JPH0835991A - オシロスコープの垂直軸精度検査用信号発生器 - Google Patents

オシロスコープの垂直軸精度検査用信号発生器

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JPH0835991A
JPH0835991A JP18906494A JP18906494A JPH0835991A JP H0835991 A JPH0835991 A JP H0835991A JP 18906494 A JP18906494 A JP 18906494A JP 18906494 A JP18906494 A JP 18906494A JP H0835991 A JPH0835991 A JP H0835991A
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JP
Japan
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voltage
oscilloscope
vertical axis
signal
rectangular wave
Prior art date
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Pending
Application number
JP18906494A
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English (en)
Inventor
Hisao Takahashi
久雄 高橋
Chiyoko Shibata
千代子 柴田
Koichi Hirayama
幸一 平山
Kazuhiko Tanaka
一彦 田中
Hajime Takamatsu
一 高松
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Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 DAC20は、検査対象とするオシロスコー
プの垂直精度の許容誤差範囲を表す百分率及び基準電圧
の積で決まる電圧範囲で繰り返し変化する電圧信号を発
生し、加算回路28は基準電圧及びDAC20の出力電
圧信号を加算し、スイッチ32は加算回路の出力電圧及
び接地電位を交互に選択して出力する。 【効果】出力信号は、オシロスコープの画面で、矩形波
の高レベル期間に帯状部分を有する波形として表示され
る。この帯状部分は、オシロスコープの垂直精度の許容
誤差範囲に相当し、オシロスコープの対応する目盛り線
がこの帯状部分内にあるか否かにより、オシロスコープ
の垂直精度が許容誤差範囲内であるか否かが即座に検査
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、オシロスコープの精度
を検査するためにオシロスコープに入力して表示する信
号を発生するためのオシロスコープの垂直軸精度検査用
信号発生器に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】オシロ
スコープは、格子状目盛りを有する表示面に被測定入力
信号の波形を表示する。表示波形の特定部分の振幅又は
時間間隔を測定するには、通常は、ノブを操作してカー
ソルをその特定部分に対して位置合わせする。したがっ
て、オシロスコープで正確な測定を行うためには、入力
波形が目盛りに対して正しく表示されるように校正され
ている必要がある。
【0003】オシロスコープを校正するためには、通
常、校正器を使用する。振幅校正モードでは、校正器
は、例えば周波数が1kHzで、振幅が高精度で100
V〜200μVで切替可能な矩形波を出力し、オシロス
コープに供給する。図5は、オシロスコープの垂直軸を
200mV/div(目盛り)に設定し、矩形波の振幅
を1Vとして、矩形波をオシロスコープに表示した様子
を示す。オシロスコープが正しく校正されていれば、画
面上で矩形波の振幅1Vは、5div分に相当するはず
であるが、図5の例では、画面上で1.02Vとなって
いる。この値は、カーソルを使用することで、画面上の
数値表示部分で正確に測定できる。したがって、1Vに
対して誤差は+0.2Vであるので、誤差百分率2%で
あると計算できる。
【0004】誤差読み取りモードを有する校正器では、
図5において5divを超えた矩形波の振幅を校正器側
で調節して目盛り5div分に合わせると、校正器はこ
の調節量を誤差として、誤差百分率2%を内部の処理手
段により計算し、表示手段に表示する。
【0005】上述の様な操作により、オシロスコープの
垂直軸精度の誤差百分率が求められる。しかし、オシロ
スコープの垂直軸精度が許容誤差範囲を満足しているか
否かのみを検査したい場合には、誤差百分率を求める上
述の操作は面倒であり、時間がかかる。
【0006】したがって、本発明の目的は、オシロスコ
ープの垂直軸精度が許容誤差範囲を満足しているか否か
を視覚的に瞬時に検査するために有効な信号を発生する
オシロスコープの垂直軸精度検査用信号発生器の提供に
ある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のオシロスコープ
の垂直軸精度検査用信号発生器は、誤差範囲信号発生手
段は、対象とするオシロスコープの垂直軸精度の許容誤
差範囲を表す百分率及び基準電圧の積で決まる電圧範囲
で繰り返し変化する電圧信号を発生し、加算手段は基準
電圧及び誤差範囲信号発生器の出力電圧信号を加算し、
スイッチ手段は加算回路の出力電圧及び接地電位を交互
に選択して出力する。
【0008】
【作用】出力信号は、オシロスコープの画面で、矩形波
の高レベル期間に帯状部分を有する波形として表示され
る。この帯状部分は、オシロスコープの垂直軸精度の許
容誤差範囲に相当し、オシロスコープの対応する目盛り
線がこの帯状部分内にあるか否かにより、オシロスコー
プの垂直軸精度が許容誤差範囲内であるか否かが即座に
検査できる。
【0009】
【実施例】図1は、本発明のオシロスコープの垂直軸精
度検査用信号発生器の好適な実施例を示す回路ブロック
図である。演算増幅器10は、その反転入力端に一端が
入力端子12に接続された抵抗器14の他端が接続さ
れ、反転入力端及び出力端間に抵抗器16が接続され、
非反転入力端が接地されて、これらの構成要素と共に反
転増幅器を形成する。抵抗器14及び16の夫々の抵抗
値R1及びR2の関係がR1/R2=4とすると、反転
増幅器の増幅率は−4倍である、入力端子12に基準電
圧Vrefとして5Vを印加すると、演算増幅器10の出
力端子に現れる電圧V1は−20Vとなる。演算増幅器
10の出力端は、抵抗器18を介して演算増幅器20の
非反転入力端に接続される。
【0010】デジタル・アナログ変換器20は、アドレ
ス発生器21の出力アドレス値に応じてリード・オンリ
・メモリ(ROM)23から読み出される出力デジタル
値に応じた正又は負のアナログ電圧V2を緩衝増幅器2
4の入力端子に供給する。ROM23に蓄積されたデジ
タル値は、予めマイクロプロセッサ22から送られる。
緩衝増幅器24の出力電圧は電圧V2に等しく、この電
圧は抵抗器26を介して演算増幅器28の反転入力端子
に供給される。演算増幅器28の反転入力端及び出力端
子間には抵抗器30が接続され、演算増幅器28の非反
転入力端子は接地される。演算増幅器28は、抵抗器1
8、26及び30と共に加算回路を形成する。抵抗器1
8、26及び30の夫々抵抗値R3、R4及びR5が等
しいとすると、この加算回路の出力電圧V3は、V3=
−(V1+V2)となる。
【0011】出力電圧V3は、可動接点及び2つの固定
接点を有する電子スイッチ32の一方の固定接点に接続
される。電子スイッチ32の他方の固定接点は、接地さ
れる。電子スイッチ32の可動接点は、マイクロプロセ
ッサ22からの制御信号により、例えば周波数1kHz
即ち周期1msの速度で2つの固定接点の間で切り替わ
る。従って、電子スイッチ32の可動接点からは、電圧
V3及び接地電位間で交互に切り替わる周波数1kHz
の電圧信号Vo1が得られる。電子スイッチ32の可動接
点は、複数の抵抗器を含む減衰器34に供給される。減
衰器34の出力電圧は、出力増幅器36を介して出力電
圧信号Vo2してオシロスコープの入力端子に供給され
る。
【0012】DAC20の出力電圧V2は、図2に示す
様に0Vを中心にして階段状に変化して繰り返し増減す
る。電圧V2のピーク・ピーク電圧は、演算増幅器10
の出力電圧V1及びオシロスコープの垂直軸精度の許容
誤差範囲を表す百分率xによって決められる。出力電圧
V1が20V、xが±2%であるとすると、電圧V2
は、V2=20×(±0.02)=±0.4Vであり、±
0.4Vの範囲で変化する。電圧信号V2の最低及び最
高レベル間の時間Tは、出力電圧信号Voの周期1ms
よりも十分に短く、例えば10μs程度である。また、
電圧信号V2のステップ数は図2に図示するよりも多く
にすることが望ましく、例えば、ステップ数を100個
とすれば、各ステップのレベルの持続時間tは100n
sである。
【0013】電圧V1及びV2を加算した電圧V3及び
接地電位間で切り替えて得られる矩形波電圧信号Vo1
は、高レベル期間が20Vを中心として±0.4Vの範
囲で変化する。よって、電圧信号Vo2を入力したオシロ
スコープの画面には、図3に示す様に、矩形波の高レベ
ル期間に横縞の帯状部分を有する波形が表示される図2
に示す電圧V2は、最高及び最低レベルの持続期間が他
のステップのレベルに比べて長く設定されているので、
この帯状部分の最高及び最低レベルのラインは他のライ
ンに比べて高輝度表示される。この帯状部分は、オシロ
スコープの垂直軸精度の許容誤差範囲に相当し、電圧V
o2の高レベルに対応するオシロスコープの目盛り線38
がこの帯状部分内にあるか否かにより、オシロスコープ
の垂直軸精度が許容誤差範囲内であるか否かが即座に検
査できる。
【0014】図4は、図1では信号発生器の一部を変更
した他の実施例の変更部分を示す回路図である。この回
路では、緩衝増幅器24には、矩形波発生器40の出力
電圧信号V2’が供給される。矩形波発生器40は、電
圧源及び接地間に順番に直列接続された可変電流源4
2、ショットキー・ダイオード44及び抵抗器46と、
ダイオード44及び抵抗器46にコレクタ・エミッタが
並列接続されたトランジスタ48とを有する。トランジ
スタ48のベースには、パルス信号が供給されてトラン
ジスタのオン及びオフが制御される。トランジスタ48
のオン・オフ動作に応じて、抵抗器46に生じる電圧及
び接地電位間で切り替わる矩形波電圧信号V2’が矩形
波発生器40から出力される。矩形波電圧信号V2’の
周波数は、スイッチ32の切替周波数が1kHzであれ
ば、100kHz以上であることが望ましい。矩形波電
圧信号の振幅は、可変電流源42を調節して設定され、
図1と同様に許容誤差範囲±2%では、振幅は±0.4
Vである。この矩形波電圧信号V2’を電圧V1と加算
して電圧V3’が生成される。
【0015】電圧V3’及び接地電位間で切り替えて得
られる矩形波電圧信号Vo1’は、高レベル20Vに振幅
±0.4Vの矩形波が重畳された信号となる。よって、
電圧信号Vo1’を減衰器34を介して得た出力電圧信号
Vo2’を入力したオシロスコープの画面には、図5に示
す様に、矩形波の高レベル期間に縦じまの帯状部分を有
する波形が表示される。図1の場合と同様に、この帯状
部分は、オシロスコープの垂直軸精度の許容誤差範囲に
相当し、オシロスコープの垂直軸精度が許容誤差範囲内
であるか否かの検査に使用される。
【0016】以上、本発明の好適な実施例について述べ
たが、本発明の主旨を逸脱することなく種々の変更が可
能であることは当業者には明かである。例えば、図5で
は、基準信号の高レベル部分に小振幅の矩形波信号を重
畳したが、三角波信号又は正弦波信号等であってもよ
い。この信号の種類によって、帯状部分の輝度の強弱の
状態が異なる。
【0017】
【発明の効果】本発明の信号発生器の出力信号は、オシ
ロスコープの画面で、矩形波の高レベル期間に帯状部分
を有する波形として表示される。この帯状部分は、オシ
ロスコープの垂直軸精度の許容誤差範囲に相当し、オシ
ロスコープの対応する目盛り線がこの帯状部分内にある
か否かにより、オシロスコープの垂直軸精度が許容誤差
範囲内であるか否かが即座に検査できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のオシロスコープの垂直軸精度検査用信
号発生器を示す回路図である。
【図2】図1の信号発生器の動作を説明するための波形
図。
【図3】図1の信号発生器の出力信号をオシロスコープ
に表示した様子を示す図。
【図4】図1の信号発生器の一部を変更した他の実施例
の変更部分を示す回路図。
【図5】図4の信号発生の出力信号をオシロスコープに
表示した様子を示す図。
【図6】従来のオシロスコープの校正器の説明のための
波形図。
【符号の説明】
20、23、40 誤差範囲信号発生手段 18、26、28、30 加算手段 32 スイッチ手段
フロントページの続き (72)発明者 田中 一彦 東京都品川区北品川5丁目9番31号 ソニ ー・テクトロニクス株式会社内 (72)発明者 高松 一 東京都品川区北品川5丁目9番31号 ソニ ー・テクトロニクス株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定範囲で繰り返し変化する電圧信号を
    発生する誤差範囲信号発生手段と、 該誤差範囲信号発生器の出力電圧及び基準レベルを有す
    る直流電圧を加算する加算手段と、 該加算回路の出力電圧及び基準電位を交互に選択して出
    力するスイッチ手段とを具えることを特徴とするオシロ
    スコープの垂直軸精度検査用信号発生器。
JP18906494A 1994-07-20 1994-07-20 オシロスコープの垂直軸精度検査用信号発生器 Pending JPH0835991A (ja)

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JP18906494A JPH0835991A (ja) 1994-07-20 1994-07-20 オシロスコープの垂直軸精度検査用信号発生器

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ID=16234697

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106324312A (zh) * 2016-08-03 2017-01-11 深圳市鼎阳科技有限公司 一种示波器垂直方向上快速精准读取数据的方法及示波器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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