JPH0843213A - 温度等の測定装置 - Google Patents
温度等の測定装置Info
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- JPH0843213A JPH0843213A JP19785094A JP19785094A JPH0843213A JP H0843213 A JPH0843213 A JP H0843213A JP 19785094 A JP19785094 A JP 19785094A JP 19785094 A JP19785094 A JP 19785094A JP H0843213 A JPH0843213 A JP H0843213A
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- thermistor
- oscillation frequency
- temperature
- oscillation
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 サーミスタを用いた温度計において、検出精
度を低下させることなく温度測定範囲を広くできる、簡
単で廉価な構成のものを提案すること。 【構成】 温度計１０は、ＲＣ発振回路１１と、信号処
理回路２１とを備えている。発振回路１１は、温度測定
用の素子であるサーミスタ１２と、複数個の基準抵抗１
４、１５、１６を備えている。各基準抵抗による測定温
度範囲は実質的に異なっており相互に連続したものとし
てある。サーミスタ１２による発振周波数と、この周波
数に対応する基準抵抗による発振周波数との比に基づ
き、サーミスタによる測定温度を求める。各基準抵抗に
割り当てる測定温度範囲を狭く出来るので、検出精度が
低下することを防止できる。
度を低下させることなく温度測定範囲を広くできる、簡
単で廉価な構成のものを提案すること。 【構成】 温度計１０は、ＲＣ発振回路１１と、信号処
理回路２１とを備えている。発振回路１１は、温度測定
用の素子であるサーミスタ１２と、複数個の基準抵抗１
４、１５、１６を備えている。各基準抵抗による測定温
度範囲は実質的に異なっており相互に連続したものとし
てある。サーミスタ１２による発振周波数と、この周波
数に対応する基準抵抗による発振周波数との比に基づ
き、サーミスタによる測定温度を求める。各基準抵抗に
割り当てる測定温度範囲を狭く出来るので、検出精度が
低下することを防止できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は温度等を測定するための
測定装置に関するものである。特に、サーミスタ等のよ
うに検出対象の物理量に応じて抵抗値が可変となってい
るセンサ素子とバッテリとが内蔵された携帯型の測定装
置において、広い測定範囲にわたって測定誤差の少ない
測定が可能な構成に関するものである。
測定装置に関するものである。特に、サーミスタ等のよ
うに検出対象の物理量に応じて抵抗値が可変となってい
るセンサ素子とバッテリとが内蔵された携帯型の測定装
置において、広い測定範囲にわたって測定誤差の少ない
測定が可能な構成に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】簡易型の測定装置、例えば簡易型の温度
計としては、サーミスタを用いたものが一般的に知られ
ている。この形式の温度計は、サーミスタおよびコンデ
ンサと共に、一つの基準抵抗素子を含む発振回路を備
え、ここでの発振周波数に基づき温度測定を行うように
構成されている。ここで、発振回路は、電源電圧の変
動、周囲温度の変化等により、その発振周波数が変動す
る。そこで、基準抵抗素子を配置し、サーミスタおよび
基準抵抗素子による発振周波数を比較することにより、
発振回路の周波数変動に起因した温度測定誤差を回避す
るようにしている。
計としては、サーミスタを用いたものが一般的に知られ
ている。この形式の温度計は、サーミスタおよびコンデ
ンサと共に、一つの基準抵抗素子を含む発振回路を備
え、ここでの発振周波数に基づき温度測定を行うように
構成されている。ここで、発振回路は、電源電圧の変
動、周囲温度の変化等により、その発振周波数が変動す
る。そこで、基準抵抗素子を配置し、サーミスタおよび
基準抵抗素子による発振周波数を比較することにより、
発振回路の周波数変動に起因した温度測定誤差を回避す
るようにしている。
【０００３】図１はサーミスタを用いた従来の温度計の
基本ブロック図である。図に示すように、温度計１は、
サーミスタ２を含むＲＣ発振回路３と、信号処理回路４
から構成されている。サーミスタ２は大きな負の抵抗温
度係数を備えており、その特性を図２のグラフに示して
ある。発振回路３は基準抵抗５を備えており、サーミス
タ２と基準抵抗５は、信号処理回路４の制御の下に、ス
イッチ６によって切り換え可能となっている。
基本ブロック図である。図に示すように、温度計１は、
サーミスタ２を含むＲＣ発振回路３と、信号処理回路４
から構成されている。サーミスタ２は大きな負の抵抗温
度係数を備えており、その特性を図２のグラフに示して
ある。発振回路３は基準抵抗５を備えており、サーミス
タ２と基準抵抗５は、信号処理回路４の制御の下に、ス
イッチ６によって切り換え可能となっている。
【０００４】ここで、従来の温度計の測定温度範囲は一
般的に摂氏０度から５０度程度の範囲内である。測定の
中心を、例えば摂氏２５度にした場合には、図２から分
かるように、サーミスタ２の抵抗値は２０キロオームを
示す。この場合、基準抵抗５の抵抗値は２０キロオーム
に設定される。
般的に摂氏０度から５０度程度の範囲内である。測定の
中心を、例えば摂氏２５度にした場合には、図２から分
かるように、サーミスタ２の抵抗値は２０キロオームを
示す。この場合、基準抵抗５の抵抗値は２０キロオーム
に設定される。
【０００５】信号処理回路４により実行される温度測定
手順は次の通りである。予め、測定温度範囲に対応する
各抵抗値での発振回路３の発振周波数を測定あるいは計
算しておく。図３の曲線Ａ１はこれを示してある。ま
た、基準抵抗値である２０キロオームの発振周波数に対
する比を求めておく。これを図４の直線Ａ２で示してあ
る。これらの情報は、信号処理回路４に内蔵されている
記憶回路内に予め記憶される。実際の測定においては、
まず、スイッチ６をサーミスタ２の側に切り換えて、発
振回路４の発振周波数を求める。次に、スイッチ６を基
準抵抗５の側に切り換えて、同じく発振回路４の発振周
波数を求める。これらの発振周波数の比を算出し、これ
に基づき、図４の直線Ａ２で示す周波数比から、サーミ
スタによる検出温度を算出する。
手順は次の通りである。予め、測定温度範囲に対応する
各抵抗値での発振回路３の発振周波数を測定あるいは計
算しておく。図３の曲線Ａ１はこれを示してある。ま
た、基準抵抗値である２０キロオームの発振周波数に対
する比を求めておく。これを図４の直線Ａ２で示してあ
る。これらの情報は、信号処理回路４に内蔵されている
記憶回路内に予め記憶される。実際の測定においては、
まず、スイッチ６をサーミスタ２の側に切り換えて、発
振回路４の発振周波数を求める。次に、スイッチ６を基
準抵抗５の側に切り換えて、同じく発振回路４の発振周
波数を求める。これらの発振周波数の比を算出し、これ
に基づき、図４の直線Ａ２で示す周波数比から、サーミ
スタによる検出温度を算出する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
たように、発振回路での発振は、電源電圧、周囲温度に
より変動する。したがって、温度測定を行うに際しての
実際の発振回路での発振は、測定温度範囲が広くなる
と、図３の曲線Ｂ１、Ｃ１で示すように、予め設定され
ている曲線Ａ１から乖離してしまう。このため、当然
に、周波数比も、図４の挑戦Ｂ２、Ｃ２で示すように、
予め設定されている直線Ａ２から乖離してしまう。
たように、発振回路での発振は、電源電圧、周囲温度に
より変動する。したがって、温度測定を行うに際しての
実際の発振回路での発振は、測定温度範囲が広くなる
と、図３の曲線Ｂ１、Ｃ１で示すように、予め設定され
ている曲線Ａ１から乖離してしまう。このため、当然
に、周波数比も、図４の挑戦Ｂ２、Ｃ２で示すように、
予め設定されている直線Ａ２から乖離してしまう。
【０００７】ここで、サーミスタを用いた従来の簡易型
の温度計では、その測定範囲は比較的狭く、したがっ
て、測定誤差はそれほど問題にはならない。しかし、こ
の測定範囲を広げた場合には、測定誤差は無視できない
程度に大きくなってしまう。このような測定誤差を回避
するためには、Ａ／Ｄ変換を行う等による数々の方法が
ある。しかし、簡単な構成で、このような簡易型の携帯
用の温度計に対して適用可能な廉価な方法は提案されて
いない。
の温度計では、その測定範囲は比較的狭く、したがっ
て、測定誤差はそれほど問題にはならない。しかし、こ
の測定範囲を広げた場合には、測定誤差は無視できない
程度に大きくなってしまう。このような測定誤差を回避
するためには、Ａ／Ｄ変換を行う等による数々の方法が
ある。しかし、簡単な構成で、このような簡易型の携帯
用の温度計に対して適用可能な廉価な方法は提案されて
いない。
【０００８】本発明の課題は、この点に鑑みて、測定温
度範囲を広くしても測定誤差を実用上無視しえる程度に
抑制することの可能な簡単で廉価な構成の温度測定装置
を実現することにある。
度範囲を広くしても測定誤差を実用上無視しえる程度に
抑制することの可能な簡単で廉価な構成の温度測定装置
を実現することにある。
【０００９】また、本発明の課題は、測定範囲を広くし
ても測定誤差を実用上無視し得る程度に抑制することの
可能な簡単で廉価な構成の湿度、圧力等を測定するため
の測定装置を実現することにある。
ても測定誤差を実用上無視し得る程度に抑制することの
可能な簡単で廉価な構成の湿度、圧力等を測定するため
の測定装置を実現することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明では、サーミスタを含むＲＣ発振回路と、
この発振回路から得られる信号を処理して測定温度を算
出する信号処理回路とを有する温度測定装置において、
上記の発振回路に、抵抗値の異なる少なくとも第１およ
び第２の基準抵抗素子を配置し、これらの基準抵抗素子
に対して、実質的に異なる温度測定範囲（発振周波数の
範囲）を割り当てるようにしている。
めに、本発明では、サーミスタを含むＲＣ発振回路と、
この発振回路から得られる信号を処理して測定温度を算
出する信号処理回路とを有する温度測定装置において、
上記の発振回路に、抵抗値の異なる少なくとも第１およ
び第２の基準抵抗素子を配置し、これらの基準抵抗素子
に対して、実質的に異なる温度測定範囲（発振周波数の
範囲）を割り当てるようにしている。
【００１１】このように、複数の基準抵抗素子を用いる
と共に、それらに対して実質的に異なる温度測定範囲を
割り当てることにより、各基準抵抗素子が受け持つ温度
測定範囲（発振周波数の範囲）を狭くできる。よって、
温度測定範囲を広くしても、測定誤差を小さく抑えるこ
とが可能になる。
と共に、それらに対して実質的に異なる温度測定範囲を
割り当てることにより、各基準抵抗素子が受け持つ温度
測定範囲（発振周波数の範囲）を狭くできる。よって、
温度測定範囲を広くしても、測定誤差を小さく抑えるこ
とが可能になる。
【００１２】なお、本発明は、サーミスタの代わりに、
温度によって容量が変動する容量可変型のコンデンサを
用いた温度測定装置に対しても、同様に適用できる。こ
の場合には、サーミスタの代わりに、温度特性を有する
可変容量型コンデンサを配置すると共に、複数の基準抵
抗素子の代わりに、複数の基準容量コンデンサを配置す
ればよい。
温度によって容量が変動する容量可変型のコンデンサを
用いた温度測定装置に対しても、同様に適用できる。こ
の場合には、サーミスタの代わりに、温度特性を有する
可変容量型コンデンサを配置すると共に、複数の基準抵
抗素子の代わりに、複数の基準容量コンデンサを配置す
ればよい。
【００１３】また、本発明は、湿度、圧力等の測定する
ためのセンサ素子として、測定対象の物理量に応じて抵
抗値が可変となっているものを備えた測定装置に対して
も同様に適用できる。さらには、測定対象の物理量に応
じて容量値が可変となっているものを備えた測定装置に
対しても同様に適用できる。
ためのセンサ素子として、測定対象の物理量に応じて抵
抗値が可変となっているものを備えた測定装置に対して
も同様に適用できる。さらには、測定対象の物理量に応
じて容量値が可変となっているものを備えた測定装置に
対しても同様に適用できる。
【００１４】
【実施例】以下に、図面を参照して本発明の実施例を説
明する。
明する。
【００１５】図５には、本発明を適用した温度計の一例
の基本ブロックを示してある。図に示すように、本例の
温度測定装置１０は基本的には、図１に示す従来のもの
と同様な構成を備えており、ＲＣ発振回路１３と、信号
処理回路２１とを有している。発振回路１３は、サーミ
スタ１２と共に、３本の基準抵抗１４、１５、１６を備
えている。これらの切り換えは、スイッチ１７によって
行われる。サーミスタ１２の抵抗温度係数は図２に示す
特性のものを使用している。また、基準抵抗１４、１
５、１６の各基準抵抗値は、マイナス摂氏１５度、摂氏
３５度および摂氏８５度に対応するサーミスタ１３の抵
抗値、１４３キロオーム、１３キロオームおよび２．１
キロオームにそれぞれ設定してある。
の基本ブロックを示してある。図に示すように、本例の
温度測定装置１０は基本的には、図１に示す従来のもの
と同様な構成を備えており、ＲＣ発振回路１３と、信号
処理回路２１とを有している。発振回路１３は、サーミ
スタ１２と共に、３本の基準抵抗１４、１５、１６を備
えている。これらの切り換えは、スイッチ１７によって
行われる。サーミスタ１２の抵抗温度係数は図２に示す
特性のものを使用している。また、基準抵抗１４、１
５、１６の各基準抵抗値は、マイナス摂氏１５度、摂氏
３５度および摂氏８５度に対応するサーミスタ１３の抵
抗値、１４３キロオーム、１３キロオームおよび２．１
キロオームにそれぞれ設定してある。
【００１６】さらに、本例では、各基準抵抗１４、１
５、１６が受け持つ温度測定範囲を、表１に示すように
設定してある。
５、１６が受け持つ温度測定範囲を、表１に示すように
設定してある。
【００１７】
【表１】 この表１から分かるように、各基準抵抗の受け持つ温度
範囲は、相互にオーバーラップする部分ができるように
設定してある。
範囲は、相互にオーバーラップする部分ができるように
設定してある。
【００１８】信号処理回路２１には、各基準抵抗が受け
持つ温度範囲のサーミスタの抵抗値での発振周波数が予
め求められて記憶されている。同様に、各基準抵抗での
発振周波数と、サーミスタによる発振周波数との比が予
め求められて記憶されている。これらの周波数の比を、
図６、図７および図８に示してある。これらの算出は、
従来における場合と同様である。
持つ温度範囲のサーミスタの抵抗値での発振周波数が予
め求められて記憶されている。同様に、各基準抵抗での
発振周波数と、サーミスタによる発振周波数との比が予
め求められて記憶されている。これらの周波数の比を、
図６、図７および図８に示してある。これらの算出は、
従来における場合と同様である。
【００１９】このように構成した本例の温度測定装置１
０による測定動作を説明する。まず、スイッチ１７をサ
ーミスタ１２の側に切り換えて、発振周波数を求める。
信号処理回路２１では、得られた発振周波数が、各基準
抵抗のうちのどれに割り当てた範囲に含まれるものであ
るかを判別する。この判別結果に基づき、スイッチ１７
を、該当する基準抵抗に切り換えて、この基準抵抗によ
る発振周波数を求める。このように求めた二つの発振周
波数の比を算出し、対応する基準抵抗の周波数比の対応
テーブル（図６から図８のうちの対応するグラフ）を参
照して、サーミスタの測定温度を算出する。
０による測定動作を説明する。まず、スイッチ１７をサ
ーミスタ１２の側に切り換えて、発振周波数を求める。
信号処理回路２１では、得られた発振周波数が、各基準
抵抗のうちのどれに割り当てた範囲に含まれるものであ
るかを判別する。この判別結果に基づき、スイッチ１７
を、該当する基準抵抗に切り換えて、この基準抵抗によ
る発振周波数を求める。このように求めた二つの発振周
波数の比を算出し、対応する基準抵抗の周波数比の対応
テーブル（図６から図８のうちの対応するグラフ）を参
照して、サーミスタの測定温度を算出する。
【００２０】以上のように、本例の温度測定装置では、
複数の基準抵抗を備え、これらに対して、実質的に異な
り、しかも相互に連続している温度測定範囲（発振周波
数の範囲）を割り当てている。したがって、温度測定範
囲が、マイナス摂氏４５度から摂氏１１５度と広い範囲
であるにもかかわらず、従来のこの種の温度測定範囲の
狭い温度計と同様な精度での温度測定を行うことが可能
である。
複数の基準抵抗を備え、これらに対して、実質的に異な
り、しかも相互に連続している温度測定範囲（発振周波
数の範囲）を割り当てている。したがって、温度測定範
囲が、マイナス摂氏４５度から摂氏１１５度と広い範囲
であるにもかかわらず、従来のこの種の温度測定範囲の
狭い温度計と同様な精度での温度測定を行うことが可能
である。
【００２１】なお、本例においては、基準抵抗を３本備
えているが、この本数は、２本でも良いし、あるいは４
本以上であってもよい。測定範囲が同一の場合には、こ
の本数を増やすことにより、測定精度を高めることがで
きる。換言すると、本数を増加すれば、一定の測定精度
を保持したままで、温度測定範囲を広くすることができ
る。また、各基準抵抗に割り当てる温度範囲は、表１に
示す例に限定されるわけではなく、異なる割り当てを行
ってもよい。
えているが、この本数は、２本でも良いし、あるいは４
本以上であってもよい。測定範囲が同一の場合には、こ
の本数を増やすことにより、測定精度を高めることがで
きる。換言すると、本数を増加すれば、一定の測定精度
を保持したままで、温度測定範囲を広くすることができ
る。また、各基準抵抗に割り当てる温度範囲は、表１に
示す例に限定されるわけではなく、異なる割り当てを行
ってもよい。
【００２２】一方、上記の例は温度測定装置であるが、
これ以外のセンサについても本発明を適用することがで
きる。例えば、湿度、圧力等の物理量を測定する装置に
対して本発明を同様に適用することができる。この場合
には、湿度センサ、圧力センサ自体が、抵抗値可変型の
ものである必要がある。
これ以外のセンサについても本発明を適用することがで
きる。例えば、湿度、圧力等の物理量を測定する装置に
対して本発明を同様に適用することができる。この場合
には、湿度センサ、圧力センサ自体が、抵抗値可変型の
ものである必要がある。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
サーミスタを用いた温度測定装置において、抵抗値の異
なる複数の基準抵抗素子を配置し、これらの基準抵抗素
子に対して、実質的に異なる温度測定範囲（発振周波数
の範囲）を割り当て、これらの発振周波数に基づき、温
度測定を行うようにしている。したがって、本発明によ
れば、各基準抵抗素子が受け持つ温度測定範囲（発振周
波数の範囲）を狭くできる。よって、温度測定範囲を広
くしても、測定誤差を小さく抑えることが可能になり、
また、測定範囲が同一の場合には測定精度を高めること
が可能になる。また、容量可変型の素子を用いた温度測
定装置の場合においても、同様に、基準容量コンデンサ
を複数配置することによって、同様の効果を得ることが
できる。
サーミスタを用いた温度測定装置において、抵抗値の異
なる複数の基準抵抗素子を配置し、これらの基準抵抗素
子に対して、実質的に異なる温度測定範囲（発振周波数
の範囲）を割り当て、これらの発振周波数に基づき、温
度測定を行うようにしている。したがって、本発明によ
れば、各基準抵抗素子が受け持つ温度測定範囲（発振周
波数の範囲）を狭くできる。よって、温度測定範囲を広
くしても、測定誤差を小さく抑えることが可能になり、
また、測定範囲が同一の場合には測定精度を高めること
が可能になる。また、容量可変型の素子を用いた温度測
定装置の場合においても、同様に、基準容量コンデンサ
を複数配置することによって、同様の効果を得ることが
できる。
【００２４】また、温度以外の湿度、圧力等の物理量を
測定するための測定装置においても、センサ素子として
これらの物理量に応じて抵抗値あるいは容量が可変型の
ものであれば、本発明を同様に適用することができ、そ
れによって、精度を低下させることなく測定範囲を広く
でき、また、測定範囲が同一の場合には精度を高めるこ
とができる。
測定するための測定装置においても、センサ素子として
これらの物理量に応じて抵抗値あるいは容量が可変型の
ものであれば、本発明を同様に適用することができ、そ
れによって、精度を低下させることなく測定範囲を広く
でき、また、測定範囲が同一の場合には精度を高めるこ
とができる。
【図１】従来のサーミスタを用いた温度計の基本ブロッ
ク図である。
ク図である。
【図２】サーミスタの抵抗温度特性を示すグラフであ
る。
る。
【図３】基準抵抗の発振周波数を示すグラフである。
【図４】サーミスタの発振周波数と基準抵抗の発振周波
数の比を表すグラフである。
数の比を表すグラフである。
【図５】本発明の一実施例である温度計を示す基本ブロ
ック図である。
ック図である。
【図６】サーミスタの発振周波数と基準抵抗の発振周波
数の比を表すグラフである。
数の比を表すグラフである。
【図７】サーミスタの発振周波数と基準抵抗の発振周波
数の比を表すグラフである。
数の比を表すグラフである。
【図８】サーミスタの発振周波数と基準抵抗の発振周波
数の比を表すグラフである。
数の比を表すグラフである。
１０・・・温度計 １１・・・発振回路 １２・・・サーミスタ １３、１４、１５・・・基準抵抗 １７・・・スイッチ ２１・・・信号処理装置
Claims (5)
- 【請求項１】 サーミスタを含むＲＣ発振回路と、この
発振回路から得られる信号を処理して測定温度を算出す
る信号処理回路とを有し、 上記の発振回路は、抵抗値の異なる少なくとも第１およ
び第２の基準抵抗素子と、これらの基準抵抗素子および
上記のサーミスタを択一的に切り換えるための切り換え
素子とを備えており、 上記の信号処理回路は、切り換え素子を制御してサーミ
スタを選択することによりサーミスタによる発振周波数
を求め、次に、切り換え素子を制御して、この発振周波
数を含む発振周波数の範囲が割り当てられている基準抵
抗素子を選択することにより当該基準抵抗による発振周
波数を求め、これら２つの発振周波数に基づきサーミス
タによる検出温度を算出することを特徴とする温度測定
装置。 - 【請求項２】 請求項１において、前記サーミスタの代
わりに、温度特性を有する可変容量型コンデンサを備え
ていると共に、前記基準抵抗素子の代わりに、基準容量
コンデンサを備えていることを特徴とする温度測定装
置。 - 【請求項３】 検出対象となる物理量の変化に応じて抵
抗値が可変となっているセンサ素子と、このセンサ素子
を含むＲＣ発振回路と、この発振回路から得られる信号
を処理して検出対象の物理量を測定する信号処理回路と
を有し、 上記の発振回路は、抵抗値の異なる少なくとも第１およ
び第２の基準抵抗素子と、これらの基準抵抗素子および
上記のセンサ素子を択一的に切り換えるための切り換え
素子とを備えており、 上記の信号処理回路は、切り換え素子を制御してセンサ
素子を選択することによりセンサ素子による発振周波数
を求め、次に、切り換え素子を制御して、この発振周波
数を含む発振周波数の範囲が割り当てられている基準抵
抗素子を選択することにより当該基準抵抗による発振周
波数を求め、これら２つの発振周波数に基づきセンサ素
子による検出物理量を算出することを特徴とする測定装
置。 - 【請求項４】 請求項３において、上記のセンサ素子
は、検出対象となる物理量の変化に応じて容量が可変と
なっているセンサ素子であることを特徴とする測定装
置。 - 【請求項５】 請求項３または４において、検出対象
は、湿度または圧力であることを特徴とする測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19785094A JPH0843213A (ja) | 1994-07-29 | 1994-07-29 | 温度等の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19785094A JPH0843213A (ja) | 1994-07-29 | 1994-07-29 | 温度等の測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0843213A true JPH0843213A (ja) | 1996-02-16 |
Family
ID=16381382
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19785094A Pending JPH0843213A (ja) | 1994-07-29 | 1994-07-29 | 温度等の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0843213A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006242865A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 温度計測装置 |
| JP2013024808A (ja) * | 2011-07-25 | 2013-02-04 | Japan Aerospace Exploration Agency | 計測装置および計測方法 |
-
1994
- 1994-07-29 JP JP19785094A patent/JPH0843213A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006242865A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 温度計測装置 |
| JP4613643B2 (ja) * | 2005-03-04 | 2011-01-19 | パナソニック電工株式会社 | 温度計測装置 |
| JP2013024808A (ja) * | 2011-07-25 | 2013-02-04 | Japan Aerospace Exploration Agency | 計測装置および計測方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040219 |
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| A521 | Written amendment |
Effective date: 20040419 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040728 |
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| A521 | Written amendment |
Effective date: 20040924 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
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| A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Effective date: 20041007 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 |
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| A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20041126 |