JPH0836843A - 光磁気ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光磁気ディスクの記録面上の試し書き領域に
欠陥が有るか否かを確実に判定できるようにする。 【構成】 ドライブコントローラ７は、光ピックアップ
４によって光磁気ディスク１の記録面上の同一の試し書
き領域に異なる記録条件で複数回の試し書きを行ない、
信号検出部６からその各試し書きデータを再生した信号
を受け取って、その各試し書きでエラーが発生したか否
かを判断し、その結果複数回のエラーが発生したときに
は光磁気ディスク１のその試し書き領域を欠陥領域と判
定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光磁気ディスクの記
録面上に各種のデータを記録し、その記録面上に記録さ
れたデータを読み出して再生する機能を備えた光磁気デ
ィスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、各種のデータを読み出し可能に記
録する光磁気ディスク装置が多用されているが、その光
磁気ディスク装置に用いる記録媒体である光磁気ディス
クの記録面上には、スパイラル状のトラックが形成され
ている。そのトラックはラウンド部とグルーブ部とから
なり、ラウンド部とグルーブ部とを合わせた幅は１．３
９〜１．６０μｍ程度の大きさを持つ。

【０００３】その光磁気ディスク装置は、光磁気ディス
クを回転させながらその記録面上にレーザ光を照射し、
その記録面上のラウンド部に不連続な一定方向の磁化を
有する記録磁化領域（「記録ドメイン」と称する）を形
成することによってデータを記録し、その記録された記
録ドメインの磁化方向を読み出すことによってデータを
再生する。

【０００４】その記録ドメインは、レーザ光の熱によっ
て光磁気ディスクの光磁気記録膜のキュリー温度近傍ま
で温度上昇した領域が、外部磁界によって磁化方向を反
転することによって形成される。そのため、記録ドメイ
ンの大きさあるいは形状は、データ記録時のライトパワ
ーの大きさ，パルス幅，外部磁界強度等によって決定さ
れる。なお、パルス幅はレーザ光の発光時間であり、記
録ドメインの長さに大きく関係する。

【０００５】ところで、光磁気ディスク装置が光磁気デ
ィスクにデータを記録するとき、その記録したデータを
再生したときにエラーができるだけ少なくなるようにす
るため、予め光磁気ディスクに対してデータの試し書き
を行ない、その試し書きの結果からデータを書き込むと
きの最適なライトパワー値等の最適記録条件を決定する
ようにしているものが多い。その試し書きを行なう領域
は光磁気ディスクの内周部あるいは外周部に設けられた
テストゾーンなどを用いている。

【０００６】光磁気ディスクに対する試し書きは、ある
記録条件（例えば、ライトパワー値，パルス幅など）に
基づいてデータを記録し、その記録したデータを再生し
たときのエラーの有無によって、データ記録時の最適ラ
イトパワー値，最適パルス幅などの最適記録条件を決定
している。この最適記録条件の決定方法には種々ある
（例えば、米国特許第５１４０５８０号明細書参照）。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の光磁気ディスク装置において最適記録条件を決
定する場合、その記録条件は試し書きの結果にエラーが
有ったか否かによって決定するため、試し書きを行なう
領域に欠陥があってはならない。したがって、記録条件
を決定する前に試し書き領域に欠陥が有るか否かを判定
しなければならない。

【０００８】しかし、試し書き領域に欠陥が有るか否か
は、試し書きによるデータの記録及び再生の結果に基づ
いて判断するため、データの記録及び再生時に適切な記
録条件を用いてデータを記録し、適切な再生条件を用い
てその記録されたデータを再生しなければ、本来欠陥の
ない領域も欠陥領域と判断してしまう恐れが有る。ま
た、光磁気ディスク上のいずれの領域も欠陥領域と判断
されると、試し書きを行なえなくなり、データ記録時の
最適記録条件を決定できなくなる恐れも有るという問題
があった。

【０００９】例えば、光磁気ディスクの記録面の試し書
き領域のセクタ単位あるいは１セクタ内の数バイト単位
でライトパワー値を数段階に振って試し書きを行ない、
その試し書きの結果から最適記録条件を決定する場合、
その試し書き領域の一部に欠陥があると、その欠陥領域
に対するデータの記録及び再生結果ではエラーが発生し
てしまうことになる。

【００１０】したがって、本来そのライトパワー値では
エラーが発生しないものであっても、欠陥領域に試し書
きをしてしまったために、エラーが発生するライトパワ
ー値として認識されてしまうことになり、正しい最適ラ
イトパワー値の算出に支障をきたしてしまうという問題
があった。

【００１１】また、同一ライトパワー値でもパルス幅が
異なればエラー量も異なるので、パルス幅も最適記録条
件を決定するための因子のひとつである。そこで、光磁
気ディスクの記録面の試し書き領域のセクタ単位あるい
は１セクタ内の数バイト単位でライトパワー値を固定
し、パルス幅を数段階に振って試し書きを行ない、その
試し書きの結果から最適記録条件を決定する場合、試し
書き領域の一部に欠陥があると、その欠陥領域に対する
データの記録及び再生結果ではエラーが発生してしまう
ことになる。

【００１２】したがって、本来そのパルス幅ではエラー
が発生しないものであっても、欠陥領域に試し書きをし
てしまったために、エラーが発生するパルス幅として認
識されてしまうことになり、正しい最適パルス幅の算出
に支障をきたしてしまうという問題があった。

【００１３】さらに、同一ライトパワー値（あるいはパ
ルス幅）でも記録パターンが異なればエラー量も異なる
ので、記録パターンも最適記録条件を決定するための因
子のひとつである。そこで、光磁気ディスクの記録面の
試し書き領域のセクタ単位あるいは１セクタ内の数バイ
ト単位である記録パターンでライトパワー値を数段階に
振って試し書きを行ない、その試し書きの結果から最適
記録条件を決定する場合、試し書き領域の一部に欠陥が
あると、その欠陥領域に対するデータの記録及び再生結
果ではエラーが発生してしまうことになる。

【００１４】したがって、本来そのライトパワー値（あ
るいはパルス幅）がデータ記録時に使用可能なものであ
っても、欠陥領域に試し書きをしてしまったために、デ
ータ記録時に不適当なライトパワー値（あるいはパルス
幅）として認識されてしまうことになり、正しい最適ラ
イトパワー値（あるいは最適パルス幅）の算出に支障を
きたしてしまうという問題があった。

【００１５】また、同一の記録パターン，ライトパワー
値（あるいはパルス幅）でもクロック周波数が異なれば
エラー量も異なるので、データ記録時のクロック周波数
も最適記録条件を決定するための因子のひとつである。

【００１６】すなわち、光磁気ディスクの記録面の試し
書き領域のセクタ単位あるいは１セクタ内の数バイト単
位であるクロック周波数でライトパワー値（あるいはパ
ルス幅）を数段階に振って試し書きを行ない、その試し
書きの結果から最適記録条件を決定する場合、試し書き
領域の一部に欠陥があると、その欠陥領域に対するデー
タの記録及び再生結果ではエラーが発生してしまうこと
になる。

【００１７】したがって、本来そのライトパワー値（あ
るいはパルス幅）がデータ記録時に使用可能なものであ
っても、欠陥領域に試し書きをしてしまったために、デ
ータ記録が不能なライトパワー値（あるいはパルス幅）
として認識されてしまうことになり、正しい最適ライト
パワー値（あるいは最適パルス幅）の算出に支障をきた
してしまうという問題があった。

【００１８】さらに、同一の記録パターン，クロック周
波数，ライトパワー値（あるいはパルス幅）でも外部磁
気強度が異なればエラー量も異なるので、データ記録時
の外部磁界強度も最適記録条件を決定するための因子の
ひとつである。

【００１９】すなわち、光磁気ディスクの記録面の試し
書き領域のセクタ単位あるいは１セクタ内の数バイト単
位である外部磁界強度でライトパワー値（あるいはパル
ス幅）を数段階に振って試し書きを行ない、その試し書
きの結果から最適記録条件を決定する場合、試し書き領
域の一部に欠陥があると、その欠陥領域に対するデータ
の記録及び再生結果ではエラーが発生してしまうことに
なる。

【００２０】したがって、本来その外部磁界強度及びラ
イトパワー値（あるいはパルス幅）がデータ記録時に使
用可能なものであっても、欠陥領域に試し書きをしてし
まったために、エラーが発生してしまうデータ記録が不
能な外部磁界強度及びライトパワー値（あるいはパルス
幅）として認識されてしまうことになり、正しい最適外
部磁界強度及び最適ライトパワー値（あるいは最適パル
ス幅）の算出に支障をきたしてしまうという問題があっ
た。

【００２１】さらにまた、同一の記録パターン，クロッ
ク周波数，ライトパワー値（あるいはパルス幅），外部
磁界強度でもリードパワー値が異なればエラー量も異な
るので、データ再生時のリードパワー値も最適記録条件
を決定するための因子のひとつである。

【００２２】すなわち、光磁気ディスクの記録面の試し
書き領域のセクタ単位あるいは１セクタ内の数バイト単
位でデータ再生条件を数段階に振って試し書きを行な
い、その試し書きの結果から最適再生条件を決定する場
合、試し書き領域に欠陥があると、その欠陥領域に対す
るデータの再生ではエラーが発生してしまうことにな
る。

【００２３】この発明は上記の点に鑑みてなされたもの
であり、光磁気ディスクの記録面上の試し書き領域に欠
陥が有るか否かを確実に判定できるようにすることを目
的とする。

【００２４】

【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するため、光磁気ディスクの記録面にデータを記録
する手段と、その記録面に記録されたデータを再生する
手段を備えた光磁気ディスク装置において、上記光磁気
ディスクの記録面上の同一の試し書き領域に異なる記録
条件で複数回の試し書きを行なう手段と、その手段によ
る各試し書きでエラーが発生したか否かを判断する手段
と、その手段の判断によって複数回のエラーが発生した
ときに上記試し書き領域を欠陥領域と判定する手段を設
けたものである。

【００２５】また、上記記録条件をライトパワーにする
とよい。さらに、上記記録条件をパルス幅にするとよ
い。また、上記記録条件を記録パターンにするとよい。
さらに、上記記録条件をクロック周波数にするとよい。
また、上記記録条件を外部磁界強度にするとよい。

【００２６】さらにまた、光磁気ディスクの記録面にデ
ータを記録する手段と、該記録面に記録されたデータを
再生する手段を備えた光磁気ディスク装置において、上
記光磁気ディスクの記録面上の同一の試し書き領域に試
し書きされたデータを異なるリードパワーで複数回読み
取り再生を行なう手段と、その手段による読み取り再生
でエラーが発生したか否かを判断する手段と、その手段
の判断によって複数回のエラーが発生したときに上記試
し書き領域を欠陥領域と判定する手段を設けるようにす
るとよい。

【００２７】

【作用】この発明による光磁気ディスク装置は、光磁気
ディスクの記録面上の同一の試し書き領域に異なる記録
条件で複数回の試し書きを行なって、その各試し書きで
エラーが発生したか否かを判断し、その判断によって複
数回のエラーが発生したときに試し書き領域を欠陥領域
と判定するので、再生信号特性が良い記録条件では正常
な領域にエラーが発生せず、試し書きのときの記録条件
が最適でなかったために欠陥領域として判定してしまう
ことを防止することができ、光磁気ディスクの記録面上
の試し書き領域に欠陥が有るか否かを正確に判定するこ
とができる。

【００２８】したがって、光磁気ディスクの記録面上の
欠陥の有る試し書き領域を使用しないようにすることが
でき、またその欠陥の有る試し書き領域に対する試し書
きの結果のデータを最適記録条件の計算に使用しないよ
うにすることができ、正常な試し書き領域に試し書きを
行なってデータ記録時の最適記録条件を正しく決定する
ことができる。

【００２９】また、光磁気ディスクの記録面上の同一の
試し書き領域に異なるライトパワーで複数回の試し書き
を行ない、その各試し書きでエラーが発生したか否かを
判断し、その判断によって複数回のエラーが発生したと
きに試し書き領域を欠陥領域と判定するようにすれば、
再生信号特性が良いライトパワーでは正常な領域にエラ
ーが発生せず、試し書きのときのライトパワーが最適で
なかったために欠陥領域として判定してしまうことを防
止することができ、光磁気ディスクの記録面上の試し書
き領域に欠陥が有るか否かを正確に判定することができ
る。

【００３０】したがって、光磁気ディスクの記録面上の
欠陥の有る試し書き領域を使用しないようにすることが
でき、またその欠陥の有る試し書き領域に対する試し書
きの結果のデータを最適ライトパワー値の計算に使用し
ないようにすることができ、正常な試し書き領域に試し
書きを行なってデータ記録時の最適ライトパワー値を正
しく決定することができる。

【００３１】さらに、光磁気ディスクの記録面上の同一
の試し書き領域に異なるパルス幅で複数回の試し書きを
行ない、その各試し書きでエラーが発生したか否かを判
断し、その判断によって複数回のエラーが発生したとき
に試し書き領域を欠陥領域と判定するようにすれば、再
生信号特性が良いパルス幅では正常な領域にエラーが発
生せず、試し書きのときのパルス幅が最適でなかったた
めに欠陥領域として判定してしまうことを防止すること
ができ、光磁気ディスクの記録面上の試し書き領域に欠
陥が有るか否かを正確に判定することができる。

【００３２】したがって、光磁気ディスクの記録面上の
欠陥の有る試し書き領域を使用しないようにすることが
でき、またその欠陥の有る試し書き領域に対する試し書
きの結果のデータを最適パルス幅の計算に使用しないよ
うにすることができ、正常な試し書き領域に試し書きを
行なってデータ記録時の最適パルス幅を正しく決定する
ことができる。

【００３３】また、光磁気ディスクの記録面上の同一の
試し書き領域に異なる記録パターンで複数回の試し書き
を行ない、その各試し書きでエラーが発生したか否かを
判断し、その判断によって複数回のエラーが発生したと
きに試し書き領域を欠陥領域と判定するようにすれば、
再生信号特性が良い記録パターンでは正常な領域にエラ
ーが発生せず、試し書きのときの記録パターンが最適で
なかったために欠陥領域として判定してしまうことを防
止することができ、光磁気ディスクの記録面上の試し書
き領域に欠陥が有るか否かを正確に判定することができ
る。

【００３４】したがって、光磁気ディスクの記録面上の
欠陥の有る試し書き領域を使用しないようにすることが
でき、またその欠陥の有る試し書き領域に対する試し書
きの結果のデータを最適ライトパワー値（あるいは最適
パルス幅）の計算に使用しないようにすることができ、
正常な試し書き領域に試し書きを行なってデータ記録時
の最適ライトパワー値（あるいは最適パルス幅）を正し
く決定することができる。

【００３５】さらに、光磁気ディスクの記録面上の同一
の試し書き領域に異なるクロック周波数で複数回の試し
書きを行ない、その各試し書きでエラーが発生したか否
かを判断し、その判断によって複数回のエラーが発生し
たときに試し書き領域を欠陥領域と判定するようにすれ
ば、再生信号特性が良いクロック周波数では正常な領域
にエラーが発生せず、試し書きのときのクロック周波数
が最適でなかったために欠陥領域として判定してしまう
ことを防止することができ、光磁気ディスクの記録面上
の試し書き領域に欠陥が有るか否かを正確に判定するこ
とができる。

【００３６】したがって、光磁気ディスクの記録面上の
欠陥の有る試し書き領域を使用しないようにすることが
でき、またその欠陥の有る試し書き領域に対する試し書
きの結果のデータを最適ライトパワー値（あるいは最適
パルス幅）の計算に使用しないようにすることができ、
正常な試し書き領域に試し書きを行なってデータ記録時
の最適ライトパワー値（あるいは最適パルス幅）を正し
く決定することができる。

【００３７】また、光磁気ディスクの記録面上の同一の
試し書き領域に異なる外部磁界強度で複数回の試し書き
を行ない、その各試し書きでエラーが発生したか否かを
判断し、その判断によって複数回のエラーが発生したと
きに試し書き領域を欠陥領域と判定するようにすれば、
再生信号特性が良い外部磁界強度では正常な領域にエラ
ーが発生せず、試し書きのときの外部磁界強度が最適で
なかったために欠陥領域として判定してしまうことを防
止することができ、光磁気ディスクの記録面上の試し書
き領域に欠陥が有るか否かを正確に判定することができ
る。

【００３８】したがって、光磁気ディスクの記録面上の
欠陥の有る試し書き領域を使用しないようにすることが
でき、またその欠陥の有る試し書き領域に対する試し書
きの結果のデータを最適外部磁界強度及び最適ライトパ
ワー値（あるいは最適パルス幅）の計算に使用しないよ
うにすることができ、正常な試し書き領域に試し書きを
行なってデータ記録時の最適外部磁界強度及び最適ライ
トパワー値（あるいは最適パルス幅）を正しく決定する
ことができる。

【００３９】さらにまた、光磁気ディスクの記録面上の
同一の試し書き領域に試し書きされたデータを異なるリ
ードパワーで複数回読み取り再生を行ない、その読み取
り再生でエラーが発生したか否かを判断し、その判断に
よって複数回のエラーが発生したときに試し書き領域を
欠陥領域と判定するようにすれば、再生信号特性が良い
リードパワーでは正常な領域にエラーが発生せず、試し
書きのときのリードパワーが最適でなかったために欠陥
領域として判定してしまうことを防止することができ、
光磁気ディスクの記録面上の試し書き領域に欠陥が有る
か否かを正確に判定することができる。

【００４０】したがって、光磁気ディスクの記録面上の
欠陥の有る試し書き領域を使用しないようにすることが
でき、またその欠陥の有る試し書き領域に対する試し書
きの結果のデータを最適外部磁界強度及び最適ライトパ
ワー値（あるいは最適パルス幅）の計算に使用しないよ
うにすることができ、正常な試し書き領域に試し書きを
行なってデータ記録時の最適外部磁界強度及び最適ライ
トパワー値（あるいは最適パルス幅）を正しく決定する
ことができる。

【００４１】

【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて具
体的に説明する。図１はこの発明の一実施例の光磁気デ
ィスク装置の構成を示すブロック図である。この光磁気
ディスク装置は、スパイラル状のラウンド部とグルーブ
部からなるトラックが形成されている各種データを記録
する情報記録媒体である光磁気ディスク１を回転させる
モータ２を備えている。

【００４２】また、そのモータ２の回転数を制御する回
転制御系３と、光磁気ディスク１の記録面に半導体レー
ザを照射する光ピックアップ４と、光ピックアップ４を
光磁気ディスク１の半径方向に移動させるアクチュエー
タ制御系５と、光ピックアップ４からの信号を検出する
信号検出部６も備えている。

【００４３】さらに、ＣＰＵを内蔵してこの光磁気ディ
スク装置全体の制御を司ると共に、この発明による光磁
気ディスク１の試し書き領域の欠陥の有無を判定する処
理や試し書きによるデータ記録時の最適記録条件を決定
する処理等を行なうドライブコントローラ７を備えてい
る。

【００４４】さらにまた、ドライブコントローラ７が各
種の処理を行なうときに使用する記憶エリアであるＲＯ
Ｍ，及びＲＡＭ等のメモリ８と、ドライブコントローラ
７から送られる最適パルス幅，最適ライトパワー等の最
適記録条件によって光ピックアップ４の半導体レーザ
（レーザ光）の照射を制御するレーザ駆動回路９も備え
ている。

【００４５】したがって、上記光ピックアップ４，アク
チュエータ制御系５，レーザ駆動回路９，及びドライブ
コントローラ７は、光磁気ディスク１の記録面にデータ
を記録する手段に相当する。また、上記光ピックアップ
４，アクチュエータ制御系５，信号検出部６，レーザ駆
動回路９，及びドライブコントローラ７は、光磁気ディ
スク１の記録面に記録されたデータを再生する手段に相
当する。

【００４６】また、上記ドライブコントローラ７が、光
磁気ディスク１の記録面上の同一の試し書き領域に異な
る記録条件で複数回の試し書きを行なう手段と、その各
試し書きでエラーが発生したか否かを判断する手段と、
その判断によって複数回のエラーが発生したときに上記
試し書き領域を欠陥領域と判定する手段の各機能を果た
す。

【００４７】この光磁気ディスク装置は、光磁気ディス
ク１に情報を記録する際、ドライブコントローラ７の指
示によって回転制御系３がモータ２を回転駆動させて光
磁気ディスク１を回転させると、まずアクチュエータ制
御系５に指示を送って光ピックアップ４を移動させて光
磁気ディスク１のコントロールトラックにレーザ光を照
射し、その反射光に対応する信号を信号検出部６によっ
て検出してドライブコントローラ７へ送る。

【００４８】するとドライブコントローラ７は、その信
号に応じた最適パルス幅又は最適記録パワーをアクチュ
エータ制御系５に送って光ピックアップ４を移動させな
がら、ドライブコントローラ７で設定した最適パルス
幅，最適ライトパワー等の最適記録条件によってレーザ
駆動回路９が光磁気ディスク１の記録面にレーザ光を照
射して各種の情報を記録する。

【００４９】さらに、この光磁気ディスク装置は、光磁
気ディスク１に記録されている情報を再生する際、ドラ
イブコントローラ７からの再生出力値でレーザ駆動回路
９が光ピックアップ４からレーザ光を照射し、その反射
光に応じた信号を信号検出部６が検出してドライブコン
トローラ７へ送って各種の情報を再生する。

【００５０】次に、この光磁気ディスク装置における光
磁気ディスク１の記録面上の試し書き領域に欠陥がある
か否かを判定する処理について説明する。この処理で
は、ドライブコントローラ７の制御処理に基づいて、光
磁気ディスク１の記録面上の同一の試し書き領域に異な
る記録条件（ライトパワー，パルス幅，記録パターン，
クロック周波数，及び外部磁界強度など）で複数回の試
し書きを行ない、その各試し書きでエラーが発生したか
否かを判断して、複数回のエラーが発生したときにその
試し書き領域を欠陥領域と判定する。

【００５１】光磁気ディスク１の記録面上の試し書き領
域は、光磁気ディスク１の内外周のテストゾーンの一部
領域，各バンドのバッファゾーン，あるいは未使用のデ
ータゾーン等のエリアを用いるとよい。

【００５２】図２は、この光磁気ディスク装置における
光磁気ディスク１の記録面上の試し書き領域に欠陥があ
るか否かを判定する処理を示すフローチャートである。
この処理は、ステップ（図中「Ｓ」で示す）１で初期記
録条件を設定し、ステップ２へ進んでその初期記録条件
によって試し書き領域にデータの試し書きを行ない、ス
テップ３でその試し書きされたデータを再生して、ステ
ップ４へ進んでエラーが発生したか否かを判断する。

【００５３】ステップ４の判断でエラーが発生しなけれ
ばそのままステップ６へ進むが、エラーが発生したら、
ステップ５へ進んでエラー発生回数「１」をカウントし
て、ステップ６へ進む。ステップ６では同一試し書き領
域に対して予め決められた所定回数の試し書きを終了し
たか否かを判断して、終了しなければステップ９へ進ん
で記録条件を変更し、ステップ２へ戻ってその変更され
た記録条件で同じ試し書き領域に試し書きを行なってス
テップ３〜ステップ６の処理を行ない、ステップ６で終
了と判断されるまで同様の処理を繰り返す。

【００５４】ステップ６で所定回数の試し書きが終了し
たと判断したら、ステップ７へ進んで上述の処理で試し
書きをした試し書き領域についてカウントしたエラー発
生回数が複数回であるか否かを判断して、複数回でなけ
ればステップ１０へ進んでその試し書き領域を正常領域
と判定し、複数回ならステップ８へ進んでその試し書き
領域を欠陥領域と判定して、この処理を終了する。

【００５５】そして、上記の処理によって試し書き領域
が欠陥領域であった場合、他の試し書き領域に上述の処
理を行なって欠陥があるか否かを判定する。そして、正
常な領域として判定されたら、その試し書き領域に試し
書きを行なってデータ記録時の最適記録条件を計算して
決定する。

【００５６】このようにして、この光磁気ディスク装置
は、光磁気ディスクの記録面上の同じ試し書き領域に対
して異なる記録条件で複数回の試し書きを行ない、その
試し書きの結果複数のエラーが発生したとき、その試し
書き領域に欠陥があるものと判定するので、試し書きの
ときの記録条件が最適でなかったために欠陥領域として
判定してしまうことを防止することができ、光磁気ディ
スクの記録面上の試し書き領域に欠陥が有るか否かを正
確に判定することができる。

【００５７】なお、上述の処理では、試し書き領域が正
常なときにその領域に新ためて試し書きを行なうことに
なるが、欠陥の有無を判定する際に行なった試し書きの
結果をデータ記録時の最適記録条件の計算に使用しても
良い。このようにすれば、最適記録条件をより短時間で
決定することができる。

【００５８】また、同じ試し書き領域に対して所定回数
の全ての試し書きでエラーが発生したときに、その試し
書き領域に欠陥があるものと判定するようにすれば、欠
陥の有無をより精密に判定することができる。さらに、
上記記録条件にはライトパワー，パルス幅，記録パター
ン，クロック周波数，外部磁界強度等があるが、試し書
きのときにいずれか１つの条件を変更するようにしても
よいし、複数個を組み合わせて変更するようにしてもよ
い。

【００５９】次に、この光磁気ディスク装置においてラ
イトパワーを変更する試し書きによって試し書き領域に
欠陥があるか否かを判定する処理について説明する。こ
の処理のとき、他の条件は固定している。

【００６０】この場合の光磁気ディスク装置のドライブ
コントローラ７は、光磁気ディスク１の記録面上の同一
の試し書き領域に異なるライトパワーで複数回の試し書
きを行なう手段と、その各試し書きでエラーが発生した
か否かを判断する手段と、その判断によって複数回のエ
ラーが発生したときに上記試し書き領域を欠陥領域と判
定する手段の各機能を果たす。

【００６１】そして、ドライブコントローラ７の制御処
理に基づいて、光磁気ディスク１の記録面上の同一の試
し書き領域に異なるライトパワーで複数回の試し書きを
行ない、その各試し書きでエラーが発生したか否かを判
断して、複数回のエラーが発生したときにその試し書き
領域を欠陥領域と判定する。

【００６２】図３は、ライトパワーを変更する試し書き
によって試し書き領域に欠陥があるか否かを判定する処
理を示すフローチャートである。この処理は、ステップ
（図中「Ｓ」で示す）１１で初期ライトパワーを設定
し、ステップ１２へ進んでその初期ライトパワーによっ
て試し書き領域にデータの試し書きを行ない、ステップ
１３でその試し書きされたデータを再生して、ステップ
１４へ進んでエラーが発生したか否かを判断する。

【００６３】ステップ１４の判断でエラーが発生しなけ
ればそのままステップ１６へ進むが、エラーが発生した
ら、ステップ１５へ進んでエラー発生回数「１」をカウ
ントして、ステップ１６へ進む。

【００６４】ステップ１６では同一試し書き領域に対し
て予め決められた所定回数の試し書きを終了したか否か
を判断して、終了しなければステップ１９へ進んでライ
トパワーを変更し、ステップ１２へ戻ってその変更され
たライトパワーで同じ試し書き領域に試し書きを行なっ
てステップ１３〜ステップ１６の処理を行ない、ステッ
プ１６で終了と判断されるまで同様の処理を繰り返す。

【００６５】ステップ１６で所定回数の試し書きが終了
したと判断したら、ステップ１７へ進んで上述の処理で
試し書きをした試し書き領域についてカウントしたエラ
ー発生回数が複数回であるか否かを判断して、複数回で
なければステップ２０へ進んでその試し書き領域を正常
領域と判定し、複数回ならステップ１８へ進んでその試
し書き領域を欠陥領域と判定して、この処理を終了す
る。

【００６６】そして、上記の処理によって試し書き領域
が欠陥領域であった場合、他の試し書き領域に上述の処
理を行なって欠陥があるか否かを判定する。そして、正
常な領域として判定されたら、その試し書き領域に試し
書きを行なってデータ記録時の最適記録条件を計算して
決定する。

【００６７】このようにして、光磁気ディスクの記録面
上の同じ試し書き領域に対して異なるライトパワーで複
数回の試し書きを行ない、その試し書きの結果複数のエ
ラーが発生したとき、その試し書き領域に欠陥があるも
のと判定するので、試し書きのときのライトパワーが最
適でなかったために欠陥領域として判定してしまうこと
を防止することができ、光磁気ディスクの記録面上の試
し書き領域に欠陥が有るか否かを正確に判定することが
できる。

【００６８】つまり、光磁気ディスクに対するデータ記
録時に先立つ試し書きにおいて、複数のライトパワーを
用いて試し書き領域の欠陥の有無を確認するので、本来
の欠陥であるか否かを確実に確認することができる。

【００６９】次に、２３０ＭＢ，９０ｍｍの光磁気ディ
スクを１８００ｒｐｍで使用するときの上述の処理を具
体的に説明する。図４は、光磁気ディスクの記録面上の
試し書き領域に試し書きをしたときのライトパワー値と
エラー発生数の関係の一例を示す線図である。同図で明
らかなように、試し書き時のライトパワー値が５．２
［ｍＷ］以上７．８［ｍＷ］以下の範囲では、１セクタ
のエラー発生数がゼロであるが、ライトパワー値が５．
３［ｍＷ］より小さく７．８［ｍＷ］より大きい範囲で
はエラーが発生する。

【００７０】例えば、図４のデータ例では、ライトパワ
ー値を６．０［ｍＷ］とした場合にはエラーは発生しな
いが、５．０［ｍＷ］とした場合にはエラーが発生す
る。もし、５．０［ｍＷ］のみを用いて試し書き領域に
試し書きを行ない、その試し書き領域に欠陥が有るか否
かを判定した場合、その試し書き領域の欠陥の有無にか
かわらず、常にエラーが発生してしまうので、試し書き
領域としては不適当な欠陥領域として判定されてしま
う。

【００７１】そこで、試し書き時に最初に設定したライ
トパワー値でエラーが発生した場合には他の異なるライ
トパワー値を用いて再度試し書きを行ない、エラーか発
生するか否かを調べる。

【００７２】例えば、試し書き領域に対して、最初にラ
イトパワー値を６．０［ｍＷ］で試し書きを行なう。そ
の結果エラーが発生したら、次にライトパワー値を６．
５［ｍＷ］に変更して同じ試し書き領域に試し書きを行
なう。その結果、再びエラーが発生したら、さらにライ
トパワー値を５．５［ｍＷ］に変えて再度同じ試し書き
領域に試し書きを行ない、エラーが発生するか否かを調
べる。そして、その結果再びエラーが発生したら、この
試し書き領域に欠陥があるものと判定する。

【００７３】このように、同一の試し書き領域に対して
ライトパワー値を大小交互に変えて複数回の試し書きを
行ない、そのときのエラー発生の有無を測定し、複数の
ライトパワー値でエラーが発生したときには欠陥領域と
判定すれば、偏った範囲のライトパワー値を用いて試し
書きを行なわずに済み、欠陥の有無の判定のためのデー
タを満遍なく得ることができる。

【００７４】なお、ライトパワー値を０．５［ｍＷ］程
度の幅で変更するようにすれば、欠陥の有無を判断する
ためのデータを得るために充分であるが、これに限定さ
れない。また、試し書き領域に欠陥があるか否かを確認
する際、ライトパワー値の上限値及び下限値をそれぞれ
９［ｍＷ］程度と３［ｍＷ］程度とし、その値を越える
かあるいは下回るときに試し書きを終了するようにすれ
ば良い。

【００７５】その時、まだエラーがある場合、試し書き
領域に欠陥があると判定するようにすれば、より正確に
欠陥の有無を確認することができる。そして、他の試し
書き領域に対して再度欠陥の有無を判定して、欠陥の無
い試し書き領域を探し出し、データ記録時の最適記録条
件決定のための試し書き領域に用いる。

【００７６】次に、この光磁気ディスク装置においてパ
ルス幅を変更する試し書きによって試し書き領域に欠陥
が有るか否かを判定する処理について説明する。このと
き、ライトパワー値などの他の条件は固定している。

【００７７】この場合の光磁気ディスク装置のドライブ
コントローラ７は、光磁気ディスク１の記録面上の同一
の試し書き領域に異なるパルス幅で複数回の試し書きを
行なう手段と、その各試し書きでエラーが発生したか否
かを判断する手段と、その判断によって複数回のエラー
が発生したときに上記試し書き領域を欠陥領域と判定す
る手段の各機能を果たす。

【００７８】そして、ドライブコントローラ７の制御処
理に基づいて、光磁気ディスク１の記録面上の同一の試
し書き領域に異なるパルス幅で複数回の試し書きを行な
い、その各試し書きでエラーが発生したか否かを判断し
て、複数回のエラーが発生したときにその試し書き領域
を欠陥領域と判定する。

【００７９】図５は、パルス幅を変更する試し書きによ
って試し書き領域に欠陥があるか否かを判定する処理を
示すフローチャートである。この処理は、ステップ（図
中「Ｓ」で示す）２１で初期パルス幅を設定し、ステッ
プ２２へ進んでその初期パルス幅によって試し書き領域
にデータの試し書きを行ない、ステップ２３でその試し
書きされたデータを再生して、ステップ２４へ進んでエ
ラーが発生したか否かを判断する。

【００８０】ステップ２４の判断でエラーが発生しなけ
ればそのままステップ２６へ進むが、エラーが発生した
ら、ステップ２５へ進んでエラー発生回数「１」をカウ
ントして、ステップ２６へ進む。

【００８１】ステップ２６では同一試し書き領域に対し
て予め決められた所定回数の試し書きを終了したか否か
を判断して、終了しなければステップ２９へ進んでパル
ス幅を変更し、ステップ２２へ戻ってその変更されたパ
ルス幅で同じ試し書き領域に試し書きを行なってステッ
プ２３〜ステップ２６の処理を行ない、ステップ２６で
終了と判断されるまで同様の処理を繰り返す。

【００８２】ステップ２６で所定回数の試し書きが終了
したと判断したら、ステップ２７へ進んで上述の処理で
試し書きをした試し書き領域についてカウントしたエラ
ー発生回数が複数回であるか否かを判断して、複数回で
なければステップ３０へ進んでその試し書き領域を正常
領域と判定し、複数回ならステップ２８へ進んでその試
し書き領域を欠陥領域と判定して、この処理を終了す
る。

【００８３】そして、上記の処理によって試し書き領域
が欠陥領域であった場合、他の試し書き領域に上述の処
理を行なって欠陥があるか否かを判定する。そして、正
常な領域として判定されたら、その試し書き領域に試し
書きを行なってデータ記録時の最適記録条件を計算して
決定する。

【００８４】このようにして、光磁気ディスクの記録面
上の同じ試し書き領域に対して異なるパルス幅で複数回
の試し書きを行ない、その試し書きの結果複数のエラー
が発生したとき、その試し書き領域に欠陥があるものと
判定するので、試し書きのときのパルス幅が最適でなか
ったために欠陥領域として判定してしまうことを防止す
ることができ、光磁気ディスクの記録面上の試し書き領
域に欠陥が有るか否かを正確に判定することができる。

【００８５】つまり、光磁気ディスクに対するデータ記
録時に先立つ試し書きにおいて、複数のパルス幅を用い
て試し書き領域の欠陥の有無を確認するので、本来の欠
陥であるか否かを確実に確認することができる。

【００８６】次に、２３０ＭＢ，９０ｍｍの光磁気ディ
スクを１８００ｒｐｍで使用するときの上述の処理を具
体的に説明する。図６は、光磁気ディスクの記録面上の
試し書き領域に試し書きをしたときのパルス幅とエラー
発生数の関係の一例を示す線図である。同図で明らかな
ように、試し書き時のパルス幅が４０［ｎｓ］以上９５
［ｎｓ］以下の範囲では、１セクタのエラー発生数がゼ
ロであるが、パルス幅が４０［ｎｓ］より小さく９５
［ｎｓ］より大きい範囲ではエラーが発生する。

【００８７】さらに、試し書きを行なうときのパルス幅
とエラー数との間には相関関係があることが知られてい
る。すなわち、高いライトパワー値を用いる場合、パル
ス幅を短くする必要が有り、また、低いライトパワー値
を用いる場合、パルス幅を長くする必要がある。したが
って、試し書き時はライトパワー値に合わせてパルス幅
を設定する。また、パルス幅に合わせてライトパワー値
を設定しても良い

【００８８】例えば、最初にライトパワー値を６．０
［ｍＷ］，パルス幅を５７［ｎｓ］で試し書き領域に試
し書きを行なってエラーが発生した場合、次に、パルス
幅を６２［ｎｓ］に変更して再度同じ試し書き領域に試
し書きを行なう。その結果再びエラーが発生した場合、
さらにパルス幅を５２［ｎｓ］に変更して同じ試し書き
領域に再度試し書きを行ない、エラーが発生するか否か
を調べる。そして、その結果再びエラーが発生したら、
この試し書き領域に欠陥があるものと判定する。

【００８９】このように、同一の試し書き領域に対して
パルス幅を大小交互に変えて複数回の試し書きを行な
い、そのときのエラー発生の有無を測定し、複数のパル
ス幅でエラーが発生したときには欠陥領域と判定すれ
ば、偏った範囲のパルス幅を用いて試し書きを行なわず
に済み、欠陥の有無の判定のためのデータを満遍なく得
ることができる。

【００９０】なお、パルス幅を５［ｎｓ］程度の幅で変
更するようにすれば、欠陥の有無を判断するためのデー
タを得るために充分であるが、これに限定されない。ま
た、試し書き領域に欠陥があるか否かを確認する際、パ
ルス幅の上限値及び下限値をそれぞれデューティ５０％
程度と１０％程度とし、その値を越えるかあるいは下回
るときに試し書きを終了するようにする。この上限値及
び下限値はそれぞれデューティ５０％程度と１０％程度
が最適であるが、その値に限定されない。

【００９１】その時、まだエラーがある場合、試し書き
領域に欠陥があると判定するようにすれば、より正確に
欠陥の有無を確認することができる。そして、他の試し
書き領域に対して再度欠陥の有無を判定して、欠陥の無
い試し書き領域を探し出し、データ記録時の最適記録条
件決定のための試し書き領域に用いる。

【００９２】図７はデューティの説明図である。このデ
ューティとは、最低記録ドメイン間隔に対する記録ドメ
インの長さの割合である。つまり、記録ドメインの長さ
をＬａとし、最低記録ドメイン間隔をＬｂとすると、デ
ューティ＝Ｌａ／Ｌｂで表すことができる。

【００９３】次に、この光磁気ディスク装置において記
録パターンを変更する試し書きによって試し書き領域に
欠陥が有るか否かを判定する処理について説明する。こ
の処理のとき、他の条件は固定している。この場合の光
磁気ディスク装置のドライブコントローラ７は、光磁気
ディスク１の記録面上の同一の試し書き領域に異なる記
録パターンで複数回の試し書きを行なう手段と、その各
試し書きでエラーが発生したか否かを判断する手段と、
その判断によって複数回のエラーが発生したときに上記
試し書き領域を欠陥領域と判定する手段の各機能を果た
す。

【００９４】そして、ドライブコントローラ７の制御処
理に基づいて、光磁気ディスク１の記録面上の同一の試
し書き領域に異なる記録パターンで複数回の試し書きを
行ない、その各試し書きでエラーが発生したか否かを判
断して、複数回のエラーが発生したときにその試し書き
領域を欠陥領域と判定する。

【００９５】図８は、記録パターンを変更する試し書き
によって試し書き領域に欠陥があるか否かを判定する処
理を示すフローチャートである。この処理は、ステップ
（図中「Ｓ」で示す）３１で初期記録パターンを設定
し、ステップ３２へ進んでその初期記録パターンによっ
て試し書き領域にデータの試し書きを行ない、ステップ
３３でその試し書きされたデータを再生して、ステップ
３４へ進んでエラーが発生したか否かを判断する。

【００９６】ステップ３４の判断でエラーが発生しなけ
ればそのままステップ３６へ進むが、エラーが発生した
ら、ステップ３５へ進んでエラー発生回数「１」をカウ
ントして、ステップ３６へ進む。

【００９７】ステップ３６では同一試し書き領域に対し
て予め決められた所定回数の試し書きを終了したか否か
を判断して、終了しなければステップ３９へ進んで記録
パターンを変更し、ステップ３２へ戻ってその変更され
た記録パターンで同じ試し書き領域に試し書きを行なっ
てステップ３３〜ステップ３６の処理を行ない、ステッ
プ３６で終了と判断されるまで同様の処理を繰り返す。

【００９８】ステップ３６で所定回数の試し書きが終了
したと判断したら、ステップ３７へ進んで上述の処理で
試し書きをした試し書き領域についてカウントしたエラ
ー発生回数が複数回であるか否かを判断して、複数回で
なければステップ４０へ進んでその試し書き領域を正常
領域と判定し、複数回ならステップ３８へ進んでその試
し書き領域を欠陥領域と判定して、この処理を終了す
る。

【００９９】そして、上記の処理によって試し書き領域
が欠陥領域であった場合、他の試し書き領域に上述の処
理を行なって欠陥があるか否かを判定する。そして、正
常な領域として判定されたら、その試し書き領域に試し
書きを行なってデータ記録時の最適記録条件を計算して
決定する。

【０１００】このようにして、光磁気ディスクの記録面
上の同じ試し書き領域に対して異なる記録パターンで複
数回の試し書きを行ない、その試し書きの結果複数のエ
ラーが発生したとき、その試し書き領域に欠陥があるも
のと判定するので、試し書きのときの記録パターンが最
適でなかったために欠陥領域として判定してしまうこと
を防止することができ、光磁気ディスクの記録面上の試
し書き領域に欠陥が有るか否かを正確に判定することが
できる。

【０１０１】つまり、光磁気ディスクに対するデータ記
録時に先立つ試し書きにおいて、複数の記録パターンを
用いて試し書き領域の欠陥の有無を確認するので、本来
の欠陥であるか否かを確実に確認することができる。

【０１０２】次に、２３０ＭＢ，９０ｍｍの光磁気ディ
スクを１８００ｒｐｍで使用するときの上述の処理を具
体的に説明する。図９は、光磁気ディスクの記録面上の
試し書き領域に試し書きをしたときの記録パターンとエ
ラー発生数の関係の一例を示す線図である。同図で明ら
かなように、試し書き時の記録パターンが５Ｔパターン
と６Ｔパターンでは、１セクタのエラー発生数がゼロで
あるが、その他の３Ｔパターン，４Ｔパターン，７Ｔパ
ターン，８Ｔパターン，及びランダム（ＲＡＮＤＯＭ）
パターンではエラーが発生する。

【０１０３】このように、同一記録条件を使用しても記
録パターンによってエラー数が異なることが判る。一般
に、記録ドメインの間隔が大きいほどエラー数が少ない
ことが知られている。したがって、試し書き時の記録パ
ターンとしては、３Ｔパターンよりも４Ｔパターンの方
が、さらに５Ｔパターンの方がよりエラー数が少なく、
最もエラー数が少なくなるのは８Ｔパターンである。

【０１０４】しかし、記録ドメインの間隔が大きくなる
ほど最適ライトパワー値を高くする必要があるため、現
在使用しているライトパワー値において８Ｔパターンが
最もエラー数が少なくなるとは限らない。そこで、同一
試し書き領域について異なる記録パターンで試し書きを
複数回行ない、その結果に基づいて欠陥の有無を判定す
る。

【０１０５】例えば、ライトパワー値を７［ｍＷ］，パ
ルス幅を５７［ｎｓ］にして試し書きをする場合、まず
５Ｔパターンで試し書きを行なう。その結果エラーが発
生したら、次に記録パターンを４Ｔパターンに変更して
再度同一の試し書き領域に試し書きを行なう。その結果
再度エラーが発生したら、さらに記録パターンを７Ｔパ
ターンに変更して再度同一の試し書き領域に試し書きを
行ない、その結果エラーが発生したら、その試し書き領
域に欠陥があるものと判定する。

【０１０６】このように、同一の試し書き領域に対して
記録パターンを大小交互に変えて複数回の試し書きを行
ない、そのときのエラー発生の有無を測定し、複数の記
録パターンでエラーが発生したときには欠陥領域と判定
すれば、偏った範囲の記録パターンを用いて試し書きを
行なわずに済み、欠陥の有無の判定のためのデータを満
遍なく得ることができる。

【０１０７】なお、試し書き領域に欠陥があるか否かを
確認する際、記録パターンの上限値及び下限値をそれぞ
れ８Ｔパターンと３Ｔパターンとし、３Ｔあるいは８Ｔ
の記録パターンを用いて試し書きを行なってもエラーが
発生するときには試し書きを終了するようにすると良
い。記録パターンの上限値及び下限値をそれぞれ８Ｔパ
ターンと３Ｔパターンにすれば充分である。

【０１０８】その時、まだエラーがある場合、試し書き
領域に欠陥があると判定するようにすれば、より正確に
欠陥の有無を確認することができる。そして、他の試し
書き領域に対して再度欠陥の有無を判定して、欠陥の無
い試し書き領域を探し出し、データ記録時の最適記録条
件決定のための試し書き領域に用いる。

【０１０９】また、最初の記録パターンをランダムパタ
ーンなどの様々な記録ドメインの間隔が混在した記録パ
ターンにすれば、より広い範囲の記録パターンで欠陥の
有無を判定することができる。さらに、記録パターンの
変更を１回のみにしてもよいが、２回以上変更するよう
にすれば、より正確に欠陥の有無を判定することができ
る。

【０１１０】次に、この光磁気ディスク装置においてク
ロック周波数を変更する試し書きによって試し書き領域
に欠陥が有るか否かを判定する処理について説明する。
このときには、他の条件を固定している。

【０１１１】この場合の光磁気ディスク装置のドライブ
コントローラ７は、光磁気ディスク１の記録面上の同一
の試し書き領域に異なるクロック周波数で複数回の試し
書きを行なう手段と、その各試し書きでエラーが発生し
たか否かを判断する手段と、その判断によって複数回の
エラーが発生したときに上記試し書き領域を欠陥領域と
判定する手段の各機能を果たす。

【０１１２】そして、ドライブコントローラ７の制御処
理に基づいて、光磁気ディスク１の記録面上の同一の試
し書き領域に異なるクロック周波数で複数回の試し書き
を行ない、その各試し書きでエラーが発生したか否かを
判断して、複数回のエラーが発生したときにその試し書
き領域を欠陥領域と判定する。

【０１１３】図１０は、クロック周波数を変更する試し
書きによって試し書き領域に欠陥があるか否かを判定す
る処理を示すフローチャートである。この処理は、ステ
ップ（図中「Ｓ」で示す）４１で初期クロック周波数を
設定し、ステップ４２へ進んでその初期クロック周波数
によって試し書き領域にデータの試し書きを行ない、ス
テップ４３でその試し書きされたデータを再生して、ス
テップ４４へ進んでエラーが発生したか否かを判断す
る。

【０１１４】ステップ４４の判断でエラーが発生しなけ
ればそのままステップ４６へ進むが、エラーが発生した
ら、ステップ４５へ進んでエラー発生回数「１」をカウ
ントして、ステップ４６へ進む。

【０１１５】ステップ４６では同一試し書き領域に対し
て予め決められた所定回数の試し書きを終了したか否か
を判断して、終了しなければステップ４９へ進んでクロ
ック周波数を変更し、ステップ４２へ戻ってその変更さ
れたクロック周波数で同じ試し書き領域に試し書きを行
なってステップ４３〜ステップ４６の処理を行ない、ス
テップ４６で終了と判断されるまで同様の処理を繰り返
す。

【０１１６】ステップ４６で所定回数の試し書きが終了
したと判断したら、ステップ４７へ進んで上述の処理で
試し書きをした試し書き領域についてカウントしたエラ
ー発生回数が複数回であるか否かを判断して、複数回で
なければステップ５０へ進んでその試し書き領域を正常
領域と判定し、複数回ならステップ４８へ進んでその試
し書き領域を欠陥領域と判定して、この処理を終了す
る。

【０１１７】そして、上記の処理によって試し書き領域
が欠陥領域であった場合、他の試し書き領域に上述の処
理を行なって欠陥があるか否かを判定する。そして、正
常な領域として判定されたら、その試し書き領域に試し
書きを行なってデータ記録時の最適記録条件を計算して
決定する。

【０１１８】このようにして、光磁気ディスクの記録面
上の同じ試し書き領域に対して異なるクロック周波数で
複数回の試し書きを行ない、その試し書きの結果複数の
エラーが発生したとき、その試し書き領域に欠陥がある
ものと判定するので、試し書きのときのクロック周波数
が最適でなかったために欠陥領域として判定してしまう
ことを防止することができ、光磁気ディスクの記録面上
の試し書き領域に欠陥が有るか否かを正確に判定するこ
とができる。

【０１１９】つまり、光磁気ディスクに対するデータ記
録時に先立つ試し書きにおいて、複数のクロック周波数
を用いて試し書き領域の欠陥の有無を確認するので、本
来の欠陥であるか否かを確実に確認することができる。

【０１２０】次に、２３０ＭＢ，９０ｍｍの光磁気ディ
スクを１８００ｒｐｍで使用するときの上述の処理を具
体的に説明する。図１１は、光磁気ディスクの記録面上
の試し書き領域に試し書きをしたときのクロック周波数
とエラー発生数の関係の一例を示す線図である。同図で
明らかなように、試し書き時のクロック周波数が３．７
［ＭＨｚ］以上６．５［ＭＨｚ］以下の範囲では、１セ
クタのエラー発生数がゼロであるが、クロック周波数が
３．７［ＭＨｚ］より小さく６．５［ＭＨｚ］より大き
い範囲ではエラーが発生する。

【０１２１】このように、同一ライトパワー，パルス幅
を使用してもクロック周波数によってエラー数が異なる
ことが判る。一般に、クロック周波数が低い方がエラー
数が少ないことが知られている。すなわち、ライトパワ
ー値を高くする必要があるが、記録ドメインの間隔が大
きいほどエラー数が少なくなることが知られている。そ
こで、同一試し書き領域について異なるクロック周波数
で試し書きを複数回行ない、その結果に基づいて欠陥の
有無を判定する。

【０１２２】例えば、ライトパワー値を７［ｍＷ］，パ
ルス幅を５７［ｎｓ］にして試し書きをする場合、まず
実際にデータ記録に使用するクロック周波数を１０．４
４［ＭＨｚ］として試し書きを行なう。その結果エラー
が発生したら、次に低いクロック周波数の９．１９［Ｍ
Ｈｚ］に変更して再度同一の試し書き領域に試し書きを
行なう。その結果再度エラーが発生したら、さらに低い
クロック周波数に変更して再度同一の試し書き領域に試
し書きを行ない、その結果エラーが発生したら、その試
し書き領域に欠陥があるものと判定する。

【０１２３】このように、同一の試し書き領域に対して
クロック周波数を徐々に低いクロック周波数に変えて複
数回の試し書きを行ない、そのときのエラー発生の有無
を測定し、複数のクロック周波数でエラーが発生したと
きには欠陥領域と判定すれば、偏った範囲のクロック周
波数を用いて試し書きを行なわずに済み、欠陥の有無の
判定のためのデータを満遍なく得ることができる。

【０１２４】なお、試し書きに欠陥があるか否かを確認
する際、クロック周波数の変更量は−１２％程度にし、
それでクロック周波数の変更を繰り返し、最初のクロッ
ク周波数のおおよそ３６％のクロック周波数を用いて試
し書きを行なってもエラーが発生するときには試し書き
を終了するようにすれば充分である。

【０１２５】その時、まだエラーがある場合、試し書き
領域に欠陥があると判定するようにすれば、より正確に
欠陥の有無を確認することができる。そして、他の試し
書き領域に対して再度欠陥の有無を判定して、欠陥の無
い試し書き領域を探し出し、データ記録時の最適記録条
件決定のための試し書き領域に用いる。

【０１２６】クロック周波数の変更量を−１２％程度に
することの理由は、記録パターンを変更する場合、３Ｔ
パターンから４Ｔパターンへの変更は、クロック周波数
（記録周波数）では２５％減となる。したがって、記録
パターンの代わりにクロック周波数を変える場合、クロ
ック周波数はこの約半分である、２５／２％≒１２％と
したものである。

【０１２７】また、３６％にする理由は、記録パターン
を変更する場合、３Ｔパターンから８Ｔパターンではク
ロック周波数（記録周波数）で３７．５％となる。した
がって、それに基づいて３６％としたものである。

【０１２８】次に、この光磁気ディスク装置において外
部磁界強度を変更する試し書きによって試し書き領域に
欠陥があるか否かを判定する処理について説明する。こ
の処理のとき、他の条件は固定している。この場合の光
磁気ディスク装置のドライブコントローラ７は、光磁気
ディスク１の記録面上の同一の試し書き領域に異なる外
部磁界強度で複数回の試し書きを行なう手段と、その各
試し書きでエラーが発生したか否かを判断する手段と、
その判断によって複数回のエラーが発生したときに上記
試し書き領域を欠陥領域と判定する手段の各機能を果た
す。

【０１２９】そして、ドライブコントローラ７の制御処
理に基づいて、光磁気ディスク１の記録面上の同一の試
し書き領域に異なる外部磁界強度で複数回の試し書きを
行ない、その各試し書きでエラーが発生したか否かを判
断して、複数回のエラーが発生したときにその試し書き
領域を欠陥領域と判定する。このとき、ライトパワー値
などの他の条件は固定している。

【０１３０】図１２は、外部磁界強度を変更する試し書
きによって試し書き領域に欠陥があるか否かを判定する
処理を示すフローチャートである。この処理は、ステッ
プ（図中「Ｓ」で示す）５１で初期外部磁界強度を設定
し、ステップ５２へ進んでその初期外部磁界強度によっ
て試し書き領域にデータの試し書きを行ない、ステップ
５３でその試し書きされたデータを再生して、ステップ
５４へ進んでエラーが発生したか否かを判断する。

【０１３１】ステップ５４の判断でエラーが発生しなけ
ればそのままステップ５６へ進むが、エラーが発生した
ら、ステップ５５へ進んでエラー発生回数「１」をカウ
ントして、ステップ５６へ進む。

【０１３２】ステップ５６では同一試し書き領域に対し
て予め決められた所定回数の試し書きを終了したか否か
を判断して、終了しなければステップ５９へ進んで外部
磁界強度を変更し、ステップ５２へ戻ってその変更され
た外部磁界強度で同じ試し書き領域に試し書きを行なっ
てステップ５３〜ステップ５６の処理を行ない、ステッ
プ５６で終了と判断されるまで同様の処理を繰り返す。

【０１３３】ステップ５６で所定回数の試し書きが終了
したと判断したら、ステップ５７へ進んで上述の処理で
試し書きをした試し書き領域についてカウントしたエラ
ー発生回数が複数回であるか否かを判断して、複数回で
なければステップ６０へ進んでその試し書き領域を正常
領域と判定し、複数回ならステップ５８へ進んでその試
し書き領域を欠陥領域と判定して、この処理を終了す
る。

【０１３４】そして、上記の処理によって試し書き領域
が欠陥領域であった場合、他の試し書き領域に上述の処
理を行なって欠陥があるか否かを判定する。そして、正
常な領域として判定されたら、その試し書き領域に試し
書きを行なってデータ記録時の最適記録条件を計算して
決定する。

【０１３５】このようにして、光磁気ディスクの記録面
上の同じ試し書き領域に対して異なる外部磁界強度で複
数回の試し書きを行ない、その試し書きの結果複数のエ
ラーが発生したとき、その試し書き領域に欠陥があるも
のと判定するので、試し書きのときの外部磁界強度が最
適でなかったために欠陥領域として判定してしまうこと
を防止することができ、光磁気ディスクの記録面上の試
し書き領域に欠陥が有るか否かを正確に判定することが
できる。

【０１３６】つまり、光磁気ディスクに対するデータ記
録時に先立つ試し書きにおいて、複数の外部磁界強度を
用いて試し書き領域の欠陥の有無を確認するので、本来
の欠陥であるか否かを確実に確認することができる。

【０１３７】次に、２３０ＭＢ，９０ｍｍの光磁気ディ
スクを１８００ｒｐｍで使用するときの上述の処理を具
体的に説明する。図１３は、光磁気ディスクの記録面上
の試し書き領域に試し書きをしたときの外部磁界強度と
エラー発生数の関係の一例を示す線図である。同図で明
らかなように、試し書き時の外部磁界強度が１５０［Ｏ
ｅ］以上４５０［Ｏｅ］以下の範囲では、１セクタのエ
ラー発生数がゼロであるが、外部磁界強度が１５０［Ｏ
ｅ］より小さく４５０［Ｏｅ］より大きい範囲ではエラ
ーが発生する。

【０１３８】このように、同一記録条件を使用しても外
部磁界強度によってエラー数が異なることが判る。一般
に、外部磁界強度が大きいほど記録ドメインの領域は大
きくなり、外部磁界強度が小さいほど記録ドメインの領
域は小さくなることが知られている。

【０１３９】つまり、記録ドメインの間隔を大きくする
ほどエラー数が少なくなるが、そのために外部磁界強度
を小さくすると記録ドメインの領域自体が小さくなり、
適当なＭＯ信号量が得られず、エラーが発生してしま
う。したがって、外部磁界強度を適当な値にしなければ
ならない。そこで、同一試し書き領域について異なる外
部磁界強度で試し書きを複数回行ない、その結果に基づ
いて欠陥の有無を判定する。

【０１４０】例えば、外部磁界強度を３００［Ｏｅ］に
して試し書きを行なう。その結果エラーが発生したら、
次に外部磁界強度を３５０［Ｏｅ］に変更して再度試し
書きを行なう。その結果再びエラーが発生したら、さら
に外部磁界強度を２５０［Ｏｅ］に変更して再度同一の
試し書き領域に試し書きを行ない、その結果エラーが発
生したら、その試し書き領域に欠陥があるものと判定す
る。

【０１４１】このように、同一の試し書き領域に対して
外部磁界強度を変えて複数回の試し書きを行ない、その
ときのエラー発生の有無を測定し、複数の外部磁界強度
でエラーが発生したときには欠陥領域と判定すれば、偏
った範囲の外部磁界強度を用いて試し書きを行なわずに
済み、欠陥の有無の判定のためのデータを満遍なく得る
ことができる。

【０１４２】なお、外部磁界強度を５０［Ｏｅ］程度の
幅で変更するようにすれば、欠陥の有無を判断するため
のデータを得るために充分であるが、これに限定されな
い。また、試し書き領域に欠陥があるか否かを確認する
際、外部磁界強度の上限値及び下限値をそれぞれデュー
ティ５０％程度と１０％程度とし、その値を越えるかあ
るいは下回るときに試し書きを終了するようにすれば良
い。この上限値及び下限値はそれぞれ初期値の±１００
％程度とし、その値を越えるかあるいは下回るときに試
し書きを終了するようにすれば良い。

【０１４３】その時、まだエラーがある場合、試し書き
領域に欠陥があると判定するようにすれば、より正確に
欠陥の有無を確認することができる。そして、他の試し
書き領域に対して再度欠陥の有無を判定して、欠陥の無
い試し書き領域を探し出し、データ記録時の最適記録条
件決定のための試し書き領域に用いる。

【０１４４】また、上述の実施例の光磁気ディスク装置
において、試し書き時のリードパワーを変更するように
してもよい。次に、この光磁気ディスク装置において試
し書き領域に対する試し書きのときにリードパワーを変
更して欠陥があるか否かを判定する処理について説明す
る。この処理のとき、他の条件は固定している。

【０１４５】この場合の光磁気ディスク装置のドライブ
コントローラ７は、光磁気ディスク１の記録面上の同一
の試し書き領域に試し書きされたデータを異なるリード
パワーで複数回読み取り再生を行なう手段と、その読み
取り再生でエラーが発生したか否かを判断する手段と、
その判断によって複数回のエラーが発生したときに上記
試し書き領域を欠陥領域と判定する手段の各機能を果た
す。

【０１４６】そして、ドライブコントローラ７の制御処
理に基づいて、光磁気ディスク１の記録面上の同一の試
し書き領域に試し書きされたデータを異なるリードパワ
ーで複数回読み取り再生を行ない、その読み取り再生で
エラーが発生したか否かを判断して、複数回のエラーが
発生したときにその試し書き領域を欠陥領域と判定す
る。

【０１４７】図１４は、試し書き領域に対する試し書き
のときにリードパワーを変更して欠陥があるか否かを判
定する処理を示すフローチャートである。この処理に先
だって所定の記録条件によって試し書き領域にデータを
記録する。その記録の際、記録条件を固定してもよい
し、上述の説明のように変更するようにしてもよい。

【０１４８】データの記録が終了すると、図１４に示す
ように、ステップ（図中「Ｓ」で示す）６１で初期リー
ドパワーを設定し、ステップ６２へ進んでそのリードパ
ワーで試し書き領域に記録されたデータの読み出し再生
を行ない、ステップ６３へ進んでその再生でエラーが発
生したか否かを判断する。

【０１４９】ステップ６３の判断でエラーが発生しなけ
ればそのままステップ６５へ進むが、エラーが発生した
ら、ステップ６４へ進んでエラー発生回数「１」をカウ
ントして、ステップ６５へ進む。

【０１５０】ステップ６５では同一試し書き領域に対し
て予め決められた所定回数の読み出し再生を終了したか
否かを判断して、終了しなければステップ６８へ進んで
リードパワーを変更し、ステップ６２へ戻ってその変更
されたリードパワーで同じ試し書き領域のデータを読み
出し再生してステップ６２〜ステップ６５の処理を行な
い、ステップ６５で終了と判断されるまで同様の処理を
繰り返す。

【０１５１】ステップ６５で所定回数の読み出し再生が
終了したと判断したら、ステップ６６へ進んで上述の処
理で読み出し再生した試し書き領域についてカウントし
たエラー発生回数が複数回であるか否かを判断して、複
数回でなければステップ６９へ進んでその試し書き領域
を正常領域と判定し、複数回ならステップ６７へ進んで
その試し書き領域を欠陥領域と判定して、この処理を終
了する。

【０１５２】そして、上記の処理によって試し書き領域
が欠陥領域であった場合、他の試し書き領域に上述の処
理を行なって欠陥があるか否かを判定する。そして、正
常な領域として判定されたら、その試し書き領域に試し
書きを行なってデータ記録時の最適記録条件を計算して
決定する。

【０１５３】このようにして、光磁気ディスクの記録面
上の同じ試し書き領域に試し書きされたデータを異なる
リードパワーで複数回読み出し再生し、その再生の結果
複数のエラーが発生したとき、その試し書き領域に欠陥
があるものと判定するので、試し書きのときのリードパ
ワーが最適でなかったために欠陥領域として判定してし
まうことを防止することができ、光磁気ディスクの記録
面上の試し書き領域に欠陥が有るか否かを正確に判定す
ることができる。

【０１５４】つまり、光磁気ディスクに対するデータ記
録時に先立つ試し書きにおいて、複数のリードパワーを
用いて試し書き領域の欠陥の有無を確認するので、本来
の欠陥であるか否かを確実に確認することができる。

【０１５５】次に、２３０ＭＢ，９０ｍｍの光磁気ディ
スクを１８００ｒｐｍで使用するときの上述の処理を具
体的に説明する。図１５は、光磁気ディスクの記録面の
試し書き領域に試し書きされたデータを読み出し再生す
るときのリードパワー値とエラー数の関係の一例を示す
線図である。

【０１５６】同図で明らかなように、試し書き領域に記
録されたデータを読み出し再生する時のリードパワー値
が０．７［ｍＷ］以上２．３［ｍＷ］以下の範囲では、
１セクタのエラー発生数がゼロであるが、リードパワー
値が０．７［ｍＷ］より小さく２．３［ｍＷ］より大き
い範囲ではエラーが発生する。

【０１５７】このように、試し書き領域に同一記録条件
を使用して試し書きをしても、読み出し再生時のリード
パワー値の強度によってエラー数が異なることが判る。
一般に、リードパワー値が大きいほど大きいＭＯ信号が
得られるが、その一方でノイズが大きくなってしまうこ
とが知られている。したがって、試し書きのときの読み
出し再生のリードパワー値を適当な値にしなければなら
ない。そこで、同一試し書き領域に記録されたデータを
異なるリードパワーで複数回読み出し再生し、その結果
に基づいて欠陥の有無を判定する。

【０１５８】例えば、試し書き領域に記録されたデータ
を１．１［ｍＷ］のリードパワー値を用いて読み出し再
生したときにエラーが発生したら、次にリードパワー値
を１．２［ｍＷ］に変更して再度読み出し再生する。そ
の結果再びエラーが発生したら、さらにリードパワー値
を１．０［ｍＷ］に変更して再度同一の試し書き領域の
データを読み出し再生して、その結果エラーが発生した
ら、その試し書き領域に欠陥があるものと判定する。

【０１５９】このように、同一の試し書き領域に記録さ
れたデータをリードパワーを変えて複数回読み出し再生
し、そのときのエラー発生の有無を測定し、複数のリー
ドパワーでエラーが発生したときには欠陥領域と判定す
れば、偏った範囲のリードパワーを用いて読み出し再生
を行なわずに済み、欠陥の有無の判定のためのデータを
満遍なく得ることができる。

【０１６０】なお、リードパワー値を０．１［ｍＷ］程
度の幅で変更するようにすれば、欠陥の有無を判断する
ためのデータを得るために充分であるが、これに限定さ
れない。また、試し書き領域に欠陥が有るか否かを確認
する際、リードパワー値の上限値及び下限値をそれぞれ
初期値の±５０％程度とし、その値を越えるかあるいは
下回るときに読み出し再生を終了するようにする。リー
ドパワー値の上限値及び下限値をそれぞれ初期値の±５
０％程度とすると最適である。

【０１６１】その時、まだエラーがある場合、試し書き
領域に欠陥があると判定するようにすれば、より正確に
欠陥の有無を確認することができる。そして、他の試し
書き領域に対して再度欠陥の有無を判定して、欠陥の無
い試し書き領域を探し出し、データ記録時の最適記録条
件決定のための試し書き領域に用いる。

【０１６２】上述の実施例の光磁気ディスク装置におい
て、試し書きのときに、ライトパワー，パルス幅，記録
パターン，クロック周波数，外部磁界強度の記録条件
と、リードパワーの再生条件とをそれぞれ複数組み合わ
せて変更するようにすれば、より正確に欠陥の有無を判
定することができる。その組み合わせは、₆Ｃ₂＋₆Ｃ₃＋
₆Ｃ₄＋₆Ｃ₅＋₆Ｃ₆＝５７通りあるが、ライトパワーとパ
ルス幅を組み合わせるのが実用的である。

【０１６３】このように、複数の条件を組み合わせて変
更するようにすれば、複数のパラメータを変動させるの
で、固定したパラメータが不適正値である恐れが少なく
なり、欠陥の有無の判定をより一層正しく行なうことが
できる。

【０１６４】また、条件については、例えば、ライトパ
ワーを変動させて、他のパラメータを固定するようにし
てもよいし、試し書きに先だって予め決められたパラメ
タを設定するようにしてもよいし、その最適値を試し書
きによって決定するようにしてもよい。

【０１６５】

【発明の効果】以上説明してきたように、この発明によ
る光磁気ディスク装置によれば、光磁気ディスク上の試
し書き領域に欠陥が有るか否かを確実に判定することが
できるので、常に正常な試し書き領域に対する試し書き
によってデータ記録時の最適記録条件を決定することが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例の光磁気ディスク装置の構
成を示すブロック図である。

【図２】この実施例の光磁気ディスク装置における光磁
気ディスクの記録面上の試し書き領域に欠陥があるか否
かを判定する処理を示すフローチャートである。

【図３】この実施例の光磁気ディスク装置でライトパワ
ーを変更する試し書きによって試し書き領域に欠陥が有
るか否かを判定する処理を示すフローチャートである。

【図４】光磁気ディスクの記録面上の試し書き領域に試
し書きをしたときのライトパワー値とエラー発生数の関
係の一例を示す線図である。

【図５】この実施例の光磁気ディスク装置でパルス幅を
変更する試し書きによって試し書き領域に欠陥があるか
否かを判定する処理を示すフローチャートである。

【図６】光磁気ディスクの記録面上の試し書き領域に試
し書きをしたときのパルス幅とエラー発生数の関係の一
例を示す線図である。

【図７】光磁気ディスクの記録面上のデューティの説明
図である。

【図８】この実施例の光磁気ディスク装置で記録パター
ンを変更する試し書きによって試し書き領域に欠陥があ
るか否かを判定する処理を示すフローチャートである。

【図９】光磁気ディスクの記録面上の試し書き領域に試
し書きをしたときの記録パターンとエラー発生数の関係
の一例を示す線図である。

【図１０】この実施例の光磁気ディスク装置でクロック
周波数を変更する試し書きによって試し書き領域に欠陥
があるか否かを判定する処理を示すフローチャートであ
る。

【図１１】光磁気ディスクの記録面上の試し書き領域に
試し書きをしたときのクロック周波数とエラー発生数の
関係の一例を示す線図である。

【図１２】この実施例の光磁気ディスク装置で外部磁界
強度を変更する試し書きによって試し書き領域に欠陥が
あるか否かを判定する処理を示すフローチャートであ
る。

【図１３】光磁気ディスクの記録面上の試し書き領域に
試し書きをしたときの外部磁界強度とエラー発生数の関
係の一例を示す線図である。

【図１４】この実施例の光磁気ディスク装置で試し書き
領域に対する試し書きのときにリードパワーを変更して
欠陥があるか否かを判定する処理を示すフローチャート
である。

【図１５】光磁気ディスクの記録面の試し書き領域に試
し書きされたデータを読み出し再生するときのリードパ
ワー値とエラー数の関係の一例を示す線図である。

【符号の説明】

１：光磁気ディスク ２：モータ ３：回転制御系 ４：光ピックアップ ５：アクチュエータ制御系 ６：信号検出部 ７：ドライブコントローラ ８：メモリ ９：レーザ駆動回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 11/10 ５８１ Ｅ 9296−5Ｄ Ｄ 9296−5Ｄ

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光磁気ディスクの記録面にデータを記録
   する手段と、該記録面に記録されたデータを再生する手
   段とを備えた光磁気ディスク装置において、 前記光磁気ディスクの記録面上の同一の試し書き領域に
   異なる記録条件で複数回の試し書きを行なう手段と、該
   手段による各試し書きでエラーが発生したか否かを判断
   する手段と、該手段の判断によって複数回のエラーが発
   生したときに前記試し書き領域を欠陥領域と判定する手
   段とを設けたことを特徴とする光磁気ディスク装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の光磁気ディスク装置にお
   いて、前記記録条件がライトパワーであることを特徴と
   する光磁気ディスク装置。
3. 【請求項３】 請求項１記載の光磁気ディスク装置にお
   いて、前記記録条件がパルス幅であることを特徴とする
   光磁気ディスク装置。
4. 【請求項４】 請求項１記載の光磁気ディスク装置にお
   いて、前記記録条件が記録パターンであることを特徴と
   する光磁気ディスク装置。
5. 【請求項５】 請求項１記載の光磁気ディスク装置にお
   いて、前記記録条件がクロック周波数であることを特徴
   とする光磁気ディスク装置。
6. 【請求項６】 請求項１記載の光磁気ディスク装置にお
   いて、前記記録条件が外部磁界強度であることを特徴と
   する光磁気ディスク装置。
7. 【請求項７】 光磁気ディスクの記録面にデータを記録
   する手段と、該記録面に記録されたデータを再生する手
   段とを備えた光磁気ディスク装置において、 前記光磁気ディスクの記録面上の同一の試し書き領域に
   試し書きされたデータを異なるリードパワーで複数回読
   み取り再生を行なう手段と、該手段による読み取り再生
   でエラーが発生したか否かを判断する手段と、該手段の
   判断によって複数回のエラーが発生したときに前記試し
   書き領域を欠陥領域と判定する手段とを設けたことを特
   徴とする光磁気ディスク装置。