JPH0829117A - 画像処理方法及びその装置 - Google Patents

画像処理方法及びその装置

Info

Publication number
JPH0829117A
JPH0829117A JP6165168A JP16516894A JPH0829117A JP H0829117 A JPH0829117 A JP H0829117A JP 6165168 A JP6165168 A JP 6165168A JP 16516894 A JP16516894 A JP 16516894A JP H0829117 A JPH0829117 A JP H0829117A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image data
pattern
positional deviation
gravity
center
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6165168A
Other languages
English (en)
Inventor
Kentaro Okuda
健太郎 奥田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP6165168A priority Critical patent/JPH0829117A/ja
Publication of JPH0829117A publication Critical patent/JPH0829117A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Control Or Security For Electrophotography (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、各画像データの線幅が異なっていも
これら画像データ間に位置ずれを発生せずに位置合わせ
すること。 【構成】画像切り出し部(18)により参照画像データ(1)
と検査画像データ(2) の端に掛かるパターンを削除する
とともにエッジを有するパターンを切り出し、これら切
り出された各画像データの重心位置を重心算出部(19)に
より算出する。そして、位置ずれ量検出部(20)により各
重心位置から各画像データ(1,2) 間の位置ずれ量を検出
し、これら位置ずれ量に基づいて位置補正部(21)により
各画像データ(1,2) の位置補正を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば参照画像データ
と検査画像データとの画像間の位置ずれ量を検出し、か
つこの位置ずれ量に基づいて各画像データの位置合わせ
を行う画像処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、半導体ウエハ等の被検査体の欠
陥検査を行う場合には、この被検査体を撮像し、この撮
像により得られる検査画像データと参照画像データとを
比較して被検査体上の欠陥を検出している。
【0003】この欠陥検査に際しては、検査画像データ
と参照画像データとの位置合わせを行わなければなら
ず、この位置合わせには、2値画像のパターンマッチン
グが用いられている。
【0004】このパターンマッチングによる位置合わせ
では、位置合わせを行う各画像データの画像がほぼ等し
く、2値化処理後のパターンも理想的には等しくなるこ
とが必要である。
【0005】しかしながら、現実の位置合わせ対象とな
る参照画像データと検査画像データとでは、例えばその
パターンの線幅に違いが生じたりし、この線幅の違いに
より参照画像データと検査画像データとの位置ずれ検出
量に誤差が生じる。
【0006】例えば、図12に示すように2値化の参照
画像データと検査画像データとのパターンマッチングを
行う場合、これら参照画像データのパターン1と検査画
像データのパターン2との各線幅が異なると、いずれか
一方のパターンエッジで位置合わせしてしまい、他方の
エッジでの位置ずれ量が却って大きくなることがある。
【0007】従って、各画像データにおけるパターンの
線幅が異なる場合、これら画像データ間の位置ずれ量を
検出することが必要であり、又この位置ずれ量を補正し
て正確に位置合わせする必要がある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】以上のように参照画像
データと検査画像データとの各線幅が異なると、これら
画像データをパターンマッチングしても、その位置ずれ
量が返って大きくなる。そこで本発明は、各画像データ
の線幅が異なっていもこれら画像データ間の位置ずれ量
を正確に検出できる画像処理方法及びその装置を提供す
ることを目的とする。
【0009】又、本発明は、各画像データの線幅が異な
ることによって画像データ間に位置ずれを発生せずに位
置合わせができる画像処理方法及びその装置を提供する
ことを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1によれば、少な
くとも2つの画像データにおけるエッジを有するパター
ンを切り出しする第1のステップと、この第1のステッ
プによりパターンの切り出された各画像データの重心位
置を算出する第2のステップと、この第2のステップに
より算出された各重心位置から各画像データ間の位置ず
れ量を検出する第3のステップと、を有して上記目的を
達成しようとする画像処理方法である。
【0011】請求項2によれば、少なくとも2つの画像
データにおけるエッジを有するパターンを切り出しする
第1のステップと、この第1のステップによりパターン
の切り出しされた各画像データの重心位置を算出する第
2のステップと、この第2のステップにより算出された
各重心位置から各画像データ間の位置ずれ量を検出する
第3のステップと、この第3のステップにより検出され
た位置ずれ量に基づいて各画像データの位置補正を行う
第4のステップと、を有して上記目的を達成しようとす
る画像処理方法である。
【0012】請求項3によれば、各重心位置の平均から
各画像データ間の位置ずれ量を検出する。請求項4によ
れば、少なくとも2つの画像データに対してそれぞれX
方向及びY方向に走査し、各画像データにおける端に掛
かるパターンを削除しエッジを有するパターンを切り出
しする。
【0013】請求項5によれば、少なくとも2つの画像
データにおけるエッジを有するパターンを切り出しする
画像切り出し手段と、この画像切り出し手段によりパタ
ーンの切り出された各画像データの重心位置を算出する
重心算出手段と、この重心算出手段により算出された各
重心位置から各画像データ間の位置ずれ量を検出する位
置ずれ量検出手段と、を有して上記目的を達成しようと
する画像処理装置である。
【0014】請求項6によれば、少なくとも2つの画像
データにおけるエッジを有するパターンを切り出しする
画像切り出し手段と、この画像切り出し手段によりパタ
ーンの切り出された各画像データの重心位置を算出する
重心算出手段と、この重心算出手段により算出された各
重心位置から各画像データ間の位置ずれ量を検出する位
置ずれ量検出手段と、この位置ずれ量検出手段により検
出さされた位置ずれ量に基づいて各画像データの位置補
正を行う位置補正手段と、を有して上記目的を達成しよ
うとする画像処理装置である。
【0015】請求項7によれば、位置ずれ量検出手段
は、各重心位置の平均から各画像データ間の位置ずれ量
を検出する。請求項8によれば、画像切り出し手段は、
少なくとも2つの画像データに対してそれぞれX方向及
びY方向に走査し、各画像データにおける端に掛かるパ
ターンを削除し、エッジを有するパターンを切り出しす
るものである。
【0016】
【作用】請求項1によれば、少なくとも2つの画像デー
タにおけるエッジを有するパターンを切り出し、次にこ
れら切り出しされた各画像データの重心位置を算出す
る。次にこれら重心位置から各画像データ間の位置ずれ
量を検出する。これにより、各画像データの線幅が異な
っていも各画像データ間の位置ずれ量を正確に検出でき
る。
【0017】請求項2によれば、少なくとも2つの画像
データにおけるエッジの有するパターンを切り出し、次
にこれら切り出しされた各画像データの重心位置を算出
する。次にこれら重心位置から各画像データ間の位置ず
れ量を検出し、この位置ずれ量に基づいて各画像データ
の位置補正を行う。これにより、各画像データの線幅が
異なっていもこれら画像データ間に位置ずれを発生せず
に位置合わせできる。
【0018】請求項3によれば、各重心位置の平均から
各画像データ間の位置ずれ量を検出する。請求項4によ
れば、少なくとも2つの画像データに対してそれぞれX
方向及びY方向に走査して、各画像データの端に掛かる
パターンを削除するとともにエッジを有するパターンを
切り出す。
【0019】請求項5によれば、画像切り出し手段によ
り例えば2つの画像データのエッジを有するパターンを
切り出し、これら切り出しされた各画像データの重心位
置を重心算出手段により算出する。そして、位置ずれ量
検出手段により各重心位置から各画像データ間の位置ず
れ量を検出する。これにより、各画像データの線幅が異
なっていも各画像データ間の位置ずれ量を正確に検出で
きる。
【0020】請求項6によれば、画像切り出し手段によ
り例えば2つの画像データのエッジを有するパターンを
切り出し、これら切り出しされた各画像データの重心位
置を重心算出手段により算出する。そして、位置ずれ量
検出手段により各重心位置から各画像データ間の位置ず
れ量を検出し、これら位置ずれ量に基づいて位置補正手
段により各画像データの位置補正を行う。これにより、
各画像データの線幅が異なっていもこれら画像データ間
に位置ずれを発生せずに位置合わせできる。
【0021】請求項7によれば、位置ずれ量検出手段に
よって各重心位置の平均から各画像データ間の位置ずれ
量を検出する。請求項8によれば、画像切り出し手段
は、例えば2つの画像データに対してそれぞれX方向及
びY方向に走査し、各画像データの端に掛かるパターン
を削除するとともにエッジを有するパターンを各画像デ
ータ中から切り出しする。
【0022】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。図1は画像データの位置合わせを行う画
像処理装置の構成図である。CPU等から成る主制御部
10には、バス11を介して各画像メモリ12、13及
び主画像メモリ14が接続されている。
【0023】これら画像メモリ12、13のうち一方の
画像メモリ12には、入力部15を介して参照画像デー
タ1が入力し記憶されるものとなっている。又、他方の
画像メモリ13には、入力部16を介して検査画像デー
タ1が入力し記憶されるものとなっている。
【0024】上記主制御部10には、バス11を介して
プログラムメモリ17、画像切り出し部18、重心算出
部19、位置ずれ検出部20及び位置補正部21が接続
されている。
【0025】主制御部10は、プログラムメモリ17に
予め記憶されている図2に示す位置合わせフローチャー
トのプログラムに従って画像切り出し部18、重心算出
部19、位置ずれ検出部20及び位置補正部21に指令
を発して動作制御する機能を有している。
【0026】画像切り出し部18は、各画像メモリ1
2、13にそれぞれ記憶される参照画像データ1と検査
画像データ2とを読み出し、これら参照画像データ1と
検査画像データ2とにおける端に掛かるパターン削除す
る機能を有している。
【0027】具体的に画像切り出し部18は、参照画像
データ1と検査画像データ2に対してそれぞれX方向、
Y方向に走査し、これらX、Y方向ごとに各画像データ
1、2の端に掛かるパターンを削除して、エッジを有す
るパターンを切り出しする機能を有している。
【0028】従って、画像切り出し部18は、参照画像
データ1に対してX方向、Y方向の各方向でそれぞれ走
査してパターンの切り出し削除を行った2つの参照画像
データ、及び検査画像データ2に対してX方向、Y方向
の各方向でそれぞれ走査してパターンの切り出し削除を
行った2つの検査画像データの計4つの画像データを得
る機能を有している。
【0029】重心算出部19は、画像切り出し部18に
よりパターンの切り出しされた2つの参照画像データ1
及び2つの検査画像データ2の各重心位置を算出する機
能を有している。
【0030】この重心位置の算出は、次の通り行われ
る。例えば、画像データ1、2(画像データf)の各点
(x,y)における濃度値を(x,y)の質量と見なす
と、これら画像データfにおいて重心を定義できる。こ
れら画像データfの重心は、
【0031】
【数1】 なる座標を持つ点(A,B)となる。
【0032】そして、ディジタル画像に対しては、積分
は総和となる。簡単な例を示すと、次の画像データの濃
度値に対し、 211 310 321 の重心は、次の通り計算される。なお、原点は、左下の
点である。
【0033】 ΣΣf(x,y)=14 ΣΣxf(x,y)=8 ΣΣyf(x,y)=12 A=4/7 B=6/7 となる。
【0034】位置ずれ量検出部20は、重心算出部19
により算出された2つの参照画像データ及び2つの検査
画像データにおける各重心位置を比較して、参照画像デ
ータ1と検査画像データ2とのX方向及びY方向の位置
ずれ量を検出する機能を有している。
【0035】すなわち、X方向の位置ずれ量XsとY方
向の位置ずれ量Ysとは、 Xs=(検査画像データのXパターンの重心位置) −(参照画像データのXパターンの重心位置) …(3) Ys=(検査画像データのYパターンの重心位置) (−参照画像データのYパターンの重心位置) …(4) により求められる。
【0036】位置補正部21は、位置ずれ量検出部20
により検出されたX方向及びY方向の位置ずれ量に基づ
いて参照画像データ1と検査画像データ2との位置補正
を行う機能を有している。
【0037】次に上記の如く構成された装置の作用につ
いて説明する。参照画像データ1は、入力部15を通し
て画像メモリ12に記憶される。図3(a) はかかる参照
画像データ1の模式図である。この参照画像データ1に
おいて各パターンa1〜f1が形成されている。
【0038】又、検査画像データ2は、入力部16を通
して画像メモリ13に記憶される。図3(b) はかかる検
査画像データ2の模式図である。この検査画像データ2
において各パターンa2〜f2が形成されている。
【0039】このように参照画像データ1及び検査画像
データ2が各画像メモリ12、13に記憶されると、主
制御部10は、ステップ#1において、画像切り出し部
18に動作指令を発する。
【0040】この画像切り出し部18は、先ず参照画像
データ1に対してX、Y方向にそれぞれ走査して、この
参照画像データ1における端に掛かるパターンを削除す
るとともにエッジを有するパターンを切り出しする。
【0041】すなわち、画像切り出し部18は、参照画
像データ1に対してX方向に走査し、このX方向の各端
p1、p2に掛かる各パターンa1、d1、e1、f1
を削除する。
【0042】これにより、画像切り出し部18は、図4
(a) に示すようにX方向にエッジを有する各パターンb
1、c1のXパターンの参照画像データを切り出す。
又、画像切り出し部18は、参照画像データ1に対して
Y方向に走査し、このY方向の各端q1、q2に掛かる
各パターンa1、d1、f1を削除する。なお、パター
ンb1の端q1に掛かる部分は削除される。
【0043】これにより、画像切り出し部18は、図4
(b) に示すようにY方向にエッジを有する各パターンb
1、c1、e1のYパターンの参照画像データを切り出
す。次に、画像切り出し部18は、ステップ#2におい
て、検査画像データ2に対してX方向に走査し、このX
方向の各端p1、p2に掛かる各パターンa2、d2、
e2、f2を削除する。
【0044】これにより、画像切り出し部18は、図5
(a) に示すようにX方向にエッジを有する各パターンb
2、c2のXパターンの検査画像データを切り出す。
又、画像切り出し部18は、検査画像データ2に対して
Y方向に走査し、このY方向の各端q1、q2に掛かる
各パターンa2、d2、f2を削除する。なお、パター
ンb2の端q1に掛かる部分は削除される。
【0045】これにより、画像切り出し部18は、図5
(b) に示すようにY方向にエッジを有する各パターンb
2、c2、e2のYパターンの検査画像データを切り出
す。次に主制御部10は、ステップ#3において重心算
出部19に動作指令を発する。
【0046】この重心算出部19は、画像切り出し部1
8によりパターンの切り出しされた参照画像データ1の
X、Y方向パターンの各画像データ、及び検査画像デー
タ2のX、Y方向パターンの各画像データにおける各重
心位置を上記式(1)(2)を演算することにより求める。
【0047】すなわち、図4(a) に示すように参照画像
データ1のX方向パターンの重心位置Gx1、及び同図
(b) に示すようにY方向パターンの重心位置Gy1が求
められる。
【0048】又、図5(a) に示すように検査画像データ
2のX方向パターンの重心位置Gx2、及び同図(b) に
示すようにY方向パターンの重心位置Gy2が求められ
る。次に主制御部10は、ステップ#4において位置ず
れ量検出部20に動作指令を発する。
【0049】この位置ずれ量検出部20は、重心算出部
19により算出された参照画像データ1のX方向パター
ンの重心位置Gx1、Y方向パターンの重心位置Gy
1、及び検査画像データ2のX方向パターンの重心位置
Gx2、Y方向パターンの重心位置Gy2を受け、上記
式(3) 及び(4) を演算してX方向及びY方向の各位置ず
れ量を検出する。
【0050】すなわち、X、Y方向の各位置ずれ量X
s、Ysは、 Xs=X方向パターンの重心位置Gx2−重心位置Gx1 …(5) Ys=Y方向パターンの重心位置Gy2−重心位置Gy1 …(6) により求められる。
【0051】従って、参照画像データ1と検査画像デー
タ2とは、X方向に重心位置Gx2−重心位置Gx1、
Y方向に重心位置Gy2−重心位置Gy1の位置ずれを
生じていることが検出される。
【0052】次に主制御部10は、ステップ#5におい
て位置ずれ補正部21に動作指令を発する。この位置ず
れ補正部21は、位置ずれ量検出部20により検出され
たX方向及びY方向の各位置ずれ量Xs、Ysに基づい
て参照画像データ1と検査画像データ2との位置補正を
行う。
【0053】このように上記一実施例においては、参照
画像データ1と検査画像データ2とにおける端に掛かる
各パターンを削除するとともにエッジの有するパターン
を切り出し、これら切り出された各画像データの重心位
置を算出し、次にこれら重心位置から参照画像データ1
と検査画像データ2との間の位置ずれ量を検出するよう
にしたので、参照画像データ1と検査画像データ2とに
おいて各パターンa〜f幅や線幅が異なっていても、こ
れら参照画像データ1と検査画像データ2との位置ずれ
量をX、Y方向において精度高く検出できる。
【0054】さらに、これらX、Y方向の位置ずれ量に
基づいて参照画像データ1と検査画像データ2との位置
補正を行うので、これら参照画像データ1と検査画像デ
ータ2の各パターンa〜f幅や線幅が異なっていも、こ
れら参照画像データ1と検査画像データ2との間に位置
ずれを発生せずに高精度に位置合わせしてパターンマッ
チングできる。
【0055】すなわち、図6に示すように参照画像デー
タ1と検査画像データ2との各パターン幅に差があって
も、これら画像データ1、2の各重心は、部分(イ)に
おいて同一座標を示すが、各部分(ロ)(ハ)では画像
データの端に掛かるために、位置ずれを起こす。
【0056】ところが、上記一実施例では、参照画像デ
ータ1と検査画像データ2とにおける端に掛かる各パタ
ーンを削除してエッジを有するパターンを切り出しする
ので、参照画像データ1と検査画像データ2とにおいて
各パターンa〜f幅や線幅が異なっていても、参照画像
データ1と検査画像データ2との位置ずれ量をX、Y方
向において精度高く検出でき、かつこれら参照画像デー
タ1と検査画像データ2とを高精度に位置合わせしてパ
ターンマッチングできる。
【0057】ここで、参照画像データ1と検査画像デー
タ2とを位置合わせする場合、パターン幅等が異なって
いて位置ずれが生じると、疑似欠陥と判断されてしま
い、この疑似欠陥が大きな影響を与える。
【0058】又、半導体ウエハ、液晶ディスプレイ等の
被検査体の欠陥検出に適用すれば、参照画像データ1と
検査画像データ2とを高精度に位置合わせできることか
ら、欠陥検出の精度をも高めることができる。
【0059】なお、本発明は、上記一実施例に限定され
るものでなく次の通り変形してもよい。例えば、重心算
出部19は、図4(a) に示す参照画像データ1のX方向
のパターンに対してY方向に投影処理し、この投影処理
データからX方向重心Gx1を求めるとともに、同図
(b) に示す参照画像データ1のY方向のパターンに対し
てX方向に投影処理し、この投影処理データからY方向
重心Gy1を求め、かつ図5(a) に示す検査画像データ
2のX方向のパターンに対してY方向に投影処理し、こ
の投影処理データからX方向重心Gx2を求めるととも
に、同図(b) に示す検査画像データ2のY方向のパター
ンに対してX方向に投影処理し、この投影処理データか
らY方向重心Gy2を求めるようにしてもよい。
【0060】又、図7に示すように各画素A〜Eを A´=0.9A+0.1B に従ってずらす際、図4(a)(b)に示すb1、c1、e1
の重心をそれぞれ求めて、その平均を図8に示すように
とって全体的に平均して画素をずらす方法と、図4(a)
に当て嵌めたときの例で図9に示すようにb1、c1の
重心をそれぞれ求めて、b1、c1の間を補間してその
分画素をずらす方法とが考えられる。
【0061】図4(a) ではもちろんY方向補間すること
となる。さらに、参照画像データ1と検査画像データ2
との位置ずれ量検出及びその位置合わせに限らず、各種
画像データの位置ずれ量検出及びその位置合わせに適用
でき、さらに画像データは2つに限らず複数の画像デー
タ間での位置ずれ量検出及びその位置合わせに適用でき
る。
【0062】又、2値画像のパターンマッチングによる
位置合わせと、本発明のパターン重心を求めることによ
る位置合わせとを併用しても上記同様の効果を得ること
ができる。
【0063】すなわち、図10に示すように画像データ
にエッジ部のみしかないときには、X方向、Y方向でパ
ターン切出しをすると画像がなくなるので、このような
場合には、図11に示すように2値画像のパターンマッ
チングを行って位置合わせを行う。
【0064】例えば、ステップ#10において参照画像
データをX方向、Y方向に切出し、次のステップ#11
で検査画像データをX方向、Y方向に切出す。次にステ
ップ#12においてこれら参照画像データ及び検査画像
データが、エッジ部のみであるかを判断し、エッジ部の
みでなければ、ステップ#13に移って重心測定を行
い、次のステップ#14において位置ずれ量を検出し、
次のステップ#15において位置ずれを補正する。
【0065】ところが、ステップ#12において参照画
像データ及び検査画像データが、エッジ部のみであると
判断されると、ステップ#16に移って2値画像のパタ
ーンマッチングを行い、次のステップ#17において位
置ずれ量を検出し、そしてステップ#15において位置
ずれを補正する。
【0066】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、各
画像データの線幅が異なっていもこれら画像データ間の
位置ずれ量を正確に検出できる画像処理方法及びその装
置を提供できる。
【0067】又、本発明によれば、各画像データの線幅
が異なっていもこれら画像データ間に位置ずれを発生せ
ずに位置合わせができる画像処理方法及びその装置を提
供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる画像処理装置の一実施例を示す
構成図。
【図2】同装置における画像処理フローチャート。
【図3】参照画像データ及び検査画像データを示す模式
図。
【図4】参照画像データに対してXY方向の切り出しを
行った模式図。
【図5】検査画像データに対してXY方向の切り出しを
行った模式図。
【図6】位置ずれの影響を説明するための図。
【図7】本発明の変形例である画素ずらしを示す図。
【図8】画素を全体的に平均してずらす方法を示す図。
【図9】画素を全体的に補間してずらす方法を示す図。
【図10】エッジ部のみの画像データを示す模式図。
【図11】パターンマッチングと重心測定による位置ず
れ補正を組み合わせた場合の流れ図。
【図12】従来のパターンマッチングを示す図。
【符号の説明】
10…主制御部、11…バス、12,13…画像メモ
リ、14…主画像メモリ、15,16…入力部、17…
プログラムメモリ、18…画像切り出し部、19…重心
算出部、20…位置ずれ検出部、21…位置補正部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G06T 7/60 H01L 21/027 21/66 J 7514−4M 9061−5H G06F 15/70 350 Z H01L 21/30 502 V

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも2つの画像データにおいてエ
    ッジを有するパターンを切り出す第1のステップと、 この第1のステップによりパターンの切り出された各画
    像データの重心位置を算出する第2のステップと、 この第2のステップにより算出された各重心位置から前
    記各画像データ間の位置ずれ量を検出する第3のステッ
    プと、 を有することを特徴とする画像処理方法。
  2. 【請求項2】 少なくとも2つの画像データにおいてエ
    ッジを有するパターンを切り出す第1のステップと、 この第1のステップによりパターンの切り出された各画
    像データの重心位置を算出する第2のステップと、 この第2のステップにより算出された各重心位置から前
    記各画像データ間の位置ずれ量を検出する第3のステッ
    プと、 この第3のステップにより検出された位置ずれ量に基づ
    いて前記各画像データの位置補正を行う第4のステップ
    と、を有することを特徴とする画像処理方法。
  3. 【請求項3】 第3のステップは、各重心位置の平均か
    ら各画像データ間の位置ずれ量を検出することを特徴と
    する請求項1又は2記載の画像処理方法。
  4. 【請求項4】 少なくとも2つの画像データに対してそ
    れぞれX方向及びY方向に走査し、前記各画像データに
    おける端に掛かるパターンを削除してエッジを有するパ
    ターンを切り出しすることを特徴とする請求項1又は2
    記載の画像処理方法。
  5. 【請求項5】 少なくとも2つの画像データにおけるエ
    ッジを有するパターンを切り出す画像切り出し手段と、 この画像切り出し手段によりパターンの切り出された各
    画像データの重心位置を算出する重心算出手段と、 この重心算出手段により算出された各重心位置から前記
    各画像データ間の位置ずれ量を検出する位置ずれ量検出
    手段と、を有することを特徴とする画像処理装置。
  6. 【請求項6】 少なくとも2つの画像データにおけるエ
    ッジを有するパターンを切り出す画像切り出し手段と、 この画像切り出し手段によりパターンの切り出された各
    画像データの重心位置を算出する重心算出手段と、 この重心算出手段により算出された各重心位置から前記
    各画像データ間の位置ずれ量を検出する位置ずれ量検出
    手段と、 この位置ずれ量検出手段により検出された位置ずれ量に
    基づいて前記各画像データの位置補正を行う位置補正手
    段と、を有することを特徴とする画像処理装置。
  7. 【請求項7】 位置ずれ量検出手段は、各重心位置の平
    均から各画像データ間の位置ずれ量を検出することを特
    徴とする請求項5又は6記載の画像処理装置。
  8. 【請求項8】 画像切り出し手段は、少なくとも2つの
    画像データに対してそれぞれX方向及びY方向に走査
    し、前記各画像データにおける端に掛かるパターンを削
    除してエッジの有するパターンを切り出しすることを特
    徴とする請求項5又は6記載の画像処理装置。
JP6165168A 1994-07-18 1994-07-18 画像処理方法及びその装置 Pending JPH0829117A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6165168A JPH0829117A (ja) 1994-07-18 1994-07-18 画像処理方法及びその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6165168A JPH0829117A (ja) 1994-07-18 1994-07-18 画像処理方法及びその装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0829117A true JPH0829117A (ja) 1996-02-02

Family

ID=15807157

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6165168A Pending JPH0829117A (ja) 1994-07-18 1994-07-18 画像処理方法及びその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0829117A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009157325A (ja) * 2007-12-28 2009-07-16 V Technology Co Ltd 露光照明装置及び露光パターンの位置ずれ調整方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009157325A (ja) * 2007-12-28 2009-07-16 V Technology Co Ltd 露光照明装置及び露光パターンの位置ずれ調整方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8433128B2 (en) Method of creating three-dimensional model and object recognizing device
US20100156896A1 (en) Method of creating three-dimensional model and object recognizing device
US20010055415A1 (en) Pattern inspection method and pattern inspection device
US6549648B1 (en) Method for determining a position of a structural element on a substrate
US20040264759A1 (en) Pattern inspection method and apparatus, and pattern alignment method
US20050265595A1 (en) Size checking method and apparatus
JPH0618243A (ja) Icの傾き検査方法
JP3706051B2 (ja) パターン検査装置および方法
JP2001133418A (ja) 形状特徴に基づく欠陥検出の方法及び装置
JP3448041B2 (ja) パターン欠陥検査装置
US10102631B2 (en) Edge detection bias correction value calculation method, edge detection bias correction method, and edge detection bias correcting program
KR19990067943A (ko) 자동 비쥬얼 검사 장치, 자동 비쥬얼 검사 방법, 및 자동 비쥬얼 검사 프로그램이 기록된 기록 매체
JPH11153550A (ja) 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
US20110286685A1 (en) Image formation method and image formation device
JP2008014700A (ja) ワークの検査方法及びワーク検査装置
US20130011080A1 (en) Image Processing Apparatus, Image Processing Method, and Image Processing Program
US6965687B2 (en) Size checking method and apparatus
US20230386020A1 (en) Image processing apparatus, method of controlling the same, and storage medium
JPH0829117A (ja) 画像処理方法及びその装置
JP3187107B2 (ja) パターン検査装置
JP2003279319A (ja) 寸法検査方法及びその装置並びにマスクの製造方法
JP2009139166A (ja) 画像欠陥検査方法および画像欠陥検査装置
JP3990002B2 (ja) 画像測定装置
JP4158349B2 (ja) 画像処理による寸法計測方法およびその装置
CN113077478A (zh) 显示面板的对位方法、补偿方法、系统及可读存储介质