JPH08255411A - レンズアクチュエータ及び光学式再生装置 - Google Patents
レンズアクチュエータ及び光学式再生装置Info
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- JPH08255411A JPH08255411A JP7058488A JP5848895A JPH08255411A JP H08255411 A JPH08255411 A JP H08255411A JP 7058488 A JP7058488 A JP 7058488A JP 5848895 A JP5848895 A JP 5848895A JP H08255411 A JPH08255411 A JP H08255411A
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- objective lens
- movable member
- lens
- optical
- axis
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Abstract
(57)【要約】
【目的】CD用対物レンズと、基板厚さがCDよりも薄
い高密度光ディスク用対物レンズを備え、2種類の光デ
ィスクに応じて、各々に適した対物レンズで再生する。 【構成】2個の対物レンズはレンズアクチュエ−タの基
台に植立した軸の回りに回転可能で且つ軸方向に移動可
能な可動部材に取り付ける。可動部材を駆動する電磁的
駆動手段のうち、磁界発生手段を可動部材に、コイルを
基台取付け、これにより可動部材を軸回りに例えば18
0度回転することにより2個の対物レンズのうちで再生
する光ディスクの基板厚さに対応した対物レンズを選択
的に使用できる。 【効果】本発明の光学式再生装置は従来の光学式再生装
置に対物レンズを1個付加するだけで、基板厚さの異な
る2種類の光ディスクに対応することができ、装置の小
型、低コスト化が可能になる。
い高密度光ディスク用対物レンズを備え、2種類の光デ
ィスクに応じて、各々に適した対物レンズで再生する。 【構成】2個の対物レンズはレンズアクチュエ−タの基
台に植立した軸の回りに回転可能で且つ軸方向に移動可
能な可動部材に取り付ける。可動部材を駆動する電磁的
駆動手段のうち、磁界発生手段を可動部材に、コイルを
基台取付け、これにより可動部材を軸回りに例えば18
0度回転することにより2個の対物レンズのうちで再生
する光ディスクの基板厚さに対応した対物レンズを選択
的に使用できる。 【効果】本発明の光学式再生装置は従来の光学式再生装
置に対物レンズを1個付加するだけで、基板厚さの異な
る2種類の光ディスクに対応することができ、装置の小
型、低コスト化が可能になる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、記録密度の異なる光デ
ィスクを再生する光学式再生装置および光学式再生装置
に使用するレンズアクチュエ−タに関するものである。
ィスクを再生する光学式再生装置および光学式再生装置
に使用するレンズアクチュエ−タに関するものである。
【0002】
【従来の技術】現在コンパクトディスク(以下、CDと
略す)は音楽用あるいは計算機のデ−タ用として広く普
及している。このCDは直径が120mm、トラックピ
ッチはおよそ1.6μm、最小のピット長はおよそ0.
9μmである。このCDを再生する光学式再生装置は光
源として770〜800nmの近赤外光の半導体レ−ザ
を用い、レ−ザ光を光ディスク上に集光する対物レンズ
の開口数(NA)は一般に0.45程度である。
略す)は音楽用あるいは計算機のデ−タ用として広く普
及している。このCDは直径が120mm、トラックピ
ッチはおよそ1.6μm、最小のピット長はおよそ0.
9μmである。このCDを再生する光学式再生装置は光
源として770〜800nmの近赤外光の半導体レ−ザ
を用い、レ−ザ光を光ディスク上に集光する対物レンズ
の開口数(NA)は一般に0.45程度である。
【0003】一方、近年の半導体レ−ザの進歩はめざま
しく、波長630〜690nmの赤色光の半導体レ−ザ
が実用化され、開口数0.52〜0.6の対物レンズと
の組合せにより、現在のCDにたいして3〜4倍の記録
密度を有する高密度光ディスクが提案されている。(例
えば、1993年電子情報通信学会秋季大会、講演番号
C−364「赤色レ−ザピックアップを用いた高密度C
D−ROMの検討」) ところでCD等の光ディスクの基板は、一般にポリカ−
ボネイト樹脂の射出成形で製作するために基板のソリは
避けられず、実際にCD等では0.3〜0.5度程度の
ソリが存在するのが通例である。光ディスクが傾くとコ
マ収差が発生し著しい場合は信号再生が不可能になる。
発生するコマ収差量は対物レンズの開口数(NA)の3
乗に比例するために、例えばNA=0.6の対物レンズ
ではNA=0.45の対物レンズに比較して約2.4倍
のコマ収差が発生する。一方、コマ収差の発生量は光デ
ィスクの基板厚さに比例するために、基板の薄い例えば
0.6mmの光ディスクを用い、対物レンズのNAを大
きくしてもコマ収差発生量をCDなみに抑える試みがな
されている。しかし、光ディスクの基板厚さ誤差の許容
値(対物レンズの最適基板厚さに対する再生する光ディ
スクの基板厚さ)は対物レンズの開口数の4乗に逆比例
し、一般にNA=0.45の場合は0.1mm以下、N
A=0.6の場合は0.03mm以下であり、0.6m
mの基板用の光学式再生装置では球面収差のために1.
2mmの基板のCDが再生できないという問題がある。
しく、波長630〜690nmの赤色光の半導体レ−ザ
が実用化され、開口数0.52〜0.6の対物レンズと
の組合せにより、現在のCDにたいして3〜4倍の記録
密度を有する高密度光ディスクが提案されている。(例
えば、1993年電子情報通信学会秋季大会、講演番号
C−364「赤色レ−ザピックアップを用いた高密度C
D−ROMの検討」) ところでCD等の光ディスクの基板は、一般にポリカ−
ボネイト樹脂の射出成形で製作するために基板のソリは
避けられず、実際にCD等では0.3〜0.5度程度の
ソリが存在するのが通例である。光ディスクが傾くとコ
マ収差が発生し著しい場合は信号再生が不可能になる。
発生するコマ収差量は対物レンズの開口数(NA)の3
乗に比例するために、例えばNA=0.6の対物レンズ
ではNA=0.45の対物レンズに比較して約2.4倍
のコマ収差が発生する。一方、コマ収差の発生量は光デ
ィスクの基板厚さに比例するために、基板の薄い例えば
0.6mmの光ディスクを用い、対物レンズのNAを大
きくしてもコマ収差発生量をCDなみに抑える試みがな
されている。しかし、光ディスクの基板厚さ誤差の許容
値(対物レンズの最適基板厚さに対する再生する光ディ
スクの基板厚さ)は対物レンズの開口数の4乗に逆比例
し、一般にNA=0.45の場合は0.1mm以下、N
A=0.6の場合は0.03mm以下であり、0.6m
mの基板用の光学式再生装置では球面収差のために1.
2mmの基板のCDが再生できないという問題がある。
【0004】今後上記した高密度光ディスクが実用化さ
れた場合、その光学式再生装置は当然のことながら従来
のCDも再生できることが望ましい。この要求に対して
特開平6−259804号公報に開示されているような
光学式再生装置が提案されている。これは従来のCD再
生用の半導体レ−ザと、高密度光ディスク再生用の半導
体レ−ザとを備えており、再生する光ディスクの種類に
応じて、いずれかの半導体レ−ザの発するレ−ザ光によ
り信号を再生するものである。
れた場合、その光学式再生装置は当然のことながら従来
のCDも再生できることが望ましい。この要求に対して
特開平6−259804号公報に開示されているような
光学式再生装置が提案されている。これは従来のCD再
生用の半導体レ−ザと、高密度光ディスク再生用の半導
体レ−ザとを備えており、再生する光ディスクの種類に
応じて、いずれかの半導体レ−ザの発するレ−ザ光によ
り信号を再生するものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】一般にCD用の光学式
再生装置は一個の半導体レ−ザと対物レンズとビ−ムス
プリッタであるハ−フミラ−と光検出器とからなる簡単
な構成である。また場合によっては3スポット方式トラ
ッキング検出のための回折格子を備える場合もある。と
ころが前記従来公報に開示されている光情報記録再生装
置は、2個の半導体レ−ザと、各々の半導体レ−ザの出
射する2本の光ビ−ムの合成手段及び各々の光ビ−ムを
独立して検出するための分離手段と、2個の光検出器を
備えた複雑な構成である。
再生装置は一個の半導体レ−ザと対物レンズとビ−ムス
プリッタであるハ−フミラ−と光検出器とからなる簡単
な構成である。また場合によっては3スポット方式トラ
ッキング検出のための回折格子を備える場合もある。と
ころが前記従来公報に開示されている光情報記録再生装
置は、2個の半導体レ−ザと、各々の半導体レ−ザの出
射する2本の光ビ−ムの合成手段及び各々の光ビ−ムを
独立して検出するための分離手段と、2個の光検出器を
備えた複雑な構成である。
【0006】本発明の目的はCD用の光学式再生装置並
の簡単な構成で厚さの異なる2種類の光ディスクの再生
が可能である光学式再生装置を実現することにある。
の簡単な構成で厚さの異なる2種類の光ディスクの再生
が可能である光学式再生装置を実現することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の光学式再生装置
では、厚さの異なる2種類の基板、例えば基板厚さ1.
2mmのCDと、基板厚さ0.6mmの高密度光ディス
クとに各々対応した2個の対物レンズを用いることにし
た。現在対物レンズはプラスチッック樹脂の射出成形に
より製作されており極めて安価である。そして2個の対
物レンズをフォ−カス、トラッキング制御用のレンズア
クチュエ−タに搭載する。2個の対物レンズはレンズア
クチュエ−タの基台に植立した軸の回りに回転可能で且
つ軸方向に移動可能な可動部材に取り付ける。可動部材
を駆動する電磁的駆動手段のうち、磁界発生手段を可動
部材に、コイルを基台取付け、これにより可動部材を軸
回りに例えば180度回転することにより2個の対物レ
ンズのうちで再生する光ディスクの基板厚さに対応した
対物レンズを選択的に使用できる構成とした。更に2個
の対物レンズのうち何れを選択しているのかを検出する
検出手段、及び対物レンズの少なくともトラッキング方
向の位置(軸回りの位置)を保持する位置決め手段を設
けた。
では、厚さの異なる2種類の基板、例えば基板厚さ1.
2mmのCDと、基板厚さ0.6mmの高密度光ディス
クとに各々対応した2個の対物レンズを用いることにし
た。現在対物レンズはプラスチッック樹脂の射出成形に
より製作されており極めて安価である。そして2個の対
物レンズをフォ−カス、トラッキング制御用のレンズア
クチュエ−タに搭載する。2個の対物レンズはレンズア
クチュエ−タの基台に植立した軸の回りに回転可能で且
つ軸方向に移動可能な可動部材に取り付ける。可動部材
を駆動する電磁的駆動手段のうち、磁界発生手段を可動
部材に、コイルを基台取付け、これにより可動部材を軸
回りに例えば180度回転することにより2個の対物レ
ンズのうちで再生する光ディスクの基板厚さに対応した
対物レンズを選択的に使用できる構成とした。更に2個
の対物レンズのうち何れを選択しているのかを検出する
検出手段、及び対物レンズの少なくともトラッキング方
向の位置(軸回りの位置)を保持する位置決め手段を設
けた。
【0008】
【作用】このような構成により本発明の光学式再生装置
は、レンズアクチュエ−タの構成を工夫することにより
従来の光学式再生装置に対物レンズを1個付加するだけ
で、基板厚さの異なる2種類の光ディスクに対応するこ
とができ、装置の小型、低コスト化が可能になる。
は、レンズアクチュエ−タの構成を工夫することにより
従来の光学式再生装置に対物レンズを1個付加するだけ
で、基板厚さの異なる2種類の光ディスクに対応するこ
とができ、装置の小型、低コスト化が可能になる。
【0009】
【実施例】以下本発明の実施例について、図面を参照し
ながら詳細に説明する。図1は本発明によるレンズアク
チュエ−タ1の構成図であり、(a)は平面図、(b)
は側面図、(c)は正面断面図である。なお説明のため
に(b)の側面図においては磁気回路8の一部を削除し
ている。図1において2、3は対物レンズである。ここ
で対物レンズ2は例えばCD再生用であり、開口数は
0.35〜0.45、最適な基板厚さは1.15mm〜
1.25mmである。後述する半導体レ−ザの波長が例
えば650nmであれば開口数は0.35〜0.4が好
適である。対物レンズ3は例えば高密度光ディスク用で
あり開口数は0.52〜0.65、最適な基板厚さは
0.55mm〜0.65mmである。ここで対物レンズ
の最適な基板厚さとは球面収差が最も小さくなる光ディ
スクの基板厚さであり、レ−ザ干渉計により測定するこ
とができる。対物レンズ2、3は可動部材4に固定さ
れ、可動部材4は基台5に植立された軸6と中心の穴部
で係合しており、軸6回りに回転自在であり、かつ軸6
の方向(Z方向)に移動自在である。
ながら詳細に説明する。図1は本発明によるレンズアク
チュエ−タ1の構成図であり、(a)は平面図、(b)
は側面図、(c)は正面断面図である。なお説明のため
に(b)の側面図においては磁気回路8の一部を削除し
ている。図1において2、3は対物レンズである。ここ
で対物レンズ2は例えばCD再生用であり、開口数は
0.35〜0.45、最適な基板厚さは1.15mm〜
1.25mmである。後述する半導体レ−ザの波長が例
えば650nmであれば開口数は0.35〜0.4が好
適である。対物レンズ3は例えば高密度光ディスク用で
あり開口数は0.52〜0.65、最適な基板厚さは
0.55mm〜0.65mmである。ここで対物レンズ
の最適な基板厚さとは球面収差が最も小さくなる光ディ
スクの基板厚さであり、レ−ザ干渉計により測定するこ
とができる。対物レンズ2、3は可動部材4に固定さ
れ、可動部材4は基台5に植立された軸6と中心の穴部
で係合しており、軸6回りに回転自在であり、かつ軸6
の方向(Z方向)に移動自在である。
【0010】可動部材4には可動部材4を軸回り及び軸
方向に駆動する電磁駆動手段の一部である磁気回路7、
8が固定されている。磁気回路7、8はそれぞれ磁性体
のヨ−ク7a、8aと永久磁石7b、8bとから構成さ
れている。磁気回路7のヨ−ク7aと永久磁石7bとで
囲まれた磁気空隙7c中にはコイル9が配設され、コイ
ル9の下端は基台5に固定されている。同様に磁気回路
8のヨ−ク8aと永久磁石8bとで囲まれた磁気空隙8
c中にはコイル10が配設され、コイル10の下端は基
台5に固定されている。コイル10はフォ−カス用コイ
ル10aとトラッキング用コイル10b、10cとから
構成され、これら3個のコイルとトラッキング用コイル
10b、10cとの間に配置された磁性体10dとは例
えば熱硬化性のエポキシ樹脂等により一体に成形されて
いる。コイル9もコイル10と同様に3個のコイルから
構成され3個のコイルと磁性体とは一体に成形されてい
る。
方向に駆動する電磁駆動手段の一部である磁気回路7、
8が固定されている。磁気回路7、8はそれぞれ磁性体
のヨ−ク7a、8aと永久磁石7b、8bとから構成さ
れている。磁気回路7のヨ−ク7aと永久磁石7bとで
囲まれた磁気空隙7c中にはコイル9が配設され、コイ
ル9の下端は基台5に固定されている。同様に磁気回路
8のヨ−ク8aと永久磁石8bとで囲まれた磁気空隙8
c中にはコイル10が配設され、コイル10の下端は基
台5に固定されている。コイル10はフォ−カス用コイ
ル10aとトラッキング用コイル10b、10cとから
構成され、これら3個のコイルとトラッキング用コイル
10b、10cとの間に配置された磁性体10dとは例
えば熱硬化性のエポキシ樹脂等により一体に成形されて
いる。コイル9もコイル10と同様に3個のコイルから
構成され3個のコイルと磁性体とは一体に成形されてい
る。
【0011】図2はコイルに作用する磁束とコイルに流
れる電流、コイルが受ける力を説明するための分解斜視
図である。フォ−カス用コイル10aに電流10eを供
給すると磁束Hの作用によりZ軸方向の力Fが作用す
る。コイル9においても同様であり、その結果可動部材
4は対物レンズ2、3の光軸方向であるZ軸方向に移動
し、後述するようにフォ−カス制御を行うことができ
る。トラッキング用コイル10b、10cにそれぞれ電
流10f、10gを供給すると磁束Hの作用によりX軸
方向の力Tが作用する。コイル9についてはコイル10
と逆方向の力が作用するように電流を供給すると可動部
材4にはZ軸回りの偶力が働く。ここでX軸方向を光デ
ィスクの半径方向に略一致するように配置すると、後述
するようにトラッキング制御を行うことができる。ここ
で磁性体9d(図示せず)、10dはそれぞれ磁気回路
7、8の磁気空隙7c、8cの最も磁束の強い場所に保
持されるような力を磁気回路より受ける。軸6回り及び
Z軸方向の磁束の最も強い場所は図1(b)に示すヨ−
ク7、8の中心である。この構成により可動部材4は図
1に示す位置に保持され、可動部材4がZ軸方向に移動
しても、また軸6回りに回動しても磁性体9b、10b
が磁気空隙中にある限り図1に示す位置に戻る。なおレ
ンズアクチュエ−タ1は軸6回りに対称な構成のために
可動部材4が図1に示す位置から180度回転した位置
においても保持される力を受ける。以上の説明より磁気
回路7、8と磁性体9d、10dとは可動部材4の位置
決め手段を構成している。
れる電流、コイルが受ける力を説明するための分解斜視
図である。フォ−カス用コイル10aに電流10eを供
給すると磁束Hの作用によりZ軸方向の力Fが作用す
る。コイル9においても同様であり、その結果可動部材
4は対物レンズ2、3の光軸方向であるZ軸方向に移動
し、後述するようにフォ−カス制御を行うことができ
る。トラッキング用コイル10b、10cにそれぞれ電
流10f、10gを供給すると磁束Hの作用によりX軸
方向の力Tが作用する。コイル9についてはコイル10
と逆方向の力が作用するように電流を供給すると可動部
材4にはZ軸回りの偶力が働く。ここでX軸方向を光デ
ィスクの半径方向に略一致するように配置すると、後述
するようにトラッキング制御を行うことができる。ここ
で磁性体9d(図示せず)、10dはそれぞれ磁気回路
7、8の磁気空隙7c、8cの最も磁束の強い場所に保
持されるような力を磁気回路より受ける。軸6回り及び
Z軸方向の磁束の最も強い場所は図1(b)に示すヨ−
ク7、8の中心である。この構成により可動部材4は図
1に示す位置に保持され、可動部材4がZ軸方向に移動
しても、また軸6回りに回動しても磁性体9b、10b
が磁気空隙中にある限り図1に示す位置に戻る。なおレ
ンズアクチュエ−タ1は軸6回りに対称な構成のために
可動部材4が図1に示す位置から180度回転した位置
においても保持される力を受ける。以上の説明より磁気
回路7、8と磁性体9d、10dとは可動部材4の位置
決め手段を構成している。
【0012】後述する半導体レ−ザからの光束15は図
1(C)に示す基台5の穴部から対物レンズに入射す
る。図1の可動部材4の位置では光束15は対物レンズ
2に入射する。一方可動部材4を180度回転すると光
束15は対物レンズ3に入射する。2個の対物レンズ
2、3は再生する光ディスクの種類に応じて選択するた
めどちらの対物レンズに光束15が入射しているのかを
検出する必要がある。次に可動部材4の軸6回りの位置
の検出手段について説明する。可動部材4の周囲には3
個の反射部材12、13、14が設けられるとともに発
光素子11aと受光素子11bとからなるフォトカプラ
11が設けられている。対物レンズ2が光束15中にあ
るときは反射部材12のために後述するようにフォトカ
プラ11の出力はハイレベルになる。しかし対物レンズ
3が光束15中にあるときはフォトカプラ11と正体す
る位置には反射部材がないためにフォトカプラ11の出
力はロ−レベルになる。フォトカプラ11の出力より可
動部材4の軸6回りの位置が検出できる。反射部材1
3、14は後述するように可動部材4の回転制御に使用
する。なお、図1で説明したレンズアクチュエ−タは可
動部材4と基台5を連結する部材がない。一般にレンズ
アクチュエ−タは可動部材と基台を連結する金属、ゴム
あるいはプラスチック樹脂等のサスペンション手段と、
可動部材に取り付けたコイル群に電流を供給する複数の
リ−ド線を備えているために組立て工程が複雑である。
しかし本方式では可動部分と基台部分を別々に組み立て
て、可動部材の中心の穴部を軸に挿入すれば完成するた
めに、組立て工程が簡単である。このように本レンズア
クチュエ−タは構成上の利点もあるために、1個の対物
レンズを用いる一般の光学式再生装置に適用してもよ
い。
1(C)に示す基台5の穴部から対物レンズに入射す
る。図1の可動部材4の位置では光束15は対物レンズ
2に入射する。一方可動部材4を180度回転すると光
束15は対物レンズ3に入射する。2個の対物レンズ
2、3は再生する光ディスクの種類に応じて選択するた
めどちらの対物レンズに光束15が入射しているのかを
検出する必要がある。次に可動部材4の軸6回りの位置
の検出手段について説明する。可動部材4の周囲には3
個の反射部材12、13、14が設けられるとともに発
光素子11aと受光素子11bとからなるフォトカプラ
11が設けられている。対物レンズ2が光束15中にあ
るときは反射部材12のために後述するようにフォトカ
プラ11の出力はハイレベルになる。しかし対物レンズ
3が光束15中にあるときはフォトカプラ11と正体す
る位置には反射部材がないためにフォトカプラ11の出
力はロ−レベルになる。フォトカプラ11の出力より可
動部材4の軸6回りの位置が検出できる。反射部材1
3、14は後述するように可動部材4の回転制御に使用
する。なお、図1で説明したレンズアクチュエ−タは可
動部材4と基台5を連結する部材がない。一般にレンズ
アクチュエ−タは可動部材と基台を連結する金属、ゴム
あるいはプラスチック樹脂等のサスペンション手段と、
可動部材に取り付けたコイル群に電流を供給する複数の
リ−ド線を備えているために組立て工程が複雑である。
しかし本方式では可動部分と基台部分を別々に組み立て
て、可動部材の中心の穴部を軸に挿入すれば完成するた
めに、組立て工程が簡単である。このように本レンズア
クチュエ−タは構成上の利点もあるために、1個の対物
レンズを用いる一般の光学式再生装置に適用してもよ
い。
【0013】図3は本発明の光学式再生装置の実施例を
示すブロック図である。図1、図2で説明したレンズア
クチュエ−タ1は光ピックアップ20に取り付けられて
いる。システムコントロ−ラ30からの制御信号40に
よりモ−タ駆動回路31はモ−タ駆動信号50を発生
し、光ディスク25を取り付けたモ−タ26が回転す
る。次に制御信号41によりレ−ザ駆動回路32はレ−
ザ駆動信号51を発生し、光ピックアップ20の半導体
レ−ザ21を点灯する。半導体レ−ザ21の発する光束
15はハ−フミラ−22の表面で反射し、反射プリズム
23の表面で反射してレンズアクチュエ−タ1に取り付
けた対物レンズ2または3に入射して回転する光ディス
ク25上に集光される。光ディスク25からの反射光は
ハ−フミラ−22を透過して光検出器24に入射する。
光検出器24からの検出信号52はプリアンプ33に入
り、プリアンプ33よりフォ−カス誤差信号53、トラ
ッキング誤差信号55、RF信号57が出力される。フ
ォ−カス誤差信号53はシステムコントロ−ラ30とフ
ォ−カス制御回路34に入り、フォ−カス誤差信号53
と制御信号42とに基づいてフォ−カス制御回路34か
らはフォ−カス制御信号54が出力されて、前記したレ
ンズアクチュエ−タ1のフォ−カス用コイル9a、10
aに供給されフォ−カス制御が行われる。トラッキング
誤差信号55はシステムコントロ−ラ30とトラッキン
グ制御回路35に入り、トラッキング誤差信号55と制
御信号43とに基づいてトラッキング制御回路35から
はトラッキング制御信号56が出力されて、スイッチ回
路39を経由して前記したレンズアクチュエ−タ1のト
ラッキング用コイル9b、9c、10b、10cに供給
されトラッキング制御が行われる。プリアンプ33から
出力される光ディスク25に記録されたデ−タに対応し
たRF信号57は信号処理回路36に入り、デ−タ信号
58が得られる。また光ピックアップ20を光ディスク
25の半径方向に移動させるために制御信号44に基づ
いて光ピックアップ送り制御回路37は送り制御信号5
9を出力して送り機構(図示せず)を駆動する。
示すブロック図である。図1、図2で説明したレンズア
クチュエ−タ1は光ピックアップ20に取り付けられて
いる。システムコントロ−ラ30からの制御信号40に
よりモ−タ駆動回路31はモ−タ駆動信号50を発生
し、光ディスク25を取り付けたモ−タ26が回転す
る。次に制御信号41によりレ−ザ駆動回路32はレ−
ザ駆動信号51を発生し、光ピックアップ20の半導体
レ−ザ21を点灯する。半導体レ−ザ21の発する光束
15はハ−フミラ−22の表面で反射し、反射プリズム
23の表面で反射してレンズアクチュエ−タ1に取り付
けた対物レンズ2または3に入射して回転する光ディス
ク25上に集光される。光ディスク25からの反射光は
ハ−フミラ−22を透過して光検出器24に入射する。
光検出器24からの検出信号52はプリアンプ33に入
り、プリアンプ33よりフォ−カス誤差信号53、トラ
ッキング誤差信号55、RF信号57が出力される。フ
ォ−カス誤差信号53はシステムコントロ−ラ30とフ
ォ−カス制御回路34に入り、フォ−カス誤差信号53
と制御信号42とに基づいてフォ−カス制御回路34か
らはフォ−カス制御信号54が出力されて、前記したレ
ンズアクチュエ−タ1のフォ−カス用コイル9a、10
aに供給されフォ−カス制御が行われる。トラッキング
誤差信号55はシステムコントロ−ラ30とトラッキン
グ制御回路35に入り、トラッキング誤差信号55と制
御信号43とに基づいてトラッキング制御回路35から
はトラッキング制御信号56が出力されて、スイッチ回
路39を経由して前記したレンズアクチュエ−タ1のト
ラッキング用コイル9b、9c、10b、10cに供給
されトラッキング制御が行われる。プリアンプ33から
出力される光ディスク25に記録されたデ−タに対応し
たRF信号57は信号処理回路36に入り、デ−タ信号
58が得られる。また光ピックアップ20を光ディスク
25の半径方向に移動させるために制御信号44に基づ
いて光ピックアップ送り制御回路37は送り制御信号5
9を出力して送り機構(図示せず)を駆動する。
【0014】次に光ディスク25の種類に応じて対物レ
ンズ2、3を切り換える方法について説明する。フォト
カプラ11よりレンズ位置検出信号60が出力されシス
テムコントロ−ラ30に入力される。システムコントロ
−ラ30が対物レンズを切り換えると判断すると制御信
号45によりスイッチ回路39はキックパルス発生回路
38の出力側に切り換わる。そして制御信号46により
キックパルス発生回路38はキックパルス61を発生し
てレンズアクチュエ−タ1の可動部材4を軸6回りに1
80度回転する。
ンズ2、3を切り換える方法について説明する。フォト
カプラ11よりレンズ位置検出信号60が出力されシス
テムコントロ−ラ30に入力される。システムコントロ
−ラ30が対物レンズを切り換えると判断すると制御信
号45によりスイッチ回路39はキックパルス発生回路
38の出力側に切り換わる。そして制御信号46により
キックパルス発生回路38はキックパルス61を発生し
てレンズアクチュエ−タ1の可動部材4を軸6回りに1
80度回転する。
【0015】図4は上記した対物レンズの切り換え方法
を更に詳しく説明するためのチャ−トである。横軸は可
動部材4の回転角(相対値)である。0度と360度の
位置は対物レンズ2が光軸15上にあり(図1に示す状
態)、180度の位置は対物レンズ3が光軸15上にあ
る場合である。可動部材4には回転位置0度(=360
度)、90度、270度に相当する位置に反射部材1
2、13、14が取り付けられているために、フォトカ
プラ11から得られるレンズ位置検出信号60はハイレ
ベルとなる。可動部材4が0度と180度の安定点にあ
るとき、180度の位置では信号60はロ−レベルのた
めに何れの対物レンズが光軸15上にあるのかを識別で
きる。可動部材4を回転する場合はキックパルス発生回
路38がキックパルス61を出力する。すると可動部材
4は軸6回りに回転するが、可動部材4が安定点180
度の位置を飛び越えるのを防ぐために、レンズ位置検出
信号60から可動部材4の90度の位置を検出して逆向
きのキックパルスを発生して可動部材4の回転速度を制
動して安定点180度の位置に引き込まれるよう制御す
る。
を更に詳しく説明するためのチャ−トである。横軸は可
動部材4の回転角(相対値)である。0度と360度の
位置は対物レンズ2が光軸15上にあり(図1に示す状
態)、180度の位置は対物レンズ3が光軸15上にあ
る場合である。可動部材4には回転位置0度(=360
度)、90度、270度に相当する位置に反射部材1
2、13、14が取り付けられているために、フォトカ
プラ11から得られるレンズ位置検出信号60はハイレ
ベルとなる。可動部材4が0度と180度の安定点にあ
るとき、180度の位置では信号60はロ−レベルのた
めに何れの対物レンズが光軸15上にあるのかを識別で
きる。可動部材4を回転する場合はキックパルス発生回
路38がキックパルス61を出力する。すると可動部材
4は軸6回りに回転するが、可動部材4が安定点180
度の位置を飛び越えるのを防ぐために、レンズ位置検出
信号60から可動部材4の90度の位置を検出して逆向
きのキックパルスを発生して可動部材4の回転速度を制
動して安定点180度の位置に引き込まれるよう制御す
る。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光学式再
生装置は従来の光学式再生装置に対物レンズを1個付加
するだけで、基板厚さの異なる2種類の光ディスクに対
応することができ、装置の小型、低コスト化が可能にな
る。
生装置は従来の光学式再生装置に対物レンズを1個付加
するだけで、基板厚さの異なる2種類の光ディスクに対
応することができ、装置の小型、低コスト化が可能にな
る。
【図1】本発明のレンズアクチュエ−タの構成図
【図2】本発明のレンズアクチュエ−タのコイル部分の
分解斜視図
分解斜視図
【図3】本発明の光学式再生装置のブロック図
【図4】本発明の光学式再生装置の動作を説明するチャ
−ト
−ト
1 レンズアクチュエ−タ 2、3 対物レンズ 4 可動部材 5 基台 6 軸 7、8 磁気回路 9、10 コイル 11 フォトカプラ 20 光ピックアップ 25 光ディスク 30 システムコントロ−ラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 末永 秀夫 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所情報映像事業部内 (72)発明者 石橋 利晃 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所マルチメディアシステム開 発本部内 (72)発明者 鈴木 芳夫 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所マルチメディアシステム開 発本部内
Claims (7)
- 【請求項1】基台に植立された軸と、軸と係合して軸ま
わりに回転可能でかつ軸方向に移動可能な可動部材と、
可動部材に固定された対物レンズと、可動部材を軸と平
行な方向及び軸まわりに駆動する電磁的駆動手段とを少
なくとも備えたことを特徴とするレンズアクチュエ−
タ。 - 【請求項2】可動部材に第1、第2の対物レンズが固定
されていることを特徴とする請求項1に記載するレンズ
アクチュエ−タ。 - 【請求項3】電磁的駆動手段が、可動部材に固定され少
なくとも永久磁石からなる磁界発生手段と、基台に固定
されたコイルとから構成されていることを特徴とする請
求項1から請求項2に記載するレンズアクチュエ−タ。 - 【請求項4】可動部材の軸まわりの位置決め手段を備え
たことを特徴とする請求項1から3に記載するレンズア
クチュエ−タ。 - 【請求項5】可動部材の軸まわりの位置を検出する検出
手段を備えたことを特徴とする請求項1から4に記載す
るレンズアクチュエ−タ。 - 【請求項6】第1の対物レンズと第2の対物レンズとが
下記の関係式を満たすことを特徴とする請求項1から5
に記載するレンズアクチュエ−タ。 0.35<第1の対物レンズの開口数<0.45 1.15mm<第1の対物レンズの最適基板厚さ<1.
25mm 0.52<第2の対物レンズの開口数<0.65 0.55mm<第2の対物レンズの最適基板厚さ<0.
65mm - 【請求項7】請求項1または請求項2または請求項3ま
たは請求項4または請求項5または請求項6に記載する
レンズアクチュエ−タと、レ−ザ光源と、光ディスクか
らの反射光を検出する検出手段とを備えたことを特徴と
する光学式再生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7058488A JPH08255411A (ja) | 1995-03-17 | 1995-03-17 | レンズアクチュエータ及び光学式再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7058488A JPH08255411A (ja) | 1995-03-17 | 1995-03-17 | レンズアクチュエータ及び光学式再生装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08255411A true JPH08255411A (ja) | 1996-10-01 |
Family
ID=13085826
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7058488A Pending JPH08255411A (ja) | 1995-03-17 | 1995-03-17 | レンズアクチュエータ及び光学式再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08255411A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008243250A (ja) * | 2007-03-26 | 2008-10-09 | Mitsubishi Electric Corp | 光ピックアップ装置 |
-
1995
- 1995-03-17 JP JP7058488A patent/JPH08255411A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008243250A (ja) * | 2007-03-26 | 2008-10-09 | Mitsubishi Electric Corp | 光ピックアップ装置 |
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