JPH08321721A - ディジタル温度補償水晶発振装置 - Google Patents
ディジタル温度補償水晶発振装置Info
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- JPH08321721A JPH08321721A JP12605895A JP12605895A JPH08321721A JP H08321721 A JPH08321721 A JP H08321721A JP 12605895 A JP12605895 A JP 12605895A JP 12605895 A JP12605895 A JP 12605895A JP H08321721 A JPH08321721 A JP H08321721A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 短い変換時間でかつノイズに強いADC回路
およびDAC回路を得ることができる。 【構成】 データ変換処理回路50には温度対電圧変換
回路10、記憶演算回路12及びサブ機能搭載回路17
からデータVt,V1及び基準電圧Vrが供給され、かつ
データ変換処理回路50で処理された温度データTが記
憶演算回路12に入力されるとともに、温度補償するア
ナログデータVcwを得て、このVcwがサンプルホールド
・ローパスフィルタ回路14に供給される。サンプルホ
ールド・ローパスフィルタ回路14からは制御電圧Vc
が出力される。この制御電圧Vcは、バリアブルキャパ
シタ、抵抗、半導体スイッチなどで構成される電圧対容
量変換回路15に供給され、この回路15の出力端15
A,15B間に制御電圧Vcに1対1線形対応した等価
容量Ccを得る。この等価容量は反転増幅器16と水晶
振動子19とで水晶発振回路が形成される。
およびDAC回路を得ることができる。 【構成】 データ変換処理回路50には温度対電圧変換
回路10、記憶演算回路12及びサブ機能搭載回路17
からデータVt,V1及び基準電圧Vrが供給され、かつ
データ変換処理回路50で処理された温度データTが記
憶演算回路12に入力されるとともに、温度補償するア
ナログデータVcwを得て、このVcwがサンプルホールド
・ローパスフィルタ回路14に供給される。サンプルホ
ールド・ローパスフィルタ回路14からは制御電圧Vc
が出力される。この制御電圧Vcは、バリアブルキャパ
シタ、抵抗、半導体スイッチなどで構成される電圧対容
量変換回路15に供給され、この回路15の出力端15
A,15B間に制御電圧Vcに1対1線形対応した等価
容量Ccを得る。この等価容量は反転増幅器16と水晶
振動子19とで水晶発振回路が形成される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はディジタル温度補償水
晶発振装置に関する。
晶発振装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年に於ける移動体通信装置(携帯電
話、コードレス電話など)は、IC技術と周辺技術の進
歩に伴い、小型化、低コスト化が進み、それにより加入
者の増大が加速し、電波利用の関係からキャリア周波数
間隔(例えば12.5kHz)と変調帯域幅(例えば5
kHz)が狭くなり、その周波数源への精度要求は次式
のように益々厳しくなって来ている。
話、コードレス電話など)は、IC技術と周辺技術の進
歩に伴い、小型化、低コスト化が進み、それにより加入
者の増大が加速し、電波利用の関係からキャリア周波数
間隔(例えば12.5kHz)と変調帯域幅(例えば5
kHz)が狭くなり、その周波数源への精度要求は次式
のように益々厳しくなって来ている。
【0003】 │Δf/f│≦1ppm ……(1) 例えば、上記(1)の要求を−40℃〜85℃のような
広温度範囲で満たすデバイスはディジタル温度補償水晶
発振装置(以下DTCXOと称す)である。
広温度範囲で満たすデバイスはディジタル温度補償水晶
発振装置(以下DTCXOと称す)である。
【0004】次に、DTCXOの基本ブロック構成を図
7に示す。この図7において、10は水晶振動子19の
周囲温度をセンシングし、温度に対応したアナログ電圧
Vtを出力する温度対電圧変換回路で得、この温度対電
圧変換回路10から出力されたアナログ電圧Vtは、ア
ナログ・ディジタル変換回路(以下ADC回路と称す)
11でディジタルデータ(温度データT)に変換され
る。例えば、10ビットの温度データTに変換される。
この温度データTはE2PROMからなるメモリを有す
る記憶演算回路12に供給される。この記憶演算回路1
2は水晶振動子毎の各温度で補償するデータV(例えば
10ビット)が記憶されていて、温度データTによって
補償データVが直接か或いは演算変換されて図示しない
レジスタを経由してV1データとして出力するものであ
る。記憶演算回路12から出力されたV1データはディ
ジタル・アナログ変換回路(以下DAC回路と称す)1
3に入力され、ここでアナログ電圧Vcwに変換されて出
力される。このアナログ電圧Vcwはサンプルホールド・
ローパスフィルタ回路14に供給され、まず、サンプル
ホールドされた後、適切な時定数(例えば5ms)をも
つローパスフィルタ(LPF)で平滑されてサンプルホ
ールド・ローパスフィルタ回路14から制御電圧Vcと
して出力される。この制御電圧Vcは、バリアブルキャ
パシタ、抵抗、半導体スイッチなどで構成される電圧対
容量変換回路15に供給され、この回路15の出力端1
5A,15B間に制御電圧Vcに1対1線形対応した等
価容量Ccを得る。
7に示す。この図7において、10は水晶振動子19の
周囲温度をセンシングし、温度に対応したアナログ電圧
Vtを出力する温度対電圧変換回路で得、この温度対電
圧変換回路10から出力されたアナログ電圧Vtは、ア
ナログ・ディジタル変換回路(以下ADC回路と称す)
11でディジタルデータ(温度データT)に変換され
る。例えば、10ビットの温度データTに変換される。
この温度データTはE2PROMからなるメモリを有す
る記憶演算回路12に供給される。この記憶演算回路1
2は水晶振動子毎の各温度で補償するデータV(例えば
10ビット)が記憶されていて、温度データTによって
補償データVが直接か或いは演算変換されて図示しない
レジスタを経由してV1データとして出力するものであ
る。記憶演算回路12から出力されたV1データはディ
ジタル・アナログ変換回路(以下DAC回路と称す)1
3に入力され、ここでアナログ電圧Vcwに変換されて出
力される。このアナログ電圧Vcwはサンプルホールド・
ローパスフィルタ回路14に供給され、まず、サンプル
ホールドされた後、適切な時定数(例えば5ms)をも
つローパスフィルタ(LPF)で平滑されてサンプルホ
ールド・ローパスフィルタ回路14から制御電圧Vcと
して出力される。この制御電圧Vcは、バリアブルキャ
パシタ、抵抗、半導体スイッチなどで構成される電圧対
容量変換回路15に供給され、この回路15の出力端1
5A,15B間に制御電圧Vcに1対1線形対応した等
価容量Ccを得る。
【0005】16はMOSトランジスタなどの半導体増
幅器から構成される反転増幅器で、この反転増幅器16
は水晶振動子19とそれに直列或いは並列に入る電圧対
容量変換回路15の出力端15A,15Bの等価容量C
cとで水晶発振回路を形成し、温度に対応した等価容量
Ccの変動により温度補償を行う。これにより、周囲温
度に依存しない一定周波数信号電圧を出力端16Aに得
る。17はサブ機能搭載回路で、このサブ機能搭載回路
17は前述した各回路に共通した機能が搭載されたもの
で、その機能は次の様なものである。
幅器から構成される反転増幅器で、この反転増幅器16
は水晶振動子19とそれに直列或いは並列に入る電圧対
容量変換回路15の出力端15A,15Bの等価容量C
cとで水晶発振回路を形成し、温度に対応した等価容量
Ccの変動により温度補償を行う。これにより、周囲温
度に依存しない一定周波数信号電圧を出力端16Aに得
る。17はサブ機能搭載回路で、このサブ機能搭載回路
17は前述した各回路に共通した機能が搭載されたもの
で、その機能は次の様なものである。
【0006】(1)入力端17Aから外部電源を受け、
前記各回路に直接或いは定電圧化して基準電圧の供給を
行う機能、(2)インターフェース端子17Bを介して
E2PROMのデータを書き込み、読み出しを行った
り、ランモード、テストモードの切換を行ったりする機
能、(3)その他、起動制御、補償タイミング制御など
の機能である。
前記各回路に直接或いは定電圧化して基準電圧の供給を
行う機能、(2)インターフェース端子17Bを介して
E2PROMのデータを書き込み、読み出しを行った
り、ランモード、テストモードの切換を行ったりする機
能、(3)その他、起動制御、補償タイミング制御など
の機能である。
【0007】上述した各回路は図示するようにワンチッ
プLSI18に搭載され広温度範囲で、例えば15pp
m変化する水晶振動子を用いて±1ppm以下の温度補
償された小型化のDTCXOが得られる。
プLSI18に搭載され広温度範囲で、例えば15pp
m変化する水晶振動子を用いて±1ppm以下の温度補
償された小型化のDTCXOが得られる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】移動体通信装置の小型
・軽量・低電力消費化・低コスト化の要求は強く、さら
に、それが携帯型の場合はより厳しくなって、DTCX
Oへの要請となる。DTCXOは前述の水晶振動子19
とワンチップLSI18の外に、サンプルホールド・ロ
ーパスフィルタ回路14のフィルタ用とサブ機能搭載回
路17の電圧安定化用に2〜4個の小形チップキャパシ
タ、さらにそれらを収納結線し、外部接続電極パド(図
7に示した16A、17A,17Bなど)を有するパッ
ケージで構成される。
・軽量・低電力消費化・低コスト化の要求は強く、さら
に、それが携帯型の場合はより厳しくなって、DTCX
Oへの要請となる。DTCXOは前述の水晶振動子19
とワンチップLSI18の外に、サンプルホールド・ロ
ーパスフィルタ回路14のフィルタ用とサブ機能搭載回
路17の電圧安定化用に2〜4個の小形チップキャパシ
タ、さらにそれらを収納結線し、外部接続電極パド(図
7に示した16A、17A,17Bなど)を有するパッ
ケージで構成される。
【0009】それぞれの個別或いは組み合わせについ
て、小形化・低電力消費化・低コスト化のアクションを
施すとき、ワンチップLSI18へのアクション効果が
最大である。前述したように、ワンチップLSI18は
アナログ回路素子、ディジタル回路素子混載からなるチ
ップであるため、回路素子間の静電・電磁結合を粗に
し、かつノイズにも強いレイアウト設計が必要である。
しかも、製造コストを配慮した一貫プロセスの選択も必
要であり、小形化・低電力消費化の実現は容易ではな
い。ここで、ADC回路11とDAC回路13の具体例
を図8及び図9に示す。ADC回路は図8に示すよう
に、バイアス2・VB(VBはVtのベース電圧温度補
正)を作るバイアス生成回路20と、二重積分型積分回
路21と、コンパレータ22と23のクロック、スイッ
チSW2jの制御回路及びダウンカウンタとそのレジスタ
から構成されている。23の出力にはTデータが得られ
る。なお、23AはSWij制御回路とスイッチSW2jと
の結び付きを示す。
て、小形化・低電力消費化・低コスト化のアクションを
施すとき、ワンチップLSI18へのアクション効果が
最大である。前述したように、ワンチップLSI18は
アナログ回路素子、ディジタル回路素子混載からなるチ
ップであるため、回路素子間の静電・電磁結合を粗に
し、かつノイズにも強いレイアウト設計が必要である。
しかも、製造コストを配慮した一貫プロセスの選択も必
要であり、小形化・低電力消費化の実現は容易ではな
い。ここで、ADC回路11とDAC回路13の具体例
を図8及び図9に示す。ADC回路は図8に示すよう
に、バイアス2・VB(VBはVtのベース電圧温度補
正)を作るバイアス生成回路20と、二重積分型積分回
路21と、コンパレータ22と23のクロック、スイッ
チSW2jの制御回路及びダウンカウンタとそのレジスタ
から構成されている。23の出力にはTデータが得られ
る。なお、23AはSWij制御回路とスイッチSW2jと
の結び付きを示す。
【0010】バイアス生成回路20はオペアンプOP
1、トランジスタTR及び抵抗Rから構成され、オペア
ンプOP1のマイナス端に温度対電圧変換回路10から
の電圧Vtが供給され、オペアンプOP1の出力に(2
VB−Vt)のバイアスつきVt電圧を得る。このバイア
スつきVt電圧はコンパレータ22のプラス端に供給さ
れる。前記二重積分型積分回路21は安定化電源間に直
列接続した3個の抵抗R21,R22,R23と、これら抵抗
間に得られる分圧電圧V21,V22の内、電圧V21が半導
体スイッチSW11,SW22を介してマイナス端に供給さ
れ、電圧V22は直接プラス端に供給されるオペアンプO
P2と、半導体スイッチSW21とSW22の共通接続点と
接地間に設けられるコンデンサC21と、オペアンプOP
2の入出力間に接続されるコンデンサC22と半導体スイ
ッチSW23の並列回路とから構成される。
1、トランジスタTR及び抵抗Rから構成され、オペア
ンプOP1のマイナス端に温度対電圧変換回路10から
の電圧Vtが供給され、オペアンプOP1の出力に(2
VB−Vt)のバイアスつきVt電圧を得る。このバイア
スつきVt電圧はコンパレータ22のプラス端に供給さ
れる。前記二重積分型積分回路21は安定化電源間に直
列接続した3個の抵抗R21,R22,R23と、これら抵抗
間に得られる分圧電圧V21,V22の内、電圧V21が半導
体スイッチSW11,SW22を介してマイナス端に供給さ
れ、電圧V22は直接プラス端に供給されるオペアンプO
P2と、半導体スイッチSW21とSW22の共通接続点と
接地間に設けられるコンデンサC21と、オペアンプOP
2の入出力間に接続されるコンデンサC22と半導体スイ
ッチSW23の並列回路とから構成される。
【0011】次にDAC回路13は図9に示すように、
前記ADC回路11の二重積分型積分回路と同一構成の
二重積分型積分回路31と、この積分回路31の出力を
サンプルホールド・ローパスフィルタ回路14に供給す
る電路に介挿された半導体スイッチ32と、レジスタ、
カウンタ、ゲート制御回路33で構成される。なお、3
3Aはゲート制御回路とスイッチSW3jとの結び付きを
示す。上記ADC回路11及びDAC回路13に使用さ
れる積分回路は二重積分型であり、半導体スイッチの
数、抵抗の数、キャパシタの数が少なく小形化のための
寄与は大きい。
前記ADC回路11の二重積分型積分回路と同一構成の
二重積分型積分回路31と、この積分回路31の出力を
サンプルホールド・ローパスフィルタ回路14に供給す
る電路に介挿された半導体スイッチ32と、レジスタ、
カウンタ、ゲート制御回路33で構成される。なお、3
3Aはゲート制御回路とスイッチSW3jとの結び付きを
示す。上記ADC回路11及びDAC回路13に使用さ
れる積分回路は二重積分型であり、半導体スイッチの
数、抵抗の数、キャパシタの数が少なく小形化のための
寄与は大きい。
【0012】ところが、ADC回路の出力のTデータ、
DAC回路のV1データは同じビット(例えば10ビッ
ト)でも、一般に両者は(2)式のようになる。
DAC回路のV1データは同じビット(例えば10ビッ
ト)でも、一般に両者は(2)式のようになる。
【0013】 (2VB−Vt)(max)≠Vcw(max) ……(2) であるから、 V24≠V34 ……(3) となり、それに伴いコンデンサと抵抗は(4)式のよう
になり、同一回路にはならない。
になり、同一回路にはならない。
【0014】C2j≠C3j、R2j≠R3j ……(4) さらに、前記二重積分型積分回路をLSI化したときに
は、次のような3つの問題点がある。
は、次のような3つの問題点がある。
【0015】(1)温度データT、V1データを、それ
ぞれ10ビットとすると、コンデンサCi2とCi1の関係
は次式のようになる。
ぞれ10ビットとすると、コンデンサCi2とCi1の関係
は次式のようになる。
【0016】 Ci2/Ci1≒1025×Vi3/Vi4(max) ……(5) 上記(5)において、コンデンサCi2はLSIを小形化
するために大きくできないから、コンデンサCi2を10
0pFとすると、(Vi3/Vi4(max))=0.1の場合コ
ンデンサCi1は1pF以下となる。このような小さな容
量では、ノイズに弱くなる。
するために大きくできないから、コンデンサCi2を10
0pFとすると、(Vi3/Vi4(max))=0.1の場合コ
ンデンサCi1は1pF以下となる。このような小さな容
量では、ノイズに弱くなる。
【0017】(2)半導体スイッチSWijもLSIを小
形化するためには、低抵抗のスイッチが得難いので、1
回のOFF−ON−OFF時間τは長くなり、半導体ス
イッチSWi1,SWi2のオペレーションが交互であるた
め、Tデータ、V1データが10ビットのとき、205
0τ以上になる。仮にτ=0.1msとすると、205
msの長い積分時間を必要とする。
形化するためには、低抵抗のスイッチが得難いので、1
回のOFF−ON−OFF時間τは長くなり、半導体ス
イッチSWi1,SWi2のオペレーションが交互であるた
め、Tデータ、V1データが10ビットのとき、205
0τ以上になる。仮にτ=0.1msとすると、205
msの長い積分時間を必要とする。
【0018】(3)上記(1)、(2)項の結果からノ
イズに対してさらに弱くなり、ADC回路、DAC回路
の誤った動作確率が高くなってしまう。
イズに対してさらに弱くなり、ADC回路、DAC回路
の誤った動作確率が高くなってしまう。
【0019】この発明は上記の事情に鑑みてなされたも
ので、短い変換時間でかつノイズに強いADC回路およ
びDAC回路を得ることができるディジタル温度補償水
晶発振装置を提供することを目的とする。
ので、短い変換時間でかつノイズに強いADC回路およ
びDAC回路を得ることができるディジタル温度補償水
晶発振装置を提供することを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の目的
を達成するために、第1発明は、水晶振動子の周囲温度
をセンシングし、温度に対応したアナログ電圧を出力す
る温度対電圧変換回路と、水晶振動子毎の各温度で補償
するデータが記憶されているとともに、入力される温度
データによって前記補償するデータを演算変換してディ
ジタルデータとして出力する記憶演算回路と、前記温度
対電圧変換回路からのアナログ電圧及び記憶演算回路か
らのディジタルデータが供給され、アナログ電圧発生部
を有し、前記アナログ電圧及び前記アナログ電圧発生部
からのディジタル信号に基づいてアナログ電圧を変換処
理して前記記憶演算回路へディジタル温度データとして
与えるとともに、前記記憶演算回路から入力されるディ
ジタルデータを前記アナログ電圧発生部を介して変換処
理して出力にアナログ電圧を得るデータ変換処理回路を
含むことを特徴とするものである。
を達成するために、第1発明は、水晶振動子の周囲温度
をセンシングし、温度に対応したアナログ電圧を出力す
る温度対電圧変換回路と、水晶振動子毎の各温度で補償
するデータが記憶されているとともに、入力される温度
データによって前記補償するデータを演算変換してディ
ジタルデータとして出力する記憶演算回路と、前記温度
対電圧変換回路からのアナログ電圧及び記憶演算回路か
らのディジタルデータが供給され、アナログ電圧発生部
を有し、前記アナログ電圧及び前記アナログ電圧発生部
からのディジタル信号に基づいてアナログ電圧を変換処
理して前記記憶演算回路へディジタル温度データとして
与えるとともに、前記記憶演算回路から入力されるディ
ジタルデータを前記アナログ電圧発生部を介して変換処
理して出力にアナログ電圧を得るデータ変換処理回路を
含むことを特徴とするものである。
【0021】第2発明は、前記アナログ電圧発生部は、
基準電圧が印加される直列接続された抵抗ストリング回
路とこの抵抗ストリング回路に得られる電圧をスイッチ
により選択するデコードスイッチ回路を有し、アナログ
電圧発生部の出力電圧を、前記温度対電圧変換回路から
のアナログ電圧を受けて、バイアス補正した電圧を生成
し、該アナログ電圧とコンパレートするADC補助回路
とDAC補助回路にスイッチにより切り替えて供給する
第1スイッチ回路と、前記ADC補助回路からのコンパ
レート情報を基にカウントダウンし、アナログ電圧発生
部にディジタルデータを送出する温度データ生成部と、
この温度データ生成部から出力されるディジタルデータ
と記憶演算回路の出力データを切り替えて前記アナログ
電圧発生部のデコードスイッチ回路のスイッチを制御す
る前記第1スイッチ回路と連動した第2スイッチ回路と
から構成されたことを特徴とするものである。
基準電圧が印加される直列接続された抵抗ストリング回
路とこの抵抗ストリング回路に得られる電圧をスイッチ
により選択するデコードスイッチ回路を有し、アナログ
電圧発生部の出力電圧を、前記温度対電圧変換回路から
のアナログ電圧を受けて、バイアス補正した電圧を生成
し、該アナログ電圧とコンパレートするADC補助回路
とDAC補助回路にスイッチにより切り替えて供給する
第1スイッチ回路と、前記ADC補助回路からのコンパ
レート情報を基にカウントダウンし、アナログ電圧発生
部にディジタルデータを送出する温度データ生成部と、
この温度データ生成部から出力されるディジタルデータ
と記憶演算回路の出力データを切り替えて前記アナログ
電圧発生部のデコードスイッチ回路のスイッチを制御す
る前記第1スイッチ回路と連動した第2スイッチ回路と
から構成されたことを特徴とするものである。
【0022】第3発明は、ADC補助回路からのコンパ
レート情報を基に、逐次比較方法により1ビットずつデ
ィジタルデータを生成することを特徴とするものであ
る。
レート情報を基に、逐次比較方法により1ビットずつデ
ィジタルデータを生成することを特徴とするものであ
る。
【0023】第4発明は、前記アナログ電圧発生部をタ
イムシェアリングで制御したことを特徴とするものであ
る。
イムシェアリングで制御したことを特徴とするものであ
る。
【0024】第5発明は、前記第1スイッチ回路に接地
端子を有するスイッチ回路を設け、この接地端子を有す
るスイッチ回路は前記ADC補助回路かDAC補助回路
かのどちらか使用しない回路の入力側を接地することを
特徴とするものである。
端子を有するスイッチ回路を設け、この接地端子を有す
るスイッチ回路は前記ADC補助回路かDAC補助回路
かのどちらか使用しない回路の入力側を接地することを
特徴とするものである。
【0025】第6発明は、前記第1スイッチ回路をワイ
ヤードオアで構成したことを特徴とするものである。
ヤードオアで構成したことを特徴とするものである。
【0026】第7発明は、前記ADC補助回路とDAC
補助回路をオペアンプで構成して、そのオペアンプの利
得を任意に制御するようにしたことを特徴とするもので
ある。
補助回路をオペアンプで構成して、そのオペアンプの利
得を任意に制御するようにしたことを特徴とするもので
ある。
【0027】第8発明は、抵抗ストリング回路の出力電
圧範囲を供給電源電圧の概ね半分以下とすることによ
り、抵抗ストリング回路のデコードスイッチを単一のF
ETにより構成し、前記オペアンプにより所要の制御電
圧を得ることを特徴とするものである。
圧範囲を供給電源電圧の概ね半分以下とすることによ
り、抵抗ストリング回路のデコードスイッチを単一のF
ETにより構成し、前記オペアンプにより所要の制御電
圧を得ることを特徴とするものである。
【0028】第9発明は、前記オペアンプの入力電圧範
囲を抑えるよう抵抗ストリング回路の下限電圧を概ね
0.1V以上としDAC補助回路またはローパスフィル
タ後のバッファ増幅器において増幅することにより所要
の制御電圧を得ることを特徴とするものである。
囲を抑えるよう抵抗ストリング回路の下限電圧を概ね
0.1V以上としDAC補助回路またはローパスフィル
タ後のバッファ増幅器において増幅することにより所要
の制御電圧を得ることを特徴とするものである。
【0029】第10発明は、DAC補助回路の出力部の
ローパスフィルタ時定数をADC変換時間より十分大き
く取ることにより第2スイッチ回路を省略したことを特
徴とするものである。
ローパスフィルタ時定数をADC変換時間より十分大き
く取ることにより第2スイッチ回路を省略したことを特
徴とするものである。
【0030】
【作用】第1発明においては、データ変換処理回路で温
度対電圧変換回路から出力されるアナログ電圧データを
受け、線形対応したディジタルデータを得、更に記憶演
算回路から温度補償ディジタルデータを受けて、線形対
応したアナログ電圧データを得るようにしたので、アナ
ログ・ディジタル変換回路とディジタル・アナログ変換
回路を別々に使用しなくて済むために全体の構成の小形
化を図ることができる。
度対電圧変換回路から出力されるアナログ電圧データを
受け、線形対応したディジタルデータを得、更に記憶演
算回路から温度補償ディジタルデータを受けて、線形対
応したアナログ電圧データを得るようにしたので、アナ
ログ・ディジタル変換回路とディジタル・アナログ変換
回路を別々に使用しなくて済むために全体の構成の小形
化を図ることができる。
【0031】第2発明においては、アナログ電圧発生部
の抵抗ストリング回路とデコードスイッチ回路をADC
補助回路とDAC補助回路に共用したので、抵抗アレー
の占める面積を約1/2にでき、LSIの小形化を可能
とし、DTCXOの小形化を図ることができる。
の抵抗ストリング回路とデコードスイッチ回路をADC
補助回路とDAC補助回路に共用したので、抵抗アレー
の占める面積を約1/2にでき、LSIの小形化を可能
とし、DTCXOの小形化を図ることができる。
【0032】第3発明において、逐次比較方法により容
易に温度データが生成される。第4発明においては、ア
ナログ電圧発生部をタイムシェリングで制御するように
したので、上記同様にDTCXOの小形化を図ることが
できる。第5発明においては、耐ノイズ性が向上し、第
6発明においては、回路の単純化を図って小形化かつ低
電力化が可能となる。さらに、第7発明においては、回
路の設計が容易になる。
易に温度データが生成される。第4発明においては、ア
ナログ電圧発生部をタイムシェリングで制御するように
したので、上記同様にDTCXOの小形化を図ることが
できる。第5発明においては、耐ノイズ性が向上し、第
6発明においては、回路の単純化を図って小形化かつ低
電力化が可能となる。さらに、第7発明においては、回
路の設計が容易になる。
【0033】第8発明において、デコードスイッチを単
一のFETにより構成することにより、小型化、低コス
ト化が図ることができる。第9発明において、オペアン
プの安定動作が可能となる。第10発明において、小型
化、低消費電力化が可能となる。
一のFETにより構成することにより、小型化、低コス
ト化が図ることができる。第9発明において、オペアン
プの安定動作が可能となる。第10発明において、小型
化、低消費電力化が可能となる。
【0034】
【実施例】以下この発明の実施例を図面に基づいて説明
するに、図7と同一部分は同一符号を付して示す。図1
は第1実施例を示すもので、図1において、50は詳細
を後述するデータ変換処理回路で、このデータ変換処理
回路50には温度対電圧変換回路10、記憶演算回路1
2及びサブ機能搭載回路17からデータVt,V1及び基
準電圧Vrが供給され、かつデータ発生部処理回路50
で変換された温度データTが記憶演算回路12に入力さ
れるとともに、アナログデータ(電圧)Vcwを得て、こ
の電圧Vcwがサンプルホールド・ローパスフィルタ回路
14に供給される。サンプルホールド・ローパスフィル
タ回路14は前記電圧Vcwをサンプルホールドした後、
適切な時定数(例えば5ms)をもつローパスフィルタ
(LPF)で平滑してその回路14から制御電圧Vcを
出力する。この制御電圧Vcは、バリアブルキャパシ
タ、抵抗、半導体スイッチなどで構成される電圧対容量
変換回路15に供給され、この回路15の出力端15
A,15B間に制御電圧Vcに1対1線形対応した等価
容量Ccを得る。16はMOSトランジスタなどの半導
体増幅器から構成される反転増幅器で、この反転増幅器
16は水晶振動子19とそれに直列或いは並列に入る電
圧対容量変換回路15の出力端15A,15Bの等価容
量Ccとで水晶発振回路を形成し、温度に対応した等価
容量Ccの変動により温度補償を行う。これにより、周
囲温度に依存しない一定周波数信号電圧を出力端16A
に得る。
するに、図7と同一部分は同一符号を付して示す。図1
は第1実施例を示すもので、図1において、50は詳細
を後述するデータ変換処理回路で、このデータ変換処理
回路50には温度対電圧変換回路10、記憶演算回路1
2及びサブ機能搭載回路17からデータVt,V1及び基
準電圧Vrが供給され、かつデータ発生部処理回路50
で変換された温度データTが記憶演算回路12に入力さ
れるとともに、アナログデータ(電圧)Vcwを得て、こ
の電圧Vcwがサンプルホールド・ローパスフィルタ回路
14に供給される。サンプルホールド・ローパスフィル
タ回路14は前記電圧Vcwをサンプルホールドした後、
適切な時定数(例えば5ms)をもつローパスフィルタ
(LPF)で平滑してその回路14から制御電圧Vcを
出力する。この制御電圧Vcは、バリアブルキャパシ
タ、抵抗、半導体スイッチなどで構成される電圧対容量
変換回路15に供給され、この回路15の出力端15
A,15B間に制御電圧Vcに1対1線形対応した等価
容量Ccを得る。16はMOSトランジスタなどの半導
体増幅器から構成される反転増幅器で、この反転増幅器
16は水晶振動子19とそれに直列或いは並列に入る電
圧対容量変換回路15の出力端15A,15Bの等価容
量Ccとで水晶発振回路を形成し、温度に対応した等価
容量Ccの変動により温度補償を行う。これにより、周
囲温度に依存しない一定周波数信号電圧を出力端16A
に得る。
【0035】図2は前記データ変換処理回路50の動作
シーケンスを示すフローチャートである。データ変換処
理回路50に温度対電圧変換回路10から温度に対応し
た電圧Vtが入力されると、データ変換処理回路50の
アナログ・ディジタル変換処理によりステップS1で温
度データTが確定する。その温度データTをアドレスと
してステップS2でE2PROMからなるメモリを有す
る記憶演算回路12から温度補償データVが得られる。
この温度補償データVはステップS3でデータ処理され
て、データV1となって再びデータ変換処理回路50に
供給される。ステップS3で得られたデータV1はステ
ップS4でディジタル・アナログ変換処理されてアナロ
グ電圧Vcwとなってサンプルホールド・ローパスフィル
タ回路14に入力される。その後、ステップS5で次の
ADC回路までの待ち時間処理を行ったのちに、ステッ
プS1の処理に戻る。これらのシーケンスを実行する回
路はサブ機能搭載回路7に包含される。
シーケンスを示すフローチャートである。データ変換処
理回路50に温度対電圧変換回路10から温度に対応し
た電圧Vtが入力されると、データ変換処理回路50の
アナログ・ディジタル変換処理によりステップS1で温
度データTが確定する。その温度データTをアドレスと
してステップS2でE2PROMからなるメモリを有す
る記憶演算回路12から温度補償データVが得られる。
この温度補償データVはステップS3でデータ処理され
て、データV1となって再びデータ変換処理回路50に
供給される。ステップS3で得られたデータV1はステ
ップS4でディジタル・アナログ変換処理されてアナロ
グ電圧Vcwとなってサンプルホールド・ローパスフィル
タ回路14に入力される。その後、ステップS5で次の
ADC回路までの待ち時間処理を行ったのちに、ステッ
プS1の処理に戻る。これらのシーケンスを実行する回
路はサブ機能搭載回路7に包含される。
【0036】図3は前述したデータ変換処理回路50の
詳細な構成を示すもので、図3において、40はアナロ
グ電圧発生部で、このアナログ電圧発生部40は抵抗ス
トリング回路40Aとデコードスイッチ回路40Bから
構成されている。抵抗ストリング回路40Aは製造プロ
セスの容易性から単位抵抗を直列接続した抵抗R0から
構成され、基準電圧Vrにより2n個の電圧レベルを発生
しておき、ディジタル入力に対応した1つのレベルをス
イッチにより選択する抵抗ストリング形に形成される。
なお、周知の(R−2R)ラダー形タイプも以下の論理
は共通するので包含する。しかし、2n(nはビット数
である)個の抵抗R0とスイッチを必要とし、抵抗の面
積が大きくなる恐れがあるけれども、スイッチの増加は
後述するように小形化が可能で、LSIの寸法増大には
ならない。また、デコードスイッチ回路40Bは半導体
スイッチSW0とノット回路NTから構成される。
詳細な構成を示すもので、図3において、40はアナロ
グ電圧発生部で、このアナログ電圧発生部40は抵抗ス
トリング回路40Aとデコードスイッチ回路40Bから
構成されている。抵抗ストリング回路40Aは製造プロ
セスの容易性から単位抵抗を直列接続した抵抗R0から
構成され、基準電圧Vrにより2n個の電圧レベルを発生
しておき、ディジタル入力に対応した1つのレベルをス
イッチにより選択する抵抗ストリング形に形成される。
なお、周知の(R−2R)ラダー形タイプも以下の論理
は共通するので包含する。しかし、2n(nはビット数
である)個の抵抗R0とスイッチを必要とし、抵抗の面
積が大きくなる恐れがあるけれども、スイッチの増加は
後述するように小形化が可能で、LSIの寸法増大には
ならない。また、デコードスイッチ回路40Bは半導体
スイッチSW0とノット回路NTから構成される。
【0037】上記アナログ電圧発生部40はADC機能
とDAC機能で共用する。そして、図7で示したADC
及びDAC回路の残りの回路であるADC及びDAC補
助回路42、43をスイッチ41Aを設けて切り替わる
ように構成する。41Bはスイッチ41Aと連動するス
イッチである。スイッチ41Aの可動接点cが固定接点
aに接続されているときは、ADC補助回路42が動作
し、可動接点cが固定接点bに接続されているときは、
DAC補助回路43が動作するように構成されている。
ADC補助回路42のコンパレート出力44Aは温度デ
ータ生成部44に供給される。この温度データ生成部4
4はダウンカウンタ(場合によってはアップカウン
タ)、Tレジスタ、シーケンスロジックで構成されい
て、ダウンカウンタとその出力であるTレジスタは始め
フルカウントにセットアップされており、ADC補助回
路42のコンパレータ出力情報44Aに従ってカウント
ダウンし、その都度Tレジスタの値Tdを更新する。Td
はスイッチ41Bの固定接点aを介してデコードスイッ
チ回路40Bに導かれ、Tdに対応したアナログ電圧Vd
がアナログ電圧発生部40の出力40Cに得られる。V
dはスイッチ回路41Aの固定接点aを介してADC補
助回路42のコンパレータに入力され、その出力情報4
4Aが零になったとき、カウントダウンは止まり、温度
データTが得られる。この動きは前記図2のステップS
1に相当し、温度データTは記憶演算回路に送出され
る。これは、温度データ生成部44、アナログ電圧発生
部40、ADC補助回路42が連動し、ADC機能とし
て動作することになる。
とDAC機能で共用する。そして、図7で示したADC
及びDAC回路の残りの回路であるADC及びDAC補
助回路42、43をスイッチ41Aを設けて切り替わる
ように構成する。41Bはスイッチ41Aと連動するス
イッチである。スイッチ41Aの可動接点cが固定接点
aに接続されているときは、ADC補助回路42が動作
し、可動接点cが固定接点bに接続されているときは、
DAC補助回路43が動作するように構成されている。
ADC補助回路42のコンパレート出力44Aは温度デ
ータ生成部44に供給される。この温度データ生成部4
4はダウンカウンタ(場合によってはアップカウン
タ)、Tレジスタ、シーケンスロジックで構成されい
て、ダウンカウンタとその出力であるTレジスタは始め
フルカウントにセットアップされており、ADC補助回
路42のコンパレータ出力情報44Aに従ってカウント
ダウンし、その都度Tレジスタの値Tdを更新する。Td
はスイッチ41Bの固定接点aを介してデコードスイッ
チ回路40Bに導かれ、Tdに対応したアナログ電圧Vd
がアナログ電圧発生部40の出力40Cに得られる。V
dはスイッチ回路41Aの固定接点aを介してADC補
助回路42のコンパレータに入力され、その出力情報4
4Aが零になったとき、カウントダウンは止まり、温度
データTが得られる。この動きは前記図2のステップS
1に相当し、温度データTは記憶演算回路に送出され
る。これは、温度データ生成部44、アナログ電圧発生
部40、ADC補助回路42が連動し、ADC機能とし
て動作することになる。
【0038】次に図2のステップS4に入ると、サブ機
能搭載部17からの指令でスイッチ回路41A、42B
が連動して、可動接点cが固定接点bに接続される。記
憶演算回路12のV1出力がデコードスイッチ回路40
Bに伝達され、V1に対応したアナログ電圧Vdがアナロ
グ電圧発生部40の出力40Cに得られる。VdはDA
C補助回路43のオペアンプとONされたスイッチSW
43を経由してVcw(この実施例ではVdと同値)とな
り、次段のサンプルホールド・ローパスフィルタ回路1
4に導かれ、DAC機能が完遂できる。なお、デコード
スイッチ回路40Bのバス45はn本あり、対応したV
1、Tdバスと半導体スイッチ回路41Bの接点a,b,
cもそれぞれn個ある。
能搭載部17からの指令でスイッチ回路41A、42B
が連動して、可動接点cが固定接点bに接続される。記
憶演算回路12のV1出力がデコードスイッチ回路40
Bに伝達され、V1に対応したアナログ電圧Vdがアナロ
グ電圧発生部40の出力40Cに得られる。VdはDA
C補助回路43のオペアンプとONされたスイッチSW
43を経由してVcw(この実施例ではVdと同値)とな
り、次段のサンプルホールド・ローパスフィルタ回路1
4に導かれ、DAC機能が完遂できる。なお、デコード
スイッチ回路40Bのバス45はn本あり、対応したV
1、Tdバスと半導体スイッチ回路41Bの接点a,b,
cもそれぞれn個ある。
【0039】図4は第2実施例を示すもので、この第2
実施例はスイッチ回路41Aの固定接点a,b間にスイ
ッチ回路41Cを設け、スイッチ回路41Cの固定接点
aをスイッチ回路41Aの固定接点bに接続し、スイッ
チ回路41Cの固定接点bをスイッチ回路41Aの固定
接点aに接続したもので、スイッチ回路41Cの可動接
点cは接地したものである。この第2実施例のように構
成したことにより、スイッチ回路41Aの可動接点cが
動作した直後スイッチ回路41Cの可動接点cを動作さ
せて図3に示すADC補助回路42のコンパレータのマ
イナス端とDAC補助回路43のオペアンプのプラス端
を交互に不使用時には接地することによって、ノイズに
強いDTCXOを構成することができるようになる。
実施例はスイッチ回路41Aの固定接点a,b間にスイ
ッチ回路41Cを設け、スイッチ回路41Cの固定接点
aをスイッチ回路41Aの固定接点bに接続し、スイッ
チ回路41Cの固定接点bをスイッチ回路41Aの固定
接点aに接続したもので、スイッチ回路41Cの可動接
点cは接地したものである。この第2実施例のように構
成したことにより、スイッチ回路41Aの可動接点cが
動作した直後スイッチ回路41Cの可動接点cを動作さ
せて図3に示すADC補助回路42のコンパレータのマ
イナス端とDAC補助回路43のオペアンプのプラス端
を交互に不使用時には接地することによって、ノイズに
強いDTCXOを構成することができるようになる。
【0040】図5は第3実施例を示すもので、この第3
実施例のADC補助回路80は図3に示したADC補助
回路42のオペアンプに使用されている2つの抵抗Rの
代わりに抵抗R80〜R83によって構成したもので、オペ
アンプの出力V80が適宜に設計できるようにしたもので
ある。なお、図3に示したADC補助回路42のオペア
ンプの出力は(2VB−Vt)である。また、DAC補
助回路43のオペアンプは電圧フォロアーであるのに対
して第3実施例のDAC補助回路81は抵抗R84,R85
により正相増幅器を構成するようにしたものである。こ
の第3実施例ではアナログ電圧発生部40を共用化した
デメリットを救済することができる。
実施例のADC補助回路80は図3に示したADC補助
回路42のオペアンプに使用されている2つの抵抗Rの
代わりに抵抗R80〜R83によって構成したもので、オペ
アンプの出力V80が適宜に設計できるようにしたもので
ある。なお、図3に示したADC補助回路42のオペア
ンプの出力は(2VB−Vt)である。また、DAC補
助回路43のオペアンプは電圧フォロアーであるのに対
して第3実施例のDAC補助回路81は抵抗R84,R85
により正相増幅器を構成するようにしたものである。こ
の第3実施例ではアナログ電圧発生部40を共用化した
デメリットを救済することができる。
【0041】上記したオペアンプやコンパレータは機能
表現で示したが、実際の回路としてはCMOSプロセス
の素子群である。図5の実施例でADC補助回路80と
DAC補助回路81を設けた目的は、共通使用するアナ
ログ電圧発生部40の最大出力電圧(VM≒Vr)をビッ
ト重み(前述した抵抗R02n個のn=10のとき、約V
r/1000となる)が固定であるのに対して、ADC
機能のVtの感度と室温時の出力データTを適当にオフ
セットすることと、フルビットに対するDAC補助回路
81の出力電圧V81を制御可能にする(実際はDAC機
能の感度の制御になる)ことにある。なお、ADC補助
回路80のオペアンプの出力電圧V80に関しては次の式
が適用される。
表現で示したが、実際の回路としてはCMOSプロセス
の素子群である。図5の実施例でADC補助回路80と
DAC補助回路81を設けた目的は、共通使用するアナ
ログ電圧発生部40の最大出力電圧(VM≒Vr)をビッ
ト重み(前述した抵抗R02n個のn=10のとき、約V
r/1000となる)が固定であるのに対して、ADC
機能のVtの感度と室温時の出力データTを適当にオフ
セットすることと、フルビットに対するDAC補助回路
81の出力電圧V81を制御可能にする(実際はDAC機
能の感度の制御になる)ことにある。なお、ADC補助
回路80のオペアンプの出力電圧V80に関しては次の式
が適用される。
【0042】
【数1】
【0043】なお、R80とR81はバイアス電圧VBのコ
ントロールに用いられる。DAC補助回路81のオペア
ンプの出力電圧V81に関しては次式が用いられる。
ントロールに用いられる。DAC補助回路81のオペア
ンプの出力電圧V81に関しては次式が用いられる。
【0044】
【数2】
【0045】図6は第4実施例を示すもので、図6は図
3に示した構成の内、スイッチ回路41Aをワイヤード
オア61にて構成したものである。このようにワイヤー
ドオア61を用いると、半導体素子で構成するスイッチ
回路41Aがなくなるとともに、コントロール回路を含
めた配線の削減により、チップの小形化への寄与が大き
くなる。この第4実施例の動作としては、当然スイッチ
回路41Bと41Aの連動はなくなる。前記ワイヤード
オア61はアナログ電圧発生部40の抵抗ストリング出
力とADC補助回路42の入力およびDAC補助回路4
3の入力を、タイムシェアリングにより互いに接続する
ようにしたものである。
3に示した構成の内、スイッチ回路41Aをワイヤード
オア61にて構成したものである。このようにワイヤー
ドオア61を用いると、半導体素子で構成するスイッチ
回路41Aがなくなるとともに、コントロール回路を含
めた配線の削減により、チップの小形化への寄与が大き
くなる。この第4実施例の動作としては、当然スイッチ
回路41Bと41Aの連動はなくなる。前記ワイヤード
オア61はアナログ電圧発生部40の抵抗ストリング出
力とADC補助回路42の入力およびDAC補助回路4
3の入力を、タイムシェアリングにより互いに接続する
ようにしたものである。
【0046】以下第4実施例の動作を図2のフローチャ
ートを参照して述べるに、図2のフローチャートの各ス
テップはサブ機能搭載回路17が認識している。ステッ
プS1でスイッチ回路41Bの可動接点cは固定接点a
に接続され、アナログ電圧発生部40、ADC補助回路
42および温度データ生成部44が作動し、この温度デ
ータ生成部44はADC補助回路42からの出力信号4
4Aを受け付け、図示しないカウンタのアップ又はダウ
ンを行いTレジスタの確立をする。このあと温度データ
生成部44は前記出力信号44Aを切る。この間ワイヤ
ードオア61を介して入力されたDAC補助回路43の
オペアンプは作動しているが、サブ機能搭載回路17の
制御によりスイッチSW43はOFFされているので、D
AC補助回路43は非動作と同じになる。
ートを参照して述べるに、図2のフローチャートの各ス
テップはサブ機能搭載回路17が認識している。ステッ
プS1でスイッチ回路41Bの可動接点cは固定接点a
に接続され、アナログ電圧発生部40、ADC補助回路
42および温度データ生成部44が作動し、この温度デ
ータ生成部44はADC補助回路42からの出力信号4
4Aを受け付け、図示しないカウンタのアップ又はダウ
ンを行いTレジスタの確立をする。このあと温度データ
生成部44は前記出力信号44Aを切る。この間ワイヤ
ードオア61を介して入力されたDAC補助回路43の
オペアンプは作動しているが、サブ機能搭載回路17の
制御によりスイッチSW43はOFFされているので、D
AC補助回路43は非動作と同じになる。
【0047】次にステップS3に入ると、サブ機能搭載
回路17の制御で、スイッチ回路41Bの可動接点cは
固定接点bに接続され、記憶演算回路12のV1レジス
タに対応しアナログ電圧がアナログ電圧発生部44の4
0Cに出力される(基本的には2クロック時間後)。こ
のとき、サブ機能搭載回路17により、スイッチSW43
がONとなり、サンプルホールド・ローパスフィルタ回
路14のサンプルホールド用のキャパシタに電圧Vcwが
充電される。その後、スイッチSW43はOFFされる。
このように動作するので、スイッチ回路41Aを省略す
ることが可能となる。従って、この第4実施例において
は回路の単純化、小形化、低電力化が可能となる。
回路17の制御で、スイッチ回路41Bの可動接点cは
固定接点bに接続され、記憶演算回路12のV1レジス
タに対応しアナログ電圧がアナログ電圧発生部44の4
0Cに出力される(基本的には2クロック時間後)。こ
のとき、サブ機能搭載回路17により、スイッチSW43
がONとなり、サンプルホールド・ローパスフィルタ回
路14のサンプルホールド用のキャパシタに電圧Vcwが
充電される。その後、スイッチSW43はOFFされる。
このように動作するので、スイッチ回路41Aを省略す
ることが可能となる。従って、この第4実施例において
は回路の単純化、小形化、低電力化が可能となる。
【0048】なお、高速追従を要求されないアナログ入
力信号からディジタル処理されたアナログ出力信号を得
る装置の構成において、アナログ出力信号を得るDAC
をアナログ入力信号をAD変換する際に流用したことを
特徴とするものであり、ディジタル温度補償水晶発振装
置に限らず高精度を要求される各種の補償信号発生回路
に適用可能であり、応答速度の点からは温度補償信号発
生回路に好適である。
力信号からディジタル処理されたアナログ出力信号を得
る装置の構成において、アナログ出力信号を得るDAC
をアナログ入力信号をAD変換する際に流用したことを
特徴とするものであり、ディジタル温度補償水晶発振装
置に限らず高精度を要求される各種の補償信号発生回路
に適用可能であり、応答速度の点からは温度補償信号発
生回路に好適である。
【0049】
【発明の効果】以上述べたように、この発明によれば、
以下のような効果が得られる。
以下のような効果が得られる。
【0050】(1)データ変換処理回路を用いることに
より、回路構成の単純化を図って小形化が可能となり、 (2)抵抗ストリング回路を用いることにより、変換時
間が短くなるとともにノイズにも強くなり、 (3)抵抗ストリング回路をADC、DAC機能に共用
したので、抵抗アレーの占有面積を約1/2にでき、L
SIの小形化を可能としてDTCXOの小形化にも寄与
する。
より、回路構成の単純化を図って小形化が可能となり、 (2)抵抗ストリング回路を用いることにより、変換時
間が短くなるとともにノイズにも強くなり、 (3)抵抗ストリング回路をADC、DAC機能に共用
したので、抵抗アレーの占有面積を約1/2にでき、L
SIの小形化を可能としてDTCXOの小形化にも寄与
する。
【0051】(4)アナログ電圧発生部のデコードスイ
ッチ回路に用いる半導体スイッチ群は、接続端子がオペ
アンプの仮想零点であるため、電流が流れないので、抵
抗の高いものが使え、このため、占有面積は小さくな
る。これはLSIの小形化、DTCXOの小形化に寄与
するものである。
ッチ回路に用いる半導体スイッチ群は、接続端子がオペ
アンプの仮想零点であるため、電流が流れないので、抵
抗の高いものが使え、このため、占有面積は小さくな
る。これはLSIの小形化、DTCXOの小形化に寄与
するものである。
【0052】(5)ADC、DACの共用回路ができて
いるため、LSIの消費電力の低減にもなる。LSI面
積の縮小化により、低コスト化が可能となる。
いるため、LSIの消費電力の低減にもなる。LSI面
積の縮小化により、低コスト化が可能となる。
【図1】この発明の第1実施例を示すブロック構成図。
【図2】第1実施例の動作を述べるためのフローチャー
ト。
ト。
【図3】第1実施例のデータ変換処理回路の詳細な構成
図。
図。
【図4】この発明の第2実施例を示すブロック図。
【図5】この発明の第3実施例を示す回路構成図。
【図6】この発明の第4実施例を示すブロック構成図。
【図7】従来のDTCXOのブロック構成図。
【図8】従来のアナログ・ディジタル変換回路の構成
図。
図。
【図9】従来のディジタル・アナログ変換回路の構成
図。
図。
10…温度対電圧変換回路 12…記憶演算回路 14…サンプルホールド・ローパスフィルタ回路 15…電圧対容量変換回路 16…反転増幅器 17…サブ機能搭載回路 19…水晶振動子 40…アナログ電圧発生部 41A,41B,41C…スイッチ回路 42…ADC補助回路 43…DAC補助回路 44…温度データ生成部 50…データ変換処理回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 林 睦夫 東京都品川区大崎2丁目1番17号 株式会 社明電舎内 (72)発明者 松本 一成 東京都品川区大崎2丁目1番17号 株式会 社明電舎内 (72)発明者 土屋 主税 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 西森 英二 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 松井 孝至 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内
Claims (10)
- 【請求項1】 水晶振動子の周囲温度をセンシングし、
温度に対応したアナログ電圧を出力する温度対電圧変換
回路と、水晶振動子毎の各温度で補償するデータが記憶
されているとともに、入力される温度データによって前
記補償するデータを演算変換してディジタルデータとし
て出力する記憶演算回路と、前記温度対電圧変換回路か
らのアナログ電圧及び記憶演算回路からのディジタルデ
ータが供給され、アナログ電圧発生部を有し、前記アナ
ログ電圧及び前記アナログ電圧発生部からのディジタル
信号に基づいてアナログ電圧を変換処理して前記記憶演
算回路へディジタル温度データとして与えるとともに、
前記記憶演算回路から入力されるディジタルデータを前
記アナログディジタル発生部を介して変換処理して出力
にアナログ電圧を得るデータ変換処理回路を含むことを
特徴とするディジタル温度補償水晶発振装置。 - 【請求項2】 前記アナログ電圧発生部は、基準電圧が
印加される直列接続された抵抗ストリング回路とこの抵
抗ストリング回路に得られる電圧をスイッチにより選択
するデコードスイッチ回路を有し、アナログ電圧発生部
の出力電圧を、前記温度対電圧変換回路からのアナログ
電圧を受けて、バイアス補正した電圧を生成し、該アナ
ログ電圧とコンパレートするADC補助回路とDAC補
助回路にスイッチにより切り替えて供給する第1スイッ
チ回路と、前記ADC補助回路からのコンパレート情報
を基にカウントダウンし、アナログ電圧発生部にディジ
タルデータを送出する温度データ生成部と、この温度デ
ータ生成部から出力されるディジタルデータと記憶演算
回路の出力データを切り替えて前記アナログ電圧発生部
のデコードスイッチ回路のスイッチを制御する前記第1
スイッチ回路と連動した第2スイッチ回路とから構成さ
れたことを特徴とする請求項1記載のディジタル温度補
償水晶発振装置。 - 【請求項3】 前記ADC補助回路からのコンパレート
情報を基に、逐次比較方法により1ビットずつディジタ
ルデータを生成することを特徴とする請求項2項記載の
ディジタル温度補償水晶発振装置。 - 【請求項4】 前記アナログ電圧発生部をタイムシェア
リングで制御したことを特徴とする請求項2記載のディ
ジタル温度補償水晶発振装置。 - 【請求項5】 前記第1スイッチ回路に接地端子を有す
るスイッチ回路を設け、この接地端子を有するスイッチ
回路は前記ADC補助回路かDAC補助回路かのどちら
か使用しない回路の入力側を接地することを特徴とする
請求項2記載のディジタル温度補償水晶発振装置。 - 【請求項6】 前記第1スイッチ回路をワイヤードオア
で構成したことを特徴とする請求項2記載のディジタル
温度補償水晶発振装置。 - 【請求項7】 前記ADC補助回路とDAC補助回路を
オペアンプで構成して、そのオペアンプの利得を任意に
制御するようにしたことを特徴とする請求項2または6
記載のディジタル温度補償水晶発振装置。 - 【請求項8】 抵抗ストリング回路の出力電圧範囲を供
給電源電圧の概ね半分以下とすることにより、抵抗スト
リング回路のデコードスイッチを単一のFETにより構
成し、前記オペアンプにより所要の制御電圧を得ること
を特徴とする請求項7記載のディジタル温度補償水晶発
振装置。 - 【請求項9】 前記オペアンプの入力電圧範囲を抑える
よう抵抗ストリング回路の下限電圧を概ね0.1V以上
としDAC補助回路またはローパスフィルタ後のバッフ
ァ増幅器において増幅することにより所要の制御電圧を
得ることを特徴とする請求項7記載のディジタル温度補
償水晶発振装置。 - 【請求項10】 DAC補助回路の出力部のローパスフ
ィルタ時定数をADC変換時間より十分大きく取ること
により第2スイッチ回路を省略したことを特徴とする請
求項2〜9記載のディジタル温度補償水晶発振装置。
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---|---|---|---|
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JP12605895A Expired - Fee Related JP3310494B2 (ja) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | ディジタル温度補償水晶発振装置 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009077342A (ja) * | 2007-09-25 | 2009-04-09 | Epson Toyocom Corp | 補償電圧回路及び温度補償型圧電発振器 |
JP2011004556A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Mitsubishi Electric Corp | 車両用電源装置 |
CN114024506A (zh) * | 2022-01-06 | 2022-02-08 | 浙江赛思电子科技有限公司 | 开环型晶体振荡器电路 |
-
1995
- 1995-05-25 JP JP12605895A patent/JP3310494B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2011004556A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Mitsubishi Electric Corp | 車両用電源装置 |
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CN114024506B (zh) * | 2022-01-06 | 2022-04-19 | 浙江赛思电子科技有限公司 | 开环型晶体振荡器电路 |
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