JPH08278113A - 瓶口の開口天面欠陥検査方法 - Google Patents
瓶口の開口天面欠陥検査方法Info
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- JPH08278113A JPH08278113A JP10827995A JP10827995A JPH08278113A JP H08278113 A JPH08278113 A JP H08278113A JP 10827995 A JP10827995 A JP 10827995A JP 10827995 A JP10827995 A JP 10827995A JP H08278113 A JPH08278113 A JP H08278113A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 従来困難であった天咬出し、天流れ、あわ・
傷又は筋付き等の欠陥を自動的、連続的に低コストで安
定的に行うことが可能な瓶口の開口天面欠陥の検査方法
を得る。 【構成】 検査位置に置かれ回転手段により回転される
被検査瓶と、被検査瓶の開口天面１上より見て前記被検
査瓶を中心として周囲に設けたＣＣＤイメージセンサー
５と、ＣＣＤイメージセンサー側とＣＣＤイメージセン
サーの対向位置及び対向位置の左右両方もしくはいずれ
か一方に投光器をそれぞれ配設し、ＣＣＤイメージセン
サー及び前記投光器を水平面に対し瓶内側エッジがのぞ
ける投光角度をもたせて、投光器からの投光により欠陥
を検知する。
傷又は筋付き等の欠陥を自動的、連続的に低コストで安
定的に行うことが可能な瓶口の開口天面欠陥の検査方法
を得る。 【構成】 検査位置に置かれ回転手段により回転される
被検査瓶と、被検査瓶の開口天面１上より見て前記被検
査瓶を中心として周囲に設けたＣＣＤイメージセンサー
５と、ＣＣＤイメージセンサー側とＣＣＤイメージセン
サーの対向位置及び対向位置の左右両方もしくはいずれ
か一方に投光器をそれぞれ配設し、ＣＣＤイメージセン
サー及び前記投光器を水平面に対し瓶内側エッジがのぞ
ける投光角度をもたせて、投光器からの投光により欠陥
を検知する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、製瓶又は瓶充填工場ラ
インにおいて、自動化に適した瓶口の開口天面欠陥の検
査方法に関する。
インにおいて、自動化に適した瓶口の開口天面欠陥の検
査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、製瓶又は瓶充填工場ラインにおい
ては、瓶口の開口天面欠陥の検査は目視で行われていた
が、特公平５−４０８４６号公報には、検査位置に置か
れた瓶の開口天面全幅員の反射光をイメージセンサーで
受光し、全幅員が規定値以上の場合、天咬出しの幅員を
規定値と比較し、規定値以上の場合、仮想天咬出しと
し、次いで、天咬出しの最高レベル値と天咬出し部の幅
員との比から仮想天咬出しの頂角を求め、該頂角が規定
値以下のとき仮想天咬出しのディップ幅を算出し、該デ
ィップ幅が規定値以上であれば不良品と判定する方法が
記載されている。
ては、瓶口の開口天面欠陥の検査は目視で行われていた
が、特公平５−４０８４６号公報には、検査位置に置か
れた瓶の開口天面全幅員の反射光をイメージセンサーで
受光し、全幅員が規定値以上の場合、天咬出しの幅員を
規定値と比較し、規定値以上の場合、仮想天咬出しと
し、次いで、天咬出しの最高レベル値と天咬出し部の幅
員との比から仮想天咬出しの頂角を求め、該頂角が規定
値以下のとき仮想天咬出しのディップ幅を算出し、該デ
ィップ幅が規定値以上であれば不良品と判定する方法が
記載されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、目視では細か
な欠陥は識別困難であり、生産性も低いし、また、特公
平５−４０８４６号公報記載の方法では、ディップ幅が
小さい、瓶口先端に突出した天咬出し（例えば図５ａ記
載のもの）、天流れ（例えば図７ａ記載のもの）、あ
わ、傷又は筋付き（例えば図８ａ記載のもの）等の欠陥
は検出困難である。また、瓶の開口天面全幅員の反射光
を使用しており、投光器の光量の安定が必要であり、外
乱光の影響を受けやすく、このため不安定化と設備コス
ト高を招くという問題を有していた。本発明は、従来検
出困難であった天咬出し、天流れ、あわ、傷又は筋付き
等の欠陥を連続的に低コストで安定的に検出することが
可能な瓶口の開口天面欠陥の検査方法を得ることを目的
とする。
な欠陥は識別困難であり、生産性も低いし、また、特公
平５−４０８４６号公報記載の方法では、ディップ幅が
小さい、瓶口先端に突出した天咬出し（例えば図５ａ記
載のもの）、天流れ（例えば図７ａ記載のもの）、あ
わ、傷又は筋付き（例えば図８ａ記載のもの）等の欠陥
は検出困難である。また、瓶の開口天面全幅員の反射光
を使用しており、投光器の光量の安定が必要であり、外
乱光の影響を受けやすく、このため不安定化と設備コス
ト高を招くという問題を有していた。本発明は、従来検
出困難であった天咬出し、天流れ、あわ、傷又は筋付き
等の欠陥を連続的に低コストで安定的に検出することが
可能な瓶口の開口天面欠陥の検査方法を得ることを目的
とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は前記目的を達成
するために、瓶口の開口天面欠陥検査方法において、検
査位置に置かれ回転手段により回転される被検査瓶と、
前記被検査瓶の開口天面上より見て前記被検査瓶を中心
として周囲に設けたＣＣＤイメージセンサーと、前記Ｃ
ＣＤイメージセンサー側と前記ＣＣＤイメージセンサー
の対向位置及び前記対向位置の左右いずれか一方とに投
光器をそれぞれ配設し、前記ＣＣＤイメージセンサー及
び前記各投光器を水平面に対し瓶内側エッジがのぞける
投光角度をもたせて、各投光器からの投光により、 １）良品瓶に対しては前記瓶内側エッジからの反射光を
前記ＣＣＤイメージセンサーによる受光によりの一重の
弧状の像を画かしめ、 ２）天面欠陥瓶に対しては天面全幅員からの反射光で前
記瓶内側エッジからの反射光を前記ＣＣＤイメージセン
サーによる受光により良品の場合より太い一重の弧状又
は多重の弧状の像を画かしめ、前記ＣＣＤイメージセン
サーによる受光波形のうち前記良品瓶に対する一重の弧
状の像から算出された規定範囲を越えた幅員を有する一
重の弧状又は多重の弧状を画いた前記被検査瓶を天面欠
陥瓶となすことにより達成した。また、前記瓶口の開口
天面欠陥検査方法において、良品瓶に対する一重の弧状
の受光波形に設定したしきい値に対応する幅員に良品瓶
の変動値を加算して良品判定幅員とし、検査位置に置か
れた被検査瓶を回転手段により回転し前記良品判定幅員
を越えた前記被検査瓶を仮想欠陥瓶として、前記仮想欠
陥瓶の規定数以上の連続検出により前記被検査瓶を天面
欠陥瓶となすのが望ましい。また、瓶口の開口天面欠陥
検査方法において、検査位置に置かれ回転手段により回
転される被検査瓶と、前記被検査瓶の開口天面上より見
て前記被検査瓶を中心として周囲に設けたＣＣＤイメー
ジセンサーと、前記ＣＣＤイメージセンサー側と前記Ｃ
ＣＤイメージセンサーの対向位置及び前記対向位置の左
右いずれか一方に投光器をそれぞれ配設し、前記ＣＣＤ
イメージセンサー及び前記投光器を水平面に対し瓶内側
エッジがのぞける投光角度をもたせて、前記投光器から
の投光により、 １）良品瓶に対しては前記瓶内側エッジからの反射光を
前記ＣＣＤイメージセンサーによる受光により一重の弧
状の像を画かしめ、 ２）天面欠陥瓶に対しては天面全幅員からの反射光で前
記瓶内側エッジからのとぎれた反射光か、または少ない
反射光を前記ＣＣＤイメージセンサーによる受光により
一重の弧状又は多重の弧状の像を画かしめ、前記ＣＣＤ
イメージセンサーによる受光波形のうち前記良品瓶に対
する一重の弧状の像から算出された規定範囲を越えた幅
員を確立できない一重の弧状又は多重の弧状を画いた前
記被検査瓶を天面欠陥瓶となすのが好ましい。また、前
記瓶口の開口天面欠陥検査方法において、瓶口の天面欠
陥が、少なくとも天咬出し、天流れ、あわ、傷又は筋付
きのいずれかよりなるものとすることができる。また、
前記瓶口の開口天面欠陥検査方法において、ＣＣＤイメ
ージセンサー及び各投光器の水平面に対する投光角度
は、瓶内側エッジからの反射光をＣＣＤイメージセンサ
ーにより受光できる角度であれば良いが、ＣＣＤイメー
ジセンサーを水平面に対し３０度〜７０度、好ましくは
５０度〜７０度の投光角度をもたせ、投光器を水平面に
対し１５度〜６０度、好ましくは３０度〜４５度の投光
角度をもたせるのが望ましい。また、前記瓶口の開口天
面欠陥検査方法において、ＣＣＤイメージセンサーの瓶
口に対する受光傾き角度を３０〜７０度、好ましくは４
０〜５０度にもたせるのが望ましい。ここで、ＣＣＤイ
メージセンサーは通常ＣＣＤカメラであるが、投受光エ
リア内であれば、１次元若しくは２次元のＣＣＤカメラ
であっても良い。
するために、瓶口の開口天面欠陥検査方法において、検
査位置に置かれ回転手段により回転される被検査瓶と、
前記被検査瓶の開口天面上より見て前記被検査瓶を中心
として周囲に設けたＣＣＤイメージセンサーと、前記Ｃ
ＣＤイメージセンサー側と前記ＣＣＤイメージセンサー
の対向位置及び前記対向位置の左右いずれか一方とに投
光器をそれぞれ配設し、前記ＣＣＤイメージセンサー及
び前記各投光器を水平面に対し瓶内側エッジがのぞける
投光角度をもたせて、各投光器からの投光により、 １）良品瓶に対しては前記瓶内側エッジからの反射光を
前記ＣＣＤイメージセンサーによる受光によりの一重の
弧状の像を画かしめ、 ２）天面欠陥瓶に対しては天面全幅員からの反射光で前
記瓶内側エッジからの反射光を前記ＣＣＤイメージセン
サーによる受光により良品の場合より太い一重の弧状又
は多重の弧状の像を画かしめ、前記ＣＣＤイメージセン
サーによる受光波形のうち前記良品瓶に対する一重の弧
状の像から算出された規定範囲を越えた幅員を有する一
重の弧状又は多重の弧状を画いた前記被検査瓶を天面欠
陥瓶となすことにより達成した。また、前記瓶口の開口
天面欠陥検査方法において、良品瓶に対する一重の弧状
の受光波形に設定したしきい値に対応する幅員に良品瓶
の変動値を加算して良品判定幅員とし、検査位置に置か
れた被検査瓶を回転手段により回転し前記良品判定幅員
を越えた前記被検査瓶を仮想欠陥瓶として、前記仮想欠
陥瓶の規定数以上の連続検出により前記被検査瓶を天面
欠陥瓶となすのが望ましい。また、瓶口の開口天面欠陥
検査方法において、検査位置に置かれ回転手段により回
転される被検査瓶と、前記被検査瓶の開口天面上より見
て前記被検査瓶を中心として周囲に設けたＣＣＤイメー
ジセンサーと、前記ＣＣＤイメージセンサー側と前記Ｃ
ＣＤイメージセンサーの対向位置及び前記対向位置の左
右いずれか一方に投光器をそれぞれ配設し、前記ＣＣＤ
イメージセンサー及び前記投光器を水平面に対し瓶内側
エッジがのぞける投光角度をもたせて、前記投光器から
の投光により、 １）良品瓶に対しては前記瓶内側エッジからの反射光を
前記ＣＣＤイメージセンサーによる受光により一重の弧
状の像を画かしめ、 ２）天面欠陥瓶に対しては天面全幅員からの反射光で前
記瓶内側エッジからのとぎれた反射光か、または少ない
反射光を前記ＣＣＤイメージセンサーによる受光により
一重の弧状又は多重の弧状の像を画かしめ、前記ＣＣＤ
イメージセンサーによる受光波形のうち前記良品瓶に対
する一重の弧状の像から算出された規定範囲を越えた幅
員を確立できない一重の弧状又は多重の弧状を画いた前
記被検査瓶を天面欠陥瓶となすのが好ましい。また、前
記瓶口の開口天面欠陥検査方法において、瓶口の天面欠
陥が、少なくとも天咬出し、天流れ、あわ、傷又は筋付
きのいずれかよりなるものとすることができる。また、
前記瓶口の開口天面欠陥検査方法において、ＣＣＤイメ
ージセンサー及び各投光器の水平面に対する投光角度
は、瓶内側エッジからの反射光をＣＣＤイメージセンサ
ーにより受光できる角度であれば良いが、ＣＣＤイメー
ジセンサーを水平面に対し３０度〜７０度、好ましくは
５０度〜７０度の投光角度をもたせ、投光器を水平面に
対し１５度〜６０度、好ましくは３０度〜４５度の投光
角度をもたせるのが望ましい。また、前記瓶口の開口天
面欠陥検査方法において、ＣＣＤイメージセンサーの瓶
口に対する受光傾き角度を３０〜７０度、好ましくは４
０〜５０度にもたせるのが望ましい。ここで、ＣＣＤイ
メージセンサーは通常ＣＣＤカメラであるが、投受光エ
リア内であれば、１次元若しくは２次元のＣＣＤカメラ
であっても良い。
【０００５】
【作用】ＣＣＤイメージセンサーと各投光器の配設位置
及び水平面に対する鋭角の投光角度により、天咬出し、
天流れ、あわ、傷又は筋付きの瓶の欠陥の検知に有効に
作用する。投光器からの投光により、良品瓶に対しては
瓶内側エッジからの反射光をＣＣＤイメージセンサーに
よる受光により一重の弧状の受光波形を画かしめ、天面
欠陥瓶に対しては天面全幅員からの反射光で瓶内側エッ
ジからの反射光をＣＣＤイメージセンサーによる受光に
より一重の弧状又は多重の弧状の受光波形を画かしめ
て、ＣＣＤイメージセンサーによる受光波形のうち良品
瓶に対する一重の弧状の受光波形から算出された規定範
囲を越えた幅員を有するか幅員の確立しない一重の弧状
又は多重の弧状を画いた被検査瓶を天面欠陥瓶となすこ
ととしたため、天咬出し、天流れ、あわ、傷又は筋付き
等の形状の異なる各種瓶の欠陥の検知を有効に行うこと
ができる。また、良品瓶に対する一重の弧状の受光波形
に設定したしきい値に対応する幅員に良品瓶の変動値を
加算して良品判定幅員とし、検査位置に置かれた被検査
瓶を回転手段により回転し良品判定幅員を越えた被検査
瓶を仮想欠陥瓶として計数し、仮想欠陥瓶の規定数以上
の連続検出により前記被検査瓶を天面欠陥瓶となすこと
としたため、形状のことなる各種瓶の欠陥の検知を連続
的に低コストで安定的に検出を行うことができる。
及び水平面に対する鋭角の投光角度により、天咬出し、
天流れ、あわ、傷又は筋付きの瓶の欠陥の検知に有効に
作用する。投光器からの投光により、良品瓶に対しては
瓶内側エッジからの反射光をＣＣＤイメージセンサーに
よる受光により一重の弧状の受光波形を画かしめ、天面
欠陥瓶に対しては天面全幅員からの反射光で瓶内側エッ
ジからの反射光をＣＣＤイメージセンサーによる受光に
より一重の弧状又は多重の弧状の受光波形を画かしめ
て、ＣＣＤイメージセンサーによる受光波形のうち良品
瓶に対する一重の弧状の受光波形から算出された規定範
囲を越えた幅員を有するか幅員の確立しない一重の弧状
又は多重の弧状を画いた被検査瓶を天面欠陥瓶となすこ
ととしたため、天咬出し、天流れ、あわ、傷又は筋付き
等の形状の異なる各種瓶の欠陥の検知を有効に行うこと
ができる。また、良品瓶に対する一重の弧状の受光波形
に設定したしきい値に対応する幅員に良品瓶の変動値を
加算して良品判定幅員とし、検査位置に置かれた被検査
瓶を回転手段により回転し良品判定幅員を越えた被検査
瓶を仮想欠陥瓶として計数し、仮想欠陥瓶の規定数以上
の連続検出により前記被検査瓶を天面欠陥瓶となすこと
としたため、形状のことなる各種瓶の欠陥の検知を連続
的に低コストで安定的に検出を行うことができる。
【０００６】
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。図１は、本発明の一実施例の概略を示すブロ
ック図である。図２は、本発明の一実施例に使用される
投光器、瓶及びＣＣＤカメラの位置関係を示す概略平面
図である。図３は、本発明の一実施例に使用される投光
器、瓶及びＣＣＤカメラの位置関係を示す概略側面図で
ある。図４は、良品瓶について本発明の一実施例の概略
を示す概略図である。図５は、天咬出しの瓶について本
発明の一実施例の概略説明図である。図６は、天咬出し
の瓶について本発明の他の一実施例の概略説明図であ
る。図７は、天流れの瓶について本発明の一実施例の概
略説明図である。図８は、あわ、傷又は筋付きの瓶につ
いて本発明の一実施例の概略説明図である。図９は、天
咬出しの瓶について本発明の他の一実施例の概略説明図
である。
説明する。図１は、本発明の一実施例の概略を示すブロ
ック図である。図２は、本発明の一実施例に使用される
投光器、瓶及びＣＣＤカメラの位置関係を示す概略平面
図である。図３は、本発明の一実施例に使用される投光
器、瓶及びＣＣＤカメラの位置関係を示す概略側面図で
ある。図４は、良品瓶について本発明の一実施例の概略
を示す概略図である。図５は、天咬出しの瓶について本
発明の一実施例の概略説明図である。図６は、天咬出し
の瓶について本発明の他の一実施例の概略説明図であ
る。図７は、天流れの瓶について本発明の一実施例の概
略説明図である。図８は、あわ、傷又は筋付きの瓶につ
いて本発明の一実施例の概略説明図である。図９は、天
咬出しの瓶について本発明の他の一実施例の概略説明図
である。
【０００７】図２及び図３において、瓶開口天面１上よ
り見て検査対象の瓶１８を中心として周囲にＣＣＤイメ
ージセンサーであるＣＣＤカメラ５側に投光器２０、Ｃ
ＣＤカメラ５の対向位置に投光器１６、投光器１６の左
右に投光器１５及び１７をそれぞれ配設してある。ＣＣ
Ｄカメラ受光角度θ１は水平面に対し５０〜７０度好ま
しくは６０度にとってある。投光器１６の投光角度は水
平面に対しθ２、投光器１５及び１７の投光角度は水平
面に対しθ３、投光器２０の投光角度はθ４はそれぞれ
水平面に対し３０〜４５度好ましくは３０度にとってあ
る。ＣＣＤカメラ５に代えて、投受光エリア内であれ
ば、２次元のＣＣＤカメラを使用しても良いが、その場
合受光エリアは、瓶の芯振れ吸収のため狭く取る必要が
ある。ＣＣＤカメラ５は図１に示すように、瓶口に対す
る受光傾き角度θ５をもたせ、通常４０〜５０度好まし
くは４５度にとって配設されている。検査対象の瓶は、
瓶の処理装置（図示省略）により、図２及び図３に示す
検査位置へ送られ、瓶検査位置で移動が停止し、瓶を押
さえているローラーの回転により瓶を回転させる瓶回転
装置（図示省略）により、少なくとも１回転している間
に天面全周（図３において瓶咬出し部２について）検査
を行い、良否判定を行い、不良品は製瓶又は瓶充填工場
ラインから排除される。
り見て検査対象の瓶１８を中心として周囲にＣＣＤイメ
ージセンサーであるＣＣＤカメラ５側に投光器２０、Ｃ
ＣＤカメラ５の対向位置に投光器１６、投光器１６の左
右に投光器１５及び１７をそれぞれ配設してある。ＣＣ
Ｄカメラ受光角度θ１は水平面に対し５０〜７０度好ま
しくは６０度にとってある。投光器１６の投光角度は水
平面に対しθ２、投光器１５及び１７の投光角度は水平
面に対しθ３、投光器２０の投光角度はθ４はそれぞれ
水平面に対し３０〜４５度好ましくは３０度にとってあ
る。ＣＣＤカメラ５に代えて、投受光エリア内であれ
ば、２次元のＣＣＤカメラを使用しても良いが、その場
合受光エリアは、瓶の芯振れ吸収のため狭く取る必要が
ある。ＣＣＤカメラ５は図１に示すように、瓶口に対す
る受光傾き角度θ５をもたせ、通常４０〜５０度好まし
くは４５度にとって配設されている。検査対象の瓶は、
瓶の処理装置（図示省略）により、図２及び図３に示す
検査位置へ送られ、瓶検査位置で移動が停止し、瓶を押
さえているローラーの回転により瓶を回転させる瓶回転
装置（図示省略）により、少なくとも１回転している間
に天面全周（図３において瓶咬出し部２について）検査
を行い、良否判定を行い、不良品は製瓶又は瓶充填工場
ラインから排除される。
【０００８】図４〜図８は、各種瓶についての検査方法
を示す概略説明図であるが、説明しやすいように、ＣＣ
Ｄカメラ５と投光器１５、１６、１７、２０の位置が図
１〜２とでは左右入れ違えてある。投光器１６は、図４
に示す良品瓶２５の瓶内側エッジ３０からの反射光が十
分ＣＣＤカメラ５で受光できる角度に設置されている。
また、投光器１６は、図５に示す天咬出しの瓶２６の瓶
内側エッジ３１の天咬出しエッジからの反射光が十分Ｃ
ＣＤカメラ５で受光できる角度に設置されている。また
投光器１６は、図７に示す天流れの瓶２８の瓶内側エッ
ジ３３の天流れエッジからの反射光が十分ＣＣＤカメラ
５で受光できる角度に設置されている。投光器２０は、
図５とは別の図６に示す天咬出しの瓶２７の瓶内側エッ
ジ３２の外側根元部からの反射光が十分ＣＣＤカメラ５
で受光できる角度に設置されている。投光器１５、１６
及び１７は、図８に示すあわ、傷又は筋付きの瓶２９に
おいて特に筋からの反射光が十分ＣＣＤカメラ５で受光
できる角度に設置されている。 ＣＣＤカメラ５は図１
に示すように、瓶口に対する受光傾き角度θ５を設けて
ＣＣＤカメラスキャンエリア３を斜めに設定しているの
で、天咬出しの瓶の幅員Ｈ２を長くとることができる。
また、特に筋付き欠陥に対して、ＣＣＤカメラスキャン
エリア３のスキャン回数が多くなり、欠陥検出を安定的
に行うことができる。
を示す概略説明図であるが、説明しやすいように、ＣＣ
Ｄカメラ５と投光器１５、１６、１７、２０の位置が図
１〜２とでは左右入れ違えてある。投光器１６は、図４
に示す良品瓶２５の瓶内側エッジ３０からの反射光が十
分ＣＣＤカメラ５で受光できる角度に設置されている。
また、投光器１６は、図５に示す天咬出しの瓶２６の瓶
内側エッジ３１の天咬出しエッジからの反射光が十分Ｃ
ＣＤカメラ５で受光できる角度に設置されている。また
投光器１６は、図７に示す天流れの瓶２８の瓶内側エッ
ジ３３の天流れエッジからの反射光が十分ＣＣＤカメラ
５で受光できる角度に設置されている。投光器２０は、
図５とは別の図６に示す天咬出しの瓶２７の瓶内側エッ
ジ３２の外側根元部からの反射光が十分ＣＣＤカメラ５
で受光できる角度に設置されている。投光器１５、１６
及び１７は、図８に示すあわ、傷又は筋付きの瓶２９に
おいて特に筋からの反射光が十分ＣＣＤカメラ５で受光
できる角度に設置されている。 ＣＣＤカメラ５は図１
に示すように、瓶口に対する受光傾き角度θ５を設けて
ＣＣＤカメラスキャンエリア３を斜めに設定しているの
で、天咬出しの瓶の幅員Ｈ２を長くとることができる。
また、特に筋付き欠陥に対して、ＣＣＤカメラスキャン
エリア３のスキャン回数が多くなり、欠陥検出を安定的
に行うことができる。
【０００９】ＣＣＤカメラ５は、投受光エリア４内のＣ
ＣＤカメラスキャンエリア３で光電変換をするが、図４
（ａ）に示す良品瓶２５の場合には、投光器１６よりの
光は瓶内側エッジ３０にあたり反射光がＣＣＤカメラ５
で受光され、図４（ｂ）に示す一重の弧状の受光波形Ｔ
１を発生する。ここで示されるＳはしきい値を示し、Ｈ
１は良品瓶の幅員を示す。図５（ａ）に示す天咬出しの
瓶２６の場合には、投光器１６よりの光は瓶内側エッジ
３１にあたり反射光がＣＣＤカメラ５で受光され、図５
（ｂ）に示す二重の弧状の受光波形Ｔ２を発生する。こ
こで示されるＳはしきい値を示し、Ｈ２は天咬出しの瓶
の幅員を示す。図６（ａ）に示す天咬出しの瓶２７の場
合には、投光器１６及び２０よりの光は瓶内側エッジ３
２にあたり反射光がＣＣＤカメラ５で受光され、図６
（ｂ）に示す二重の弧状の受光波形Ｔ３を発生する。こ
こで示されるＳはしきい値を示し、Ｈ３は天咬出しの瓶
の幅員を示す。図７（ａ）に示す天流れの瓶２８の場合
には、投光器１６よりの光は瓶内側エッジ３３にあたり
反射光がＣＣＤカメラ５で受光され、図７（ｂ）に示す
一重の弧状の受光波形Ｔ４を発生する。ここで示される
Ｓはしきい値を示し、Ｈ４は天咬出しの瓶の幅員を示
す。図８（ａ）に示すあわ、傷又は筋付きの瓶２９の場
合には、投光器１５、１６、１７よりの光は瓶内側エッ
ジ３４にあたり反射光がＣＣＤカメラ５で受光され、図
８（ｂ）に示す多重の弧状の受光波形Ｔ５を発生する。
ここで示されるＳはしきい値を示し、Ｈ５はあわ、傷又
は筋付きの瓶の幅員を示す。図９（ａ）に示す天流れの
瓶３５の場合には、投光器１６よりの光は瓶内側エッジ
３６にあたり反射光がＣＣＤカメラ５で受光されるが、
図９（ｂ）に示すように二重の弧状の受光波形Ｔ６を発
生するが、しきい値を越えることができず、エッジの幅
員が確立しない。ここで示されるＳはしきい値を示す。
ＣＤカメラスキャンエリア３で光電変換をするが、図４
（ａ）に示す良品瓶２５の場合には、投光器１６よりの
光は瓶内側エッジ３０にあたり反射光がＣＣＤカメラ５
で受光され、図４（ｂ）に示す一重の弧状の受光波形Ｔ
１を発生する。ここで示されるＳはしきい値を示し、Ｈ
１は良品瓶の幅員を示す。図５（ａ）に示す天咬出しの
瓶２６の場合には、投光器１６よりの光は瓶内側エッジ
３１にあたり反射光がＣＣＤカメラ５で受光され、図５
（ｂ）に示す二重の弧状の受光波形Ｔ２を発生する。こ
こで示されるＳはしきい値を示し、Ｈ２は天咬出しの瓶
の幅員を示す。図６（ａ）に示す天咬出しの瓶２７の場
合には、投光器１６及び２０よりの光は瓶内側エッジ３
２にあたり反射光がＣＣＤカメラ５で受光され、図６
（ｂ）に示す二重の弧状の受光波形Ｔ３を発生する。こ
こで示されるＳはしきい値を示し、Ｈ３は天咬出しの瓶
の幅員を示す。図７（ａ）に示す天流れの瓶２８の場合
には、投光器１６よりの光は瓶内側エッジ３３にあたり
反射光がＣＣＤカメラ５で受光され、図７（ｂ）に示す
一重の弧状の受光波形Ｔ４を発生する。ここで示される
Ｓはしきい値を示し、Ｈ４は天咬出しの瓶の幅員を示
す。図８（ａ）に示すあわ、傷又は筋付きの瓶２９の場
合には、投光器１５、１６、１７よりの光は瓶内側エッ
ジ３４にあたり反射光がＣＣＤカメラ５で受光され、図
８（ｂ）に示す多重の弧状の受光波形Ｔ５を発生する。
ここで示されるＳはしきい値を示し、Ｈ５はあわ、傷又
は筋付きの瓶の幅員を示す。図９（ａ）に示す天流れの
瓶３５の場合には、投光器１６よりの光は瓶内側エッジ
３６にあたり反射光がＣＣＤカメラ５で受光されるが、
図９（ｂ）に示すように二重の弧状の受光波形Ｔ６を発
生するが、しきい値を越えることができず、エッジの幅
員が確立しない。ここで示されるＳはしきい値を示す。
【００１０】更に、図１に従い本発明の瓶口の開口天面
欠陥検査方法につき説明する。ＣＣＤカメラ５の出力で
ある良品瓶２５の受光波形Ｔ１のアナログ信号はしきい
値手段６により予め設定されたしきい値Ｓにより選別さ
れ、しきい値メモリ９にメモリされ、そのメモリデータ
ーは、天面エッジ幅員検出手段７により、良品瓶２５の
幅員Ｈ１が測定され、良品瓶の変動値を加算した値を良
品判定値Ｈとして幅員判定手段８に設定する。ここで、
しきい値手段６は、例えばディジタル化された８ｂｉｔ
アナログデータに対して、しきい値は８ｂｉｔディジタ
ル化されたアナログＤＣ電圧と比較し、しきい値以上の
信号は“１”、しきい値以下の信号は“０”と判定する
２値化処理装置が望ましい。また、天面エッジ幅員検出
手段７は、例えばメモリ出力データーより“１”“０”
を検索し、最初の“１”から最後の“１”までのアドレ
ス数をカウントしてその数を天面エッジ幅員とする処理
装置が望ましい。また、幅員判定手段８は、例えば良品
判定値Ｈと天面エッジ幅員検出手段７により出力される
天面エッジ幅員を比較する処理装置が望ましい。また、
天面欠陥検出手段１０は、例えば予め設定された仮想欠
陥瓶数の許容値と比較され、その許容値以下の場合は良
品、許容値以上の場合は不良品と判定する装置が望まし
い。
欠陥検査方法につき説明する。ＣＣＤカメラ５の出力で
ある良品瓶２５の受光波形Ｔ１のアナログ信号はしきい
値手段６により予め設定されたしきい値Ｓにより選別さ
れ、しきい値メモリ９にメモリされ、そのメモリデータ
ーは、天面エッジ幅員検出手段７により、良品瓶２５の
幅員Ｈ１が測定され、良品瓶の変動値を加算した値を良
品判定値Ｈとして幅員判定手段８に設定する。ここで、
しきい値手段６は、例えばディジタル化された８ｂｉｔ
アナログデータに対して、しきい値は８ｂｉｔディジタ
ル化されたアナログＤＣ電圧と比較し、しきい値以上の
信号は“１”、しきい値以下の信号は“０”と判定する
２値化処理装置が望ましい。また、天面エッジ幅員検出
手段７は、例えばメモリ出力データーより“１”“０”
を検索し、最初の“１”から最後の“１”までのアドレ
ス数をカウントしてその数を天面エッジ幅員とする処理
装置が望ましい。また、幅員判定手段８は、例えば良品
判定値Ｈと天面エッジ幅員検出手段７により出力される
天面エッジ幅員を比較する処理装置が望ましい。また、
天面欠陥検出手段１０は、例えば予め設定された仮想欠
陥瓶数の許容値と比較され、その許容値以下の場合は良
品、許容値以上の場合は不良品と判定する装置が望まし
い。
【００１１】また、スキャンコントロール手段１１は、
例えば最大周期０．３ｍｓｅｃで繰り返しスキャンを行
い、ＣＣＤカメラ５、しきい値手段６、天面エッジ幅員
検出手段７、幅員判定手段８、しきい値メモリ９及び天
面欠陥検出手段１０が同期して処理を行うための信号発
生装置である。起動は、瓶が瓶検査位置で移動が停止し
たときフォトセンサーにより感知して行うものが望まし
い。また、本発明の検査方法において、しきい値Ｓは、
例えば、カメラ５に入射されるビンの反射光量は、約４
０ルックス程度とし、ＣＣＤカメラ５の露光時間を０．
３ｍ秒で５０ｍｍレンズをしぼり値ｆ２．８で使用する
とフルスケール２５５のデジタル量に対して３０程度で
使用される。そして、良品瓶２５の幅員Ｈ１は、瓶内側
エッジ反射光をＣＣＤカメラ５で受光した時のＣＣＤカ
メラ５の出力波形をしきい値Ｓ以上の幅を表し、例え
ば、ＣＣＤカメラ５の素子数２０４８に対して２０程度
である。さらに、良品瓶２５の幅員Ｈ１の変動値は、ビ
ン回転手段による心振れ精度と良品瓶２５の真円度によ
る瓶口の心振れによる、反射光量、反射幅の変動を表
し、例えば、ＣＣＤカメラ５の素子数２０４８に対し
て、３０程度である。また、仮想欠陥瓶と判定されたス
キャンが、何スキャン連続したかを判定する数値であ
り、瓶口の円周方向における欠陥の大きさを表し、表面
に付着しているチリ、ホコリ等と区別するための数値で
あり、本実施例では、例えば、２〜４で設定される。
例えば最大周期０．３ｍｓｅｃで繰り返しスキャンを行
い、ＣＣＤカメラ５、しきい値手段６、天面エッジ幅員
検出手段７、幅員判定手段８、しきい値メモリ９及び天
面欠陥検出手段１０が同期して処理を行うための信号発
生装置である。起動は、瓶が瓶検査位置で移動が停止し
たときフォトセンサーにより感知して行うものが望まし
い。また、本発明の検査方法において、しきい値Ｓは、
例えば、カメラ５に入射されるビンの反射光量は、約４
０ルックス程度とし、ＣＣＤカメラ５の露光時間を０．
３ｍ秒で５０ｍｍレンズをしぼり値ｆ２．８で使用する
とフルスケール２５５のデジタル量に対して３０程度で
使用される。そして、良品瓶２５の幅員Ｈ１は、瓶内側
エッジ反射光をＣＣＤカメラ５で受光した時のＣＣＤカ
メラ５の出力波形をしきい値Ｓ以上の幅を表し、例え
ば、ＣＣＤカメラ５の素子数２０４８に対して２０程度
である。さらに、良品瓶２５の幅員Ｈ１の変動値は、ビ
ン回転手段による心振れ精度と良品瓶２５の真円度によ
る瓶口の心振れによる、反射光量、反射幅の変動を表
し、例えば、ＣＣＤカメラ５の素子数２０４８に対し
て、３０程度である。また、仮想欠陥瓶と判定されたス
キャンが、何スキャン連続したかを判定する数値であ
り、瓶口の円周方向における欠陥の大きさを表し、表面
に付着しているチリ、ホコリ等と区別するための数値で
あり、本実施例では、例えば、２〜４で設定される。
【００１２】
【発明の効果】本発明によれば、製瓶又は瓶充填工場ラ
インにおいて、瓶口の開口天面天咬出し、天流れ、あわ
・傷又は筋付き等欠陥の欠陥検査を自動的、連続的に低
コストで安定的に行うことが可能で、最終商品の重大な
欠陥を未然に防止できる。
インにおいて、瓶口の開口天面天咬出し、天流れ、あわ
・傷又は筋付き等欠陥の欠陥検査を自動的、連続的に低
コストで安定的に行うことが可能で、最終商品の重大な
欠陥を未然に防止できる。
【図１】本発明の一実施例の概略を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】本発明の一実施例に用いる投光器、瓶及びＣＣ
Ｄカメラの位置関係を示す概略平面図である。
Ｄカメラの位置関係を示す概略平面図である。
【図３】本発明の一実施例に用いる投光器、瓶及びＣＣ
Ｄカメラの位置関係を示す概略側面図である。
Ｄカメラの位置関係を示す概略側面図である。
【図４】良品瓶について本発明の一実施例の概略を示す
概略図である。
概略図である。
【図５】天咬出しの瓶について本発明の一実施例の概略
説明図である。
説明図である。
【図６】天咬出しの瓶について本発明の他の一実施例の
概略説明図である。
概略説明図である。
【図７】天流れの瓶について本発明の一実施例の概略説
明図である。
明図である。
【図８】あわ、傷又は筋付きの瓶について本発明の一実
施例の概略説明図である。
施例の概略説明図である。
【図９】天流れの瓶について本発明の他の一実施例の概
略説明図である。
略説明図である。
１ 瓶開口天面 ２ 瓶咬出し部 ３ ＣＣＤカメラスキャンエリア ４ 投受光エリア ５ ＣＣＤカメラ ６ しきい値手段 ７ 天面エッジ幅員検出手段 ８ 幅員判定手段 ９ しきい値メモリ １０ 天面欠陥検出手段 １１ スキャンコントロール手段 １５、１６、１７、２０ 投光器 １８、２５、２６、２７、２８、２９、３５ 瓶 ３０、３１、３２、３３、３４、３６ 瓶内側エッジ θ１ ＣＣＤカメラ受光角度 θ２、θ３、θ４ 投光器投光角度 θ５ 瓶口に対する受光傾き角度 Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、Ｔ４、Ｔ５、Ｔ６ 受光波形 Ｈ１、Ｈ２、Ｈ３、Ｈ４、Ｈ５ 幅員 Ｓ しきい値
Claims (6)
- 【請求項１】 瓶口の開口天面欠陥検査方法において、
検査位置に置かれ回転手段により回転される被検査瓶
と、前記被検査瓶の開口天面上より見て前記被検査瓶を
中心として周囲に設けたＣＣＤイメージセンサーと、前
記ＣＣＤイメージセンサー側と前記ＣＣＤイメージセン
サーの対向位置及び前記対向位置の左右いずれか一方に
投光器をそれぞれ配設し、前記ＣＣＤイメージセンサー
及び前記投光器を水平面に対し瓶内側エッジがのぞける
投光角度をもたせて、前記投光器からの投光により、 １）良品瓶に対しては前記瓶内側エッジからの反射光を
前記ＣＣＤイメージセンサーによる受光により一重の弧
状の像を画かしめ、 ２）天面欠陥瓶に対しては天面全幅員からの反射光で前
記瓶内側エッジからの反射光を前記ＣＣＤイメージセン
サーによる受光により良品の場合よりも太い一重の弧状
又は多重の弧状の像を画かしめ、 前記ＣＣＤイメージセンサーによる受光波形のうち前記
良品瓶に対する一重の弧状の像から算出された規定範囲
を越えた幅員を有する一重の弧状又は多重の弧状を画い
た前記被検査瓶を天面欠陥瓶となすことを特徴とする瓶
口の開口天面欠陥検査方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載の瓶口の開口天面欠陥検
査方法において、良品瓶に対する一重の弧状の受光波形
に設定したしきい値に対応する幅員に良品瓶の変動値を
加算して良品判定幅員とし、検査位置に置かれた被検査
瓶を回転手段により回転し前記良品判定幅員を越えた前
記被検査瓶を仮想欠陥瓶とし、前記仮想欠陥瓶の規定数
以上の連続検出により前記被検査瓶を天面欠陥瓶となす
ことを特徴とする瓶口の開口天面欠陥検査方法。 - 【請求項３】 瓶口の開口天面欠陥検査方法において、
検査位置に置かれ回転手段により回転される被検査瓶
と、前記被検査瓶の開口天面上より見て前記被検査瓶を
中心として周囲に設けたＣＣＤイメージセンサーと、前
記ＣＣＤイメージセンサー側と前記ＣＣＤイメージセン
サーの対向位置及び前記対向位置の左右いずれか一方に
投光器をそれぞれ配設し、前記ＣＣＤイメージセンサー
及び前記投光器を水平面に対し瓶内側エッジがのぞける
投光角度をもたせて、前記投光器からの投光により、 １）良品瓶に対しては前記瓶内側エッジからの反射光を
前記ＣＣＤイメージセンサーによる受光により一重の弧
状の像を画かしめ、 ２）天面欠陥瓶に対しては天面全幅員からの反射光で前
記瓶内側エッジからのとぎれた反射光か、または少ない
反射光を前記ＣＣＤイメージセンサーによる受光により
一重の弧状又は多重の弧状の像を画かしめ、 前記ＣＣＤイメージセンサーによる受光波形のうち前記
良品瓶に対する一重の弧状の像から算出された規定範囲
を越えた幅員を確立できない一重の弧状又は多重の弧状
を画いた前記被検査瓶を天面欠陥瓶となすことを特徴と
する瓶口の開口天面欠陥検査方法。 - 【請求項４】 請求項１〜３のいずれかに記載の瓶口の
開口天面欠陥検査方法において、瓶口の天面欠陥が、少
なくとも天咬出し、天流れ、あわ、傷又は筋付きのいず
れかよりなることを特徴とする瓶口の開口天面欠陥検査
方法。 - 【請求項５】 請求項１〜４のいずれかに記載の瓶口の
開口天面欠陥検査方法において、ＣＣＤイメージセンサ
ーを水平面に対し３０度〜７０度の投光角度をもたせ、
投光器を水平面に対し１５度〜６０度の投光角度をもた
せてなることを特徴とする瓶口の開口天面欠陥検査方
法。 - 【請求項６】 請求項１〜５のいずれかに記載の瓶口の
開口天面欠陥検査方法において、ＣＣＤイメージセンサ
ーの瓶口に対する受光傾き角度を３０〜７０度にもたせ
てなることを特徴とする瓶口の開口天面欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7108279A JP2987309B2 (ja) | 1995-04-06 | 1995-04-06 | 瓶口の開口天面欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7108279A JP2987309B2 (ja) | 1995-04-06 | 1995-04-06 | 瓶口の開口天面欠陥検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08278113A true JPH08278113A (ja) | 1996-10-22 |
| JP2987309B2 JP2987309B2 (ja) | 1999-12-06 |
Family
ID=14480624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7108279A Expired - Fee Related JP2987309B2 (ja) | 1995-04-06 | 1995-04-06 | 瓶口の開口天面欠陥検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2987309B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11108643A (ja) * | 1997-05-15 | 1999-04-23 | Owens Brockway Glass Container Inc | 容器密封面領域検査方法及び装置 |
| US6256095B1 (en) | 2000-01-21 | 2001-07-03 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface area inspection |
| CN100419375C (zh) * | 2002-03-28 | 2008-09-17 | 通用电气公司 | 侧面照明的三维边缘定位方法 |
| WO2008129650A1 (ja) * | 2007-04-13 | 2008-10-30 | Toyo Glass Co., Ltd. | 容器口部欠陥検査方法及び装置 |
| JP2011038789A (ja) * | 2009-08-06 | 2011-02-24 | Toyo Glass Co Ltd | ガラスびん口部検査方法及び装置 |
-
1995
- 1995-04-06 JP JP7108279A patent/JP2987309B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11108643A (ja) * | 1997-05-15 | 1999-04-23 | Owens Brockway Glass Container Inc | 容器密封面領域検査方法及び装置 |
| US6025909A (en) * | 1997-05-15 | 2000-02-15 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface area inspection |
| US6256095B1 (en) | 2000-01-21 | 2001-07-03 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface area inspection |
| CN100419375C (zh) * | 2002-03-28 | 2008-09-17 | 通用电气公司 | 侧面照明的三维边缘定位方法 |
| WO2008129650A1 (ja) * | 2007-04-13 | 2008-10-30 | Toyo Glass Co., Ltd. | 容器口部欠陥検査方法及び装置 |
| JPWO2008129650A1 (ja) * | 2007-04-13 | 2010-07-22 | 東洋ガラス株式会社 | 容器口部欠陥検査方法及び装置 |
| JP4667457B2 (ja) * | 2007-04-13 | 2011-04-13 | 東洋ガラス株式会社 | 容器口部欠陥検査方法及び装置 |
| JP2011038789A (ja) * | 2009-08-06 | 2011-02-24 | Toyo Glass Co Ltd | ガラスびん口部検査方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2987309B2 (ja) | 1999-12-06 |
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