JPH08297826A - 歪測定装置 - Google Patents
歪測定装置Info
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- JPH08297826A JPH08297826A JP10426795A JP10426795A JPH08297826A JP H08297826 A JPH08297826 A JP H08297826A JP 10426795 A JP10426795 A JP 10426795A JP 10426795 A JP10426795 A JP 10426795A JP H08297826 A JPH08297826 A JP H08297826A
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- magnetic disk
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- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 磁気ディスク１は、サーボ用の凹凸パターン
を有する非磁性基板上に磁性層が形成されている。この
磁気ディスク１を回転させ、磁気ヘッド２をディスクの
ある半径位置で固定しながら上記サーボ用の凹凸パター
ンによる位置決め信号を読み取り、磁気ヘッド２の半径
位置を徐々に移動させてこの読み取り動作を繰り返す。
読み取られた信号は、信号処理回路部５を介してトラッ
ク検出回路６に送り、半径方向の歪を含んだトラック軌
跡情報を検出する。 【効果】 磁気ディスク１上の凹凸パターンの歪の測定
が容易に行える。
を有する非磁性基板上に磁性層が形成されている。この
磁気ディスク１を回転させ、磁気ヘッド２をディスクの
ある半径位置で固定しながら上記サーボ用の凹凸パター
ンによる位置決め信号を読み取り、磁気ヘッド２の半径
位置を徐々に移動させてこの読み取り動作を繰り返す。
読み取られた信号は、信号処理回路部５を介してトラッ
ク検出回路６に送り、半径方向の歪を含んだトラック軌
跡情報を検出する。 【効果】 磁気ディスク１上の凹凸パターンの歪の測定
が容易に行える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、サーボ用の凹凸パター
ンを有する記録媒体のトラック歪量を測定する歪測定装
置に関する。
ンを有する記録媒体のトラック歪量を測定する歪測定装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に磁気ディスク装置においては、磁
気ディスクの記録容量の増大を図るためにトラック密度
の向上が図られてきている。この磁気ディスクの記録密
度の増加に対応させるため、磁気ディスク装置には、磁
気ヘッドの位置決め精度の向上が要求され、トラッキン
グ精度の向上が必要になってきている。
気ディスクの記録容量の増大を図るためにトラック密度
の向上が図られてきている。この磁気ディスクの記録密
度の増加に対応させるため、磁気ディスク装置には、磁
気ヘッドの位置決め精度の向上が要求され、トラッキン
グ精度の向上が必要になってきている。
【０００３】このような要求を満足するため、種々のト
ラッキングサーボ方式が開発されてきている。このトラ
ッキングサーボ方式の磁気ディスク装置は、磁気ヘッド
によって磁気ディスク上に書き込まれた位置決め信号を
読み出し、この位置決め信号に応じてヘッドアクチュエ
ータを制御することにより、再生用の磁気ヘッドをトラ
ック中央に位置させるように構成されている。
ラッキングサーボ方式が開発されてきている。このトラ
ッキングサーボ方式の磁気ディスク装置は、磁気ヘッド
によって磁気ディスク上に書き込まれた位置決め信号を
読み出し、この位置決め信号に応じてヘッドアクチュエ
ータを制御することにより、再生用の磁気ヘッドをトラ
ック中央に位置させるように構成されている。
【０００４】このような位置決め信号を磁気ヘッドで書
き込む場合には、位置決め信号の書き込み精度によって
トラッキング精度が決まることから、精度を保つための
専用のヘッド送り機構が必要となり、さらには、このヘ
ッド送り機構の機械的な精度によって磁気ディスクのト
ラッキング精度が制限されることになり、高密度化を阻
む原因の一つになる。
き込む場合には、位置決め信号の書き込み精度によって
トラッキング精度が決まることから、精度を保つための
専用のヘッド送り機構が必要となり、さらには、このヘ
ッド送り機構の機械的な精度によって磁気ディスクのト
ラッキング精度が制限されることになり、高密度化を阻
む原因の一つになる。
【０００５】このヘッド送り機構の機械的な精度による
高密度化の制限を回避するために、磁気ディスクにサー
ボ用の凹凸パターンを形成し、この凹凸パターンを位置
決め信号とする磁気ディスクが提案されている。この磁
気ディスクは、非磁性基板の表面の位置決め信号を書き
込もうとする領域に予めサーボ用の凹凸パターンを形成
しておき、この上に磁性層を被着形成し、凹部と凸部と
に互いに逆極性の信号を書き込むことで構成されてお
り、上記凹凸パターン形成の際に、例えばフォトリソグ
ラフィ等による高精度のパターン形成技術を用いること
により、位置決め信号の精度を高めるようにしている。
高密度化の制限を回避するために、磁気ディスクにサー
ボ用の凹凸パターンを形成し、この凹凸パターンを位置
決め信号とする磁気ディスクが提案されている。この磁
気ディスクは、非磁性基板の表面の位置決め信号を書き
込もうとする領域に予めサーボ用の凹凸パターンを形成
しておき、この上に磁性層を被着形成し、凹部と凸部と
に互いに逆極性の信号を書き込むことで構成されてお
り、上記凹凸パターン形成の際に、例えばフォトリソグ
ラフィ等による高精度のパターン形成技術を用いること
により、位置決め信号の精度を高めるようにしている。
【０００６】このように、位置決め信号を予め磁気ディ
スク上に凹凸パターン形状で形成することにより、位置
決め信号の精度は、ヘッド送り機構の機械的精度に依存
することなく、凹凸パターン精度によって決定され、高
トラック密度化を図ることが可能となる。
スク上に凹凸パターン形状で形成することにより、位置
決め信号の精度は、ヘッド送り機構の機械的精度に依存
することなく、凹凸パターン精度によって決定され、高
トラック密度化を図ることが可能となる。
【０００７】ここで図３の（Ａ）、（Ｂ）は、上述した
ようなサーボ用の凹凸パターンを有するサンプルドサー
ボ方式の磁気ディスク１の例をそれぞれ示している。こ
の図３の（Ａ）、（Ｂ）に示す磁気ディスク１におい
て、一定の回転角度毎にサーボゾーンＳＺが設けられ、
このサーボゾーンＳＺ内に上記凹凸パターンが形成され
ている。
ようなサーボ用の凹凸パターンを有するサンプルドサー
ボ方式の磁気ディスク１の例をそれぞれ示している。こ
の図３の（Ａ）、（Ｂ）に示す磁気ディスク１におい
て、一定の回転角度毎にサーボゾーンＳＺが設けられ、
このサーボゾーンＳＺ内に上記凹凸パターンが形成され
ている。
【０００８】なお、図３の（Ａ）は、ディスクの径方向
に磁気ヘッドが直線状に移動するような直動ヘッドアー
ムを用いる場合に放射状にサーボゾーンＳＺが形成され
た例を示し、図３の（Ｂ）は、回動ヘッドアームにより
支持された磁気ヘッドのスライダ軌跡状にサーボゾーン
ＳＺが形成された例を示している。
に磁気ヘッドが直線状に移動するような直動ヘッドアー
ムを用いる場合に放射状にサーボゾーンＳＺが形成され
た例を示し、図３の（Ｂ）は、回動ヘッドアームにより
支持された磁気ヘッドのスライダ軌跡状にサーボゾーン
ＳＺが形成された例を示している。
【０００９】この磁気ディスク１のサーボゾーンＳＺ内
の凹凸パターンは、例えば図４に示すように、サーボゾ
ーンＳＺのアドレスを示すアドレス部ＡＤと、無信号の
ブランク領域ＢＬと、トラック中心を通る凸部とトラッ
ク中心に対して一定のオフセットを持たせてちどり状に
配置した凸部が形成されたファインパターン部ＦＰとで
構成されており、これらのアドレス部ＡＤと、ファイン
パターン部ＦＰと、データを記録する領域としてのデー
タトラック部ＤＴとで１つのセグメントを形成してい
る。データトラック部ＤＴの各トラックも凹凸形状で形
成されている。ファインパターン部ＦＰは、この磁気デ
ィスクの位置決め信号が書き込まれる凸部１６と凹部１
７とは、矢印に示すように極性ｍ1 とｍ2 とで互いに逆
極性の信号が書き込まれる。
の凹凸パターンは、例えば図４に示すように、サーボゾ
ーンＳＺのアドレスを示すアドレス部ＡＤと、無信号の
ブランク領域ＢＬと、トラック中心を通る凸部とトラッ
ク中心に対して一定のオフセットを持たせてちどり状に
配置した凸部が形成されたファインパターン部ＦＰとで
構成されており、これらのアドレス部ＡＤと、ファイン
パターン部ＦＰと、データを記録する領域としてのデー
タトラック部ＤＴとで１つのセグメントを形成してい
る。データトラック部ＤＴの各トラックも凹凸形状で形
成されている。ファインパターン部ＦＰは、この磁気デ
ィスクの位置決め信号が書き込まれる凸部１６と凹部１
７とは、矢印に示すように極性ｍ1 とｍ2 とで互いに逆
極性の信号が書き込まれる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】ところが、磁気ディス
クの基板となる非磁性支持体をプラスチック等で形成し
た場合、磁気ディスクの成形条件によっては凹凸形状の
パターンが本来の理想的なパターンからずれた歪んだパ
ターンになってしまうことがあり、これによって本来有
すべき高精度のトラッキング性能が劣化することがあ
る。
クの基板となる非磁性支持体をプラスチック等で形成し
た場合、磁気ディスクの成形条件によっては凹凸形状の
パターンが本来の理想的なパターンからずれた歪んだパ
ターンになってしまうことがあり、これによって本来有
すべき高精度のトラッキング性能が劣化することがあ
る。
【００１１】そこで、本発明は、上述したような実情に
鑑みてなされたものであり、ディスクの凹凸パターンの
歪を測定し評価することができるような歪測定装置の提
供を目的とする。
鑑みてなされたものであり、ディスクの凹凸パターンの
歪を測定し評価することができるような歪測定装置の提
供を目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明に係る歪測定装置
は、上述した課題を解決するために、サーボ用の凹凸パ
ターンを有する非磁性基板上に磁性層が形成されたディ
スク状記録媒体から情報を読み出す磁気ヘッドと、この
磁気ヘッドをディスク径方向に移動させると共に所定の
ディスク半径位置で固定させるヘッド操作手段と、上記
ディスク状記録媒体から読み出した信号に基づきトラッ
ク軌跡を検出するトラック検出手段と、上記トラック検
出手段からの検出信号によりトラックの歪量を解析する
解析手段とを有することを特徴としている。
は、上述した課題を解決するために、サーボ用の凹凸パ
ターンを有する非磁性基板上に磁性層が形成されたディ
スク状記録媒体から情報を読み出す磁気ヘッドと、この
磁気ヘッドをディスク径方向に移動させると共に所定の
ディスク半径位置で固定させるヘッド操作手段と、上記
ディスク状記録媒体から読み出した信号に基づきトラッ
ク軌跡を検出するトラック検出手段と、上記トラック検
出手段からの検出信号によりトラックの歪量を解析する
解析手段とを有することを特徴としている。
【００１３】ここで、上記トラック検出手段は、上記磁
気ヘッドからの位置決め信号のゼロレベルに基づいてト
ラック軌跡を検出するようにすることが好ましい。
気ヘッドからの位置決め信号のゼロレベルに基づいてト
ラック軌跡を検出するようにすることが好ましい。
【００１４】
【作用】本発明に係る歪測定装置は、磁気ヘッドをディ
スク状記録媒体のある半径位置で固定しながら、磁気ヘ
ッドによりサーボ用の凹凸パターンによるトラック位置
決め信号を読み取って、このトラック位置決め信号に基
づきトラック検出手段によりトラックの軌跡を検出し、
この検出トラック軌跡に基づいてトラックの歪を測定す
る。
スク状記録媒体のある半径位置で固定しながら、磁気ヘ
ッドによりサーボ用の凹凸パターンによるトラック位置
決め信号を読み取って、このトラック位置決め信号に基
づきトラック検出手段によりトラックの軌跡を検出し、
この検出トラック軌跡に基づいてトラックの歪を測定す
る。
【００１５】
【実施例】以下、本発明に係る歪測定装置の一実施例に
ついて、図面を参照しながら説明する。
ついて、図面を参照しながら説明する。
【００１６】この実施例では、記録媒体としてサンプル
ドサーボ方式の磁気ディスクにおけるトラックの歪量の
測定に用いた歪測定装置について説明する。
ドサーボ方式の磁気ディスクにおけるトラックの歪量の
測定に用いた歪測定装置について説明する。
【００１７】ここで、サンプルドサーボ方式の磁気ディ
スクとは、一定の角度間隔にサーボゾーンが設けられた
磁気ディスクである。このサーボゾーンにおいては、サ
ーボゾーンのアドレス部と、ブランク領域と、凹凸が予
め形成されたファインパターン部とでサーボセグメント
が形成されている。
スクとは、一定の角度間隔にサーボゾーンが設けられた
磁気ディスクである。このサーボゾーンにおいては、サ
ーボゾーンのアドレス部と、ブランク領域と、凹凸が予
め形成されたファインパターン部とでサーボセグメント
が形成されている。
【００１８】本実施例の磁気ディスクは、サーボ用の凹
凸パターンが予め形成された非磁性基板上に磁性層が形
成されており、凹部と凸部の極性が互いに逆極性に磁化
されることで磁気的にデータが書き込まれている。
凸パターンが予め形成された非磁性基板上に磁性層が形
成されており、凹部と凸部の極性が互いに逆極性に磁化
されることで磁気的にデータが書き込まれている。
【００１９】この歪測定装置は、例えば図１に示すよう
に、サンプルドサーボ方式の磁気ディスク１の情報を読
み出す磁気ヘッド２をディスク径方向に移動させると共
に所定のディスク半径位置で固定させるように操作する
ヘッド操作部３と、磁気ディスク１の回転を制御する回
転制御部４と、磁気ディスク１から読み出した信号に信
号処理を施す信号処理部５と、信号処理部５からの信号
に基づきトラック軌跡を検出するトラック検出回路６
と、トラック検出回路６からの検出信号によりトラック
の歪量を解析する解析処理回路７とを有して成ってい
る。
に、サンプルドサーボ方式の磁気ディスク１の情報を読
み出す磁気ヘッド２をディスク径方向に移動させると共
に所定のディスク半径位置で固定させるように操作する
ヘッド操作部３と、磁気ディスク１の回転を制御する回
転制御部４と、磁気ディスク１から読み出した信号に信
号処理を施す信号処理部５と、信号処理部５からの信号
に基づきトラック軌跡を検出するトラック検出回路６
と、トラック検出回路６からの検出信号によりトラック
の歪量を解析する解析処理回路７とを有して成ってい
る。
【００２０】ヘッド操作部３は、操作ステージ３１、サ
スペンジョンアーム３２、スレッディングモータ３３、
図示しないが回転を水平移動に変換する機構、及びステ
ージコントローラ３４とを有して構成されている。操作
ステージ３１は、先端側に磁気ヘッド２が装着固定され
たサスペンジョンアーム３２を支持しながら制御信号に
応じて磁気ヘッド２を磁気ディスク１の径方向である図
１の矢印Ａ方向に移動させる。ステージコントローラ３
４は、操作ステージ３１を制御する。すなわち、ステー
ジコントローラ３４からの制御信号に応じてスレッディ
ングモータ３３が駆動され、操作ステージ３１が駆動制
御されることで、サスペンジョンアーム３２の先端の磁
気ヘッド２が上記ディスク径方向に移動される。またス
テージコントローラ３４は、磁気ヘッド２のギャップ部
の位置を磁気ディスク１の半径方向の値として信号処理
部５の信号処理回路５２に送る。磁気ヘッド２は、再生
した信号を信号処理部５の信号増幅回路５１に供給す
る。
スペンジョンアーム３２、スレッディングモータ３３、
図示しないが回転を水平移動に変換する機構、及びステ
ージコントローラ３４とを有して構成されている。操作
ステージ３１は、先端側に磁気ヘッド２が装着固定され
たサスペンジョンアーム３２を支持しながら制御信号に
応じて磁気ヘッド２を磁気ディスク１の径方向である図
１の矢印Ａ方向に移動させる。ステージコントローラ３
４は、操作ステージ３１を制御する。すなわち、ステー
ジコントローラ３４からの制御信号に応じてスレッディ
ングモータ３３が駆動され、操作ステージ３１が駆動制
御されることで、サスペンジョンアーム３２の先端の磁
気ヘッド２が上記ディスク径方向に移動される。またス
テージコントローラ３４は、磁気ヘッド２のギャップ部
の位置を磁気ディスク１の半径方向の値として信号処理
部５の信号処理回路５２に送る。磁気ヘッド２は、再生
した信号を信号処理部５の信号増幅回路５１に供給す
る。
【００２１】回転制御部４は、載置された磁気ディスク
１を一定の回転速度で回転するように回転制御する回転
制御回路４１と、回転制御回路４１からの制御信号に応
じて磁気ディスク１を回転させるスピンドルモータ等の
回転体４２とで構成される。回転体４２は、回転制御回
路４１からの制御信号により磁気ディスク１を矢印Ｒ方
向に回転させる。
１を一定の回転速度で回転するように回転制御する回転
制御回路４１と、回転制御回路４１からの制御信号に応
じて磁気ディスク１を回転させるスピンドルモータ等の
回転体４２とで構成される。回転体４２は、回転制御回
路４１からの制御信号により磁気ディスク１を矢印Ｒ方
向に回転させる。
【００２２】信号処理部５は、信号増幅回路５１と、信
号処理回路５２と、メモリ５３とを有している。
号処理回路５２と、メモリ５３とを有している。
【００２３】信号増幅回路５１は、磁気ヘッド２で検出
された再生信号を増幅して信号処理回路５２に出力す
る。信号処理回路５２は、再生信号の中から各サーボゾ
ーンＳＺに書き込まれている位置決め信号のデータとト
ラックアドレス情報を検出して処理する。この信号処理
回路５２は、検出したこれらの情報をメモリ５３に供給
する。またメモリ５３には、ステージコントローラ３４
からの磁気ヘッド２の位置情報すなわちディスク半径位
置情報が供給されている。
された再生信号を増幅して信号処理回路５２に出力す
る。信号処理回路５２は、再生信号の中から各サーボゾ
ーンＳＺに書き込まれている位置決め信号のデータとト
ラックアドレス情報を検出して処理する。この信号処理
回路５２は、検出したこれらの情報をメモリ５３に供給
する。またメモリ５３には、ステージコントローラ３４
からの磁気ヘッド２の位置情報すなわちディスク半径位
置情報が供給されている。
【００２４】トラック検出回路６は、メモリ５３からの
データを取り込んで、磁気ディスク１上を磁気ヘッド２
が移動した例えば図２（Ａ）に示す矢印Ｗの範囲内の歪
情報、あるいは歪を含んだトラック軌跡情報を検出す
る。
データを取り込んで、磁気ディスク１上を磁気ヘッド２
が移動した例えば図２（Ａ）に示す矢印Ｗの範囲内の歪
情報、あるいは歪を含んだトラック軌跡情報を検出す
る。
【００２５】ここで、図２はトラック検出の概念を説明
するための図であり、（Ａ）はディスクの円周方向を直
線に展開してトラック軌跡の歪を強調して示し、（Ｂ）
は位置決め信号及びゼロレベル点を示し、（Ｃ）はメモ
リ空間上での情報を示している。すなわち、メモリ５３
は、図２の（Ｃ）に示すように、縦軸に磁気ヘッドのデ
ィスク半径位置であるヘッド位置、横軸に磁気ディスク
のサーボセグメント番号をそれぞれとった２次元マトリ
クス上に、上記位置決め信号及びトラックアドレスデー
タが保存されるように構成されている。なお、各トラッ
ク毎にぞれぞれ独立した歪検出が不要な場合には、トラ
ックアドレスデータを省略して、位置決め信号のみをメ
モリ５３に記憶するようにしてもよい。
するための図であり、（Ａ）はディスクの円周方向を直
線に展開してトラック軌跡の歪を強調して示し、（Ｂ）
は位置決め信号及びゼロレベル点を示し、（Ｃ）はメモ
リ空間上での情報を示している。すなわち、メモリ５３
は、図２の（Ｃ）に示すように、縦軸に磁気ヘッドのデ
ィスク半径位置であるヘッド位置、横軸に磁気ディスク
のサーボセグメント番号をそれぞれとった２次元マトリ
クス上に、上記位置決め信号及びトラックアドレスデー
タが保存されるように構成されている。なお、各トラッ
ク毎にぞれぞれ独立した歪検出が不要な場合には、トラ
ックアドレスデータを省略して、位置決め信号のみをメ
モリ５３に記憶するようにしてもよい。
【００２６】トラック検出回路６では、トラックアドレ
スデータと、各サーボゾーンの位置決め信号データと、
磁気ヘッド２の位置情報に基づいて、図２（Ｃ）の検出
トラック軌跡ＤＴを求めることで、上記図２の（Ａ）に
示すトラック軌跡情報を検出している。
スデータと、各サーボゾーンの位置決め信号データと、
磁気ヘッド２の位置情報に基づいて、図２（Ｃ）の検出
トラック軌跡ＤＴを求めることで、上記図２の（Ａ）に
示すトラック軌跡情報を検出している。
【００２７】解析処理回路７は、トラック検出回路６で
検出したトラック軌跡情報に基づいて理想トラックから
の歪量を求める。ここで、解析処理回路７により、離散
的なフーリエ変換（ＤＦＴ）処理を検出したトラック軌
跡情報に施して歪の周波数成分の影響を解析するように
してもよい。
検出したトラック軌跡情報に基づいて理想トラックから
の歪量を求める。ここで、解析処理回路７により、離散
的なフーリエ変換（ＤＦＴ）処理を検出したトラック軌
跡情報に施して歪の周波数成分の影響を解析するように
してもよい。
【００２８】この解析処理回路７からの解析結果は、例
えばＣＲＴ８に供給して歪量を画面に表示させたり、解
析結果を１つのファイルデータにまとめて磁気ディスク
９に供給して記録するようにすればよい。
えばＣＲＴ８に供給して歪量を画面に表示させたり、解
析結果を１つのファイルデータにまとめて磁気ディスク
９に供給して記録するようにすればよい。
【００２９】このように構成することにより、磁気ディ
スク１の歪量を容易に検出することができる。
スク１の歪量を容易に検出することができる。
【００３０】次に、歪測定装置により、磁気ディスク１
上の凹凸パターン形状の半径方向の歪を測定するための
動作について、図１の構成及び図２のトラック軌跡等を
参照しながら説明する。
上の凹凸パターン形状の半径方向の歪を測定するための
動作について、図１の構成及び図２のトラック軌跡等を
参照しながら説明する。
【００３１】先ず、歪測定を行う前に、測定対象とする
磁気ディスク１をスピンドルモータ等の回転部の回転体
４２上部に装着固定し、回転制御回路４１からの制御信
号に応じてスピンドルモータ等の回転体４２を回転させ
て、載置された磁気ディスク１を一定の回転速度で回転
させる。
磁気ディスク１をスピンドルモータ等の回転部の回転体
４２上部に装着固定し、回転制御回路４１からの制御信
号に応じてスピンドルモータ等の回転体４２を回転させ
て、載置された磁気ディスク１を一定の回転速度で回転
させる。
【００３２】次に、歪測定装置は、ステージコントロー
ラ３４によりヘッド操作部のヘッド操作ステージ３１を
制御し、磁気ヘッド２を歪測定の位置に移動させる。こ
の移動後、磁気ヘッド２は、この位置で少なくともディ
スク１回転分の測定が終了するまで固定する。この測定
終了後、歪測定装置は、磁気ヘッド２をディスク径方向
に微少量だけ移動させる。このようにして、磁気ヘッド
２をある一定範囲、例えば図２の（Ａ）の矢印Ｂに示す
範囲だけ移動するまで測定を繰り返す。
ラ３４によりヘッド操作部のヘッド操作ステージ３１を
制御し、磁気ヘッド２を歪測定の位置に移動させる。こ
の移動後、磁気ヘッド２は、この位置で少なくともディ
スク１回転分の測定が終了するまで固定する。この測定
終了後、歪測定装置は、磁気ヘッド２をディスク径方向
に微少量だけ移動させる。このようにして、磁気ヘッド
２をある一定範囲、例えば図２の（Ａ）の矢印Ｂに示す
範囲だけ移動するまで測定を繰り返す。
【００３３】磁気ヘッド２は、磁気ディスク１上のサー
ボゾーンＳＺ内に記録された情報を読み出す。この情報
は、位置決め信号とトラックアドレスの情報を含んでい
る。磁気ヘッド２からの出力信号は、信号処理部５に送
られる。
ボゾーンＳＺ内に記録された情報を読み出す。この情報
は、位置決め信号とトラックアドレスの情報を含んでい
る。磁気ヘッド２からの出力信号は、信号処理部５に送
られる。
【００３４】信号処理部５では、磁気ヘッド２からの信
号を信号増幅回路５１で増幅し、信号処理回路５２に送
る。信号処理回路５２では、供給された信号から各サー
ボゾーンでの位置決め信号とトラックアドレスのデータ
を検出し、検出データをメモリ５３に送る。
号を信号増幅回路５１で増幅し、信号処理回路５２に送
る。信号処理回路５２では、供給された信号から各サー
ボゾーンでの位置決め信号とトラックアドレスのデータ
を検出し、検出データをメモリ５３に送る。
【００３５】ここで、測定時には磁気ヘッド２が所定位
置で固定されるので、磁気ディスク１上に描かれる軌跡
は真円であり、図２の（Ａ）では直線ＴＲで表される。
この磁気ヘッド２が径方向に微少移動された後の軌跡
は、破線の直線で表される。従って、磁気ヘッド２は、
磁気ディスク上の歪んだ各トラックＴｒn 、Ｔｒn+1 、
Ｔｒn+2 、Ｔｒn+3 上を横切って移動する。
置で固定されるので、磁気ディスク１上に描かれる軌跡
は真円であり、図２の（Ａ）では直線ＴＲで表される。
この磁気ヘッド２が径方向に微少移動された後の軌跡
は、破線の直線で表される。従って、磁気ヘッド２は、
磁気ディスク上の歪んだ各トラックＴｒn 、Ｔｒn+1 、
Ｔｒn+2 、Ｔｒn+3 上を横切って移動する。
【００３６】図２の（Ａ）の状態で、磁気ヘッド２は、
図２の（Ｂ）に示す位置決め信号Ｐが得られる。この位
置決め信号Ｐがゼロレベルを横切るとき、得られたサー
ボセグメントにおいて磁気ヘッド２がオントラック状態
になり、これらのゼロレベル点を図中の丸印で表してい
る。
図２の（Ｂ）に示す位置決め信号Ｐが得られる。この位
置決め信号Ｐがゼロレベルを横切るとき、得られたサー
ボセグメントにおいて磁気ヘッド２がオントラック状態
になり、これらのゼロレベル点を図中の丸印で表してい
る。
【００３７】メモリ５３は、サーボゾーンからの位置決
め信号と、必要に応じてトラックアドレスのデータと
を、そのときの磁気ヘッド位置における各サーボセグメ
ント番号のメモリセルに保存する。
め信号と、必要に応じてトラックアドレスのデータと
を、そのときの磁気ヘッド位置における各サーボセグメ
ント番号のメモリセルに保存する。
【００３８】ここで、上記磁気ディスク１が偏心や歪成
分を持たない場合、すべてのサーボゾーンＳＺから得ら
れる位置決め信号Ｐの値は、各サーボセグメント間です
べて等しいものになり、このときの磁気ヘッド位置にお
ける位置決め信号Ｐについては、ゼロレベルを示す位置
がオントラック状態となる。
分を持たない場合、すべてのサーボゾーンＳＺから得ら
れる位置決め信号Ｐの値は、各サーボセグメント間です
べて等しいものになり、このときの磁気ヘッド位置にお
ける位置決め信号Ｐについては、ゼロレベルを示す位置
がオントラック状態となる。
【００３９】一方、磁気ディスク１が偏心や歪成分を持
つ場合、位置決め信号Ｐの値は、図２の（Ｂ）に示すよ
うに、各サーボゾーン毎に異なる値となり、ゼロレベル
が得られる磁気ヘッド位置も各サーボゾーンＳＺ毎に違
ってくる。
つ場合、位置決め信号Ｐの値は、図２の（Ｂ）に示すよ
うに、各サーボゾーン毎に異なる値となり、ゼロレベル
が得られる磁気ヘッド位置も各サーボゾーンＳＺ毎に違
ってくる。
【００４０】これによって、あるトラックについて、各
サーボゾーンでのゼロレベルが得られる磁気ヘッド位置
すなわちディスク半径位置を得ることで、トラックの歪
成分を含んだ情報である図２（Ｃ）の検出トラック軌跡
ＤＴを得ることができる。なお、磁気ヘッドがどのトラ
ックにオントラックしているかは、各サーボゾーンから
得られるトラックアドレスから知ることが可能である。
サーボゾーンでのゼロレベルが得られる磁気ヘッド位置
すなわちディスク半径位置を得ることで、トラックの歪
成分を含んだ情報である図２（Ｃ）の検出トラック軌跡
ＤＴを得ることができる。なお、磁気ヘッドがどのトラ
ックにオントラックしているかは、各サーボゾーンから
得られるトラックアドレスから知ることが可能である。
【００４１】トラック検出回路６は、メモリ５３に保存
されたデータを基に磁気ディスク１の半径方向の歪情報
を検出する。この場合、図２の（Ｃ）のメモリ空間にお
ける丸印の同じ集まりＴｒn,Z、Ｔｒn+1,Z、Ｔ
ｒn+2,Z、Ｔｒn+3,Zが、各トラックの軌跡として検出さ
れる。このトラック検出回路６により検出されたトラッ
クの歪成分を含んだトラックデータ軌跡、すなわち検出
トラック軌跡ＤＴのデータは、解析処理回路７に送られ
る。
されたデータを基に磁気ディスク１の半径方向の歪情報
を検出する。この場合、図２の（Ｃ）のメモリ空間にお
ける丸印の同じ集まりＴｒn,Z、Ｔｒn+1,Z、Ｔ
ｒn+2,Z、Ｔｒn+3,Zが、各トラックの軌跡として検出さ
れる。このトラック検出回路６により検出されたトラッ
クの歪成分を含んだトラックデータ軌跡、すなわち検出
トラック軌跡ＤＴのデータは、解析処理回路７に送られ
る。
【００４２】ここで、トラック検出回路６で検出された
データは、磁気ヘッド２の移動範囲Ｗによって複数トラ
ック検出可能であり、磁気ヘッド２が最内周トラックか
ら最外周トラックまで移動すれば、磁気ディスク１上に
存在する全てのトラックの歪成分を検出することが可能
である。
データは、磁気ヘッド２の移動範囲Ｗによって複数トラ
ック検出可能であり、磁気ヘッド２が最内周トラックか
ら最外周トラックまで移動すれば、磁気ディスク１上に
存在する全てのトラックの歪成分を検出することが可能
である。
【００４３】解析処理回路７は、上記検出トラック軌跡
ＤＴのデータに基づいて、差分処理や積分処理、離散フ
ーリエ変換（ＤＦＴ）処理等を行うことにより、トラッ
クの歪成分を検出すると共に、各サーボゾーンＳＺでの
歪量や全体の歪量のピーク・ツウ・ピーク（peak to pe
ak）値、周波数成分の影響等の歪測定の評価を行うこと
ができる。
ＤＴのデータに基づいて、差分処理や積分処理、離散フ
ーリエ変換（ＤＦＴ）処理等を行うことにより、トラッ
クの歪成分を検出すると共に、各サーボゾーンＳＺでの
歪量や全体の歪量のピーク・ツウ・ピーク（peak to pe
ak）値、周波数成分の影響等の歪測定の評価を行うこと
ができる。
【００４４】解析処理回路７は、この解析結果を磁気デ
ィスクドライブ装置に装着された図１の磁気ディスク９
に記録して保持するようにしてもよい。また、解析処理
回路７は、この解析結果をＣＲＴ８に表示して歪を視覚
的に表示して評価させるようにしてもよい。
ィスクドライブ装置に装着された図１の磁気ディスク９
に記録して保持するようにしてもよい。また、解析処理
回路７は、この解析結果をＣＲＴ８に表示して歪を視覚
的に表示して評価させるようにしてもよい。
【００４５】以上のように構成することにより、高密度
化に対応した例えばサンプルドサーボ方式の磁気ディス
クにおける歪量を検出することができる。これにより、
測定対象の磁気ディスクの精度が十分確保されるものか
どうかの良否判定を行うこともでき、製品の品質管理に
も大いに役立てることができる。
化に対応した例えばサンプルドサーボ方式の磁気ディス
クにおける歪量を検出することができる。これにより、
測定対象の磁気ディスクの精度が十分確保されるものか
どうかの良否判定を行うこともでき、製品の品質管理に
も大いに役立てることができる。
【００４６】なお、本発明は、歪測定装置について説明
したが、この実施例に限定されるものでなく、例えばサ
ンプルドサーボ方式以外にも、セクタサーボ方式の磁気
ディスクにも適用でき、この他種々の変形例にも適用す
ることができ、凹凸を予め形成する記録媒体であればこ
の記録媒体の歪を測定することができることは言うまで
もない。
したが、この実施例に限定されるものでなく、例えばサ
ンプルドサーボ方式以外にも、セクタサーボ方式の磁気
ディスクにも適用でき、この他種々の変形例にも適用す
ることができ、凹凸を予め形成する記録媒体であればこ
の記録媒体の歪を測定することができることは言うまで
もない。
【００４７】
【発明の効果】本発明に係る歪測定装置によれば、磁気
ヘッドをディスク状記録媒体のある半径位置で固定しな
がら、磁気ヘッドによりサーボ用の凹凸パターンを読み
出し、この読み出した信号に基づきトラック検出手段に
よりトラックの軌跡を検出し、この検出トラック軌跡に
基づいてトラックの歪を測定しているため、高密度化に
対応した凹凸パターンを有するディスク状記録媒体にお
ける歪量の検出が容易に実現できる。これにより、測定
対象の記録媒体の精度が十分確保されるものかどうかの
良否判定を行うこともでき、製品の品質管理にも大いに
役立てることができる。
ヘッドをディスク状記録媒体のある半径位置で固定しな
がら、磁気ヘッドによりサーボ用の凹凸パターンを読み
出し、この読み出した信号に基づきトラック検出手段に
よりトラックの軌跡を検出し、この検出トラック軌跡に
基づいてトラックの歪を測定しているため、高密度化に
対応した凹凸パターンを有するディスク状記録媒体にお
ける歪量の検出が容易に実現できる。これにより、測定
対象の記録媒体の精度が十分確保されるものかどうかの
良否判定を行うこともでき、製品の品質管理にも大いに
役立てることができる。
【図１】本発明に係る歪測定装置の一実施例における概
略的な構成を示す図である。
略的な構成を示す図である。
【図２】上記歪測定装置の動作を説明する図である。
【図３】上記歪測定装置にかけるサンプルドサーボ方式
の磁気ディスクを説明する模式図である。
の磁気ディスクを説明する模式図である。
【図４】上記磁気ディスクのサーボセグメント内のパタ
ーンを説明する模式図である。
ーンを説明する模式図である。
１、９ 磁気ディスク ２ 磁気ヘッド ３ ヘッド操作部 ４ 回転制御部 ５ 信号処理部 ６ トラック検出回路 ７ 解析処理回路 ８ ＣＲＴ
Claims (2)
- 【請求項１】 サーボ用の凹凸パターンを有する非磁性
基板上に磁性層が形成されたディスク状記録媒体から情
報を読み出す磁気ヘッドと、 この磁気ヘッドをディスク径方向に移動させると共に所
定のディスク半径位置で固定させるヘッド操作手段と、 上記ディスク状記録媒体から読み出した信号に基づきト
ラック軌跡を検出するトラック検出手段と、 上記トラック検出手段からの検出信号によりトラックの
歪量を解析する解析手段とを有することを特徴とする歪
測定装置。 - 【請求項２】 上記トラック検出手段は、上記磁気ヘッ
ドからの位置決め信号のゼロレベルに基づいてトラック
軌跡を検出することを特徴とする請求項１記載の歪測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10426795A JPH08297826A (ja) | 1995-04-27 | 1995-04-27 | 歪測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10426795A JPH08297826A (ja) | 1995-04-27 | 1995-04-27 | 歪測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08297826A true JPH08297826A (ja) | 1996-11-12 |
Family
ID=14376161
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10426795A Pending JPH08297826A (ja) | 1995-04-27 | 1995-04-27 | 歪測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08297826A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005115358A (ja) * | 2003-09-19 | 2005-04-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レジストパターン形成方法、マスター情報担体の製造方法、磁気記録媒体の製造方法、磁気記録再生装置の製造方法、及び磁気記録再生装置 |
| US7813075B2 (en) | 2007-10-22 | 2010-10-12 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | System, method and apparatus for performing metrology on patterned media disks with test pattern areas |
-
1995
- 1995-04-27 JP JP10426795A patent/JPH08297826A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005115358A (ja) * | 2003-09-19 | 2005-04-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レジストパターン形成方法、マスター情報担体の製造方法、磁気記録媒体の製造方法、磁気記録再生装置の製造方法、及び磁気記録再生装置 |
| US7813075B2 (en) | 2007-10-22 | 2010-10-12 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | System, method and apparatus for performing metrology on patterned media disks with test pattern areas |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040420 |