JP2006105927A - 素子測定装置 - Google Patents
素子測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006105927A JP2006105927A JP2004296659A JP2004296659A JP2006105927A JP 2006105927 A JP2006105927 A JP 2006105927A JP 2004296659 A JP2004296659 A JP 2004296659A JP 2004296659 A JP2004296659 A JP 2004296659A JP 2006105927 A JP2006105927 A JP 2006105927A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- crystal resonator
- capacitance
- measuring
- resonance frequency
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
【解決手段】発振回路におけるコンデンサの容量やコイルのインダクタンスの値を用いて水晶振動子と発振回路とからなる発振器の発振周波数を計算する手法を逆に用い、実際にコンデンサやコイルである被測定素子と水晶振動子との直列回路を形成する装置を作成し、その直列共振周波数を測定してその測定値と水晶振動子の等価回路定数とに基づいて演算により被測定素子の容量あるいはインダクタンスを求める。
【選択図】 図3
Description
水晶振動子と、
この水晶振動子の共振周波数fr、等価直列容量C1及び並列容量C0を記憶する第1の記憶部と、
前記水晶振動子に対して直列に被測定素子を着脱自在に接続するための第1の接続端子と、
前記水晶振動子と前記第1の接続端子間に接続された被測定素子との直列回路の共振周波数fLを測定する測定手段と、
この測定手段により測定された共振周波数fLと、前記記憶部に記憶されている水晶振動子の共振周波数fr、等価直列容量C1及び並列容量C0と、に基づいて被測定素子であるコンデンサの容量CLを求めるための演算手段と、を備えたものである。そして演算手段による演算式は下記の通りである。
ただしA=2(fL/fr)
また他の発明は、被測定素子であるコイルのインダクタンスを測定するための素子測定装置において、
水晶振動子と、
この水晶振動子の共振周波数fr、等価直列容量C1及び並列容量C0を記憶する第1の記憶部と、
前記水晶振動子に対して直列に被測定素子を着脱自在に接続するための第1の接続端子と、
前記水晶振動子と前記第1の接続端子間に接続された被測定素子との直列回路の共振周波数fLを測定する測定手段と、
この測定手段により測定された共振周波数fLと、前記記憶部に記憶されている水晶振動子の共振周波数fr、等価直列容量C1及び並列容量C0と、に基づいて被測定素子であるコイルのコイルンスLを求めるための演算手段と、を備えたものである。そして演算手段による演算式は下記の通りである。
ただしA=2(fL/fr)、ω=2π・fL
このインダクタンスを測定する発明は、先の容量を測定する発明において、コンデンサをコイルに置き換えたものである。従ってコイルのインダクタンスLは1/(ω2・CL)で表されるので、この式と(1)式とからLを求めると(2)式になる。
ただしA=2(fL/fr)
L=−A・{1/(ω2・C0)}・{1/(A+1)} ………(4)
ただしA=2(fL/fr)、ω=2π・fL
これら(3)式及び(4)式は、夫々既述の(1)式及び(2)式に対応するものであり、被測定素子がコンデンサである場合には、(3)式が選択され、被測定素子がコイルである場合には、(4)式が選択される。この選択は例えば測定者がキーボードやマウスなどの操作部により表示部64の画面上の所定のソフトスイッチを選択することにより行われる。
被測定素子と直列に接続される水晶振動子を標準水晶振動子と呼ぶことにすると、標準水晶振動子の等価回路定数を求める前に測定系についてキャリブレーションを行わなければならない。このキャリブレーションとは、標準水晶振動子が接続される測定治具3の第2の接続端子52からネットワークアナライザ4の測定部41までの電圧及び位相の基準を得ることを意味する。先ずキャリブレーション素子として、インピーダンス値が無限大のオープン素子、インピーダンス値が0Ωのショート素子及び決められたインピーダンス値(一般的には50Ω)のロード素子の3つの素子を用意する。そして図4(a)に示すように、第2の接続端子52にインピーダンスがゼロのショート素子72を接続すると共に、前記3つのキャリブレーション素子71(71の符号で代表している)を第1の接続端子51に順番に接続し、各々の接続時における当該第1の接続端子51の電位差をネットワークアナライザ4の測定部41内の電圧計で測定し、その測定値(キャリブレーションの結果)をメモリ62内に記憶する。またキャリブレーション素子71であるショート素子及びロード素子を第1の接続端子51に接続したときの各々の位相差を前記測定部41内の位相差計で測定し、その測定値(キャリブレーションの結果)をメモリ62内に記憶する。各素子の着脱は作業者により行われるが、測定及び測定値の書き込みなどの処理は、前記キャリブレーション用プログラム65により行われる。
次に図4(b)に示すように、第2の接続端子52に接続されていたショート素子72を取り外し、例えば発振周波数が150MHzの標準水晶振動子1を当該接続端子52に接続すると共に、第1の接続端子51にキャリブレーション素子71であるショート素子71aを接続し、前記測定部41内の電圧計及び位相差計により夫々標準水晶振動子1の両端電圧及び位相を測定する。そして前記定数決定用プログラム66により、これら測定値はメモリ62内に記憶され、キャリブレーション時に得られた測定値と比較されて、標準水晶振動子1の等価回路定数、即ち共振周波数fr、等価直列容量C1及び並列容量C0が求められてメモリ62内に記憶される。
続いて図4(c)に示すように、第1の接続端子51に接続されていたショート素子71aを取り外して被測定素子である例えばコンデンサ21を接続し、前記演算プログラム67に基づいて測定部41により標準水晶振動子1とコンデンサ2との直列回路を共振させ、その直列共振周波数fLを測定してメモリ62に記憶する。そして前記演算プログラム67は、この直列共振周波数fLと既に測定した標準水晶振動子1の共振周波数fr、等価直列容量C1及び並列容量C0をメモリ62から読み出して、上記の(3)式の演算を行ってコンデンサ2の容量CLを算出し、メモリ62内に記憶する。なお水晶振動子の並列容量C0は、LCRメータやブリッジなどの既存の測定器を用いて測定し、その値を用いてもよい。
2 コンデンサ
3 測定治具
4 ネットワークアナライザ
41 測定部
51 第1の接続端子
52 第2の接続端子
6 パーソナルコンピュータ
71 キャリブレーション素子
72 ショート素子
Claims (3)
- 被測定素子であるコンデンサの容量を測定するための素子測定装置において、
水晶振動子と、
この水晶振動子の共振周波数fr、等価直列容量C1及び並列容量C0を記憶する第1の記憶部と、
前記水晶振動子に対して直列に被測定素子を着脱自在に接続するための第1の接続端子と、
前記水晶振動子と前記第1の接続端子間に接続された被測定素子との直列回路の共振周波数fLを測定する測定手段と、
この測定手段により測定された共振周波数fLと、前記記憶部に記憶されている水晶振動子の共振周波数fr、等価直列容量C1及び並列容量C0と、に基づいて下記の数式により被測定素子であるコンデンサの容量CLを求めるための演算手段と、を備えたことを特徴とする素子測定装置。
CL={C1/(A−2)}−C0
ただしA=2(fL/fr) - 被測定素子であるコイルのインダクタンスを測定するための素子測定装置において、
水晶振動子と、
この水晶振動子の共振周波数fr、等価直列容量C1及び並列容量C0を記憶する第1の記憶部と、
前記水晶振動子に対して直列に被測定素子を着脱自在に接続するための第1の接続端子と、
前記水晶振動子と前記第1の接続端子間に接続された被測定素子との直列回路の共振周波数fLを測定する測定手段と、
この測定手段により測定された共振周波数fLと、前記記憶部に記憶されている水晶振動子の共振周波数fr、等価直列容量C1及び並列容量C0と、に基づいて下記の数式により被測定素子であるコイルのインダクタンスLを求めるための演算手段と、を備えたことを特徴とする素子測定装置。
L=−A・{1/(ω2・C0)}・{1/(A+1)}
ただしA=2(fL/fr)、ω=2π・fL - 前記水晶振動子を着脱自在に接続するための第2の接続端子と、
この第2の接続端子を短絡しかつ前記第1の接続端子にキャリブレーション用の素子が接続された状態で、キャリブレーションを行う手段と、キャリブレーションの結果を記憶する第2の記憶部と、前記第1の接続端子を短絡しかつ前記第2の接続端子に水晶振動子を接続した状態で、この水晶振動子に電圧信号を供給して得られた測定結果とキャリブレーションの結果とに基づいて水晶振動子の共振周波数fr、等価直列容量C1及び並列容量C0を求め、前記第1の記憶部に記憶する手段と、を備えたことを特徴とする素子測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004296659A JP2006105927A (ja) | 2004-10-08 | 2004-10-08 | 素子測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004296659A JP2006105927A (ja) | 2004-10-08 | 2004-10-08 | 素子測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006105927A true JP2006105927A (ja) | 2006-04-20 |
Family
ID=36375830
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004296659A Pending JP2006105927A (ja) | 2004-10-08 | 2004-10-08 | 素子測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006105927A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014129069A1 (ja) * | 2013-02-22 | 2014-08-28 | 株式会社村田製作所 | センサタグ、センサタグの製造方法 |
JP2015040841A (ja) * | 2013-08-23 | 2015-03-02 | 株式会社前川製作所 | 固液二相流体の固相率測定装置、冷却システム及び固相率計測方法 |
CN114925643A (zh) * | 2022-06-02 | 2022-08-19 | 贵州振华风光半导体股份有限公司 | 一种用于高频振荡电路算法模型的优化方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS491232B1 (ja) * | 1970-12-08 | 1974-01-12 | ||
JPS61233373A (ja) * | 1985-04-08 | 1986-10-17 | Nippon Kagaku Kikai Seizo Kk | 静電容量の測定方法 |
JPH11281689A (ja) * | 1998-03-31 | 1999-10-15 | Hewlett Packard Japan Ltd | 振動子の測定治具における対地間容量および損失の決定方法 |
JP2001124809A (ja) * | 1999-10-26 | 2001-05-11 | Advantest Corp | 負荷容量付き水晶振動子の測定方法 |
-
2004
- 2004-10-08 JP JP2004296659A patent/JP2006105927A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS491232B1 (ja) * | 1970-12-08 | 1974-01-12 | ||
JPS61233373A (ja) * | 1985-04-08 | 1986-10-17 | Nippon Kagaku Kikai Seizo Kk | 静電容量の測定方法 |
JPH11281689A (ja) * | 1998-03-31 | 1999-10-15 | Hewlett Packard Japan Ltd | 振動子の測定治具における対地間容量および損失の決定方法 |
JP2001124809A (ja) * | 1999-10-26 | 2001-05-11 | Advantest Corp | 負荷容量付き水晶振動子の測定方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014129069A1 (ja) * | 2013-02-22 | 2014-08-28 | 株式会社村田製作所 | センサタグ、センサタグの製造方法 |
JP6052388B2 (ja) * | 2013-02-22 | 2016-12-27 | 株式会社村田製作所 | センサタグ、センサタグの製造方法 |
US10234334B2 (en) | 2013-02-22 | 2019-03-19 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Sensor tag and manufacturing method for sensor tag |
JP2015040841A (ja) * | 2013-08-23 | 2015-03-02 | 株式会社前川製作所 | 固液二相流体の固相率測定装置、冷却システム及び固相率計測方法 |
CN114925643A (zh) * | 2022-06-02 | 2022-08-19 | 贵州振华风光半导体股份有限公司 | 一种用于高频振荡电路算法模型的优化方法 |
CN114925643B (zh) * | 2022-06-02 | 2023-09-15 | 贵州振华风光半导体股份有限公司 | 一种用于高频振荡电路算法模型的优化方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2007163308A (ja) | 高周波測定装置 | |
US7885779B2 (en) | Measurement error correcting method and electronic component characteristic measurement device | |
US6252411B1 (en) | Method and apparatus for testing frequency-dependent electrical circuits | |
KR20150121670A (ko) | 검사 지그, 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법 | |
CN106066425A (zh) | 一种阻抗测量装置及其实现校准补偿的方法 | |
JP4825782B2 (ja) | 自動検査設備内部の寄生容量を精密に計測するシステム、回路および方法 | |
JP2006105927A (ja) | 素子測定装置 | |
Singh et al. | Realization of four-terminal-pair capacitors as reference standards of impedance at high frequency using impedance-matrix method | |
JP2007003407A (ja) | インピーダンス測定方法及び装置 | |
US6803776B2 (en) | Current-comparator-based four-terminal resistance bridge for power frequencies | |
US7834641B1 (en) | Phase-gain calibration of impedance/admittance meter | |
JP3558080B2 (ja) | 測定誤差の補正方法、電子部品の良否判定方法および電子部品特性測定装置 | |
KR101883199B1 (ko) | 이진배수 저항 증가를 이용한 저항값 및 측정장치 저항측정기능 교정장치 및 이를 이용한 저항 교정방법 | |
US6876935B2 (en) | Method for correcting measurement error, method of determining quality of electronic component, and device for measuring characteristic of electronic component | |
KR19980029967A (ko) | 고주파 측정 오차 보정 방법 | |
JP5803602B2 (ja) | 振動子検査方法、および振動子検査装置 | |
JP3194653B2 (ja) | 水晶振動子の定数測定方法 | |
JP2015125135A (ja) | インピーダンス測定方法およびその装置 | |
TWI832693B (zh) | 資料處理控制裝置、檢查裝置、資料處理控制方法以及資料處理控制用程式 | |
JP3421524B2 (ja) | 静電容量の測定方法 | |
Sandler | Capacitor Model Details Key to Measurement Correlation | |
JP4228686B2 (ja) | 圧電振動子の製造装置及びその製造方法 | |
JP4525391B2 (ja) | π型インピーダンス回路網のインピーダンス測定方法および測定装置 | |
KR20070062283A (ko) | 발진회로의 음성저항 측정 장치 | |
JP2011142444A (ja) | 圧電発振器の製造方法、圧電発振器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20070823 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091008 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091027 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20091228 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100202 |
|
A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20100608 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |