JPH08327484A - 圧力センサ - Google Patents
圧力センサInfo
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- JPH08327484A JPH08327484A JP13143695A JP13143695A JPH08327484A JP H08327484 A JPH08327484 A JP H08327484A JP 13143695 A JP13143695 A JP 13143695A JP 13143695 A JP13143695 A JP 13143695A JP H08327484 A JPH08327484 A JP H08327484A
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- magnetic
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- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Switches Operated By Changes In Physical Conditions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 圧力検出2値信号の温度ドリフトを低減す
る。 【構成】 基体(8);流体通流口(1b)を有し基体の開口
を閉じるケ−ス(1);第1磁石(5)を支持するプレッシャ
−プレ−ト(2a)と可撓性部材(2a)を含み、基体(8)とケ
−ス(1)で囲まれる空間を区分しケ−ス(1)の、流体通流
口(1b)が連通する内空間を閉じるダイアフラム(2);こ
れに、前記内空間の流体圧によるその移動方向とは逆方
向の戻し力を与えるばね部材(4a);プレッシャ−プレ−
ト(2a)に固着された第1磁石(5);これに対向して基体
(8)に固着され、ホ−ル素子を含む磁気検出手段(6);磁
気検出手段(6)を間に置いて第1磁石(5)に同極性で対向
し、基体(8)で支持され、第1磁石(5)より磁束発生量が
少い第2磁石(7);および、磁気検出手段(6)にヒステリ
シス特性の磁界を与えるための磁性体板(14)を備える。
る。 【構成】 基体(8);流体通流口(1b)を有し基体の開口
を閉じるケ−ス(1);第1磁石(5)を支持するプレッシャ
−プレ−ト(2a)と可撓性部材(2a)を含み、基体(8)とケ
−ス(1)で囲まれる空間を区分しケ−ス(1)の、流体通流
口(1b)が連通する内空間を閉じるダイアフラム(2);こ
れに、前記内空間の流体圧によるその移動方向とは逆方
向の戻し力を与えるばね部材(4a);プレッシャ−プレ−
ト(2a)に固着された第1磁石(5);これに対向して基体
(8)に固着され、ホ−ル素子を含む磁気検出手段(6);磁
気検出手段(6)を間に置いて第1磁石(5)に同極性で対向
し、基体(8)で支持され、第1磁石(5)より磁束発生量が
少い第2磁石(7);および、磁気検出手段(6)にヒステリ
シス特性の磁界を与えるための磁性体板(14)を備える。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、流体圧を検出する圧力
センサに関し、特に、これに限定する意図ではないが、
気体の圧力が設定値以上か否かを示す圧力検出信号を発
生する圧力センサに関する。
センサに関し、特に、これに限定する意図ではないが、
気体の圧力が設定値以上か否かを示す圧力検出信号を発
生する圧力センサに関する。
【0002】
【従来の技術】圧力に応動するダイアフラムに磁石を結
合し、該磁石の近くに、磁場の強弱に対応してオン/オ
フするリ−ドスイッチを配置した圧力スイッチが知られ
ている(例えば実開平2−143745号公報)。この
種のリ−ドスイッチを用いる圧力センサは、リ−ドスイ
ッチの接点の損耗と使用環境の温度変化の繰返しによ
り、圧力検出特性(オフからオンに切換わる圧力)が次
第に変化する。
合し、該磁石の近くに、磁場の強弱に対応してオン/オ
フするリ−ドスイッチを配置した圧力スイッチが知られ
ている(例えば実開平2−143745号公報)。この
種のリ−ドスイッチを用いる圧力センサは、リ−ドスイ
ッチの接点の損耗と使用環境の温度変化の繰返しによ
り、圧力検出特性(オフからオンに切換わる圧力)が次
第に変化する。
【0003】リ−ドスイッチに代えて、磁界強度を電気
信号に変換するホ−ル素子とホ−ル素子の磁界検出信号
を増幅処理する電気回路および必要に応じて検出磁界が
設定値以上で高レベル電圧を、設定値未満で低レベル電
圧を出力する2値化回路を集積回路技術により一体に組
込んだホ−ルICを用いる圧力センサがある。このホ−
ルICによれば、機械的接点が無いのでその損耗による
磁気検出特性の変化を生じない。
信号に変換するホ−ル素子とホ−ル素子の磁界検出信号
を増幅処理する電気回路および必要に応じて検出磁界が
設定値以上で高レベル電圧を、設定値未満で低レベル電
圧を出力する2値化回路を集積回路技術により一体に組
込んだホ−ルICを用いる圧力センサがある。このホ−
ルICによれば、機械的接点が無いのでその損耗による
磁気検出特性の変化を生じない。
【0004】特開昭56−155824号公報には、2
個の同極対向する磁石7,9の間にホ−ルICを配置
し、1個又は2個の磁石とホ−ルICの一方を、流体圧
に応じて移動するダイアフラムに固着又は連結し、他方
を、ケ−ス又は基体に固着した圧力センサが開示されて
いる。2個の磁石の1つ9は、他方7がホ−ルICに加
える磁界の零調整をするためのものであり、調整ねじに
より他方の磁石7に対する距離が調整される。2個の磁
石7,9が同極で対向し、ホ−ルICが磁石7に対して
相対的に、両磁石7,9の磁界が拮抗する位置にあると
き、ホ−ルICを貫通する磁束は零近くであり、ホ−ル
ICの検出出力は基準値(零点)となる。この状態か
ら、ホ−ルICに対して一方の磁石が接近し他方の磁石
が離れるとホ−ルICを該一方の磁石の磁束が貫通する
ので検出出力はプラス方向に上昇する。逆に、ホ−ルI
Cに対して該他方の磁石が接近し該一方の磁石が離れる
とホ−ルICを該他方の磁石の磁束が貫通し、貫通磁束
の流れる方向が逆になるので、検出出力はマイナスとな
る。
個の同極対向する磁石7,9の間にホ−ルICを配置
し、1個又は2個の磁石とホ−ルICの一方を、流体圧
に応じて移動するダイアフラムに固着又は連結し、他方
を、ケ−ス又は基体に固着した圧力センサが開示されて
いる。2個の磁石の1つ9は、他方7がホ−ルICに加
える磁界の零調整をするためのものであり、調整ねじに
より他方の磁石7に対する距離が調整される。2個の磁
石7,9が同極で対向し、ホ−ルICが磁石7に対して
相対的に、両磁石7,9の磁界が拮抗する位置にあると
き、ホ−ルICを貫通する磁束は零近くであり、ホ−ル
ICの検出出力は基準値(零点)となる。この状態か
ら、ホ−ルICに対して一方の磁石が接近し他方の磁石
が離れるとホ−ルICを該一方の磁石の磁束が貫通する
ので検出出力はプラス方向に上昇する。逆に、ホ−ルI
Cに対して該他方の磁石が接近し該一方の磁石が離れる
とホ−ルICを該他方の磁石の磁束が貫通し、貫通磁束
の流れる方向が逆になるので、検出出力はマイナスとな
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記圧力センサを内燃
機関に装備した場合、内燃機関の温度変化により圧力セ
ンサの温度も変化し、磁石の温度上昇によりそれがホ−
ルICに与える磁束密度が低下し圧力検出精度が低下す
る。すなわち、ホ−ルICの圧力を表わす信号レベルが
温度ドリフトを生ずる。圧力が設定値以上か否かを表わ
すオン(高レベルH)オフ(低レベルL)2値信号を生
成する場合、ホ−ルICの圧力を表わす信号を2値化す
るが、温度ドリフトにより2値信号がオン/オフに切換
わる圧力値がシフトする。頻繁なオン/オフ間の切換わ
りを避けるために、2値化しきい値を大,小の2種とし
て、例えばホ−ルICの圧力検出信号レベルが小値を越
えると2値信号をオフ(低レベルL)とし、圧力検出信
号レベルが大値未満に低下するとオン(高レベルH)に
戻すヒステリシス特性を2値化回路に設定するのが一般
であるが、温度上昇によって磁石の発生磁束量が低下す
ると、オン/オフの切換わりが磁石の移動ストロ−クが
増大した方向(高圧方向)にシフトする。このような温
度ドリフトは、圧力が設定値以上であるか否かを表わす
2値信号の信頼性を損ねる。
機関に装備した場合、内燃機関の温度変化により圧力セ
ンサの温度も変化し、磁石の温度上昇によりそれがホ−
ルICに与える磁束密度が低下し圧力検出精度が低下す
る。すなわち、ホ−ルICの圧力を表わす信号レベルが
温度ドリフトを生ずる。圧力が設定値以上か否かを表わ
すオン(高レベルH)オフ(低レベルL)2値信号を生
成する場合、ホ−ルICの圧力を表わす信号を2値化す
るが、温度ドリフトにより2値信号がオン/オフに切換
わる圧力値がシフトする。頻繁なオン/オフ間の切換わ
りを避けるために、2値化しきい値を大,小の2種とし
て、例えばホ−ルICの圧力検出信号レベルが小値を越
えると2値信号をオフ(低レベルL)とし、圧力検出信
号レベルが大値未満に低下するとオン(高レベルH)に
戻すヒステリシス特性を2値化回路に設定するのが一般
であるが、温度上昇によって磁石の発生磁束量が低下す
ると、オン/オフの切換わりが磁石の移動ストロ−クが
増大した方向(高圧方向)にシフトする。このような温
度ドリフトは、圧力が設定値以上であるか否かを表わす
2値信号の信頼性を損ねる。
【0006】本発明は、圧力センサの温度変化による出
力ドリフト、特に2値信号の温度ドリフトを低減するこ
とを目的とする。
力ドリフト、特に2値信号の温度ドリフトを低減するこ
とを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の圧力センサは、
開口を有する基体(8);流体通流口(1b)を有し該基体の
開口を閉じるケ−ス(1);第1磁石(5)を支持するプレッ
シャ−プレ−ト(2a)とそれと一体の可撓性部材(2a)を含
み、前記基体(8)とケ−ス(1)で囲まれる空間を区分し前
記ケ−ス(1)の、流体通流口(1b)が連通する内空間を閉
じるダイアフラム(2);ダイアフラム(2)に、前記内空間
の流体圧によるその移動方向とは逆方向の戻し力を与え
るばね部材(4a);プレッシャ−プレ−ト(2a)に固着され
た第1磁石(5);第1磁石(5)に対向して前記基体(8)に
固着され、ホ−ル素子を含む磁気検出手段(6);およ
び、該磁気検出手段(6)を間に置いて第1磁石(5)に同極
性で対向し、前記基体(8)で支持され、第1磁石(5)より
磁束発生量が少い第2磁石(7);および、第1磁石(5)と
第2磁石(7)の間に固定され、これらの磁石の磁束が通
過する程に薄い磁性体板(14);を備える。
開口を有する基体(8);流体通流口(1b)を有し該基体の
開口を閉じるケ−ス(1);第1磁石(5)を支持するプレッ
シャ−プレ−ト(2a)とそれと一体の可撓性部材(2a)を含
み、前記基体(8)とケ−ス(1)で囲まれる空間を区分し前
記ケ−ス(1)の、流体通流口(1b)が連通する内空間を閉
じるダイアフラム(2);ダイアフラム(2)に、前記内空間
の流体圧によるその移動方向とは逆方向の戻し力を与え
るばね部材(4a);プレッシャ−プレ−ト(2a)に固着され
た第1磁石(5);第1磁石(5)に対向して前記基体(8)に
固着され、ホ−ル素子を含む磁気検出手段(6);およ
び、該磁気検出手段(6)を間に置いて第1磁石(5)に同極
性で対向し、前記基体(8)で支持され、第1磁石(5)より
磁束発生量が少い第2磁石(7);および、第1磁石(5)と
第2磁石(7)の間に固定され、これらの磁石の磁束が通
過する程に薄い磁性体板(14);を備える。
【0008】本発明の好ましい実施例では、第1磁石
(5)は第2磁石(7)より大量の磁束を生ずる大型のものと
し、磁性体板(14)は小型の第2磁石(7)と磁気検出手段
(6)との間に配置し、しかも、プレッシャ−プレ−ト(2
a)は基体(8)よりも熱膨張係数が大きいものとした。
(5)は第2磁石(7)より大量の磁束を生ずる大型のものと
し、磁性体板(14)は小型の第2磁石(7)と磁気検出手段
(6)との間に配置し、しかも、プレッシャ−プレ−ト(2
a)は基体(8)よりも熱膨張係数が大きいものとした。
【0009】なお、理解を容易にするためにカッコ内に
は、図面に示し後述する実施例の対応要素に付した記号
を、参考までに付記した。
は、図面に示し後述する実施例の対応要素に付した記号
を、参考までに付記した。
【0010】
【作用および効果】圧力センサの温度が上昇すると、第
1磁石(5)および第2磁石(7)が発生する磁束密度が低下
し、例えば第1磁石(5)より第2磁石(7)が小型でその磁
束発生量が少いときには、磁気検出手段(6)の位置にお
いて、温度上昇による磁束低下量は第1磁石(5)の方が
多く、磁気検出手段(6)の磁束検出量は、あたかも第1
磁石(5)が磁気検出手段(6)から離れるかのように低下す
る。しかし本発明により、第2磁石(7)とホ−ルIC(6)
の間に磁性体板(14)を配置すると、この磁性体板(14)に
は、第1磁石(5)が与える磁界(逆方向)で磁化され、
この磁化極性は、磁性体板(14)の磁化ヒステリシス特性
により、現在磁化中の磁界が少々低下しても切換わらな
い。第1磁石(5)がプレッシャ−プレ−ト(2a)と共に移
動してこれにより磁性体板(14)に加わる磁界が、第2磁
石(7)から加わる磁界よりかなり低下したときに、磁性
体板(14)の磁化極性が第2磁石(7)から加わる磁界のも
のに切換わり、これにより磁気検出手段(6)に加わる第
1磁石(5)の磁束量が急激に大幅に低下する。
1磁石(5)および第2磁石(7)が発生する磁束密度が低下
し、例えば第1磁石(5)より第2磁石(7)が小型でその磁
束発生量が少いときには、磁気検出手段(6)の位置にお
いて、温度上昇による磁束低下量は第1磁石(5)の方が
多く、磁気検出手段(6)の磁束検出量は、あたかも第1
磁石(5)が磁気検出手段(6)から離れるかのように低下す
る。しかし本発明により、第2磁石(7)とホ−ルIC(6)
の間に磁性体板(14)を配置すると、この磁性体板(14)に
は、第1磁石(5)が与える磁界(逆方向)で磁化され、
この磁化極性は、磁性体板(14)の磁化ヒステリシス特性
により、現在磁化中の磁界が少々低下しても切換わらな
い。第1磁石(5)がプレッシャ−プレ−ト(2a)と共に移
動してこれにより磁性体板(14)に加わる磁界が、第2磁
石(7)から加わる磁界よりかなり低下したときに、磁性
体板(14)の磁化極性が第2磁石(7)から加わる磁界のも
のに切換わり、これにより磁気検出手段(6)に加わる第
1磁石(5)の磁束量が急激に大幅に低下する。
【0011】このような、磁性体板(14)のヒステリシス
特性により、温度変化対応の磁石の発生磁束量の低下に
よる2値信号の温度ドリフトが小さくなり、2値信号の
信頼性が向上する。
特性により、温度変化対応の磁石の発生磁束量の低下に
よる2値信号の温度ドリフトが小さくなり、2値信号の
信頼性が向上する。
【0012】本発明の好ましい実施例では、第1磁石
(5)を支持するプレッシヤ−プレ−ト(2a)の熱膨張係数
が第2磁石(7)を支持する基体(8)の熱膨張係数より大き
いので、圧力センサの温度上昇と共にプレッシャ−プレ
−ト(2a)が膨張して第1磁石(5)が磁気検出手段(6)に近
付きそれが磁気検出手段(6)に及ぼす磁界が上昇し、第
1磁石(5)および第2磁石(7)が磁気検出手段(6)に及ぼ
す磁界の、センサ温度上昇による不平衡が抑制されるこ
とになる。すなわち圧力センサの検出信号の温度ドリフ
トが更に抑制される。
(5)を支持するプレッシヤ−プレ−ト(2a)の熱膨張係数
が第2磁石(7)を支持する基体(8)の熱膨張係数より大き
いので、圧力センサの温度上昇と共にプレッシャ−プレ
−ト(2a)が膨張して第1磁石(5)が磁気検出手段(6)に近
付きそれが磁気検出手段(6)に及ぼす磁界が上昇し、第
1磁石(5)および第2磁石(7)が磁気検出手段(6)に及ぼ
す磁界の、センサ温度上昇による不平衡が抑制されるこ
とになる。すなわち圧力センサの検出信号の温度ドリフ
トが更に抑制される。
【0013】本発明の他の目的および特徴は、図面を参
照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
【0014】
【実施例】図1に本発明の1実施例の縦断面を示す。基
体8は、略カップ状であり、その開口をダイアフラム2
が閉じている。ダイアフラム2は、略円板状のプレッシ
ャ−プレ−ト2aの周縁に、略平板リング状又は裁頭円
錐状の可撓性樹脂製の部材2bの内周縁部を固着したも
のであり、可撓性部材2bの外周縁部が基体8の開口端
面とカバ−1の広開口端面の間で挟まれており、かしめ
リング11により、基体8,ダイアフラム2およびカバ
−1が一体かつ気密に固着されている。
体8は、略カップ状であり、その開口をダイアフラム2
が閉じている。ダイアフラム2は、略円板状のプレッシ
ャ−プレ−ト2aの周縁に、略平板リング状又は裁頭円
錐状の可撓性樹脂製の部材2bの内周縁部を固着したも
のであり、可撓性部材2bの外周縁部が基体8の開口端
面とカバ−1の広開口端面の間で挟まれており、かしめ
リング11により、基体8,ダイアフラム2およびカバ
−1が一体かつ気密に固着されている。
【0015】カバ−1は略上開き傘形であり、中央幹は
入力ポ−ト1aであり、その内部にに外部通流用の開口
1bが形成され、この開口1bを通して、カバ−1とダ
イアフラム2で区画された内空間3に、流体圧が与えら
れる。この実施例では、車両上エンジンのインテ−クマ
ニホ−ルドの圧力(負圧)が与えられる。
入力ポ−ト1aであり、その内部にに外部通流用の開口
1bが形成され、この開口1bを通して、カバ−1とダ
イアフラム2で区画された内空間3に、流体圧が与えら
れる。この実施例では、車両上エンジンのインテ−クマ
ニホ−ルドの圧力(負圧)が与えられる。
【0016】プレッシャ−プレ−ト2aは、基体8より
も熱膨張係数が大きい合成樹脂で作られたもので、その
表裏面の一方の中心部が突出しておりその端面の浅い丸
穴に磁石5が挿入されてプレ−ト2aに固着されてい
る。表裏面の他方にはリング状のばね受け溝がありその
内側が突出している。圧縮コイルスプリング4cの一端
がカバ−1で受けられ、他端はプレッシャ−プレ−ト2
aのばね受け溝に挿入され、これにより圧縮コイルスプ
リング4cがプレッシャ−プレ−ト2aを押している。
プレッシャ−プレ−ト2aには、その移動を拘止するス
トッパ2cが立っており、その先端が基体8の下底面に
当り、それ以上の基体8に向かう方向のプレッシャ−プ
レ−ト2aの移動を阻止する。
も熱膨張係数が大きい合成樹脂で作られたもので、その
表裏面の一方の中心部が突出しておりその端面の浅い丸
穴に磁石5が挿入されてプレ−ト2aに固着されてい
る。表裏面の他方にはリング状のばね受け溝がありその
内側が突出している。圧縮コイルスプリング4cの一端
がカバ−1で受けられ、他端はプレッシャ−プレ−ト2
aのばね受け溝に挿入され、これにより圧縮コイルスプ
リング4cがプレッシャ−プレ−ト2aを押している。
プレッシャ−プレ−ト2aには、その移動を拘止するス
トッパ2cが立っており、その先端が基体8の下底面に
当り、それ以上の基体8に向かう方向のプレッシャ−プ
レ−ト2aの移動を阻止する。
【0017】基体8は、下底壁の中央部がプレッシャ−
プレ−ト2a側に突出し、これにより下底部にリング状
の空間がある形状であり、このリング状の空間に、略リ
ング状のばね座9が挿入されている。ばね座9は、ばね
圧調整用の圧縮コイルスプリング4aの一端を受けてい
る。スプリング4aの他端はプレッシャ−プレ−ト2a
で支えられ、したがってスプリング4aはプレッシャ−
プレ−ト2aに、スプリング4cの押し力に抗する方向
の押し力を与える。
プレ−ト2a側に突出し、これにより下底部にリング状
の空間がある形状であり、このリング状の空間に、略リ
ング状のばね座9が挿入されている。ばね座9は、ばね
圧調整用の圧縮コイルスプリング4aの一端を受けてい
る。スプリング4aの他端はプレッシャ−プレ−ト2a
で支えられ、したがってスプリング4aはプレッシャ−
プレ−ト2aに、スプリング4cの押し力に抗する方向
の押し力を与える。
【0018】基体8の下底壁をその外部から内部に向け
て調整ねじ10がねじ込まれており、その先端がばね座
9を支持し、ねじ10をねじ込むことによりばね座が押
されてスプリング4aが圧縮され、ねじ10を緩めるこ
とによりスプリング4aが伸びる。基体8の下底壁の外
のカップ状の空間には、ホ−ルIC6を装荷したプリン
ト基板6pおよび薄鉄板14が挿入されており、カップ
状の空間を閉じる形で、基体8と同一材質(プレッシャ
−プレ−ト2aに対して熱膨張係数が小さい)の磁石ホ
ルダが挿入されて基体8に固着されている。磁石ホルダ
で磁石7が保持されている。
て調整ねじ10がねじ込まれており、その先端がばね座
9を支持し、ねじ10をねじ込むことによりばね座が押
されてスプリング4aが圧縮され、ねじ10を緩めるこ
とによりスプリング4aが伸びる。基体8の下底壁の外
のカップ状の空間には、ホ−ルIC6を装荷したプリン
ト基板6pおよび薄鉄板14が挿入されており、カップ
状の空間を閉じる形で、基体8と同一材質(プレッシャ
−プレ−ト2aに対して熱膨張係数が小さい)の磁石ホ
ルダが挿入されて基体8に固着されている。磁石ホルダ
で磁石7が保持されている。
【0019】ホ−ルIC6は、磁界(磁束)を検出する
ホ−ル素子および該素子が磁界に応答して発生する信号
を増幅する電気回路を一体集積したものであり、プリン
ト基板6p上には、ホ−ルICの出力信号を増幅する電
気回路,増幅した電気信号を2値信号に変換する2値化
回路および2値信号を増幅する出力増幅器が組込まれて
おり、プリント基板6p上の電気回路に接続したリ−ド
は、薄鉄板14、ならびに、磁石7を保持する磁石ホル
ダを貫通して、基体8の外部に引き出されている。
ホ−ル素子および該素子が磁界に応答して発生する信号
を増幅する電気回路を一体集積したものであり、プリン
ト基板6p上には、ホ−ルICの出力信号を増幅する電
気回路,増幅した電気信号を2値信号に変換する2値化
回路および2値信号を増幅する出力増幅器が組込まれて
おり、プリント基板6p上の電気回路に接続したリ−ド
は、薄鉄板14、ならびに、磁石7を保持する磁石ホル
ダを貫通して、基体8の外部に引き出されている。
【0020】第1磁石5,ホ−ルIC6および第2磁石
7は、それらの中心が実質上基体8の中心軸上にあり、
基体8の下底壁を間においてホ−ルIC6(の表面側)
に第1磁石5のN極が対向し、プリント基板6pを間に
おいてホ−ルIC(の裏面側)に第2磁石7のN極が対
向する。
7は、それらの中心が実質上基体8の中心軸上にあり、
基体8の下底壁を間においてホ−ルIC6(の表面側)
に第1磁石5のN極が対向し、プリント基板6pを間に
おいてホ−ルIC(の裏面側)に第2磁石7のN極が対
向する。
【0021】第1磁石5と第2磁石7は同一材質の永久
磁石であるが、第2磁石7は小形であり、第1磁石5よ
りも弱い磁石である。
磁石であるが、第2磁石7は小形であり、第1磁石5よ
りも弱い磁石である。
【0022】入力ポ−ト1aに大気圧が加わっていると
きには、図1に示すように、プレッシャ−プレ−ト2a
のストッパ2cが基体8の下底の内表面に当り、第1磁
石5の磁束がホ−ルIC6および薄鉄板14を貫通し、
薄鉄板14と第2磁石7の間の空間で第2磁石7の磁束
とぶつかって、このぶつかり合いにより磁束密度零の位
置Npは薄鉄板14と第2磁石7の間にある。ホ−ルI
C6は、第1磁石5の磁界を検出し、その方向(負)と
強度に対応するレベルの電気信号を発生する。入力ポ−
ト1aに強い負圧を加えて、図2に示すようにダイアフ
ラム2がケ−ス1に当るまで移動すると、第1磁石5と
第2磁石7の磁束のぶつかり合いにより磁束密度が零と
なる位置Npはホ−ルIC6と第1磁石5の間に移り、
ホ−ルIC6は第2磁石7の磁界を検出し、その方向
(正)と強度に対応するレベルの電気信号を発生する。
このように、第1磁石5と第2磁石7の磁束のぶつかり
合いにより磁束密度が零となる位置Npが図1に示す位
置から図2に示す位置に移動する過程で、ホ−ルIC6
に加わる磁界は図3に実線で示すようにヒステリシス特
性を表わす変化を示す。これは薄鉄板14の磁化ヒステ
リシス特性に原因するものである。
きには、図1に示すように、プレッシャ−プレ−ト2a
のストッパ2cが基体8の下底の内表面に当り、第1磁
石5の磁束がホ−ルIC6および薄鉄板14を貫通し、
薄鉄板14と第2磁石7の間の空間で第2磁石7の磁束
とぶつかって、このぶつかり合いにより磁束密度零の位
置Npは薄鉄板14と第2磁石7の間にある。ホ−ルI
C6は、第1磁石5の磁界を検出し、その方向(負)と
強度に対応するレベルの電気信号を発生する。入力ポ−
ト1aに強い負圧を加えて、図2に示すようにダイアフ
ラム2がケ−ス1に当るまで移動すると、第1磁石5と
第2磁石7の磁束のぶつかり合いにより磁束密度が零と
なる位置Npはホ−ルIC6と第1磁石5の間に移り、
ホ−ルIC6は第2磁石7の磁界を検出し、その方向
(正)と強度に対応するレベルの電気信号を発生する。
このように、第1磁石5と第2磁石7の磁束のぶつかり
合いにより磁束密度が零となる位置Npが図1に示す位
置から図2に示す位置に移動する過程で、ホ−ルIC6
に加わる磁界は図3に実線で示すようにヒステリシス特
性を表わす変化を示す。これは薄鉄板14の磁化ヒステ
リシス特性に原因するものである。
【0023】すなわち、薄鉄板14が存在しないときに
は、ホ−ルIC6に加わる磁界は図3に2点鎖線で示す
ように略リニアに変化するが、2値信号をオン/オフに
切換えるしきい値を比較的に緩傾斜で横切り、これによ
り磁界が温度変化などでドリフトした場合のオン/オフ
切換わり位置(第1磁石5の位置)のシフト量が比較的
に大きい(従来)が、本実施例では薄鉄板14の磁化ヒ
ステリシス特性により、ホ−ルIC6に加わる磁界が、
しきい値を比較的に急傾斜で横切り、これにより磁界が
温度変化などでドリフトした場合のオン/オフ切換わり
位置(第1磁石5の位置)のシフト量が比較的に小さ
い。すなわち2値信号の温度ドリフトが抑制されてい
る。
は、ホ−ルIC6に加わる磁界は図3に2点鎖線で示す
ように略リニアに変化するが、2値信号をオン/オフに
切換えるしきい値を比較的に緩傾斜で横切り、これによ
り磁界が温度変化などでドリフトした場合のオン/オフ
切換わり位置(第1磁石5の位置)のシフト量が比較的
に大きい(従来)が、本実施例では薄鉄板14の磁化ヒ
ステリシス特性により、ホ−ルIC6に加わる磁界が、
しきい値を比較的に急傾斜で横切り、これにより磁界が
温度変化などでドリフトした場合のオン/オフ切換わり
位置(第1磁石5の位置)のシフト量が比較的に小さ
い。すなわち2値信号の温度ドリフトが抑制されてい
る。
【0024】磁石5,7の発生磁束量は、温度が高いと
少くなり、これにより、温度が高くなるとプレッシャ−
プレ−ト2aの位置(入力ポ−ト1aに加わる負圧)に
対して、ホ−ルIC6が検出する磁束密度が低下して、
あたかも検出圧(負圧)が低下(絶対値の低下)したか
のような、検出信号レベルの低下を示すことになる。こ
れを抑制するためこの実施例では、基体8よりもプレッ
シャ−プレ−ト2aを熱膨張係数が高いものとしてい
る。温度上昇により第1,第2磁石5,7の発生磁束量
が低下するが、第1磁石5が大型であるので、発生磁束
量の温度による変化量は第1磁石5の方が大きく、これ
により、温度上昇に伴って両磁石5,7が発生する磁束
がぶつかり合って磁束密度が実質上零となる点Npは第
2磁石7から第1磁石5に向かう方向にシフトするが、
プレッシャ−プレ−ト2aの熱膨張係数が高いので、プ
レッシャ−プレ−ト2a本体およびそれより起立したス
トッパ2cの伸び量が大きく、基準点(基体8の下底
の、ストッパ2cが当る面)に対する第1磁石5の離れ
る方向の温度シフト量が、第2磁石7が該基準点から離
れる方向の温度シフト量よりも大きく、これが磁石発生
磁束の高温による減少によって現われるNpのシフトを
相殺し、Npの温度シフトが抑制される。すなわち、昇
温による磁石発生磁束の低下を原因とするホ−ルIC6
の検出信号レベルの低下が抑制され、温度変化による圧
力検出精度の低下が抑制される。
少くなり、これにより、温度が高くなるとプレッシャ−
プレ−ト2aの位置(入力ポ−ト1aに加わる負圧)に
対して、ホ−ルIC6が検出する磁束密度が低下して、
あたかも検出圧(負圧)が低下(絶対値の低下)したか
のような、検出信号レベルの低下を示すことになる。こ
れを抑制するためこの実施例では、基体8よりもプレッ
シャ−プレ−ト2aを熱膨張係数が高いものとしてい
る。温度上昇により第1,第2磁石5,7の発生磁束量
が低下するが、第1磁石5が大型であるので、発生磁束
量の温度による変化量は第1磁石5の方が大きく、これ
により、温度上昇に伴って両磁石5,7が発生する磁束
がぶつかり合って磁束密度が実質上零となる点Npは第
2磁石7から第1磁石5に向かう方向にシフトするが、
プレッシャ−プレ−ト2aの熱膨張係数が高いので、プ
レッシャ−プレ−ト2a本体およびそれより起立したス
トッパ2cの伸び量が大きく、基準点(基体8の下底
の、ストッパ2cが当る面)に対する第1磁石5の離れ
る方向の温度シフト量が、第2磁石7が該基準点から離
れる方向の温度シフト量よりも大きく、これが磁石発生
磁束の高温による減少によって現われるNpのシフトを
相殺し、Npの温度シフトが抑制される。すなわち、昇
温による磁石発生磁束の低下を原因とするホ−ルIC6
の検出信号レベルの低下が抑制され、温度変化による圧
力検出精度の低下が抑制される。
【図1】 本発明の1実施例の、入力ポ−ト1aに負圧
が加わっていないときの状態を示す縦断面図である。
が加わっていないときの状態を示す縦断面図である。
【図2】 該1実施例の、入力ポ−ト1aに強い負圧が
加わっているときの状態を示す縦断面図である。
加わっているときの状態を示す縦断面図である。
【図3】 実線は、図1に示すホ−ルIC6部の磁界強
度を示すグラフであり、横軸は、図1に示す基点位置か
らの磁石5の移動量を示す。
度を示すグラフであり、横軸は、図1に示す基点位置か
らの磁石5の移動量を示す。
1:ケ−ス 1a:入力ポ−ト 1b:通気口 2:ダイアフラム 2a:プレッシャ−プレ−ト 2b:可撓性部材 3:内空間 4a:圧縮コイル
スプリング 4b:圧縮コイルスプリング 5:第1磁石 5φ:磁束 6:ホ−ルIC 6p:プリント基板 7:第2磁石 7φ:磁束 8:基体 9:ばね座 10:調整ねじ 11:かしめリング 12:通気口 13:フィルタ 14:薄鉄板 Np:磁束密度が零の点
スプリング 4b:圧縮コイルスプリング 5:第1磁石 5φ:磁束 6:ホ−ルIC 6p:プリント基板 7:第2磁石 7φ:磁束 8:基体 9:ばね座 10:調整ねじ 11:かしめリング 12:通気口 13:フィルタ 14:薄鉄板 Np:磁束密度が零の点
Claims (3)
- 【請求項1】開口を有する基体;流体通流口を有し該基
体の開口を閉じるケ−ス;第1磁石を支持するプレッシ
ャ−プレ−トとそれと一体の可撓性部材を含み、前記基
体とケ−スで囲まれる空間を区分し前記ケ−スの、流体
通流口が連通する内空間を閉じるダイアフラム;ダイア
フラムに、前記内空間の流体圧によるその移動方向とは
逆方向の戻し力を与えるばね部材;プレッシャ−プレ−
トに固着された第1磁石;および、 第1磁石に対向して前記基体に固着され、ホ−ル素子を
含む磁気検出手段;該磁気検出手段を間に置いて第1磁
石に同極性で対向し、前記基体で支持された第2磁石;
および、 第1磁石と第2磁石の間に固定され、これらの磁石の磁
束が通過する程に薄い磁性体板;を備える圧力センサ。 - 【請求項2】第1磁石は第2磁石より大量の磁束を生ず
る大型であり、磁性体板は小型の第2磁石と磁気検出手
段との間に配置された、請求項1記載の圧力センサ。 - 【請求項3】プレッシャ−プレ−トは、基体よりも熱膨
張係数が大きいものとした、請求項1又は2記載の圧力
センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13143695A JPH08327484A (ja) | 1995-05-30 | 1995-05-30 | 圧力センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13143695A JPH08327484A (ja) | 1995-05-30 | 1995-05-30 | 圧力センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08327484A true JPH08327484A (ja) | 1996-12-13 |
Family
ID=15057927
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13143695A Pending JPH08327484A (ja) | 1995-05-30 | 1995-05-30 | 圧力センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08327484A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016203711A1 (ja) * | 2015-06-18 | 2016-12-22 | 株式会社鷺宮製作所 | 無接点圧力スイッチ |
CN113324564A (zh) * | 2020-02-28 | 2021-08-31 | Tdk株式会社 | 位置检测装置和使用其的位置检测系统及转向系统 |
-
1995
- 1995-05-30 JP JP13143695A patent/JPH08327484A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016203711A1 (ja) * | 2015-06-18 | 2016-12-22 | 株式会社鷺宮製作所 | 無接点圧力スイッチ |
JPWO2016203711A1 (ja) * | 2015-06-18 | 2017-12-14 | 株式会社鷺宮製作所 | 無接点圧力スイッチ |
CN113324564A (zh) * | 2020-02-28 | 2021-08-31 | Tdk株式会社 | 位置检测装置和使用其的位置检测系统及转向系统 |
CN113324564B (zh) * | 2020-02-28 | 2023-08-11 | Tdk株式会社 | 位置检测装置和使用其的位置检测系统及转向系统 |
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