JPH08251488A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
- Publication number
- JPH08251488A JPH08251488A JP7080849A JP8084995A JPH08251488A JP H08251488 A JPH08251488 A JP H08251488A JP 7080849 A JP7080849 A JP 7080849A JP 8084995 A JP8084995 A JP 8084995A JP H08251488 A JPH08251488 A JP H08251488A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- voltage
- voltage signal
- output
- read
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims abstract description 61
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 46
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 61
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 61
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 13
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 12
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 39
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 22
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 abstract 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 27
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 12
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 映像信号のS/N比が良好で、映像信号の読
出し動作が速く、誘導ノイズの低減を図ることができ、
製造コストの低減を図ることができる固体撮像装置を得
る。 【構成】 複数の画素から出力される入射光量および暗
出力の和に応じた第1成分からなる電圧信号と暗出力に
応じた第2成分からなる電圧信号のいずれか一方を記憶
する記憶手段と、記憶手段の記憶動作とリセット動作と
を制御するための第1のスイッチング手段と、第1のス
イッチング手段および各画素を順次制御することによ
り、既に記憶手段に記憶されている電圧信号と複数の画
素から出力される第1成分からなる電圧信号と第2成分
からなる電圧信号とのいずれか他方との減算による入射
光量に応じた成分からなる電圧信号に対応する電流信号
を出力する電圧電流変換手段と、前記電流信号を順次水
平読出し線に読み出すための第2のスイッチング手段と
を備えた固体撮像装置。
出し動作が速く、誘導ノイズの低減を図ることができ、
製造コストの低減を図ることができる固体撮像装置を得
る。 【構成】 複数の画素から出力される入射光量および暗
出力の和に応じた第1成分からなる電圧信号と暗出力に
応じた第2成分からなる電圧信号のいずれか一方を記憶
する記憶手段と、記憶手段の記憶動作とリセット動作と
を制御するための第1のスイッチング手段と、第1のス
イッチング手段および各画素を順次制御することによ
り、既に記憶手段に記憶されている電圧信号と複数の画
素から出力される第1成分からなる電圧信号と第2成分
からなる電圧信号とのいずれか他方との減算による入射
光量に応じた成分からなる電圧信号に対応する電流信号
を出力する電圧電流変換手段と、前記電流信号を順次水
平読出し線に読み出すための第2のスイッチング手段と
を備えた固体撮像装置。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば高速動作を目的
とする増幅型固体撮像装置に関するものである。
とする増幅型固体撮像装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図4は、従来の一般的な固体撮像装置
(増幅型固体撮像装置を含む)の概略構成を示す模式回
路図である。図4の固体撮像装置では、説明のために4
つの画素が、2行2列のマトリクス状に配置された場合
を例示しており、ここでは、光電変換部を備えたMOS
型静電誘導トランジスタ(MOSSIT(以下、単に
「SITトランジスタ」という。))S11,S12,
S21,S22を用いて、ソースフォロワによる信号読み出
し方式を用いている。
(増幅型固体撮像装置を含む)の概略構成を示す模式回
路図である。図4の固体撮像装置では、説明のために4
つの画素が、2行2列のマトリクス状に配置された場合
を例示しており、ここでは、光電変換部を備えたMOS
型静電誘導トランジスタ(MOSSIT(以下、単に
「SITトランジスタ」という。))S11,S12,
S21,S22を用いて、ソースフォロワによる信号読み出
し方式を用いている。
【0003】各SITトランジスタS11,S12,S21,
S22のソースは、マトリクス配置の各列毎に垂直ソース
ライン(垂直読出し線)2a,2bに共通に接続されて
おり、ドレインには、電源電圧VDSが共通に接続され
ている。また、各SITトランジスタS11,S12,
S21,S22のゲート電極は、マトリクス配置の各行毎に
垂直走査回路6によって走査されるクロックライン13
a,13bに共通接続され、前記垂直走査回路6から送
出される電圧駆動パルスφG1,φG2によって行単位で駆
動されるようになっている。
S22のソースは、マトリクス配置の各列毎に垂直ソース
ライン(垂直読出し線)2a,2bに共通に接続されて
おり、ドレインには、電源電圧VDSが共通に接続され
ている。また、各SITトランジスタS11,S12,
S21,S22のゲート電極は、マトリクス配置の各行毎に
垂直走査回路6によって走査されるクロックライン13
a,13bに共通接続され、前記垂直走査回路6から送
出される電圧駆動パルスφG1,φG2によって行単位で駆
動されるようになっている。
【0004】前記垂直ソースライン2aと2bは、一方
において、各列毎に光信号出力転送用MOSトランジス
タTS1 ,TS2 及び暗出力転送用MOSトランジスタ
TD1 ,TD2 を介して光信号出力蓄積用コンデンサC
S1 ,CS2 及び暗出力蓄積用コンデンサCD1 ,CD
2 に接続されており、これら蓄積用コンデンサ(CS
1 ,CS2 ,CD1 ,CD2 )は、水平読出し選択用M
OSトランジスタTHS1,THS2,THD1,THD2を経
て信号出力線(水平読出し線)16a及び暗出力線(水
平読出し線)16bに接続されている。
において、各列毎に光信号出力転送用MOSトランジス
タTS1 ,TS2 及び暗出力転送用MOSトランジスタ
TD1 ,TD2 を介して光信号出力蓄積用コンデンサC
S1 ,CS2 及び暗出力蓄積用コンデンサCD1 ,CD
2 に接続されており、これら蓄積用コンデンサ(CS
1 ,CS2 ,CD1 ,CD2 )は、水平読出し選択用M
OSトランジスタTHS1,THS2,THD1,THD2を経
て信号出力線(水平読出し線)16a及び暗出力線(水
平読出し線)16bに接続されている。
【0005】尚、一般的に、前記信号出力線16a及び
暗出力線16bには、寄生容量CHS,CHDが存在する。
また、この信号出力線16a及び暗出力線16bの一方
には、バッファアンプ17a,17bが接続されてい
る。
暗出力線16bには、寄生容量CHS,CHDが存在する。
また、この信号出力線16a及び暗出力線16bの一方
には、バッファアンプ17a,17bが接続されてい
る。
【0006】また、前記信号出力線16a及び暗出力線
16bの他方には、残留する映像信号をリセットする水
平読み出しリセット用MOSトランジスタTRHS,TR
HDのドレインが接続されており、この水平読み出しリセ
ット用MOSトランジスタTRHS,TRHDのゲート電極
にクロックライン18aを介して駆動パルス発生回路1
8から送出される駆動パルスφRSH が供給されたとき
に、該水平読み出しリセット用MOSトランジスタTR
HS,TRHDが動作するようになっている。
16bの他方には、残留する映像信号をリセットする水
平読み出しリセット用MOSトランジスタTRHS,TR
HDのドレインが接続されており、この水平読み出しリセ
ット用MOSトランジスタTRHS,TRHDのゲート電極
にクロックライン18aを介して駆動パルス発生回路1
8から送出される駆動パルスφRSH が供給されたとき
に、該水平読み出しリセット用MOSトランジスタTR
HS,TRHDが動作するようになっている。
【0007】前記水平読出し選択用MOSトランジスタ
THS1,THD1のゲート電極は水平駆動回路7の水平選
択信号ライン7aに、また前記水平読出し選択用MOS
トランジスタTHS2,THD2のゲート電極は水平駆動回
路7の水平選択信号ライン7bにそれぞれ共通接続さ
れ、該水平駆動回路7から送出される駆動パルスφH1,
φH2によって水平読出しが制御されるようになってい
る。
THS1,THD1のゲート電極は水平駆動回路7の水平選
択信号ライン7aに、また前記水平読出し選択用MOS
トランジスタTHS2,THD2のゲート電極は水平駆動回
路7の水平選択信号ライン7bにそれぞれ共通接続さ
れ、該水平駆動回路7から送出される駆動パルスφH1,
φH2によって水平読出しが制御されるようになってい
る。
【0008】前記光信号出力転送用MOSトランジスタ
TS1 ,TS2 の各ゲート電極には光信号用クロックラ
イン14aを介して駆動パルス発生回路14から送出さ
れる駆動パルスφTSが、又前記暗出力転送用MOSトラ
ンジスタTD1 ,TD2 の各ゲート電極には暗出力用ク
ロックライン15aを介して駆動パルス発生回路15か
ら送出される駆動パルスφTDが供給されるようになって
おり、それぞれの駆動パルスφTS,φTDによって、前記
光信号出力転送用MOSトランジスタTS1 ,TS2 及
び暗出力転送用MOSトランジスタTD1 ,TD2 が各
々予め定められた順序で交互に動作するようになってい
る。
TS1 ,TS2 の各ゲート電極には光信号用クロックラ
イン14aを介して駆動パルス発生回路14から送出さ
れる駆動パルスφTSが、又前記暗出力転送用MOSトラ
ンジスタTD1 ,TD2 の各ゲート電極には暗出力用ク
ロックライン15aを介して駆動パルス発生回路15か
ら送出される駆動パルスφTDが供給されるようになって
おり、それぞれの駆動パルスφTS,φTDによって、前記
光信号出力転送用MOSトランジスタTS1 ,TS2 及
び暗出力転送用MOSトランジスタTD1 ,TD2 が各
々予め定められた順序で交互に動作するようになってい
る。
【0009】前記垂直ソースライン2a及び2bは、他
方において、各列毎にリセット用MOSトランジスタT
RV1,TRV2のドレインと、定電流源12a,12bと
に接続されており、各リセット用MOSトランジスタT
RV1,TRV2のソースは接地され、各定電流源12a,
12bには電源電圧VCが供給されている。
方において、各列毎にリセット用MOSトランジスタT
RV1,TRV2のドレインと、定電流源12a,12bと
に接続されており、各リセット用MOSトランジスタT
RV1,TRV2のソースは接地され、各定電流源12a,
12bには電源電圧VCが供給されている。
【0010】尚、前記リセット用MOSトランジスタT
RV1,TRV2のゲート電極は、クロックライン11aを
介して駆動パルス発生回路11に接続されており、該駆
動パルス発生回路11から送出される駆動パルスφRSV
が、前記リセット用MOSトランジスタTRV1,TRV2
のゲート電極に供給されると、このリセット用MOSト
ランジスタTRV1,TRV2が動作して、前記垂直ソース
ライン2a,2b及び光信号出力蓄積用コンデンサCS
1 ,CS2 及び暗出力蓄積用コンデンサCD1,CD2
のリセットを行うようになっている。
RV1,TRV2のゲート電極は、クロックライン11aを
介して駆動パルス発生回路11に接続されており、該駆
動パルス発生回路11から送出される駆動パルスφRSV
が、前記リセット用MOSトランジスタTRV1,TRV2
のゲート電極に供給されると、このリセット用MOSト
ランジスタTRV1,TRV2が動作して、前記垂直ソース
ライン2a,2b及び光信号出力蓄積用コンデンサCS
1 ,CS2 及び暗出力蓄積用コンデンサCD1,CD2
のリセットを行うようになっている。
【0011】次に、図5に示すタイミングチャートを参
照しながら、図4において示した従来の固体撮像装置の
動作について説明する。先ず、図5に示すように、期間
t11において、駆動パルスφTSをハイレベルにする。こ
の結果、既にハイレベルとなっている駆動パルスφRSV
によって導通状態にされているリセット用MOSトラン
ジスタTRV1,TRV2と同様に、光信号出力転送用MO
SトランジスタTS1,TS2 も導通状態とされる。
照しながら、図4において示した従来の固体撮像装置の
動作について説明する。先ず、図5に示すように、期間
t11において、駆動パルスφTSをハイレベルにする。こ
の結果、既にハイレベルとなっている駆動パルスφRSV
によって導通状態にされているリセット用MOSトラン
ジスタTRV1,TRV2と同様に、光信号出力転送用MO
SトランジスタTS1,TS2 も導通状態とされる。
【0012】この結果、これらリセット用MOSトラン
ジスタTRV1,TRV2及び光信号出力転送用MOSトラ
ンジスタTS1 ,TS2 が導通し、光信号出力蓄積用コ
ンデンサCS1 ,CS2 に残留する信号電荷が垂直ソー
スライン2a,2bを介してリセット用MOSトランジ
スタTRV1,TRV2のソースから排出され、この光信号
出力蓄積用コンデンサCS1 ,CS2 は接地レベルにリ
セット(初期化)される。尚、このとき、SITトラン
ジスタS11,S12,S21,S22のゲートは、光電変換部
によって光電変換された電荷が蓄積される状態となって
いる。
ジスタTRV1,TRV2及び光信号出力転送用MOSトラ
ンジスタTS1 ,TS2 が導通し、光信号出力蓄積用コ
ンデンサCS1 ,CS2 に残留する信号電荷が垂直ソー
スライン2a,2bを介してリセット用MOSトランジ
スタTRV1,TRV2のソースから排出され、この光信号
出力蓄積用コンデンサCS1 ,CS2 は接地レベルにリ
セット(初期化)される。尚、このとき、SITトラン
ジスタS11,S12,S21,S22のゲートは、光電変換部
によって光電変換された電荷が蓄積される状態となって
いる。
【0013】次に、期間t12において、駆動パルスφRS
V をローレベルにしてリセット用MOSトランジスタT
RV1,TRV2を遮断状態にするとともに、駆動パルスφ
G1の電圧を読出しレベルVG2 にして第1行目のSIT
トランジスタS11,S12を読み出し状態にする。
V をローレベルにしてリセット用MOSトランジスタT
RV1,TRV2を遮断状態にするとともに、駆動パルスφ
G1の電圧を読出しレベルVG2 にして第1行目のSIT
トランジスタS11,S12を読み出し状態にする。
【0014】この結果、SITトランジスタS11,S12
がソースフォロワ動作を行い、該SITトランジスタS
11,S12のゲートに蓄積された電荷が垂直ソースライン
2a,2bに読み出されるとともに、既にハイレベルと
なっている駆動パルスφTSにより導通状態にある光信号
出力転送用MOSトランジスタTS1 ,TS2 を介し
て、前記電荷(映像信号)が光信号出力蓄積用コンデン
サCS1 ,CS2 に蓄積される。尚、この映像信号に
は、暗成分(D)と光信号成分(S)とを合わせた成分
が含まれており、以下、この映像信号を「合成電圧信号
(VD+VS)」と称す。
がソースフォロワ動作を行い、該SITトランジスタS
11,S12のゲートに蓄積された電荷が垂直ソースライン
2a,2bに読み出されるとともに、既にハイレベルと
なっている駆動パルスφTSにより導通状態にある光信号
出力転送用MOSトランジスタTS1 ,TS2 を介し
て、前記電荷(映像信号)が光信号出力蓄積用コンデン
サCS1 ,CS2 に蓄積される。尚、この映像信号に
は、暗成分(D)と光信号成分(S)とを合わせた成分
が含まれており、以下、この映像信号を「合成電圧信号
(VD+VS)」と称す。
【0015】次に、期間t13において、駆動パルスφTS
をローレベルにして、光信号出力転送用MOSトランジ
スタTS1 ,TS2 を遮断状態にする。この結果、前記
合成電圧信号(VD+VS)が、前記光信号出力蓄積用
コンデンサCS1 ,CS2 に保持されたままの状態とな
る。
をローレベルにして、光信号出力転送用MOSトランジ
スタTS1 ,TS2 を遮断状態にする。この結果、前記
合成電圧信号(VD+VS)が、前記光信号出力蓄積用
コンデンサCS1 ,CS2 に保持されたままの状態とな
る。
【0016】また、このとき(期間t13)、駆動パルス
φG1の電圧を設定レベルVG1 にして、第1行目のSI
TトランジスタS11,S12の読み出し動作を停止する。
また、駆動パルスφRSV をハイレベルにして、リセット
用MOSトランジスタTRV1,TRV2を導通状態にす
る。この結果、垂直ソースライン2a,2bが接地され
る。
φG1の電圧を設定レベルVG1 にして、第1行目のSI
TトランジスタS11,S12の読み出し動作を停止する。
また、駆動パルスφRSV をハイレベルにして、リセット
用MOSトランジスタTRV1,TRV2を導通状態にす
る。この結果、垂直ソースライン2a,2bが接地され
る。
【0017】次に、期間t14において、駆動パルスφG1
の電圧をリセットレベルVG3 にする。この結果、既に
ハイレベルとなって導通状態とされているリセット用M
OSトランジスタTRV1,TRV2によって、第1行目の
SITトランジスタS11,S12のリセット(初期化)が
行われる。尚、第1行目のSITトランジスタS11,S
12のリセットが行われた後、駆動パルスφG1の電圧を設
定レベルVG1 にして、第1行目のSITトランジスタ
S11,S12の動作を停止する。
の電圧をリセットレベルVG3 にする。この結果、既に
ハイレベルとなって導通状態とされているリセット用M
OSトランジスタTRV1,TRV2によって、第1行目の
SITトランジスタS11,S12のリセット(初期化)が
行われる。尚、第1行目のSITトランジスタS11,S
12のリセットが行われた後、駆動パルスφG1の電圧を設
定レベルVG1 にして、第1行目のSITトランジスタ
S11,S12の動作を停止する。
【0018】次に、期間t15において、駆動パルスφTD
をハイレベルにして、暗出力転送用MOSトランジスタ
TD1 ,TD2 を導通状態にする。この結果、既にハイ
レベルとなって導通状態とされているリセット用MOS
トランジスタTRV1,TRV2と暗出力転送用MOSトラ
ンジスタTD1 ,TD2 が導通し、暗出力蓄積用コンデ
ンサCD1 ,CD2 に残留する信号電荷が垂直ソースラ
イン2a,2bを介してリセット用MOSトランジスタ
TRV1,TRV2のソースから排出され、この暗出力蓄積
用コンデンサCD1 ,CD2 は接地レベルにリセット
(初期化)される。
をハイレベルにして、暗出力転送用MOSトランジスタ
TD1 ,TD2 を導通状態にする。この結果、既にハイ
レベルとなって導通状態とされているリセット用MOS
トランジスタTRV1,TRV2と暗出力転送用MOSトラ
ンジスタTD1 ,TD2 が導通し、暗出力蓄積用コンデ
ンサCD1 ,CD2 に残留する信号電荷が垂直ソースラ
イン2a,2bを介してリセット用MOSトランジスタ
TRV1,TRV2のソースから排出され、この暗出力蓄積
用コンデンサCD1 ,CD2 は接地レベルにリセット
(初期化)される。
【0019】次に、期間t16において、駆動パルスφRS
V をローレベルにして、リセット用MOSトランジスタ
TRV1,TRV2を遮断状態にするとともに、駆動パルス
φG1の電圧を読出しレベルVG2 にして第1行目のSI
TトランジスタS11,S12を読み出し状態にする。
V をローレベルにして、リセット用MOSトランジスタ
TRV1,TRV2を遮断状態にするとともに、駆動パルス
φG1の電圧を読出しレベルVG2 にして第1行目のSI
TトランジスタS11,S12を読み出し状態にする。
【0020】この結果、SITトランジスタS11,S12
がソースフォロワ動作を行い、SITトランジスタ
S11,S12のリセット後の映像信号が、垂直ソースライ
ン2a,2bに読み出され、既にハイレベルとなってい
る駆動パルスφTDにより導通状態にある暗出力転送用M
OSトランジスタTD1 ,TD2 を介して、前記映像信
号が暗出力蓄積用コンデンサCD1 ,CD2 に蓄積され
る。尚、この映像信号には、暗成分(D)のみが含まれ
ており、以下、この映像信号を「暗電圧信号VD」と称
す。
がソースフォロワ動作を行い、SITトランジスタ
S11,S12のリセット後の映像信号が、垂直ソースライ
ン2a,2bに読み出され、既にハイレベルとなってい
る駆動パルスφTDにより導通状態にある暗出力転送用M
OSトランジスタTD1 ,TD2 を介して、前記映像信
号が暗出力蓄積用コンデンサCD1 ,CD2 に蓄積され
る。尚、この映像信号には、暗成分(D)のみが含まれ
ており、以下、この映像信号を「暗電圧信号VD」と称
す。
【0021】次に、期間t16の終了時において、前記駆
動パルスφG1が設定レベルVG1 に、駆動パルスφTDが
ローレベルにされるとともに、駆動パルスφRSV がハイ
レベルにされる。この結果、第1行目のSITトランジ
スタS11,S12が、再び光入射による電荷をゲートに蓄
積する状態にされるとともに、暗出力蓄積用コンデンサ
CD1 ,CD2 が遮断状態にされ、該暗出力蓄積用コン
デンサCD1 ,CD2に前記暗電圧信号VDが保持され
た状態のままににされる。また、リセット用MOSトラ
ンジスタTRV1,TRV2は導通状態とされる。
動パルスφG1が設定レベルVG1 に、駆動パルスφTDが
ローレベルにされるとともに、駆動パルスφRSV がハイ
レベルにされる。この結果、第1行目のSITトランジ
スタS11,S12が、再び光入射による電荷をゲートに蓄
積する状態にされるとともに、暗出力蓄積用コンデンサ
CD1 ,CD2 が遮断状態にされ、該暗出力蓄積用コン
デンサCD1 ,CD2に前記暗電圧信号VDが保持され
た状態のままににされる。また、リセット用MOSトラ
ンジスタTRV1,TRV2は導通状態とされる。
【0022】次に、期間t17において、先ず、水平駆動
回路7から水平読出し選択用MOSトランジスタT
HS1,THD1のゲート電極に駆動パルスφH1が印加され
る。この結果、水平読出し選択用MOSトランジスタT
HS1,THD1が作動し、光信号出力蓄積用コンデンサC
S1 に蓄積された合成電圧信号(VD+VS)は信号出
力線16aに、又暗出力蓄積用コンデンサCD1 に蓄積
された暗電圧信号VDは暗出力線16bに、それぞれ読
み出され、バッファアンプ17a及び17bを介して出
力端子VOに出力される。
回路7から水平読出し選択用MOSトランジスタT
HS1,THD1のゲート電極に駆動パルスφH1が印加され
る。この結果、水平読出し選択用MOSトランジスタT
HS1,THD1が作動し、光信号出力蓄積用コンデンサC
S1 に蓄積された合成電圧信号(VD+VS)は信号出
力線16aに、又暗出力蓄積用コンデンサCD1 に蓄積
された暗電圧信号VDは暗出力線16bに、それぞれ読
み出され、バッファアンプ17a及び17bを介して出
力端子VOに出力される。
【0023】尚、一般的に、信号出力線16a及び暗出
力線16bには寄生容量CHS,CHDが存在するため、合
成電圧信号(VD+VS)が信号出力線16aに、又暗
電圧信号VDは暗出力線16bに読み出されたとき、そ
れぞれの電圧信号((VD+VS),VD)の一部がこ
れら寄生容量CHS,CHDに保持され、前記信号出力線1
6a及び暗出力線16bに残留する。そのため、水平読
み出しリセット用MOSトランジスタTRHS,TRHDに
駆動パルスφRSH を印加して、前記信号出力線16a及
び暗出力線16bの各々に残留する電圧信号((VD+
VS),VD)を排出し、前記信号出力線16a及び暗
出力線16bを接地レベルにリセット(初期化)する。
力線16bには寄生容量CHS,CHDが存在するため、合
成電圧信号(VD+VS)が信号出力線16aに、又暗
電圧信号VDは暗出力線16bに読み出されたとき、そ
れぞれの電圧信号((VD+VS),VD)の一部がこ
れら寄生容量CHS,CHDに保持され、前記信号出力線1
6a及び暗出力線16bに残留する。そのため、水平読
み出しリセット用MOSトランジスタTRHS,TRHDに
駆動パルスφRSH を印加して、前記信号出力線16a及
び暗出力線16bの各々に残留する電圧信号((VD+
VS),VD)を排出し、前記信号出力線16a及び暗
出力線16bを接地レベルにリセット(初期化)する。
【0024】次に、再び水平駆動回路7から水平読出し
選択用MOSトランジスタTHS2,THD2のゲート電極
に駆動パルスφH2が印加される。この結果、水平読出し
選択用MOSトランジスタTHS2,THD2が作動し、光
信号出力蓄積用コンデンサCS2 に蓄積された合成電圧
信号(VD+VS)は信号出力線16aに、又暗出力蓄
積用コンデンサCD2 に蓄積された暗電圧信号VDは暗
出力線16bに、それぞれ読み出され、バッファアンプ
17a及び17bを介して出力端子VOに出力される。
選択用MOSトランジスタTHS2,THD2のゲート電極
に駆動パルスφH2が印加される。この結果、水平読出し
選択用MOSトランジスタTHS2,THD2が作動し、光
信号出力蓄積用コンデンサCS2 に蓄積された合成電圧
信号(VD+VS)は信号出力線16aに、又暗出力蓄
積用コンデンサCD2 に蓄積された暗電圧信号VDは暗
出力線16bに、それぞれ読み出され、バッファアンプ
17a及び17bを介して出力端子VOに出力される。
【0025】そして、水平読み出しリセット用MOSト
ランジスタTRHS,TRHDに駆動パルスφRSH を印加し
て、前記信号出力線16a及び暗出力線16bに残留す
る電圧信号((VD+VS),VD)を排出し、前記信
号出力線16a及び暗出力線16bを接地レベルにリセ
ット(初期化)する。
ランジスタTRHS,TRHDに駆動パルスφRSH を印加し
て、前記信号出力線16a及び暗出力線16bに残留す
る電圧信号((VD+VS),VD)を排出し、前記信
号出力線16a及び暗出力線16bを接地レベルにリセ
ット(初期化)する。
【0026】以上のように、期間t17においては、水平
駆動回路7から送出される駆動パルス(φH1,φH2)と
駆動パルスφRSH を順次交互にハイレベル,ローレベル
にして、水平読出し選択用MOSトランジスタTHS1,
THD1,THS2,THD2を動作させ、光信号出力蓄積用
コンデンサCS1 ,CS2 及び暗出力蓄積用コンデンサ
CD1 ,CD2 の各々に蓄積された電圧信号((VD+
VS),VD)を信号出力線16a,暗出力線16b及
びバッファアンプ17a,17bを介して出力端子VO
に出力し、その後に、水平読み出しリセット用MOSト
ランジスタTRHS,TRHDを作動させ、前記信号出力線
16a及び暗出力線16bをリセット(初期化)してい
る。
駆動回路7から送出される駆動パルス(φH1,φH2)と
駆動パルスφRSH を順次交互にハイレベル,ローレベル
にして、水平読出し選択用MOSトランジスタTHS1,
THD1,THS2,THD2を動作させ、光信号出力蓄積用
コンデンサCS1 ,CS2 及び暗出力蓄積用コンデンサ
CD1 ,CD2 の各々に蓄積された電圧信号((VD+
VS),VD)を信号出力線16a,暗出力線16b及
びバッファアンプ17a,17bを介して出力端子VO
に出力し、その後に、水平読み出しリセット用MOSト
ランジスタTRHS,TRHDを作動させ、前記信号出力線
16a及び暗出力線16bをリセット(初期化)してい
る。
【0027】尚、出力端子VOとバッファアンプ17a
及び17bの間には、減算処理アンプ17cが設けられ
ている。これは、信号出力線16aには合成電圧信号
(VS+VD)が読み出され、又暗出力線16bには暗
電圧信号VDが読み出されるため、これらを減算処理
((VS+VD)−VD)することによって、真の映像
信号(光電圧信号VS)のみを抽出するためである。
及び17bの間には、減算処理アンプ17cが設けられ
ている。これは、信号出力線16aには合成電圧信号
(VS+VD)が読み出され、又暗出力線16bには暗
電圧信号VDが読み出されるため、これらを減算処理
((VS+VD)−VD)することによって、真の映像
信号(光電圧信号VS)のみを抽出するためである。
【0028】以上の動作を第2行目のSITトランジス
タS21,S22について、同様に行うことにより(t21〜
t27)、所謂ラスタースキャンが行われる。
タS21,S22について、同様に行うことにより(t21〜
t27)、所謂ラスタースキャンが行われる。
【0029】このようなソースフォロワによる読み出し
動作を行う固体撮像装置では、電荷をソースフォロワア
ンプで増幅して読み出すためS/N比が高く、映像信号
のリニアリティが良いほか、固定パターンノイズ(FP
N)の主原因である画素(SITトランジスタS11,S
12,S21,S22)毎の閾値のばらつきが、暗電圧信号V
Dを記憶する(CD1 ,CD2 )ことにより、合成電圧
信号(VS+VD)からなる映像信号との差を取って簡
単に除去できるという利点を有している。
動作を行う固体撮像装置では、電荷をソースフォロワア
ンプで増幅して読み出すためS/N比が高く、映像信号
のリニアリティが良いほか、固定パターンノイズ(FP
N)の主原因である画素(SITトランジスタS11,S
12,S21,S22)毎の閾値のばらつきが、暗電圧信号V
Dを記憶する(CD1 ,CD2 )ことにより、合成電圧
信号(VS+VD)からなる映像信号との差を取って簡
単に除去できるという利点を有している。
【0030】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の固体撮像装置においては、トランジスタ(S11,S
12,S21,S22)によって増幅した電荷を電圧として、
そのまま水平読出し線(16a,16b)に読出してい
たため、以下に示すような問題点が生じている。
来の固体撮像装置においては、トランジスタ(S11,S
12,S21,S22)によって増幅した電荷を電圧として、
そのまま水平読出し線(16a,16b)に読出してい
たため、以下に示すような問題点が生じている。
【0031】第1に、増幅した電荷(映像信号)の読出
し動作に時間がかかるという問題点がある。これは、水
平読出し線に寄生容量(CHS,CHD)が存在するため、
映像信号(合成電圧信号(VD+VS),暗電圧信号
(VD))を出力線に読み出す際に、前記寄生容量を充
電しなければならず、更にその後に、該寄生容量をリセ
ットしなければならないため、読出し動作速度が遅くな
るのである。
し動作に時間がかかるという問題点がある。これは、水
平読出し線に寄生容量(CHS,CHD)が存在するため、
映像信号(合成電圧信号(VD+VS),暗電圧信号
(VD))を出力線に読み出す際に、前記寄生容量を充
電しなければならず、更にその後に、該寄生容量をリセ
ットしなければならないため、読出し動作速度が遅くな
るのである。
【0032】第2に、合成電圧信号(VD+VS)と、
暗電圧信号(VD)とをそれぞれ別々に出力するために
水平読出し線(16a,16b)が2系統(2本)設け
られているが、このためにバッファアンプ(17a,1
7b)を2つ設けなければならず、高価になるのみなら
ず、実効的なランダム雑音が、√2倍になるという問題
点が生じている。
暗電圧信号(VD)とをそれぞれ別々に出力するために
水平読出し線(16a,16b)が2系統(2本)設け
られているが、このためにバッファアンプ(17a,1
7b)を2つ設けなければならず、高価になるのみなら
ず、実効的なランダム雑音が、√2倍になるという問題
点が生じている。
【0033】第3に、従来の固体撮像装置においては、
水平読出し線(16a,16b)に寄生容量(CHS,C
HD)が存在するため、この寄生容量による電荷分配によ
って、信号線に読み出される映像信号(合成電圧信号
(VD+VS),暗電圧信号VD)の電圧が低下してし
まうという問題点がある。
水平読出し線(16a,16b)に寄生容量(CHS,C
HD)が存在するため、この寄生容量による電荷分配によ
って、信号線に読み出される映像信号(合成電圧信号
(VD+VS),暗電圧信号VD)の電圧が低下してし
まうという問題点がある。
【0034】第4に、従来の固体撮像装置に設けられて
いるバッファアンプ(17a,17b)は、一般的に、
コンデンサ(CS1 ,CS2 ,CD1 ,CD2 )に蓄積
された電荷(映像信号)が減衰しないようにするため、
入力インピーダンスは高く設計されている。即ち、従来
の固体撮像装置に備えられているバッファアンプ(17
a,17b)は、映像信号のS/N比を良好にするため
に、入力インピーダンスは高くされている。
いるバッファアンプ(17a,17b)は、一般的に、
コンデンサ(CS1 ,CS2 ,CD1 ,CD2 )に蓄積
された電荷(映像信号)が減衰しないようにするため、
入力インピーダンスは高く設計されている。即ち、従来
の固体撮像装置に備えられているバッファアンプ(17
a,17b)は、映像信号のS/N比を良好にするため
に、入力インピーダンスは高くされている。
【0035】しかし、バッファアンプは、その性能を高
インピーダンスにすると外部からの誘導ノイズを受け易
くなり、結果的に映像信号のS/Nが悪くなり易いとい
う問題点が生じる。
インピーダンスにすると外部からの誘導ノイズを受け易
くなり、結果的に映像信号のS/Nが悪くなり易いとい
う問題点が生じる。
【0036】本発明は、上記課題を鑑みて成されたもの
であり、映像信号のS/N比を良好にすることができる
固体撮像装置を得ることである。
であり、映像信号のS/N比を良好にすることができる
固体撮像装置を得ることである。
【0037】また、本発明の別の目的は、映像信号の読
出し動作が速い固体撮像装置を得ることである。
出し動作が速い固体撮像装置を得ることである。
【0038】また、本発明の別の目的は、誘導ノイズを
受けにくくすることができる固体撮像装置を得ることを
目的とする。
受けにくくすることができる固体撮像装置を得ることを
目的とする。
【0039】また、本発明の別の目的は、製造コストの
低減を図ることができる固体撮像装置を得ることを目的
とする。
低減を図ることができる固体撮像装置を得ることを目的
とする。
【0040】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明に
係る固体撮像装置は、上記目的を達成するために、2次
元マトリクス状に配列され、入射光に応じた電荷を電圧
信号に変換して出力する複数の画素と、前記画素を前記
マトリクス配列の各行毎に共通に順次列方向に走査して
各画素からの電圧信号を列毎に取り出すための複数の垂
直読出し線と、前記複数の垂直読出し線を行方向に走査
して各行毎の時系列的な電圧信号を順次取り出すための
水平読出し線と、を備えた固体撮像装置であって、各垂
直読出し線には、各々に接続された画素が走査されたと
きに該画素から出力される電圧信号を記憶する記憶手段
がそれぞれ設けられ、前記記憶手段の各々は、全ての記
憶手段の記憶動作とリセット動作とを制御するための第
1のスイッチング手段に接続され、第1のスイッチング
手段および各行毎の各画素を順次制御することにより、
各画素から入射光量および暗出力の和に応じた第1成分
からなる電圧信号と暗出力に応じた第2成分からなる電
圧信号とを別々の時点で出力させると共に、前記記憶手
段に前記第1成分からなる電圧信号と第2成分からなる
電圧信号とのいずれか一方を記憶させ、次いで画素から
出力される第1成分からなる電圧信号と第2成分からな
る電圧信号とのいずれか他方と、既に前記記憶手段に記
憶されている電圧信号との減算による入射光量に応じた
成分からなる電圧信号に対応する電流信号を出力する電
圧電流変換手段とが設けられ、各電圧電流変換手段と水
平読出し線との間には、前記電流信号を順次前記水平読
出し線に読み出すための第2のスイッチング手段がそれ
ぞれ設けられていることを特徴とするものである。
係る固体撮像装置は、上記目的を達成するために、2次
元マトリクス状に配列され、入射光に応じた電荷を電圧
信号に変換して出力する複数の画素と、前記画素を前記
マトリクス配列の各行毎に共通に順次列方向に走査して
各画素からの電圧信号を列毎に取り出すための複数の垂
直読出し線と、前記複数の垂直読出し線を行方向に走査
して各行毎の時系列的な電圧信号を順次取り出すための
水平読出し線と、を備えた固体撮像装置であって、各垂
直読出し線には、各々に接続された画素が走査されたと
きに該画素から出力される電圧信号を記憶する記憶手段
がそれぞれ設けられ、前記記憶手段の各々は、全ての記
憶手段の記憶動作とリセット動作とを制御するための第
1のスイッチング手段に接続され、第1のスイッチング
手段および各行毎の各画素を順次制御することにより、
各画素から入射光量および暗出力の和に応じた第1成分
からなる電圧信号と暗出力に応じた第2成分からなる電
圧信号とを別々の時点で出力させると共に、前記記憶手
段に前記第1成分からなる電圧信号と第2成分からなる
電圧信号とのいずれか一方を記憶させ、次いで画素から
出力される第1成分からなる電圧信号と第2成分からな
る電圧信号とのいずれか他方と、既に前記記憶手段に記
憶されている電圧信号との減算による入射光量に応じた
成分からなる電圧信号に対応する電流信号を出力する電
圧電流変換手段とが設けられ、各電圧電流変換手段と水
平読出し線との間には、前記電流信号を順次前記水平読
出し線に読み出すための第2のスイッチング手段がそれ
ぞれ設けられていることを特徴とするものである。
【0041】請求項2に記載の発明に係る固体撮像装置
では、請求項1に記載の固体撮像装置において、前記画
素が、入射光に応じた電荷を生じて蓄積する光電変換素
子と、制御領域に受け取った電荷に応じた電圧信号を生
じる増幅素子と、光電変換素子で発生・蓄積された電荷
を増幅素子の制御領域へ選択的に転送する転送制御素子
と、増幅素子の制御領域の電荷を選択的にリセットする
リセット制御素子と、を含むことを特徴とするものであ
る。
では、請求項1に記載の固体撮像装置において、前記画
素が、入射光に応じた電荷を生じて蓄積する光電変換素
子と、制御領域に受け取った電荷に応じた電圧信号を生
じる増幅素子と、光電変換素子で発生・蓄積された電荷
を増幅素子の制御領域へ選択的に転送する転送制御素子
と、増幅素子の制御領域の電荷を選択的にリセットする
リセット制御素子と、を含むことを特徴とするものであ
る。
【0042】
【作用】請求項1に記載の発明による固体撮像装置は、
複数の画素と、複数の垂直読出し線と、水平読出し線
と、記憶手段と、第1のスイッチング手段と、電圧電流
変換手段と、第2のスイッチング手段とから主に構成さ
れている。
複数の画素と、複数の垂直読出し線と、水平読出し線
と、記憶手段と、第1のスイッチング手段と、電圧電流
変換手段と、第2のスイッチング手段とから主に構成さ
れている。
【0043】ここで、複数の画素は、2次元マトリクス
状に配列され、入射光に応じた電荷を電圧信号に変換し
て出力する。複数の垂直読出し線は、前記画素を前記マ
トリクス配列の各行毎に共通に順次列方向に走査して各
画素からの電圧信号を列毎に取り出す。水平読出し線
は、前記複数の垂直読出し線を行方向に走査して各行毎
の時系列的な電流信号を順次取り出す。
状に配列され、入射光に応じた電荷を電圧信号に変換し
て出力する。複数の垂直読出し線は、前記画素を前記マ
トリクス配列の各行毎に共通に順次列方向に走査して各
画素からの電圧信号を列毎に取り出す。水平読出し線
は、前記複数の垂直読出し線を行方向に走査して各行毎
の時系列的な電流信号を順次取り出す。
【0044】また、記憶手段は、各垂直読出し線に設け
られ、各垂直線の各々に接続された画素が走査されたと
きに該画素から出力される電圧信号を記憶する。第1の
スイッチング手段は、前記記憶手段の各々と接続され、
全ての記憶手段の記憶動作とリセット動作とを制御す
る。
られ、各垂直線の各々に接続された画素が走査されたと
きに該画素から出力される電圧信号を記憶する。第1の
スイッチング手段は、前記記憶手段の各々と接続され、
全ての記憶手段の記憶動作とリセット動作とを制御す
る。
【0045】また、電圧電流変換手段は、前記第1のス
イッチング手段および各行毎の各画素が順次制御される
ことにより、各画素から入射光量および暗出力の和に応
じた第1成分からなる電圧信号と暗出力に応じた第2成
分からなる電圧信号とが別々の時点で出力され、前記記
憶手段に前記第1成分からなる電圧信号と第2成分から
なる電圧信号とのいずれか一方を記憶し、次いで画素か
ら出力される第1成分からなる電圧信号と第2成分から
なる電圧信号とのいずれか他方と、既に前記記憶手段に
記憶されている電圧信号との減算による入射光量に応じ
た成分からなる電圧信号に対応する電流信号を出力す
る。
イッチング手段および各行毎の各画素が順次制御される
ことにより、各画素から入射光量および暗出力の和に応
じた第1成分からなる電圧信号と暗出力に応じた第2成
分からなる電圧信号とが別々の時点で出力され、前記記
憶手段に前記第1成分からなる電圧信号と第2成分から
なる電圧信号とのいずれか一方を記憶し、次いで画素か
ら出力される第1成分からなる電圧信号と第2成分から
なる電圧信号とのいずれか他方と、既に前記記憶手段に
記憶されている電圧信号との減算による入射光量に応じ
た成分からなる電圧信号に対応する電流信号を出力す
る。
【0046】第2のスイッチング手段は、各電圧電流変
換手段と水平読出し線との間にそれぞれ設けられ、各垂
直読出し線の電圧電流変換手段から出力される前記電流
信号を順次前記水平読出し線に読み出す。
換手段と水平読出し線との間にそれぞれ設けられ、各垂
直読出し線の電圧電流変換手段から出力される前記電流
信号を順次前記水平読出し線に読み出す。
【0047】つまり、本発明においては、複数の画素か
ら、入射光量と暗出力との和に応じた第1成分からなる
電圧信号と暗出力に応じた第2成分からなる電圧信号と
のいずれか一方が出力され、出力された電圧信号は第1
のスイッチング手段によって制御される記憶手段に記憶
される。
ら、入射光量と暗出力との和に応じた第1成分からなる
電圧信号と暗出力に応じた第2成分からなる電圧信号と
のいずれか一方が出力され、出力された電圧信号は第1
のスイッチング手段によって制御される記憶手段に記憶
される。
【0048】その後、続いて複数の画素から、入射光量
と暗出力との和に応じた第1成分からなる電圧信号と暗
出力に応じた第2成分からなる電圧信号とのいずれか他
方が出力されると、この出力された電圧信号と前記記憶
手段に記憶されている電圧信号とが、前記第1のスイッ
チング手段の制御動作に伴って減算されるように合成さ
れ、これにより入射光のみに応じた成分からなる電圧信
号のみが、電圧電流変換手段に印加される。
と暗出力との和に応じた第1成分からなる電圧信号と暗
出力に応じた第2成分からなる電圧信号とのいずれか他
方が出力されると、この出力された電圧信号と前記記憶
手段に記憶されている電圧信号とが、前記第1のスイッ
チング手段の制御動作に伴って減算されるように合成さ
れ、これにより入射光のみに応じた成分からなる電圧信
号のみが、電圧電流変換手段に印加される。
【0049】即ち、第1の記憶手段に記憶された電圧信
号を入射光量(S)と暗出力(D)との和に応じた第1
成分からなる電圧信号(VS+VD)と、その後に画素
から出力される電圧信号を暗出力(D)に応じた第2成
分からなる電圧信号(VD)と仮定すると、第1のスイ
ッチング手段の制御動作に伴って、(VS+VD)−
(VD)=(VS)なる減算が行われ、入射光にのみ応
じた成分(S)からなる電圧信号(VS)のみが、電圧
電流変換手段に印加されるのである。
号を入射光量(S)と暗出力(D)との和に応じた第1
成分からなる電圧信号(VS+VD)と、その後に画素
から出力される電圧信号を暗出力(D)に応じた第2成
分からなる電圧信号(VD)と仮定すると、第1のスイ
ッチング手段の制御動作に伴って、(VS+VD)−
(VD)=(VS)なる減算が行われ、入射光にのみ応
じた成分(S)からなる電圧信号(VS)のみが、電圧
電流変換手段に印加されるのである。
【0050】そして、電圧電流変換手段に印加された電
圧信号(VS)は、該電圧信号(VS)に対応する電流
信号(IS)に変換され、第2のスイッチング手段が動
作することにより、水平読出し線には、結局、入射光量
に応じた成分(S)からなる電流信号(IS)のみが読
み出される。
圧信号(VS)は、該電圧信号(VS)に対応する電流
信号(IS)に変換され、第2のスイッチング手段が動
作することにより、水平読出し線には、結局、入射光量
に応じた成分(S)からなる電流信号(IS)のみが読
み出される。
【0051】従って、水平読出し線に読み出される映像
信号が電流信号として読み出されるため、水平読出し線
に存在する寄生容量による電荷分配がなくなり、映像信
号のS/N比を向上させることが可能になる。
信号が電流信号として読み出されるため、水平読出し線
に存在する寄生容量による電荷分配がなくなり、映像信
号のS/N比を向上させることが可能になる。
【0052】また、本発明においては、水平読出し線に
読み出される映像信号が電流信号であるため、映像信号
の読出し動作を速くすることが可能になる。
読み出される映像信号が電流信号であるため、映像信号
の読出し動作を速くすることが可能になる。
【0053】つまり、従来の固体撮像装置においては、
水平読出し線に読み出す映像信号を電圧として読み出す
ようにしていたため、水平読出し線の寄生容量を無視す
ることができず、例えば映像信号を水平読出し線に読み
出す際には前記寄生容量を充電した後、該寄生容量に蓄
積された電荷をリセットしなければならないため、読出
し動作速度が遅くなるという問題点が生じていたが、本
発明においては、水平読出し線に読み出される映像信号
を電流信号に変換した後に、該水平読出し線に読み出す
ようにしたため、寄生容量が存在しても、この寄生容量
の充電やリセット動作を行う必要がなくなり、映像信号
の読出し動作を速くすることが可能になる。
水平読出し線に読み出す映像信号を電圧として読み出す
ようにしていたため、水平読出し線の寄生容量を無視す
ることができず、例えば映像信号を水平読出し線に読み
出す際には前記寄生容量を充電した後、該寄生容量に蓄
積された電荷をリセットしなければならないため、読出
し動作速度が遅くなるという問題点が生じていたが、本
発明においては、水平読出し線に読み出される映像信号
を電流信号に変換した後に、該水平読出し線に読み出す
ようにしたため、寄生容量が存在しても、この寄生容量
の充電やリセット動作を行う必要がなくなり、映像信号
の読出し動作を速くすることが可能になる。
【0054】更に、本発明においては、画素から出力さ
れる入射光量と暗出力の和に応じた第1成分からなる電
圧信号と、暗出力に応じた第2成分からなる電圧信号と
の減算によって得られる電圧信号を電流信号に変換する
ため、水平読出し線を従来のように2系統とする必要も
なくなり、1系統(1本)とすることが可能となる。
れる入射光量と暗出力の和に応じた第1成分からなる電
圧信号と、暗出力に応じた第2成分からなる電圧信号と
の減算によって得られる電圧信号を電流信号に変換する
ため、水平読出し線を従来のように2系統とする必要も
なくなり、1系統(1本)とすることが可能となる。
【0055】この結果、従来の固体撮像装置のように、
バッファアンプを2つも設ける必要がなく、コストの低
減を図ることが可能になる。また、そもそも、前記水平
読出し線に読み出される映像信号は電流信号として扱わ
れるため、低入力インピーダンスの出力回路を用いるこ
とが可能となり、出力される映像信号が外部からの誘導
ノイズの影響を受けることがなくなる。
バッファアンプを2つも設ける必要がなく、コストの低
減を図ることが可能になる。また、そもそも、前記水平
読出し線に読み出される映像信号は電流信号として扱わ
れるため、低入力インピーダンスの出力回路を用いるこ
とが可能となり、出力される映像信号が外部からの誘導
ノイズの影響を受けることがなくなる。
【0056】請求項2に記載の発明による固体撮像装置
では、請求項1に記載の固体撮像装置において、前記画
素は、例えば光電変換素子と、増幅素子と、転送制御素
子と、リセット制御素子とから構成される。
では、請求項1に記載の固体撮像装置において、前記画
素は、例えば光電変換素子と、増幅素子と、転送制御素
子と、リセット制御素子とから構成される。
【0057】ここで、光電変換素子は、入射光に応じた
電荷を生じて蓄積する。増幅素子は、制御領域に受け取
った電荷に応じた信号出力を生じる。転送制御素子は、
前記光電変換素子で発生・蓄積された電荷を前記増幅素
子の制御領域へ選択的に転送する。リセット素子は、前
記増幅素子の制御領域の電荷を選択的にリセットする。
電荷を生じて蓄積する。増幅素子は、制御領域に受け取
った電荷に応じた信号出力を生じる。転送制御素子は、
前記光電変換素子で発生・蓄積された電荷を前記増幅素
子の制御領域へ選択的に転送する。リセット素子は、前
記増幅素子の制御領域の電荷を選択的にリセットする。
【0058】つまり、従来例において示したMOS型静
電誘導トランジスタ(MOSSIT)などでは、画素構
造上、合成電圧信号(VD+VS)と暗電圧信号(V
D)とを出力する間に画素のリセット(初期化)動作を
行うため、このリセット動作を行う時間だけ、映像信号
の読出し動作が遅くなるが、請求項2に記載の構成の画
素においては、入射光量及び暗出力の和に応じた第1成
分からなる電圧信号(映像信号)と暗出力に応じた第2
成分からなる電圧信号(映像信号)とを出力する間に、
いわゆる画素のリセット(初期化)動作をしなくても前
記両信号を出力することができるため、更に高速で、映
像信号を読み出すことが可能になる。
電誘導トランジスタ(MOSSIT)などでは、画素構
造上、合成電圧信号(VD+VS)と暗電圧信号(V
D)とを出力する間に画素のリセット(初期化)動作を
行うため、このリセット動作を行う時間だけ、映像信号
の読出し動作が遅くなるが、請求項2に記載の構成の画
素においては、入射光量及び暗出力の和に応じた第1成
分からなる電圧信号(映像信号)と暗出力に応じた第2
成分からなる電圧信号(映像信号)とを出力する間に、
いわゆる画素のリセット(初期化)動作をしなくても前
記両信号を出力することができるため、更に高速で、映
像信号を読み出すことが可能になる。
【0059】
【実施例】図1は、本発明の一実施例に係る固体撮像装
置の概略構成を示す模式回路図である。図1に示す固体
撮像装置では、説明のために4つの画素1が、2行2列
のマトリクス状に配置された場合を例示している。各画
素1は、入射光に応じた電荷を生成して蓄積するフォト
ダイオードPDと、制御領域に受け取った電荷に応じた
信号を電圧信号として出力する増幅用トランジスタ(本
実施例においてはNチャネル型JFET)QAと、前記
フォトダイオードPDで生成・蓄積された電荷を増幅用
トランジスタQAの制御領域へ選択的に転送する転送用
MOSトランジスタ(Pチャネル型)QTと、前記増幅
用トランジスタQAの制御領域の電荷を選択的に初期化
するためのリセット用MOSトランジスタ(Pチャネル
型)QPとから構成され、前記増幅用トランジスタQA
によるソースフォロワ動作によって信号が読み出される
ようになっている。
置の概略構成を示す模式回路図である。図1に示す固体
撮像装置では、説明のために4つの画素1が、2行2列
のマトリクス状に配置された場合を例示している。各画
素1は、入射光に応じた電荷を生成して蓄積するフォト
ダイオードPDと、制御領域に受け取った電荷に応じた
信号を電圧信号として出力する増幅用トランジスタ(本
実施例においてはNチャネル型JFET)QAと、前記
フォトダイオードPDで生成・蓄積された電荷を増幅用
トランジスタQAの制御領域へ選択的に転送する転送用
MOSトランジスタ(Pチャネル型)QTと、前記増幅
用トランジスタQAの制御領域の電荷を選択的に初期化
するためのリセット用MOSトランジスタ(Pチャネル
型)QPとから構成され、前記増幅用トランジスタQA
によるソースフォロワ動作によって信号が読み出される
ようになっている。
【0060】各増幅用トランジスタQAのソースは、マ
トリクス配置の各列毎に垂直ソースライン2a,2bに
共通に接続されており、また、各増幅用トランジスタQ
Aのドレイン及びフォトダイオードPDのカソード側に
は電源電圧VDS が各画素毎に共通に印加されている。ま
た、各フォトダイオードPDのアノード側及び各増幅用
トランジスタQAのゲート(制御領域)は、それぞれ転
送用MOSトランジスタQTのソース・ドレインに接続
されている。
トリクス配置の各列毎に垂直ソースライン2a,2bに
共通に接続されており、また、各増幅用トランジスタQ
Aのドレイン及びフォトダイオードPDのカソード側に
は電源電圧VDS が各画素毎に共通に印加されている。ま
た、各フォトダイオードPDのアノード側及び各増幅用
トランジスタQAのゲート(制御領域)は、それぞれ転
送用MOSトランジスタQTのソース・ドレインに接続
されている。
【0061】転送用MOSトランジスタQTの転送用ゲ
ート電極は、マトリクス配置の各行毎に垂直走査回路6
に接続されたクロックライン3aあるいは3bに共通接
続され、前記垂直走査回路6から送出される駆動パルス
φTG1 あるいはφTG2 が与えられると、該転送用MOS
トランジスタQTが各行毎に順次動作するようになって
いる。
ート電極は、マトリクス配置の各行毎に垂直走査回路6
に接続されたクロックライン3aあるいは3bに共通接
続され、前記垂直走査回路6から送出される駆動パルス
φTG1 あるいはφTG2 が与えられると、該転送用MOS
トランジスタQTが各行毎に順次動作するようになって
いる。
【0062】リセット用MOSトランジスタQPのドレ
インは、マトリクス配置の各行毎に垂直走査回路6に接
続されたクロックライン5aあるいは5bに共通接続さ
れており、また、該リセット用MOSトランジスタQP
のゲート電極は、行ライン4aを介して駆動パルス発生
回路4に各画素毎に共通に接続されている。また、リセ
ット用MOSトランジスタQPのソースは、転送用MO
SトランジスタQTのドレインと共有になっている。そ
して、このリセット用MOSトランジスタQPのゲート
電極に前記駆動パルス発生回路4から送出される駆動パ
ルスφRGが与えられると、該リセット用MOSトランジ
スタQPが動作するようになっている。
インは、マトリクス配置の各行毎に垂直走査回路6に接
続されたクロックライン5aあるいは5bに共通接続さ
れており、また、該リセット用MOSトランジスタQP
のゲート電極は、行ライン4aを介して駆動パルス発生
回路4に各画素毎に共通に接続されている。また、リセ
ット用MOSトランジスタQPのソースは、転送用MO
SトランジスタQTのドレインと共有になっている。そ
して、このリセット用MOSトランジスタQPのゲート
電極に前記駆動パルス発生回路4から送出される駆動パ
ルスφRGが与えられると、該リセット用MOSトランジ
スタQPが動作するようになっている。
【0063】前記垂直ソースライン2a,2bは、一方
において、各列毎に出力信号蓄積用コンデンサCD1 ,
CD2 と接続しており、更に、これら出力信号蓄積用コ
ンデンサCD1 ,CD2 は、該コンデンサ(CD1 ,C
D2 )の動作を制御するためのスイッチ用MOSトラン
ジスタ(Nチャネル型)QO1 ,QO2 のドレイン、及
び電圧−電流変換用MOSトランジスタ(デプレッショ
ン型Nチャネル)QR1 ,QR2 のゲート電極と接続し
ている。
において、各列毎に出力信号蓄積用コンデンサCD1 ,
CD2 と接続しており、更に、これら出力信号蓄積用コ
ンデンサCD1 ,CD2 は、該コンデンサ(CD1 ,C
D2 )の動作を制御するためのスイッチ用MOSトラン
ジスタ(Nチャネル型)QO1 ,QO2 のドレイン、及
び電圧−電流変換用MOSトランジスタ(デプレッショ
ン型Nチャネル)QR1 ,QR2 のゲート電極と接続し
ている。
【0064】前記スイッチ用MOSトランジスタQO
1 ,QO2 のゲート電極は、クロックライン10aを介
して駆動パルス発生回路10に接続されており、該駆動
パルス発生回路10から送出される駆動パルスφT が、
前記スイッチ用MOSトランジスタQO1 ,QO2 のゲ
ート電極に与えられると、このスイッチ用MOSトラン
ジスタQO1 ,QO2 が動作するようになっている。ま
た、このスイッチ用MOSトランジスタQO1 ,QO2
のソースは接地されている。
1 ,QO2 のゲート電極は、クロックライン10aを介
して駆動パルス発生回路10に接続されており、該駆動
パルス発生回路10から送出される駆動パルスφT が、
前記スイッチ用MOSトランジスタQO1 ,QO2 のゲ
ート電極に与えられると、このスイッチ用MOSトラン
ジスタQO1 ,QO2 が動作するようになっている。ま
た、このスイッチ用MOSトランジスタQO1 ,QO2
のソースは接地されている。
【0065】各電圧−電流変換用MOSトランジスタQ
R1 ,QR2 のソースはそれぞれ抵抗R1 あるいはR2
を介して定電圧源VSに接続され、又ドレインは水平読
み出しスイッチ用MOSトランジスタ(Nチャネル型)
QH1 ,QH2 を介して水平読出しライン8に接続され
ている。
R1 ,QR2 のソースはそれぞれ抵抗R1 あるいはR2
を介して定電圧源VSに接続され、又ドレインは水平読
み出しスイッチ用MOSトランジスタ(Nチャネル型)
QH1 ,QH2 を介して水平読出しライン8に接続され
ている。
【0066】前記水平読み出しスイッチ用MOSトラン
ジスタQH1 ,QH2 の各ゲート電極は、水平走査回路
7に接続された水平選択信号ライン7a,7bに接続さ
れており、前記水平走査回路7から送出される駆動パル
スφH1,φH2によって水平読出しが制御されるようにな
っている。
ジスタQH1 ,QH2 の各ゲート電極は、水平走査回路
7に接続された水平選択信号ライン7a,7bに接続さ
れており、前記水平走査回路7から送出される駆動パル
スφH1,φH2によって水平読出しが制御されるようにな
っている。
【0067】尚、水平読出しライン8には、入力が定電
源VRに仮想接地された電流−電圧変換増幅回路9が設け
られている。そして、この水平読出しライン8に読み出
された映像信号電流が、前記電流−電圧変換回路9によ
って映像信号電圧に変換された後、出力端子VOから順
次出力されるようになっている。
源VRに仮想接地された電流−電圧変換増幅回路9が設け
られている。そして、この水平読出しライン8に読み出
された映像信号電流が、前記電流−電圧変換回路9によ
って映像信号電圧に変換された後、出力端子VOから順
次出力されるようになっている。
【0068】また、前記垂直ソースライン2a,2b
は、他方において、各列毎にリセットスイッチ用MOS
トランジスタ(Nチャネル型)TRV1,TRV2のドレイ
ンと、定電流源12a,12bとに接続され、各リセッ
トスイッチ用MOSトランジスタTRV1,TRV2のソー
スは接地され、各定電流源12a,12bには電源電圧
VC(負)が供給されている。
は、他方において、各列毎にリセットスイッチ用MOS
トランジスタ(Nチャネル型)TRV1,TRV2のドレイ
ンと、定電流源12a,12bとに接続され、各リセッ
トスイッチ用MOSトランジスタTRV1,TRV2のソー
スは接地され、各定電流源12a,12bには電源電圧
VC(負)が供給されている。
【0069】尚、前記リセットスイッチ用MOSトラン
ジスタTRV1,TRV2のゲート電極は、クロックライン
11aを介して駆動パルス発生回路11に接続されてお
り、該駆動パルス発生回路11から送出される駆動パル
スφRSV が、リセットスイッチ用MOSトランジスタT
RV1,TRV2のゲート電極に与えられると、このリセッ
トスイッチ用MOSトランジスタTRV1,TRV2が動作
するようになっている。
ジスタTRV1,TRV2のゲート電極は、クロックライン
11aを介して駆動パルス発生回路11に接続されてお
り、該駆動パルス発生回路11から送出される駆動パル
スφRSV が、リセットスイッチ用MOSトランジスタT
RV1,TRV2のゲート電極に与えられると、このリセッ
トスイッチ用MOSトランジスタTRV1,TRV2が動作
するようになっている。
【0070】次に、図2に示すパルスタイミングチャー
トを参照しながら、図1に示す固体撮像装置の動作につ
いて説明する。尚、図2において、期間t10〜t17は、
第1行目の画素1の読み出し動作を示しており、期間t
20〜t27は、第2行目の画素1の読み出し動作を示して
いる。
トを参照しながら、図1に示す固体撮像装置の動作につ
いて説明する。尚、図2において、期間t10〜t17は、
第1行目の画素1の読み出し動作を示しており、期間t
20〜t27は、第2行目の画素1の読み出し動作を示して
いる。
【0071】図2に示すように、期間t10においては、
駆動パルスφTG1 ,φTG2 がハイレベルのため各転送用
MOSトランジスタQTは非導通状態(オフ)となって
いる。また、駆動パルスφRGがローレベルのため各リセ
ット用MOSトランジスタQPは導通状態(オン)とな
っている。また、駆動パルスφRSV がハイレベルのため
リセットスイッチ用MOSトランジスタTRV1,TRV2
は導通状態(オン)となっている。また、駆動パルスφ
T がハイレベルのためスイッチ用MOSトランジスタQ
O1 ,QO2 は導通状態(オン)となっている。
駆動パルスφTG1 ,φTG2 がハイレベルのため各転送用
MOSトランジスタQTは非導通状態(オフ)となって
いる。また、駆動パルスφRGがローレベルのため各リセ
ット用MOSトランジスタQPは導通状態(オン)とな
っている。また、駆動パルスφRSV がハイレベルのため
リセットスイッチ用MOSトランジスタTRV1,TRV2
は導通状態(オン)となっている。また、駆動パルスφ
T がハイレベルのためスイッチ用MOSトランジスタQ
O1 ,QO2 は導通状態(オン)となっている。
【0072】また、図2に示すように、期間t10におい
ては、駆動パルスφRD1 ,φRD2 がローレベル(電圧レ
ベルが設定レベルVRSG)となっており、駆動パルスφRG
がローレベルのため導通状態となっている各リセット用
MOSトランジスタQPを介して前記電圧(設定レベル
VRSG)が各増幅用トランジスタQAのゲート(制御領
域)に伝わり、これら増幅用トランジスタQAのゲート
(制御領域)は設定レベルVRSGにバイアスされる。
ては、駆動パルスφRD1 ,φRD2 がローレベル(電圧レ
ベルが設定レベルVRSG)となっており、駆動パルスφRG
がローレベルのため導通状態となっている各リセット用
MOSトランジスタQPを介して前記電圧(設定レベル
VRSG)が各増幅用トランジスタQAのゲート(制御領
域)に伝わり、これら増幅用トランジスタQAのゲート
(制御領域)は設定レベルVRSGにバイアスされる。
【0073】また、この期間t10においては、リセット
スイッチ用MOSトランジスタTRV1,TRV2が導通状
態となっているため、各増幅用トランジスタQAのソー
スは接地されている。更に、スイッチ用MOSトランジ
スタQO1 ,QO2 が導通状態となっているため、各出
力信号蓄積用コンデンサCD1 ,CD2 に残留する信号
電荷が排出されるとともに、各電圧−電流変換用MOS
トランジスタQR1 ,QR2 のゲート(制御領域)は接
地されている。尚、この期間t10において、各フォトダ
イオードPDでは入射光に応じた電荷(信号電荷)が生
成され、蓄積されている。
スイッチ用MOSトランジスタTRV1,TRV2が導通状
態となっているため、各増幅用トランジスタQAのソー
スは接地されている。更に、スイッチ用MOSトランジ
スタQO1 ,QO2 が導通状態となっているため、各出
力信号蓄積用コンデンサCD1 ,CD2 に残留する信号
電荷が排出されるとともに、各電圧−電流変換用MOS
トランジスタQR1 ,QR2 のゲート(制御領域)は接
地されている。尚、この期間t10において、各フォトダ
イオードPDでは入射光に応じた電荷(信号電荷)が生
成され、蓄積されている。
【0074】次に、期間t11において、駆動パルスφRD
1 がハイレベル(電圧レベルが読み出しレベルVRDG)に
されると、既に導通状態となっている第1行目の各リセ
ット用MOSトランジスタQPを介して、前記電圧(読
み出しレベルVRDG)が第1行目の各画素1の増幅用トラ
ンジスタQAのゲート(制御領域)に伝わり、第1行目
の増幅用トランジスタQAが選択(オン)されるととも
に、該増幅用トランジスタQAのゲート(制御領域)が
読み出しレベルVRDGにバイアスされる。尚、第2行目の
各増幅用トランジスタQAは、駆動パルスφRD2 がロー
レベル(電圧レベルが設定レベルVRSG)であるため、こ
れら第2行目の各増幅用トランジスタQAのゲート(制
御領域)が設定レベルVRSGにバイアスされ、非選択(オ
フ)とされる。
1 がハイレベル(電圧レベルが読み出しレベルVRDG)に
されると、既に導通状態となっている第1行目の各リセ
ット用MOSトランジスタQPを介して、前記電圧(読
み出しレベルVRDG)が第1行目の各画素1の増幅用トラ
ンジスタQAのゲート(制御領域)に伝わり、第1行目
の増幅用トランジスタQAが選択(オン)されるととも
に、該増幅用トランジスタQAのゲート(制御領域)が
読み出しレベルVRDGにバイアスされる。尚、第2行目の
各増幅用トランジスタQAは、駆動パルスφRD2 がロー
レベル(電圧レベルが設定レベルVRSG)であるため、こ
れら第2行目の各増幅用トランジスタQAのゲート(制
御領域)が設定レベルVRSGにバイアスされ、非選択(オ
フ)とされる。
【0075】次に、期間t12において、駆動パルスφRG
がハイレベルにされると、リセット用MOSトランジス
タQPは非導通状態(オフ)となり、第1行目の各増幅
用トランジスタQAはフローティング状態とされるが、
第1行目の各増幅用トランジスタQAのゲート(制御領
域)は、寄生容量の効果によって、前記読み出しレベル
VRDGにバイアスされたままの状態を保持する。
がハイレベルにされると、リセット用MOSトランジス
タQPは非導通状態(オフ)となり、第1行目の各増幅
用トランジスタQAはフローティング状態とされるが、
第1行目の各増幅用トランジスタQAのゲート(制御領
域)は、寄生容量の効果によって、前記読み出しレベル
VRDGにバイアスされたままの状態を保持する。
【0076】このように、増幅トランジスタQAのゲー
ト(制御領域)を読み出しレベルVRDGにバイアスして、
リセット用MOSトランジスタQPを非導通状態にして
も、増幅用トランジスタQAのゲート(制御領域)が読
み出しレベルVRDGにバイアスされたままの状態のことを
一般に画素1の「リセット(初期化)」と称するが、リ
セット用MOSトランジスタQPを非道導状態にしたと
き、増幅用トランジスタQAのゲート(制御領域)に
は、リセット用MOSトランジスタQPの熱雑音がリセ
ット雑音(いわゆるKTC雑音)として加算される。
ト(制御領域)を読み出しレベルVRDGにバイアスして、
リセット用MOSトランジスタQPを非導通状態にして
も、増幅用トランジスタQAのゲート(制御領域)が読
み出しレベルVRDGにバイアスされたままの状態のことを
一般に画素1の「リセット(初期化)」と称するが、リ
セット用MOSトランジスタQPを非道導状態にしたと
き、増幅用トランジスタQAのゲート(制御領域)に
は、リセット用MOSトランジスタQPの熱雑音がリセ
ット雑音(いわゆるKTC雑音)として加算される。
【0077】即ち、各増幅用トランジスタQAのゲート
(制御領域)がリセットされたとき、各増幅用トランジ
スタQAのゲート電圧VGDは、以下の式のように表さ
れる。 VGD=VRDG+VN… 但し、VN=(KT/C)1/2 K:ボルツマン定数 T:絶対温度 C:ゲート容量
(制御領域)がリセットされたとき、各増幅用トランジ
スタQAのゲート電圧VGDは、以下の式のように表さ
れる。 VGD=VRDG+VN… 但し、VN=(KT/C)1/2 K:ボルツマン定数 T:絶対温度 C:ゲート容量
【0078】次に、期間t13において、駆動パルスφRS
V をローレベルにして、リセットスイッチ用MOSトラ
ンジスタTRV1,TRV2を非導通状態(オフ)にする
と、期間t11において選択された第1行目の各増幅用ト
ランジスタQAがソースフォロワ動作をして、これら増
幅用トランジスタQAのソースの電位VSDは、ソース・
ドレイン間に流れる電流(ドレイン電流)が、IB(定
電流源12a,12bに流れる電流値)になるまで上昇
する。
V をローレベルにして、リセットスイッチ用MOSトラ
ンジスタTRV1,TRV2を非導通状態(オフ)にする
と、期間t11において選択された第1行目の各増幅用ト
ランジスタQAがソースフォロワ動作をして、これら増
幅用トランジスタQAのソースの電位VSDは、ソース・
ドレイン間に流れる電流(ドレイン電流)が、IB(定
電流源12a,12bに流れる電流値)になるまで上昇
する。
【0079】尚、ソースフォロワ動作によってソース・
ドレイン間に流れる電流がIBになったときの各増幅用
トランジスタQAのソースの電位VSDは、以下の式の
ように表される。 VSD=VGD−VT… 但し、VGD:第1行目の各増幅用トランジスタQAのゲ
ート(制御領域)が、読み出しレベルVRDGにバイアスさ
れたときのゲート電圧(式参照)。 VT:各増幅用トランジスタQAのドレイン電流がIB
のときのゲート・ソース間電圧。
ドレイン間に流れる電流がIBになったときの各増幅用
トランジスタQAのソースの電位VSDは、以下の式の
ように表される。 VSD=VGD−VT… 但し、VGD:第1行目の各増幅用トランジスタQAのゲ
ート(制御領域)が、読み出しレベルVRDGにバイアスさ
れたときのゲート電圧(式参照)。 VT:各増幅用トランジスタQAのドレイン電流がIB
のときのゲート・ソース間電圧。
【0080】従って、前記式は、前記式を用いて更
に以下の式のように表される。 VSD=VGD−VT… =VRDG+VN−VT… (∵VGD=VRDG+VN。式参照。)
に以下の式のように表される。 VSD=VGD−VT… =VRDG+VN−VT… (∵VGD=VRDG+VN。式参照。)
【0081】この結果、垂直ソースライン2a,2bに
は、前記各増幅用トランジスタQAのソースの電位VSD
(式)に応じた電圧が、電圧信号として出力される。
そして、この出力された電圧信号は、既に残留電荷が放
出されている出力信号蓄積用コンデンサCD1 ,CD2
に蓄積される状態となる。
は、前記各増幅用トランジスタQAのソースの電位VSD
(式)に応じた電圧が、電圧信号として出力される。
そして、この出力された電圧信号は、既に残留電荷が放
出されている出力信号蓄積用コンデンサCD1 ,CD2
に蓄積される状態となる。
【0082】尚、一般に、前記ゲート・ソース間電圧V
T(式又は式参照)の値は、各増幅用トランジスタ
QA毎にばらつくことが知られている。従って、前記出
力信号蓄積用コンデンサCD1 ,CD2 に蓄積された電
圧信号には、前記ばらついた電圧VTと前記リセット雑
音(いわゆるKTC雑音)などの暗成分(D(第2成
分))が含まれているため、この電圧信号は、一般に、
暗電圧信号と称され、固定パターンノイズ(FPN)の
主原因となることが知られている。また、以下、説明の
便宜上、前記暗電圧信号を「暗電圧信号(VD)」と称
す。
T(式又は式参照)の値は、各増幅用トランジスタ
QA毎にばらつくことが知られている。従って、前記出
力信号蓄積用コンデンサCD1 ,CD2 に蓄積された電
圧信号には、前記ばらついた電圧VTと前記リセット雑
音(いわゆるKTC雑音)などの暗成分(D(第2成
分))が含まれているため、この電圧信号は、一般に、
暗電圧信号と称され、固定パターンノイズ(FPN)の
主原因となることが知られている。また、以下、説明の
便宜上、前記暗電圧信号を「暗電圧信号(VD)」と称
す。
【0083】次に、期間t14において、駆動パルスφT
がローレベルにされ、スイッチ用MOSトランジスタQ
O1 ,QO2 が非導通状態(オフ)にされる。この結
果、出力信号蓄積用コンデンサCD1 ,CD2 はフロー
ティング状態にされるとともに、前記暗電圧信号(V
D)は、出力信号蓄積用コンデンサCD1 ,CD2 に蓄
積(保持)される。
がローレベルにされ、スイッチ用MOSトランジスタQ
O1 ,QO2 が非導通状態(オフ)にされる。この結
果、出力信号蓄積用コンデンサCD1 ,CD2 はフロー
ティング状態にされるとともに、前記暗電圧信号(V
D)は、出力信号蓄積用コンデンサCD1 ,CD2 に蓄
積(保持)される。
【0084】また、この期間t14において、駆動パルス
φTG1 がローレベルにされ、第1行目の各画素1の転送
用MOSトランジスタQTが導通状態(オン)にされ
る。この結果、第1行目の各画素1のフォトダイオード
PDにおいて生成され、蓄積された入射光に応じた電荷
(信号電荷)が、第1行目の各画素1の増幅用トランジ
スタQAのゲート(制御領域)に転送され、第1行目の
各増幅用トランジスタQAがソースフォロワ動作をし
て、ゲート(制御領域)に受け取った電荷(信号電荷)
に応じた電圧信号が垂直ソースライン2a,2bへ出力
される。
φTG1 がローレベルにされ、第1行目の各画素1の転送
用MOSトランジスタQTが導通状態(オン)にされ
る。この結果、第1行目の各画素1のフォトダイオード
PDにおいて生成され、蓄積された入射光に応じた電荷
(信号電荷)が、第1行目の各画素1の増幅用トランジ
スタQAのゲート(制御領域)に転送され、第1行目の
各増幅用トランジスタQAがソースフォロワ動作をし
て、ゲート(制御領域)に受け取った電荷(信号電荷)
に応じた電圧信号が垂直ソースライン2a,2bへ出力
される。
【0085】尚、各増幅用トランジスタQAのゲート
(制御領域)に前記電荷(入射光に応じた電荷)が転送
されると、各増幅用トランジスタQAのゲート電位は、
転送された電荷の分だけ上昇する。即ち、各増幅用トラ
ンジスタQAのゲート(制御領域)に前記電荷が転送さ
れると、該増幅用トランジスタQAのゲート電位V
GSは、以下の式のように表される。 VGS=VGD+VS … ここで、VGD:増幅用トランジスタQAの制御領域に電
荷を転送する前のゲート電圧(式参照。) VS =入射光に応じた電荷/ゲート容量
(制御領域)に前記電荷(入射光に応じた電荷)が転送
されると、各増幅用トランジスタQAのゲート電位は、
転送された電荷の分だけ上昇する。即ち、各増幅用トラ
ンジスタQAのゲート(制御領域)に前記電荷が転送さ
れると、該増幅用トランジスタQAのゲート電位V
GSは、以下の式のように表される。 VGS=VGD+VS … ここで、VGD:増幅用トランジスタQAの制御領域に電
荷を転送する前のゲート電圧(式参照。) VS =入射光に応じた電荷/ゲート容量
【0086】また、第1行目の各増幅用トランジスタQ
Aがソースフォロワ動作をすることにより、各増幅用ト
ランジスタQAのソースの電位は、ゲートの電位VGSと
同じだけ上昇する。即ち、各増幅用トランジスタQAの
ソース電位VSSは、以下の式のように表される。 VSS=VGS−VT… 但し、VGS:第1行目の各増幅用トランジスタQAの制
御領域に入射光に応じた電荷を転送した後の各増幅用ト
ランジスタQAのゲート電位(式参照)。VT:各増
幅用トランジスタQAのドレイン電流がIBのときのゲ
ート・ソース間電圧。
Aがソースフォロワ動作をすることにより、各増幅用ト
ランジスタQAのソースの電位は、ゲートの電位VGSと
同じだけ上昇する。即ち、各増幅用トランジスタQAの
ソース電位VSSは、以下の式のように表される。 VSS=VGS−VT… 但し、VGS:第1行目の各増幅用トランジスタQAの制
御領域に入射光に応じた電荷を転送した後の各増幅用ト
ランジスタQAのゲート電位(式参照)。VT:各増
幅用トランジスタQAのドレイン電流がIBのときのゲ
ート・ソース間電圧。
【0087】従って、前記式は、更に式のように表
される。 VSS=VGS−VT… =VGD+VS −VT(∵VGS=VGD+VS 。式参照。) =VRDG+VN+VS −VT…(∵VGD=VRDG+VN。式参照。)
される。 VSS=VGS−VT… =VGD+VS −VT(∵VGS=VGD+VS 。式参照。) =VRDG+VN+VS −VT…(∵VGD=VRDG+VN。式参照。)
【0088】この結果、垂直ソースライン2a,2bに
は、前記各増幅用トランジスタQAのソースの電位VSS
(式)に応じた電圧信号が出力される。
は、前記各増幅用トランジスタQAのソースの電位VSS
(式)に応じた電圧信号が出力される。
【0089】尚、前記式(又は式)におけるゲート
・ソース間電圧VTの値は、上述したように、各増幅用
トランジスタQA毎にばらつくことが知られている。従
って、前記各増幅用トランジスタQAのソースから垂直
ソースライン2a,2bに出力された電圧信号には、前
記ばらついた電圧VTと前記リセット雑音(いわゆるK
TC雑音)などによる暗成分(D)と転送された電荷に
よる信号成分(S)との和に応じた合成成分(D+S
(第1成分))が含まれているため、この電圧信号は、
一般に、合成電圧信号と称される。尚、以下、説明の便
宜上、前記合成電圧信号を「合成電圧信号(VD+V
S)」と称す。
・ソース間電圧VTの値は、上述したように、各増幅用
トランジスタQA毎にばらつくことが知られている。従
って、前記各増幅用トランジスタQAのソースから垂直
ソースライン2a,2bに出力された電圧信号には、前
記ばらついた電圧VTと前記リセット雑音(いわゆるK
TC雑音)などによる暗成分(D)と転送された電荷に
よる信号成分(S)との和に応じた合成成分(D+S
(第1成分))が含まれているため、この電圧信号は、
一般に、合成電圧信号と称される。尚、以下、説明の便
宜上、前記合成電圧信号を「合成電圧信号(VD+V
S)」と称す。
【0090】従って、出力信号蓄積用コンデンサCD
1 ,CD2 には暗電圧信号(VD)が蓄積されており、
又この期間t14において、第1行目の各増幅用トランジ
スタQAのソースフォロワ動作によって合成電圧信号
(VD+VS)が垂直ソースライン2a,2bに出力さ
れるため、前記暗電圧信号(VD)が前記合成電圧信号
(VD+VS)から減算されて、信号成分(S)に応じ
た光電圧信号(VS)のみが各電圧−電流変換用MOS
トランジスタQR1 ,QR2 のゲート電極に印加され
る。即ち、単純に両信号の重畳を行うことによって合成
電圧信号(VD+VS)−暗電圧信号(VD)=光電圧
信号(VS)なる減算が行われる。
1 ,CD2 には暗電圧信号(VD)が蓄積されており、
又この期間t14において、第1行目の各増幅用トランジ
スタQAのソースフォロワ動作によって合成電圧信号
(VD+VS)が垂直ソースライン2a,2bに出力さ
れるため、前記暗電圧信号(VD)が前記合成電圧信号
(VD+VS)から減算されて、信号成分(S)に応じ
た光電圧信号(VS)のみが各電圧−電流変換用MOS
トランジスタQR1 ,QR2 のゲート電極に印加され
る。即ち、単純に両信号の重畳を行うことによって合成
電圧信号(VD+VS)−暗電圧信号(VD)=光電圧
信号(VS)なる減算が行われる。
【0091】つまり、暗電圧信号(VD)とは、第1行
目の各増幅用トランジスタQAの制御領域に入射光に応
じた電荷が転送される前のソースの電位(VSD)であ
る。即ち、VSD=VRDG+VN−VT(式参照。)であ
る。
目の各増幅用トランジスタQAの制御領域に入射光に応
じた電荷が転送される前のソースの電位(VSD)であ
る。即ち、VSD=VRDG+VN−VT(式参照。)であ
る。
【0092】また、合成電圧信号(VD+VS)とは、
第1行目の各増幅用トランジスタQAの制御領域に入射
光に応じた電荷が転送された後のソースの電位(VSS)
である。即ち、VSS=VRDG+VN+VS −VT(式参
照。)である。
第1行目の各増幅用トランジスタQAの制御領域に入射
光に応じた電荷が転送された後のソースの電位(VSS)
である。即ち、VSS=VRDG+VN+VS −VT(式参
照。)である。
【0093】従って、暗電圧信号(VD)と合成電圧信
号(VD+VS)との減算は、以下の式のように表さ
れる。 合成電圧信号(VD+VS)−暗電圧信号(VD) =式−式 =(VRDG+VN+VS −VT)−(VRDG+VN−VT)… =VS (=入射光に応じた電荷/ゲート容量)
号(VD+VS)との減算は、以下の式のように表さ
れる。 合成電圧信号(VD+VS)−暗電圧信号(VD) =式−式 =(VRDG+VN+VS −VT)−(VRDG+VN−VT)… =VS (=入射光に応じた電荷/ゲート容量)
【0094】この結果、各電圧−電流変換用MOSトラ
ンジスタQR1 ,QR2 のゲート電極には、結局、リセ
ットノイズVNや各増幅用トランジスタQA毎のばらつ
いた電圧VT(暗成分(D))が除去され、入射光に応
じた電荷(信号成分(S))による光電圧信号(VS)
のみが印加される。
ンジスタQR1 ,QR2 のゲート電極には、結局、リセ
ットノイズVNや各増幅用トランジスタQA毎のばらつ
いた電圧VT(暗成分(D))が除去され、入射光に応
じた電荷(信号成分(S))による光電圧信号(VS)
のみが印加される。
【0095】そして、期間t14の終了時において、駆動
パルスφTG1 がハイレベルにされ、第1行目の各転送用
MOSトランジスタQTが非導通状態(オフ)にされ
る。
パルスφTG1 がハイレベルにされ、第1行目の各転送用
MOSトランジスタQTが非導通状態(オフ)にされ
る。
【0096】次に、期間t15においては、水平走査回路
7から送出される駆動パルスφH1,φH2が順次ハイレベ
ルにされ、水平読み出しスイッチ用MOSトランジスタ
QH1 ,QH2 が順次導通状態(オン)にされる。
7から送出される駆動パルスφH1,φH2が順次ハイレベ
ルにされ、水平読み出しスイッチ用MOSトランジスタ
QH1 ,QH2 が順次導通状態(オン)にされる。
【0097】この結果、各電圧−電流変換用MOSトラ
ンジスタQR1 ,QR2 のゲート電圧信号(VS)が、
電流信号(IS)に変換されて、各電圧−電流変換用M
OSトランジスタQR1 ,QR2 のドレインから、順次
水平読出しライン8に読み出される。
ンジスタQR1 ,QR2 のゲート電圧信号(VS)が、
電流信号(IS)に変換されて、各電圧−電流変換用M
OSトランジスタQR1 ,QR2 のドレインから、順次
水平読出しライン8に読み出される。
【0098】このように、水平読出しライン8に出力さ
れる映像信号が、光電流信号(IS)であるため、従来
の固体撮像装置のように、水平読出しライン8に寄生容
量が存在してもこの寄生容量を充電し、更にその後、該
寄生容量をリセットする必要がないため、映像信号の読
出し動作を高速にすることができる。
れる映像信号が、光電流信号(IS)であるため、従来
の固体撮像装置のように、水平読出しライン8に寄生容
量が存在してもこの寄生容量を充電し、更にその後、該
寄生容量をリセットする必要がないため、映像信号の読
出し動作を高速にすることができる。
【0099】また、水平読出しライン8に寄生容量が存
在しても、該出力される映像信号が電流であるため、寄
生容量による電荷分配がなくなり、該映像信号のS/N
比が悪くなることがなくなる。
在しても、該出力される映像信号が電流であるため、寄
生容量による電荷分配がなくなり、該映像信号のS/N
比が悪くなることがなくなる。
【0100】更に、画素1から出力される暗電圧信号
(VD)を合成電圧信号(VD+VS)から減算して得
られた電圧信号(VS)を光電流信号ISに変換するた
め、水平読出しラインを従来のように2系統とする必要
もなくなり、1系統(1本)とすることができ、このた
め、従来のようにバッファアンプを2つも設ける必要が
なく、コストの低減を図ることができる。
(VD)を合成電圧信号(VD+VS)から減算して得
られた電圧信号(VS)を光電流信号ISに変換するた
め、水平読出しラインを従来のように2系統とする必要
もなくなり、1系統(1本)とすることができ、このた
め、従来のようにバッファアンプを2つも設ける必要が
なく、コストの低減を図ることができる。
【0101】尚、前記光電流信号ISは、各電圧−電流
変換用MOSトランジスタQR1 ,QR2 のドレイン電
流として出力されており、また、一般的に、前記光電圧
信号VSが光電流信号ISに変換される際、飽和領域で
動作するMOSトランジスタ(電圧−電流変換用MOS
トランジスタQR1 ,QR2 )の電圧−電流特性は2乗
特性になることが知られている。
変換用MOSトランジスタQR1 ,QR2 のドレイン電
流として出力されており、また、一般的に、前記光電圧
信号VSが光電流信号ISに変換される際、飽和領域で
動作するMOSトランジスタ(電圧−電流変換用MOS
トランジスタQR1 ,QR2 )の電圧−電流特性は2乗
特性になることが知られている。
【0102】このため、各電圧−電流変換用MOSトラ
ンジスタQR1 ,QR2 のドレイン電流(光電流信号I
S)も、各電圧−電流変換用MOSトランジスタQR
1 ,QR2 のゲート・ソース間電圧の上昇に応じて増大
(2乗に比例)することとなるが、各電圧−電流変換用
MOSトランジスタQR1 ,QR2 のソースは、それぞ
れ抵抗R1 ,R2 を介して交流的に接地されているた
め、各電圧−電流変換用MOSトランジスタQR1 ,Q
R2 のゲート電圧が上昇しても、抵抗R1 ,R2 におけ
る電圧降下によって、各電圧−電流変換用MOSトラン
ジスタQR1 ,QR2 のゲート−ソース間電圧の増加が
抑圧される。即ち、いわゆる負帰還の効果が働くのであ
る。
ンジスタQR1 ,QR2 のドレイン電流(光電流信号I
S)も、各電圧−電流変換用MOSトランジスタQR
1 ,QR2 のゲート・ソース間電圧の上昇に応じて増大
(2乗に比例)することとなるが、各電圧−電流変換用
MOSトランジスタQR1 ,QR2 のソースは、それぞ
れ抵抗R1 ,R2 を介して交流的に接地されているた
め、各電圧−電流変換用MOSトランジスタQR1 ,Q
R2 のゲート電圧が上昇しても、抵抗R1 ,R2 におけ
る電圧降下によって、各電圧−電流変換用MOSトラン
ジスタQR1 ,QR2 のゲート−ソース間電圧の増加が
抑圧される。即ち、いわゆる負帰還の効果が働くのであ
る。
【0103】この結果、各電圧−電流変換用MOSトラ
ンジスタQR1 ,QR2 のドレイン電流(光電流信号I
S)とゲート電圧(光電圧信号VS)の関係は近似的に
線形となり、光電圧信号VSに比例した光電流信号IS
(映像信号)を得ることができる。即ち、電圧−電流変
換用MOSトランジスタQR1 ,QR2 のゲート電圧が
一定ならば、ドレイン電流(光電流信号IS)も一定に
なるのである。
ンジスタQR1 ,QR2 のドレイン電流(光電流信号I
S)とゲート電圧(光電圧信号VS)の関係は近似的に
線形となり、光電圧信号VSに比例した光電流信号IS
(映像信号)を得ることができる。即ち、電圧−電流変
換用MOSトランジスタQR1 ,QR2 のゲート電圧が
一定ならば、ドレイン電流(光電流信号IS)も一定に
なるのである。
【0104】また、水平読出しライン8に順次出力され
た光電流信号ISは、電流−電圧変換増幅回路9によっ
て、光電圧信号VS’に変換されつつ、増幅されて出力
されるが、この電流−電圧変換回路9の入力は、定電源
VRに仮想接地されているため、映像信号が出力端子VO
から出力される際、水平読出しライン8の電位は変動し
ない。
た光電流信号ISは、電流−電圧変換増幅回路9によっ
て、光電圧信号VS’に変換されつつ、増幅されて出力
されるが、この電流−電圧変換回路9の入力は、定電源
VRに仮想接地されているため、映像信号が出力端子VO
から出力される際、水平読出しライン8の電位は変動し
ない。
【0105】また、本実施例においては、水平読出しラ
イン8に読み出される映像信号を電流として扱うため、
電流−電圧変換増幅回路9を低入力インピーダンスとす
ることができ、出力される映像信号が外部からの誘導ノ
イズの影響を抑制することができる。
イン8に読み出される映像信号を電流として扱うため、
電流−電圧変換増幅回路9を低入力インピーダンスとす
ることができ、出力される映像信号が外部からの誘導ノ
イズの影響を抑制することができる。
【0106】次に、期間t16において、駆動パルスφRS
V がハイレベルにされると、リセットスイッチ用MOS
トランジスタTRV1,TRV2が導通状態(オン)にされ
る。この結果、各増幅用トランジスタQAのソース及び
垂直ソースライン2a,2bが、前記リセット用トラン
ジスタTRV1,TRV2を介して接地される。
V がハイレベルにされると、リセットスイッチ用MOS
トランジスタTRV1,TRV2が導通状態(オン)にされ
る。この結果、各増幅用トランジスタQAのソース及び
垂直ソースライン2a,2bが、前記リセット用トラン
ジスタTRV1,TRV2を介して接地される。
【0107】また、この期間t16においては、駆動パル
スφT もハイレベルにされ、スイッチ用MOSトランジ
スタQO1 ,QO2 が導通状態(オン)にされる。この
結果、このスイッチ用MOSトランジスタQO1 ,QO
2 を介して、各出力信号蓄積用コンデンサCD1 ,CD
2 に残留する信号電荷が排出されるとともに、各電圧−
電流変換用MOSトランジスタQR1 ,QR2 のゲート
(制御領域)は接地される。
スφT もハイレベルにされ、スイッチ用MOSトランジ
スタQO1 ,QO2 が導通状態(オン)にされる。この
結果、このスイッチ用MOSトランジスタQO1 ,QO
2 を介して、各出力信号蓄積用コンデンサCD1 ,CD
2 に残留する信号電荷が排出されるとともに、各電圧−
電流変換用MOSトランジスタQR1 ,QR2 のゲート
(制御領域)は接地される。
【0108】次に、期間t17において、駆動パルスφRD
1 ,φRG,φTG1 が順次ローレベルにされると、各リセ
ット用MOSトランジスタQP及び各転送用MOSトラ
ンジスタQTが導通状態(オン)にされる。この結果、
これら各リセット用MOSトランジスタQP及び転送用
MOSトランジスタQTを介して、各フォトダイオード
PDがリセットされる。
1 ,φRG,φTG1 が順次ローレベルにされると、各リセ
ット用MOSトランジスタQP及び各転送用MOSトラ
ンジスタQTが導通状態(オン)にされる。この結果、
これら各リセット用MOSトランジスタQP及び転送用
MOSトランジスタQTを介して、各フォトダイオード
PDがリセットされる。
【0109】また、期間t17の終了時において、駆動パ
ルスφTG1 が再びハイレベルにされ、各フォトダイオー
ドPDは、再び入射光に応じた電荷を生成して、蓄積す
る状態となり、第1行目の画素1の走査が終了する。
ルスφTG1 が再びハイレベルにされ、各フォトダイオー
ドPDは、再び入射光に応じた電荷を生成して、蓄積す
る状態となり、第1行目の画素1の走査が終了する。
【0110】以上に示した期間t11〜t17に対する第1
行目の画素の読み出し動作は、期間t21〜t27におい
て、第2行目の画素に対して同様に繰り返して行われ
る。尚、この実施例においては、容量結合によって前記
増幅用トランジスタQAの制御領域を制御するためのゲ
ート電極を備えていない画素を例として説明したが、容
量結合によって前記増幅用トランジスタQAの制御領域
を制御するためのゲート電極を備えている画素も同様に
適用できることは言うまでもない。
行目の画素の読み出し動作は、期間t21〜t27におい
て、第2行目の画素に対して同様に繰り返して行われ
る。尚、この実施例においては、容量結合によって前記
増幅用トランジスタQAの制御領域を制御するためのゲ
ート電極を備えていない画素を例として説明したが、容
量結合によって前記増幅用トランジスタQAの制御領域
を制御するためのゲート電極を備えている画素も同様に
適用できることは言うまでもない。
【0111】尚、上記実施例においては、画素1の増幅
部(増幅用トランジスタQA)をJFETとして用いた
場合を例として説明したが、本発明はこれに限定される
ものではなく、MOSトランジスタや、バイポーラトラ
ンジスタであっても、ゲートやベースなどの制御電極の
電圧でドレインあるいはコレクタ、ソースあるいはエミ
ッタなどの出力電圧を制御できる素子であれば同様に適
用でき、それらを混在使用しても良い。
部(増幅用トランジスタQA)をJFETとして用いた
場合を例として説明したが、本発明はこれに限定される
ものではなく、MOSトランジスタや、バイポーラトラ
ンジスタであっても、ゲートやベースなどの制御電極の
電圧でドレインあるいはコレクタ、ソースあるいはエミ
ッタなどの出力電圧を制御できる素子であれば同様に適
用でき、それらを混在使用しても良い。
【0112】従って、従来例において示したMOS型静
電誘導トランジスタ(SIT)を画素としたり、AM
I,CMDなどの増幅型固体撮像装置も同様に適用する
ことができるが、MOS型静電誘導トランジスタ(SI
T)を画素としたり、AMI,CMDなどの増幅型固体
撮像装置に上記実施例を適用した場合、光電変換素子と
増幅素子とを分離した構造の画素とすることができない
ので、上記実施例において説明したのと同様のやり方、
即ち、先ず最初に暗電圧信号VDを出力させ、次いで合
成電圧信号VD+VSを出力させ前者を後者から減算す
るというやり方は採用できない。
電誘導トランジスタ(SIT)を画素としたり、AM
I,CMDなどの増幅型固体撮像装置も同様に適用する
ことができるが、MOS型静電誘導トランジスタ(SI
T)を画素としたり、AMI,CMDなどの増幅型固体
撮像装置に上記実施例を適用した場合、光電変換素子と
増幅素子とを分離した構造の画素とすることができない
ので、上記実施例において説明したのと同様のやり方、
即ち、先ず最初に暗電圧信号VDを出力させ、次いで合
成電圧信号VD+VSを出力させ前者を後者から減算す
るというやり方は採用できない。
【0113】そこで、MOS型静電誘導トランジスタ
(SIT)を画素としたり、AMI,CMDなどの増幅
型固体撮像装置を用いた場合には、従来例において説明
した固体撮像装置と同様に、最初に合成電圧信号VD+
VSを出力させて、この合成電圧信号VD+VSを蓄積
容量(コンデンサー)に蓄積し、次に暗電圧信号VDを
出力させて、前者から後者が減算されるように信号の重
ね合わせを行う。これにより、固定パターンノイズ(F
PN)が除去された映像信号を高速に読み出すことがで
きる。
(SIT)を画素としたり、AMI,CMDなどの増幅
型固体撮像装置を用いた場合には、従来例において説明
した固体撮像装置と同様に、最初に合成電圧信号VD+
VSを出力させて、この合成電圧信号VD+VSを蓄積
容量(コンデンサー)に蓄積し、次に暗電圧信号VDを
出力させて、前者から後者が減算されるように信号の重
ね合わせを行う。これにより、固定パターンノイズ(F
PN)が除去された映像信号を高速に読み出すことがで
きる。
【0114】図3は、本発明の第2の実施例に係る固体
撮像装置の概略構成を示す模式回路図である。上記第1
の実施例との相違点は、各画素を従来例において示した
光電変換部を備えたMOS型静電誘導トランジスタ(M
OSSIT(以下、単に「SITトランジスタ」とい
う。))S11,S12,S21,S22としている点である。
尚、重複した説明を省略するため、上記第1の実施例
(図1)と、従来例(図4)において説明した固体撮像
装置と同一部分については同一符号を付し説明を省略す
る。
撮像装置の概略構成を示す模式回路図である。上記第1
の実施例との相違点は、各画素を従来例において示した
光電変換部を備えたMOS型静電誘導トランジスタ(M
OSSIT(以下、単に「SITトランジスタ」とい
う。))S11,S12,S21,S22としている点である。
尚、重複した説明を省略するため、上記第1の実施例
(図1)と、従来例(図4)において説明した固体撮像
装置と同一部分については同一符号を付し説明を省略す
る。
【0115】図3に示す固体撮像装置では、画素S11,
S12,S21,S22がSITトランジスタであるため、上
記第1の実施例(図1)のように、暗電圧信号VDを出
力した後に、合成電圧信号VD+VSを出力することは
困難である。そこで、SITトランジスタを画素とした
場合には、従来例(図4)と同様に、先ず、垂直走査回
路6によって選択された行の画素に対して読出しレベル
VG2 の駆動パルスφGを与えて、選択された画素から
合成電圧信号VD+VSを垂直ソースライン2a,2b
に出力して、出力信号蓄積用コンデンサC1 ,C2 に蓄
積させる。
S12,S21,S22がSITトランジスタであるため、上
記第1の実施例(図1)のように、暗電圧信号VDを出
力した後に、合成電圧信号VD+VSを出力することは
困難である。そこで、SITトランジスタを画素とした
場合には、従来例(図4)と同様に、先ず、垂直走査回
路6によって選択された行の画素に対して読出しレベル
VG2 の駆動パルスφGを与えて、選択された画素から
合成電圧信号VD+VSを垂直ソースライン2a,2b
に出力して、出力信号蓄積用コンデンサC1 ,C2 に蓄
積させる。
【0116】次に、垂直駆動回路6によって選択された
行の画素に対してリセットレベルVG3 の駆動パルスφ
Gを与えるとともに、駆動パルスφRVを高レベルにし
てリセットスイッチ用MOSトランジスタTRV1,TR
V2を導通状態(オン状態)にして、ソースライン2a,
2bを接地し、前記画素(選択された行の画素)のリセ
ットを行う。尚、このとき、各電圧−電流変換用MOS
トランジスタQR1 ,QR2 のゲートがフローティング
状態のため、出力信号蓄積用コンデンサC1 ,C2 には
合成電圧信号(VD+VS)が蓄積されたままの状態に
なっている。
行の画素に対してリセットレベルVG3 の駆動パルスφ
Gを与えるとともに、駆動パルスφRVを高レベルにし
てリセットスイッチ用MOSトランジスタTRV1,TR
V2を導通状態(オン状態)にして、ソースライン2a,
2bを接地し、前記画素(選択された行の画素)のリセ
ットを行う。尚、このとき、各電圧−電流変換用MOS
トランジスタQR1 ,QR2 のゲートがフローティング
状態のため、出力信号蓄積用コンデンサC1 ,C2 には
合成電圧信号(VD+VS)が蓄積されたままの状態に
なっている。
【0117】次に、リセットスイッチ用MOSトランジ
スタTRV1,TRV2を遮断状態(オフ)にして駆動パル
スφGを再び読出しレベルVG2 にして、画素のリセッ
ト後の暗電圧VDを出力する。この結果、画素S11,S
12,S21,S22から暗電圧信号VDが出力される。
スタTRV1,TRV2を遮断状態(オフ)にして駆動パル
スφGを再び読出しレベルVG2 にして、画素のリセッ
ト後の暗電圧VDを出力する。この結果、画素S11,S
12,S21,S22から暗電圧信号VDが出力される。
【0118】従って、出力信号蓄積用コンデンサC1 ,
C2 には合成電圧信号VD+VSが蓄積されているた
め、単純な信号の重畳のみで暗電圧信号(VD)−合成
電圧信号(VD+VS)=光電圧信号(−VS)なる減
算が行われ、光電圧信号(−VS)が、各電圧−電流変
換用MOSトランジスタQR1 ,QR2 のゲート電極に
印加される。
C2 には合成電圧信号VD+VSが蓄積されているた
め、単純な信号の重畳のみで暗電圧信号(VD)−合成
電圧信号(VD+VS)=光電圧信号(−VS)なる減
算が行われ、光電圧信号(−VS)が、各電圧−電流変
換用MOSトランジスタQR1 ,QR2 のゲート電極に
印加される。
【0119】従って、各電圧−電流変換用MOSトラン
ジスタQR1 ,QR2 のドレインからは、光電圧信号
(−VS)に応じた光電流信号(IS)が出力されるた
め、第1の実施例とは光電圧信号と光電流信号との比例
関係は逆になるが、固定パターンノイズ(暗成分
(D))の除去された映像信号のみを読み出すことがで
きる。
ジスタQR1 ,QR2 のドレインからは、光電圧信号
(−VS)に応じた光電流信号(IS)が出力されるた
め、第1の実施例とは光電圧信号と光電流信号との比例
関係は逆になるが、固定パターンノイズ(暗成分
(D))の除去された映像信号のみを読み出すことがで
きる。
【0120】この結果、第1の実施例と同様に、水平読
出しライン8に出力される映像信号が、光電流信号IS
であるため、水平読出しライン8に寄生容量が存在して
も、この寄生容量を充電し、更にその後、リセットする
必要がなくなり、映像信号の読出し動作を高速にするこ
とができる。
出しライン8に出力される映像信号が、光電流信号IS
であるため、水平読出しライン8に寄生容量が存在して
も、この寄生容量を充電し、更にその後、リセットする
必要がなくなり、映像信号の読出し動作を高速にするこ
とができる。
【0121】また、映像信号が電流信号であるため、該
寄生容量による電荷分配がなくなり、映像信号の出力レ
ベルが低下して、該映像信号のS/N比が悪くなること
もない。
寄生容量による電荷分配がなくなり、映像信号の出力レ
ベルが低下して、該映像信号のS/N比が悪くなること
もない。
【0122】更に、画素1から出力される合成電圧信号
VD+VSを暗電圧信号VDから減算した後に光電流信
号(IS)に変換するため、水平読出しラインを従来の
ように2系統とする必要もなくなり、1系統(1本)と
することができ、このため、映像信号の出力増幅用のア
ンプを従来のように2つも設ける必要がなく、コストの
低減を図ることができる。
VD+VSを暗電圧信号VDから減算した後に光電流信
号(IS)に変換するため、水平読出しラインを従来の
ように2系統とする必要もなくなり、1系統(1本)と
することができ、このため、映像信号の出力増幅用のア
ンプを従来のように2つも設ける必要がなく、コストの
低減を図ることができる。
【0123】また、この第2の実施例においても、入力
が定電源VRに仮想接地された電流−電圧変換増幅回路9
が水平読出しライン8に備えられているため、映像信号
が出力端子VOから出力される際、水平読出しライン8
の電位は変動しない。
が定電源VRに仮想接地された電流−電圧変換増幅回路9
が水平読出しライン8に備えられているため、映像信号
が出力端子VOから出力される際、水平読出しライン8
の電位は変動しない。
【0124】また、この第2の実施例においても、水平
読出しライン8に読み出される映像信号を電流として扱
うため、電流−電圧変換回路9を低入力インピーダンス
とすることができ、出力される映像信号が外部からの誘
導ノイズの影響を抑制することができる。
読出しライン8に読み出される映像信号を電流として扱
うため、電流−電圧変換回路9を低入力インピーダンス
とすることができ、出力される映像信号が外部からの誘
導ノイズの影響を抑制することができる。
【0125】尚、上記各実施例においては、電圧−電流
変換用MOSトランジスタQR1 ,QR2 をデプレッシ
ョン型MOSトランジスタとして説明したが、エンハン
スメント型MOSトランジスタ、あるいは接合形電界効
果トランジスタとしても良い。
変換用MOSトランジスタQR1 ,QR2 をデプレッシ
ョン型MOSトランジスタとして説明したが、エンハン
スメント型MOSトランジスタ、あるいは接合形電界効
果トランジスタとしても良い。
【0126】
【発明の効果】本発明は以上説明したとおり、複数の画
素から出力される第1信号成分と第2信号成分のいずれ
か一方を記憶手段に記憶させ、続いて前記画素から出力
される第1信号成分と第2信号成分のいずれか他方と既
に記憶手段に記憶されている信号成分とを減算すること
により得られた入射光量に応じた成分からなる電圧信号
(映像信号)を電流信号に変換して出力するため、水平
読出し線に寄生容量が存在しても、この寄生容量を充電
したり、リセットするための時間を省略することができ
るため、映像信号の読出し動作を速くすることができる
という効果がある。
素から出力される第1信号成分と第2信号成分のいずれ
か一方を記憶手段に記憶させ、続いて前記画素から出力
される第1信号成分と第2信号成分のいずれか他方と既
に記憶手段に記憶されている信号成分とを減算すること
により得られた入射光量に応じた成分からなる電圧信号
(映像信号)を電流信号に変換して出力するため、水平
読出し線に寄生容量が存在しても、この寄生容量を充電
したり、リセットするための時間を省略することができ
るため、映像信号の読出し動作を速くすることができる
という効果がある。
【0127】また、本発明では、水平読出し線に読み出
される映像信号が電流信号であるため、寄生容量による
電荷分配がされないため、映像信号のS/N比が良好に
することができるという効果もある。
される映像信号が電流信号であるため、寄生容量による
電荷分配がされないため、映像信号のS/N比が良好に
することができるという効果もある。
【0128】また,本発明では、水平読出し線の寄生容
量の影響を受けないため、多画素化しても性能が劣化す
ることがなく、多画素化が容易であるという効果もあ
る。
量の影響を受けないため、多画素化しても性能が劣化す
ることがなく、多画素化が容易であるという効果もあ
る。
【0129】また、本発明では、出力回路を低入力イン
ピーダンスとすることができるので、誘導ノイズの低減
を図ることができるという効果もある。
ピーダンスとすることができるので、誘導ノイズの低減
を図ることができるという効果もある。
【0130】また、本発明では、水平読出し線を1系統
(1本)にして、映像信号の出力増幅用のアンプを2つ
用いる必要がないため、製造コストの低減を図ることが
できるという効果もある。
(1本)にして、映像信号の出力増幅用のアンプを2つ
用いる必要がないため、製造コストの低減を図ることが
できるという効果もある。
【図1】本発明の一実施例に係る固体撮像装置の概略構
成を示す模式回路図である。
成を示す模式回路図である。
【図2】図1に示す本発明の第1の実施例に係る固体撮
像装置の動作を説明するためのパルスタイミングチャー
トである。
像装置の動作を説明するためのパルスタイミングチャー
トである。
【図3】本発明の第2の実施例に係る固体撮像装置の概
略構成を示す模式回路図である。
略構成を示す模式回路図である。
【図4】従来の一般的な固体撮像装置の概略構成を示す
模式回路図である。
模式回路図である。
【図5】図4に示す従来の固体撮像装置の動作を説明す
るためのパルスタイミングチャートである。
るためのパルスタイミングチャートである。
PD:フォトダイオード(光電変換素子) QA:電圧増幅用トランジスタ(増幅素子) QT:転送用MOSトランジスタ(転送制御素子) QP:リセット用MOSトランジスタ(リセット素子) CD1 ,CD2 :出力信号蓄積用コンデンサ(記憶手
段) C1 ,C2 :出力信号蓄積用コンデンサ(記憶手段) QR1 ,QR2 :電圧−電流変換用MOSトランジスタ
(電圧電流変換手段) QO1 ,QO2 :スイッチ用MOSトランジスタ(第1
のスイッチング手段) QH1 ,QH2 :水平読み出し用MOSトランジスタ
(第2のスイッチング手段) 2a,2b:垂直ソースライン(垂直読出し線) 8:水平読出しライン(水平読出し線)
段) C1 ,C2 :出力信号蓄積用コンデンサ(記憶手段) QR1 ,QR2 :電圧−電流変換用MOSトランジスタ
(電圧電流変換手段) QO1 ,QO2 :スイッチ用MOSトランジスタ(第1
のスイッチング手段) QH1 ,QH2 :水平読み出し用MOSトランジスタ
(第2のスイッチング手段) 2a,2b:垂直ソースライン(垂直読出し線) 8:水平読出しライン(水平読出し線)
Claims (2)
- 【請求項1】 2次元マトリクス状に配列され、入射光
に応じた電荷を電圧信号に変換して出力する複数の画素
と、 前記画素を前記マトリクス配列の各行毎に共通に順次列
方向に走査して各画素からの電圧信号を列毎に取り出す
ための複数の垂直読出し線と、 前記複数の垂直読出し線を行方向に走査して各行毎の時
系列的な電圧信号を順次取り出すための水平読出し線
と、を備えた固体撮像装置であって、 各垂直読出し線には、各々に接続された画素が走査され
たときに該画素から出力される電圧信号を記憶する記憶
手段がそれぞれ設けられ、 前記記憶手段の各々は、全ての記憶手段の記憶動作とリ
セット動作とを制御するための第1のスイッチング手段
に接続され、 第1のスイッチング手段および各行毎の各画素を順次制
御することにより、各画素から入射光量および暗出力の
和に応じた第1成分からなる電圧信号と暗出力に応じた
第2成分からなる電圧信号とを別々の時点で出力させる
と共に、前記記憶手段に前記第1成分からなる電圧信号
と第2成分からなる電圧信号とのいずれか一方を記憶さ
せ、次いで画素から出力される第1成分からなる電圧信
号と第2成分からなる電圧信号とのいずれか他方と、既
に前記記憶手段に記憶されている電圧信号との減算によ
る入射光量に応じた成分からなる電圧信号に対応する電
流信号を出力する電圧電流変換手段とが設けられ、 各電圧電流変換手段と水平読出し線との間には、前記電
流信号を順次前記水平読出し線に読み出すための第2の
スイッチング手段がそれぞれ設けられていることを特徴
とする固体撮像装置。 - 【請求項2】 前記画素が、 入射光に応じた電荷を生じて蓄積する光電変換素子と、 制御領域に受け取った電荷に応じた電圧信号を生じる増
幅素子と、 光電変換素子で発生・蓄積された電荷を増幅素子の制御
領域へ選択的に転送する転送制御素子と、 増幅素子の制御領域の電荷を選択的にリセットするリセ
ット制御素子と、を含むことを特徴とする請求項1に記
載の固体撮像装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7080849A JPH08251488A (ja) | 1995-03-14 | 1995-03-14 | 固体撮像装置 |
US08/611,826 US5933189A (en) | 1995-03-09 | 1996-03-06 | Solid state image pickup apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7080849A JPH08251488A (ja) | 1995-03-14 | 1995-03-14 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08251488A true JPH08251488A (ja) | 1996-09-27 |
Family
ID=13729804
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7080849A Pending JPH08251488A (ja) | 1995-03-09 | 1995-03-14 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08251488A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6753904B1 (en) * | 1997-08-12 | 2004-06-22 | Nikon Corporation | Solid-state imaging apparatus for motion detection |
CN100356772C (zh) * | 2003-07-16 | 2007-12-19 | 佳能株式会社 | 固体摄像装置 |
US7394492B2 (en) | 2003-12-05 | 2008-07-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid state image pickup device, method of driving solid state image pickup device, and camera using the solid state image pickup device |
-
1995
- 1995-03-14 JP JP7080849A patent/JPH08251488A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6753904B1 (en) * | 1997-08-12 | 2004-06-22 | Nikon Corporation | Solid-state imaging apparatus for motion detection |
CN100356772C (zh) * | 2003-07-16 | 2007-12-19 | 佳能株式会社 | 固体摄像装置 |
US7394492B2 (en) | 2003-12-05 | 2008-07-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid state image pickup device, method of driving solid state image pickup device, and camera using the solid state image pickup device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7576788B2 (en) | Image pickup apparatus including a plurality of pixels, each having a photoelectric conversion element and an amplifier whose output is prevented from falling below a predetermined level | |
JP3493405B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
US4942474A (en) | Solid-state imaging device having photo-electric conversion elements and other circuit elements arranged to provide improved photo-sensitivity | |
US5898168A (en) | Image sensor pixel circuit | |
US5923794A (en) | Current-mediated active-pixel image sensing device with current reset | |
US5933189A (en) | Solid state image pickup apparatus | |
EP0272152B1 (en) | Signal reading out circuit | |
JP3275579B2 (ja) | イメージセンサ | |
US6836291B1 (en) | Image pickup device with integral amplification | |
US6903771B2 (en) | Image pickup apparatus | |
US7116367B2 (en) | Solid-state image pickup apparatus having a reset transistor controlled by an output line | |
JP3724188B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
US20010008268A1 (en) | Solid-state image sensing device | |
US6734907B1 (en) | Solid-state image pickup device with integration and amplification | |
US6995797B2 (en) | Charge detecting device for a solid state imaging device | |
EP1223746B1 (en) | Active pixel image sensor with improved linearity | |
JP2897106B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
JPH01154678A (ja) | 固体撮像装置 | |
JPH1175114A (ja) | 光電変換装置 | |
US7012645B1 (en) | Image sensor with p-type circuitry and n-type photosensor | |
JPH08251488A (ja) | 固体撮像装置 | |
JP3500761B2 (ja) | 固体撮像装置及びその駆動方法 | |
JPH0955887A (ja) | 光電変換装置およびこれを用いた固体撮像装置 | |
JPH10233964A (ja) | 2値化信号形成用固体撮像装置 | |
JPH08251490A (ja) | 固体撮像装置 |