JPH08220260A - 時間測定方法及びこの方法を用いた時間測定装置・距離測定装置 - Google Patents
時間測定方法及びこの方法を用いた時間測定装置・距離測定装置Info
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- JPH08220260A JPH08220260A JP2145295A JP2145295A JPH08220260A JP H08220260 A JPH08220260 A JP H08220260A JP 2145295 A JP2145295 A JP 2145295A JP 2145295 A JP2145295 A JP 2145295A JP H08220260 A JPH08220260 A JP H08220260A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光の反射時間のように短かい時間を精度よく
測定することができる時間測定方法及び時間測定装置・
距離測定装置を提供する。 【構成】 スタート信号によりランプ電圧発生回路を起
動させ、ランプ電圧Ｖeが直線特性部分の下限電圧Ｖe1
を横切ったことを検出し、この検出時点を時間の測定開
始点と定め、ランプ電圧が直線特性部分の上限電圧Ｖe2
を横切ったことを検出して測定限界点と定める。
測定することができる時間測定方法及び時間測定装置・
距離測定装置を提供する。 【構成】 スタート信号によりランプ電圧発生回路を起
動させ、ランプ電圧Ｖeが直線特性部分の下限電圧Ｖe1
を横切ったことを検出し、この検出時点を時間の測定開
始点と定め、ランプ電圧が直線特性部分の上限電圧Ｖe2
を横切ったことを検出して測定限界点と定める。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は比較的短かい距離を測
定することに利用することができる時間測定方法及びこ
の時間測定方法を用いた時間測定装置及び距離測定装置
に関する。
定することに利用することができる時間測定方法及びこ
の時間測定方法を用いた時間測定装置及び距離測定装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば大型船舶の接岸時には自船と岸壁
までの距離をセンチメートルの精度で計測し、表示でき
ることが要求される。このような要求に対し、従来より
レーザ光をパルス状に発射し、その反射光を受光してレ
ーザ光が物標までの間を復往する時間を計測する方法及
び時間測定装置、その時間から距離を求める構造の距離
測定装置が考えられている。
までの距離をセンチメートルの精度で計測し、表示でき
ることが要求される。このような要求に対し、従来より
レーザ光をパルス状に発射し、その反射光を受光してレ
ーザ光が物標までの間を復往する時間を計測する方法及
び時間測定装置、その時間から距離を求める構造の距離
測定装置が考えられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この種の時間測定装置
はその測定対象となる時間が数Ｎ（ナノ）秒乃至数ｍ秒
程度の極めて短かい時間である。この短かい時間を精度
よく計測するには、例えばクロックをカウンタで計数す
る方法を採った場合には、１クロックの分解能を仮りに
１０ｃｍとした場合、必要なクロックの周波数は１．５
ＧＨｚとなる。このような高速クロックを計数できるカ
ウンタを得ることはむずかしい。
はその測定対象となる時間が数Ｎ（ナノ）秒乃至数ｍ秒
程度の極めて短かい時間である。この短かい時間を精度
よく計測するには、例えばクロックをカウンタで計数す
る方法を採った場合には、１クロックの分解能を仮りに
１０ｃｍとした場合、必要なクロックの周波数は１．５
ＧＨｚとなる。このような高速クロックを計数できるカ
ウンタを得ることはむずかしい。
【０００４】これに対し、レーザ光の発射時点からラン
プ電圧発生器を起動させ、レーザ光の反射光を受光した
時点でランプ電圧発生回路の動作を停止させ、その停止
状態にあるランプ電圧の値から距離を測定する方式があ
る。この方式はＴＡＣ方式（Ｔｉｍｅ ｔｏ Ａｍｐｌ
ｉｔｕｄｅ Ｃｏｍｖｅｒｔｅｒ）と呼ばれ分解能が要
求される分野で実用されている。
プ電圧発生器を起動させ、レーザ光の反射光を受光した
時点でランプ電圧発生回路の動作を停止させ、その停止
状態にあるランプ電圧の値から距離を測定する方式があ
る。この方式はＴＡＣ方式（Ｔｉｍｅ ｔｏ Ａｍｐｌ
ｉｔｕｄｅ Ｃｏｍｖｅｒｔｅｒ）と呼ばれ分解能が要
求される分野で実用されている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】図３Ａにランプ電圧発生
回路が出力するランプ電圧の波形を示す。ランプ電圧発
生回路は図３Ｂに示すスタート信号ＳＴの供給を受けて
ランプ電圧Ｖe の発生を開始する。然し乍ら、図示する
ように現実にはスタート信号ＳＴの供給時点から実際に
ランプ電圧Ｖe が変化し始めるまでに遅れ時間Δｔを持
つ。この遅延時間Δｔは一般に数ｎｓ〜１０数ｎｓ程度
である。遅延時間Δｔが常に一定値であれば測定された
時間から遅延時間Δｔを除去すればよい。然し乍ら、実
際には電源投入時や環境温度の変化等で最大１０ｎｓ程
度変動する。光速を測定対象とした場合、１０ｎｓの変
動は約１．５ｍの距離の誤差に相当し、ＴＡＣ方式の特
徴である高分解能を相殺する。
回路が出力するランプ電圧の波形を示す。ランプ電圧発
生回路は図３Ｂに示すスタート信号ＳＴの供給を受けて
ランプ電圧Ｖe の発生を開始する。然し乍ら、図示する
ように現実にはスタート信号ＳＴの供給時点から実際に
ランプ電圧Ｖe が変化し始めるまでに遅れ時間Δｔを持
つ。この遅延時間Δｔは一般に数ｎｓ〜１０数ｎｓ程度
である。遅延時間Δｔが常に一定値であれば測定された
時間から遅延時間Δｔを除去すればよい。然し乍ら、実
際には電源投入時や環境温度の変化等で最大１０ｎｓ程
度変動する。光速を測定対象とした場合、１０ｎｓの変
動は約１．５ｍの距離の誤差に相当し、ＴＡＣ方式の特
徴である高分解能を相殺する。
【０００６】また、ランプ電圧Ｖe の立ち上がり初期に
おいて直線性が悪く、これはスタート信号ＳＴ直後の時
間測定に誤差が大きく出ることを意味する。この直線性
の悪化状態はランプ電圧発生回路を構成する定電流回路
の温度特性等によって変動し、一定でないため一義的な
補正は難かしい。更に、ランプ電圧Ｖe はストップ信号
ＳＰ（図３Ｃ）が無である場合には、定電流回路の最大
電圧付近で飽和する。飽和電圧付近では若干直線性が悪
く、この部分でも測定誤差が発生する。また、従来はラ
ンプ電圧Ｖe が飽和するだけで測定限界を越えてしまっ
たことを表わす信号を発生していないため、飽和点近く
でストップ信号ＳＰが入力された場合、ストップ信号で
ランプ電圧Ｖe が停止したのか、飽和点に達して停止し
たのかを判別できない不都合がある。
おいて直線性が悪く、これはスタート信号ＳＴ直後の時
間測定に誤差が大きく出ることを意味する。この直線性
の悪化状態はランプ電圧発生回路を構成する定電流回路
の温度特性等によって変動し、一定でないため一義的な
補正は難かしい。更に、ランプ電圧Ｖe はストップ信号
ＳＰ（図３Ｃ）が無である場合には、定電流回路の最大
電圧付近で飽和する。飽和電圧付近では若干直線性が悪
く、この部分でも測定誤差が発生する。また、従来はラ
ンプ電圧Ｖe が飽和するだけで測定限界を越えてしまっ
たことを表わす信号を発生していないため、飽和点近く
でストップ信号ＳＰが入力された場合、ストップ信号で
ランプ電圧Ｖe が停止したのか、飽和点に達して停止し
たのかを判別できない不都合がある。
【０００７】この発明の目的は時間の測定開始時点から
遅延時間を含むことなく直ちに直線性よく時間の経過を
計測することができる時間測定方法と時間測定装置及び
この時間測定装置を利用した距離測定装置を提供しよう
とするものである。また、この発明では、時間測定の終
了点近くでも直線性を維持し、誤差の発生を極力小さく
抑えることができる構成とした時間測定装置及び距離測
定装置を提供しようとするものである。
遅延時間を含むことなく直ちに直線性よく時間の経過を
計測することができる時間測定方法と時間測定装置及び
この時間測定装置を利用した距離測定装置を提供しよう
とするものである。また、この発明では、時間測定の終
了点近くでも直線性を維持し、誤差の発生を極力小さく
抑えることができる構成とした時間測定装置及び距離測
定装置を提供しようとするものである。
【０００８】
【実施例】図１を用いてこの発明による時間測定方法を
説明する。この発明では、スタート信号ＳＴ（図１Ｂ参
照）の供給により起動されたランプ電圧Ｖe が、その直
線特性部分の下限電圧Ｖe1を横切ったことを検出し、こ
の検出時点を時間測定開始点ＴS と定めたことを特徴と
するものである。更には、ランプ電圧Ｖe の直線特性部
分の上限電圧Ｖe2を検出し、この検出時点ＴE を時間測
定のオーバーレンジ検出点と定める。
説明する。この発明では、スタート信号ＳＴ（図１Ｂ参
照）の供給により起動されたランプ電圧Ｖe が、その直
線特性部分の下限電圧Ｖe1を横切ったことを検出し、こ
の検出時点を時間測定開始点ＴS と定めたことを特徴と
するものである。更には、ランプ電圧Ｖe の直線特性部
分の上限電圧Ｖe2を検出し、この検出時点ＴE を時間測
定のオーバーレンジ検出点と定める。
【０００９】従ってこの発明による時間測定方法によれ
ば時間測定の開始点ＴS とオーバーレンジ検出点ＴE と
の間はランプ電圧Ｖe の直線特性部分だけを利用するか
ら、時間測定の開始直後から精度よく時間測定を行なう
ことができる。図２はこの時間測定方法を実現する測定
装置の具体的な実施例を示す。図中１０はランプ電圧発
生回路を示す。このランプ電圧発生回路１０は定電流回
路１１と、この定電流回路１１から出力される定電流が
与えられて充電されるコンデンサ１２と、２個のフリッ
プフロップＦＦ1 及びＦＦ2 とによって構成される。
ば時間測定の開始点ＴS とオーバーレンジ検出点ＴE と
の間はランプ電圧Ｖe の直線特性部分だけを利用するか
ら、時間測定の開始直後から精度よく時間測定を行なう
ことができる。図２はこの時間測定方法を実現する測定
装置の具体的な実施例を示す。図中１０はランプ電圧発
生回路を示す。このランプ電圧発生回路１０は定電流回
路１１と、この定電流回路１１から出力される定電流が
与えられて充電されるコンデンサ１２と、２個のフリッ
プフロップＦＦ1 及びＦＦ2 とによって構成される。
【００１０】定電流回路１１とコンデンサ１２との接続
点Ａ点にランプ電圧Ｖe が出力される。フリップフロッ
プＦＦ1 とＦＦ2 は通常リセット信号によってリセット
されている。フリップフロップＦＦ1 はランプ電圧発生
回路１０を起動させる制御を行なう。またフリップフロ
ップＦＦ2 はランプ電圧発生回路１０の動作を停止させ
る制御を行なう。これらフリップフロップＦＦ1 とＦＦ
2 は常時はリセット信号によってリセットされている。
点Ａ点にランプ電圧Ｖe が出力される。フリップフロッ
プＦＦ1 とＦＦ2 は通常リセット信号によってリセット
されている。フリップフロップＦＦ1 はランプ電圧発生
回路１０を起動させる制御を行なう。またフリップフロ
ップＦＦ2 はランプ電圧発生回路１０の動作を停止させ
る制御を行なう。これらフリップフロップＦＦ1 とＦＦ
2 は常時はリセット信号によってリセットされている。
【００１１】フリップフロップＦＦ1 とＦＦ2 がリセッ
トされている状態ではフリップフロップＦＦ2 の出力端
子Ｑ1 がＬ論理を出力するから定電流回路１１に設けら
れているトランジスタＴr3とＴr4がオフに、トランジス
タＴr5がオンに制御される。従って定電流Ｉc は出力点
Ａに出力される。ところでフリップフロップＦＦ1 がリ
セットされていることからこのフリップフロップＦＦ1
の出力端子Ｑ1 に接続されているトランジスタＴr1がオ
フに制御され、その次段のトランジスタＴr2はオンに制
御される。この結果、定電流回路１１から出力される定
電流Ｉc はトランジスタＴr2に流れ込み、出力点Ａの電
位を一定電位に維持する。
トされている状態ではフリップフロップＦＦ2 の出力端
子Ｑ1 がＬ論理を出力するから定電流回路１１に設けら
れているトランジスタＴr3とＴr4がオフに、トランジス
タＴr5がオンに制御される。従って定電流Ｉc は出力点
Ａに出力される。ところでフリップフロップＦＦ1 がリ
セットされていることからこのフリップフロップＦＦ1
の出力端子Ｑ1 に接続されているトランジスタＴr1がオ
フに制御され、その次段のトランジスタＴr2はオンに制
御される。この結果、定電流回路１１から出力される定
電流Ｉc はトランジスタＴr2に流れ込み、出力点Ａの電
位を一定電位に維持する。
【００１２】この状態でフリップフロップＦＦ1 のクロ
ック入力端子にスタート信号ＳＴが与えられるとフリッ
プフロップＦＦ1 はデータ入力端子Ｄに接続されている
Ｈ論理を流込む。この結果、出力端子Ｑ1 はＨ論理に反
転するから、トランジスタＴr1がオンに制御され、トラ
ンジスタＴr2がオフに制御される。よってトランジスタ
Ｔr2がオフに反転した時点からコンデンサ１２に定電流
Ｉc が流れ始め、Ａ点の電位はコンデンサ１２の充電の
進行に伴なって漸次上昇し、ランプ電圧Ｖe が発生す
る。
ック入力端子にスタート信号ＳＴが与えられるとフリッ
プフロップＦＦ1 はデータ入力端子Ｄに接続されている
Ｈ論理を流込む。この結果、出力端子Ｑ1 はＨ論理に反
転するから、トランジスタＴr1がオンに制御され、トラ
ンジスタＴr2がオフに制御される。よってトランジスタ
Ｔr2がオフに反転した時点からコンデンサ１２に定電流
Ｉc が流れ始め、Ａ点の電位はコンデンサ１２の充電の
進行に伴なって漸次上昇し、ランプ電圧Ｖe が発生す
る。
【００１３】この発明ではＡ点に電圧比較器２０を接続
した構成を特徴とするものである。電圧比較器２０の一
方の入力端子には比較電圧源２１を接続し、この比較電
圧源２１からランプ電圧Ｖe の直線特性部分の下限電圧
Ｖe1に等しい電圧を与える。比較電圧源２１の電圧を電
圧比較器２０の反転入力端子に与えたとすると、電圧比
較器２０の出力はランプ電圧Ｖe が電圧Ｖe1より下側に
ある間はＬ論理を出力し続けるが、ランプ電圧Ｖe が電
圧Ｖe1を越えると、Ｈ論理に反転し、ランプ電圧Ｖe が
電圧Ｖe1を横切ったことを表わす検出信号ＶTSを出力す
る。
した構成を特徴とするものである。電圧比較器２０の一
方の入力端子には比較電圧源２１を接続し、この比較電
圧源２１からランプ電圧Ｖe の直線特性部分の下限電圧
Ｖe1に等しい電圧を与える。比較電圧源２１の電圧を電
圧比較器２０の反転入力端子に与えたとすると、電圧比
較器２０の出力はランプ電圧Ｖe が電圧Ｖe1より下側に
ある間はＬ論理を出力し続けるが、ランプ電圧Ｖe が電
圧Ｖe1を越えると、Ｈ論理に反転し、ランプ電圧Ｖe が
電圧Ｖe1を横切ったことを表わす検出信号ＶTSを出力す
る。
【００１４】この検出信号ＶTSを例えばレーザ光源６０
に与え、レーザ光源６０からレーザ光をパルス状に出射
させる。レーザ光は物標６１において反射し、受光器６
２に受光させる。受光器６２では光を電気信号に変換
し、この電気信号ＲX をフリップフロップＦＦ2 のクロ
ック入力端子に入力する。フリップフロップＦＦ2 はデ
ータ入力端子Ｄに与えられているＨ論理を読み込む、従
って出力端子Ｑ1 がＨ論理に反転するから、トランジス
タＴr3がオンの状態に反転し、トランジスタＴr4をオン
の状態に反転させる。この結果トランジスタＴr5がオフ
に制御され、定電流Ｉc はトランジスタＴr4に流れ出力
点Ａには流れない状態となる。従ってＡ点の電位は受光
器６２が反射光を受光した時点の電位に停止する。
に与え、レーザ光源６０からレーザ光をパルス状に出射
させる。レーザ光は物標６１において反射し、受光器６
２に受光させる。受光器６２では光を電気信号に変換
し、この電気信号ＲX をフリップフロップＦＦ2 のクロ
ック入力端子に入力する。フリップフロップＦＦ2 はデ
ータ入力端子Ｄに与えられているＨ論理を読み込む、従
って出力端子Ｑ1 がＨ論理に反転するから、トランジス
タＴr3がオンの状態に反転し、トランジスタＴr4をオン
の状態に反転させる。この結果トランジスタＴr5がオフ
に制御され、定電流Ｉc はトランジスタＴr4に流れ出力
点Ａには流れない状態となる。従ってＡ点の電位は受光
器６２が反射光を受光した時点の電位に停止する。
【００１５】一方フリップフロップＦＦ2 の状態が反転
すると、出力端子Ｑ2 に接続されているサンプルホール
ド回路４１にトリガ信号が与えられる。よってサンプル
ホールド回路４１はランプ電圧Ｖe の停止時点の電圧を
サンプルホールドする。これと共に、フリップフロップ
ＦＦ2 の出力端子Ｑ2 から出力されたトリガ信号は遅延
素子４２を通じてＡＤ変換器４０に入力されるから、Ａ
Ｄ変換器４０は遅延素子４２の遅延時間後に、サンプル
ホールド回路４１にサンプルホールドされている電圧を
ＡＤ変換し、そのＡＤ変換値Ｅx を例えばマイクロコン
ピュータによって構成される演算制御器５０に入力す
る。
すると、出力端子Ｑ2 に接続されているサンプルホール
ド回路４１にトリガ信号が与えられる。よってサンプル
ホールド回路４１はランプ電圧Ｖe の停止時点の電圧を
サンプルホールドする。これと共に、フリップフロップ
ＦＦ2 の出力端子Ｑ2 から出力されたトリガ信号は遅延
素子４２を通じてＡＤ変換器４０に入力されるから、Ａ
Ｄ変換器４０は遅延素子４２の遅延時間後に、サンプル
ホールド回路４１にサンプルホールドされている電圧を
ＡＤ変換し、そのＡＤ変換値Ｅx を例えばマイクロコン
ピュータによって構成される演算制御器５０に入力す
る。
【００１６】演算制御器５０はＡＤ変換器４０から入力
されたＡＤ変換値Ｅx から比較電圧源２１に設定した電
圧Ｖe1を引算し、その残りの値を時間値又は距離値に換
算して表示器５１に表示させる。ＡＤ変換器４０はＡＤ
変換終了後、変換終了信号ＡＤＥＮＤを出力し、この変
換終了信号ＡＤＥＮＤをフリップフロップＦＦ1 ，ＦＦ
2 のリセット端子Ｒに与え、ランプ電圧発生回路１０を
初期状態に戻す。
されたＡＤ変換値Ｅx から比較電圧源２１に設定した電
圧Ｖe1を引算し、その残りの値を時間値又は距離値に換
算して表示器５１に表示させる。ＡＤ変換器４０はＡＤ
変換終了後、変換終了信号ＡＤＥＮＤを出力し、この変
換終了信号ＡＤＥＮＤをフリップフロップＦＦ1 ，ＦＦ
2 のリセット端子Ｒに与え、ランプ電圧発生回路１０を
初期状態に戻す。
【００１７】標的６１が離れ過ぎている場合は、所定の
時間範囲内にレーザ光が戻ってこないことになる。この
ためランプ電圧Ｖe が飽和点に達することになるが、こ
の発明ではランプ電圧Ｖe が飽和点に達する前に、ラン
プ電圧Ｖe の直線特性部分の上限電圧Ｖe2を電圧比較器
３０によって検出し、その検出信号によって測定のオー
バレンジ検出信号ＥＮＤを発生させる。このために電圧
比較器３０の一方の入力端子に比較電圧源３１を接続
し、この比較電圧源３１から比較電圧Ｖe2を電圧比較器
３０に与えてランプ電圧Ｖe がこの電圧Ｖe2を横切った
ことを検出させる。その検出信号をオーバレンジ検出信
号ＥＮＤとして演算制御器５０とオアゲート３２を通じ
てフリップフロップＦＦ1 ，ＦＦ2 に入力し、測定のた
めの制御状態を初期状態に戻す。
時間範囲内にレーザ光が戻ってこないことになる。この
ためランプ電圧Ｖe が飽和点に達することになるが、こ
の発明ではランプ電圧Ｖe が飽和点に達する前に、ラン
プ電圧Ｖe の直線特性部分の上限電圧Ｖe2を電圧比較器
３０によって検出し、その検出信号によって測定のオー
バレンジ検出信号ＥＮＤを発生させる。このために電圧
比較器３０の一方の入力端子に比較電圧源３１を接続
し、この比較電圧源３１から比較電圧Ｖe2を電圧比較器
３０に与えてランプ電圧Ｖe がこの電圧Ｖe2を横切った
ことを検出させる。その検出信号をオーバレンジ検出信
号ＥＮＤとして演算制御器５０とオアゲート３２を通じ
てフリップフロップＦＦ1 ，ＦＦ2 に入力し、測定のた
めの制御状態を初期状態に戻す。
【００１８】尚、図２に示した実施例では電圧比較器２
０の検出信号ＶTSをレーザ光源６０に供給し、その反射
光を受光器６２で受光して距離を測定する構成とした場
合を説明したが、他の例として検出信号ＶTSで例えば表
示ランプを点灯させ、表示ランプの点灯を見て、被験者
が例えばブレーキペタル操作を行なってその操作遅れ時
間を計測する時間測定装置を構成することもできる。ま
た距離測定装置を構成する場合、レーザ光の代わりに電
波を用いることもできる。このため本件明細書ではレー
ザ光、電波を総称して波動と称することにする。
０の検出信号ＶTSをレーザ光源６０に供給し、その反射
光を受光器６２で受光して距離を測定する構成とした場
合を説明したが、他の例として検出信号ＶTSで例えば表
示ランプを点灯させ、表示ランプの点灯を見て、被験者
が例えばブレーキペタル操作を行なってその操作遅れ時
間を計測する時間測定装置を構成することもできる。ま
た距離測定装置を構成する場合、レーザ光の代わりに電
波を用いることもできる。このため本件明細書ではレー
ザ光、電波を総称して波動と称することにする。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
ランプ電圧Ｖe の直線特性部分の下限電圧Ｖe1を検出
し、この下限電圧Ｖe1の検出時点を時間測定の開始点Ｔ
S としたから、この時間測定の開始点ＴS の直後から精
度よく時間測定を行なうことができる。また、ランプ電
圧Ｖe の直線特性部分の上限電圧Ｖe2を検出して測定限
界点を知る構成としたから、測定範囲内では全て直線特
性を使用することにより、測定範囲の全範囲において高
精度を保証することができる。
ランプ電圧Ｖe の直線特性部分の下限電圧Ｖe1を検出
し、この下限電圧Ｖe1の検出時点を時間測定の開始点Ｔ
S としたから、この時間測定の開始点ＴS の直後から精
度よく時間測定を行なうことができる。また、ランプ電
圧Ｖe の直線特性部分の上限電圧Ｖe2を検出して測定限
界点を知る構成としたから、測定範囲内では全て直線特
性を使用することにより、測定範囲の全範囲において高
精度を保証することができる。
【００２０】また、ランプ電圧Ｖe を測定対象信号で停
止させＡＤ変換するから、ＡＤ変換器のビット数を多ビ
ット化し、電圧変化を分解能よくＡＤ変換することによ
り、時間測定の分解能を高めることができる。よって、
この時間測定方法及び時間測定装置を用いて距離測定装
置を構成することにより、高分解能の距離測定装置を構
成することができる。
止させＡＤ変換するから、ＡＤ変換器のビット数を多ビ
ット化し、電圧変化を分解能よくＡＤ変換することによ
り、時間測定の分解能を高めることができる。よって、
この時間測定方法及び時間測定装置を用いて距離測定装
置を構成することにより、高分解能の距離測定装置を構
成することができる。
【図１】この発明による時間測定方法を説明するための
特性曲線図。
特性曲線図。
【図２】この発明による時間測定方法を用いた時間・距
離測定装置を説明するための接続図。
離測定装置を説明するための接続図。
【図３】従来の技術を説明するための特性曲線図。
Ｖe ランプ電圧 Ｖe1 直線特性の下限電圧 Ｖe2 直線特性の上限電圧 １０ ランプ電圧発生回路 ２０，３０ 電圧比較器 ４０ ＡＤ変換器
Claims (4)
- 【請求項１】 測定開始点のランプ電圧と、測定終了点
のランプ電圧の差を測定して測定開始点と測定終了点の
間の時間を計測する時間測定方法において、 ランプ電圧が、その直線特性部分の下限電圧に対応する
電圧を横切ったことを検出し、この検出時点を時間測定
の開始点と定めたことを特徴とする時間測定方法。 - 【請求項２】 スタート信号によりランプ電圧発生回路
を起動し、ストップ信号によりランプ電圧発生回路の動
作を停止させ、停止したランプ電圧の値によりスタート
信号の供給時点からストップ信号の供給時点までの間の
時間を測定する時間測定装置において、 上記ランプ電圧発生回路から出力されるランプ電圧がこ
のランプ電圧の直線特性の下限電圧を横切ることを検出
する比較器を設け、この比較器の検出信号により実質上
の時間測定を開始する構成としたことを特徴とする時間
測定装置。 - 【請求項３】 請求項２記載の時間測定装置において、
上記比較器の検出信号により波動を発射させ、物標で反
射した波動を受信し、この受信信号を上記ストップ信号
として上記ランプ電圧発生器に与えて物標までの距離を
測定することを特徴とする距離測定装置。 - 【請求項４】 請求項２又は請求項３記載の時間測定装
置又は距離測定装置において、上記ランプ電圧発生回路
が発生するランプ電圧が直線特性の上限電圧に達したこ
とを検出する上限電圧検出用の電圧比較器を設け、この
電圧比較器の検出信号により測定のオーバレンジを検出
することを特徴とする時間・距離測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02145295A JP3552122B2 (ja) | 1995-02-09 | 1995-02-09 | 時間測定方法及びこの方法を用いた時間測定装置・距離測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02145295A JP3552122B2 (ja) | 1995-02-09 | 1995-02-09 | 時間測定方法及びこの方法を用いた時間測定装置・距離測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08220260A true JPH08220260A (ja) | 1996-08-30 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015185856A (ja) * | 2014-03-20 | 2015-10-22 | サンケン電気株式会社 | 時間電圧変換器 |
-
1995
- 1995-02-09 JP JP02145295A patent/JP3552122B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| JP2015185856A (ja) * | 2014-03-20 | 2015-10-22 | サンケン電気株式会社 | 時間電圧変換器 |
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