JPH08272853A - 同時動作数チェック方式 - Google Patents

同時動作数チェック方式

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JPH08272853A
JPH08272853A JP7100721A JP10072195A JPH08272853A JP H08272853 A JPH08272853 A JP H08272853A JP 7100721 A JP7100721 A JP 7100721A JP 10072195 A JP10072195 A JP 10072195A JP H08272853 A JPH08272853 A JP H08272853A
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output signal
lsi
signal name
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Toshio Sandou
俊雄 山銅
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】出力信号の同時動作の対象がLSIの下地によ
って限定される場合にも正確に同時動作数のチェックを
行う方式の提供。 【構成】同時動作対象出力信号名抽出手段4は、ピン配
置格納手段2に格納された出力信号の位置情報とLSI
下地情報格納手段3に格納されたグランドピンの位置情
報より同時動作対象出力信号名を抽出し同時動作対象出
力信号名格納手段5に格納し、同時動作数チェック手段
6は、論理シミュレーション結果格納手段1に格納され
た論理シミュレーションと同時動作対象出力信号名格納
手段5に格納された同時動作対象出力信号名より同時動
作数のチェックを行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路に関し、
特に論理LSI(大規模集積回路)等における同時動作
数のチェック方式に関する。
【0002】
【従来の技術】LSIにおいて多数の出力バッファ回路
(出力端子)が同時にハイレベル又は同時にローレベル
に切り換わる場合、負荷容量に対して大きな充放電電流
が流れ、例えばLSIの出力端子へのノイズとして次断
回路への誤動作等を招くことになる。このため、例えば
LSIの設計、検証段階等においてLSIの出力端子の
同時動作数が検査される。
【0003】LSIの出力端子の同時動作数をチェック
する従来の方式では、LSI上の全ての出力信号を対象
にして同時動作数のチェックを行っていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように従来の同時
動作数チェック方式では、LSI上の全ての出力信号を
対象に同時動作のチェックを行っていたため、出力信号
の同時動作の対象がLSIの下地によって限定される場
合等部分的な出力同時動作の制限がある場合、同時動作
の対象とならない出力動作もカウントされてしまい、そ
の結果正確なチェックができないという問題がある。
【0005】従って、本発明は、上記問題点を解消し、
出力信号の同時動作の対象がLSIの下地等によって限
定される場合にも正確に同時動作数のチェックを行う方
式を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、LSIの論理シミュレーションの出力結
果と前記LSIの出力ピン情報とに基づき、前記LSI
の同時動作の対象となる部分的な出力ピンを自動的に抽
出し、抽出された前記出力ピンの同時動作を計数するこ
とを特徴とするLSIの同時動作数チェック方式を提供
する。
【0007】本発明の同時動作数チェック方式は、好ま
しくは、論理シミュレーションを行った結果の出力信号
名と時系列の信号値を格納する論理シミュレーション結
果格納手段と、LSIのピン配置すなわち出力信号名と
LSI上の位置情報を格納するピン配置格納手段と、グ
ランドピンのLSI上の位置情報を格納するLSI下地
情報格納手段と、前記ピン配置格納手段に格納された出
力信号の位置情報と前記LSI下地情報格納手段に格納
されたグランドピンの位置情報に基づき同時動作対象出
力信号名を抽出する同時動作対象出力信号名抽出手段
と、該同時動作対象出力信号名抽出手段より抽出された
同時動作対象出力信号名を格納する同時動作対象出力信
号名格納手段と、前記論理シミュレーション結果格納手
段に格納された論理シミュレーション結果と前記同時動
作対象出力信号名格納手段に格納された同時動作対象出
力信号名に基づき同時動作数のチェックを行う同時動作
数チェック手段と、を備えている。
【0008】
【作用】本発明によれば、部分的な出力同時動作の制限
がある場合、同時動作の対象となる部分的な出力情報を
自動的に抽出し、同時動作の対象となる出力動作のみを
計数するため、部分的な出力同時動作を正確にチェック
することが出来る。また、本発明によれば、出力信号の
同時動作の対象がLSIの下地によって限定される場
合、LSIのピン配置とLSI下地情報よりグランドピ
ンの近傍の出力信号を抽出し、同時動作数チェックの対
象となる出力動作のみをカウントし、対象外をカウント
しないように構成したことにより、同時動作数を正確に
チェックすることを可能としている。
【0009】
【実施例】図面を参照して、本発明の実施例を以下に説
明する。図1は、本発明の一実施例のブロック図を示し
ている。
【0010】論理シミュレーション結果格納手段1は、
論理回路の論理シミュレーションを行った結果の出力信
号名と時系列の信号値を格納する。
【0011】ピン配置格納手段2は、LSIのピン配置
すなわち出力信号名とLSI上の位置情報を格納する。
【0012】LSI下地情報格納手段3は、グランドピ
ンのLSI上の位置情報を格納する。
【0013】同時動作対象出力信号名抽出手段4は、ピ
ン配置格納手段2に格納された出力信号の位置情報とL
SI下地情報格納手段3に格納されたグランドピンの位
置情報より同時動作対象出力信号名を抽出する。
【0014】同時動作対象出力信号名格納手段5は、同
時動作対象出力信号名抽出手段4より抽出された同時動
作対象出力信号名を格納する。
【0015】同時動作数チェック手段6は、論理シミュ
レーション結果格納手段1に格納された論理シミュレー
ション結果と同時動作対象出力信号名格納手段5に格納
された同時動作対象出力信号名より同時動作数のチェッ
クを行う。
【0016】図2は、論理シミュレーション結果格納手
段1に格納される論理シミュレーションの結果を説明す
るための図である。
【0017】図2において、A、B、CはLSIの出力
信号名を示し、列方向の1、2、3等は時刻を示してい
る。図2のマトリクス内の“1”又は“0”はある時刻
における出力信号の信号値を示している。
【0018】図3は、LSIのピン配置の一例を示して
いる。図3において、A、B、Cは出力信号名を示し、
11、12、13、…、21、22はピンの位置情報を
示し、GNDはグランドピンを示している。
【0019】図4は、ピン配置格納手段2に格納された
出力信号の位置情報を示している。図4において、A、
B、Cは出力信号名を示し、11、21、12はLSI
上の位置を示している。
【0020】図5は、LSI下地情報格納手段3に格納
されたグランドピンの位置情報を示している。13、2
2はLSIのグランドピンの位置を示している。
【0021】本実施例においては、同時動作数チェック
の対象はグランドピンの近傍の出力信号とされる。
【0022】図3を参照して、位置13のグランドピン
の近傍を対象とした場合、出力信号はA、Bとなり、同
時動作対象出力信号名抽出手段4では、図6に示すよう
に、同時動作対象出力信号名格納手段5に格納される同
時動作対象出力信号名が抽出される。A、Bは同時動作
対象出力信号抽出手段から抽出された同時動作対象出力
信号名を示している。
【0023】同時動作数チェック手段6では、論理シミ
ュレーション結果格納手段1に格納された論理シミュレ
ーション結果と同時動作対象出力信号名格納手段5に格
納された同時動作対象出力信号名より、A(1)、A
(2)、A(3)、A(4)、A(5)、B(2)、B
(3)、B(5)が動作としてカウントされ同時動作数
のチェックが行われる。ここで、A(1)は、出力信号
名Aが時刻1の後に動作することを示している。
【0024】同じ信号値(ハイレベル又はローレベル)
の変化が同時刻で起こった場合に同時動作となるため、
A(5)とB(5)が同時動作となる。
【0025】本実施例においては、例えばLSIの1辺
当たりの出力同時動作数をチェックする際に1辺毎の出
力ピン情報を抽出し、出力端子の同時動作をチェックす
ることができる。
【0026】以上、本発明を上記実施例に即して説明し
たが、本発明は上記態様にのみ限定されず、本発明の原
理に準ずる各種態様を含むことは勿論である。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
同時動作の対象となる部分的な出力情報を自動的に抽出
し、同時動作の対象となる出力動作のみを計数するた
め、部分的な出力同時動作を正確にチェックすることが
出来る。特に本発明によれば、出力信号の同時動作の対
象がLSIの下地によって限定される場合、LSIのピ
ン配置とLSI下地情報よりグランドピンの近傍の出力
信号を抽出することにより同時動作の対象となる出力動
作のみをカウントし、対象外をカウントしないように構
成したことにより、正確な同時動作数のチェックを行う
ことが可能である。
【0028】このため本発明は、LSIの1辺にあるグ
ランドピンを一まとまりとした場合でも、同時動作の対
象となる出力動作のみをカウントして正確な同時動作数
のチェックが行えるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
【図2】本発明の一実施例における論理シミュレーショ
ン結果格納手段に格納される論理シミュレーションの結
果を説明する図である。
【図3】LSIのピン配置の一例を示す図である。
【図4】本発明の一実施例におけるピン配置格納手段に
格納される出力信号の位置情報の一例を示す図である。
【図5】本発明の一実施例におけるLSI下地情報格納
手段に格納されるグランドピンの位置情報の一例を示す
図である。
【図6】本発明の一実施例における同時動作対象出力信
号名抽出手段で抽出した同時動作対象出力信号名格納手
段に格納される同時動作対象出力信号名の一例を示す図
である。
【符号の説明】
1 論理シミュレーション結果格納手段 2 ピン配置格納手段 3 LSI下地情報格納手段 4 同時動作対象出力信号名抽出手段 5 同時動作対象出力信号名格納手段 6 同時動作数チェック手段 A、B、C 出力信号名 11、12、13、21、22 LSIのピン位置 GND グランドピン

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】LSIの論理シミュレーションの出力結果
    と前記LSIの出力ピン情報とに基づき、前記LSIの
    同時動作の対象となる部分的な出力ピンを自動的に抽出
    し、抽出された前記出力ピンの同時動作を計数すること
    を特徴とするLSIの同時動作数チェック方式。
  2. 【請求項2】論理シミュレーションを行った結果の出力
    信号名と時系列の信号値を格納する論理シミュレーショ
    ン結果格納手段と、 LSIの出力信号名とLSI上の位置情報を格納するピ
    ン配置格納手段と、 グランドピンのLSI上の位置情報を格納するLSI下
    地情報格納手段と、 前記ピン配置格納手段に格納された出力信号の位置情報
    と前記LSI下地情報格納手段に格納されたグランドピ
    ンの位置情報に基づき同時動作対象出力信号名を抽出す
    る同時動作対象出力信号名抽出手段と、 該同時動作対象出力信号名抽出手段より抽出された同時
    動作対象出力信号名を格納する同時動作対象出力信号名
    格納手段と、 前記論理シミュレーション結果格納手段に格納された論
    理シミュレーション結果と前記同時動作対象出力信号名
    格納手段に格納された同時動作対象出力信号名に基づき
    同時動作数のチェックを行う同時動作数チェック手段
    と、 を含むことを特徴とする同時動作数チェック方式。
JP7100721A 1995-03-31 1995-03-31 同時動作数チェック方式 Expired - Fee Related JP2746188B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009140265A (ja) * 2007-12-06 2009-06-25 Fujitsu Ltd 半導体装置に対する同時動作信号ノイズ見積り方法における同時動作信号ノイズ基礎特性取得方法、及びプログラム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009140265A (ja) * 2007-12-06 2009-06-25 Fujitsu Ltd 半導体装置に対する同時動作信号ノイズ見積り方法における同時動作信号ノイズ基礎特性取得方法、及びプログラム

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