JPH08321045A - 光ディスク装置 - Google Patents

光ディスク装置

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JPH08321045A
JPH08321045A JP7123571A JP12357195A JPH08321045A JP H08321045 A JPH08321045 A JP H08321045A JP 7123571 A JP7123571 A JP 7123571A JP 12357195 A JP12357195 A JP 12357195A JP H08321045 A JPH08321045 A JP H08321045A
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signal
address signal
intermediate address
address
objective lens
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JP7123571A
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Nobuo Ogata
伸夫 緒方
Yasuo Nakada
泰男 中田
Yoshihiro Sekimoto
芳宏 関本
Kunio Kojima
邦男 小嶋
Hideo Sato
秀朗 佐藤
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】対物レンズの変位や光ディスクの反射率変動に
よらず、安定してアドレス信号を生成できる光ディスク
装置を提供する。 【構成】光検出器１６の２分割された受光部１６ａ，１
６ｂは光ディスク１からの反射光を受光する。第１の中
間アドレス信号Ｓ２０は受光部１６ａ，１６ｂの出力の
差信号から生成される。第２の中間アドレス信号Ｓ２１
は受光部１６ａ，１６ｂの和信号から生成される。アド
レス生成回路は第１の中間アドレス信号Ｓ２０と第２の
中間アドレス信号Ｓ２１とを用いて、アドレス信号Ｓ２
６の生成を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光を用いて光デ
ィスクのグルーブとランドの両方に情報の記録、再生ま
たは消去をする光ディスク装置に関し、特に、アドレス
信号生成時のエラーの発生を抑制して、そのアドレス信
号に基づいて光スポットの位置制御を行う光ディスク装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図１４は、情報の記録・再生の可能な一
般的な光ディスクを示す構造図である。光ディスク１０
１は、裏面２ａにドライエッチング等の手法により凹部
として形成されたグルーブ３、及び、グルーブ３とグル
ーブ３との間に凸部として残されたランド４が形成され
た基板２を有している。これらグルーブ３とランド４の
１組にて、ガイドトラック５が構成されており、ガイド
トラック５とガイドトラック５の間隔がトラックピッチ
となる。このような凹凸状に形成された基板２の裏面２
ａには、凹凸に沿って記録層６が形成され、反射型の光
ディスクの場合には、さらにこの記録層６の上に反射層
７が形成されている。そして、グルーブ３またはランド
４のうちの一方が記録に使用される。
【０００３】このような光ディスクに対して、高密度化
を実現するために、ガイドトラックのグルーブとランド
の両方を記録に使用することが提案されている（特公平
４−２７６１０号公報）。従来は、グルーブとランドの
うちの一方しか情報を記録しなかったので、これと比較
すると記録密度を約２倍に高密度化できる。しかし、グ
ルーブとランドの両方を記録に使用する場合は、信号再
生時に隣接トラックの信号が混入すること（クロストー
ク）による信号品質の劣化が問題となる。
【０００４】そこで、このクロストークの問題を解決す
るために、磁気光学効果を利用した光ディスクにおい
て、垂直磁化膜である記録層の上に温度上昇により面内
磁化から垂直磁化に移行する特性を持った読み出し層を
設けて、再生スポットの中央部分に生じる高温の領域の
みを再生に関与させることにより、隣接トラックからの
信号のクロストークを無くして高密度化を図る方法が開
示されている（例えば、特開平５−８１７１７号公
報）。
【０００５】また、グルーブとランドの各幅がほぼ等し
い光ディスクに対して、グルーブとランドの両方にトラ
ッキングする方法として、プッシュプル法が用いられて
いる。図１５は、このプッシュプル法を説明する図であ
る。ここで、図１５（ｂ）はガイドトラックを形成する
グルーブ３とランド４の各幅の比率が５０：５０の光デ
ィスクを示す断面図であり、図１５（ａ）はガイドトラ
ックに対して光スポットが移動した時に得られるトラッ
キングエラー信号を示す波形図である。この図のよう
に、光スポットの光ディスク上の位置に対応したトラッ
キングエラー信号はトラックピッチと同じ周期になる。
トッキングエラー信号の極性（右上がりの極性、あるい
は、右下がりの極性）により、光スポットがグルーブ３
をトレースしているか（図１５で右上がりの極性）、ラ
ンド４をトレースしているか（図１５で右下がりの極
性）が判別可能であり、安定したトラッキングサーボが
実現できる。
【０００６】更に、このようなガイドトラックのグルー
ブとランドの両方を使用する光ディスクに対して、再生
スポットが走査しているトラックのアドレス信号を検出
するために、光ディスクのグルーブの一方の側壁を蛇行
させた光ディスクが知られている（特開平５−３１４５
３８号公報）。
【０００７】この特開平５−３１４５３８号公報に記載
された光ディスクを図２（ａ）、（ｂ）を用いて説明す
る。まず図２（ａ）に示す光ディスク１について説明す
る。図１４に示した光ディスク１０１の構成要素と基本
的には同じであるので、同一構成要素には同一符号を付
して詳細な説明は省略する。図１４と異なる点は、グル
ーブ３の一方の側壁３ａだけがアドレス情報に応じて蛇
行していることである。グルーブ３のもう一方の側壁３
ｂは蛇行していない。上記グルーブ３の幅の平均値はラ
ンド４の幅の平均値に等しくなるように設定されてい
る。そして、この光ディスク１のグルーブ３とランド４
の両方が情報の記録・再生に利用される。図２（ｂ）に
示す光ディスク１’は、グルーブ３の一方の側壁３ａは
蛇行していなくて、もう一方の側壁３ｂが蛇行している
ものである。
【０００８】図２（ａ）に示す光ディスク１からトラッ
キングエラー信号とアドレス信号を生成する２つの方法
について図１６，図１７を用いて簡単に説明する。
【０００９】第１の方法を図１６を用いて説明する。
【００１０】図１６（ａ）に信号検出に用いる光ピック
アップの構成を示す。同図において、半導体レーザ７１
から出射された光ビームは、コリメートレンズ７２によ
り平行な光ビームに変換され、この光ビームはビームス
プリッタ７３を透過した後、対物レンズ７４で集光され
光ディスク１上に微小の光スポットを形成する。光ディ
スク１からの反射光ビームは往路と同じ光路を通り半導
体レーザ７１に戻るが、反射光ビームの一部はビームス
プリッタ７３で反射された後、集光レンズ７６により光
検出器７７上に集光される。この反射光ビームは、光デ
ィスク１上のガイドトラックが回折格子として機能する
ことにより生じる±１次回折光と０次回折光の干渉によ
る回折パターン８０として光検出器７７上に集光され
る。
【００１１】図１６（ｂ）に示すように、光検出器７７
は、受光部７７ａと受光部７７ｂとに２分割されてい
る。この光検出器７７は、対物レンズ７４が半導体レー
ザ７１からの出射光の光軸から変位していない場合（対
物レンズ７４が中立位置にある場合）に、受光部７７ａ
と受光部７７ｂに入射する光の合計が最大となるように
設置される。
【００１２】回折パターン８０に含まれる領域８０ａと
領域８０ｂの光強度変化を受光部７７ａと受光部７７ｂ
で検出し、その検出結果を利用してトラッキングエラー
信号Ｓ８２とアドレス信号Ｓ８３が演算される。具体的
には、この光量変化を、受光部７７ａと受光部７７ｂが
接続された差動アンプ８１から出力される差信号Ｓ８１
をローパスフィルタ（ＬＰＦ）８２を通過させることに
より、蛇行周波数の成分を除去したトラッキングエラー
信号Ｓ８２が得られると共に、差信号Ｓ８１をハイパス
フィルター（ＨＰＦ）８３を通過させ蛇行周波数の成分
を検出することによりアドレス信号Ｓ８３が得られる。
【００１３】第２の方法を図１７を用いて説明する。
【００１４】図１７（ａ）は信号検出に用いる光ピック
アップの構成を示す図である。光ディスク１からの反射
光ビームは往路と同じ光路を通り半導体レーザ７１に戻
るが、反射光ビームの一部はビームスプリッタ７３で反
射された後、集光レンズ７６により光検出器７７上に集
光される。図１７（ｂ）に示すように、光検出器７７
は、受光部７７ａと受光部７７ｂとに２分割されてい
る。光ディスク１からの反射光ビームはガイドトラック
が回折格子として機能することにより生じる±１次回折
光と０次回折光の干渉による回折パターン８０として光
検出器７７上に集光される。回折パターン８０全体での
光量変化を利用してアドレス信号Ｓ８５が演算される。
具体的には、この光量変化を、受光部７７ａと受光部７
７ｂが接続された加算アンプ８４から出力される和信号
Ｓ８４をハイパスフィルター（ＨＰＦ）８５を通過させ
て蛇行周波数の成分を検出することでアドレス信号Ｓ８
５が得られると共に、受光部７７ａと受光部７７ｂが接
続された差動アンプ８１からの差信号Ｓ８１をローパス
フィルター（ＬＰＦ）８２を通過させて蛇行周波数の成
分を除去することによりトラッキングエラー信号Ｓ８２
が得られる。
【００１５】次に、これらの２つの方法を用いたア
ドレス信号検出の動作について、図１８，図１９を用い
て具体的に説明する。
【００１６】まず、図１８を用いて、グルーブ３にトラ
ッキングしている場合のアドレス信号検出の動作を説明
する。図１８（ａ）はトラッキングしている様子を示す
模式図である。図１８（ｂ）〜（ｅ）は、図１８（ａ）
の矢印Ｄ方向にビームＢが進行したときのビームＢの位
置に対応した、受光部７７ａの受光量Ｓ７７ａ、受光部
７７ｂの受光量Ｓ７７ｂ、それらの差から生成したアド
レス信号Ｓ８３、和から生成したアドレス信号Ｓ８５の
出力波形を示す図である。図１８（ａ）中の一点鎖線
は、グルーブ３の幅の中心９０を示しており、破線はグ
ルーブ３の幅の平均値の中心９１を示している。
【００１７】グルーブ中心９０はグルーブ３の側壁３ａ
の蛇行に応じて蛇行している。この蛇行周波数は例えば
５０ｋＨｚ程度に設定されており、トラッキング制御の
追従周波数（例えば５ｋＨｚ程度）よりも高いため、ビ
ームＢの軌跡はグルーブ中心９０を通らずにグルーブ平
均中心９１を通る。従って、トラッキングエラーが生じ
る。このトラッキングエラーに応じて、受光量Ｓ７７ａ
は、図１８（ｂ）に示すように光量が変化し、受光量Ｓ
７７ｂは、図１８（ｃ）に示すように光量が変化する。
これらの光量変化を用いて、差信号からアドレス信号Ｓ
８３が得られ（図１８（ｄ））、和信号からアドレス信
号Ｓ８５が得られる（図１８（ｅ））。
【００１８】続いて、図１９を用いて、ランド４にトラ
ッキングしている場合のアドレス信号検出の動作を説明
する。図１９（ｂ）〜（ｅ）に、矢印Ｄ方向にビームＢ
が進行したときのビームＢの位置に対応した、受光部７
７ａの受光量Ｓ７７ａ、受光部７７ｂの受光量Ｓ７７
ｂ、差信号を用いたアドレス信号Ｓ８３と和信号を用い
たアドレス信号Ｓ８５の出力波形をそれぞれ示す。図１
９（ａ）の一点鎖線はランド４の幅の中心であるランド
中心９２を示しており、破線はランド４の幅の平均値の
中心であるランド平均中心９３を示している。
【００１９】ランド中心９２はグルーブ３の側壁３ａの
蛇行に応じて蛇行している。グルーブ３へのトラッキン
グ動作でも説明したように、トラッキング制御の追従周
波数は例えば５ｋＨｚ程度であるのに対して、グルーブ
３の側壁３ａの蛇行周波数は例えば５０ｋＨｚ程度と上
記追従周波数よりも高くなるように設定される。そのた
めビームＢの軌跡はランド中心９２を通らずに、ランド
平均中心９３を通る。従って、トラッキングエラーが生
じる。このトラッキングエラーに応じた受光量Ｓ７７ａ
は、図１９（ｂ）に示すように光量が変化し、受光量Ｓ
７７ｂは、図１９（ｃ）に示すように光量が変化する。
これらの受光量の光量変化を用いて、差信号からアドレ
ス信号Ｓ８３が得られ（図１９（ｄ））、和信号からア
ドレス信号Ｓ８５が得られる（図１９（ｅ））。
【００２０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
たの方法（受光部７７ａと受光部７７ｂの出力の差か
らアドレス信号を生成する方法）では下記の（イ）の問
題があり、の方法（受光部７７ａと受光部７７ｂの出
力の和からアドレス信号を生成する方法）では下記の
（ロ）の問題がある。
【００２１】（イ）対物レンズ７４が、トラッキング制
御等により、トラッキング方向に移動して光軸に対して
変位した場合（対物レンズ７４の中立位置から変位した
場合）に、アドレス信号の振幅が小さくなり、アドレス
情報の読み出しエラーが生じ、光スポットの位置制御を
精密に行うことができなくなる。（ロ）光ディスク１に
傷等が存在する場合に、そこでの反射率の変化によりア
ドレス情報の読み出しエラーが生じ、光スポットの位置
制御を精密に行うことができなくなる。
【００２２】まず、（イ）の問題について説明する。
【００２３】上記のの方法でアドレス信号Ｓ８３を検
出しているときに、対物レンズ７４が、トラッキング制
御等によりトラック方向に移動し、光軸から変位した場
合について説明する。図１６（ｃ）は、対物レンズ１４
の変位に起因して光スポットが移動した様子を示す図で
ある。この図において、光検出器７７上の受光部７７ａ
には回折パターン８６の領域８６ａに加えて領域８６ｂ
の一部が混入し、受光部７７ｂには回折パターン８６の
領域８６ｂの一部分のみが入射している。
【００２４】図２０は上記変位の与える影響を説明する
図である。図２０（ａ）のように、光スポットＢが蛇行
したグルーブ３上を矢印Ｄの方向に走査している場合、
受光部７７ａの受光量Ｓ７７ａの光量変化は図２０
（ｂ）に示すようになり、受光部７７ｂの受光量Ｓ７７
ｂの光量変化は図２０（ｃ）のようになる。これらの受
光量Ｓ７７ａ，Ｓ７７ｂの差信号から演算されるアドレ
ス信号Ｓ８３の出力波形は、図２０（ｄ）に示すように
なり、図１８（ｄ）の出力波形（変位のない場合の出力
波形）と比べて振幅が小さくなる。
【００２５】このようにアドレス信号の振幅が小さくな
ると、アドレス情報の読み出しエラーが生じ、そのエラ
ーを訂正できなくなる恐れがある。このため、差信号を
用いてアドレス信号を検出する光ピックアップでは、対
物レンズ７４がトラックを追従する時に発生する光軸ず
れを抑えるために、光ピックアップの送り機構に高速か
つ高精度なリニアモータを採用しなければならず、装置
の低価格化を妨げていた。
【００２６】以上の説明においては、光ディスク１のグ
ルーブ３にトラッキングした場合について説明したが、
ランド４にトラッキングした場合についても同様であ
る。つまり、差信号から検出するアドレス信号Ｓ８３
は、対物レンズの移動に応じてアドレス信号の振幅が変
化して小さくなり、同様の問題が生じる。
【００２７】これに対して、上記の方法で和信号から
アドレス信号Ｓ８５を検出する場合にはこのような問題
は起こらない。これについて説明する。
【００２８】図１７（ｃ）に示すように、回折パターン
８０が回折パターン８６に移動しても、受光部７７ａと
受光部７７ｂの受光量を加算した受光量には差が生じな
い。つまり、図２０（ａ）に示すように蛇行したグルー
ブ３の上を、ビームＢが走査するときに、受光部７７ａ
と受光部７７ｂの和信号から演算されるアドレス信号Ｓ
８５の出力波形は、図２０（ｅ）に示すようになり、図
１８（ｅ）の場合（位置変位のない場合）と同じであ
る。このように、アドレス信号の振幅が一定しているの
で、安定したアドレス情報の読み出しができる。
【００２９】次に（ロ）の問題について説明する。
【００３０】まず、上記のの方法でアドレス信号を生
成しているときに、光ディスク１の反射率が傷等により
低下した場合について説明する。
【００３１】図２１はこの問題を説明する図である。図
２１（ａ）のように、光スポットＢがグルーブ部３を矢
印Ｄの方向に走査しているものとする。この図において
斜線部９２は傷等により反射率が低下している領域を示
している。このとき、受光部７９ａの受光量Ｓ７７ａの
光量変化は図２１（ｂ）に示すようになり、受光部７９
ｂの受光量Ｓ７７ｂの光量変化は図２１（ｃ）のように
なる。受光部７９ａと受光部７９ｂの和信号から検出さ
れるアドレス信号Ｓ８５は図２１（ｅ）に示すようにな
り、領域９４の部分において、反射率の低下の影響によ
り信号が歪んでいる。
【００３２】以上の説明においては光ディスク１のグル
ーブ３にトラッキングした場合について説明したが、ラ
ンド４にトラッキングした場合についても同様であり、
和信号から生成したアドレス信号Ｓ８５は、光ディスク
１の反射率が変化に大きな影響を受ける。従って、アド
レス情報の読み出しエラーが発生し、その訂正ができな
くなる恐れがある。このため、和信号からアドレス信号
を検出する光ピックアップには、反射率変化の大きい光
ディスクは使用できなかった。
【００３３】これに対しの方法でアドレス信号を検出
する場合には、この問題は生じない。このことを図２１
に基づいて説明する。差信号から検出されるアドレス信
号Ｓ８３の出力波形は図２１（ｂ），図２１（ｃ）を差
動することによって、図２１（ｄ）に示すようになる。
つまり、領域９４の部分の反射率低下の影響は小さくな
る。このように、アドレス信号Ｓ８３は、ほとんど反射
率変化の影響を受けないので、安定したアドレス情報の
読み出しができる。
【００３４】以上のように、差信号を用いてアドレス信
号を生成する光ディスク装置では上記の（イ）の問題が
生じ、和信号を用いてアドレス信号を生成する光ディス
ク装置では上記の（ロ）の問題が生じる。
【００３５】本発明は、上記の問題点に鑑みて成された
もので、対物レンズの光軸からの変位や、傷、ゴミ、反
射膜の反射率変化等による光ディスクの反射率変化によ
らず、安定してアドレス情報を読み取り、アドレス信号
を生成できる光ディスク装置を提供することを目的とす
る。
【００３６】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の光ディ
スク装置は、螺旋状に形成されたトラッキング用のグル
ーブの一方の側壁だけがアドレス情報に応じて蛇行した
光ディスク上に、光ビームを対物レンズを介して微小な
光スポットとして照射するとともに、光ディスクからの
反射光をグルーブの形成方向に対応する方向の分割線で
２分割された光検出器で受光する光ピックアップを有
し、光ピックアップからの出力信号を用いて情報の記録
・再生を行う光ディスク装置において、２分割された光
検出器の出力の差信号を用いて、グルーブの側壁の蛇行
から第１の中間アドレス信号を生成する第１の中間アド
レス生成手段と、２分割された光検出器の出力の和信号
を用いて、グルーブの側壁の蛇行から第２の中間アドレ
ス信号を生成する第２の中間アドレス生成手段と、第１
の中間アドレス信号と第２の中間アドレス信号からアド
レス情報を示すアドレス信号を生成するアドレス生成手
段と、を備えてなるものである。
【００３７】請求項２に記載の光ディスク装置は、アド
レス生成手段が、第１の中間アドレス信号と第２の中間
アドレス信号の一方あるいは両方のエラーを検出する手
段と、その検出結果に基づいて第１の中間アドレス信号
と第２の中間アドレス信号のどちらか一方を選択する選
択手段と、を備えてなるものである。
【００３８】請求項３に記載の光ディスク装置は、アド
レス生成手段が、第１の中間アドレス信号と第２の中間
アドレス信号の一方あるいは両方の信号振幅を検出する
手段と、その検出結果に基づいて第１の中間アドレス信
号と第２の中間アドレス信号のどちらか一方を選択する
選択手段と、を備えてなるものである。
【００３９】請求項４に記載の光ディスク装置は、アド
レス生成手段が、第１の中間アドレス信号と第２の中間
アドレス信号のそれぞれのエラー訂正を行う手段と、第
１の中間アドレス信号と第２の中間アドレス信号のうち
の、訂正が可能なほうの信号を選択する選択手段と、を
備えるものである。
【００４０】請求項５に記載の光ディスク装置は、螺旋
状に形成されたトラッキング用のグルーブの一方の側壁
だけがアドレス情報に応じて蛇行した光ディスク上に、
光ビームを対物レンズを介して微小な光スポットとして
照射するとともに、光ディスクからの反射光をグルーブ
の形成方向に対応する方向の分割線で２分割された光検
出器で受光する光ピックアップを有し、その光ピックア
ップからの出力信号を用いて情報の記録・再生を行う光
ディスク装置において、対物レンズの光ビームの光軸位
置からの、トラッキング方向への変位量を検出する対物
レンズ位置検出手段と、２分割された光検出器からの出
力の差信号を用いて、グルーブの側壁の蛇行から第１の
中間アドレス信号を生成する第１の中間アドレス生成手
段と、２分割された光検出器からの出力の和信号を用い
て、グルーブの側壁の蛇行から第２の中間アドレス信号
を生成する第２の中間アドレス生成手段と、対物レンズ
の変位量が所定の値よりも小さい時には、第１の中間ア
ドレス信号からアドレス情報を示すアドレス信号を生成
し、対物レンズの変位量が所定の値よりも大きい時に
は、第２の中間アドレス信号からアドレス情報を示すア
ドレス信号を生成するアドレス生成手段と、を備えてな
るものである。
【００４１】請求項６に記載の光ディスク装置は、請求
項１から請求項５に記載の光ディスク装置において、第
１の中間アドレス信号と第２の中間アドレス信号の少な
くとも一方の信号を反転させる手段を含んでいるもので
ある。
【００４２】請求項７に記載の光ディスク装置は、螺旋
状に形成されたトラッキング用のグルーブの一方の側壁
だけ、またはグルーブ全体がアドレス情報に応じて蛇行
した光ディスク上に、光ビームを対物レンズを介して微
小な光スポットとして照射するとともに、光ディスクか
らの反射光をグルーブの形成方向に対応する方向の分割
線で２分割された光検出器で受光する光ピックアップを
有し、光ピックアップからの出力信号を用いて情報の記
録・再生を行う光ディスク装置において、対物レンズの
光ビームの光軸位置からの、トラッキング方向への変位
量を検出する対物レンズ位置検出手段と、２分割された
光検出器からの差信号を用いて、グルーブの一方の側壁
だけ、またはグルーブ全体の蛇行から中間アドレス信号
を生成する中間アドレス生成手段と、対物レンズの変位
量に基づいてゲイン信号を生成するゲイン生成手段と、
そのゲイン信号で中間アドレス信号を増幅して振幅が略
一定の増幅信号を生成する増幅手段と、その増幅信号か
らアドレス情報を示すアドレス信号を生成するアドレス
生成手段と、を備えてなるものである。
【００４３】
【作用】請求項１に記載の光ディスク装置は、差信号か
ら生成した第１の中間アドレス信号と、和信号から生成
した第２の中間アドレス信号からアドレス情報を示すア
ドレス信号を生成する。そして、アドレス信号を用い
て、光スポットの光ディスク上での位置制御を行う。こ
のため、差信号のみ、あるいは、和信号のみからアドレ
ス情報を読み取る場合よりも、読み取りエラーを抑制す
ることができる。また、対物レンズが変位した場合にお
いても、エラーの発生が抑えられるため、光ピックアッ
プの送り機構に安価で簡単な機構を使用することが可能
となる。
【００４４】請求項２に記載の光ディスク装置は、請求
項１に記載の光ディスク装置において第１の中間アドレ
ス信号と第２の中間アドレス信号のどちらかあるいは両
方の読み取りエラーを検出し、その検出結果に基づいて
どちらか一方の中間アドレス信号を選択し、例えば、エ
ラーの発生頻度が所定の値以下の方の中間アドレス信号
を選択し、その選択した信号からアドレス信号を生成す
る。したがって、どちらか一方のみからアドレス信号を
生成する場合よりもエラーの発生を抑制することが可能
となる。
【００４５】請求項３に記載の光ディスク装置は、請求
項１に記載の光ディスク装置において第１の中間アドレ
ス信号と第２の中間アドレス信号のどちらかあるいは両
方の信号振幅を検出して、その検出結果に基づいてどち
らか一方の中間アドレス信号を選択して、例えば、信号
振幅が所定の値以上の中間アドレス信号を選択して、そ
の選択した信号からアドレス信号を生成する。したがっ
て、信号振幅の低下に起因するアドレス情報の読み取り
エラーを抑制することができる。
【００４６】請求項４に記載の光ディスク装置は、請求
項１に記載の光ディスク装置において第１の中間アドレ
ス信号と第２の中間アドレス信号の両方を用いてエラー
訂正を行い、アドレス信号を生成する。したがって、ど
ちらか一方の中間アドレス信号を使用してエラー訂正す
るよりもエラー訂正能力を高めることができる。
【００４７】請求項５に記載の光ディスク装置は、対物
レンズの位置を検出する手段を備えており、その検出結
果に基づいてアドレス信号を生成する。即ち、対物レン
ズの、光ビームの光軸位置から変位していない位置（以
下では中立位置と記す）からの変位量が所定量以下であ
る場合には、差信号から検出した第１の中間アドレス信
号に基づいてアドレス信号を生成し、変位量が所定量以
上である場合には、和信号から検出した第２の中間アド
レス信号に基づいてアドレス信号を生成する。
【００４８】したがって、対物レンズ位置がその中立位
置から大きく変位した時には、その影響が小さい第２の
中間アドレス信号を選択することができ、差信号の信号
振幅の低下に起因するアドレス情報の読み取りエラーを
回避することができる。また、対物レンズの変位量が少
ない場合には、第１の中間アドレス信号を使用するため
光ディスクの反射率の変動の影響を低減することができ
る。
【００４９】請求項６に記載の光ディスク装置は、請求
項１から請求項５に記載の光ディスク装置において第１
の中間アドレス信号と第２の中間アドレス信号の少なく
とも一方の信号を反転させる手段を備えている。したが
って、第１の中間アドレス信号と第２の中間アドレス信
号を同位相の信号にすることができ、第１の中間アドレ
ス信号と第２の中間アドレス信号の信号切り替えを、任
意の部分でスムーズに行うことができる。
【００５０】請求項７に記載の光ディスク装置は、対物
レンズの変位量に応じてゲイン信号を生成し、差信号か
ら生成した中間アドレス信号をそのゲイン信号分だけ増
幅するため、対物レンズの変位にかかわらずその増幅し
た信号の振幅を略一定に保つことができる。したがっ
て、この増幅信号から安定したアドレス信号を生成する
ことができる。
【００５１】
【実施例】
〔第１の実施例〕以下に本発明の第１の実施例について
説明する。まず、（１）本例の光ディスク装置の構成・
動作について説明し、その後、（２）本発明の特徴であ
るアドレス信号の生成についての詳細を説明する。
【００５２】（１）本例の光ディスク装置の構成・動作 図１は本発明の第１の実施例における光ディスク装置の
構成を表すブロック図である。同図において、１は光デ
ィスクであって、図２（ａ）に示すようにグルーブ３の
片側の側壁３ａだけが蛇行しているものとする。この蛇
行の周波数は、例えば、５０ｋＨｚ程度に設定される。
通常、信号の記録周波数は１ＭＨｚ〜５ＭＨｚに設定さ
れるため、ハイパスフィルター（ＨＰＦ）を用いること
により、この記録再生信号への蛇行の信号の混入を避け
ることができる。光ディスク１の詳細については従来例
において説明したのでここでは省略する。
【００５３】この光ディスク装置における信号の記録は
次のように行われるものとする。ピックアップ１０の半
導体レーザー１１を高出力で発光させ、光ディスク１に
形成される光スポットで記録層６の微小領域を所定温度
以上に昇温する。この昇温により、記録層６内部に保持
力を失った領域を形成し、そこに光ディスク１を挾んで
対物レンズ１４と対向する位置に配置される磁気ヘッド
（図示せず）で外部磁界を印加する。以上により、昇温
領域が常温に戻る時に印加されている磁界の向きに、記
録層の磁化の向きが固定されて記録される。この記録方
法には、半導体レーザ１１を高出力の一定強度で発光さ
せ磁気ヘッドの磁界を変調して記録する磁界変調記録
と、予め一定方向の磁化に初期化した後に初期化磁界と
は反対方向の外部磁界を加え半導体レーザー１１の光ビ
ームの光強度を変調して記録する光変調記録がある。
【００５４】また、信号の再生は次のように行われるも
のとする。半導体レーザ１１を記録時よりも弱い光強度
で発光させ、読み出し層に照射する。このとき、所定温
度以上になった読み出し層の領域のみに記録層の磁化の
向きが転写される。そして、この読み出し層の磁化の向
きを磁気光学効果により検出する。
【００５５】以下に、この光ディスク装置の動作を説明
する。
【００５６】情報の記録・再生時、光ピックアップ１０
の半導体レーザ１１から光ビームが出射される。この光
ビームはコリメートレンズ１２により平行な光ビームに
変換され、ビームスプリッタ１３を透過し、対物レンズ
１４により光ディスク１上に光スポットを形成する。一
方、光ディスク１からの反射光ビームは、往路と同じ光
路を通り半導体レーザ１１に戻るが、光ディスク１の反
射光ビームの一部はビームスプリッタ１３により反射さ
れ、集光レンズ１５により光検出器１６上に集光され
る。
【００５７】図３は、光検出器１６からの信号を取り出
すための回路を示す図である。光検出器１６はグルーブ
３の形成方向に対応する方向の分割線で２分割された２
つの受光部１６ａ，１６ｂとから構成されている。光デ
ィスク１からの反射光ビームは、回折パターン３３とし
て受光部１６ａ，１６ｂに入射する。この光検出器１６
は、対物レンズ１４が半導体レーザ１１の出射光の光軸
から変位していないときに、受光部１６ａと受光部１６
ｂに入射する光の合計が最大となるように設置される。
【００５８】差動アンプ１７と加算アンプ１８は光検出
器１６に接続されており、回折パターン３３に含まれる
領域３３ａと領域３３ｂの光強度変化を利用して、トラ
ッキングエラー信号とアドレス信号を生成する。トラッ
キングエラー信号はトラッキングアクチュエータ４１に
より対物レンズ１４をトラッキング方向に制御するため
に用いられる。アドレス信号はグルーブ３のアドレス情
報を読み出した信号であり、光ディスク１上の光スポッ
トの位置制御のために用いられる。
【００５９】トラッキングエラー信号は、受光部１６
ａ，１６ｂからの信号の差信号を差動アンプ１７により
作り出し、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）１９により上記
の差信号から低域成分を抽出することにより、生成され
る。
【００６０】このトラッキングエラー信号を用いて、ト
ラッキングアクチェータ４１が次のように制御される。
光ディスク１上の光スポットをグルーブ３に引き込む場
合（図１５における右上がりの極性の部分に引き込む
際）には、システムコントローラー３２からの制御信号
Ｓ３２ａの指示により、トラッキングエラー信号（ＬＰ
Ｆ１９の出力）がそのままトラッキング制御回路２８に
入力され、そのトラッキング制御回路２８がトラッキン
グアクチュエータ４１に駆動電流を加えて、レンズ可動
部４０と対物レンズ１４をトラックと直交する方向に位
置制御する。一方、光ディスク１のランド４に引き込む
際（図１５における右下がりの極性の部分に引き込む
際）には、制御信号Ｓ３２ａにより極性反転回路２３で
トラッキングエラー信号を反転させて、トラッキング制
御回路２８に入力させる。そして、トラッキング制御回
路２８がトラッキングアクチュエータ４１に駆動電流を
加えて、レンズ可動部４０と対物レンズ１４をトラック
と直交する方向に位置制御して、光スポットをトラック
に追従させる。
【００６１】一方、アドレス信号は以下のように、第１
の中間アドレス生成手段（差動アンプ１７とＨＰＦ２
０）、第２の中間アドレス生成手段（加算アンプ１８と
ＨＰＦ２１）、アドレス生成手段（アドレス生成回路２
６）により生成する。まず、差動アンプ１７からの差信
号をハイパスフィルタ（ＨＰＦ）２０に通すことにより
第１の中間アドレス信号Ｓ２０を生成するとともに、加
算アンプ１８からの和信号をハイパスフィルタ（ＨＰ
Ｆ）２１に通すことにより第２の中間アドレス信号Ｓ２
１を生成する。そして、第１の中間アドレス信号Ｓ２０
と第２の中間アドレス信号Ｓ２１とをアドレス生成回路
２６に入力することにより、アドレス信号Ｓ２６を生成
する。この生成についての詳細については後述する。
【００６２】アドレス信号Ｓ２６はグルーブ３の側壁３
ａの蛇行により記録されたアドレス（物理アドレス）で
ある。この物理アドレスをトラッキング極性と組み合わ
せて変換したアドレスを論理アドレスというが、この変
換はシステムコントローラ３２からのトラッキング極性
を表す制御信号Ｓ３２ａに基づいて、アドレス信号Ｓ２
６をアドレス算出回路２７で変化させることにより行
う。つまり、光スポットが光ディスクのグルーブ３また
はランド４のどちらをトラッキングしているかを制御信
号Ｓ３２ａを用いて判別し、その判別結果によって異な
る論理アドレス信号Ｓ２７を割り当てる。
【００６３】上記論理アドレス信号Ｓ２７を用いて、光
スポットの光ディスク１上での位置制御が行われる。以
下にその制御を行う制御手段（請求項１，５，７に記載
の制御手段：スライドモータ駆動回路２９，トラッキン
グ制御回路２８）の動作について説明する。
【００６４】光ピックアップ１０がアクセスを行うとき
は、システムコントローラ３２からの制御信号Ｓ３２ｃ
がスライドモータ駆動回路２９に入力されてスライドモ
ータ３０を動作させ、光ピックアップ１０を目標トラッ
クまで移動させる。また、通常再生時には、制御信号Ｓ
３２ｂがトラッキング制御回路２８に入力され、トラッ
キング制御回路２８に入力されたトラッキングエラー信
号の低域成分に応じてスライドモータ３０を駆動し、再
生の進行に従って光ピックアップ１０を半径方向に徐々
に移動させる。
【００６５】尚、システムコントローラ３２の出力であ
る制御信号Ｓ３２ａ，Ｓ３２ｂ，Ｓ３２ｃは論理アドレ
ス信号Ｓ２７に基づいて生成されるものである。
【００６６】また、図１に示す光ディスク装置のブロッ
ク図において、光ピックアップ１０におけるフォーカス
サーボ制御のためのフォーカスエラー検出系や光ディス
ク１上の情報の記録再生系を省略して記載していない
が、これらが含まれていることは言うまでもない。フォ
ーカスエラー検出系におけるフォーカシングエラー信号
の検出は、一般的によく知られた非点収差法やナイフエ
ッジ法が用いられており、これについての説明は周知で
あるのでここでは省略するものとする。
【００６７】また、アドレス信号Ｓ２６は光ディスク１
の回転制御にも用いられる。すなわち、アドレス信号Ｓ
２６に含まれる蛇行の周波数が基準となる周波数と一致
するように図示しないスピンドルモータの回転制御を行
えば、線速度一定で光ディスク１の回転制御を行うこと
ができる。
【００６８】（２）本発明の特徴であるアドレス信号の
生成についての詳細 アドレス生成回路２６では、第１の中間アドレス信号Ｓ
２０と第２の中間アドレス信号Ｓ２１とからアドレス情
報を読み出し、アドレス信号Ｓ２６を生成する。その生
成方法には様々あるが、ここでは３種類の方法（i）（i
i）（iii）について説明する。
【００６９】（i）第１の中間アドレス信号Ｓ２０ある
いは第２の中間アドレス信号Ｓ２１のエラーをモニター
し、エラーの発生頻度が所定レベルより少ない中間アド
レス信号を使用してアドレス信号Ｓ２６を生成する方
法。
【００７０】図４（ａ）はこの方法で使用するアドレス
生成回路２６の構成を示すブロック図である。図におい
て、復調回路２６２は信号の復調を行う回路であり、請
求項２，４に記載したエラーの検出、エラーの訂正を行
う手段でもある。
【００７１】通常、アドレス情報はＦＭ変調方式等で変
調されて光ディスク１に刻まれ、アドレス情報の読み出
しの際に復調される。このとき、読み出した信号のエラ
ーの検出や訂正も行われる。しかしながら、信号振幅の
低下や光ディスク１の反射率の変動が生じると、エラー
が多発してその訂正を行うことが困難になる。
【００７２】図４（ａ）の構成では、アドレス選択回路
２６１が第１の中間アドレス信号Ｓ２０と第２の中間ア
ドレス信号Ｓ２１のどちらか一方を選択し、その選択信
号Ｓ２６１を復調回路２６２に出力する。そして、復調
回路２７におけるエラー検出の結果、選択信号Ｓ２６１
のエラーの発生が予め設定しておいた値よりも多くなる
と、復調回路２６２からアドレス選択回路２６１に切り
替え信号Ｓ２６２が入力されるようになっている。アド
レス選択回路２６１はこの切り替え信号Ｓ２６２に基づ
いて、選択信号Ｓ２６１を切り替える、そして、その信
号に基づいてアドレス信号Ｓ２６が生成される。このた
め、どちらか一方の中間アドレス信号のみを用いる場合
よりもエラーの発生を抑えることができる。
【００７３】この例では、第１の中間アドレス信号Ｓ２
０と第２の中間アドレス信号Ｓ２１のどちらか選択され
た方のみのエラーを検出しているが、両方のエラーの検
出を行い、その検出結果に基づいて中間アドレス信号の
選択を行ってもよいことはいうまでもない。
【００７４】（ii）第１の中間アドレス信号Ｓ２０ある
いは第２の中間アドレス信号Ｓ２１のそれぞれの信号振
幅をモニターし、信号振幅が所定レベルより大きい方の
中間アドレス信号を使用してアドレス信号Ｓ２６を生成
する方法。
【００７５】図４（ｂ）はこの方法で使用するアドレス
生成回路２６の構成を示すブロック図である。ここで
は、図４（ａ）のアドレス選択回路２６１と復調回路２
６２との間に振幅検出回路２６３が挿入されている。
【００７６】この方法では、アドレス生成回路Ｓ２６
が、第１の中間アドレス信号Ｓ２０と第２の中間アドレ
ス信号Ｓ２１のどちらか一方を選択して選択信号Ｓ２６
１とする。そして、振幅検出回路２６３が選択信号Ｓ２
６１の信号振幅をモニターし、その信号振幅が所定レベ
ル以下となったときに、切り替え信号Ｓ２６３を出力す
る。アドレス選択回路２６１はこの信号Ｓ２６３に基づ
いて選択信号Ｓ２６１を切り替え、その選択信号Ｓ２６
１を使用してアドレス信号Ｓ２６が生成される。このた
め、対物レンズ位置の光軸からの変位等により信号振幅
が低下した場合でも、アドレス情報の読み取りエラーを
抑制することができ、光スポットを精密に位置制御する
ことが可能となる。また、対物レンズ１４の変位の影響
を抑制できるため、光ピックアップ１０の送り機構に安
価で簡単な機構を使用することが可能となる。
【００７７】ここで、信号振幅の所定レベルは記録周波
数やディスク反射率や回路定数により決定すればよい。
一例として、対物レンズが中立位置にあるときの信号振
幅を１とした時に信号振幅０．５で信号を切り替えるよ
うに設定すればよい。
【００７８】この例では、第１の中間アドレス信号Ｓ２
０と第２の中間アドレス信号Ｓ２１のどちらか選択され
た方のみの信号振幅を検出しているが、両方の信号振幅
の検出を行い、その検出結果に基づいて中間アドレス信
号の選択を行ってもよい。
【００７９】（iii）第１の中間アドレス信号Ｓ２０及
び第２の中間アドレス信号Ｓ２１の両方を用いてアドレ
ス情報の読み出しエラーを訂正し、その訂正された信号
をアドレス信号Ｓ２６とする方法。
【００８０】図４（ｃ）はこの方法で使用するアドレス
生成回路２６の構成を示すブロック図である。
【００８１】ここでは、アドレス選択回路２６１が第１
の中間アドレス信号Ｓ２０と第２の中間アドレス信号Ｓ
２１のどちらか一方を選択し、その選択信号Ｓ２６１を
復調回路２６２に出力する。復調回路２７はその選択信
号Ｓ２６１のエラー訂正を行うが、エラーが多発してい
るときには、選択信号Ｓ２６１のエラー訂正を行うこと
ができなくなる（エラーの発生したバイトは特定でき
る）。このような場合、復調回路２６２は訂正不能信号
Ｓ２６２’をアドレス選択回路２６１に出力する。アド
レス選択回路２６１はこの訂正不能信号Ｓ２６２’に基
づいて、訂正不能となったバイトの選択信号Ｓ２６１を
他方のアドレス信号に切り替え、その信号に基づいてア
ドレス信号Ｓ２６が生成される。このため、第１の中間
アドレス信号Ｓ２０と第２の中間アドレス信号Ｓ２１が
同じバイトで訂正不能とならない限り、エラーの訂正が
可能となる。
【００８２】次に、第１の中間アドレス信号Ｓ２０と第
２の中間アドレス信号Ｓ２１との切り替えを滑らかに行
う方法について説明する。
【００８３】切り替えを滑らかに行うには、第１の中間
アドレス信号Ｓ２０と第２の中間アドレス信号Ｓ２１の
位相を同位相とすればよい。理由については後述する
が、差信号を用いた第１の中間アドレス信号と和信号を
用いた第２の中間アドレス信号の位相関係は、図１８と
図１９に示すようにグルーブ３とランド４のどちらを走
査している場合でも不変である。したがって、それらの
どちらか一方を反転させる手段を設けておき、光ディス
ク再生動作に先立って２種類の中間アドレス信号Ｓ２
０，Ｓ２１を再生し、これらの信号の位相関係を比較し
て、必要のある場合のみ中間アドレス信号Ｓ２０，Ｓ２
１のどちらかを反転させることにより、それらを同位相
とすることができる。
【００８４】尚、光ディスクには、図２（ａ）に示すよ
うなグルーブ３の側壁３ａだけがアドレス情報に応じて
蛇行している光ディスク１以外に、図２（ｂ）に示すよ
うなグルーブ３の側壁３ｂだけがアドレス情報に応じて
蛇行している光ディスク１’がある。このようにグルー
ブ３の側壁３ｂだけがアドレス情報に応じて蛇行してい
る光ディスク１’の場合は、光ディスク１の場合と比較
すると位相関係が反転するが、この場合も上記の方法で
２種類の中間アドレス信号の位相を揃えることができ
る。
【００８５】差信号を用いた中間アドレス信号と和信号
を用いた中間アドレス信号の位相関係が、グルーブ３と
ランド４のどちらを走査している場合でも不変である理
由は、和信号はグルーブ３またはランド４のどちらを走
査している場合でも、トラックの幅が広い部分で強度が
大きくなり、トラックの幅が狭い部分で強度が小さくな
るという変化をするのに対して、差信号はトラッキング
エラーに応じて信号が変化するが、図１５に示すように
グルーブ３とランド４とでトラッキングエラー信号の極
性が反転するので、トラック中心に対するスポットのず
れがグルーブ３とランド４とで同じ方向であっても、検
出される信号の極性が反転するからである。
【００８６】上記のように、第１の中間アドレス信号Ｓ
２０と第２の中間アドレス信号Ｓ２１を同位相にすれ
ば、任意の部分で信号切り替えを行っても切れ目のない
スムーズな出力波形が得られる。
【００８７】以上の説明では、光ディスク１の記録層６
として光磁気材料を用いた例で説明したが、記録層６と
して相変化材料を用いてもよい。相変化材料を用いた場
合には、光ビームの照射による加熱で局所的な光学定数
もしくは物理的形状の変化を利用して信号が記録され
る。例えば、急激に加熱して急激に冷却した場合には結
晶状態となり、急激に加熱して徐々に冷却した場合には
アモルファス状態となる特性を持った相変化材料を用い
て、結晶状態とアモルファス状態とでの反射率の違いを
利用することがある。光ビームの光強度を変調して信号
が記録される。再生時には、記録層の状態が変化しない
程度の記録よりも弱い光強度を照射し記録層の反射率の
変化で信号を検出するという方法が採られる。
【００８８】〔第２の実施例〕図５は本発明の第２の実
施例における光ディスク装置の構成を表すブロック図で
ある。基本的には第１の実施例と同じ構成であるので、
図１と同一要素については同一番号を付して詳細な説明
は省略する。
【００８９】本例の光ディスク装置は、対物レンズの位
置を検出し、その検出結果に基づいて、物理アドレスで
あるアドレス信号Ｓ２６を生成するものである。以下
に、この光ディスク装置の構成を説明する。
【００９０】レンズ可動部４０に、開口部が形成されて
いる。４２は対物レンズ位置検出用の発光素子、４３は
発光素子４２から放射された光のうちレンズ可動部４０
の開口を通過した光を受光して対物レンズ位置を検出す
るための光検出器である。光検出器４３は２つの受光部
４３ａと受光部４３ｂとから構成される。２２は受光部
４３ａと受光部４３ｂが接続された差動アンプで対物レ
ンズ位置信号Ｓ２２を出力する。レンズ可動部４０、発
光素子４２、光検出器４３、差動アンプ２２で対物レン
ズ位置検出手段が構成される。２６は第１の中間アドレ
ス信号Ｓ２０、第２の中間アドレス信号Ｓ２１、対物レ
ンズ位置信号Ｓ２２が入力され、後述する動作によっ
て、アドレス信号Ｓ２６を生成するアドレス生成回路で
ある。
【００９１】次に、本例の光ディスク装置の動作を説明
する。
【００９２】まず、対物レンズの位置検出手段について
説明する。図６は、光検出器４３の構成を示す図であ
る。図に示すように、光検出器４３は２つの受光部４３
ａ，４３ｂで構成されている。この光検出器４３は、対
物レンズ１４が中立位置にある場合に、図６（ａ）に示
すように光スポット４４の中心が光検出器４３の分割線
と一致するように設置される。図５に示したように、レ
ンズ可動部４０には発光素子４２からの出射光の一部が
透過する開口部が形成されており、トラッキング制御に
よりレンズ可動部４０がトラッキング方向（トラックと
直交する方向）に移動すると、発光素子４２からの出射
された光のうちのレンズ可動部４０に設けられた開口部
を透過する領域が移動する。この移動に応じて、光検出
器４３上の光スポット４４が移動する。具体的には、対
物レンズ１４が図５でＡ１方向に移動した場合は、光ス
ポット４４は図６のＣ１方向に移動して図６（ｂ）に示
すようになる。逆に、対物レンズ１４が図５でＡ２方向
に移動した場合は、光スポット４４は図６のＣ２方向に
移動して図６（ｃ）に示すようになる。そこで、差動ア
ンプ２２で受光部４３ａと受光部４３ｂの差信号を演算
することで、対物レンズ位置信号Ｓ２２が検出される。
【００９３】次に、アドレス信号Ｓ２６の生成について
説明する。アドレス生成回路２６には対物レンズ位置信
号Ｓ２２が入力される。アドレス生成回路２６は、対物
レンズ位置が中立位置近傍にある場合は第１の中間アド
レス信号Ｓ２０からアドレス信号Ｓ２６を生成し、対物
レンズ位置が中立位置から大きく変位した場合は第２の
中間アドレス信号Ｓ２１からアドレス信号Ｓ２６を生成
するように構成されている。以下に具体的に説明する。
【００９４】図７はアドレス生成回路２６の構成を示す
ブロック図である。図に示すように、この回路２６はア
ドレス選択回路２６１と復調回路２６２で構成されてい
る。アドレス選択回路２６１は対物レンズ位置信号Ｓ２
２に基づいて、第１の中間アドレス信号Ｓ２０と第２の
中間アドレス信号Ｓ２１のどちらかを選択し、選択信号
Ｓ２６１を出力する。復調回路２６２は選択信号Ｓ２６
１を復調し、エラー訂正を行って、アドレス信号Ｓ２６
を生成する。
【００９５】図８はアドレス信号生成動作を説明する図
である。図８（ａ）は光検出器４３から得られる対物レ
ンズ位置信号Ｓ２２、図８（ｂ）は第１の中間アドレス
信号Ｓ２０、図８（ｃ）は第２の中間アドレス信号Ｓ２
１を示している。図８（ａ）における領域Ｅは対物レン
ズ位置信号Ｓ２２が所定のレベル４５〜４６の範囲内に
収まっている（対物レンズ１４が中立位置（図８（ａ）
のＧＮＤレベル）近傍にある）領域であり、領域Ｆは対
物レンズ位置信号Ｓ２２が所定のレベル４５〜４６の範
囲外にある（対物レンズ１４が中立位置から大きく変位
している）領域である。
【００９６】図８（ｂ）のように、第１の中間アドレス
信号Ｓ２０は、対物レンズ１４が中立位置から変位する
に伴い、振幅が小さくなっていく。信号振幅の低下はア
ドレス情報の読み出しエラーを発生させるため好ましく
ない。このため、本例では、図８（ｄ）の選択信号Ｓ２
６１の波形に示すように、対物レンズ位置信号Ｓ２２が
図８の所定レベル４５〜４６の範囲内にある領域Ｅで
は、アドレス選択回路２６１が第１の中間アドレス信号
Ｓ２０を選択し、対物レンズ位置信号Ｓ２２が所定レベ
ル４５〜４６の範囲外となる領域Ｆでは第２の中間アド
レス信号Ｓ２１を選択する。
【００９７】図９は、ディスク１に反射率変動があった
場合のアドレス信号生成動作を説明する図であり、図９
（ａ）は光検出器４３から得られる対物レンズ位置信号
Ｓ２２、図９（ｂ）は第１の中間アドレス信号Ｓ２０、
図９（ｃ）は第２の中間アドレス信号Ｓ２１、図９
（ｄ）は選択信号Ｓ２６１の出力波形を示す。図９
（ａ）の領域Ｇ，Ｈは反射率が低下している領域を示し
ている。
【００９８】図９（ａ）に示す対物レンズ１４の位置に
応じて、対物レンズ位置信号Ｓ２２が変化するが、その
信号Ｓ２２が所定レベル４５〜４６の範囲内にある領域
Ｅでは第１の中間アドレス信号Ｓ２０が選択され、対物
レンズ位置信号Ｓ２２が所定レベル４５〜４６の範囲外
となる領域Ｆでは第２の中間アドレス信号Ｓ２１が選択
される。領域Ｅの範囲内でディスク１の反射率低下があ
る領域Ｇでは、第１の中間アドレス信号Ｓ２０（差信
号）が選択されているので差動の効果で反射率変動の影
響がほとんどでていない。一方、領域Ｆの範囲内でディ
スク１の反射率低下がある領域Ｈでは第２の中間アドレ
ス信号Ｓ２１（和信号）が選択されているので反射率変
動の影響が大きくでている。しかし、対物レンズ位置が
大きく変位し、且つ、反射率に変化が生じる領域Ｈが現
れる確率は非常に低いため、それほど問題ではない。
【００９９】尚、所定レベル４５，４６は、例えば、そ
のレベルの位置に対物レンズ１４があるときの第１の中
間アドレス信号Ｓ２０の信号振幅が、対物レンズ１４が
中立位置にあるときの第１の中間アドレス信号Ｓ２０信
号振幅の１／２になるようなレベルに設定する。
【０１００】以上のように、本例では、対物レンズ１４
が中立位置近傍にある場合には、差信号を用いた第１の
中間アドレス信号Ｓ２０を使用し、対物レンズ１４が位
置シフトを起こした場合には、和信号を用いた第２の中
間アドレス信号Ｓ２１を使用するため、対物レンズ１４
の位置シフトに起因する読み取りエラーを防止すること
ができると共に、ディスクの反射率変動に起因する読み
取りエラーも抑制することができる。
【０１０１】尚、本例においても、第１の実施例に記載
した、第１の中間アドレス信号Ｓ２０と第２の中間アド
レス信号Ｓ２１の位相が同位相となる手段を、アドレス
選択手段２６１に設けておけば、第１の中間アドレス信
号Ｓ２０と第２の中間アドレス信号Ｓ２１との切り替え
を滑らかに行うことができる。
【０１０２】また、対物レンズ位置検出手段は上記した
構成に限定されるものではなく、対物レンズ可動部４０
に反射部材を設け発光素子４２からの放射光の反射部材
での反射光を光検出器で検出した受光量をアンプで演算
して生成するという構成でもよいし、また、対物レンズ
位置検出用に特別の発光素子４２を用いずに、半導体レ
ーザ１１からの放射光を分割して対物レンズ位置検出用
の光源として用いる構成にしてもよい。さらに、光学的
な検出にも限定されず機械的または磁気的に対物レンズ
位置を検出する構成でも構わない。
【０１０３】〔第３の実施例〕本例では、請求項７に記
載した光ディスク装置について説明する。この装置は、
光ディスクの反射率変動の影響を大きく受ける和信号を
用いずに、アドレス情報を読み出すものである。具体的
には、対物レンズの位置を検出し、その検出結果に応じ
てゲイン信号を生成し、そのゲイン信号分だけ、差信号
から生成される中間アドレス信号（第１の実施例におけ
る第１の中間アドレス信号、以下、第１の中間アドレス
信号と記す）を増幅し、その増幅した信号を用いてアド
レス信号を生成するものである。
【０１０４】図１０はその光ディスク装置の構成を表す
ブロック図である。基本的には第１の実施例と同じ構成
であるので、図１，図５と同じ構成要素については同一
番号を付して詳細な説明は省略する。尚、請求項７にお
ける中間アドレス生成手段は第１の実施例に記載した第
１の中間アドレス生成手段（差動アンプ１７，ＨＰＦ２
０）である。
【０１０５】本例の構成について説明する。レンズ可動
部４０には開口部が形成されている。４２は対物レンズ
位置検出用の発光素子、４３は発光素子４２から放射さ
れた光のうちレンズ可動部４０の開口を通過した光を受
光して対物レンズ位置を検出するための光検出器であ
る。光検出器４３は２つの受光部４３ａと受光部４３ｂ
とから構成される。２２は受光部４３ａと受光部４３ｂ
が接続された差動アンプで対物レンズ位置信号Ｓ２２を
出力する。レンズ可動部４０、発光素子４２、光検出器
４３、差動アンプ２２で対物レンズ位置検出手段が構成
される。２４は対物レンズ位置信号２２から後述するゲ
イン可変アンプ２５のゲイン信号Ｓ２４を生成するゲイ
ン生成回路（ゲイン生成手段）、２５はゲイン生成回路
２４で生成されたゲイン信号Ｓ２４によってＨＰＦ２０
から入力された第１の中間アドレス信号Ｓ２０をゲイン
信号Ｓ２４だけ増幅して増幅信号Ｓ２５を出力するゲイ
ン可変アンプ（増幅手段）、２６はゲイン可変アンプ２
５から出力された増幅信号Ｓ２５が入力されて物理アド
レスを表すアドレス信号Ｓ２６を出力するアドレス生成
回路である。このアドレス生成回路２６では、増幅信号
Ｓ２５の復調及びエラー訂正が行われる。
【０１０６】次に、この光ディスク装置の動作について
説明する。
【０１０７】本例では第２の実施例と同様の方法で対物
レンズ１４の位置を検出する。この検出方法については
説明を省略する。
【０１０８】図１１（ａ）は第１の中間アドレス信号を
生成する回路の主要部を示す構成図である。本例では和
信号を生成しない。図１１（ｂ）は、対物レンズ１４が
中立位置（対物レンズ１４が光軸から変位していない位
置）からずれた場合を説明する図である。この図のよう
に、対物レンズ１４が図１０のＡ１方向に移動すると、
回折パターン３３は図１１（ｂ）のＣ１方向に移動す
る。このとき、差信号を用いた第１の中間アドレス信号
の振幅は低下してしまう。
【０１０９】次に、増幅信号Ｓ２５の生成について説明
する。増幅信号Ｓ２５は、対物レンズ位置信号Ｓ２２に
基づいて生成されたゲイン信号Ｓ２４に応じて、第１の
中間アドレス信号Ｓ２０を増幅することにより生成され
る。図１２はこのアドレス生成方法を説明する図であ
る。図１２（ａ）は光検出器４３から得られる対物レン
ズ位置信号Ｓ２２、図１２（ｂ）はゲイン信号Ｓ２４、
図１２（ｃ）はＨＰＦ２０から出力される第１の中間ア
ドレス信号Ｓ２０、図１２（ｄ）はゲイン可変アンプ２
５からの出力される増幅信号Ｓ２５の出力波形である。
【０１１０】対物レンズ１４が中立位置から変位するに
したがって、第１の中間アドレス信号Ｓ２０は振幅が小
さくなっていく。そして、図１２（ａ）に示すように、
対物レンズ１４の位置に応じて、対物レンズ位置信号Ｓ
２２が変化する。ゲイン生成回路２４では、この対物レ
ンズ位置信号Ｓ２２の中立位置からの変位量の絶対値を
とり、中立位置からの変位量が大きい程、ゲインが大き
くなるようにゲイン信号Ｓ２４を設定する。そして、ゲ
イン可変アンプ２５により、第１の中間アドレス信号Ｓ
２０がゲイン信号Ｓ２４に応じて増幅されて増幅信号Ｓ
２５（図１２（ｄ））となり、アドレス生成回路２６に
おいてアドレス信号Ｓ２６が生成される。
【０１１１】ただし、図１２（ｂ）はゲイン信号Ｓ２４
の一例であって、これに限定されるわけではない。無段
階にゲイン信号Ｓ２４を変更するのではなく、予め設定
された幾つかのゲイン信号を切り替えて選択するように
してもよい。また、中立位置からの変位量とＨＰＦ２０
から出力される第１の中間アドレス信号Ｓ２０の振幅の
変化は単純な比例関係ではないので、ゲイン生成回路２
４に変換テーブルを持たせて、この変換テーブルによっ
て中立位置からの変位量とゲイン信号を対応させてもよ
い。この場合も無段階にゲイン信号Ｓ２４を変えるので
はなく中立位置からの変位量の範囲に応じて、段階的に
ゲイン信号Ｓ２４を切り替えてもよい。
【０１１２】また、ゲイン信号Ｓ２４の生成の基準とな
る対物レンズ位置信号Ｓ２２の中立位置は、対物レンズ
位置検出用の光検出器４３の位置調整不良や経時変化に
よってずれが生じる。これは図示しない再生信号検出系
で得られる再生信号と対物レンズ位置信号Ｓ２２をモニ
ターして再生信号レベルが最大となる位置が中立位置を
示すように対物レンズ位置信号Ｓ２２にオフセットを加
えることで補正できる。または、光検出器１６の受光部
１６の２つの受光部１６ａ，１６ｂの出力を加算した和
信号を演算して、この和信号と対物レンズ位置信号Ｓ２
２をモニターして和信号レベルが最大となる位置が中立
位置を示すように対物レンズ位置信号Ｓ２２にオフセッ
トを加えることでも補正できる。
【０１１３】図１３は、ディスク１に反射率変動があっ
た場合のアドレス信号生成動作の説明図であり、図１３
（ａ）は光検出器４３から得られる対物レンズ位置信号
Ｓ２２、図１３（ｂ）はゲイン信号Ｓ２４、図１３
（ｃ）はＨＰＦ２０から出力される第１の中間アドレス
信号Ｓ２０、図１３（ｄ）はゲイン可変アンプ２５から
の出力される増幅信号Ｓ２５の出力波形を示す。図１３
（ａ）における領域Ｉ，Ｊにおいて反射率の低下が起こ
っているものとする。
【０１１４】本例では、第１の中間アドレス信号Ｓ２０
（差信号）を用いてアドレス信号Ｓ２６を生成している
ため、差動の効果で反射率変動があった場合にも、その
影響を受けにくくなっている。領域Ｉのように対物レン
ズが中立位置近傍にある場合にはゲイン信号Ｓ２４が小
さく第１の中間アドレス信号Ｓ２０とほとんど同じ波形
で増幅信号Ｓ２５が出力されるので、反射率変動の影響
が特に小さくなっている。一方、領域Ｊのように対物レ
ンズ１４が中立位置から大きく変位している場合にはゲ
イン信号Ｓ２４が大きく第１の中間アドレス信号Ｓ２０
の信号歪みが増幅信号Ｓ２５では大きく拡大されて出力
されるので、反射率変動の影響が若干でてくる。しか
し、対物レンズ１４が中立位置から大きく変位し、且
つ、反射率に変動がある場合はすくないため、領域Ｊが
現れる確率は低く、あまり問題とならない。
【０１１５】以上のように、本例によれば、増幅信号Ｓ
２５の振幅がほぼ一定となるため、対物レンズの中立位
置からの変位の影響が小さくなり、アドレス信号Ｓ２６
のエラーを減少させることができる。また、光ディスク
の反射率変動の影響も小さくすることができる。
【０１１６】また、対物レンズ位置検出手段は上記した
構成に限定されるものではなく、実施例２で説明したよ
うな幾つかの変形例が考えられる。
【０１１７】なお、本例では図２（ａ）、（ｂ）に示す
ようなグルーブ３の側壁３ａ、３ｂの一方だけが蛇行し
た光ディスクを用いて説明したが、これに限定されもの
ではなく、追記型ＣＤ（ＣＤ−Ｒ）や書き換え型ミニデ
ィスク（ＭＤ）等に用いられているグルーブ全体がアド
レス情報に応じて蛇行した光ディスクにも適用可能であ
る。この場合はグルーブの幅がランドの幅よりも広くな
るように設定され、グルーブのみが情報の記録、再生ま
たは消去に使用される。
【０１１８】
【発明の効果】請求項１に記載の光ディスク装置によれ
ば、第１の中間アドレス信号と第２の中間アドレス信号
のうち良好な特性が得られる中間アドレス信号を選択し
て使用することができる。このため、対物レンズの中立
位置からの変位や光ディスクに反射率変動があっても、
アドレス信号を安定に生成することができ、光スポット
の精密な位置制御等を実現できる。また、対物レンズの
変位の影響が抑えられるため、光ピックアップの送り機
構に安価で簡単な機構を採用することが可能となる。
【０１１９】請求項２に記載の光ディスク装置では、第
１の中間アドレス信号と第２の中間アドレス信号のエラ
ー検出結果に基づいてアドレス信号を生成するため、ど
ちらか一方のみの中間アドレス信号を使用する場合より
も、アドレス信号の生成におけるエラーの発生を抑制す
ることができる。このため、対物レンズの中立位置から
の変位や光ディスクに反射率変動があっても、その影響
を受けにくくすることができる。
【０１２０】請求項３に記載の光ディスク装置では、第
１の中間アドレス信号と第２の中間アドレス信号のそれ
ぞれの信号振幅の検出結果に基づいてアドレス信号を生
成するため、どちらか一方のみの中間アドレス信号を使
用する場合よりも、信号振幅の低下に起因するアドレス
信号の生成エラーを抑制することができる。
【０１２１】請求項４に記載の光ディスク装置は、請求
項１に記載の光ディスク装置において、第１の中間アド
レス信号と第２の中間アドレス信号の両方を用いてエラ
ー訂正を行い、アドレス信号を生成するため、どちらか
一方のみの中間アドレス信号を使用してエラー訂正する
場合よりもエラー訂正能力が高まり、より安定にアドレ
ス信号を生成できる。
【０１２２】請求項５に記載の光ディスク装置では、対
物レンズが中立位置から大きく変位した時に、その影響
が小さい和信号から生成される第２の中間アドレス信号
を選択し、対物レンズが中立位置近傍にある場合には差
信号から生成される第１の中間アドレス信号を選択する
ため、対物レンズの変位や光ディスクの反射率変動によ
るアドレス情報の読み出しエラーを抑制することがで
き、光スポットの精密な位置制御等を実現できる。ま
た、対物レンズの変位の影響が抑えられるため、光ピッ
クアップの送り機構に安価で簡単な機構を採用すること
が可能となる。
【０１２３】請求項６に記載の光ディスク装置は、請求
項１から請求項５に記載の光ディスク装置において、第
１の中間アドレス生成手段と第２の中間アドレス生成手
段のどちらか一方に信号を反転する手段を備えた構成で
ある。したがって、第１の中間アドレス信号と第２の中
間アドレス信号を同位相の信号にすることができる。こ
のため、第１の中間アドレス信号と第２の中間アドレス
信号との信号切り替えを、任意の部分でスムーズに行う
ことができる。
【０１２４】請求項７に記載の光ディスク装置は、対物
レンズの中立位置からの変位を検出して、この変位に応
じて差信号から生成した第１の中間アドレス信号（請求
項７における中間アドレス信号）を増幅し振幅が略一定
の増幅信号を生成する。このため、対物レンズが光軸か
ら大きく変位した場合でも、その増幅信号を用いて生成
するアドレス信号のエラーを抑制することが可能とな
る。このため、光スポットの位置制御等を精密に行うこ
とができる。また、対物レンズの変位の影響が抑えられ
るため、光ピックアップの送り機構に安価で簡単な機構
を採用することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施例における光ディスク装置の構成を
示すブロック図である。
【図２】光ディスクの要部を示す拡大図である。
【図３】図１の光検出器１６からの信号取り出し部分の
構成を示すブロック図である。
【図４】図３のアドレス生成回路２６の構成を示すブロ
ック図である。
【図５】第２の実施例における光ディスク装置の構成を
示すブロック図である。
【図６】図４の光検出器４３の構成を示す構成図であ
る。
【図７】図４のアドレス生成回路２６の構成を示すブロ
ック図である。
【図８】第２の実施例におけるアドレス信号の生成動作
を説明する図である。
【図９】第２の実施例における、光ディスクに反射率変
動があった場合の、アドレス信号生成動作を説明する図
である。
【図１０】第３の実施例における光ディスク装置の構成
を表すブロック図である。
【図１１】図１０の光検出器１６からの信号取り出し部
分の構成を示すブロック図である。
【図１２】第３の実施例におけるアドレス信号生成動作
を説明する図である。
【図１３】第３の実施例における、光ディスクに反射率
変動があった場合の、アドレス信号生成動作を説明する
図である。
【図１４】従来の光ディスクの要部を示す拡大図であ
る。
【図１５】プッシュプル法により生成したトラッキング
エラー信号を示す波形図である。
【図１６】従来の光ピックアップの主要部の一例を示す
構成図である。
【図１７】従来の光ピックアップの主要部の他の例を示
す構成図である。
【図１８】従来におけるグルーブからのアドレス信号生
成動作を説明する図である。
【図１９】従来におけるランドからのアドレス信号生成
動作を説明する図である。
【図２０】対物レンズが光軸から変位した場合のアドレ
ス信号生成動作を説明する図である。
【図２１】光ディスクに反射率変化があった場合のアド
レス信号生成動作を説明する図である。
【符号の説明】
１ 光ディスク ３ グルーブ ３ａグルーブの側壁 ４ ランド １４ 対物レンズ １６ 光検出器 １７ 差動アンプ １８ 加算アンプ １９ ＬＰＦ ２０ ＨＰＦ ２１ ＨＰＦ ２３ 極性反転回路 ２４ ゲイン生成回路 ２５ ゲイン可変アンプ ２６ アドレス生成回路 ２６１ アドレス選択回路 ２６２ 復調回路 ２６３ 振幅検出回路 ２７ アドレス算出回路 ４３ 光検出器 Ｓ２０ 第１の中間アドレス信号 Ｓ２１ 第２の中間アドレス信号 Ｓ２４ ゲイン信号 Ｓ２５ 増幅信号 Ｓ２６ アドレス信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小嶋 邦男 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 佐藤 秀朗 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】螺旋状に形成されたトラッキング用のグル
    ーブの一方の側壁だけがアドレス情報に応じて蛇行した
    光ディスク上に、光ビームを対物レンズを介して微小な
    光スポットとして照射するとともに、前記光ディスクか
    らの反射光を前記グルーブの形成方向に対応する方向の
    分割線で２分割された光検出器で受光する光ピックアッ
    プを有し、該光ピックアップからの出力信号を用いて情
    報の記録・再生を行う光ディスク装置において、 前記２分割された光検出器の出力の差信号を用いて、前
    記グルーブの側壁の蛇行から第１の中間アドレス信号を
    生成する第１の中間アドレス生成手段と、 前記２分割された光検出器の出力の和信号を用いて、前
    記グルーブの側壁の蛇行から第２の中間アドレス信号を
    生成する第２の中間アドレス生成手段と、 前記第１の中間アドレス信号と前記第２の中間アドレス
    信号を用いて、前記アドレス情報を示すアドレス信号を
    生成するアドレス生成手段と、を備えてなることを特徴
    とする光ディスク装置。
  2. 【請求項２】前記アドレス生成手段は、前記第１の中間
    アドレス信号と前記第２の中間アドレス信号の一方ある
    いは両方のエラーを検出する手段と、該検出結果に基づ
    いて前記第１の中間アドレス信号と前記第２の中間アド
    レス信号のどちらか一方を選択する手段と、を備えてな
    ることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
  3. 【請求項３】前記アドレス生成手段は、前記第１の中間
    アドレス信号と前記第２の中間アドレス信号の一方ある
    いは両方の信号振幅を検出する手段と、該検出結果に基
    づいて前記第１の中間アドレス信号と前記第２の中間ア
    ドレス信号のどちらか一方を選択する手段と、を備えて
    なることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装
    置。
  4. 【請求項４】前記アドレス生成手段は、前記第１の中間
    アドレス信号と前記第２の中間アドレス信号の一方ある
    いは両方のエラー訂正を行う手段と、前記第１の中間ア
    ドレス信号と前記第２の中間アドレス信号のうちの、前
    記エラー訂正が可能な方のアドレス信号を選択する選択
    手段と、を備えてなることを特徴とする請求項１に記載
    の光ディスク装置。
  5. 【請求項５】螺旋状に形成されたトラッキング用のグル
    ーブの一方の側壁だけがアドレス情報に応じて蛇行した
    光ディスク上に、光ビームを対物レンズを介して微小な
    光スポットとして照射するとともに、前記光ディスクか
    らの反射光を前記グルーブの形成方向に対応する方向の
    分割線で２分割された光検出器で受光する光ピックアッ
    プを有し、該光ピックアップからの出力信号を用いて情
    報の記録・再生を行う光ディスク装置において、 前記対物レンズの前記光ビームの光軸位置からの、トラ
    ッキング方向への変位量を検出する対物レンズ位置検出
    手段と、 前記２分割された光検出器からの出力の差信号を用い
    て、前記グルーブの側壁の蛇行から第１の中間アドレス
    信号を生成する第１の中間アドレス生成手段と、 前記２分割された光検出器からの出力の和信号を用い
    て、前記グルーブの側壁の蛇行から第２の中間アドレス
    信号を生成する第２の中間アドレス生成手段と、 前記対物レンズの前記変位量が所定の値よりも小さい時
    には、前記第１の中間アドレス信号から前記アドレス情
    報を示すアドレス信号を生成し、前記対物レンズの前記
    変位量が所定の値よりも大きい時には、前記第２の中間
    アドレス信号から前記アドレス情報を示すアドレス信号
    を生成するアドレス生成手段と、を備えてなることを特
    徴とする光ディスク装置。
  6. 【請求項６】第１の中間アドレス信号と第２の中間アド
    レス信号の少なくとも一方の信号を反転させる手段を備
    えてなることを特徴とする請求項１から請求項５に記載
    の光ディスク装置。
  7. 【請求項７】螺旋状に形成されたトラッキング用のグル
    ーブの一方の側壁だけ、またはグルーブ全体がアドレス
    情報に応じて蛇行した光ディスク上に、光ビームを対物
    レンズを介して微小な光スポットとして照射するととも
    に、前記光ディスクからの反射光を前記グルーブの形成
    方向に対応する方向の分割線で２分割された光検出器で
    受光する光ピックアップを有し、該光ピックアップから
    の出力を用いて情報の記録・再生を行う光ディスク装置
    において、 前記対物レンズの前記光ビームの光軸位置からの、トラ
    ッキング方向への変位量を検出する対物レンズ位置検出
    手段と、 前記２分割された光検出器からの差信号を用いて、前記
    グルーブの一方の側壁だけ、または前記グルーブ全体の
    蛇行から中間アドレス信号を生成する中間アドレス生成
    手段と、 前記対物レンズの前記変位量に基づいてゲイン信号を生
    成するゲイン生成手段と、 前記ゲイン信号に基づいて、前記中間アドレス信号を増
    幅して、振幅が略一定の増幅信号を生成する増幅手段
    と、 前記増幅信号から前記アドレス情報を示すアドレス信号
    を生成するアドレス生成手段と、を備えてなることを特
    徴とする光ディスク装置。
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