JPH08273157A - 磁気ディスクの製造方法 - Google Patents

磁気ディスクの製造方法

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JPH08273157A
JPH08273157A JP7076128A JP7612895A JPH08273157A JP H08273157 A JPH08273157 A JP H08273157A JP 7076128 A JP7076128 A JP 7076128A JP 7612895 A JP7612895 A JP 7612895A JP H08273157 A JPH08273157 A JP H08273157A
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JP
Japan
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magnetic disk
unevenness
zone
height
substrate
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JP7076128A
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Inventor
Toru Momose
徹 百瀬
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AG Technology Co Ltd
Original Assignee
AG Technology Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/62Record carriers characterised by the selection of the material
    • G11B5/64Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/84Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
    • G11B5/8404Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers manufacturing base layers

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】データゾーンの山高さがCSSゾーンの山高さ
より低い磁気ディスクを生産性良く製造する方法を提供
する。 【構成】予め磁気ディスク用基体表面の全面にほぼ均一
な山高さの凹凸を形成し、この基体の凹凸を有する表面
のうち、データゾーンのみにバーニッシュ処理を施すこ
とにより当該データゾーンの表面凹凸の山高さを低く
し、次いでその基体表面のデータゾーン及びCSSゾー
ンを含む領域面上に強磁性層、保護層、潤滑層を順次形
成して磁気ディスクを製造する。 【効果】データゾーンの凹凸の山高さがCSSゾーンの
凹凸の山高さより低い磁気ディスクを、簡便に生産性良
く製造することが可能であり、これにより、優れたCS
S特性と磁気ヘッドの低浮上化との両立が実現できる高
記録密度の磁気ディスクが得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ゾーンテクスチャリン
グ方式の磁気ディスクの製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、コンピュータの普及に伴い外部記
憶装置の1つである固定型磁気ディスクの高記憶容量化
への要求は、非常に高まっているが、その一つの方法と
して磁気ヘッドの浮上量を低くすることが試みられてい
る。
【0003】一方CSS方式の磁気ディスクでは、磁気
ディスクの起動、停止に伴い、磁気ヘッドがCSSゾー
ンにおいて磁気ディスク表面から離着陸を行うが、磁気
ヘッドが磁気ディスク表面に吸着あるいは、衝突しない
ように、一般に磁気ディスク表面に凹凸処理(テクスチ
ャリング処理)が施されている。前述したように高記憶
容量化のためには、磁気ヘッドが磁気ディスク表面から
低く浮上することが好ましいが、この表面の凹凸があま
り激しいと、磁気ヘッドは磁気ディスク上を低く飛ぶこ
とができず、特に大きな突起等が存在すると、磁気ヘッ
ドが飛行中に接触して磁気ディスク表面に損傷を与えた
り、あるいは磁気ヘッドにヘッドクラッシュが生じたり
して記憶の高密度化には適さない。
【0004】これら磁気ヘッドの低浮上化と磁気ヘッド
の吸着防止を同時に満足させる方法として、従来から磁
気ヘッドの吸着あるいは、損傷が生じない範囲で可能な
限り、表面の凹凸を小さくすることが試みられてきた
が、この方式では磁気ヘッドの低浮上化に限界があっ
た。
【0005】この問題を解決する方式として、磁気ヘッ
ドが磁気ディスク表面から離着陸を行うCSSゾーン
(例えば、ドーナツ状磁気ディスクの内周近傍のディス
ク表面領域、あるいは外周近傍のディスク表面領域)の
表面にのみ磁気ヘッド−磁気ディスク間の吸着、損傷が
防止できる程度の凹凸を形成し、他のデータゾーンはそ
れよりも凹凸を小さくして、低浮上化を実現させる方
式、所謂ゾーンテクスチャリング方式、あるいは部分テ
クスチャリング方式が提案されている。
【0006】このような磁気ディスク用基体の表面に凹
凸を部分的に形成する方法については、部分的に研磨加
工の程度を変える方法(特開昭57- 167135号公報等)、
マスクを介して部分的に凹凸面を形成する方法(特開昭
62- 256214号公報)、マスク材をパターン印刷後にエッ
チングする方法(特開昭63-86116号公報)、部分的にエ
ッチングする方法(特開昭63- 167422号公報)等が公知
である。しかし、これらの方法では制御された形状の微
細な凹凸表面を、制御された部分にしかも生産性良く形
成するには限界があった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、記憶の高密
度化を図る磁気ディスクの前述した耐CSS特性と低浮
上化の両立を可能にする、表面のほぼ全面に凹凸を有
し、データゾーンの山高さがCSSゾーンの山高さより
低い磁気ディスクを容易に製造する方法を提供すること
を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、前述の課題を
解決すべくなされたものであり、表面のほぼ全面に凹凸
を有する磁気ディスクのデータゾーンの凹凸の山高さが
CSSゾーンの凹凸の山高さより低い磁気ディスクの製
造方法において、予め磁気ディスク用基体表面のほぼ全
面にほぼ均一な山高さの凹凸を形成し、この基体の凹凸
を有する表面のうち、データゾーンのみにバーニッシュ
処理を施すことにより当該データゾーンの表面凹凸の山
高さを低くし、次いでその基体表面のデータゾーン及び
CSSゾーンを含む領域面上に強磁性層、保護層、潤滑
層を順次形成することを特徴とする磁気ディスクの製造
方法を提供するものである。
【0009】また、本発明は、表面のほぼ全面に凹凸を
有する磁気ディスクのデータゾーンの凹凸の山高さがC
SSゾーンの凹凸の山高さより低い磁気ディスクの製造
方法において、予め磁気ディスク用基体表面上に強磁性
層を形成した後、その表面上のほぼ全面にほぼ均一な山
高さの凹凸を形成し、次いでデータゾーンのみにバーニ
ッシュ処理を施すことにより当該データゾーンの表面凹
凸の山高さを低くし、更にその基体表面のデータゾーン
及びCSSゾーンを含む領域面上に潤滑層を形成するこ
とを特徴とする磁気ディスクの製造方法を提供するもの
である。
【0010】本発明において、バーニッシュ処理、即ち
バーニッシュテープにより基体表面を研磨する処理は、
磁気ディスクのデータゾーンのみの表面凹凸を正確に、
かつ再現性良く、表面凹凸のの山の高さを低くすること
ができることのほかに、磁気ディスク基体表面にキズを
つけることなく処理できるので好ましい。
【0011】このようなバーニッシュ処理方法として
は、所望の回転速度で回転している磁気ディスク基体の
表面に砥粒を供給しながらバーニッシュテープを接触さ
せ、基体表面の凹凸を凸部を研磨することによって、あ
るいは磁気ディスク基体の表面に砥粒を供給しながら走
行するバーニッシュテープを接触させ、基体表面の凹凸
の凸部を研磨することによって達成される。特に、張力
を持ったバーニッシュテープに気体圧力を介して基体表
面に接触させることによる方法が、基体表面にキズをつ
けることなく均一に表面の凹凸の山高さを低くする点で
望ましい。
【0012】このようなバーニッシュ処理に用いられる
テープの材質、砥粒粒径は、特に制限されないが、この
目的のためには、砥粒の平均粒径が0.3μm以上2μ
m以下であることが望ましく、さらには0.4m以上
1.2μm以下であることがより望ましい。
【0013】本発明においては、CSSゾーンは通常円
形のドーナツ状の磁気ディスクの主表面の内周領域ある
いは外周領域に所定幅をもってその領域の全周に環状に
設けられるので、当該CSSゾーンを除いたデータゾー
ンの領域に選択的に上記バーニッシュ処理が施され、こ
れによりデータゾーンの表面凹凸の山高さが低くされ
る。
【0014】バーニッシュ処理を施す磁気ディスク用基
体の表面の凹凸としては、バーニッシュ処理により山の
高さを低くできるものであれば特に制限はない。
【0015】例えば、磁気ディスク基体の表面に凹凸を
形成する方法としては、無機質の微粒子を分散させたコ
ーティング液を基体の主表面に塗布し、基体表面に微細
な凹凸を有するコーティング層を形成する方法(例え
ば、金属アルコキシド溶液を加水分解、縮重合して作製
したゾル液中に一次粒子の平均粒子径50〜800Å程
度のシリカ、アルミナ、チタニア、ジルコニア等の無機
質の微粒子を分散させたコーティング液を磁気ディスク
用基板表面にコーティングし、焼成して微細な凹凸を有
する非晶質コーティング層を形成する方法)、基体表面
を研磨テープで研削し、表面に微細な凹凸を形成する方
法、あるいはスパッタ法で基体表面上に島状に微粒子を
析出させ表面に微細な凹凸を形成する方法等が実用可能
な方法として挙げられる。
【0016】特に、バーニッシュ処理時の基体表面の凹
凸とバーニッシュテープとの接触により、基体表面にキ
ズを発生させることなく表面凹凸の山高さを容易に、か
つ精度良く均一に低くすることができるようにするため
には、表面に無機質の微粒子を分散させた非晶質のコー
ティング層からなる凹凸を有した磁気ディスク基体であ
ることが望ましい。かかる非晶質の凹凸表面を有するコ
ーティング層は、機械的、化学的耐久性の高い膜であ
り、磁気ディスク基体表面に形成される凹凸として最適
である。
【0017】かかる凹凸を有する非晶質のコーティング
層は、無機質の微粒子を分散させたコーティング液を磁
気ディスク基体表面に塗布し、その後加熱して焼き付け
ることにより容易に得られる。例えば、Si、Ti、A
l、Zr等の金属アルコキシドやその加水分解生成物と
Si、Ti、Al、Zr等の酸化物等の無機質の微粒子
とを含むゾル・ゲル反応により非晶質の被膜形成ができ
るコーティング液が好ましく使用される。かかる無機質
物質からなる非晶質の凹凸表面を有するコーティング層
は、機械的、化学的耐久性の高い膜であり、磁気ディス
ク基体表面に形成される凹凸として最適である。
【0018】このようなコーティング液の塗布方法とし
ては、例えば上記したようなコーティング液を磁気ディ
スク基体の主表面に薄く被膜形成することができるフレ
キソ印刷法、タコ印刷法、スクリーン印刷法等の印刷
法、あるいはスピンコート法、あるいはコーティング液
を含浸させた布で塗布する方法など適宜な塗布方法を選
ぶことができる。
【0019】このように塗布されたコーティング液は、
溶媒を乾燥し、150℃以上、例えば150〜600℃
に加熱し、焼成処理をすることにより、表面硬度、機械
的耐久性、化学的耐久性に優れたコーティング層とな
る。
【0020】このような表面に凹凸を有する非晶質のコ
ーティング層を磁気ディスク用基体面に形成すると、そ
の上にスパッタ法により強磁性層、潤滑層順次形成して
も、または下地層、強磁性層、保護層、潤滑層を順次形
成しても、この凹凸構造が磁気ディスクの表面の凹凸構
造として再現できる。
【0021】なお、磁気ディスク用基体表面に、必要に
応じ下地層を形成し、その上に強磁性層に形成した後、
保護層を介して、あるいは介さずして、その上に非晶質
の表面に凹凸を有するコーティング層を施し、必要に応
じ更に保護層を形成し、潤滑層を形成しても、所望の表
面凹凸構造を有する磁気ディスクを製造することができ
る。
【0022】本発明においては、上記したようにコーテ
ィング法により凹凸を付与させる場合、このコーティン
グ層は、非磁性の磁気ディスク用基体面に直接または下
地層を介して上記した方法により形成してもよいし、あ
るいは非磁性の磁気ディスク用基板の表面に下地層を介
して、または介せずして強磁性層を形成し、その上に耐
食層を介して、または介せずして、またはその上に保護
層を介して、または介せずして、その上に上記した方法
により凹凸を有するコーティング層を形成してもよい。
もちろん、上記したようにコーティング法により凹凸を
付与させる場合、この凹凸を有するコーティング層は上
記した例に限らず、該コーティング層により磁気ディス
クの表面に適切な凹凸構造が形成できるならば、磁気デ
ィスクの非磁性ディスク基板面上に形成される多層構造
のどの界面に形成してもよい。
【0023】本発明においては、CSSゾーンは通常円
形のドーナツ状の磁気ディスクの主表面の内周領域ある
いは外周領域に所定幅をもってその領域の全周に環状に
設けられるので、当該CSSゾーンを除いたデータゾー
ンの領域に選択的に上記バーニッシュ処理が施され、こ
れによりデータゾーンの表面凹凸の山高さが低くされ
る。
【0024】本発明において使用される磁気記録層とし
ての強磁性層としては、Co系、Co−Cr−Pt系、
Co−Cr−Ta系等のCo合金系の磁気記録材料が好
ましく、また強磁性層の下層に耐久性向上のため、磁気
特性改善のために、下地層、例えば、Ni下地層、Ni
−P下地層、Cr層、SiO2 層などの各種下地層を形
成することができる。
【0025】また、本発明においては、上記したような
強磁性層の上層に、またはその下層にCr層やCr合金
層、その他各種耐食性のある金属または合金層を形成す
ることもできる。
【0026】本発明において使用される磁気ディスク用
基体としては、ガラス、結晶化ガラス、カーボン、非磁
性金属およびこれらの表面にコーティングされたものか
らなる群より選ばれた少なくとも1種で構成されるもの
であることが好ましいが、これに限定されずその他所望
の非磁性材料も使用できる。
【0027】また、本発明においては、強磁性層、保護
層、潤滑層、下地層、耐食層の他に所望において種々の
機能膜を形成することもなんら妨げない。
【0028】このようにして形成された磁気ディスク基
体表面の凹凸形状は、CSSゾーンの表面の凹凸の最大
山高さが、山の高さ分布の最頻値を基準として、150
Å以上800Å以下であり、さらに、データゾーンの表
面の凹凸の最大山高さh1 と、CSSゾーンの表面の凹
凸の最大山高さh2 との間に、0.4≦h1/h2<
0.9の関係を有することにより、良好な耐CSS特性
と、データゾーンでの低い磁気ヘッド浮上高さが両立で
きるとともに、CSSゾーンとテータゾーンとの間を磁
気ヘッドが移動する際のヘッドの飛行安定性が確保でき
る。
【0029】
【実施例】
(実施例1)エチルシリケートを加水分解、縮重合して
作成したSiアルコキシドの部分加水分解・縮重合物を
含有するエタノール溶液(シリカ換算濃度1.0wt
%)に、一次粒子の平均粒径300Åのシリカ微粒子を
0.02wt%混合、分散させたコーティング液を作成
した。一方、外径65mm、内径25mm、厚さ0.6
35mmの平滑な表面を有するドーナツ形状の板状のソ
ーダライム・ガラス基体を用意し、この基体の内周の2
点を支持してぶら下げ、上記溶液に浸漬した後、1mm
/秒の速度で引き上げて、加熱乾燥した後、350℃で
30分焼成して、主表面に凹凸を有する磁気ディスク用
基体を作成した。
【0030】この磁気ディスク用基体の半径16mmよ
り外側を、テープバーニッシュ装置を用いて、バーニッ
シ研磨テープ(TMP社製:WA8000、研磨剤:ア
ルミナ)を回転している磁気ディスク用基体に空気圧で
押し当てることにより、バーニッシュ処理を施した。
【0031】次いで、その基体上にスパッタ法で、厚さ
約1500ÅのCr下地層、厚さ約600ÅのCo−N
i磁性層、厚さ約300Åのカーボン保護層を形成し、
さらに浸漬法により厚さ約30Åのパーフルオロポリエ
ーテルの潤滑剤を被覆して潤滑層を形成した。
【0032】こうして作られた磁気ディスクの内周近傍
は、山高さ分布の最頻値を基準とした山高さが約290
Åであり、外周近傍は山高さが約200Åであった。ま
た、半径16mmのバーニッシュ処理をした部分としな
い部分との境界には、バーニッシュ処理による円周状の
キズは観察されなかった。
【0033】これら磁気ディスクを、半径15.2mm
のCSSゾーンでCSSテストを5万回行った後の摩擦
係数を測定したところ約0.2であり、外観のダメージ
も見受けられず、良好な結果を示した。さらに、磁気ヘ
ッドの最低浮上保証量をフライング・ハイト・テスター
にて測定したところ、半径16mmより内側では約2マ
イクロインチであったが、半径16mmより外側では、
1.2マイクロインチ以下であった。また、CSSゾー
ンとテータゾーンとの間のシーク動作においても、グラ
イド・ノイズが乱れることなく、磁気ヘッドの良好な飛
行安定性が示された。
【0034】(実施例2)エチルシリケートを加水分
解、縮重合して作成したSiアルコキシドの部分加水分
解・縮重合物を含有するエタノール溶液(シリカ換算濃
度1.2wt%)に、一次粒子の平均粒径550Åのシ
リカ微粒子を0.05wt%混合、分散させたコーティ
ング液を作成した。実施例1と同じサイズの平滑な表面
を有するドーナツ形状の板状のソーダライム・ガラス基
体の内周の2点を支持してぶら下げ、上記溶液に浸漬し
た後、2mm/秒の速度で引き上げて、加熱乾燥した
後、350℃で30分焼成して、表面に凹凸を有する磁
気ディスク用基体のサンプルを作成した。
【0035】この磁気ディスク用基体の半径16mmよ
り外側を、テープバーニッシュ装置を用いて、バーニッ
シュ研磨テープ(TMP社製:GC8000、研磨剤:
シリコンカーバイト)を回転している磁気ディスク用基
体に空気圧で押し当てることにより、バーニッシュ処理
を施した。
【0036】その基体上に実施例1同様にして、下地
層、磁性層、保護層を形成し、さらに潤滑層を被覆して
磁気ディスクを作製した。
【0037】こうして作られた磁気ディスクの内周近傍
は、山高さ分布の最頻値を基準とした山高さが約500
Åであり、外周近傍は山高さが約270Åであった。ま
た、半径16mmのバーニッシュ処理をした部分としな
い部分との境界には、バーニッシュ処理による円周状の
キズは観察されなかった。
【0038】これら磁気ディスクを、半径15.2mm
のCSSゾーンでCSSテストを5万回行った後の摩擦
係数を測定したところ約0.3であり、外観のダメージ
も見受けられず、良好な結果を示した。さらに、磁気ヘ
ッドの最低浮上保証量をフライング・ハイト・テスター
にて測定したところ、半径16mmより内側では約3マ
イクロインチであったが、半径16mmより外側では、
1.6マイクロインチ以下であった。また、CSSゾー
ンとテータゾーンとの間のシーク動作においても、グラ
イド・ノイズが乱れることなく、磁気ヘッドの良好な飛
行安定性が示された。
【0039】
【発明の効果】本発明の方法によれば、制御された表面
凹凸形状を有する部分を、制御された領域に均一に形成
された磁気ディスクを、簡便に生産性良く製造すること
が可能である。これにより、耐CSS特性と磁気ヘッド
の低浮上量化の両立を可能にした、高密度記憶化を図れ
る磁気ディスクを提供することが可能となる。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】表面のほぼ全面に凹凸を有する磁気ディス
    クのデータゾーンの凹凸の山高さがCSSゾーンの凹凸
    の山高さより低い磁気ディスクの製造方法において、予
    め磁気ディスク用基体表面のほぼ全面にほぼ均一な山高
    さの凹凸を形成し、この基体の凹凸を有する表面のう
    ち、データゾーンのみにバーニッシュ処理を施すことに
    より当該データゾーンの表面凹凸の山高さを低くし、次
    いでその基体表面のデータゾーン及びCSSゾーンを含
    む領域面上に強磁性層、保護層、潤滑層を順次形成する
    ことを特徴とする磁気ディスクの製造方法。
  2. 【請求項2】表面のほぼ全面に凹凸を有する磁気ディス
    クのデータゾーンの凹凸の山高さがCSSゾーンの凹凸
    の山高さより低い磁気ディスクの製造方法において、予
    め磁気ディスク用基体表面上に強磁性層を形成した後、
    その表面上のほぼ全面にほぼ均一な山高さの凹凸を形成
    し、次いでデータゾーンのみにバーニッシュ処理を施す
    ことにより当該データゾーンの表面凹凸の山高さを低く
    し、更にその基体表面のデータゾーン及びCSSゾーン
    を含む領域面上に潤滑層を形成することを特徴とする磁
    気ディスクの製造方法。
  3. 【請求項3】予め磁気ディスク用基体表面のほぼ全面に
    形成される凹凸は、磁気ディスク用基体表面に無機質の
    微粒子を分散させたコーティング液を塗布することによ
    り得ることを特徴とする請求項1または2記載の磁気デ
    ィスクの製造方法。
  4. 【請求項4】磁気ディスク用基体表面に無機質の微粒子
    を分散させたコーティング液を塗布し、次いでこの基体
    を150℃以上に加熱処理し、焼付け処理して凹凸を有
    する非晶質のコーティング層を形成することを特徴とす
    る請求項3記載の磁気ディスクの製造方法。
  5. 【請求項5】前記非晶質のコーティング層が、金属アル
    コキシドを主原料として加水分解・重合反応により形成
    されたものであることを特徴とする請求項4記載の磁気
    ディスクの製造方法。
  6. 【請求項6】前記バーニッシュ処理が、回転している磁
    気ディスク用基体の主表面に研磨テープを浮遊させなが
    ら接触することにより行われることを特徴とする請求項
    1または2記載の磁気ディスクの製造方法。
  7. 【請求項7】前記CSSゾーンの表面の凹凸の最大山高
    さが、山の高さ分布の最頻値を基準として、150Å以
    上800Å以下であり、前記データゾーンの表面の凹凸
    の最大山高さh1 と、CSSゾーンの表面の凹凸の最大
    山高さh2 との間に0.4≦h1 /h2 <0.9の関係
    を有することを特徴とする請求項1または2記載の磁気
    ディスクの製造方法。
  8. 【請求項8】前記強磁性層の下層に下地膜が形成されて
    いることを特徴とする請求項1または2記載の磁気ディ
    スクの製造方法。
  9. 【請求項9】前記強磁性層の上層に保護層が形成されて
    いることを特徴とする請求項1または2記載の磁気ディ
    スクの製造方法。
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