JPH08330213A - 現像装置 - Google Patents
現像装置Info
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- JPH08330213A JPH08330213A JP13452795A JP13452795A JPH08330213A JP H08330213 A JPH08330213 A JP H08330213A JP 13452795 A JP13452795 A JP 13452795A JP 13452795 A JP13452795 A JP 13452795A JP H08330213 A JPH08330213 A JP H08330213A
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- JP
- Japan
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- developing solution
- developing
- resist
- resist master
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 ディスク基板の製造に用いられるスタンパの
製造に供される現像装置であって、レジスト原盤1が載
置されるターンテーブル2と、各々吐出量調整が可能
な、回転中心近傍に固定された第1現像液吐出ノズル1
0と、レジスト原盤1の径方向に往復運動する第2現像
液吐出ノズル11と、内周側と外周側の各ポイントP1
・P2 にモニター用レーザ光Lを照射するレーザ4a・
4bと、その透過光の0次回折光L0 と1次回折光L1
とを検出する検出器8a・9a・8b・9bと、これら
の検出結果からレジスト原盤1の現像の進行度合を検出
し、それに応じて、第1及び第2の現像液吐出ノズル1
0・11からの現像液の吐出量を調整する制御部とが設
けられている。 【効果】 安定した大きさ・形状の凹凸パターンを有す
るスタンパの作製が可能となり、ひいては、均一な光学
特性を有する光ディスクを作製できる。
製造に供される現像装置であって、レジスト原盤1が載
置されるターンテーブル2と、各々吐出量調整が可能
な、回転中心近傍に固定された第1現像液吐出ノズル1
0と、レジスト原盤1の径方向に往復運動する第2現像
液吐出ノズル11と、内周側と外周側の各ポイントP1
・P2 にモニター用レーザ光Lを照射するレーザ4a・
4bと、その透過光の0次回折光L0 と1次回折光L1
とを検出する検出器8a・9a・8b・9bと、これら
の検出結果からレジスト原盤1の現像の進行度合を検出
し、それに応じて、第1及び第2の現像液吐出ノズル1
0・11からの現像液の吐出量を調整する制御部とが設
けられている。 【効果】 安定した大きさ・形状の凹凸パターンを有す
るスタンパの作製が可能となり、ひいては、均一な光学
特性を有する光ディスクを作製できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクのトラッキ
ング用案内溝やセクタ番地を提供するプリピットのよう
なサブミクロンオーダの凹凸パターンを有するプラスチ
ック基板を、射出成形等により大量複製するときに用い
られるスタンパの製造工程に供される現像装置に関する
ものである。
ング用案内溝やセクタ番地を提供するプリピットのよう
なサブミクロンオーダの凹凸パターンを有するプラスチ
ック基板を、射出成形等により大量複製するときに用い
られるスタンパの製造工程に供される現像装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】光磁気ディスクや追記型光ディスクで
は、図2に示すようにトラッキング用の案内溝21やセ
クタ番号等の記録再生位置情報を提供するピット20
が、ディスク基板35に予め形成されている。このよう
なディスク基板35はスタンパを用いて射出成形等によ
り複製され大量生産される。
は、図2に示すようにトラッキング用の案内溝21やセ
クタ番号等の記録再生位置情報を提供するピット20
が、ディスク基板35に予め形成されている。このよう
なディスク基板35はスタンパを用いて射出成形等によ
り複製され大量生産される。
【0003】スタンパの製造を図3を参照して簡単に説
明すると、まずは、図3(a)に示すように、ガラス基
板31の表面にフォトレジスト32を塗布してレジスト
原盤1を作製し、次に、同図(b)に示すように、レジ
スト原盤1を回転させながら、内周から外周側へと露光
用レーザ19を用いてカッティングを行う。続いて、同
図(c)に示すように、これを現像して、ピット20や
案内溝21が形成された所望の形状のレジストパターン
32aを有するマスター原盤1aを作製する。
明すると、まずは、図3(a)に示すように、ガラス基
板31の表面にフォトレジスト32を塗布してレジスト
原盤1を作製し、次に、同図(b)に示すように、レジ
スト原盤1を回転させながら、内周から外周側へと露光
用レーザ19を用いてカッティングを行う。続いて、同
図(c)に示すように、これを現像して、ピット20や
案内溝21が形成された所望の形状のレジストパターン
32aを有するマスター原盤1aを作製する。
【0004】次いで、同図(d)に示すように、レジス
トパターン32a上にスパッタリングや蒸着等の方法で
ニッケル或いは銀等から成る導電膜33を形成した後、
同図(e)に示すように、導電膜33を一方の電極とす
る電鋳処理によって金属、例えばニッケルの電鋳膜34
を所望の厚さで形成する。その後、マスター原盤1aか
ら導電膜33及び電鋳膜34を剥離して、電鋳膜34の
裏面に研磨等の処理を施すことで、同図(f)に示すよ
うなファザー13を得る。ここで、導電膜33がスパッ
タリング法で形成されたニッケル膜からなる場合は、導
電膜33の膜質が密であり、電鋳で得られる電鋳膜34
と同一の金属で一体化した表面層が得られるので、ファ
ザー13がそのままスタンパとなる。一方、導電膜33
が銀膜から成る場合は、硬度が低く成形中に表面が変形
するため、ファザー13より導電膜33を取り除いたも
のがスタンパとなる。
トパターン32a上にスパッタリングや蒸着等の方法で
ニッケル或いは銀等から成る導電膜33を形成した後、
同図(e)に示すように、導電膜33を一方の電極とす
る電鋳処理によって金属、例えばニッケルの電鋳膜34
を所望の厚さで形成する。その後、マスター原盤1aか
ら導電膜33及び電鋳膜34を剥離して、電鋳膜34の
裏面に研磨等の処理を施すことで、同図(f)に示すよ
うなファザー13を得る。ここで、導電膜33がスパッ
タリング法で形成されたニッケル膜からなる場合は、導
電膜33の膜質が密であり、電鋳で得られる電鋳膜34
と同一の金属で一体化した表面層が得られるので、ファ
ザー13がそのままスタンパとなる。一方、導電膜33
が銀膜から成る場合は、硬度が低く成形中に表面が変形
するため、ファザー13より導電膜33を取り除いたも
のがスタンパとなる。
【0005】ところで、大きなトラッキング信号とピッ
ト信号とが同時に得られるように、ピット20と案内溝
21の深さを2段階に、例えば案内溝21の深さλ/
8、ピットの深さをλ/4といったように変えて形成す
る場合がある。この場合、深い方のピット20について
は、レジスト32の厚みによってその深さを規制できる
ので、レシズト32の厚みをλ/4とすることで、充分
な露光量を与えて露光することができる。しかしなが
ら、浅い方の案内溝21については、溝深さをレジスト
32の厚みの約1/2にとどめる必要があるため、比較
的少ない露光量で露光する必要がある。その結果、レジ
スト感度の変動や、露光用レーザ19の露光量の変動
(レーザ照射パワーの変動)、レジスト原盤1上の露光
ビームの焦点ずれ、現像におけるレジスト32の表面温
度、現像液温度、現像液濃度の変動等によって、案内溝
21の深さの再現性に問題が生じることとなる。しかし
ながら、これらの要因すべてを厳密に管理することは極
めて困難なことである。
ト信号とが同時に得られるように、ピット20と案内溝
21の深さを2段階に、例えば案内溝21の深さλ/
8、ピットの深さをλ/4といったように変えて形成す
る場合がある。この場合、深い方のピット20について
は、レジスト32の厚みによってその深さを規制できる
ので、レシズト32の厚みをλ/4とすることで、充分
な露光量を与えて露光することができる。しかしなが
ら、浅い方の案内溝21については、溝深さをレジスト
32の厚みの約1/2にとどめる必要があるため、比較
的少ない露光量で露光する必要がある。その結果、レジ
スト感度の変動や、露光用レーザ19の露光量の変動
(レーザ照射パワーの変動)、レジスト原盤1上の露光
ビームの焦点ずれ、現像におけるレジスト32の表面温
度、現像液温度、現像液濃度の変動等によって、案内溝
21の深さの再現性に問題が生じることとなる。しかし
ながら、これらの要因すべてを厳密に管理することは極
めて困難なことである。
【0006】そこで、溝形成の最終工程である現像工程
で溝深さを制御する必要性が生じ、従来、図11に示す
自動現像方式が導入された自動現像装置が提案されてい
る(「光ディスクの最適溝形状」,National Technical
Report Vol.35 No.2 Apr.1989 ) 。
で溝深さを制御する必要性が生じ、従来、図11に示す
自動現像方式が導入された自動現像装置が提案されてい
る(「光ディスクの最適溝形状」,National Technical
Report Vol.35 No.2 Apr.1989 ) 。
【0007】これにおいては、モータ52にて駆動され
るターンテーブル51の上に、レジスト32(図3
(a)参照)の面を上にした状態でレジスト原盤1が載
置され、回転される。そして、レジスト原盤1の上方の
回転中心近傍に固定されるか、或いは回転中心近傍と外
周側とを径方向に往復運動するようになったノズル56
から現像液が吐出され、レジスト原盤1におけるレジス
ト32が現像される。一方、レジスト原盤1の裏面側に
は、レーザ53からモニター用レーザ光Lが照射されて
おり、現像の進行と共に形成される案内溝21(図3
(c)参照)により回折されたモニター用レーザ光Lの
0次回折光L0 と一次回折光L1 とが、レジスト原盤1
の表面側に設けられた検出器54・55にて検出され
る。そして、予め求めた現像の進行度合である溝深さ
と、透過光の1次回折光対0次回折光の強度比I1/I0 の
関係に基づき、一定の強度比となったとき、所望の案内
溝21の深さを得たとして、現像が停止される。
るターンテーブル51の上に、レジスト32(図3
(a)参照)の面を上にした状態でレジスト原盤1が載
置され、回転される。そして、レジスト原盤1の上方の
回転中心近傍に固定されるか、或いは回転中心近傍と外
周側とを径方向に往復運動するようになったノズル56
から現像液が吐出され、レジスト原盤1におけるレジス
ト32が現像される。一方、レジスト原盤1の裏面側に
は、レーザ53からモニター用レーザ光Lが照射されて
おり、現像の進行と共に形成される案内溝21(図3
(c)参照)により回折されたモニター用レーザ光Lの
0次回折光L0 と一次回折光L1 とが、レジスト原盤1
の表面側に設けられた検出器54・55にて検出され
る。そして、予め求めた現像の進行度合である溝深さ
と、透過光の1次回折光対0次回折光の強度比I1/I0 の
関係に基づき、一定の強度比となったとき、所望の案内
溝21の深さを得たとして、現像が停止される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の現像装置でも、カッティング工程での露光用レ
ーザ19のレーザ照射パワーの変動に充分に対応するこ
とはできず、やはり、露光量の変動に起因した案内溝2
1の深さの変動が生じており、深さの変動によって溝の
大きさ・形状が変動してしまい、安定した大きさ・形状
を有する案内溝21を形成することが困難となってい
る。そして、このようにマスター原盤1aを作製する段
階で案内溝21の大きさ・形状が安定しないと、得られ
たスタンパを用いて作製された光ディスクに、光学特性
が場所によって異なるといった欠陥が発生することとな
る。
た従来の現像装置でも、カッティング工程での露光用レ
ーザ19のレーザ照射パワーの変動に充分に対応するこ
とはできず、やはり、露光量の変動に起因した案内溝2
1の深さの変動が生じており、深さの変動によって溝の
大きさ・形状が変動してしまい、安定した大きさ・形状
を有する案内溝21を形成することが困難となってい
る。そして、このようにマスター原盤1aを作製する段
階で案内溝21の大きさ・形状が安定しないと、得られ
たスタンパを用いて作製された光ディスクに、光学特性
が場所によって異なるといった欠陥が発生することとな
る。
【0009】つまり、従来の図11に示した現像装置で
は、一か所の測定ポイントで現像の進行度合を見て、そ
の測定ポイントでの1次回折光対0次回折光の強度比I1
/I0が所定の値となった時、案内溝21の深さが所定の
深さとなったとして、ノズル56からの現像液の吐出を
停止し、現像を停止するようになっている。ところが、
露光用レーザ19のレーザ照射パワーの変動は時間と共
に一様に起こることが多く、そのため、レーザ照射パワ
ーの変動に起因した案内溝21の大きさ・形状の変動
も、内周側から外周側に向かって一様に起こることが多
い。したがって、従来のように一か所の測定ポイントで
現像の進行状態を判断し、現像を停止したのでは、この
ような内周側から外周側にかけての一様な変動に対応で
きず、図12(a)或いは同図(b)に示すように、大
きさ・形状の異なる案内溝21となってしまう。
は、一か所の測定ポイントで現像の進行度合を見て、そ
の測定ポイントでの1次回折光対0次回折光の強度比I1
/I0が所定の値となった時、案内溝21の深さが所定の
深さとなったとして、ノズル56からの現像液の吐出を
停止し、現像を停止するようになっている。ところが、
露光用レーザ19のレーザ照射パワーの変動は時間と共
に一様に起こることが多く、そのため、レーザ照射パワ
ーの変動に起因した案内溝21の大きさ・形状の変動
も、内周側から外周側に向かって一様に起こることが多
い。したがって、従来のように一か所の測定ポイントで
現像の進行状態を判断し、現像を停止したのでは、この
ような内周側から外周側にかけての一様な変動に対応で
きず、図12(a)或いは同図(b)に示すように、大
きさ・形状の異なる案内溝21となってしまう。
【0010】さらに、上記従来の現像装置では、ノズル
56は、レジスト原盤1の回転中心近傍に固定されてい
るか、或いは回転中心近傍と外周側とをレジスト原盤1
の径方向に往復運動するようになっているかのどちらか
であるが、何れにせよ、レジスト原盤1の内周側及び外
周側の現像速度は、それぞれ一定の値に決まってしま
い、それに対して現像速度を調整することは不可能であ
った。
56は、レジスト原盤1の回転中心近傍に固定されてい
るか、或いは回転中心近傍と外周側とをレジスト原盤1
の径方向に往復運動するようになっているかのどちらか
であるが、何れにせよ、レジスト原盤1の内周側及び外
周側の現像速度は、それぞれ一定の値に決まってしま
い、それに対して現像速度を調整することは不可能であ
った。
【0011】尚、ここでは、ピット20についてはレジ
スト32の厚みを調整することで、充分な露光量を与え
て露光することができるようにしているが、ピット20
を案内溝21と同様にレジスト32の露光量により調整
する場合は、同様の問題が生じることはもちろんであ
る。
スト32の厚みを調整することで、充分な露光量を与え
て露光することができるようにしているが、ピット20
を案内溝21と同様にレジスト32の露光量により調整
する場合は、同様の問題が生じることはもちろんであ
る。
【0012】本発明は、上記課題に鑑みて成されたもの
で、その目的は、露光量の変動に充分に対応して、安定
した大きさ・形状の凹凸パターンを有するスタンパの作
製を可能とする現像装置を提供し、ひいては、均一な光
学特性を有する光ディスクを作製することにある。
で、その目的は、露光量の変動に充分に対応して、安定
した大きさ・形状の凹凸パターンを有するスタンパの作
製を可能とする現像装置を提供し、ひいては、均一な光
学特性を有する光ディスクを作製することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1記載の
現像装置は、上記の課題を解決するために、微細な凹凸
パターンの複製に供されるスタンパの製造に用いられ、
ガラス基板の一方面にレジストが塗布されてなるレジス
ト原盤を、レジスト面を上にした状態で回転させなが
ら、現像液供給手段にてレジスト原盤のレジスト面に上
方から現像液を供給して現像を実施すると共に、現像進
行度合検出手段にて現像の進行度合を検出する現像装置
において、上記現像進行度合検出手段は、レジスト原盤
における回転中心近傍及び外周側の2か所の進行度合を
検出するように設けられ、上記現像液供給手段は、現像
液の供給量をレジスト原盤の径方向で調整し得るように
設けられていることを特徴としている。
現像装置は、上記の課題を解決するために、微細な凹凸
パターンの複製に供されるスタンパの製造に用いられ、
ガラス基板の一方面にレジストが塗布されてなるレジス
ト原盤を、レジスト面を上にした状態で回転させなが
ら、現像液供給手段にてレジスト原盤のレジスト面に上
方から現像液を供給して現像を実施すると共に、現像進
行度合検出手段にて現像の進行度合を検出する現像装置
において、上記現像進行度合検出手段は、レジスト原盤
における回転中心近傍及び外周側の2か所の進行度合を
検出するように設けられ、上記現像液供給手段は、現像
液の供給量をレジスト原盤の径方向で調整し得るように
設けられていることを特徴としている。
【0014】本発明の請求項2記載の現像装置は、上記
の課題を解決するために、請求項1の構成において、上
記現像進行度合検出手段による検出結果に基づいて、レ
ジスト原盤における回転中心近傍及び外周側の現像の進
行度合が等しくなるように、上記現像液供給手段におけ
る現像液の供給量の調整を行う現像制御手段が備えられ
ていることを特徴としている。
の課題を解決するために、請求項1の構成において、上
記現像進行度合検出手段による検出結果に基づいて、レ
ジスト原盤における回転中心近傍及び外周側の現像の進
行度合が等しくなるように、上記現像液供給手段におけ
る現像液の供給量の調整を行う現像制御手段が備えられ
ていることを特徴としている。
【0015】本発明の請求項3記載の現像装置は、上記
の課題を解決するために、請求項1又は2の構成におい
て、上記現像液供給手段は、レジスト原盤の上方に配さ
れた、現像液の吐出量の調整が可能な二つの第1及び第
2の現像液吐出ノズル部を備えており、このうち第1現
像液吐出ノズル部はレジスト原盤の回転中心近傍に固定
され、第2現像液吐出ノズル部はレジスト原盤における
回転中心近傍と外周側とを径方向に往復運動するように
設けられていることを特徴としている。
の課題を解決するために、請求項1又は2の構成におい
て、上記現像液供給手段は、レジスト原盤の上方に配さ
れた、現像液の吐出量の調整が可能な二つの第1及び第
2の現像液吐出ノズル部を備えており、このうち第1現
像液吐出ノズル部はレジスト原盤の回転中心近傍に固定
され、第2現像液吐出ノズル部はレジスト原盤における
回転中心近傍と外周側とを径方向に往復運動するように
設けられていることを特徴としている。
【0016】本発明の請求項4記載の現像装置は、上記
の課題を解決するために、請求項1又は2の構成におい
て、上記現像液供給手段は、レジスト原盤の上方に配さ
れ、レジスト原盤における回転中心近傍と外周側とを径
方向に往復運動する運動状態と、レジスト原盤の回転中
心近傍で停止する停止状態との切り換えが可能に設けら
れた第3現像液吐出ノズル部を備えていることを特徴と
している。
の課題を解決するために、請求項1又は2の構成におい
て、上記現像液供給手段は、レジスト原盤の上方に配さ
れ、レジスト原盤における回転中心近傍と外周側とを径
方向に往復運動する運動状態と、レジスト原盤の回転中
心近傍で停止する停止状態との切り換えが可能に設けら
れた第3現像液吐出ノズル部を備えていることを特徴と
している。
【0017】
【作用】請求項1の構成によれば、現像進行度合検出手
段により、レジスト原盤における回転中心近傍及び外周
側の2か所の現像の進行度合が検出される。また、現像
液供給手段における現像液の供給量は、レジスト原盤の
径方向で調整し得るようになっている。したがって、操
作者は、現像進行度合検出手段による検出結果に基づい
て、レジスト原盤における回転中心近傍及び外周側の現
像の進行度合が等しくなるように現像液の供給量を調整
することが可能となる。例えば回転中心近傍の現像速度
が外周側に比べて速い場合は、回転中心近傍に供給され
る現像液の供給量を減らし、外周側に供給される現像液
の供給量を増やす。反対に回転中心近傍の現像速度が外
周側に比べて遅い場合は、回転中心近傍に供給される現
像液の供給量を増やし、外周側に供給される現像液の供
給量を減らす。
段により、レジスト原盤における回転中心近傍及び外周
側の2か所の現像の進行度合が検出される。また、現像
液供給手段における現像液の供給量は、レジスト原盤の
径方向で調整し得るようになっている。したがって、操
作者は、現像進行度合検出手段による検出結果に基づい
て、レジスト原盤における回転中心近傍及び外周側の現
像の進行度合が等しくなるように現像液の供給量を調整
することが可能となる。例えば回転中心近傍の現像速度
が外周側に比べて速い場合は、回転中心近傍に供給され
る現像液の供給量を減らし、外周側に供給される現像液
の供給量を増やす。反対に回転中心近傍の現像速度が外
周側に比べて遅い場合は、回転中心近傍に供給される現
像液の供給量を増やし、外周側に供給される現像液の供
給量を減らす。
【0018】これにより、従来のような一か所のみでの
現像の進行度合の検出では対応できなかった、露光時の
レーザ照射パワーの変動に伴うレジスト原盤の内周側か
ら外周側にかけての露光量の一様の変化に対応でき、こ
の現像装置を使用することで、安定した大きさ・形状の
凹凸パターンを有するスタンパの作製が可能となり、ひ
いては、均一な光学特性を有する光ディスクを作製する
ことができる。
現像の進行度合の検出では対応できなかった、露光時の
レーザ照射パワーの変動に伴うレジスト原盤の内周側か
ら外周側にかけての露光量の一様の変化に対応でき、こ
の現像装置を使用することで、安定した大きさ・形状の
凹凸パターンを有するスタンパの作製が可能となり、ひ
いては、均一な光学特性を有する光ディスクを作製する
ことができる。
【0019】請求項2の構成によれば、現像制御手段
が、現像進行度合検出手段による検出結果に基づいて、
レジスト原盤における回転中心近傍及び外周側の現像の
進行度合が等しくなるように、上記現像液供給手段にお
ける現像液の供給量の調整を行うので、供給量の調整が
自動化されて操作者の手を煩わさず、操作性の向上が図
れる。
が、現像進行度合検出手段による検出結果に基づいて、
レジスト原盤における回転中心近傍及び外周側の現像の
進行度合が等しくなるように、上記現像液供給手段にお
ける現像液の供給量の調整を行うので、供給量の調整が
自動化されて操作者の手を煩わさず、操作性の向上が図
れる。
【0020】請求項3の構成によれば、上記の現像液供
給手段が、各々現像液の吐出量の調整が可能な、レジス
ト原盤の回転中心近傍で固定された第1現像液吐出ノズ
ル部と、レジスト原盤の回転中心近傍と外周側とを径方
向に往復運動するように設けられた第2現像液吐出ノズ
ル部とを備えており、これら第1及び第2の現像液吐出
ノズル部からの現像液の吐出量を調整することで、現像
液の供給量をレジスト原盤の径方向で調整するようにな
っている。これにより、請求項1の構成においては、現
像液供給手段として、複数の現像液の吐出量の調整が可
能な現像液吐出ノズル部をレジスト原盤の径方向に沿っ
て配設する構成も含まれて構造の複雑化を招来すること
もあるが、これにより、非常に簡単な構造で、現像液の
供給量をレジスト原盤の径方向で調整可能な現像液供給
手段を構成できる。
給手段が、各々現像液の吐出量の調整が可能な、レジス
ト原盤の回転中心近傍で固定された第1現像液吐出ノズ
ル部と、レジスト原盤の回転中心近傍と外周側とを径方
向に往復運動するように設けられた第2現像液吐出ノズ
ル部とを備えており、これら第1及び第2の現像液吐出
ノズル部からの現像液の吐出量を調整することで、現像
液の供給量をレジスト原盤の径方向で調整するようにな
っている。これにより、請求項1の構成においては、現
像液供給手段として、複数の現像液の吐出量の調整が可
能な現像液吐出ノズル部をレジスト原盤の径方向に沿っ
て配設する構成も含まれて構造の複雑化を招来すること
もあるが、これにより、非常に簡単な構造で、現像液の
供給量をレジスト原盤の径方向で調整可能な現像液供給
手段を構成できる。
【0021】請求項4の構成によれば、上記の現像液供
給手段が、レジスト原盤の回転中心近傍と外周側とを径
方向に往復運動する運動状態と、レジスト原盤における
回転中心近傍で停止する停止状態との切り換えが可能に
設けられた第3現像液吐出ノズル部を備えており、第3
現像液吐出ノズル部の停止状態、運動状態の時間的配分
を換えることで、現像液の供給量をレジスト原盤の径方
向で調整するようになっている。これにより、請求項3
の構成よりもさらに簡単な構成で、現像液の供給量をレ
ジスト原盤の径方向で調整可能な現像液供給手段を構成
できる。
給手段が、レジスト原盤の回転中心近傍と外周側とを径
方向に往復運動する運動状態と、レジスト原盤における
回転中心近傍で停止する停止状態との切り換えが可能に
設けられた第3現像液吐出ノズル部を備えており、第3
現像液吐出ノズル部の停止状態、運動状態の時間的配分
を換えることで、現像液の供給量をレジスト原盤の径方
向で調整するようになっている。これにより、請求項3
の構成よりもさらに簡単な構成で、現像液の供給量をレ
ジスト原盤の径方向で調整可能な現像液供給手段を構成
できる。
【0022】
〔実施例1〕本発明の一実施例を図1ないし図7に基づ
いて説明すれば、以下の通りである。光ディスクである
光磁気ディスクや追記型光ディスクでは、図2に示すよ
うに、トラッキング用の案内溝21やセクタ番号等の記
録再生位置情報を提供するピット20が、ディスク基板
35に予め形成されている。このようなディスク基板3
5は、スタンパを用いて射出成形等により複製され、大
量生産される。
いて説明すれば、以下の通りである。光ディスクである
光磁気ディスクや追記型光ディスクでは、図2に示すよ
うに、トラッキング用の案内溝21やセクタ番号等の記
録再生位置情報を提供するピット20が、ディスク基板
35に予め形成されている。このようなディスク基板3
5は、スタンパを用いて射出成形等により複製され、大
量生産される。
【0023】まず始めに、本実施例に係る現像装置が供
される上記スタンパの製造工程と、スタンパを用いた光
ディスクの製造工程を簡単に説明する。スタンパの製造
にあたり、まず、図3(a)に示すように、ガラス基板
31の表面にフォトレジスト32を塗布し、レジスト原
盤1を作製する。次に、同図(b)に示すように、露光
用レーザ19によるカッティングを行う。カッティング
は、レジスト原盤1を回転させながら、内周から外周側
へと行われる。露光用ーザ19には、Arレーザ又はH
e−Cdレーザが用いられ、波長478nm又は442
nmのレーザ光を、レジスト32の面に照射するように
なっている。
される上記スタンパの製造工程と、スタンパを用いた光
ディスクの製造工程を簡単に説明する。スタンパの製造
にあたり、まず、図3(a)に示すように、ガラス基板
31の表面にフォトレジスト32を塗布し、レジスト原
盤1を作製する。次に、同図(b)に示すように、露光
用レーザ19によるカッティングを行う。カッティング
は、レジスト原盤1を回転させながら、内周から外周側
へと行われる。露光用ーザ19には、Arレーザ又はH
e−Cdレーザが用いられ、波長478nm又は442
nmのレーザ光を、レジスト32の面に照射するように
なっている。
【0024】次に、同図(c)に示すように、これを現
像して、ピット20や案内溝21が形成された所望の形
状のレジストパターン32aを有するマスター原盤1a
を作製する。この現像工程に、後述する本実施例の現像
装置が用いられる。
像して、ピット20や案内溝21が形成された所望の形
状のレジストパターン32aを有するマスター原盤1a
を作製する。この現像工程に、後述する本実施例の現像
装置が用いられる。
【0025】続いて、同図(d)に示すように、レジス
トパターン32a上にスパッタリングや蒸着等の方法で
ニッケル或いは銀等から成る導電膜33を形成した後、
同図(e)に示すように、導電膜33を一方の電極とす
る電鋳処理によって金属、例えばニッケルの電鋳膜34
を所望の厚さで形成する。
トパターン32a上にスパッタリングや蒸着等の方法で
ニッケル或いは銀等から成る導電膜33を形成した後、
同図(e)に示すように、導電膜33を一方の電極とす
る電鋳処理によって金属、例えばニッケルの電鋳膜34
を所望の厚さで形成する。
【0026】その後、マスター原盤1aから導電膜33
及び電鋳膜34を剥離して、電鋳膜34の裏面に研磨等
の処理を施すことで、同図(f)に示すようなファザー
13を得る。ここで、導電膜33がスパッタリング法で
形成されたニッケル膜からなる場合は、導電膜33の膜
質が密であり、電鋳で得られる電鋳膜34と同一の金属
で一体化した表面層が得られるので、ファザー13をそ
のままスタンパと用いることができる。一方、導電膜3
3が銀膜から成る場合は、硬度が低く成形中に表面が変
形するため、ファザー13より導電膜33を取り除く処
理を施す必要がある。
及び電鋳膜34を剥離して、電鋳膜34の裏面に研磨等
の処理を施すことで、同図(f)に示すようなファザー
13を得る。ここで、導電膜33がスパッタリング法で
形成されたニッケル膜からなる場合は、導電膜33の膜
質が密であり、電鋳で得られる電鋳膜34と同一の金属
で一体化した表面層が得られるので、ファザー13をそ
のままスタンパと用いることができる。一方、導電膜3
3が銀膜から成る場合は、硬度が低く成形中に表面が変
形するため、ファザー13より導電膜33を取り除く処
理を施す必要がある。
【0027】尚、ここでは、ガラス基板31から直接得
られるファザー13をスタンパとする場合を例示した
が、ファザーからマザーを形成した後、マザーからスタ
ンパを形成する場合等もある。
られるファザー13をスタンパとする場合を例示した
が、ファザーからマザーを形成した後、マザーからスタ
ンパを形成する場合等もある。
【0028】こうして得られたスタンパは、安定した大
きさ・形状の凹凸パターンを有するものとなり、図4
(a)に示すように、ズタンパ14を用いて射出成形等
によってプラスチックからなるディスク基板35を作製
し、同図(b)に示すように、ディスク基板35におけ
るピット20や案内溝21が形成された面に記録膜(或
いは反射膜)36を成膜した後、同図(c)に示すよう
に、保護膜37で両面をコーティングすることで、均一
な光学特性を有する光ディスクを作製することができ
る。
きさ・形状の凹凸パターンを有するものとなり、図4
(a)に示すように、ズタンパ14を用いて射出成形等
によってプラスチックからなるディスク基板35を作製
し、同図(b)に示すように、ディスク基板35におけ
るピット20や案内溝21が形成された面に記録膜(或
いは反射膜)36を成膜した後、同図(c)に示すよう
に、保護膜37で両面をコーティングすることで、均一
な光学特性を有する光ディスクを作製することができ
る。
【0029】次に、上記のスタンパ製造工程における現
像の工程で用いられる本実施例に係る現像装置について
詳細に説明する。図1に示すように、現像装置は、モー
タ3にて駆動されるターンテーブル2を備えており、そ
のターンテーブル2の上に上記レジスト原盤1が上述し
たレジスト32の面を上にして載置されるようになって
いる。ターンテーブル2にレジスト原盤1が載置された
状態で、レジスト原盤1の上方には、現像液を吐出する
第1現像液吐出ノズル(第1現像液吐出ノズル部)10
と、第2現像液吐出ノズル(第2現像液吐出ノズル部)
11とが配設されている。各現像液吐出ノズル10・1
1は、現像液の吐出量を調整可能に設けられている。こ
のうち、第1現像液吐出ノズル10は、ターンテーブル
2にて回転されるレジスト原盤1の回転中心近傍に固定
され、第2現像液吐出ノズル11は、レジスト原盤1の
回転中心近傍と外周側とを径方向に往復移動するよう構
成されている。尚、これら第1及び第2の現像液吐出ノ
ズル10・11により、本発明の現像液供給手段が構成
されている。
像の工程で用いられる本実施例に係る現像装置について
詳細に説明する。図1に示すように、現像装置は、モー
タ3にて駆動されるターンテーブル2を備えており、そ
のターンテーブル2の上に上記レジスト原盤1が上述し
たレジスト32の面を上にして載置されるようになって
いる。ターンテーブル2にレジスト原盤1が載置された
状態で、レジスト原盤1の上方には、現像液を吐出する
第1現像液吐出ノズル(第1現像液吐出ノズル部)10
と、第2現像液吐出ノズル(第2現像液吐出ノズル部)
11とが配設されている。各現像液吐出ノズル10・1
1は、現像液の吐出量を調整可能に設けられている。こ
のうち、第1現像液吐出ノズル10は、ターンテーブル
2にて回転されるレジスト原盤1の回転中心近傍に固定
され、第2現像液吐出ノズル11は、レジスト原盤1の
回転中心近傍と外周側とを径方向に往復移動するよう構
成されている。尚、これら第1及び第2の現像液吐出ノ
ズル10・11により、本発明の現像液供給手段が構成
されている。
【0030】また、ターンテーブル2に載置されたレジ
スト原盤1の下方には、モニター用レーザ光Lを発生す
る第1レーザ4a及び第2レーザ4bが配設されてい
る。これら第1及び第2のレーザ4a・4bには、レジ
スト原盤1に塗布されたレジスト32が感光しないHe
−Neレーザが用いられ、波長633nmの光がモニタ
ー用レーザ光Lとして用いられる。第1及び第2のレー
ザ4a・4bからそれぞれ出射されたモニター用レーザ
光Lは、ミラー6・6に反射されてレジスト原盤1を透
過する。ここで、第1レーザ4aからのモニター用レー
ザ光Lは、レジスト原盤1の回転中心に近い内周側ポイ
ントP1 で透過するようになっている。一方、第2レー
ザ4bからのモニター用レーザ光Lは、レジスト原盤1
の外周側に近い外周側ポイントP2 で透過するようにな
っている。
スト原盤1の下方には、モニター用レーザ光Lを発生す
る第1レーザ4a及び第2レーザ4bが配設されてい
る。これら第1及び第2のレーザ4a・4bには、レジ
スト原盤1に塗布されたレジスト32が感光しないHe
−Neレーザが用いられ、波長633nmの光がモニタ
ー用レーザ光Lとして用いられる。第1及び第2のレー
ザ4a・4bからそれぞれ出射されたモニター用レーザ
光Lは、ミラー6・6に反射されてレジスト原盤1を透
過する。ここで、第1レーザ4aからのモニター用レー
ザ光Lは、レジスト原盤1の回転中心に近い内周側ポイ
ントP1 で透過するようになっている。一方、第2レー
ザ4bからのモニター用レーザ光Lは、レジスト原盤1
の外周側に近い外周側ポイントP2 で透過するようにな
っている。
【0031】また、ターンテーブル2に載置されたレジ
スト原盤1の上方には、レジスト原盤1を透過した各モ
ニター用レーザ光Lを受光して光強度を検出する4つの
検出器8a・8b・9a・9bが配設されている。この
うち、検出器8a・8bは、第1及び第2のレーザ4a
・4bから出射された各モニター用レーザ光Lの0次回
折光L0 を受光するもので、検出器9a・9bは、第1
及び第2のレーザ4a・4bから出射された各モニター
用レーザ光Lの一次回折光L1 を受光するものである。
スト原盤1の上方には、レジスト原盤1を透過した各モ
ニター用レーザ光Lを受光して光強度を検出する4つの
検出器8a・8b・9a・9bが配設されている。この
うち、検出器8a・8bは、第1及び第2のレーザ4a
・4bから出射された各モニター用レーザ光Lの0次回
折光L0 を受光するもので、検出器9a・9bは、第1
及び第2のレーザ4a・4bから出射された各モニター
用レーザ光Lの一次回折光L1 を受光するものである。
【0032】さらに、上記現像装置には、図5に示すよ
うに制御部12が具備されており、制御部12は、上記
の検出器8a・9aにてそれぞれ検出された0次回折光
L0及び一次回折光L1 の強度比I1/I0 から、内周側
ポイントP1 における現像の進行状況を検出し、上記の
検出器8b・9bにてそれぞれ検出された0次回折光L
0 及び一次回折光L1 の強度比I1/I0 から、外周側ポイ
ントP2 における現像の進行状況を検出するようになっ
ている。つまり、前述の図3(c)に示すように、レジ
スト原盤1における現像が進行し、案内溝21が形成さ
れはじめると、案内溝21の溝構造が回折格子として作
用するようになり、レジスト原盤1の裏面から入射した
各モニター用レーザ光Lが回折されて回折光となる。そ
して、1次回折光対0次回折光の強度比I1/I0 と溝深さ
との間には、図6に示すような関係が成り立ち、その結
果、強度比I1/I0 から案内溝21の深さを検出すること
が可能となる。本発明における現像進行度合検出手段
は、上記第1及び第2のレーザ4a・4b、4つの検出
器8a・8b・9a・9b、及び制御部12により構成
されている。
うに制御部12が具備されており、制御部12は、上記
の検出器8a・9aにてそれぞれ検出された0次回折光
L0及び一次回折光L1 の強度比I1/I0 から、内周側
ポイントP1 における現像の進行状況を検出し、上記の
検出器8b・9bにてそれぞれ検出された0次回折光L
0 及び一次回折光L1 の強度比I1/I0 から、外周側ポイ
ントP2 における現像の進行状況を検出するようになっ
ている。つまり、前述の図3(c)に示すように、レジ
スト原盤1における現像が進行し、案内溝21が形成さ
れはじめると、案内溝21の溝構造が回折格子として作
用するようになり、レジスト原盤1の裏面から入射した
各モニター用レーザ光Lが回折されて回折光となる。そ
して、1次回折光対0次回折光の強度比I1/I0 と溝深さ
との間には、図6に示すような関係が成り立ち、その結
果、強度比I1/I0 から案内溝21の深さを検出すること
が可能となる。本発明における現像進行度合検出手段
は、上記第1及び第2のレーザ4a・4b、4つの検出
器8a・8b・9a・9b、及び制御部12により構成
されている。
【0033】そして、制御部12は、本発明の現像制御
手段でもあり、検出された各ポイントP1 ・P2 におけ
る案内溝21の深さから、現像の進行度合を把握し、進
行状況に応じて第1及び第2の現像液吐出ノズル10・
11からの現像液の吐出量を、レジスト原盤1における
回転中心近傍及び外周側の現像の進行度合が等しくなる
ように制御する。つまり、内周側ポイントP1 の現像が
外周側ポイントP2 の現像に比べて進行している場合
は、第1現像液吐出ノズル10の現像液の吐出量を減ら
す、或いは吐出を停止する一方、第2現像液吐出ノズル
11からの現像液の吐出量を増加、或いは吐出を開始さ
せる。反対に、外周側ポイントP2 の現像が内周側ポイ
ントP1 の現像に比べて進行している場合は、第2現像
液吐出ノズル11の現像液の吐出量を減らす、或いは吐
出を停止する一方、第1現像液吐出ノズル10からの現
像液の吐出量を増加、或いは吐出を開始させる。
手段でもあり、検出された各ポイントP1 ・P2 におけ
る案内溝21の深さから、現像の進行度合を把握し、進
行状況に応じて第1及び第2の現像液吐出ノズル10・
11からの現像液の吐出量を、レジスト原盤1における
回転中心近傍及び外周側の現像の進行度合が等しくなる
ように制御する。つまり、内周側ポイントP1 の現像が
外周側ポイントP2 の現像に比べて進行している場合
は、第1現像液吐出ノズル10の現像液の吐出量を減ら
す、或いは吐出を停止する一方、第2現像液吐出ノズル
11からの現像液の吐出量を増加、或いは吐出を開始さ
せる。反対に、外周側ポイントP2 の現像が内周側ポイ
ントP1 の現像に比べて進行している場合は、第2現像
液吐出ノズル11の現像液の吐出量を減らす、或いは吐
出を停止する一方、第1現像液吐出ノズル10からの現
像液の吐出量を増加、或いは吐出を開始させる。
【0034】ここで、案内溝21の大きさ・形状と現像
方法との間の関係を調べるべく、案内溝21の大きさ・
形状を示すものとして、案内溝21の溝深さを例にとっ
て実験した結果を示す。
方法との間の関係を調べるべく、案内溝21の大きさ・
形状を示すものとして、案内溝21の溝深さを例にとっ
て実験した結果を示す。
【0035】実験では、ガラス基板31上にレジスト3
2として東京応化工業(株)製のOFPR12−800
レジストを、膜厚200nmで塗布し、露光用レーザ1
9としてArレーザを用いて波長458nmのビームで
カッティングを行った。カッティング時、ターンテーブ
ル2の回転数を900rpmとし、レーザ光照射パワー
は、内周(半径30mm)で1.2mW、外周(半径60
mm)で2.4mWとした。そして、現像液には東京応化
工業(株)製のNMD−3を用いて、現像液吐出ノズル
をレジスト原盤1の回転中心近傍で固定した状態と、現
像液吐出ノズルを回転中心近傍と外周側とを径方向に往
復移動させて、各々内周の案内溝21の深さが100n
mとなったとき現像を停止し、外周の案内溝21の深さ
を測定した。測定結果を表1に示す。
2として東京応化工業(株)製のOFPR12−800
レジストを、膜厚200nmで塗布し、露光用レーザ1
9としてArレーザを用いて波長458nmのビームで
カッティングを行った。カッティング時、ターンテーブ
ル2の回転数を900rpmとし、レーザ光照射パワー
は、内周(半径30mm)で1.2mW、外周(半径60
mm)で2.4mWとした。そして、現像液には東京応化
工業(株)製のNMD−3を用いて、現像液吐出ノズル
をレジスト原盤1の回転中心近傍で固定した状態と、現
像液吐出ノズルを回転中心近傍と外周側とを径方向に往
復移動させて、各々内周の案内溝21の深さが100n
mとなったとき現像を停止し、外周の案内溝21の深さ
を測定した。測定結果を表1に示す。
【0036】
【表1】
【0037】このことから、レジスト原盤1の回転中心
近くから現像液を吐出させれば、レジスト原盤1におけ
る内周側の現像が速く進行され、レジスト原盤1の内周
側と外周側を径方向に移動させながら現像液を吐出させ
ると、レジスト原盤1における外周側の現像が速く進行
されることが判明した。したがって、本実施例では、制
御部12が、上述のように、検出された各ポイントP1
・P2 における案内溝21の深さに応じて、第1及び第
2の現像液吐出ノズル10・11からの現像液の吐出量
を制御するようになっている。尚、上記制御部12は、
この他、各レーザ4a・4bや、ターンテーブル2用の
モータ3の駆動等も制御するようにもなっている。
近くから現像液を吐出させれば、レジスト原盤1におけ
る内周側の現像が速く進行され、レジスト原盤1の内周
側と外周側を径方向に移動させながら現像液を吐出させ
ると、レジスト原盤1における外周側の現像が速く進行
されることが判明した。したがって、本実施例では、制
御部12が、上述のように、検出された各ポイントP1
・P2 における案内溝21の深さに応じて、第1及び第
2の現像液吐出ノズル10・11からの現像液の吐出量
を制御するようになっている。尚、上記制御部12は、
この他、各レーザ4a・4bや、ターンテーブル2用の
モータ3の駆動等も制御するようにもなっている。
【0038】次に、上記構成の現像装置の動作を説明す
る。操作者により、ターンテーブル2の上に、レジスト
原盤1がレジスト32の面を上にし、かつ、ターンテー
ブル2の回転中心とレジスト原盤1の中心とが合うよう
に載置され、現像開始が図示しない指示手段を介して、
制御部12に現像操作開始が指示されると、モータ3の
駆動を開始し、これにて、ターンテーブル2が回転され
レジスト原盤1が回転する。
る。操作者により、ターンテーブル2の上に、レジスト
原盤1がレジスト32の面を上にし、かつ、ターンテー
ブル2の回転中心とレジスト原盤1の中心とが合うよう
に載置され、現像開始が図示しない指示手段を介して、
制御部12に現像操作開始が指示されると、モータ3の
駆動を開始し、これにて、ターンテーブル2が回転され
レジスト原盤1が回転する。
【0039】続いて、第1現像液吐出ノズル10から現
像液が吐出され、レジスト32の現像が開始される。現
像中、第1及び第2のレーザ4a・4bからモニター用
レーザ光Lが出射され、各モニター用レーザ光Lはミラ
ー6・6にて内周側及び外周側の各ポイントP1 ・P2
に導かれる。内周側ポイントP1 でレジスト原盤1を透
過した光の0次回折光L0 の強度は検出器8aで検出さ
れ、一次回折光L1 の強度は検出器9aで検出される。
一方、外周側ポイントP2 でレジスト原盤1を透過した
光の0次回折光L0 の強度は検出器8bで検出され、一
次回折光L1 の強度は検出器9bで検出される。こうし
て得られた各ポイントP1 ・P2 における0次回折光と
1次回折光の強度から、制御部12は、0次回折光対1
次回折光の強度比I1/I0 を求め、各ポイントP1 ・P2
における現像の進行状況を検出する。
像液が吐出され、レジスト32の現像が開始される。現
像中、第1及び第2のレーザ4a・4bからモニター用
レーザ光Lが出射され、各モニター用レーザ光Lはミラ
ー6・6にて内周側及び外周側の各ポイントP1 ・P2
に導かれる。内周側ポイントP1 でレジスト原盤1を透
過した光の0次回折光L0 の強度は検出器8aで検出さ
れ、一次回折光L1 の強度は検出器9aで検出される。
一方、外周側ポイントP2 でレジスト原盤1を透過した
光の0次回折光L0 の強度は検出器8bで検出され、一
次回折光L1 の強度は検出器9bで検出される。こうし
て得られた各ポイントP1 ・P2 における0次回折光と
1次回折光の強度から、制御部12は、0次回折光対1
次回折光の強度比I1/I0 を求め、各ポイントP1 ・P2
における現像の進行状況を検出する。
【0040】ここで、もし、外周側ポイントP2 に比
べ、内周側ポイントP1 の方が強度比I1/I0 が大きい場
合は、内周側における現像速度が速いと判断し、外周側
の現像速度を速めるべく、第1現像液吐出ノズル10か
らの現像液の流出を停止し、第2現像液吐出ノズル11
からの現像液の吐出に切り換える。
べ、内周側ポイントP1 の方が強度比I1/I0 が大きい場
合は、内周側における現像速度が速いと判断し、外周側
の現像速度を速めるべく、第1現像液吐出ノズル10か
らの現像液の流出を停止し、第2現像液吐出ノズル11
からの現像液の吐出に切り換える。
【0041】その後、内周側ポイントP2 に比べ、外周
側ポイントP1 の方が強度比I1/I0が大きくなると、外
周側における現像速度が速いと判断し、内周側の現像速
度を速めるべく、第2現像液吐出ノズル11からの現像
液の吐出を停止し、再び第1現像液吐出ノズル10から
の現像液の吐出に切り換える。このような制御が、0次
回折光対1次回折光の強度比I1/I0 から、必要な溝深さ
まで現像されたことが確認されるまで、繰り返される。
側ポイントP1 の方が強度比I1/I0が大きくなると、外
周側における現像速度が速いと判断し、内周側の現像速
度を速めるべく、第2現像液吐出ノズル11からの現像
液の吐出を停止し、再び第1現像液吐出ノズル10から
の現像液の吐出に切り換える。このような制御が、0次
回折光対1次回折光の強度比I1/I0 から、必要な溝深さ
まで現像されたことが確認されるまで、繰り返される。
【0042】このような現像装置を用いて、露光用レー
ザ19としてArレーザを用いて波長458nmのビー
ムで、レーザ光照射パワーを内周(半径30mm)で1.
2mW、外周(半径60mm)で2.3mWとしてカッテ
ィングを行ったレジスト原盤1を現像した結果、レジス
ト原盤1の内周側も外周側もそれぞれ等しい深さを有す
る案内溝21を形成することができた。
ザ19としてArレーザを用いて波長458nmのビー
ムで、レーザ光照射パワーを内周(半径30mm)で1.
2mW、外周(半径60mm)で2.3mWとしてカッテ
ィングを行ったレジスト原盤1を現像した結果、レジス
ト原盤1の内周側も外周側もそれぞれ等しい深さを有す
る案内溝21を形成することができた。
【0043】以上のように、本実施例の現像装置によれ
ば、レジスト原盤1の内周側と外周側のポイントP1 ・
P2 で現像の進行状態を検出し、それに応じて、レジス
ト原盤1の内周側と外周側の現像の進行度合が等しくな
るように、レジスト原盤1の内周側に現像液を吐出する
第1現像液吐出ノズル10と、レジスト原盤1の中心近
傍と外周側とを径方向に往復運動しながら現像液を吐出
する第2現像液吐出ノズル11との間で切り換えられ
る。
ば、レジスト原盤1の内周側と外周側のポイントP1 ・
P2 で現像の進行状態を検出し、それに応じて、レジス
ト原盤1の内周側と外周側の現像の進行度合が等しくな
るように、レジスト原盤1の内周側に現像液を吐出する
第1現像液吐出ノズル10と、レジスト原盤1の中心近
傍と外周側とを径方向に往復運動しながら現像液を吐出
する第2現像液吐出ノズル11との間で切り換えられ
る。
【0044】これにより、従来のような一か所だけでの
現像の進行度合の検出では対応できなかった、露光時の
レーザ照射パワーの変動に伴うレジスト原盤1の内周側
から外周側にかけてのレジスト32の露光量の一様の変
化に対応でき、この現像装置を使用することで、安定し
た大きさ・形状の凹凸パターンを有するスタンパ14の
作製が可能となり、ひいては、均一な光学特性を有する
光ディスクを作製することができる。
現像の進行度合の検出では対応できなかった、露光時の
レーザ照射パワーの変動に伴うレジスト原盤1の内周側
から外周側にかけてのレジスト32の露光量の一様の変
化に対応でき、この現像装置を使用することで、安定し
た大きさ・形状の凹凸パターンを有するスタンパ14の
作製が可能となり、ひいては、均一な光学特性を有する
光ディスクを作製することができる。
【0045】尚、本実施例では、現像の開始時は、第1
現像液吐出ノズル10からのみ現像液を吐出させるよう
になっているが、はじめから第1及び第2の現像液吐出
ノズル10・11から現像液を吐出させ、現像状態に応
じて第1現像液吐出ノズル10のみの使用、或いは第2
現像液吐出ノズル11のみの使用としてもよく、その
他、使用する現像液吐出ノズルを切り換えるのではな
く、現像状態に応じて第1及び第2の現像液吐出ノズル
10・11からの現像量の各吐出量を細かに調整するこ
ともできる。
現像液吐出ノズル10からのみ現像液を吐出させるよう
になっているが、はじめから第1及び第2の現像液吐出
ノズル10・11から現像液を吐出させ、現像状態に応
じて第1現像液吐出ノズル10のみの使用、或いは第2
現像液吐出ノズル11のみの使用としてもよく、その
他、使用する現像液吐出ノズルを切り換えるのではな
く、現像状態に応じて第1及び第2の現像液吐出ノズル
10・11からの現像量の各吐出量を細かに調整するこ
ともできる。
【0046】また、本実施例では、このような現像液の
供給量の調整が、制御部12によって自動的になされ、
便利であるが、そのような自動制御は装置価格をアップ
させるので、操作者が現像の進行度合に応じて手動で切
り換える構成としてもよい。
供給量の調整が、制御部12によって自動的になされ、
便利であるが、そのような自動制御は装置価格をアップ
させるので、操作者が現像の進行度合に応じて手動で切
り換える構成としてもよい。
【0047】また、図7に示すように、一つのレーザ4
cから照射されるモニター用レーザ光Lを、ハーフミラ
ー7で二つに分割し、内周側と外周側の各ポイントP1
・P2 に導く構成とすることで、上記の第1及ぶ第2の
レーザ4a・4bを一台で共用することが可能となり、
装置の構成を簡素化し、装置価格を低減できる。
cから照射されるモニター用レーザ光Lを、ハーフミラ
ー7で二つに分割し、内周側と外周側の各ポイントP1
・P2 に導く構成とすることで、上記の第1及ぶ第2の
レーザ4a・4bを一台で共用することが可能となり、
装置の構成を簡素化し、装置価格を低減できる。
【0048】〔実施例2〕本発明のその他の実施例を図
8ないし図10に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。尚、説明の便宜上、前記実施例にて示した部材と同
一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その
説明を省略する。
8ないし図10に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。尚、説明の便宜上、前記実施例にて示した部材と同
一の機能を有する部材には、同一の符号を付記し、その
説明を省略する。
【0049】本実施例の現像装置は、図8に示すよう
に、現像液供給手段として、レジスト原盤1の回転中心
近傍と外周側とを径方向に往復運動する駆動状態と、レ
ジスト原盤1の回転中心近傍で停止する停止状態との動
作切り換えが可能な第3現像液吐出ノズル(第3現像液
吐出ノズル部・現像液供給手段)15を備えている。そ
して、レジスト原盤1への現像液の供給量の径方向での
調整を、図9に示す制御部(現像制御手段)16が、上
記第3現像液吐出ノズル15の停止状態の時間と往復運
動状態の時間の割合を変えることで行うようになってい
る。これ以外は、前記実施例1の図1に示した現像装置
と同じである。
に、現像液供給手段として、レジスト原盤1の回転中心
近傍と外周側とを径方向に往復運動する駆動状態と、レ
ジスト原盤1の回転中心近傍で停止する停止状態との動
作切り換えが可能な第3現像液吐出ノズル(第3現像液
吐出ノズル部・現像液供給手段)15を備えている。そ
して、レジスト原盤1への現像液の供給量の径方向での
調整を、図9に示す制御部(現像制御手段)16が、上
記第3現像液吐出ノズル15の停止状態の時間と往復運
動状態の時間の割合を変えることで行うようになってい
る。これ以外は、前記実施例1の図1に示した現像装置
と同じである。
【0050】これによれば、前記の実施例1の構成に比
べ、現像液吐出ノズルが一つで足りるので、さらなる構
造の簡素化が図れ、装置価格を低減できる。
べ、現像液吐出ノズルが一つで足りるので、さらなる構
造の簡素化が図れ、装置価格を低減できる。
【0051】尚、この場合も、第3現像液吐出ノズル1
5の動作の切り換えは、制御部16によって行っている
が、前記の実施例1の場合と同様に、現像の進行度合に
応じて手動で行ってもよく、それにより、さらに装置価
格を低減できる。
5の動作の切り換えは、制御部16によって行っている
が、前記の実施例1の場合と同様に、現像の進行度合に
応じて手動で行ってもよく、それにより、さらに装置価
格を低減できる。
【0052】また、前記の実施例1で、図7に示したも
のと同様に、図10に示すように、一つのレーザ4cか
ら照射されるモニター用レーザ光Lを、ハーフミラー7
で二つに分割し、内周側と外周側の各ポイントP1 ・P
2 に導く構成とすることで、上記の第1及ぶ第2のレー
ザ4a・4bを一台で共用することが可能となり、装置
の構成を簡素化し、さらなる低価格化を実現できる。
のと同様に、図10に示すように、一つのレーザ4cか
ら照射されるモニター用レーザ光Lを、ハーフミラー7
で二つに分割し、内周側と外周側の各ポイントP1 ・P
2 に導く構成とすることで、上記の第1及ぶ第2のレー
ザ4a・4bを一台で共用することが可能となり、装置
の構成を簡素化し、さらなる低価格化を実現できる。
【0053】
【発明の効果】本発明の請求項1記載の現像装置は、以
上のように、上記現像進行度合検出手段は、レジスト原
盤における回転中心近傍及び外周側の2か所の進行度合
を検出するように設けられ、上記現像液供給手段は、現
像液の供給量をレジスト原盤の径方向で調整し得るよう
に設けられている構成である。
上のように、上記現像進行度合検出手段は、レジスト原
盤における回転中心近傍及び外周側の2か所の進行度合
を検出するように設けられ、上記現像液供給手段は、現
像液の供給量をレジスト原盤の径方向で調整し得るよう
に設けられている構成である。
【0054】これにより、操作者は、現像進行度合検出
手段による検出結果に基づいて、レジスト原盤における
回転中心近傍及び外周側の現像の進行度合が等しくなる
ように現像液の供給量を調整することが可能となる。し
たがって、従来のような一か所のみでの現像の進行度合
の検出では対応できなかった、露光時のレーザ照射パワ
ーの変動に伴うレジスト原盤の内周側から外周側にかけ
てのレジストの露光量の一様の変化に対応でき、この現
像装置を使用することで、安定した大きさ・形状の凹凸
パターンを有するスタンパの作製が可能となり、ひいて
は、均一な光学特性を有する光ディスクを作製すること
ができるという効果を奏する。
手段による検出結果に基づいて、レジスト原盤における
回転中心近傍及び外周側の現像の進行度合が等しくなる
ように現像液の供給量を調整することが可能となる。し
たがって、従来のような一か所のみでの現像の進行度合
の検出では対応できなかった、露光時のレーザ照射パワ
ーの変動に伴うレジスト原盤の内周側から外周側にかけ
てのレジストの露光量の一様の変化に対応でき、この現
像装置を使用することで、安定した大きさ・形状の凹凸
パターンを有するスタンパの作製が可能となり、ひいて
は、均一な光学特性を有する光ディスクを作製すること
ができるという効果を奏する。
【0055】本発明の請求項2記載の現像装置は、以上
のように、請求項1の構成において、上記現像進行度合
検出手段による検出結果に基づいて、レジスト原盤にお
ける回転中心近傍及び外周側の現像の進行度合が等しく
なるように、上記現像液供給手段における現像液の供給
量の調整を行う現像制御手段が備えられている構成であ
る。
のように、請求項1の構成において、上記現像進行度合
検出手段による検出結果に基づいて、レジスト原盤にお
ける回転中心近傍及び外周側の現像の進行度合が等しく
なるように、上記現像液供給手段における現像液の供給
量の調整を行う現像制御手段が備えられている構成であ
る。
【0056】これにより、請求項1の構成による効果に
加えて、供給量の調整が自動化されて操作者の手を煩わ
さず、操作性の向上が図れるという効果を奏する。
加えて、供給量の調整が自動化されて操作者の手を煩わ
さず、操作性の向上が図れるという効果を奏する。
【0057】本発明の請求項3記載の現像装置は、以上
のように、請求項1又は2の構成において、上記現像液
供給手段は、レジスト原盤の上方に配された、現像液の
吐出量の調整が可能な二つの第1及び第2の現像液吐出
ノズル部を備えており、このうち第1現像液吐出ノズル
部はレジスト原盤の回転中心近傍に固定され、第2現像
液吐出ノズル部はレジスト原盤における回転中心近傍と
外周側とを径方向に往復運動するように設けられている
構成である。
のように、請求項1又は2の構成において、上記現像液
供給手段は、レジスト原盤の上方に配された、現像液の
吐出量の調整が可能な二つの第1及び第2の現像液吐出
ノズル部を備えており、このうち第1現像液吐出ノズル
部はレジスト原盤の回転中心近傍に固定され、第2現像
液吐出ノズル部はレジスト原盤における回転中心近傍と
外周側とを径方向に往復運動するように設けられている
構成である。
【0058】請求項1の構成においては、現像液供給手
段として、複数の現像液の吐出量の調整が可能な現像液
吐出ノズル部をレジスト原盤の径方向に沿って配設する
構成も含まれて構造の複雑化を招来することもあるが、
これにより、請求項1又は2の構成による効果に加え
て、非常に簡単な構造で、現像液の供給量をレジスト原
盤の径方向で調整可能な現像液供給手段を構成できると
いう効果を奏する。
段として、複数の現像液の吐出量の調整が可能な現像液
吐出ノズル部をレジスト原盤の径方向に沿って配設する
構成も含まれて構造の複雑化を招来することもあるが、
これにより、請求項1又は2の構成による効果に加え
て、非常に簡単な構造で、現像液の供給量をレジスト原
盤の径方向で調整可能な現像液供給手段を構成できると
いう効果を奏する。
【0059】本発明の請求項4記載の現像装置は、以上
のように、請求項1又は2の構成において、上記現像液
供給手段は、レジスト原盤の上方に配され、レジスト原
盤における回転中心近傍と外周側とを径方向に往復運動
する運動状態と、レジスト原盤の回転中心近傍で停止す
る停止状態との切り換えが可能に設けられた第3現像液
吐出ノズル部を備えている構成である。
のように、請求項1又は2の構成において、上記現像液
供給手段は、レジスト原盤の上方に配され、レジスト原
盤における回転中心近傍と外周側とを径方向に往復運動
する運動状態と、レジスト原盤の回転中心近傍で停止す
る停止状態との切り換えが可能に設けられた第3現像液
吐出ノズル部を備えている構成である。
【0060】これにより、請求項1又は2の構成による
効果に加えて、請求項3の構成よりもさらに簡単な構成
で、現像液の供給量をレジスト原盤の径方向で調整可能
な現像液供給手段を構成できるという効果を奏する。
効果に加えて、請求項3の構成よりもさらに簡単な構成
で、現像液の供給量をレジスト原盤の径方向で調整可能
な現像液供給手段を構成できるという効果を奏する。
【図1】本発明の一実施例を示すものであり、ディスク
基板を複製するためのスタンパの製造に供される現像装
置の構成図である。
基板を複製するためのスタンパの製造に供される現像装
置の構成図である。
【図2】ピットや案内溝が形成されたディスク基板の拡
大図である。
大図である。
【図3】スタンパの製造の各工程を示す縦断面図であ
る。
る。
【図4】スタンパを用いて光ディスクを製造する各工程
を示す縦断面図である。
を示す縦断面図である。
【図5】上記現像装置の制御系を示すブロック図であ
る。
る。
【図6】レジスト原盤に形成された溝の深さと、モニタ
ー用レーザ光の透過光の1次回折光対0次回折光の強度
比との関係を示すグラフである。
ー用レーザ光の透過光の1次回折光対0次回折光の強度
比との関係を示すグラフである。
【図7】本発明の他の実施例の現像装置の構成図であ
る。
る。
【図8】本発明の他の実施例の現像装置の構成図であ
る。
る。
【図9】図8の現像装置の制御系を示すブロック図であ
る。
る。
【図10】本発明の他の実施例の現像装置の構成図であ
る。
る。
【図11】従来の現像装置の構成を示す構成図である。
【図12】従来の現像装置で現像したレジスト原盤の縦
断面図である。
断面図である。
1 レジスト原盤 2 ターンテーブル 4a 第1レーザ(現像進行度合検出手段) 4b 第2レーザ(現像進行度合検出手段) 6 ミラー 7 ハーフミラー 8a 検出器(現像進行度合検出手段) 8b 検出器(現像進行度合検出手段) 9a 検出器(現像進行度合検出手段) 9b 検出器(現像進行度合検出手段) 10 第1現像液吐出ノズル(第1現像液吐出ノズル
部・現像液供給手段) 11 第2現像液吐出ノズル(第2現像液吐出ノズル
部・現像液供給手段) 12 制御部(現像進行度合検出手段,現像制御手
段) 14 スタンパ 15 第3現像液吐出ノズル(第3現像液吐出ノズル
部・現像液供給手段) 16 制御部(現像進行度合検出手段,現像制御手
段) 20 ピット(凹凸パターン) 21 案内溝(凹凸パターン) 31 ガラス基板 32 レジスト 35 ディスク基板
部・現像液供給手段) 11 第2現像液吐出ノズル(第2現像液吐出ノズル
部・現像液供給手段) 12 制御部(現像進行度合検出手段,現像制御手
段) 14 スタンパ 15 第3現像液吐出ノズル(第3現像液吐出ノズル
部・現像液供給手段) 16 制御部(現像進行度合検出手段,現像制御手
段) 20 ピット(凹凸パターン) 21 案内溝(凹凸パターン) 31 ガラス基板 32 レジスト 35 ディスク基板
Claims (4)
- 【請求項1】微細な凹凸パターンの複製に供されるスタ
ンパの製造に用いられ、ガラス基板の一方面にレジスト
が塗布されてなるレジスト原盤を、レジスト面を上にし
た状態で回転させながら、現像液供給手段にてレジスト
原盤のレジスト面に上方から現像液を供給して現像を実
施すると共に、現像進行度合検出手段にて現像の進行度
合を検出する現像装置において、 上記現像進行度合検出手段は、レジスト原盤における回
転中心近傍及び外周側の2か所の進行度合を検出するよ
うに設けられ、 上記現像液供給手段は、現像液の供給量をレジスト原盤
の径方向で調整し得るように設けられていることを特徴
とする現像装置。 - 【請求項2】上記現像進行度合検出手段による検出結果
に基づいて、レジスト原盤における回転中心近傍及び外
周側の現像の進行度合が等しくなるように、上記現像液
供給手段における現像液の供給量の調整を行う現像制御
手段が備えられていることを特徴とする上記請求項1記
載の現像装置。 - 【請求項3】上記現像液供給手段は、レジスト原盤の上
方に配された、現像液の吐出量の調整が可能な二つの第
1及び第2の現像液吐出ノズル部を備えており、このう
ち第1現像液吐出ノズル部はレジスト原盤の回転中心近
傍に固定され、第2現像液吐出ノズル部はレジスト原盤
における回転中心近傍と外周側とを径方向に往復運動す
るように設けられていることを特徴とする上記請求項1
又は2記載の現像装置。 - 【請求項4】上記現像液供給手段は、レジスト原盤の上
方に配され、レジスト原盤における回転中心近傍と外周
側とを径方向に往復運動する運動状態と、レジスト原盤
の回転中心近傍で停止する停止状態との切り換えが可能
に設けられた第3現像液吐出ノズル部を備えていること
を特徴とする上記請求項1又は2記載の現像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13452795A JPH08330213A (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | 現像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13452795A JPH08330213A (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | 現像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08330213A true JPH08330213A (ja) | 1996-12-13 |
Family
ID=15130409
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13452795A Pending JPH08330213A (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | 現像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08330213A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011054697A (ja) * | 2009-09-01 | 2011-03-17 | Tokyo Electron Ltd | 現像処理装置及び現像処理方法 |
-
1995
- 1995-05-31 JP JP13452795A patent/JPH08330213A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011054697A (ja) * | 2009-09-01 | 2011-03-17 | Tokyo Electron Ltd | 現像処理装置及び現像処理方法 |
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