JPH08334487A - 導電性螺旋検体の非破壊的劣化検査方法及び装置 - Google Patents
導電性螺旋検体の非破壊的劣化検査方法及び装置Info
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- JPH08334487A JPH08334487A JP16458995A JP16458995A JPH08334487A JP H08334487 A JPH08334487 A JP H08334487A JP 16458995 A JP16458995 A JP 16458995A JP 16458995 A JP16458995 A JP 16458995A JP H08334487 A JPH08334487 A JP H08334487A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 緊張ロッドのような螺旋状の凹凸構造を有す
る検体の亀裂の有無，位置，大きさ，深さ等を、全面に
わたって連続し検出することができる装置を提供するこ
とにある。 【構成】 探傷センサー部７をそのガイド用突起１２が
導電性検体の螺旋部１６の溝内に位置するよう配設する
とゝもに、該導電性検体を軸回転せしめて、前記探傷セ
ンサー部７を前記導電性検体の螺旋部１６に沿って移動
させ、前記探傷センサー部７に交流電流を流して各検査
区域に発生する誘導電流によって生ずる２点間の電位差
を順次検出し、該検知した電位差の変化により検査範囲
全域の亀裂等を検知することを特徴とする導電性螺旋検
体の非破壊的劣化検査方法。
る検体の亀裂の有無，位置，大きさ，深さ等を、全面に
わたって連続し検出することができる装置を提供するこ
とにある。 【構成】 探傷センサー部７をそのガイド用突起１２が
導電性検体の螺旋部１６の溝内に位置するよう配設する
とゝもに、該導電性検体を軸回転せしめて、前記探傷セ
ンサー部７を前記導電性検体の螺旋部１６に沿って移動
させ、前記探傷センサー部７に交流電流を流して各検査
区域に発生する誘導電流によって生ずる２点間の電位差
を順次検出し、該検知した電位差の変化により検査範囲
全域の亀裂等を検知することを特徴とする導電性螺旋検
体の非破壊的劣化検査方法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、金属やセラミックスな
どの導電性材料で形成した導電性検体、特に緊張ロッド
のような螺旋状の凹凸を有する導電性検体の亀裂の有
無，位置，大きさ，深さ等を非破壊的に検査するための
方法及びその装置に関する。
どの導電性材料で形成した導電性検体、特に緊張ロッド
のような螺旋状の凹凸を有する導電性検体の亀裂の有
無，位置，大きさ，深さ等を非破壊的に検査するための
方法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】導電性材料の亀裂を非破壊的に発見する
方法として、浸透探傷試験，磁粉探傷試験，超音波探傷
試験，放射線透過試験，交流又は直流電流を用いた電位
差又は電圧変化による検査方法などが挙げられる。
方法として、浸透探傷試験，磁粉探傷試験，超音波探傷
試験，放射線透過試験，交流又は直流電流を用いた電位
差又は電圧変化による検査方法などが挙げられる。
【０００３】
【発明が解決しようとする問題点】しかし、浸透探傷試
験と磁粉探傷試験では、検体中にある亀裂の深さを求め
ることはできず、更に傷が表面に露出している必要があ
る。また超音波探傷試験では、検体の表面を平滑に仕上
げる必要があり、更に凹凸部等における欠陥に対しては
検出感度が低いことが知られている。そして又、放射線
透過試験では、機器が大がかりなものである上に、法律
上の制限もある。
験と磁粉探傷試験では、検体中にある亀裂の深さを求め
ることはできず、更に傷が表面に露出している必要があ
る。また超音波探傷試験では、検体の表面を平滑に仕上
げる必要があり、更に凹凸部等における欠陥に対しては
検出感度が低いことが知られている。そして又、放射線
透過試験では、機器が大がかりなものである上に、法律
上の制限もある。
【０００４】また、交流又は直流電流を用いた電位差又
は電圧変化による亀裂の検査方法では、検出データの信
頼性が高く、作業も比較的安全に行える利点はあるが、
検体に直接電流を流す必要があるため、電源からの導線
は計測の度に検体に溶接などの接合を施す必要があり、
検体全面の連続的な計測は困難である、といった問題点
がある。
は電圧変化による亀裂の検査方法では、検出データの信
頼性が高く、作業も比較的安全に行える利点はあるが、
検体に直接電流を流す必要があるため、電源からの導線
は計測の度に検体に溶接などの接合を施す必要があり、
検体全面の連続的な計測は困難である、といった問題点
がある。
【０００５】このような従来の問題点を解決したものと
して、集中誘導型交流電位差法が発明され、その装置を
利用した測定方法及び装置が出願されている（特開平６
−２２２０２１号公報）。この集中誘導型交流電位差法
は、誘導電流を利用し、検体中の与えられた任意点を連
続して計測し亀裂の検出が可能である。
して、集中誘導型交流電位差法が発明され、その装置を
利用した測定方法及び装置が出願されている（特開平６
−２２２０２１号公報）。この集中誘導型交流電位差法
は、誘導電流を利用し、検体中の与えられた任意点を連
続して計測し亀裂の検出が可能である。
【０００６】
【問題点を解決するための手段】本発明は、前記集中誘
導型交流電位差法を用い、緊張ロッドのような螺旋状の
凹凸構造を有する検体の亀裂の有無，位置，大きさ，深
さ等を、全面にわたって連続し検出することができる装
置を提供することを目的としたものであり、その要旨
は、探傷センサー部をそのガイド用突起が導電性検体の
螺旋部の溝内に位置するよう配設するとゝもに、該導電
性検体を軸回転せしめて、前記探傷センサー部を前記導
電性検体の螺旋部に沿って移動させ、前記探傷センサー
部に交流電流を流して各検査区域に発生する誘導電流に
よって生ずる２点間の電位差を順次検出し、該検知した
電位差の変化により検査範囲全域の亀裂等を検知するこ
とを特徴とする導電性螺旋検体の非破壊的劣化検査方法
及びその装置にある。
導型交流電位差法を用い、緊張ロッドのような螺旋状の
凹凸構造を有する検体の亀裂の有無，位置，大きさ，深
さ等を、全面にわたって連続し検出することができる装
置を提供することを目的としたものであり、その要旨
は、探傷センサー部をそのガイド用突起が導電性検体の
螺旋部の溝内に位置するよう配設するとゝもに、該導電
性検体を軸回転せしめて、前記探傷センサー部を前記導
電性検体の螺旋部に沿って移動させ、前記探傷センサー
部に交流電流を流して各検査区域に発生する誘導電流に
よって生ずる２点間の電位差を順次検出し、該検知した
電位差の変化により検査範囲全域の亀裂等を検知するこ
とを特徴とする導電性螺旋検体の非破壊的劣化検査方法
及びその装置にある。
【０００７】
【実施例】以下、本発明を図１乃至図８に示す実施例に
より詳細に説明するに、図中１は検体を軸回転させる回
転装置で、床Ｇ上に固定した支持台２Ａ，２Ｂ，２Ｃ
と、該支持台のうち右端側の支持台２Ｃに設置した可変
モータ３とから主に構成されている。そして、前記支持
台２Ａ，２Ｂにはころがり軸受４が設置されており、右
端側の支持台２Ｃに設置した前記可変モータ３の回転駆
動軸３Ａには、自在継手５を介してカップ状の連結部材
６が夫々装着さている。
より詳細に説明するに、図中１は検体を軸回転させる回
転装置で、床Ｇ上に固定した支持台２Ａ，２Ｂ，２Ｃ
と、該支持台のうち右端側の支持台２Ｃに設置した可変
モータ３とから主に構成されている。そして、前記支持
台２Ａ，２Ｂにはころがり軸受４が設置されており、右
端側の支持台２Ｃに設置した前記可変モータ３の回転駆
動軸３Ａには、自在継手５を介してカップ状の連結部材
６が夫々装着さている。
【０００８】７は探傷センサー部で、直方体形状の本体
８内に離間して平行に設けた垂直方向に延びる一対の電
圧端子９，９と、前記本体８の下面において、前記電圧
端子９，９の下端と夫々接続して配設した誘導線１０
と、該誘導線１０を覆う絶縁膜１１と、該絶縁膜１１の
下面中央から下方に突出したガイド用突起１２とから夫
々構成されている。
８内に離間して平行に設けた垂直方向に延びる一対の電
圧端子９，９と、前記本体８の下面において、前記電圧
端子９，９の下端と夫々接続して配設した誘導線１０
と、該誘導線１０を覆う絶縁膜１１と、該絶縁膜１１の
下面中央から下方に突出したガイド用突起１２とから夫
々構成されている。
【０００９】１３は前記探傷センサー部７の支持ブロッ
クで、該支持ブロック１３の下端は前記本体８の上部に
固定されており、上方部はその内部に装着した直動ベア
リング部材１３Ａを介して走行レール１４に支承されて
いる。この走行レール１４は前記回転装置１に沿ってそ
の上方に架設されており、したがって、前記探傷センサ
ー部７はこの走行レール１４に沿って図中左右方向に自
在に移動することができる。
クで、該支持ブロック１３の下端は前記本体８の上部に
固定されており、上方部はその内部に装着した直動ベア
リング部材１３Ａを介して走行レール１４に支承されて
いる。この走行レール１４は前記回転装置１に沿ってそ
の上方に架設されており、したがって、前記探傷センサ
ー部７はこの走行レール１４に沿って図中左右方向に自
在に移動することができる。
【００１０】１５は導電性検体である緊張ロッドで、そ
の左端側と中央部は前記回転装置１の支持台２Ａ，２Ｂ
の前記ころがり軸受４に自在に回転できるよう設置され
ており、緊張ロッド１５の右端側に形成した螺旋部１６
の端部は、前記連結部材６の開口端縁に固定されてい
る。したがって、緊張ロッド１５は前記可変モータ３が
駆動することにより、その軸心を中心として回転するこ
とになる。
の左端側と中央部は前記回転装置１の支持台２Ａ，２Ｂ
の前記ころがり軸受４に自在に回転できるよう設置され
ており、緊張ロッド１５の右端側に形成した螺旋部１６
の端部は、前記連結部材６の開口端縁に固定されてい
る。したがって、緊張ロッド１５は前記可変モータ３が
駆動することにより、その軸心を中心として回転するこ
とになる。
【００１１】１７，１７は緊張ロッド１５に形成した前
記螺旋部１６の山で、前記一対の電圧端子９，９の間隔
Ｄは、隣接する螺子の山１７，１７の夫々の頂面１７
Ａ，１７Ａの中央と夫々接触する距離に設定されてい
る。そして、図４に示すように、前記一対の電圧端子
９，９の先端部を山１７，１７の夫々の頂面１７Ａ，１
７Ａの中央と対峙する位置に設置した時、前記ガイド用
突起１２は山１７，１７間の谷１８内に位置するよう設
定されている。
記螺旋部１６の山で、前記一対の電圧端子９，９の間隔
Ｄは、隣接する螺子の山１７，１７の夫々の頂面１７
Ａ，１７Ａの中央と夫々接触する距離に設定されてい
る。そして、図４に示すように、前記一対の電圧端子
９，９の先端部を山１７，１７の夫々の頂面１７Ａ，１
７Ａの中央と対峙する位置に設置した時、前記ガイド用
突起１２は山１７，１７間の谷１８内に位置するよう設
定されている。
【００１２】而して、検体である緊張ロッド１５の左側
を支持台２Ａ，２Ｂに夫々支承するとゝもに、螺旋部１
６の右端を前記連結部材６に固定して、緊張ロッド１５
を回転装置１に取り付ける。そして、探傷センサー部７
を走行レール１４に沿って移動して、図２及び図３に示
すように、緊張ロッド１５の前記螺旋部１６を形成した
部分の外周面と近接する位置に設置する。
を支持台２Ａ，２Ｂに夫々支承するとゝもに、螺旋部１
６の右端を前記連結部材６に固定して、緊張ロッド１５
を回転装置１に取り付ける。そして、探傷センサー部７
を走行レール１４に沿って移動して、図２及び図３に示
すように、緊張ロッド１５の前記螺旋部１６を形成した
部分の外周面と近接する位置に設置する。
【００１３】つぎに、探傷センサー部７を左右に微調整
し、その電圧端子９，９を夫々、図５に示すように、計
測を開始する開始点Ａにおける螺旋部１６の山１７，１
７の頂面１７Ａ，１７Ａの中央と夫々対峙する位置にセ
ットする。これにより、探傷センサー部７の前記ガイド
用突起１２は前記山１７，１７間の谷１８内に位置する
ことになる。
し、その電圧端子９，９を夫々、図５に示すように、計
測を開始する開始点Ａにおける螺旋部１６の山１７，１
７の頂面１７Ａ，１７Ａの中央と夫々対峙する位置にセ
ットする。これにより、探傷センサー部７の前記ガイド
用突起１２は前記山１７，１７間の谷１８内に位置する
ことになる。
【００１４】ここで、コンピュータ１９の端末から回転
速度制御装置２０に一定の回転速度の指令を出し、この
指令により可変モータ３を駆動して検体である緊張ロッ
ド１５を適度な一定速度で回転させる。この緊張ロッド
１５の回転により、探傷センサー部７は計測を開始する
開始点Ａから左方向に水平移動して行く。また回転中は
随時、回転角センサ装置２１によって緊張ロッド１５の
回転角が前記コンピュータ１９に送信される。
速度制御装置２０に一定の回転速度の指令を出し、この
指令により可変モータ３を駆動して検体である緊張ロッ
ド１５を適度な一定速度で回転させる。この緊張ロッド
１５の回転により、探傷センサー部７は計測を開始する
開始点Ａから左方向に水平移動して行く。また回転中は
随時、回転角センサ装置２１によって緊張ロッド１５の
回転角が前記コンピュータ１９に送信される。
【００１５】この間、交流電源２２から一定周波数の交
流電流を探傷センサー部７の誘導線１０に流しておく
が、この電流により絶縁膜１１を挟んだ緊張ロッド１５
の螺旋部１６内に前記誘導線１０に沿って誘導電流が生
じるので、螺旋部１６上の２つの山１７と１７の２点間
の電位差を夫々の頂面１７Ａ，１７Ａと対峙した電圧端
子９，９によって検出し、これを電位差検出装置２３に
より測定する。そして、この電位差データは増幅器２３
Ａで増幅されてコンピュータ１９に送られ、各計測の判
別値として使われる。
流電流を探傷センサー部７の誘導線１０に流しておく
が、この電流により絶縁膜１１を挟んだ緊張ロッド１５
の螺旋部１６内に前記誘導線１０に沿って誘導電流が生
じるので、螺旋部１６上の２つの山１７と１７の２点間
の電位差を夫々の頂面１７Ａ，１７Ａと対峙した電圧端
子９，９によって検出し、これを電位差検出装置２３に
より測定する。そして、この電位差データは増幅器２３
Ａで増幅されてコンピュータ１９に送られ、各計測の判
別値として使われる。
【００１６】そして、前記緊張ロッド１５の一回転によ
り、その螺旋部１６の第１の検査区域の全周について前
記山１７と山１７の２点間の電位差を計測するとゝも
に、その谷１８内にあるガイド用突起１２は螺旋溝の側
壁１７Ｂにより図の左方向に押圧される。この押圧力に
より探傷センサー部７は左方向への力を受け、その結果
探傷センサー部７は走行レール１４に沿って同方向に移
動し、前記２点間と隣接する第２の検査区域に移動する
ことになり、検査する区域の変更が行われる。
り、その螺旋部１６の第１の検査区域の全周について前
記山１７と山１７の２点間の電位差を計測するとゝも
に、その谷１８内にあるガイド用突起１２は螺旋溝の側
壁１７Ｂにより図の左方向に押圧される。この押圧力に
より探傷センサー部７は左方向への力を受け、その結果
探傷センサー部７は走行レール１４に沿って同方向に移
動し、前記２点間と隣接する第２の検査区域に移動する
ことになり、検査する区域の変更が行われる。
【００１７】このような検出条件下において、探傷セン
サー部７が、図６に示すように、亀裂Ｋのある位置Ｃ３
まで移動してくると両電圧端子９，９間に抵抗が生じ、
この部分を流れる誘導電流の電位差は大きくなる。この
とき、無傷部の電位差の平均を１として相対化した現段
階の電位差（標準化電位差）と開始点Ａからの回転角と
の関係は、コンピータ１９により、図７のように示され
る。そこで、標準化電位差に変化のある回転角区間の長
さと、標準化電位差の変化量から、検体中の亀裂Ｋの大
きさと深さが計測でき、また亀裂Ｋまでの回転角から以
下のようにしてその亀裂の位置が目認できる。
サー部７が、図６に示すように、亀裂Ｋのある位置Ｃ３
まで移動してくると両電圧端子９，９間に抵抗が生じ、
この部分を流れる誘導電流の電位差は大きくなる。この
とき、無傷部の電位差の平均を１として相対化した現段
階の電位差（標準化電位差）と開始点Ａからの回転角と
の関係は、コンピータ１９により、図７のように示され
る。そこで、標準化電位差に変化のある回転角区間の長
さと、標準化電位差の変化量から、検体中の亀裂Ｋの大
きさと深さが計測でき、また亀裂Ｋまでの回転角から以
下のようにしてその亀裂の位置が目認できる。
【００１８】図７に示すように、電圧に変化を生じてい
る範囲の回転角から亀裂Ｋの大きさを求める。すなわ
ち、電位差に変化の生じ始める点の回転角度をｎ1 πと
し、変化の終了点の回転角度をｎ2 πとすると、（ｎ2
−ｎ1 ）πは電位差変化中の回転角度Ｎπとなる。ここ
で、螺旋状に凹凸部が延びるようなロッドでは、図７に
示すように、亀裂Ｋは螺旋の谷１８においてその山１７
に沿って生じるので、電位差変化のある範囲がその亀裂
Ｋの大きさとなる。したがって、亀裂Ｋの大きさＬは、
Ｌ＝Ｒπ×（Ｎπ／２π）＝ＮＲ／２π・cmとなる。但
し、Ｒはコンピュータ１９に予め入力された緊張ロッド
１５の直径である。
る範囲の回転角から亀裂Ｋの大きさを求める。すなわ
ち、電位差に変化の生じ始める点の回転角度をｎ1 πと
し、変化の終了点の回転角度をｎ2 πとすると、（ｎ2
−ｎ1 ）πは電位差変化中の回転角度Ｎπとなる。ここ
で、螺旋状に凹凸部が延びるようなロッドでは、図７に
示すように、亀裂Ｋは螺旋の谷１８においてその山１７
に沿って生じるので、電位差変化のある範囲がその亀裂
Ｋの大きさとなる。したがって、亀裂Ｋの大きさＬは、
Ｌ＝Ｒπ×（Ｎπ／２π）＝ＮＲ／２π・cmとなる。但
し、Ｒはコンピュータ１９に予め入力された緊張ロッド
１５の直径である。
【００１９】また亀裂Ｋの深さは、図８に示すように、
交流電流により生じた誘導電流は検体１５の表面に沿っ
て流れるので、亀裂Ｋが生じている部分ではその道のり
が長くなり、２点１７，１７間の電位差が広がることに
なる。電位差と検体表面構造の関係は、亀裂の生じてい
ない部分の平均電位差をＶ0 、亀裂部分の電位差をＶと
すると、標準化電位差Ｖａは、Ｖａ＝Ｖ／Ｖ0 ＝（２ｘ
＋２ｙ＋２Ｆ）／（２ｘ＋２ｙ）となり、亀裂の深さＦ
の増加により相加的に標準化電位差も拡大することにな
る。したがって、各検体の特性と亀裂・標準化電位差変
化の相関関係を統計的に把握することで、亀裂Ｋの深さ
を断定することができる。
交流電流により生じた誘導電流は検体１５の表面に沿っ
て流れるので、亀裂Ｋが生じている部分ではその道のり
が長くなり、２点１７，１７間の電位差が広がることに
なる。電位差と検体表面構造の関係は、亀裂の生じてい
ない部分の平均電位差をＶ0 、亀裂部分の電位差をＶと
すると、標準化電位差Ｖａは、Ｖａ＝Ｖ／Ｖ0 ＝（２ｘ
＋２ｙ＋２Ｆ）／（２ｘ＋２ｙ）となり、亀裂の深さＦ
の増加により相加的に標準化電位差も拡大することにな
る。したがって、各検体の特性と亀裂・標準化電位差変
化の相関関係を統計的に把握することで、亀裂Ｋの深さ
を断定することができる。
【００２０】更に、亀裂の位置を目認する方法は、計測
中常にコンピュータ１９に回転角センサ装置２１から送
られてくる回転角により、亀裂中央位置Ｃ3 の回転角α
により、α＝（４２／５）πとすると、α／２π＝
〔（４２／５）π〕／２π＝４＋１／５となり、この亀
裂位置Ｃ3 は測定開始点Ａから４周と１／５周分の位置
にあるといえる。そこで、検体直径Ｒ＝１０cmの時、実
際の検体では開始点位置から４周目の開始点水平地点よ
り物差し等で、１０π／５＝６．２８〔cm〕の長さ分だ
け円周上に伸びた位置を確認すれば、そのロッド５の凸
凹凸間に亀裂Ｋがあることが確認できる。
中常にコンピュータ１９に回転角センサ装置２１から送
られてくる回転角により、亀裂中央位置Ｃ3 の回転角α
により、α＝（４２／５）πとすると、α／２π＝
〔（４２／５）π〕／２π＝４＋１／５となり、この亀
裂位置Ｃ3 は測定開始点Ａから４周と１／５周分の位置
にあるといえる。そこで、検体直径Ｒ＝１０cmの時、実
際の検体では開始点位置から４周目の開始点水平地点よ
り物差し等で、１０π／５＝６．２８〔cm〕の長さ分だ
け円周上に伸びた位置を確認すれば、そのロッド５の凸
凹凸間に亀裂Ｋがあることが確認できる。
【００２１】そして、前記緊張ロッド１５が連続して回
転することにより、前記と同じ方法によって、第２，第
３の検査区域における２点間の電位差が連続して計測さ
れ、この電位差データを電位差検出装置２３からコンピ
ュータ１９に入力し、該コンピュータ１９に予めインプ
ットした無傷状態時における電位差，検体の構造，検査
方法等の初期値等のデータと比較することにより、検査
範囲全域の亀裂の有無や大きさ及び深さ、継続使用の可
否や使用荷重条件の判定等を一括して処理することがで
きる。
転することにより、前記と同じ方法によって、第２，第
３の検査区域における２点間の電位差が連続して計測さ
れ、この電位差データを電位差検出装置２３からコンピ
ュータ１９に入力し、該コンピュータ１９に予めインプ
ットした無傷状態時における電位差，検体の構造，検査
方法等の初期値等のデータと比較することにより、検査
範囲全域の亀裂の有無や大きさ及び深さ、継続使用の可
否や使用荷重条件の判定等を一括して処理することがで
きる。
【００２２】
【発明の効果】本発明は、上記のような構成であるか
ら、緊張ロッドのような螺旋状の凹凸を有する導電性検
体の亀裂の有無，大きさ，深さ等を非破壊的に連続して
検査することが可能となる。また亀裂の発見方法には集
中誘導型交流電位差法を用いることで、一回の検査時に
亀裂の有無と深さの評価を行うことができるとゝもに、
検体に加わる荷重と傷の形状及び深さに基づいて破壊力
学的評価などにより検体の寿命を管理できる、といった
諸効果がある。
ら、緊張ロッドのような螺旋状の凹凸を有する導電性検
体の亀裂の有無，大きさ，深さ等を非破壊的に連続して
検査することが可能となる。また亀裂の発見方法には集
中誘導型交流電位差法を用いることで、一回の検査時に
亀裂の有無と深さの評価を行うことができるとゝもに、
検体に加わる荷重と傷の形状及び深さに基づいて破壊力
学的評価などにより検体の寿命を管理できる、といった
諸効果がある。
【図１】本発明に係る装置の説明概略図である。
【図２】同装置の要部を示す部分拡大正面図である。
【図３】図２の側面図である。
【図４】作用を示す拡大部分図である。
【図５】螺旋部の部分図である。
【図６】螺旋部の部分図である。
【図７】標準化電位差と回転角との関係を示す図であ
る。
る。
【図８】検体中を流れる誘導電流の説明図である。
１ 回転装置 ２Ａ 支持台 ２Ｂ 支持台 ２Ｃ 支持台 ３ 可変モータ ３Ａ 回転駆動軸 ４ ころがり軸受 ５ 自在継手 ６ 連結部材 ７ 探傷センサー部 ８ 本体 ９ 電圧端子 １０ 誘電線 １１ 絶縁膜 １２ ガイド用突起 １３ 支持ブロック １３Ａ 直動ベアリング部材 １４ 走行レール １５ 緊張ロッド １６ 螺旋部 １７ 山 １７Ａ 頂面 １７Ｂ 側壁 １８ 谷 １９ コンピュータ ２０ 回転速度制御装置 ２１ 回転角センサ装置 ２２ 交流電源 ２３ 電位差検出装置 ２３Ａ 増幅器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ▲廣▼藤 雅俊 東京都港区赤坂２丁目４番１号 日本ハイ コン株式会社内 (72)発明者 小島 博 山形県酒田市上本町６番７号 前田製管株 式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】 探傷センサー部をそのガイド用突起が導
電性検体の螺旋部の溝内に位置するよう配設するとゝも
に、該導電性検体を軸回転せしめて、前記探傷センサー
部を前記導電性検体の螺旋部に沿って移動させ、前記探
傷センサー部に交流電流を流して各検査区域に発生する
誘導電流によって生ずる２点間の電位差を順次検出し、
該検知した電位差の変化により検査範囲全域の亀裂等を
検知することを特徴とする導電性螺旋検体の非破壊的劣
化検査方法。 - 【請求項２】 検知した電位差と無傷状態の電位差との
差を比較することにより、検査範囲全域の亀裂等を検知
することを特徴とする請求項１記載の導電性螺旋検体の
非破壊的劣化検査方法。 - 【請求項３】 導電性検体を軸回転させる回転装置と、
前記導電性検体の検体部である螺旋部の外周と近接した
位置に設置されその谷と係合するガイド用突起を備えた
探傷センサー部と、該探傷センサー部による各検査区域
に誘導電流を生ぜしめるための誘導線と、２点間の電位
差を順次検出する電位差検出装置と、前記探傷センサー
部を前記導電性検体の螺旋部に沿って移動自在に支承し
た走行レールとから構成したことを特徴とする請求項１
の方法で使用する導電性螺旋検体の非破壊的劣化検査装
置。 - 【請求項４】 電位差検出装置から出力した電位差デー
タと無傷状態の標準電位差と比較する電位差比較装置と
を具備したことを特徴とする請求項３記載の導電性螺旋
検体の非破壊的劣化検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7164589A JP2857988B2 (ja) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | 導電性螺旋検体の非破壊的劣化検査方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7164589A JP2857988B2 (ja) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | 導電性螺旋検体の非破壊的劣化検査方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08334487A true JPH08334487A (ja) | 1996-12-17 |
| JP2857988B2 JP2857988B2 (ja) | 1999-02-17 |
Family
ID=15796058
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7164589A Expired - Lifetime JP2857988B2 (ja) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | 導電性螺旋検体の非破壊的劣化検査方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2857988B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115372250A (zh) * | 2022-10-25 | 2022-11-22 | 杭州科工电子科技有限公司 | 一种线束性能的组合测试工装 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6180039A (ja) * | 1984-09-21 | 1986-04-23 | インテルアトム、ゲゼルシヤフト、ミツト、ベシユレンクテル、ハフツング | 構造監視方法および装置並びにこれに使用される測定ヘツド |
| JPS61160052A (ja) * | 1984-11-19 | 1986-07-19 | シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト | ねじの検査方法および渦電流式プロ−ブ |
| JPH06222021A (ja) * | 1993-01-25 | 1994-08-12 | Tetsuo Shoji | 材料の劣化計測方法及び装置 |
-
1995
- 1995-06-07 JP JP7164589A patent/JP2857988B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6180039A (ja) * | 1984-09-21 | 1986-04-23 | インテルアトム、ゲゼルシヤフト、ミツト、ベシユレンクテル、ハフツング | 構造監視方法および装置並びにこれに使用される測定ヘツド |
| JPS61160052A (ja) * | 1984-11-19 | 1986-07-19 | シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト | ねじの検査方法および渦電流式プロ−ブ |
| JPH06222021A (ja) * | 1993-01-25 | 1994-08-12 | Tetsuo Shoji | 材料の劣化計測方法及び装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115372250A (zh) * | 2022-10-25 | 2022-11-22 | 杭州科工电子科技有限公司 | 一种线束性能的组合测试工装 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2857988B2 (ja) | 1999-02-17 |
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