JPH0843133A - 光学式アブソリュートエンコーダ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 １トラック型アブソリュートパターンで、絶
対位置と相対位置とを検出できる光学式アブソリュート
エンコーダを提供する。 【構成】 信号処理部5は、符号板3に設けられたアブソ
リュートパターン2により作られる明暗パターンから絶
対位置を示すアブソリュート信号を取り出すと共に、前
記信号処理部5に設けられた補助信号処理部10は、幅の
異なる複数種類の符号化素子11、12の片端が等間隔ｄに
配置されて成るアブソリュートパターン2の、前記片端
を検出して符号板の相対位置を示すインクリメンタル信
号を生成することを特徴とする光学式アブソリュートエ
ンコーダ。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光学式１トラック型ア
ブソリュートエンコーダに係り、特に絶対位置を示すア
ブソリュート信号と相対位置を示すインクリメンタル信
号とを同時に使用する光学式１トラック型の光学式アブ
ソリュートエンコーダに関する。

【０００２】

【従来の技術】光学式エンコーダは、符号板に刻まれた
スリットにより作られるパターンを読みとって位置を検
出する装置であり、このうち光学式アブソリュートエン
コーダは、前記符号板中の異なる位置では前記パターン
の示す値に同じものがないようにされたものである。

【０００３】このようなアブソリュートパターンは、従
来は、０と１の符号から成る複数本のトラックが同心円
上に配置され、直径方向に並んだ符号を読みとって、ｎ
個のトラックからｎビットの値を得る、多トラック型の
ものがあった。

【０００４】しかしながら近年では、１本のトラックで
ｎビットの値を得られる、図６(ａ)に示すような１トラ
ック型アブソリュートパターン１０１が用いられるよう
になってきた。この１トラック型アブソリュートパター
ンは、１トラック上の連続するｎ個の符号を読んだ場合
に、そのｎ個の符号から作られる値が、全ての位置にお
いて異なるようにされたものであり、アブソリュートパ
ターンの示す値と絶対位置とを予め記憶させておき、読
みとった値から絶対位置を求めるものである。図７(ａ)
は、この読取の状態を示した図であり、アブソリュート
パターン１０１が設けられた符号板１１２を透過した光
が８個の光検出素子１１３のうちの４個に照射され、明
を１、暗を０とすると、２進数＜００１１１００１＞が
読み取られているところである。

【０００５】このようなアブソリュートパターン１０１
の符号配置方法には、全周期系列や、Ｍ系列等の多数の
方式によるものが知られており、上述した多トラック型
のものに比べると、符号板の小型化が容易であり、ま
た、パターンを判別するための方法も簡便であることか
ら主流を占めるようになってきた。

【０００６】なお、このような従来技術のアブソリュー
トパターンにも、図７(ｃ)に示すように、２進数の”
０”に対応する幅狭のスリット１２１と２進数の”１”
に対応する幅広のスリット１２２から構成されるものも
あったが、各スリットは、その中心間の間隔が遮光部を
挟んで等しくｄ’で配置されているだけであった。

【０００７】このような１トラック型アブソリュートパ
ターンは、連続した所定数の符号が全て正しく読みとれ
ることが前提であり、読みとるべきアブソリュートパタ
ーン上の一部にでもごみが付着したり傷が付いたりした
場合には誤った値を読みとってしまう。そして、誤った
値を読み取ると、正しい位置とは全く異なった絶対位置
が求められてしまうことから、解決が望まれていた。

【０００８】一方、従来より使用されてきた、図６(ｂ)
に示すようなインクリメンタルパターン１０２も引き続
き使用されている。このインクリメンタルーパターン１
０２は、図７(ｂ)に示すように、等間隔で配置されたス
リット１１５により構成され、符号板１１６上に配置さ
れているものであり、発光素子と前記符号板１１６の間
には、前記スリットと同じ大きさのスリットが前記間隔
と同じ間隔で配置されたマスク１１７が配置され、該マ
スク１７を透過した光が、前記符号板１１６を透過した
状態と遮光された状態とを計数して、移動量を求めるも
のである。

【０００９】前記マスク１１７上にスリットを複数配置
し、前記符号板１１６を透過した光をレンズ１１８で集
光するようにすると共に、透過した状態と遮光された状
態とを判別するスレッショルドレベルを適当に設定する
ことにより、前記符号板１１６上の一部にキズの発生や
ごみの付着があっても、遮光状態と透光状態とを正しく
判別することができるという利点がある。

【００１０】そして、前記アブソリュートパターンが有
する、ごみ、キズに弱いという不都合を解決するため
に、図６(ｃ)に示すような、複合パターン１０３が知ら
れている。この複合パターン１０３は、アブソリュート
パターンとインクリメンタルパターンとを同心円上に配
置するものであり、アブソリュートパターンから得られ
る絶対座標をインクリメンタルパターンから得られる相
対座標とを比較して、アブソリュートパターンの読み誤
りを修正しようとするものである。

【００１１】しかしながら、このような複合パターン１
０３は、必然的に前記アブソリュートパターン１０１の
幅よりも太くなり、符号板の小型化の要求に対応できな
くなる。

【００１２】更に、図７(ａ)のようなアブソリュートパ
ターンを読みとるための装置と、図７(ｂ)に示すような
インクリメンタルパターンを読みとる装置とを並設する
必要があるため、コスト高を招き、装置が大型化すると
いう不都合がある。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】本発明は上記従来技術
の不都合を解決するために創作されたもので、その目的
は、１トラック型アブソリュートパターンで、絶対位置
と相対位置とを検出できる光学式アブソリュートエンコ
ーダを提供することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１記載の発明は、アブソリュートパターンを
有する符号板と、該符号板のパターン形成方向に相対移
動可能に設けられ、前記符号板を透過した光で作られる
明暗パターンを検出する検出部と、前記検出された明暗
パターンの、アブソリュートパターン上の絶対位置を示
すアブソリュート信号を取り出す信号処理部とを備えた
光学式アブソリュートエンコーダにおいて、前記アブソ
リュートパターンは、幅の異なる複数種類の符号化素子
を有し、前記符号化素子の片端が等間隔に配置されて構
成され、前記信号処理部は、前記片端を検出して符号板
の相対位置を示すインクリメンタル信号を生成する補助
信号処理部を備えたことを特徴とし、請求項２記載の発
明は、請求項１記載の光学式アブソリュートエンコーダ
であって、前記アブソリュート信号から得られる前記符
号板の移動量と、前記インクリメンタル信号から得られ
る符号板の移動量とを比較し、前記アブソリュート信号
の読み誤りを検出するエラー検出装置を備えたことを特
徴とし、請求項３記載の発明は、請求項１又は請求項２
記載の光学式アブソリュートエンコーダであって、前記
アブソリュート信号を構成する所定数の符号化素子のう
ち、少なくとも１つの符号化素子の幅が、所定数の他の
符号化素子の幅とは異なることを特徴とする。

【００１５】

【作用】光学式アブソリュートエンコーダは、符号板上
に形成されたアブソリュートパターンを透過した光のみ
が検出部に到達できるように構成されており、該検出部
上に前記アブソリュートパターンに従った明暗パターン
が形成されるので、該検出部で所定長さの明暗パターン
を読みとることができる。

【００１６】前記アブソリュートパターンは、所定長さ
を取ったときに作られる明暗パターンが該アブソリュー
トエンコーダー上のどの位置でも異なるようにされてい
るので、互いに異なる所定長さの全ての明暗パターンに
ついて、一つ一つの明暗パターンとその絶対位置とが予
め対応づけられて記憶されているので、所定長さの明暗
パターンを検出すれば、その検出したパターンの絶対位
置を知ることができる。

【００１７】その場合、前記アブソリュートパターン
を、幅の異なる複数種類の符号化素子で構成しておき、
各符号化素子の片端を等間隔ｄに配置しておくと、前記
符号板がパターン形成方向に相対移動したときに、前記
符号化素子の等間隔に配置された片端が前記検出部上を
一斉に通過するので、検出部上の受光素子のうち、前記
間隔ｄで配置されているものは、明から暗、又は暗から
明へ一斉に変化する。

【００１８】この一斉の変化の回数と、各変化が、暗か
ら明への変化であるか、明から暗への変化であるかを検
出すれば、前記アブソリュートパターンから相対位置を
示すインクリメンタル信号を生成することができる。

【００１９】このインクリメンタル信号により、アブソ
リュートパターンの移動量がわかるので、一度絶対位置
を求めておけば、その後は前記インクリメンタル信号に
より、絶対位置を算出することができる。

【００２０】そして、前記インクリメンタル信号から求
めた絶対位置と、アブソリュートパターンを読み込んで
求めた絶対位置とを比較すれば、アブソリュート信号の
読み誤りを検出することができる。

【００２１】

【実施例】図１(ａ)は、本発明の一実施例の光学式アブ
ソリュートエンコーダであり、アブソリュートパターン
２を有する符号板３と、検出部４と、信号処理部５とを
有している。

【００２２】前記符号板３は、回転軸線７を中心として
回転運動可能に構成され、前記アブソリュートパターン
２は、該符号板３の円周方向に設けられているので、前
記符号板３が取付けられた測定対象物が回転移動をする
と、前記符号板３も回転しするので、該符号板３と前記
検出部４とは相対的に回転運動をするように構成されて
いる。

【００２３】前記アブソリュートパターン２は、符号化
素子である、光を透過するスリットを複数備えており、
各スリットは、光を遮光する遮光部で分離されている。
このスリットには、図１(ｃ)に示すように、２進数の”
０”を示す幅狭のスリット１１と、２進数の”１”を示
す幅太のスリット１２の２種類のスリットがあり、例え
ば、図１(ｂ)に示すようなならびでは、８ビットから成
る２進数”０１１１００１０”を示すことになる。

【００２４】そして、前記符号板３に光源６からレーザ
光が照射されると、前記アブソリュートパターン２を透
過して検出部４に明暗パターンが作られるので、前記検
出部４は該明暗パターンをアブソリュート信号として出
力し、信号処理部５内に設けられた符号化装置９により
該アブソリュート信号を２進数に変換することができ
る。

【００２５】このような、幅狭のスリット１１と幅広の
スリット１２から構成される前記アブソリュートパター
ン２上の連続した８個のスリットを取った場合には、対
応する８ビットの２進数が、アブソリュートパターン２
上のどの位置でも異なるように構成されている(同じ２
進数は出現しないように構成されている)ので、予め２
進数と、その２進数が読みとれるアブソリュートパター
ン上の絶対位置とを対応させて、演算装置８内に記憶し
ておけば、前記検出装置４の出力するアブソリュート信
号から得られる２進数を前記演算装置８に入力すること
により、前記対応を検索してその２進数に対応する絶対
位置を求めることができる。なお、この絶対位置は、表
示装置１０で表示するように構成されている。

【００２６】前記アブソリュートパターン２の有する幅
狭のスリット１１と幅広のスリット１２とは、各々左端
が等間隔ｄで配置されており、各スリット間は遮光部１
３で分離されている。

【００２７】また、前記検出部４は保持体に固定されて
おり、一方、前記符号板３は、トランシット等の回転運
動をする測定対象物に、回転軸線７を同一にして取付け
られている。前記検出部４には、複数の単位受光素子が
列設されて成るリニアセンサが用いられており、測定対
象物の回転によりアブソリュートパターン２も回転し、
それに伴って前記検出部４の列設された前記単位受光素
子に作られる明暗のパターンも移動する。

【００２８】図２(ａ)〜(ｅ)は、前記検出部４上を前記
アブソリュートパターン２が移動する状態を説明するた
めの図であり、前記列設された単位受光素子のうち、前
記間隔ｄで位置する４つの単位受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ
上の明暗の変化を例にとって説明する。

【００２９】図２(ａ)は、前記受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ
上に前記アブソリュートパターン２の遮光部１３が位置
している状態である。

【００３０】この状態から前記アブソリュートパターン
２が左方向へ移動すると、図２(ｂ)のように、幅広と幅
狭の各スリット１２₃、１１₂、１１₃、１２₄の全ての左
端が前記単位受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ上に位置する時点
がある。

【００３１】そして、この状態から更に前記アブソリュ
ートパターン２が左に移動すると、各スリットの左端は
前記単位受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ上から外れる。その場
合は、例えば図２(ｃ)のように、幅広のスリット１
２₃、１２₄の右端が前記単位受光素子Ａ、Ｄ上に位置し
たときには、幅狭のスリット１１₂、１１₃の右端は、前
記単位受光素子Ｂ、Ｃ上には位置しない。一方、幅狭の
スリットの右端が単位受光素子上に位置したときには幅
広のスリットの右端は位置しない。

【００３２】そして、図２(ｃ)の状態から、更にアブソ
リュートパターン２が左に進むと、図２(ｄ)のように、
前記単位受光素子Ａ、Ｂ、Ｄ上には、幅狭のスリット１
１₂、１１₃、１１₄の左端が位置し、前記単位受光素子
Ｃ上には、幅広のスリット１２₄の左端が位置する。こ
の図(ｄ)の状態から、今度は前記アブソリュートパター
ン２が右方向に移動すると、図２(ｂ)と同様に、前記単
位受光素子Ａ、Ｄ上に幅広のスリット１２₃、１２₄が位
置し、前記単位受光素子Ｂ、Ｃ上に幅狭のスリット１１
₂、１１₃が位置する。

【００３３】図３は、前記受光部４の前記各単位受光素
子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ上に作られる明暗パターンの変化を、
各単位受光素子の出力する電気信号の大きさで示したタ
イムチャートである。

【００３４】前記単位各受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、そ
の上にスリットが位置して光が照射されたとき、即ち明
パターンが作られた時にはハイ電圧を出力し、遮光部が
位置して光が遮られたとき、即ち暗パターンが作られた
時はロー電圧を出力するものとすると、該ハイ電圧の値
とロー電圧の値の間に一定のスレッショルド電圧を設定
しておけば、信号処理部５に設けられた補助信号処理部
１９により、各単位受光素子上の明暗のパターン変化を
検出することができる。

【００３５】そして、図２(ｂ)、(ｄ)、(ｅ)の時のよう
に、各受光素子の出力する信号が一斉に前記スレッショ
ルド電圧を横切ったことを検出すれば、２進数が１つ移
動したことを検出できる。このとき、図２(ｂ)、(ｄ)の
ように、ロー電圧の状態からハイ電圧の状態への変化を
検出すれば、カウンター１１内のインクリメンタル信号
を１カウント増加させる。一方、図２(ｅ)の時のよう
に、ハイ電圧の状態からロー電圧の状態への変化を検出
すれば、前記インクリメンタル信号を１カウント減少さ
せるので、前記アブソリュートパターンの移動方向も検
出でき、これにより相対的な移動量を算出すことができ
る。

【００３６】このとき、前記アブソリュートパターン２
の移動前の絶対位置がｋ₀であり、移動後にアブソリュ
ート信号により求められた絶対位置がｋ₁であったとす
る。また、この移動により算出された前記インクリメン
タル信号がｍであったとすると、アブソリュート信号の
読み誤りがなければ、次式、 ｋ₁ ＝ ｋ₀ ＋ ｍ …… (１) が成立するはずである。そこで、演算装置８内に設けら
れたエラー検出装置が、ｋ₁と(ｋ₀ ＋ ｍ)の値とを比較
を行うように構成されており、 ｋ₁ ≠ ｋ₀ ＋ ｍ …… (２) となった場合は、ごみやキズの付着等により、アブソリ
ュート信号の読み誤りがあったことを検出できるように
構成されている。

【００３７】なお、ｎビットの符号を読みとるときに
は、前記アブソリュートパターン２上の連続したｎ個の
スリットの並び方に、ｎ個の全てが幅広のスリットにな
る場合と、又は、ｎ個の全てが幅狭のスリットになる場
合が生じると、各スリットの左端ばかりでなく、右端も
そろってしまうので、そのような並び方を避け、アブソ
リュートパターンがｎ個の符号化素子で構成される場合
には、その中の少なくとも１つのスリットの幅が、ｎ−
１個ある他のスリットの幅とは異なるように配置されて
いることが望ましい。

【００３８】図４に、本発明の他の実施例である光学式
アブソリュートエンコーダを示す。この光学式アブソリ
ュートエンコーダは、上述したアブソリュートパターン
２と同じアブソリュートパターンを備えた符号板を有し
ているが、この符号板は省略する。

【００３９】図４に示した光学式アブソリュートエンコ
ーダの検出部２４にはラインセンサを使用した。該光学
式アブソリュートエンコーダの備える信号処理部２６は
演算装置２５を内蔵しており、該演算装置２５はＡ／Ｄ
コンバータ２７を介して前記検出部２４に接続されてい
る。

【００４０】前記演算装置２５の備える記憶装置内には
プログラムが内蔵されており、前記信号処理部２６は、
このプログラムの処理手順に従って、前記Ａ／Ｄコンバ
ータ２７から入力されるディジタル信号からアブソリュ
ート信号を求めると共に、インクリメンタル信号を算出
する。

【００４１】図５は、この処理手順を示したフローチャ
ートである。この処理は、ステップＳ₁から開始され、
ステップＳ₂で、前記Ａ／Ｄコンバータ２７の出力する
ディジタル信号を読みとり、アブソリュート信号処理部
２８とインクリメンタル信号処理部２９に処理を分岐さ
せる。

【００４２】アブソリュート信号処理部２８は、ステッ
プＳ₁₁から処理を開始する。該ステップＳ₁₁は、前記デ
ィジタル信号から明暗パターンを抽出し、処理をステッ
プＳ₁₂に移行させる。該ステップＳ₁₂では、その明暗パ
ターンを２進数ｒに変換する。該２進数ｒは、ステップ
Ｓ₁₃で、予め記憶された２進数と絶対位置とを対応させ
る対応表により、絶対位置ａ₁に変換される。

【００４３】前記対応表に記憶された絶対位置同士の間
の間隔は粗いので、ステップＳ₁₃にて、前記ステップＳ
₁₁で求めた明暗パターンの重心計算を行い、前記絶対位
置ａ₁を補正して、より正確な補正後の絶対位置ａ₂を求
めておき、処理をＳ₃₁に移行させる。

【００４４】一方、前記インクリメンタル処理部２９
は、ステップＳ₂₁から処理を開始する。この光学式アブ
ソリュートエンコーダの備えるアブソリュートパターン
を構成する符号化素子は、上述した実施例と同様に、幅
狭のスリットと幅広のスリットから成り、各符号化素子
は遮光部で分離されると共に、それら各符号化素子の左
端を等間隔ｄで配置されているので、該ステップＳ
₂₁で、前記Ａ／Ｄコンバータ２７から入力されるディジ
タル信号から、前記間隔ｄと同じ間隔で配置された基準
となる所定の単位受光素子群に対応する信号を抽出し、
該対応する信号の全ての信号の変化がスレッショルド電
圧を横切るものであった場合に処理を次のステップＳ₂₂
に移行させる。

【００４５】このステップＳ₂₂は、前記所定の受光素子
群の信号の変化が、ロー電圧からハイ電圧への立ち上が
りの変化であるか否かを判断する。立ち上がりであった
場合には、ステップＳ₂₃に移行し、カウンター変数ｆに
＋１をセットしてステップＳ₂₄へ移行する。立ち上がり
でなかった場合には、処理は前記ステップＳ₂₂からステ
ップＳ₂₅に移行し、該ステップＳ₂₅で信号の変化がハイ
電圧からロー電圧への立ち下がりであるか否かを判断す
る。立ち下がりであった場合には、ステップＳ₂₆で前記
カウンター変数ｆに−１をセットしてステップＳ₂₄へ移
行する。立ち下がりでなかった場合にはステップＳ₂₆で
カウンター変数ｆにゼロをセットしてステップＳ₂₄移行
する。

【００４６】前記ステップＳ₂₄は、記憶されているイン
クリメンタル信号の値ｂに前記カウンター変数ｆの値を
加算し、新たなインクリメンタル信号の値ｂとし、処理
をステップＳ₂₇に移行させる。該ステップＳ₂₇では、信
号処理の要求がなければ処理を前記ステップＳ₂に戻
し、Ａ／Ｄコンバータの信号を読みとり、処理を続行す
る。一方、信号処理の要求があった場合には処理をＳ₃₁
に移行させる。

【００４７】このステップＳ₃₁は、前記新たなインクリ
メンタル信号の値ｂと、記憶されている絶対位置の初期
値ａ₀を加算した値と、前記アブソリュート信号処理部
２８で求めた位置ａ₁とを比較し、等しければ、前記デ
ィジタル信号から抽出されたアブソリュート信号には読
み誤りがなかったと判断し、ステップＳ₃₂で表示変数ｃ
に補正後の絶対位置ａ₂をセットして、ステップＳ₃₃で
該表示変数の値を表示する。

【００４８】一方、等しくなかった場合は、アブソリュ
ート信号に読み誤りが含まれていると判断し、前記ステ
ップＳ₃₁からステップＳ₃₅に移行して、絶対位置の初期
値ａ₀に前記インクリメンタル信号の値ｂを加算した値
を表示変数ｃにセットし、ステップＳ₃₃で表示する。

【００４９】前記ステップＳ₃₃からステップＳ₃₄に移行
し、該ステップＳ₃₄で、絶対位置の初期値ａ₀に前記表
示変数ｃの値をセットすると共に、インクリメンタル変
数ｂをクリアし、前記ステップＳ₂に処理を戻して続行
する。

【００５０】なお、上述の実施例では、スリットの左端
間の間隔が等間隔にされているが、右端を等間隔に配置
してもよい。また、円形の符号板にアブソリュートパタ
ーンを設ける場合ばかりでなく、直線状の符号板に、直
線状にアブソリュートパターンを配置してもよい。

【００５１】更に、本実施例では幅広のスリットと幅狭
のスリットの２種類のスリットを用いて２値符号(２進
数)を読みとる場合について示したが、３種類の幅のス
リットや４種類の幅のスリットを使用して、３値符号
(３進数)、４値符号(４進数)等、ｎ進数を読みとるもの
であってもよい。

【００５２】更に又、符号化素子として光を通すスリッ
トを例として説明したが、この符号化素子に光を遮る遮
光部を使用することも可能である。その場合、前記符号
化素子たる遮光部は、幅の異なる複数種類のものを用
い、各遮光部を光を通すスリットで分離すると共に、各
遮光部の片端が等間隔にになるように配置してアブソリ
ュートパターンを構成するようにすればよく、そのよう
なアブソリュートパターンを有する光学式アブソリュー
トエンコーダも本発明に含まれる。

【００５３】更に又、本実施例では連続した符号化素子
によりアブソリュート信号を構成したが、１つおきの符
号化素子や、２つおきの符号化素子等、連続していない
符号化素子によりアブソリュート信号を得るものも含ま
れる。

【００５４】なお、単位受光素子は１つではなく、複数
のものを用いても、ロー状態を示す電圧とハイ状態を示
す電圧との間の変化を検出できることはいうまでもな
い。

【００５５】

【発明の効果】本発明によれば、アブソリュートパター
ンからアブソリュート信号と共にインクリメンタル信号
をも取り出すことができ、インクリメンタル信号により
アブソリュート信号に読み誤りが含まれるか否かを検出
することができる。

【００５６】読み誤りがあった場合には、インクリメン
タル信号から絶対位置を求めることができるので、誤っ
た絶対位置を求めることがない。

【図面の簡単な説明】

【図１】 (ａ)本発明の一実施例の光学式アブソリュー
トエンコーダ (ｂ)その光学式アブソリュートエンコーダの備えるアブ
ソリュートパターンを示す図 (ｃ)そのアブソリュートパターンの符号化素子を説明す
るための図

【図２】 アブソリュートパターンが検出部上を移動す
る状態を説明するための図

【図３】 その移動により単位受光素子から出力される
信号のタイミングチャート

【図４】 本発明の他の実施例の光学式アブソリュート
エンコーダ

【図５】 その処理手順を示すフローチャート

【図６】 (ａ)従来技術のアブソリュートパターン (ｂ)従来技術のインクリメンタルパターン (ｃ)従来技術の複合パターン

【図７】 (ａ)従来技術のアブソリュートパターンを検
出する装置を説明するための図 (ｂ)従来技術のインクリメンタルパターンを検出する装
置を説明するための図 (ｃ)従来技術のアブソリュートパターンの一例の拡大図

【符号の説明】

２……アブソリュートパターン ３……符号板
４、２４……検出部 ５、２６……信号処理部 １１、１２……符号化素子 １９……補助信号処理部

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】アブソリュートパターンを有する符号板
   と、 該符号板のパターン形成方向に相対移動可能に設けら
   れ、前記符号板を透過した光で作られる明暗パターンを
   検出する検出部と、 前記検出された明暗パターンの、アブソリュートパター
   ン上の絶対位置を示すアブソリュート信号を取り出す信
   号処理部とを備えた光学式アブソリュートエンコーダに
   おいて、 前記アブソリュートパターンは、幅の異なる複数種類の
   符号化素子を有し、 前記符号化素子の片端が等間隔に配置されて構成され、 前記信号処理部は、前記片端を検出して符号板の相対位
   置を示すインクリメンタル信号を生成する補助信号処理
   部を備えたことを特徴とする光学式アブソリュートエン
   コーダ。
2. 【請求項２】前記アブソリュート信号から得られる前記
   符号板の移動量と、前記インクリメンタル信号から得ら
   れる符号板の移動量とを比較し、前記アブソリュート信
   号の読み誤りを検出するエラー検出装置を備えたことを
   特徴とする請求項１記載の光学式アブソリュートエンコ
   ーダ。
3. 【請求項３】前記アブソリュート信号を構成する所定数
   の符号化素子のうち、少なくとも１つの符号化素子の幅
   が、所定数の他の符号化素子の幅とは異なることを特徴
   とする請求項１又は請求項２記載の光学式アブソリュー
   トエンコーダ。