JPS61233373A - 静電容量の測定方法 - Google Patents

静電容量の測定方法

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Publication number
JPS61233373A
JPS61233373A JP60075159A JP7515985A JPS61233373A JP S61233373 A JPS61233373 A JP S61233373A JP 60075159 A JP60075159 A JP 60075159A JP 7515985 A JP7515985 A JP 7515985A JP S61233373 A JPS61233373 A JP S61233373A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitance
electrostatic capacity
measured
oscillation frequency
oscillator
Prior art date
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Pending
Application number
JP60075159A
Other languages
English (en)
Inventor
Tokio Takenaka
竹中 時夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Chemical Engineering and Machinery Co Ltd
Original Assignee
Japan Chemical Engineering and Machinery Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Japan Chemical Engineering and Machinery Co Ltd filed Critical Japan Chemical Engineering and Machinery Co Ltd
Priority to JP60075159A priority Critical patent/JPS61233373A/ja
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Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2617Measuring dielectric properties, e.g. constants
    • G01R27/2623Measuring-systems or electronic circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605Measuring capacitance

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野: 本発明は、微少な容量老化を正確に且つ簡便に測定でき
る静電容量の測定手段に係るものでbる。
発明の背景: 静電容量を媒体として測定対象の状態変化を検認する方
法又は装置は、種種のものが提案されそルぞれに実効を
奏しているのは周知のとおりでるる。たとえば、貯留さ
れてい6溶液の流出若しくは補給金子め設定されたとお
り行なうために用いられる静電容量式レベル計もその一
種であり、特に液面レベルの微少な変動を的確に制御す
るにはこのレベル計が1能する基となる検出電極の静電
容量の微細な容量変化を正確に計測する必要がるるO 先行技術: 静電容量の測定法は比較短線法とかブリッジ回路を応用
し念もの等がるるか、いずれの場合でも容量の変化が微
少で62’LばそD変動値の測定が困難でめり、正確に
測定するには複雑な回路と操作の熟練を必要とすること
が多かった。
発明の目的: 本発明は斯かる現況に鑑み、容量の変化が微少なために
通常の手段では測定が困難でるり、高精度な回路を必要
としていた静電容量の実用的を測定方法を提案せんとじ
文なされたもので、被測定靜鑞容量の関数となる発振周
波数を利用して微少に変動する静電容量を正確に且つ容
易に測定できる方法の提供を目的としている。
発明の構成・実施例: 以下、本発明の1実施例を図面に基づき具体的に説明す
る。
一般に、静電容itをエレメントに持つ発振器において
は、静電容量の微少な変化が発振周波数を大きく変動さ
せるため、静電容量を使用した発振器で安定性の高いも
のを得ることは困難とされてきた。
本発明者はこの状態に着目し、発振周波数が静電容量に
大きく衣存する性質を積極的に利用することにより本発
明を完成したもので、周波数の変動を検認することによ
り、その変動を支配する静電容量の変化を測定しようと
するものである。
先づ本発明方法の原理全説明すると1.igZ図におい
て、(1)はその直がCxである被測定静電容量、(3
)は(1) をエレメントとする発iti 器、(5)
 d J m a L3)の発振周波数1xから静電容
量axを算出すると共に被測定静電容量Cxが示す制御
tを算出する演算回路、(6)は制御量を表示し、又は
制御量を信号として他の機器へ送出する出力回路でるる
。このような回路網に2いて、発信器(3)を、たとえ
ば抵抗−静電容量式発信器とし、その抵抗値をRとすれ
ば発振周波数fxは、 fx = K/ax −R・・・・・・・・・・・・(
1)ただしKは比例定数 〔1〕式において、発振周波数fxは被測定静電容量a
xに反比例の関係となる。また、既知の静電容量era
エレメントとした場合の発振周波数frは、む=に/c
r−R・・・・・・・・・・・・(ff、1(1)式・
(II)式より fr 、!     ・・・・・・・・・・・・〔瓜〕従って
、エレメント静電容量が既知のerである場合の発振周
波数frを予め測定してンけば、〔■〕式より被醐定静
電容量ext求めることができるのでろる。
第1図はこの原理に基づく本発明方法の1具体例を示す
もので、(1)の被測定静電容A(!にと、(2)の既
知の静電容量crとは同一の発信器(3)のエレメント
となるように切換スイッチ(4)により交互に接続可能
とされている。同時に、切換スイッチ(4)は演算回路
(5)により既知静電容量(2)側又は被測定静電容量
(1)側に順次没入して切換るように制御し、(1)の
被測定静電容Laxの場合の発振周波fxを検出すると
共に、(2)の既知静電容量Crの場合の発41!a1
4波数がfrでめることに基づき演算し、上記(III
)式により被測定静電容量を求めることができる。
発明の作用、・効果: 本発明方法は以上のような構成よりなるから、(III
)式で明らかなごとく、九とえは、温度、電圧のように
発振器に影響を与えて発振周波数を変動させる要因が除
去されるため、これらの対応を含む高精度の発振器を使
用する必要は皆無でるり、通盾の装置で正確な静電容瀘
の測定を可能としたもので産業上の利用性は著大である
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法の具体的な1実施例の説明図、第2
図は本発明の基本的原理の説明図であも(1)・・・被
測定静電容!(2)・・・既知nML容量(3)・・・
発振4(4)・・・切換スイッチ(5)・・・演算回路
    (6)・・・出力回路第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 既知静電容量をエレメントとした場合に一定の周波数f
    rを発振する発振器に、被測定静電容量をエレメントと
    して含ませた場合の発振周波数fxを計測し、既知静電
    容量値及び両周波数frとfxの比により、発振器の変
    動要因の影響を受けることなく被測定静電容量を算定す
    ることを特徴とする静電容量の測定方法。
JP60075159A 1985-04-08 1985-04-08 静電容量の測定方法 Pending JPS61233373A (ja)

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JP60075159A JPS61233373A (ja) 1985-04-08 1985-04-08 静電容量の測定方法

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JPS61233373A true JPS61233373A (ja) 1986-10-17

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JP (1) JPS61233373A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5483172A (en) * 1992-06-22 1996-01-09 Radford; David J. Radio frequency measuring apparatus
JP2006105927A (ja) * 2004-10-08 2006-04-20 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 素子測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5483172A (en) * 1992-06-22 1996-01-09 Radford; David J. Radio frequency measuring apparatus
JP2006105927A (ja) * 2004-10-08 2006-04-20 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 素子測定装置

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