JPH0829356A - 半田付検査装置 - Google Patents

半田付検査装置

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Publication number
JPH0829356A
JPH0829356A JP16644194A JP16644194A JPH0829356A JP H0829356 A JPH0829356 A JP H0829356A JP 16644194 A JP16644194 A JP 16644194A JP 16644194 A JP16644194 A JP 16644194A JP H0829356 A JPH0829356 A JP H0829356A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
axis
soldering inspection
ccd camera
inspection device
controller
Prior art date
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Pending
Application number
JP16644194A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Fukushima
功 福島
Takashi Nagahama
隆志 永浜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP16644194A priority Critical patent/JPH0829356A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 不良半田付箇所を確実に、また短時間で確認
できる半田付検査装置を提供することを目的とする。 【構成】 自動半田付検査装置から送られてくる不良デ
ータをパーソナル・コンピュータ10が受信し、不良デ
ータを座標データに変換し、X−Y軸コントローラ4へ
送信する。X−Y軸コントローラ4は、パーソナル・コ
ンピュータ10から受信したデータにより、X−Yステ
ージ5のX軸6、Y軸を駆動させ、CCDカメラ8はプ
リント基板受け台9の上に乗せた不良基板の不良箇所へ
移動する。CCDカメラ8より取り込まれた画像は、C
CDカメラコントローラ3を介してカラーモニター2に
拡大映出される構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板の半田付
不具合を検査する半田付検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、プリント基板の高密度化にともな
い、自動半田付検査装置を用いて半田付の良否の検査を
行っている。この自動半田付検査装置は、良品を不良と
する過剰判定を引き起こす。したがって過剰判定を含む
不良箇所は目視にて確認を行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記のように過剰判定
を含む不良箇所を目視にて確認するとき、判定ミスや不
良箇所を見逃してしまい、後工程への漏れ不良が発生し
ていた。また、目視にて確認作業を行うため、確認に時
間がかかるという問題があった。
【0004】本発明は前記従来の問題に留意し、短時間
に、かつ確実に半田付不良を確認できる半田付検査装置
を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記問題を解決
するために、自動半田付検査装置から送られる不良デー
タをパーソナル・コンピュータが受け、X−Y軸コント
ローラでX−YステージとCCDカメラを駆動し、プリ
ント基板半田付箇所の画像をモニターに表示する半田付
検査装置の構成とする。
【0006】
【作用】本発明は、上記構成により自動半田付検査装置
が検出した半田付不良箇所を自動的にモニターに写し出
し、したがって半田付検査が確実に、かつ短時間ででき
ることとなる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図1を参照
しながら説明する。図1は、本発明の一実施例の半田付
検査装置の構成を示すものである。図1に示すように、
コントローラボックス1は、カラーモニター2、CCD
カメラコントローラ3、X−Y軸コントローラ4からな
り、X−Yステージ5は、X軸6、Y軸7、CCDカメ
ラ8、プリント基板受け台9からなり、パーソナル・コ
ンピュータ10は、X−Y軸コントローラ4と自動半田
付検査装置(図示せず)に通信ケーブル11にて接続さ
れている。
【0008】上記構成において動作を説明すると、自動
半田付検査装置から送られてくる不良データをパーソナ
ル・コンピュータ10が受信し不良データを座標データ
に変換し、X−Y軸コントローラ4へ送信する。X−Y
軸コントローラ4は、パーソナル・コンピュータ10か
ら受信したデータによりX軸6、Y軸7を駆動させ、C
CDカメラ8はプリント基板受け台9の上に乗せた不良
基板の不良箇所へ移動する。CCDカメラ8より取り込
まれた画像は、CCDカメラコントローラ3を介してカ
ラーモニター2に拡大映出される。
【0009】以上のように本発明の実施例によれば、自
動半田付検査装置が不良判定した箇所を、自動でカラー
モニター2に拡大映出することができる。
【0010】
【発明の効果】以上の実施例の説明より明らかなよう
に、本発明は自動半田付検査装置が不良判定した箇所を
自動でカラーモニターに拡大映出するため、不良半田付
箇所を確実に検出することができ、また、短時間で確認
作業を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の半田付検査装置の概略構成
【符号の説明】
1 コントローラボックス 2 カラーモニター 3 CCDカメラコントローラ 4 X−Y軸コントローラ 5 X−Yステージ 6 X軸 7 Y軸 8 CCDカメラ 9 プリント基板受け台 10 パーソナル・コンピュータ 11 通信ケーブル

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 自動半田付検査装置より不良データ受信
    し座標データに変換するパーソナルコンピュータと、前
    記座標データを受けるX−Y軸コントローラと、X−Y
    軸コントローラによってX軸、Y軸を駆動させられると
    ともに不良基板の不良箇所上へ移動させられるCCDカ
    メラをもつX−Yステージと、前記CCDカメラによる
    プリント基板半田付箇所画像を表示するモニターを備え
    た半田付検査装置。
JP16644194A 1994-07-19 1994-07-19 半田付検査装置 Pending JPH0829356A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100424442B1 (ko) * 2001-11-28 2004-03-24 (주) 인텍플러스 납형상 3차원 측정기
CN104535587A (zh) * 2014-12-23 2015-04-22 安徽科鸣三维科技有限公司 一种基于机器视觉的pcba焊点检测方法

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