JPH102807A - 熱電対測定装置 - Google Patents
熱電対測定装置Info
- Publication number
- JPH102807A JPH102807A JP17587696A JP17587696A JPH102807A JP H102807 A JPH102807 A JP H102807A JP 17587696 A JP17587696 A JP 17587696A JP 17587696 A JP17587696 A JP 17587696A JP H102807 A JPH102807 A JP H102807A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】簡易な構成で、高精度の基準接点温度補償を可
能とした熱電対測定装置を提供することである。 【解決手段】熱電対が接続される測定端子ｔ１，〜，ｔ
ｎ及び基準接点温度素子としてのサーミスタ２を有する
端子部１と、このサーミスタ２の温度に対する抵抗値変
化を電圧とする検出回路２０と、あらかじめ求めた電圧
値と温度値との関係に基づいて前記検出回路の電圧出力
から温度を求め基準接点温度補償を行う演算手段４とを
備えるようにした熱電対測定装置である。
能とした熱電対測定装置を提供することである。 【解決手段】熱電対が接続される測定端子ｔ１，〜，ｔ
ｎ及び基準接点温度素子としてのサーミスタ２を有する
端子部１と、このサーミスタ２の温度に対する抵抗値変
化を電圧とする検出回路２０と、あらかじめ求めた電圧
値と温度値との関係に基づいて前記検出回路の電圧出力
から温度を求め基準接点温度補償を行う演算手段４とを
備えるようにした熱電対測定装置である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、熱電対を用いて
温度を測定する装置に関するものである。
温度を測定する装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、熱電対を用いて温度測定をする場
合、端子板の基準接点端子の温度を補償するため、トラ
ンジスタ、ダイオード等の基準接点温度素子で基準接点
の温度を測定し補償を行っていた。
合、端子板の基準接点端子の温度を補償するため、トラ
ンジスタ、ダイオード等の基準接点温度素子で基準接点
の温度を測定し補償を行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
の基準接点温度素子は感度が十分でなく、個々の素子毎
にバラツキ、誤差を有し、個々に、ゼロ点・スパン点の
調整を必要とし、長期安定性が不足し、高精度を維持す
るために再チェックを必要とし、必ずしも高精度の基準
接点温度補償が安定的にできないおそれがあった。
の基準接点温度素子は感度が十分でなく、個々の素子毎
にバラツキ、誤差を有し、個々に、ゼロ点・スパン点の
調整を必要とし、長期安定性が不足し、高精度を維持す
るために再チェックを必要とし、必ずしも高精度の基準
接点温度補償が安定的にできないおそれがあった。
【０００４】ここで、感度が良く、安定性に優れ、バラ
ツキの少ないガラスコート等のサーミスタに着目し、簡
易な構成で、高精度の基準接点温度補償を可能とした熱
電対測定装置を提供することをこの発明の目的とする。
ツキの少ないガラスコート等のサーミスタに着目し、簡
易な構成で、高精度の基準接点温度補償を可能とした熱
電対測定装置を提供することをこの発明の目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は、熱電対が接
続される測定端子及び基準接点温度素子としてのサーミ
スタを有する端子部と、このサーミスタの温度に対する
抵抗値変化を電圧とする検出回路と、あらかじめ求めた
電圧値と温度値との関係に基づいて前記検出回路の電圧
出力から温度を求め基準接点温度補償を行う演算手段と
を備えるようにした熱電対測定装置である。
続される測定端子及び基準接点温度素子としてのサーミ
スタを有する端子部と、このサーミスタの温度に対する
抵抗値変化を電圧とする検出回路と、あらかじめ求めた
電圧値と温度値との関係に基づいて前記検出回路の電圧
出力から温度を求め基準接点温度補償を行う演算手段と
を備えるようにした熱電対測定装置である。
【０００６】
【発明の実施の形態】図１は、この発明の一実施例を示
す構成説明図である。図１において、１は温度測定用の
端子部で、測温接点５０を有する熱電対５が接続される
基準接点としての測定端子ｔ１，…，ｔｎ、基準接点温
度を測定する基準接点温度素子としてのサーミスタ２等
が設けられている。サーミスタ２は端子部１のある代表
とする一つの測定端子に近接させて設置され端子部１全
体は等温とされている。各測定端子ｔ１，…，ｔｎの出
力及びサーミスタ２の出力は、切換器、増幅器、Ａ−Ｄ
変換器等を必要に応じて含む測定手段３で測定され、メ
モリ４０を有するＣＰＵ等の演算手段４で、基準接点温
度補償演算等がなされ、温度測定出力を取り出すことが
できる。また、サーミスタ２の温度に対する抵抗値変化
は検出回路２０で電圧とされ、あらかじめ求めてメモリ
４０に格納された電圧値と温度値との関係に基づいて、
検出回路２０のサーミスタ２についての電圧出力から温
度を演算し基準接点温度補償を行う。ここで用いるサー
ミスタ２は、感度が良く、安定性に優れ、バラツキの少
ないガラスコート等のサーミスタを利用するとよい。
す構成説明図である。図１において、１は温度測定用の
端子部で、測温接点５０を有する熱電対５が接続される
基準接点としての測定端子ｔ１，…，ｔｎ、基準接点温
度を測定する基準接点温度素子としてのサーミスタ２等
が設けられている。サーミスタ２は端子部１のある代表
とする一つの測定端子に近接させて設置され端子部１全
体は等温とされている。各測定端子ｔ１，…，ｔｎの出
力及びサーミスタ２の出力は、切換器、増幅器、Ａ−Ｄ
変換器等を必要に応じて含む測定手段３で測定され、メ
モリ４０を有するＣＰＵ等の演算手段４で、基準接点温
度補償演算等がなされ、温度測定出力を取り出すことが
できる。また、サーミスタ２の温度に対する抵抗値変化
は検出回路２０で電圧とされ、あらかじめ求めてメモリ
４０に格納された電圧値と温度値との関係に基づいて、
検出回路２０のサーミスタ２についての電圧出力から温
度を演算し基準接点温度補償を行う。ここで用いるサー
ミスタ２は、感度が良く、安定性に優れ、バラツキの少
ないガラスコート等のサーミスタを利用するとよい。
【０００７】つまり、図２（ａ）で検出回路２０の一実
施例を示すように、サーミスタ２と抵抗Ｒ１の直列接続
回路に電源Ｅから一定の電圧を供給し、その中点から電
圧出力Ｖを取り出す。この電圧Ｖは図１の測定手段３を
介し演算手段４に供給され、メモリ４０に格納されたサ
ーミスタについての電圧値Ｖと温度値Ｔとの関係に基づ
いて、検出回路２０の電圧出力Ｖから温度Ｔを演算し、
各測定端子ｔ１，…，ｔｎからの熱電対温度出力に対し
て温度Ｔを加算し基準接点温度補償を行う。この電圧値
Ｖと温度値Ｔとの関係は、図２（ｂ）で示すようにテー
ブルとしてもよいし、または、複数の折点を有する折線
関数や所定の関数で近似してもよい。
施例を示すように、サーミスタ２と抵抗Ｒ１の直列接続
回路に電源Ｅから一定の電圧を供給し、その中点から電
圧出力Ｖを取り出す。この電圧Ｖは図１の測定手段３を
介し演算手段４に供給され、メモリ４０に格納されたサ
ーミスタについての電圧値Ｖと温度値Ｔとの関係に基づ
いて、検出回路２０の電圧出力Ｖから温度Ｔを演算し、
各測定端子ｔ１，…，ｔｎからの熱電対温度出力に対し
て温度Ｔを加算し基準接点温度補償を行う。この電圧値
Ｖと温度値Ｔとの関係は、図２（ｂ）で示すようにテー
ブルとしてもよいし、または、複数の折点を有する折線
関数や所定の関数で近似してもよい。
【０００８】なお、図２（ａ）で、抵抗Ｒ１の両端から
電圧を取り出しているが、サーミスタ２の両端から電圧
を取り出すようにしてもよい。又、サーミスタ２と抵抗
Ｒ１との位置を交換してもよく、その電圧の取り出し
も、サーミスタ２又は抵抗Ｒ１のいずれの両端から取り
出してもよい。このことは、以下の検出回路についても
同様である。
電圧を取り出しているが、サーミスタ２の両端から電圧
を取り出すようにしてもよい。又、サーミスタ２と抵抗
Ｒ１との位置を交換してもよく、その電圧の取り出し
も、サーミスタ２又は抵抗Ｒ１のいずれの両端から取り
出してもよい。このことは、以下の検出回路についても
同様である。
【０００９】また、図３（ａ）で検出回路２０の他の一
実施例を示すように、電源Ｅから一定の電圧が供給され
るサーミスタ２と抵抗Ｒ１の直列接続回路を演算増幅器
Ａの反転入力端子に接続し、抵抗Ｒ２を負帰還接続して
なる低インピーダンスの演算増幅器Ａの電圧出力ｅｔを
取り出す。このサーミスタ２についての電圧ｅｔは図１
の測定手段３を介し演算手段４に供給され、あらかじめ
求めてメモリ４０に格納された電圧値ｅｔと温度値Ｔと
の関係に基づいて、検出回路２０の電圧出力ｅｔから温
度Ｔを演算し基準接点温度補償を行う。この電圧値ｅｔ
と温度値Ｔとの関係は、図３（ｂ）で示すようにテーブ
ルとしてもよいし、または、複数の折点を有する折線関
数や所定の関数で近似してもよい。
実施例を示すように、電源Ｅから一定の電圧が供給され
るサーミスタ２と抵抗Ｒ１の直列接続回路を演算増幅器
Ａの反転入力端子に接続し、抵抗Ｒ２を負帰還接続して
なる低インピーダンスの演算増幅器Ａの電圧出力ｅｔを
取り出す。このサーミスタ２についての電圧ｅｔは図１
の測定手段３を介し演算手段４に供給され、あらかじめ
求めてメモリ４０に格納された電圧値ｅｔと温度値Ｔと
の関係に基づいて、検出回路２０の電圧出力ｅｔから温
度Ｔを演算し基準接点温度補償を行う。この電圧値ｅｔ
と温度値Ｔとの関係は、図３（ｂ）で示すようにテーブ
ルとしてもよいし、または、複数の折点を有する折線関
数や所定の関数で近似してもよい。
【００１０】また、図４（ａ）で検出回路２０の他の一
実施例を示すように、電源Ｅから一定の電圧が供給され
る基準抵抗Ｒ０又はサーミスタ２の並列接続回路を切換
手段Ｓで切り換え、その出力を抵抗Ｒ１を介し演算増幅
器Ａの反転入力端子に供給し、抵抗Ｒ２を負帰還接続し
てなる演算増幅器Ａから取り出す。この切換手段Ｓで基
準抵抗Ｒ０を選択したときの電圧出力ｅ０又はサーミス
タ２を選択したときの電圧出力ｅｔが図１の測定手段３
を介し演算手段４に供給され、サーミスタ２の出力ｅｔ
と基準抵抗Ｒ０の出力ｅ０とからその比の関数ｆ（Ｔ）
＝ｅｔ／ｅ０を求め、あらかじめ求めてメモリ４０に格
納された関数ｆ（Ｔ）と温度値Ｔとの関係に基づいて、
温度Ｔを演算し基準接点温度補償を行う。この関数ｆ
（Ｔ）と温度値Ｔとの関係は、図４（ｂ）で示すように
テーブルとしてもよいし、または、複数の折点を有する
折線関数や所定の関数で近似してもよい。
実施例を示すように、電源Ｅから一定の電圧が供給され
る基準抵抗Ｒ０又はサーミスタ２の並列接続回路を切換
手段Ｓで切り換え、その出力を抵抗Ｒ１を介し演算増幅
器Ａの反転入力端子に供給し、抵抗Ｒ２を負帰還接続し
てなる演算増幅器Ａから取り出す。この切換手段Ｓで基
準抵抗Ｒ０を選択したときの電圧出力ｅ０又はサーミス
タ２を選択したときの電圧出力ｅｔが図１の測定手段３
を介し演算手段４に供給され、サーミスタ２の出力ｅｔ
と基準抵抗Ｒ０の出力ｅ０とからその比の関数ｆ（Ｔ）
＝ｅｔ／ｅ０を求め、あらかじめ求めてメモリ４０に格
納された関数ｆ（Ｔ）と温度値Ｔとの関係に基づいて、
温度Ｔを演算し基準接点温度補償を行う。この関数ｆ
（Ｔ）と温度値Ｔとの関係は、図４（ｂ）で示すように
テーブルとしてもよいし、または、複数の折点を有する
折線関数や所定の関数で近似してもよい。
【００１１】ここで、図４（ａ）において、サーミスタ
２の抵抗をＲｔ、基準抵抗Ｒ０の抵抗をＲ０、電源電圧
をＥとして、サーミスタ２の出力電圧ｅｔ、基準抵抗Ｒ
０の出力電圧ｅ０は次式となる。
２の抵抗をＲｔ、基準抵抗Ｒ０の抵抗をＲ０、電源電圧
をＥとして、サーミスタ２の出力電圧ｅｔ、基準抵抗Ｒ
０の出力電圧ｅ０は次式となる。
【００１２】 ｅｔ＝Ｒ２・Ｅ／（Ｒｔ＋Ｒ１） （１） ｅ０＝Ｒ２・Ｅ／（Ｒ０＋Ｒ１） （２） このサーミスタ２の電圧ｅｔと基準抵抗Ｒ０の出力ｅ０
とからその比の関数ｆ（Ｔ）＝ｅｔ／ｅ０を求めると次
式となる。
とからその比の関数ｆ（Ｔ）＝ｅｔ／ｅ０を求めると次
式となる。
【００１３】 ｆ（Ｔ）＝ｅｔ／ｅ０ ＝（Ｒt ＋Ｒ１）／（Ｒ０＋Ｒ１） （３） この（３）式によれば、電圧Ｅは消去され、電圧変動の
影響を受けず、温度にのみの関数となる。
影響を受けず、温度にのみの関数となる。
【００１４】そして、ここでサーミスタとして、感度が
良く、安定性に優れ、バラツキの少ないガラスコート等
のサーミスタを使用すると、このサーミスタの温度−抵
抗値特性を許容範囲内のものとでき、代表のサーミスタ
又は複数のサーミスタを平均化したものについての関数
ｆ（Ｔ）等と温度値Ｔとの単一の関係を用意して温度演
算するだけでよく、個々の調整は不要である。
良く、安定性に優れ、バラツキの少ないガラスコート等
のサーミスタを使用すると、このサーミスタの温度−抵
抗値特性を許容範囲内のものとでき、代表のサーミスタ
又は複数のサーミスタを平均化したものについての関数
ｆ（Ｔ）等と温度値Ｔとの単一の関係を用意して温度演
算するだけでよく、個々の調整は不要である。
【００１５】
【発明の効果】以上述べたように、この発明は、熱電対
が接続される測定端子及び基準接点温度素子としてのサ
ーミスタを有する端子部と、このサーミスタの温度に対
する抵抗値変化を電圧とする検出回路と、あらかじめ求
めた電圧値と温度値との関係に基づいて前記検出回路の
電圧出力から温度を求め基準接点温度補償を行う演算手
段とを備えるようにした熱電対測定装置である。このた
め、基準接点温度素子としてサーミスタを用いても、簡
易な構成で、高精度の基準接点温度補償を可能となる。
又、サーミスタの電圧出力と基準抵抗の電圧出力との比
の関数を演算したものを用いると、供給電圧分は消去さ
れ、温度のみの関数となり、電圧変動の影響を受けずに
温度を測定でき、更に高精度温度補償が可能となる。
又、感度が良く、安定性に優れ、バラツキの少ないサー
ミスタを用いると、このサーミスタの温度−抵抗値特性
を許容範囲内のものとでき、出力電圧、関数等と温度値
との単一の関係を用意するのみで済み、個々のサーミス
タの調整は不要となり、高精度の温度補償が大幅に調整
工数を低減させて可能となる。
が接続される測定端子及び基準接点温度素子としてのサ
ーミスタを有する端子部と、このサーミスタの温度に対
する抵抗値変化を電圧とする検出回路と、あらかじめ求
めた電圧値と温度値との関係に基づいて前記検出回路の
電圧出力から温度を求め基準接点温度補償を行う演算手
段とを備えるようにした熱電対測定装置である。このた
め、基準接点温度素子としてサーミスタを用いても、簡
易な構成で、高精度の基準接点温度補償を可能となる。
又、サーミスタの電圧出力と基準抵抗の電圧出力との比
の関数を演算したものを用いると、供給電圧分は消去さ
れ、温度のみの関数となり、電圧変動の影響を受けずに
温度を測定でき、更に高精度温度補償が可能となる。
又、感度が良く、安定性に優れ、バラツキの少ないサー
ミスタを用いると、このサーミスタの温度−抵抗値特性
を許容範囲内のものとでき、出力電圧、関数等と温度値
との単一の関係を用意するのみで済み、個々のサーミス
タの調整は不要となり、高精度の温度補償が大幅に調整
工数を低減させて可能となる。
【図１】この発明の一実施例を示す構成説明図である。
【図２】この発明の一実施例を示す構成説明図である。
【図３】この発明の一実施例を示す構成説明図である。
【図４】この発明の一実施例を示す構成説明図である。
１ 端子部 ２ 基準接点温度素子 ２０ 検出回路 ３ 測定手段 ４ 演算手段 ４０ メモリ ５ 熱電対 ５０ 測温接点 ｔ１〜ｔｎ 測定端子
Claims (1)
- 【請求項１】熱電対が接続される測定端子及び基準接点
温度素子としてのサーミスタを有する端子部と、このサ
ーミスタの温度に対する抵抗値変化を電圧とする検出回
路と、あらかじめ求めた電圧値と温度値との関係に基づ
いて前記検出回路の電圧出力から温度を求め基準接点温
度補償を行う演算手段とを備えたことを特徴とする熱電
対測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17587696A JPH102807A (ja) | 1996-06-14 | 1996-06-14 | 熱電対測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17587696A JPH102807A (ja) | 1996-06-14 | 1996-06-14 | 熱電対測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH102807A true JPH102807A (ja) | 1998-01-06 |
Family
ID=16003762
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17587696A Pending JPH102807A (ja) | 1996-06-14 | 1996-06-14 | 熱電対測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH102807A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030046606A (ko) * | 2001-12-06 | 2003-06-18 | 삼성전자주식회사 | 열전대 온도 교정장치 및 방법 |
| JP2007040917A (ja) * | 2005-08-05 | 2007-02-15 | Kawaso Electric Industrial Co Ltd | 温度測定方法及びその装置 |
| JP2008026084A (ja) * | 2006-07-19 | 2008-02-07 | Yokogawa Electric Corp | 熱電対温度計 |
| KR100940741B1 (ko) | 2002-12-27 | 2010-02-04 | 주식회사 포스코 | 강종별 복사율 측정장치 |
| KR100942130B1 (ko) | 2007-12-28 | 2010-02-16 | 엘에스산전 주식회사 | 열전대 센서를 이용한 온도계측장치 |
| KR101999806B1 (ko) * | 2018-03-30 | 2019-07-12 | 공주대학교 산학협력단 | 차량 온열시트에 마련되는 열선의 배치를 고려하여 히터평가를 위한 온도를 계측하는 차량 온열시트의 온도 측정 방법 및 시스템 |
-
1996
- 1996-06-14 JP JP17587696A patent/JPH102807A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030046606A (ko) * | 2001-12-06 | 2003-06-18 | 삼성전자주식회사 | 열전대 온도 교정장치 및 방법 |
| KR100940741B1 (ko) | 2002-12-27 | 2010-02-04 | 주식회사 포스코 | 강종별 복사율 측정장치 |
| JP2007040917A (ja) * | 2005-08-05 | 2007-02-15 | Kawaso Electric Industrial Co Ltd | 温度測定方法及びその装置 |
| JP2008026084A (ja) * | 2006-07-19 | 2008-02-07 | Yokogawa Electric Corp | 熱電対温度計 |
| KR100942130B1 (ko) | 2007-12-28 | 2010-02-16 | 엘에스산전 주식회사 | 열전대 센서를 이용한 온도계측장치 |
| KR101999806B1 (ko) * | 2018-03-30 | 2019-07-12 | 공주대학교 산학협력단 | 차량 온열시트에 마련되는 열선의 배치를 고려하여 히터평가를 위한 온도를 계측하는 차량 온열시트의 온도 측정 방법 및 시스템 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20050112 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050117 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20050531 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |