
成、変更態様、及び効果は、以下に述べる本発明に関す
る詳細な説明と、それに関連する図によって明らかとな
るであろう。
プ型スクリーンのカソードの構造を示している。この構
造はガラス板によって構成される基板1上に順次に、ニ
オビウム、アルミニウムあるいは、他の適当な導体の層
の、さん孔された(網状の)ストリップによって形成さ
れる列導体2と、マイクロチップ4が上部に形成されて
いる抵抗層3と、グリッド絶縁体である絶縁層5(例え
ば、SiO2 )と、ニオビウム、あるいは他の適当な材
料からなり、行導体を形成するグリッド6を構成してい
る導電層とを有している。
る(図1参照)。
ストリップによって形成される。各グリッド行は、スク
ェア形(正方形)の導電素子6から成り、該素子6は細
い導電ブリッジ8によって相互に接続されている(図2
の簡易化のため、縦のブリッジのみが示されている。も
ちろん、図8に示されているように、各スクェアに2本
の横のブリッジもまた設けられている)。マイクロチッ
プ4はグリッドスクェアの中に設けられており、導電ブ
リッジの中には設けられていない。各画素7は、複数の
スクェアによって形成されている(図1では4個である
が、実際は、より多い)。各スクェアは数個のマイクロ
チップを持っている(図1では4個だが、しばしば実際
のシステムおいては、16個持っている)。
るスクェアとのそれぞれの大きさは、スクェアと各列導
体の間に空間エリア9を設けるように選択される。した
がってアノードの蛍光素子はカソード板1を通して観測
される。
4辺との電気的接続は、4本の抵抗バー10と抵抗スク
ェア3とを通る電流によって行なわれる。
抵抗は、抵抗層の主に抵抗率によって、及びバーの大き
さによって制御される。
圧降下を導入するもので、チップの放出電流を標準化
し、制限するために、十分な高さでなくてはならない。
ている。例えば、抵抗層は、各スクェアごとに100メ
ガオームの抵抗を有する非晶質シリコンから成る。4本
のバーにより、辺が25μmの各スクェアをアクセスす
ることが可能である。バーの長さ/幅の比は2である。
グリッド/アノードの分極が80Vで、測定される放出
電流は、1dm2 につき500mAである。大きさが同
じ桁の結果を、実質的に等しい値で得ることができる。
リッド行にそった電気的連続性が、4本の絶縁バーと、
4本の抵抗バー10を覆っている4本の導電ブリッジ8
によって確実にされていることを示している。エッチン
グには1個のマスクだけが用いられるので、グリッド行
と、マイクロチップへのカソード電流の供給を可能にし
ている抵抗バーとの連続性を確実にする導電バーは、同
じ幅で同じ長さを有している。
行を通って流れることができ、無視し得る漏れ電流は、
ひとつの列から別の列へと流れる。この漏れ電流は、抵
抗層3の抵抗に反比例し、一方でグリッドのバイアス電
流は上側導電層の抵抗に反比例する。上記に述べたよう
に、スクリーンのための所望の放出率を確実にするため
には、各スクェアにつき100メガオームの抵抗が適当
である。反対に、グリッド金属の抵抗は非常に低い。ニ
オビウムからなるグリッド6が400nmの厚さで製造
されるこの装置の場合、各スクェアについて1オームで
ある。従って抵抗比は108 である。数百の行の多重比
と、60Hzの画像再生と、1つのカラーにつき256
以上の多くのグレー明度(grey shades)
で、得られた画像は、列と列の結合や、行と行の結合と
いった、いかなる可視性の欠点も持たないことが実験的
に証明されている。加えて、ニオビウムを、より高い導
電性がある材料に変えることも可能である(アルミニウ
ムは10倍の導電性である)。
製造方法のステップを示している。
3参照)、第1のマスクを通して、カソード導体2の網
状の列をエッチングする(図4参照)、抵抗層3、絶縁
層5、グリッド層6をデポジットする(図5参照)、第
2のマスクによってマイクロチップ4の穴12をエッチ
ングする(図6参照)、マイクロチップをデポジットす
る(図7参照)。
にしたがって、グリッド6と、絶縁層5と、抵抗層3を
同時にエッチングする(図8参照)。該最後のマスクは
また行と列の接触エリアを規定する役目がある。
ップだけで従来の5回のエッチングのステップの場合と
同じ結果を得ることができる。さらに、本発明は、カソ
ードからの観測が可能なディスプレイスクリーンを提供
している。
される像点(画素)を概略的に表す上面図である。
いる正面斜視図である。
るカソードの製造ステップを示している。
導体の網状列をエッチングする、カソードの製造ステッ
プを示している。
層とをデポジットする、カソードの製造ステップを示し
ている。
ッチングする、カソードの製造ステップを示している。
製造ステップを示している。
たがってグリッドと、絶縁層と、抵抗層を同時にエッチ
ングする、カソードの製造ステップを示している。
Claims (9)
- 【請求項1】 マイクロチップを有し、網状の列をなす
カソード導体(2)を乗せている支持板(1)と、マイ
クロチップ(4)を乗せている抵抗層(3)と、絶縁層
(5)と、行をなしているグリッド導電層(6)とを含
む蛍光ディスプレイスクリーンのカソード製造方法にお
いて、 単一のさん孔されたパターンにしたがって、グリッド層
(6)と、絶縁層(5)と、抵抗層(3)の上側の3層
を同時にエッチングするステップを含み、該パターン
が、グリッド行と、前記抵抗層を通るマイクロチップへ
のアクセス抵抗との両方を規定することを特徴とするマ
イクロチップ型蛍光ディスプレイスクリーンのカソード
製造方法。 - 【請求項2】 3回のエッチングステップだけを含むこ
とを特徴とする請求項1記載のマイクロチップ型蛍光デ
ィスプレイスクリーンのカソード製造方法。 - 【請求項3】 カソード金属層(11)をデポジット
し、 第1のマスクを通して該金属層において導体(2)の網
状列をエッチングし、 抵抗層(3)と、絶縁層(5)と、グリッド導電層
(6)をデポジットし、 第2のマスクによってマイクロチップ(4)を形成する
ための穴(12)をエッチングし、 マイクロチップ(4)をデポジットし、 行と列の接触エリアを規定する役目をする第3の最後の
マスクによって、せん孔された行の中にグリッド層
(6)と、絶縁層(5)と、抵抗層(3)とを同時にエ
ッチングするステップを含むことを特徴とする請求項2
記載のマイクロチップ型蛍光ディスプレイスクリーンの
カソード製造方法。 - 【請求項4】 グリッド導電層(6)と、絶縁層(5)
と、抵抗層(3)のパターンは、細いブリッジによって
相互に内部接続されているスクェアによって形成され、
各画素(7)は複数のスクェアによって構成されている
ことを特徴とする請求項1記載のマイクロチップ型蛍光
ディスプレイスクリーンのカソード製造方法。 - 【請求項5】 抵抗層(3)を通って列導体(2)の網
目のサイドから、マイクロチップ(4)の基板へ流れる
電流の経路は、各スクェアを囲む4本の抵抗バーによっ
て規定され、該経路はグリッド(6)の導電ブリッジ
(8)と同時に形成されることを特徴とする請求項4記
載のマイクロチップ型蛍光ディスプレイスクリーンのカ
ソード製造方法。 - 【請求項6】 列導体(2)の網目とグリッドスクェア
のそれぞれの大きさの選択は、空間エリア(9)が、該
スクェアと、アノード板上に形成された蛍光素子の観測
を、カソードの構造を通して可能にしている該網目との
間に存在するように、選択されることを特徴とする請求
項4記載のマイクロチップ型蛍光ディスプレイスクリー
ンのカソード製造方法。 - 【請求項7】 網状の列をなすカソード導体(2)を乗
せている支持板(1)を含むカソード板(1)と、マイ
クロチップ(4)を乗せている抵抗層(3)と、絶縁層
(5)と、行をなして配置されたグリッド導電層(6)
とを有するマイクロチップ型蛍光ディスプレイスクリー
ンにおいて、 グリッド層(6)と、絶縁層(5)と、抵抗層(3)
が、所定の素子を形成する単一のパターンにしたがって
エッチングされ、その結果空間エリア(9)が該素子
と、列網目の間に存在し、したがってカソード構造を通
してアノード板の蛍光素子の観測が可能となることを特
徴とするマイクロチップ型蛍光ディスプレイスクリー
ン。 - 【請求項8】 グリッド(6)と、絶縁層(5)と、抵
抗層(3)のパターンを構成している素子は、マイクロ
チップ(4)がその内部へ位置しているスクェアであ
り、該スクェアは、グリッド(6)のための細い導電ブ
リッジ(8)と、格子を形成するための抵抗バー(1
0)を通して相互に連結されており、各画素(7)は複
数の格子によって形成されており、各スクェアは、数個
のマイクロチップ(4)を持っていることを特徴とする
請求項7に記載のマイクロチップ型蛍光ディスプレイス
クリーン。 - 【請求項9】 グリッド(6)は、およそ400nmの
厚さを持つニオビウムとアルミニウムからなり、抵抗層
(3)は、各スクェアごとにおよそ100メガオームの
抵抗を有する非晶質シリコンからなり、各スクェア格子
へのアクセスを可能にする4本の抵抗バー(10)は、
長さ/幅の比が2で、該スクェアのサイドは、およそ2
5マイクロメータであることを特徴とする請求項8記載
のマイクロチップ型蛍光ディスプレイスクリーン。
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