JPH08334679A - 測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 連写モードに適した測距結果を得る。 【構成】 この測距装置は、アクティブ方式とパッシブ
方式の双方でそれぞれ測距を実施するが、連写モードが
設定された場合には（＃１１２）、ＣＰＵの制御の下、
パッシブ測距部における測距が禁止され、アクティブ測
距部のみによって測距を実行する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被写体までの距離を自
動的に計測するカメラの測距装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】このようなカメラの測距装置としては、
ＬＥＤなどの測距用光源を持ち、受光素子との組み合わ
せで被写体までの距離を計測する三角測量タイプのアク
ティブ方式が知られている。

【０００３】また、別の方式の測距装置として、測距用
の光源を持たず、被写体で反射される自然光を２系統の
光学系で受光し、各光学系で得られた２つの光学像の位
相差等により、被写体までの距離を計測する三角測量タ
イプのパッシブ方式が知られている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】アクティブ方式の測距
装置では、被写体に向けて自ら光を投光し、その反射光
を受光して測距を行う方式であるため、外界輝度によっ
て、測距に費やされる時間も大きく変動することはな
い。

【０００５】しかし、パッシブ方式の測距装置のうち、
被写体で反射される自然光をフォトダイオードで受光し
て測距を行うタイプでは、被写体像が比較的明るい場合
には、比較的短時間で測距が終了するが、被写体像が暗
い場合には、測距にかかる時間が長大する傾向にある。
このように、フォトダイオードを使用したパッシブ方式
の測距装置では、測距結果が被写体輝度に大きく依存す
る傾向があり、被写体輝度によって測距時間が大きく変
動するという欠点があった。特に、速いレスポンスが要
求される連写モードでは、測距時間が長い場合には、実
質的に連写が不可能になるという実用上の欠点があっ
た。

【０００６】本発明は、このような課題を解決すべくな
されたものであり、その目的は、撮影モードして、連写
モードが選択された場合にも、好適に測距を実施し得る
測距装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】そこで、本発明にかかる
測距装置は、被写体に向けて測距光を投光し、その反射
光の集光位置に基づき、この被写体までの距離を計測す
るアクティブ方式の第１測距手段と、被写体で反射され
る自然光を２系統の光学系で受光し、この各光学系で得
られた２つの光学像に基づき、被写体までの距離を計測
するパッシブ方式の第２測距手段と、第１測距手段及び
第２測距手段から得られる測距結果のうち、いずれか一
方の測距結果を選択し出力する測距値選択手段とを備え
ており、この測距値選択手段は、撮影モードが連写モー
ドであるか否かを判断する第１手段と、第１手段で連写
モードと判断された場合に、前記第２測距手段の測距処
理を禁止させる第２手段とを備えて構成する。

【０００８】なお、連写モードとは、レリーズスイッチ
が押下されている期間、シャッターの開閉動作が連続し
て行われるモードをいう。

【０００９】

【作用】本発明の測距装置は、アクティブ方式の第１測
距手段とパッシブ方式の第２測距手段の２種類の測距手
段を備えており、この双方で測距を実施する。得られた
測距結果を測距値選択手段で選択するが、第１手段によ
って、連写モードが設定されたことを検知した場合に
は、第２手段によって、第２測距手段の測距処理が禁止
される。これにより、外界輝度等に影響されずに短時間
に測距結果が得られるアクティブ方式の測距のみが実施
される。

【００１０】

【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて
説明する。本実施例にかかる測距装置の概略的な構成を
図１に示す。この測距装置は、三角測量タイプのアクテ
ィブ方式の測距を実施するアクティブ測距部Ａ、及び、
同じく三角測量タイプのパッシブ方式の測距を実施する
パッシブ測距部Ｐを備えると共に、外界輝度を検出する
輝度検出部Ｌ及び測距値選択回路４０を備えている。

【００１１】アクティブ測距部Ａは、被写体に向かって
測距光を投光するＬＥＤ等で構成する投光部１１と、そ
の反射光を受光するＰＳＤ等で構成する受光部１２とを
備えており（図２参照）、さらに、この投光・受光結果
を基に被写体までの距離を演算する測距演算回路１３を
備えている。なお、このアクティブ測距部Ａで得られた
測距値は、測距値選択回路４０に与えられる。

【００１２】パッシブ測距部Ｐは、被写体からの自然光
の反射光を２系統の光学系で受光する右受光部２１と左
受光部２２とを備えており（図２参照）、さらにこれら
を介して得られる２つの光学像を受光するＣＣＤ（光位
置検出装置：図示せず）、及び、その結果をもとに被写
体までの距離を演算する測距演算回路２３などを備えて
いる。なお、このパッシブ測距部Ｐで得られた測距値
も、測距値選択回路４０に与えられる。

【００１３】輝度検出部Ｌは、図３におけるＡＥ部（自
動露出部）の構成を利用しており、露出制御用の受光素
子、例えばＣｄＳなどで構成する受光部３１、その受光
結果を基に外界輝度を演算する測光演算回路３２などで
構成している。

【００１４】測距値選択回路４０は、この輝度検出部Ｌ
で求められた外界輝度などを基に、各測距部Ａ，Ｐで測
定された測距値のうちの一方を選択して出力する回路で
ある。

【００１５】なお、図２に本実施例にかかる測距装置を
備えたカメラの外観を示し、また、図３にその内部機構
の概略を示す。図１で示した測距演算回路１３、２３、
測光演算回路３２及び測距値選択回路４０は、図３に示
すＣＰＵ内に構成される。

【００１６】ここで、この測距装置の動作を図４に基づ
いて説明する。まず、被写体にカメラを向けてレリーズ
スイッチ（図３参照）がＯＮされると（＃１００）、電
源電圧が読み込まれて、電圧値のチェックが行われる
（＃１０２、＃１０４）。ここで、読み込まれた電圧値
がしきい値に満たない場合には（＃１０４で「Ｎ
Ｏ」）、撮影処理が不可能となるため、その旨を使用者
に表示や警告音等で知らせる等、所定のＮＧ処置に移行
する（＃１０６）。

【００１７】読み込まれた電圧値がしきい値をクリアし
ている場合には（＃１０４で「Ｙｅｓ」）、輝度検出部
Ｌによって外界輝度を検出する測光処理が行われると共
に（＃１０８）、アクティブ測距部Ａにおいてアクティ
ブ方式の測距が行われる（＃１１０）。

【００１８】また、同時に、図３における連写モードス
イッチがオンされているか否かが判断される（＃１１
２）。このとき、連写モードスイッチがオンされている
ことを検知した場合（＃１１２で「Ｙｅｓ」）、ＣＰＵ
の制御の下、パッシブ測距部Ｐにおける測距処置が禁止
される。これは、パッシブ測距部Ｐの測距時間が外界輝
度に依存して変化する特性があり、外界輝度が低い場合
等には距時間が長くなるおそれがある。一方、アクティ
ブ方式では、被写体に光を投光しその反射光を受光する
ことで測距を行うため、測距時間は外界輝度に影響され
難く一定である。そこで、速いレスポンスが要求される
連写モードでは、パッシブ測距部Ｐによる測距は実行せ
ず、アクティブ測距部Ａのみによって測距を実行するも
のである。

【００１９】このように、連写モードであることが検知
された場合には、アクティブ測距部Ａの測距結果のみが
測距値選択回路４０に与えられ、測距値選択回路４０で
は、この測距値（アクティブデータ）を測距データとし
て出力する（＃１１４）。そして、この設定された測距
データを基に撮影レンズをセットするなど（＃１１
６）、以降の撮影処理はこの測距値をもとに実行される
（＃１１８）。

【００２０】一方、連写モードスイッチがオフであるこ
とが検知された場合（＃１１２で「Ｎｏ」）、パッシブ
測距部Ｐにおいてパッシブ方式の測距が実行され（＃１
２０）、各測距部Ａ、Ｐにおける測距結果は、ともに測
距演算回路１３、２３を経て測距値選択回路４０に与え
られる。

【００２１】次に、測距値選択回路４０では、輝度検出
部Ｌによって得られた外界輝度が、Ｌｖ１４以上の高輝
度レベルか否かが判断される（＃１２２）。外界輝度が
高い場合、アクティブ方式では受光部１２が測距光の反
射光を良好に受光できなくなり、測距精度が低下するお
それがある。一方、パッシブ方式では被写体で反射され
る自然光の光量が増大するため、測距値の信頼性は高
い。このため、輝度検出部Ｌにより得られた外界輝度が
Ｌｖ１４以上の場合（＃１２２で「Ｎｏ」）、測距値選
択回路４０は、パッシブ測距部Ｐの測距値（パッシブデ
ータ）を選択し測距データとして出力する（＃１２
４）。そして、この設定された測距データを基に撮影レ
ンズをセットするなど（＃１１６）、以降の撮影処理
は、測距値選択回路４０から出力されるこの測距値をも
とに実行される（＃１１８）。

【００２２】一方、外界輝度がＬｖ１４以下の場合には
（＃１２２で「Ｙｅｓ」）、さらに外界輝度がＬｖ３以
下の低い輝度が否かが判断される（＃１２６）。外界輝
度が低い場合、パッシブ方式では自然光の反射光量が少
なく信頼性に欠けるが、アクティブ方式では受光部１２
において測距光の反射光が良好に検出されるため測距値
の信頼性は高い。このため、輝度検出部Ｌにより得られ
た外界輝度がＬｖ３以下の場合（＃１２６で「Ｎ
ｏ」）、測距値選択回路４０はアクティブ測距部Ａの測
距値（アクティブデータ）を選択し、測距データとして
出力する（＃１１４）。そして、以降の撮影処理は、測
距値選択回路４０から出力されるこの測距値をもとに実
行される（＃１１６、＃１１８）。

【００２３】測距値選択回路４０は、このように外界輝
度がＬｖ１４以上の高輝度レベルか、或いはＬｖ３以下
の低輝度レベルの場合には、それそれ前述したように直
ちに一方の測距値を選択するが、輝度レベルが３＜Ｌｖ
＜１４の中間輝度レベルの場合には、さらに以下の値に
基づいて判断する。

【００２４】測距値選択回路４０は、アクティブ測距部
Ａの測距結果、被写体までの距離が３ｍより近いか否か
を判断する（＃１２８）。これは、アクティブ方式が被
写体に向けて測距光を投光しその反射光を受光する方式
であるため、測距光の投光距離には限界があり、被写体
までの距離が遠いと反射光が十分に得られず、測距精度
が低下したり、測距不能となる場合も生じる。このた
め、測距値選択回路４０は、アクティブ測距部Ａの測距
結果が３ｍより近い場合には（＃１２８で「Ｙｅ
ｓ」）、測距値選択回路４０は、より信頼性の高いアク
ティブ測距部Ａの測距値（アクティブデータ）を選択
し、測距データとして出力する（＃１１４）。そして、
以降の撮影処理は、測距値選択回路４０から出力される
この測距値をもとに実行される（＃１１６、＃１１
８）。

【００２５】一方、アクティブ測距部Ａの測距結果が３
ｍ以遠の場合には（＃１２８で「Ｎｏ」）、パッシブ測
距部Ｐの測距値の測距値（パッシブデータ）を選択し測
距データとして出力する（＃１２４）。以降の撮影処理
は、測距値選択回路４０から出力されるこの測距値をも
とに実行される（＃１１６、＃１１８）。

【００２６】このように本実施例にかかる測距装置は、
先ず、撮影モードが連写モードか否かが判断され、連写
モードの場合には測距時間に変動が少ない、アクティブ
測距部Ａの測距値が得られ、連写モード以外の場合に
は、両測距部Ａ、Ｐで得られた測距値のうち、より信頼
性の高い測距値を選択することとができる。

【００２７】また、上記した実施例では、外界輝度を輝
度検出部Ｌにおいて検出する例を示したが、この他に
も、輝度判定部としてＡＥ部とは別個に、輝度検出用の
受光部と測光演算回路とを設けるか、或いは、図５に示
すように、パッシブ測距部Ｐの各受光部２１、２２の受
光結果を基に、測光・測距演算回路２４によって外界輝
度を求めることも可能である。

【００２８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明にかかる測
距装置では、連写モードが設定されたことを検知する第
１手段、この検知結果を受けて第２測距手段の測距処理
を禁止する第２手段を備えたので、連写モードが設定さ
れた場合に、測距時間が長くかかる事態を回避すること
ができ、好適に連写撮影を実施させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施例にかかる測距装置の構成を概略的に示
すブロック図である。

【図２】本実施例にかかる測距装置を備えたカメラを示
す正面図である。

【図３】カメラ内部の構成を概略的に示すブロック図で
ある。

【図４】本実施例の測距装置の動作を示すフローチャー
トである。

【図５】測距装置の他の実施例を示すブロック図であ
る。

【符号の説明】

Ａ…アクティブ測距部（第１測距手段）、Ｐ…パッシブ
測距部（第２測距手段）、Ｌ…輝度検出部、４０…測距
値選択回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被写体に向けて測距光を投光し、その反
   射光の集光位置に基づき、この被写体までの距離を計測
   するアクティブ方式の第１測距手段と、 前記被写体で反射される自然光を２系統の光学系で受光
   し、この各光学系で得られた２つの光学像に基づき、前
   記被写体までの距離を計測するパッシブ方式の第２測距
   手段と、 前記第１測距手段及び第２測距手段から得られる測距結
   果のうち、いずれか一方の測距結果を選択し出力する測
   距値選択手段とを備えており、 前記測距値選択手段は、 撮影モードが連写モードであるか否かを判断する第１手
   段と、 前記第１手段で連写モードと判断された場合に、前記第
   ２測距手段の測距処理を禁止させる第２手段とを備える
   測距装置。