JPH0825183A - 測定装置組込み式のnc工作機械 - Google Patents
測定装置組込み式のnc工作機械Info
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Abstract
を行う。 【構成】 測定装置組込み式のNC工作機械において、
主軸頭の内部に測定装置収納用空間を形成し、主軸頭に
対して測定装置を移動可能に配置し、測定装置収納用空
間に収納したり、測定装置収納用空間から主軸頭の外側
に測定装置を全体的にあるいは部分的に突出させたりす
る。測定装置を突出させた状態で測定装置による測定を
行う。
Description
定装置を組込んだNC工作機械に関する。
ワークの芯出しや、加工後のワークの寸法精度の測定な
どを行うために、タッチセンサーなどの測定装置が使用
されている。
ルと同様にして工作機械の主軸に着脱自在に取り付けら
れている。
12を参照して説明する。図12は、NC工作機械を部
分的に示す。
な主軸101を備えている。主軸の一端にはテーパ形状
の取付穴101aが形成されている。
ルダー部102aおよびプローブ102bを備えてい
る。ホルダー部102aの形状は、ツールホルダーの形
状と同様であり、主軸101の取付穴101aの形状に
対応している。タッチセンサー102は、ツールホルダ
ーと同様にして主軸101に取り付けられる。つまり、
通常の工具交換の手順によって主軸101の取付穴10
1aにタッチセンサー102のホルダー部102aが係
合される。
2bをワークに接触させ、その接触に応じてタッチセン
サー102からNC装置に信号を送信する。この信号に
基づいて前述の芯出しなどを行う。
においては、タッチセンサー102が主軸101に着脱
自在に設定されるので、電源からタッチセンサー102
への電力供給や、タッチセンサー102からNC装置へ
の信号送信は、無線によって行われる。
態が悪化し易く、測定結果が正確さに欠けるという問題
がある。
防止して、正確な測定を行うことができる測定装置組込
み式のNC工作機械を提供することを目的とする。
めに、本発明は、主軸頭の内部に測定装置収納用空間を
形成し、主軸頭に対して測定装置を移動可能に配置し、
測定装置収納用空間に収納したり、測定装置収納用空間
から主軸頭の外側に測定装置を全体的にあるいは部分的
に突出させたりする構成にしたことを特徴とする測定装
置組込み式のNC工作機械を要旨とする。
定を行う。
込み式のNC工作機械について説明する。
は、立形マシニングセンタであるが、本発明はこれに限
らず、例えば横形マシニングセンタでもよい。
ド41、テーブル42、コラム43、主軸頭44、第1
〜第3モータ45〜47、NC装置49を備えている。
方向に移動可能に設定されており、第1モータ45の駆
動により移動される。X軸方向は、図1において紙面に
対して垂直な方向である。
向に移動可能に設定されており、第2モータ46の駆動
によりY軸方向に移動される。Y軸方向は、X軸方向に
対して垂直な方向である。
向に移動可能に設定されており、第3モータ47の駆動
によりZ軸方向に移動される。Z軸方向は、上下方向で
あり、X軸方向、Y軸方向のそれぞれに対して垂直な方
向である。
て説明する。
モータ51、主軸52、第1ギア53、第2ギア54、
第3ギア55、伝動軸56、第4ギア57、フレーム6
0、ガイド部材71、移動手段72、サドル73、開閉
手段74を備えている。
ーム60に回転可能に支持されている。主軸52には、
第1ギア53が固定されている。第1ギア53は、第2
ギア54と噛み合っている。第2ギア54と第3ギア5
5は、それぞれ伝動軸56に固定されている。第3ギア
55は、第4ギア57に噛み合っている。第4ギア57
は、主軸駆動用モータ51の出力軸58に固定されてい
る。これにより、主軸駆動用モータ51の出力軸58が
回転すると、第4ギア57,第3ギア55,伝動軸5
6、第2ギア54,第1ギア53を介して主軸52を回
転可能である。
沿っている。主軸52の下端には、ツールホルダ50が
着脱可能に取付けられる。図1は、主軸52の下端にツ
ールホルダ50を取付けた状態を示し、図2は、主軸5
2からツールホルダ50を取り外した状態を示す。ツー
ルホルダー50には、ツール59が設定されている。
モータ51は、それぞれNC装置49に電気的に接続さ
れており、NC装置49によって制御される。
は、測定装置収納用空間60aが形成されている。この
測定装置収納用空間60aからフレーム60の下方に向
けて貫通する突出口60bがフレーム60に形成されて
いる。
モータ51、主軸52、第1ギア53、第2ギア54、
第3ギア55、伝動軸56、第4ギア57から隔離され
た空間である。
れフレーム60に固定され、測定装置収納用空間60a
内に位置している。
向に移動可能に設けられている。サドル73には、測定
装置10が取り付けられている。移動手段72は、ロッ
ド72aを備えた油圧シリンダである。サドル73は、
ロッド72aに固定されている。
って、ロッド72aをZ軸方向に伸ばしたり引込めたり
する。それによって、サドル73および測定装置10を
Z軸方向に往復動させる。
ている。開閉手段74は、カバー74aを備えている。
開閉手段74は、NC装置49の制御によって、カバー
74aを移動して突出口60bを開閉する。開閉手段7
4は、図示例のものに限らず、突出口60bを開閉する
ことができるものであればよい。
9および電源にそれぞれ電気的に接続されている。測定
装置10から有線によってNC装置49に、信号が送信
される。
る測定を行わない場合について説明する。
て、サドル73および測定装置10を測定装置収納用空
間60a内の収納位置に移動させる。
じられている。それによって、測定装置収納用空間60
aが密閉されている。この状態で、ワークWの加工を行
う。
る手順について説明する。
する。そして、NC装置49の制御によって、テーブル
42の位置を設定し、コラム43の移動を行い、更に主
軸頭44を下げてツール59によりテーブル42の上の
ワークWを加工する。
る測定を行う場合について説明する。
bを開く。その後、ロッド72aを伸ばしす。それによ
って、測定装置収納用空間60aからフレーム60の下
側に向けて突出口60bを通して測定装置10を部分的
に突出させて、突出位置に移動させる。その後、後述の
ようにして測定を行う。
いて説明する。
る。図4は、測定装置10を示す側面図であり、一部断
面をとって内部構造を見易くしてある。
12、接触子12b、発光素子13、球14、支承部材
15、ばね16、二次元計測用素子17、ハウジング1
8、リミットスイッチ19を備えている。
ドル73に取付けられている。
ジング18が設けてあり、その内部に測定機構が設置し
てある。
プローブ12が設けてある。プローブ12は支承部材1
5により、ハウジング18の内側にスライド可能かつ回
転可能に支承してある。ハウジング18の中心軸線は、
Z軸に平行である。
の内面がプローブ12を支承する支承面になっている。
この支承面は球面形状をしている。プローブ12は、支
承部12aを備える。支承部12aの形状は、支承部材
15の支承面に対応する球面形状である。従ってプロー
ブ12は、支承部材15に対して、支承部12aの中心
を回転中心として自由に回転できる。支承部材15とプ
ローブ12の支承部12aの間には必要に応じて潤滑油
(剤)を供給する。
回転可能に設けてある。球14はハウジング18の内面
に接している。従って、支承部材15は、ハウジング1
8に対してその軸線の方向(Z軸方向)にスライド可能
である。
触子12bが設けてある。接触子12bとしては例えば
ルビーを用いることができる。
を備えている。フランジ部12cは、支承部12aと接
触子12bの間に設けてある。図4に示すように、プロ
ーブ12が基準位置にある時、つまりZ軸方向に変位し
ていない時には、フランジ部12cの下面はハウジング
18の下端部18bの上面と接している。フランジ部1
2cの下面の形状は球面の一部の形状であり、その中心
は、支承部12aの中心、つまりプローブ12の回転中
心と一致する。また、ハウジング18の下端部18bの
上面の形状はフランジ部12cの下面に対応する球面形
状になっている。従って、フランジ部12cがハウジン
グ18の内面に接触した状態で、プローブ12は支承部
12aの中心を回転中心としてハウジング18に対して
自由に回転できる。
る。フランジ部18aは、ハウジング18の中間部分に
設けられている。フランジ部18aの中央には穴があい
ている。プローブ12は、ハウジング18のフランジ部
18aの穴を通るように配置されている。
ング18のフランジ部18aの間には、ばね16が設け
てある。このばね16は、常にプローブ12を下方に押
圧し、プローブ12を図4に示す基準位置にもどそうと
する働きをもつ。
て、接触子12bがワークWに接触した時に、接触子1
2bはランダムに変位する。例えば、プローブ12のフ
ランジ部12cの下面がハウジング18の内面に接触し
た状態でプローブ12がその支承部12aの中心を回転
中心として回転するように、接触子12bが変位する。
あるいは、プローブ12のフランジ部12cがハウジン
グ18の内面からZ軸方向に上向きに離れるように、接
触子12bが変位する。測定が終了した後、プローブ1
2は、ばね16によって基準位置に復帰する。
て、それぞれの端部には発光素子13が設けてある。
に対面するように1つの二次元計測用素子17、例えば
二次元位置検出用PSDが取り付けてある。(以下、二
次元計測用素子をPSDという。)発光素子13は、プ
ローブ12に固定されているが、PSD17はハウジン
グ18と固定関係に設けられている。PSDとは、半導
体位置検出用素子の一種である。PSD17は、発光素
子13の光線L1あるいはL2の当った位置(以下、ス
ポットという)を検出できる。発光素子13は時分割方
式で交互に点灯する。従って、1つのPSD17によっ
て2つの発光素子13からの光線L1、L2のスポット
位置をそれぞれ検出できる。
には、リミットスイッチ19が設けてある。リミットス
イッチ19は、支承部材15とプローブ12が基準位置
からZ軸方向に変位したか否かを検出する。
の測定動作を説明する。
れている。測定装置10の中心軸線10aは、主軸52
の中心軸線52aと平行である。測定装置10の中心軸
線10aと主軸52の中心軸線52aは、距離Lだけ離
れている。
ある場合を示している。基準位置では、X,Y,Z軸方
向の変位は全て0である。発光素子13からの光線L
1,L2のスポットS1,S2はそれぞれPSD17上
の原点(0,0)に位置している。PSD17上には、
X軸方向及びY軸方向に座標軸が設定されており、PS
D17の中央に原点が設定されている。
Z1だけ変位した場合を示している。スポットS1,S
2は反対方向に同じ距離だけ移動する。PSD17上で
のスポットS1,S2の移動距離を、接触子12bのZ
軸方向の移動距離Z1に換算する。
接触子12bが基準位置からX軸方向にX1だけ動いた
場合を示している。スポットS1,S2はPSD17上
で同じ方向に移動する。スポットS1,S2の移動距離
を接触子12bのX軸方向の移動距離X1に換算する。
接触子12bが基準位置からY軸方向にY1だけ動いた
場合を示している。スポットS1,S2はPSD17上
で同じ方向に同じ距離だけ移動する。PSD17上での
スポットS1,S2の移動距離を接触子12bのY軸方
向の移動距離Y1に換算する。
ランダムに変位する。
軸、Y軸方向への移動距離は、それぞれ図7に示す算出
手段によって算出できる。算出方法は、周知の一次元計
測器による算出方法と同様である。ただし、発光素子1
3が時分割方式で交互に発光し、スポットS1,S2が
時分割方式で交互に現れるので、PSD17上でのスポ
ットS1の変位量D1(x1,y1)及びPSD17上
でのスポットS2の変位量D2(x2,y2)は、時分
割方式で交互に求める。
(x1,x2)及びD2(y1,y2)から接触子12
bの変位量を求める方法について説明する。Z信号は、
リミットスイッチ19から出力され、Z軸方向の変位が
0か否かを示す信号である。
定した場合には、常にY軸方向の変位量を求めることが
できる。接触子12bのY軸方向の変位量はスポットS
1(あるいはS2)のY軸方向の変位量y1(又はy
2)から求められる。
できるわけではない。プローブ12の移動の形態を次の
(a)〜(c)の場合に分けて、X軸,Z軸方向の変位
の測定について述べる。
である。
方向には移動していない。
12bのZ軸方向の変位に換算する。X軸方向の変位は
0である。
である。
移動している。この場合には接触子12bのX軸方向、
Z軸方向の移動距離は計測不可能である。
である。
軸方向に移動せず、X軸方向に移動している。この場合
にはx1,x2の値を接触子12bのX軸方向の変位に
換算する。
接触子12bのZ軸方向の変位、X軸方向の変位をそれ
ぞれ測定できる。さらに、(a)、(c)の場合には、
接触子12bがY軸方向及びZ軸方向の両方、あるいは
Y軸方向およびX軸方向の両方に変位した場合に、接触
子12bのY軸方向の変位も測定できる。(b)の場合
には、接触子12bのY軸方向の変位だけを測定でき
る。
た信号をNC装置49に送信する。
の距離Lを補正するように信号を演算処理する。この処
理結果に基づいてワークの芯出しなどを行う。
ず、その他の測定装置を採用することができる。例え
ば、図5、図9、図10、図11にそれぞれ示す測定装
置を採用することができる。これらの測定装置について
次に順に説明する。
明する。
ており、図4に示す測定装置10と比較してプローブの
支え方について異なるので、主にその点について説明す
る。
の上板22c、円盤状の下部材22b、中間部材22d
を備えている。下部材22bは接触子22aを備える。
中間部材22dは、上板22cと下部材22bをつなげ
る。
方向に移動可能に設けられている。スライド体25の下
端25aは球形状に形成されている。プローブ22の下
部材22bの上面に形成された球面形状の凹面によっ
て、スライド体25の下端25aが支持されている。ス
ライド体25の下端25aとプローブ22の下部材22
bは一種の自在継手を形成しており、プローブ22の下
部材22bがスライド体25に対して回転自在である。
スライド体25の上端は、球25cを備えている。この
球25cは、プローブ22の上板22cの下面と接して
いる。
向に移動可能に設けられている。ガイド体28bは、う
で28aに固定されている。うで28aは、ハウジング
28に固定されている。うで28aと中間部材22dは
プローブ22が動いた時に互いに接触しないように、互
いに離して設けられている。
るので、プローブ22は、Z軸方向に移動可能であり、
しかもスライド体25の下面25aの球面の中心を回転
中心として自由に回転できる。
置している。この実施例では、プローブ22は、ばね2
6の力と自重により基準位置に復帰し易い。
みを簡単に説明する。
す。プローブ32の上部には反射鏡32aが設けてあ
る。2個の発光素子33はハウジング31に固定してあ
る。二次元計測用素子39はハウジング31に固定して
ある。プローブ32を支持する構成は、前述の各測定装
置と同様のものを採用できる。
射鏡32aで反射して二次元計測用素子39に入射す
る。
鏡32aが動いた時、光線のスポットがプローブ32の
移動に応じて移動する。このスポットの移動により、プ
ローブ32の先端に設けられた接触子の変位を前述の測
定装置と同様の方法によって求める。
説明する。
いて、前述の図4に示す測定装置10と同様の構成であ
り、同じ符号を付してある。ホルダー部81は、円筒形
状であり、サドルに対して固定される。
説明する。
り、プローブ92を備えている。これは、ワークWと相
対的に移動して、プローブ92の先端92bがワークW
に接触したか否かを検出するものである。つまり、ON
−OFFの検出機能を有する。測定結果は、測定装置9
0とワークWの相対的な移動量と、ON−OFFの検出
結果から求められる。
ブ先端の変位量が測定できるタッチプローブを採用する
こともできる。このタッチプローブは、三次元測定器用
のプローブである。このプローブはX,Y,Z軸方向の
3つの自由度を持ち、それぞれの方向の移動量を差動ト
ランス等で検出するものである。測定結果は、これらの
検出結果から求められる。
用タッチプローブを採用することができる。例えば、光
学式のタッチプローブを採用することもできる。
組込み式のNC工作機械について説明する。
ている。
他の構成については省略している。
52、フレーム160、ガイド部材171、移動手段1
72、サドル173、開閉手段174、支持部材175
を備えている。
され、移動手段172が支持部材175に固定されてい
る。
定装置と同様のものであるが、これに限らず、その他の
種々の測定装置を採用できる。
例のNC工作機械と同様の構成であるが、これに限ら
ず、その他の従来の工作機械と同様の構成にしてもよ
い。
から部分的に突出させた状態を示す。主軸152と測定
装置110の距離L2は、前述の第1実施例と同様のN
C装置によって補正される。
例に限定されない。例えば、二次元計測用素子を2個設
けて、それぞれが対応する発光素子からの光を受光する
ようにしてもよい。
ユニット、例えばNC装置からの指令に基いてもよい。
つまり、ワークの動かし方によって決定することも可能
である。
置収納用空間を形成し、主軸頭に対して測定装置を移動
可能に配置し、測定装置収納用空間に収納したり、測定
装置収納用空間から主軸頭の外側に測定装置を全体的に
あるいは部分的に突出させたりするので、測定装置を突
出させた状態で測定装置による測定を行うことができ、
測定装置を着脱自在に設定する場合と違って、作業効率
を大幅に向上できるとともに、有線によって測定装置か
らの信号を受ける構成にすることが極めて容易である。
を防止して、測定を正確に行うことができる。
り、加工物の良否の判定ができる。加工途中での計測可
能のため、補正による追加加工ができる。加工する前に
加工物の芯出しや基準を容易に出すことができる。
NC工作機械を示す側面図。
部切欠き断面図。
を示す一部切欠き側面図。
念図。
けるスポットの移動距離を求めるための信号の処理方法
を示すブロック図。
離を求めるための信号の処理方法を示すブロック図。
分的に示す図。
のNC工作機械の主軸頭を示す一部切欠き断面図
状態を示す図。
Claims (1)
- 【請求項1】 主軸頭の内部に測定装置収納用空間を形
成し、主軸頭に対して測定装置を移動可能に配置し、測
定装置収納用空間に収納したり、測定装置収納用空間か
ら主軸頭の外側に測定装置を全体的にあるいは部分的に
突出させたりする構成にしたことを特徴とする測定装置
組込み式のNC工作機械。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17767694A JP3275549B2 (ja) | 1994-07-07 | 1994-07-07 | 測定装置組込み式のnc工作機械 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17767694A JP3275549B2 (ja) | 1994-07-07 | 1994-07-07 | 測定装置組込み式のnc工作機械 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0825183A true JPH0825183A (ja) | 1996-01-30 |
JP3275549B2 JP3275549B2 (ja) | 2002-04-15 |
Family
ID=16035164
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17767694A Expired - Fee Related JP3275549B2 (ja) | 1994-07-07 | 1994-07-07 | 測定装置組込み式のnc工作機械 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3275549B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008504554A (ja) * | 2004-06-28 | 2008-02-14 | ヘキサゴン メトロロジー エービー | 座標測定機に使用するための測定プローブ |
JPWO2022250148A1 (ja) * | 2021-05-28 | 2022-12-01 |
-
1994
- 1994-07-07 JP JP17767694A patent/JP3275549B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008504554A (ja) * | 2004-06-28 | 2008-02-14 | ヘキサゴン メトロロジー エービー | 座標測定機に使用するための測定プローブ |
JP2008504555A (ja) * | 2004-06-28 | 2008-02-14 | ヘキサゴン メトロロジー エービー | 座標測定器に使用するための測定用探針 |
JPWO2022250148A1 (ja) * | 2021-05-28 | 2022-12-01 | ||
WO2022250148A1 (ja) * | 2021-05-28 | 2022-12-01 | ヤマザキマザック株式会社 | 取り外し可能なワーク支持体を備えた工作機械 |
US11833630B2 (en) | 2021-05-28 | 2023-12-05 | Yamazaki Mazak Corporation | Machine tool with removable workpiece support |
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---|---|
JP3275549B2 (ja) | 2002-04-15 |
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