JPH0829448A - 半導体加速度センサ - Google Patents

半導体加速度センサ

Info

Publication number
JPH0829448A
JPH0829448A JP16552494A JP16552494A JPH0829448A JP H0829448 A JPH0829448 A JP H0829448A JP 16552494 A JP16552494 A JP 16552494A JP 16552494 A JP16552494 A JP 16552494A JP H0829448 A JPH0829448 A JP H0829448A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fixed
movable
insulating substrate
acceleration sensor
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16552494A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuzo Hara
鉄三 原
Yasuhiro Negoro
泰宏 根来
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP16552494A priority Critical patent/JPH0829448A/ja
Publication of JPH0829448A publication Critical patent/JPH0829448A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Pressure Sensors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電気的信頼性および機械的信頼性の高い半
導体加速度センサを提供することを目的とする。 【構成】 絶縁性基板の凹部に可動部の可動電極板と
固定部の固定電極板を微少間隔を介して対向するように
空中支持する。加速度が加わると可動電極板と固定電極
間の靜電容量変化が変化する。この電気信号として取り
出すため、絶縁性基板には可動部および固定部の固着面
の所定位置を露出する貫通孔を形成し、この露出面に金
属電極を形成して貫通孔内に注入した導電材によって接
続端部を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は靜電容量変化を利用した
半導体加速度センサに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体加速度センサは、例えば車両の加
速度を検出して発進時や減速時のサスペンション機構の
バネ定数を調整して車両走行の安定を保つ制御などに用
いられ、その半導体加速度センサの一例として靜電容量
変化を利用したものが知られている。
【0003】図4に、従来知られている半導体加速度セ
ンサ1の断面図を示す。半導体加速度センサ1は、シリ
コンウエハ2と、シリコンウエハ2の表面に固着した上
部ガラス基板3と、シリコンウエハ2の裏面に固着した
下部ガラス基板4とから構成され、サンドイッチ形状を
なしている。半導体加速度センサ1の一方の端部には、
シリコンウエハ2および下部ガラス基板4の表面の一部
が露出するように、階段状の段差が設けられている。
【0004】シリコンウエハ2には、化学的エッチング
等の方法により、カンチレバー5に支持された可動電極
6が形成されている。また、シリコンウエハ2の表面の
一部露出した部分には、上部ガラス基板3と接触するこ
となく、電極パッド7Aが形成されている。
【0005】シリコンウエハ2の表面と対向する上部ガ
ラス基板3の内面には、可動電極6に対向して固定電極
8Aが形成されている。上部ガラス基板3の端部よりに
は、貫通孔9が形成されている。貫通孔9の内壁面には
導体層10が形成され、固定電極8Aから引き出された
リード線11Aと接続されている。また、上部ガラス基
板3の外面には、貫通孔9と接続して電極パッド7Bが
形成されている。さらに、貫通孔9の内部には導体層1
0を介して低温半田12が充填されている。低温半田1
2は、リード線11Aと電極パッド7Bとの電気的接続
のためだけでなく、貫通孔9を塞ぐ役目も果たしてい
る。
【0006】シリコンウエハ2の裏面と対向する下部ガ
ラス基板4の内面には、可動電極6に対向して固定電極
8Bが形成されている。下部ガラス基板4の内面の一部
露出した端部には、シリコンウエハ2と接触することな
く電極パッド7Cが形成されている。固定電極8Bと電
極パッド7Cは、リード線11Bで接続されている。
【0007】上部ガラス基板3の内面に形成されたリー
ド線11Aおよび下部ガラス基板4の内面に形成された
リード線11Bと対向するシリコンウエハ2の部分に
は、リード線11A、11Bとシリコンウエハ2が接触
するのを避けるために溝13A、13Bが形成され、両
者の絶縁性が保たれている。
【0008】なお、電極パッド7A、7B、7C、固定
電極8A、8B、リード線11A、11Bおよび導体層
10は、アルミニウム、金等の蒸着あるいはスパッタリ
ング等によって形成されている。
【0009】上述の構成において、固定電極8A、8B
と可動電極6との間にはコンデンサC1、C2が形成さ
れる。半導体加速度センサ1に加速度が加わると可動電
極6が変位する結果、可動電極6と固定電極8A、8B
の間隔が変化し、コンデンサC1、C2の靜電容量が変
わる。半導体加速度センサ1は、この靜電容量変化を差
動出力として取り出し、加速度を検知するものである。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、一般
に、貫通孔9は、超音波加工や、サンドブラスト加工を
用いて形成するため、貫通孔9の内壁あるいは出入り口
周縁部が荒れてしまい、蒸着技術等を用いて貫通孔9の
内壁全面に導体層10を形成することが難しい。さらに
内壁の凹凸のために導体層10の膜厚をかなり厚くしな
ければ、内壁面に導体層10が形成されていない部分が
生じるという欠点があった。また、低温半田12を貫通
孔9の内部に充填する際に巻き込まれた空気がボイドと
して残るという欠点や、内壁全面に導体層10が形成さ
れていないと、充填した低温半田12はシリコンウエハ
2には濡れないため、貫通孔9の内部に完全に充填でき
ないという欠点もあった。さらに、貫通孔9の内部に充
填する低温半田12の線膨張係数は25×10E−6/
deg.に対し、ガラス基板の線膨張係数は(30〜1
20)×10E−7/deg.と、十倍から数十倍大き
く、温度変化がある場合には線熱膨張係数の差に起因し
て両者の間に剥離が生じるという欠点があった。
【0011】その上、リード線11A、11Bを引き出
すために形成される下部ガラス基板4の溝13Bによっ
て、シリコンウエハ2と下部ガラス基板4が完全に密閉
できないという欠点もあった。
【0012】そこで、本発明は、電気的信頼性および機
械的信頼性の高い半導体加速度センサを提供することを
目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の、半導体加速度
センサは、上記目的を達成するために次のような構成が
用いられる。すなわち、第一、凹部を有する絶縁性基板
と、可動電極板を有して凹部に少なくとも可動電極板を
空中支持する可動部と、可動電極板と相対向する固定電
極板を有する固定部と、可動部および固定部を覆い絶縁
性基板と固着する蓋とからなる半導体加速度センサにお
いて、可動部および固定部を低抵抗材で作るとともに、
絶縁性基板と可動部および固定部との固着面を露出する
貫通孔を絶縁性基板に形成し、露出面に金属電極を形成
し、貫通孔内に導電材を注入して接続端部を形成するも
のであり、第二に、凹部を有する絶縁性基板と、一部が
凹部に空中支持される可動部と、固定電極板を有する固
定部と、絶縁性基板に固着して可動部および固定部を封
入する蓋とを備え、可動部は絶縁性基板の凹部の縁に設
けた可動部支持部と、この可動部支持部に可動支持され
た重りと、この重りに形成され固定電極に対向する可動
電極部とから構成される半導体加速度センサにおいて、
低抵抗材からなる可動部および固定部との固着面を露出
させるべく絶縁性基板に形成した貫通孔と、露出面に形
成した金属電極と、貫通孔内に導電材を注入して金属電
極に接続して形成した接続端部とからなるものである。
【0014】
【作用】半導体加速度センサに加速度が加わると、加速
度の強さに応じて重りと、可動電極板が変位し、可動電
極板と固定電極板の間の靜電容量が変化する。この靜電
容量変化は可動部および固定部に設けられた金属電極を
通して接続端部から電気信号として取り出される。
【0015】
【実施例】図1乃至図3を用いて本発明に係る半導体加
速度センサの実施例を説明する。
【0016】半導体加速度センサは、ガラス等からなる
絶縁性基板14と、低抵抗の半導体基板からなる可動部
15および固定部16A、16Bと、蓋17とから形成
されている。
【0017】絶縁性基板14は四角板状をなし、中央部
には長方形状の開口を持つ深さ10μm程度の凹部18
が形成されている。
【0018】可動部15は、重り19と、可動電極板2
0A、20Bと、梁21A、21Bと、接続板22A、
22Bと、可動部支持部23A、23Bとから構成され
ている。重り19は直方体形状をなし、重り19の長辺
両側面には、垂直かつ等間隔に長さの等しい板状の短い
可動電極板20A、20Bが櫛歯状に一体に設けられて
いる。なお、可動電極板20A、20Bは、加速度が加
わっても変形しない程度の厚みを有する。また重り19
の短辺両側面には、薄板状の長い梁21A、21Bの中
央部が、梁21A、21Bの長辺方向と重り19の長辺
方向とが直角となるように、一体に形成されている。長
方体形状の可動部支持部23A、23Bは、絶縁性基板
14に設けた凹部18の短辺側の開口縁に近接して絶縁
性基板14に固着されている。梁21A、21Bと対向
する可動部支持部23A、23Bは、薄い接続板22
A、22Bによって、梁21A、21Bと一体に接続さ
れている。可動部15がこのように構成されることによ
り、重り19、可動電極板20A、20B、梁21A、
21Bは、接続板22A、22Bに支持されて、絶縁性
基板14に設けた凹部18の上に浮いた状態に配置され
ている。
【0019】固定部16A、16Bは、固定部支持部2
4A、24Bと、固定電極板25A、25Bとから一体
に構成されている。直方体形状の固定部支持部24A、
24Bは、その長辺方向が凹部18の長辺両側縁と平行
となるように、絶縁性基板14の凹部18の長辺両側の
開口縁に沿って絶縁性基板14の表面に固着されてい
る。重り19と対向する固定部支持部24A、24Bの
長辺側面には、重り19の方向に延びかつ固定部支持部
24A、24Bに対し、垂直かつ等間隔に長さのそろっ
た板状の短い固定電極板25A、25Bが櫛歯状に一体
に配設されており、この固定電極板25A、25Bは可
動電極板20A、20Bと微少間隔を形成して互いに対
向するように配設されている。固定電極板25A、25
Bは、加速度が加わっても変形しない程度の厚みを有す
る。なお、図1では、可動電極板20A、20Bがそれ
ぞれ3枚、固定電極板25A、25Bがそれぞれ4枚の
場合を示すが、可動電極板20A、20Bがそれぞれ1
枚、固定電極板25A、25Bがそれぞれ1枚以上あれ
ばよい。
【0020】蓋17は、四角板26と、四角板26の各
周縁部に形成した立設部27とから一体に形成されてい
る。蓋17は、可動部15および固定部16A、16B
を覆うように被せられ、絶縁性基板14に固着されてい
る。この結果、可動部15および固定部16A、16B
は、絶縁性基板14と蓋17によって完全に密閉されて
いる。
【0021】絶縁性基板14には、絶縁性基板14と固
定部支持部24A、24Bとの固着面の所定位置を露出
するために貫通孔28が形成されている。貫通孔28
は、固定部支持部24A、24Bを絶縁性基板14に固
着する前に、超音波加工あるいはサンドブラスト加工に
よって形成される。また貫通孔28によって露出される
固定部支持部24A、24Bの所定位置には、オーミッ
ク接触のために金属電極29が形成されている。金属電
極29は、所定形状のマスクパターンを固定部支持部2
4A、24Bに重ね合わせ、アルミニウム等を蒸着等す
ることによって形成されている。絶縁性基板14と固定
部支持部24A、24Bを固着する際、両者の間に隙間
が生じないよう、金属電極29は露出面のほぼ中心部
に、露出面積よりも小さく形成し、絶縁性基板14と重
ならないように形成される。なお、金属電極29は、固
定部支持部24A、24Bを絶縁性基板14と固着する
前に形成される。貫通孔28には、例えば銀ペースト等
の導電材が注入され接続端部30が形成される。固定電
極板25A、25Bは、この金属電極29を介して、接
続端部30と電気的に接続されている。
【0022】また、可動部15についても固定部16
A、16Bと同様に、可動部支持部23A、23Bのい
ずれか一方の裏面を露出するために貫通孔28が形成さ
れている(図示せず)。さらに、この露出面にも、金属
電極29が形成されている。可動電極板20A、20B
は、この金属電極29を介して、貫通孔28の内部に導
電材を注入して形成された接続端部30と電気的に接続
されている。
【0023】なお、導電材は、貫通孔28の内部全体に
注入しても良いし、貫通孔28の孔壁に沿う一部に注入
しても良い。一部注入する場合は、導電材30と絶縁性
基板14との熱膨張係数の違いによって生じる応力を緩
和することができ、また注入時の空気抜き穴として用い
ることができる。
【0024】このような構造を形成することにより、加
速度が重り19の長辺方向に加わった際は、薄く形成さ
れた梁21A、21Bが容易に変形する結果、固定電極
板25A、25Bと可動電極板20A、20Bとの間隔
が変わることにより靜電容量が変化し、加速度が検知さ
れる。
【0025】
【発明の効果】本発明は、上述のような構成であるから
次のような効果を有する。すなわち、可動電極板および
固定電極板によって形成されるコンデンサの靜電容量の
変化は、可動部支持部および固定部支持部の裏面に形成
された金属電極および貫通孔内の接続端部を介して取り
出されるので、電気的機械的信頼性が極めて高くなる。
また、可動部および固定部は、絶縁性基板および蓋によ
って完全に密閉されるので、長期的信頼性を維持でき
る。さらに、従来のように導体層を介して低温半田を充
填する必要がないため、貫通孔の内壁の表面荒さを考慮
する必要がなくなり、安価に製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体加速度センサの分解斜視図
である。
【図2】本発明に係る半導体加速度センサの、図1に示
すA−A´の断面図である。
【図3】本発明に係る半導体加速度センサの、図1に示
すA−A´の他の断面図である。
【図4】従来の半導体加速度センサの断面図である。
【符号の説明】
1 半導体加速度センサ 2 シリコンウエハ 3 上部ガラス基板 4 下部ガラス基板 5 カンチレバー 6 可動電極 7A、7B、7C 電極パッド 8A、8B 固定電極 9 貫通孔 10 導体層 11A、11B リード線 12 低温半田 13A、13B 溝 14 絶縁性基板 15 可動部 16A、16B 固定部 17 蓋 18 凹部 19 重り 20A、20B 可動電極板 21A、21B 梁 22A、22B 接続板 23A、23B 可動部支持部 24A、24B 固定部支持部 25A、25B 固定電極板 28 貫通孔 29 金属電極 30 接続端部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 凹部を有する絶縁性基板と、可動電極
    板を有して凹部に少なくとも可動電極板を空中支持する
    可動部と、可動電極板と相対向する固定電極板を有する
    固定部と、可動部および固定部を覆い絶縁性基板と固着
    する蓋とからなる半導体加速度センサにおいて、可動部
    および固定部を低抵抗材で作るとともに、絶縁性基板と
    可動部および固定部との固着面を露出する貫通孔を絶縁
    性基板に形成し、露出面に金属電極を形成し、貫通孔内
    に導電材を注入して接続端部を形成したことを特徴とす
    る半導体加速度センサ。
  2. 【請求項2】 凹部を有する絶縁性基板と、一部が凹
    部に空中支持される可動部と、固定電極板を有する固定
    部と、絶縁性基板に固着して可動部および固定部を封入
    する蓋とを備え、可動部は絶縁性基板の凹部の縁に設け
    た可動部支持部と、この可動部支持部に可動支持された
    重りと、この重りに形成され固定電極に対向する可動電
    極部とから構成される半導体加速度センサにおいて、低
    抵抗材からなる可動部および固定部との固着面を露出さ
    せるべく絶縁性基板に形成した貫通孔と、露出面に形成
    した金属電極と、貫通孔内に導電材を注入して金属電極
    に接続して形成した接続端部とからなることを特徴とす
    る半導体加速度センサ。
JP16552494A 1994-07-18 1994-07-18 半導体加速度センサ Pending JPH0829448A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16552494A JPH0829448A (ja) 1994-07-18 1994-07-18 半導体加速度センサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16552494A JPH0829448A (ja) 1994-07-18 1994-07-18 半導体加速度センサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0829448A true JPH0829448A (ja) 1996-02-02

Family

ID=15814033

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16552494A Pending JPH0829448A (ja) 1994-07-18 1994-07-18 半導体加速度センサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0829448A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012141160A (ja) * 2010-12-28 2012-07-26 Seiko Epson Corp 機能素子、機能素子の製造方法、物理量センサー及び電子機器
JP2015007656A (ja) * 2014-09-29 2015-01-15 セイコーエプソン株式会社 機能素子
JP2015165240A (ja) * 2015-04-28 2015-09-17 セイコーエプソン株式会社 機能素子

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012141160A (ja) * 2010-12-28 2012-07-26 Seiko Epson Corp 機能素子、機能素子の製造方法、物理量センサー及び電子機器
JP2015007656A (ja) * 2014-09-29 2015-01-15 セイコーエプソン株式会社 機能素子
JP2015165240A (ja) * 2015-04-28 2015-09-17 セイコーエプソン株式会社 機能素子

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5834332A (en) Micromechanical semiconductor components and manufacturing method therefor
US6759309B2 (en) Micromachined structures including glass vias with internal conductive layers anodically bonded to silicon-containing substrates
JP3091766B2 (ja) 表面取付け型圧電セラミツク式加速度計及びその製造方法
US5243861A (en) Capacitive type semiconductor accelerometer
CA2183477C (en) Variable capacitor
JPH11344507A (ja) マイクロマシンの構成エレメント
US20030230143A1 (en) Monolithic silicon acceleration sensor
EP0156757A2 (en) Capacitive pressure sensor with low parasitic capacitance
KR970024315A (ko) 센서 및 센서 제조 방법(Sensor and method for manufacturing the same)
CA2610185A1 (en) Method of manufacturing a capacitive acceleration sensor, and a capacitive acceleration sensor
JPH0688837A (ja) 加速度センサ
US6958529B2 (en) Acceleration sensor and method of manufacture thereof
US5673476A (en) Anode bonding method for selected regions
US6862795B2 (en) Method of manufacturing of a monolithic silicon acceleration sensor
US6617677B2 (en) Electric or electronic component and method of manufacturing such a component
US20040263186A1 (en) Capacitance type dynamic quantity sensor
JPH0829448A (ja) 半導体加速度センサ
EP0186765B1 (en) End termination for chip capacitor
JPH06160420A (ja) 半導体加速度センサ及びその製造方法
JPH07318583A (ja) 静電容量式加速度センサ
JPH10177034A (ja) 静電容量型加速度センサとその製造方法
JP3550467B2 (ja) 圧力センサおよびその製造方法
JPH10185946A (ja) 静電容量型センサ
JP3328710B2 (ja) 半導体静電容量型センサ
JPH05340962A (ja) 静電容量型加速度センサ