JPH08220236A - 蛍光ガラス線量計測定装置 - Google Patents
蛍光ガラス線量計測定装置Info
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- JPH08220236A JPH08220236A JP4338295A JP4338295A JPH08220236A JP H08220236 A JPH08220236 A JP H08220236A JP 4338295 A JP4338295 A JP 4338295A JP 4338295 A JP4338295 A JP 4338295A JP H08220236 A JPH08220236 A JP H08220236A
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- fluorescent
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 線質（エネルギー）及び放射線入射方向を高
精度に推定することができる蛍光ガラス線量計測定装置
を提供する。 【構成】 線量測定用蛍光ガラス素子１及び外部校正ガ
ラス素子２を測定装置内の測定位置３に搬送する搬送装
置４と、前記測定位置３にセットされた蛍光ガラス素子
１、外部校正ガラス素子２及び内部校正ガラス素子５の
それぞれから発する蛍光量を検出する検出装置６と、外
部校正ガラス素子の基準照射値などを入力する入力装置
７と、前記検出装置６によって読み取った各蛍光読取値
や入力装置７から入力された基準照射値などを用いて所
定の処理をする演算処理部８と、各種データを記憶する
記憶部９と、演算結果を出力する表示部１０及びプリン
タ１１が設けられている。また、前記測定位置３には、
移動ダイアフラム機構が設けられている。
精度に推定することができる蛍光ガラス線量計測定装置
を提供する。 【構成】 線量測定用蛍光ガラス素子１及び外部校正ガ
ラス素子２を測定装置内の測定位置３に搬送する搬送装
置４と、前記測定位置３にセットされた蛍光ガラス素子
１、外部校正ガラス素子２及び内部校正ガラス素子５の
それぞれから発する蛍光量を検出する検出装置６と、外
部校正ガラス素子の基準照射値などを入力する入力装置
７と、前記検出装置６によって読み取った各蛍光読取値
や入力装置７から入力された基準照射値などを用いて所
定の処理をする演算処理部８と、各種データを記憶する
記憶部９と、演算結果を出力する表示部１０及びプリン
タ１１が設けられている。また、前記測定位置３には、
移動ダイアフラム機構が設けられている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、放射線被曝線量を測定
する蛍光ガラス線量計の線量を読取る蛍光ガラス線量計
測定装置に係り、特に、線質（エネルギー）および放射
線入射方向の推定精度の向上を図るべく改良を施した蛍
光ガラス線量計測定装置に関する。
する蛍光ガラス線量計の線量を読取る蛍光ガラス線量計
測定装置に係り、特に、線質（エネルギー）および放射
線入射方向の推定精度の向上を図るべく改良を施した蛍
光ガラス線量計測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、放射線被曝線量の測定には、銀
イオンを含有したリン酸塩ガラスからなる蛍光ガラス素
子が用いられている。この蛍光ガラス素子は、イオン化
放射線の照射を受けて被曝するとガラス体内に蛍光中心
を生じ、この状態で一定波長の紫外線で励起すると、所
定のガラス面から蛍光が発する。このとき発せられる蛍
光の強度が被曝放射線量に比例することを利用して、そ
の蛍光強度から放射線の被曝線量を測定している。
イオンを含有したリン酸塩ガラスからなる蛍光ガラス素
子が用いられている。この蛍光ガラス素子は、イオン化
放射線の照射を受けて被曝するとガラス体内に蛍光中心
を生じ、この状態で一定波長の紫外線で励起すると、所
定のガラス面から蛍光が発する。このとき発せられる蛍
光の強度が被曝放射線量に比例することを利用して、そ
の蛍光強度から放射線の被曝線量を測定している。
【０００３】この様な放射線量の測定は、紫外線励起用
光源からの光を、光学的フィルタを介して所定波長以上
の光を遮断した後、透過した紫外線を直方体状のリン酸
塩ガラスの一側面に垂直に入射する。その後、この紫外
線の励起によってリン酸塩ガラスから発する蛍光を入射
光線に対し直角方向から取り出し、さらに、フィルタを
介して所定波長範囲の透過光を取り出した後、光電子増
倍管などで電気信号に変換し、この電気信号レベルから
蛍光強度を測定して、被曝線量を求めるものである。
光源からの光を、光学的フィルタを介して所定波長以上
の光を遮断した後、透過した紫外線を直方体状のリン酸
塩ガラスの一側面に垂直に入射する。その後、この紫外
線の励起によってリン酸塩ガラスから発する蛍光を入射
光線に対し直角方向から取り出し、さらに、フィルタを
介して所定波長範囲の透過光を取り出した後、光電子増
倍管などで電気信号に変換し、この電気信号レベルから
蛍光強度を測定して、被曝線量を求めるものである。
【０００４】ところで、個人に対する放射線被曝線量を
測定する目的で用いられる蛍光ガラス線量計において
は、通常、被曝放射線量だけを測定すれば十分であると
も考えられるが、施設内に異常事態が発生したり、放射
線漏れが生じたり、あるいは長時間の作業によって多量
の放射線を被曝した場合には、被曝放射線量の測定だけ
でなく、放射線の線質（エネルギー）や放射線入射方向
まで知らなければ、被曝事故解析の観点からは、十分な
放射線管理とはいえない。
測定する目的で用いられる蛍光ガラス線量計において
は、通常、被曝放射線量だけを測定すれば十分であると
も考えられるが、施設内に異常事態が発生したり、放射
線漏れが生じたり、あるいは長時間の作業によって多量
の放射線を被曝した場合には、被曝放射線量の測定だけ
でなく、放射線の線質（エネルギー）や放射線入射方向
まで知らなければ、被曝事故解析の観点からは、十分な
放射線管理とはいえない。
【０００５】従来、この種の蛍光ガラス線量計測定装
置、すなわち線量と共に、線質および放射線入射方向を
推定することが可能な蛍光ガラス線量計測定装置の一例
としては、本出願人等が別途特許出願し、登録を受けた
特許第１８０７４００号（特公平５−１２６７５号）公
報に示すものがある。◎すなわち、上記特許発明は、測
定対象たる蛍光ガラス素子を移動式ダイアフラムなどを
用いて複数の区画に分割し、各測定位置の蛍光強度を測
定することにより、蛍光ガラス素子の蛍光強度分布を求
め、その最大値と最小値の比に基づいて放射線の線質
（エネルギー）を推定するものである。また、蛍光ガラ
ス素子の蛍光強度分布のピーク値の現れる位置から、放
射線の入射方向を推定するものである。
置、すなわち線量と共に、線質および放射線入射方向を
推定することが可能な蛍光ガラス線量計測定装置の一例
としては、本出願人等が別途特許出願し、登録を受けた
特許第１８０７４００号（特公平５−１２６７５号）公
報に示すものがある。◎すなわち、上記特許発明は、測
定対象たる蛍光ガラス素子を移動式ダイアフラムなどを
用いて複数の区画に分割し、各測定位置の蛍光強度を測
定することにより、蛍光ガラス素子の蛍光強度分布を求
め、その最大値と最小値の比に基づいて放射線の線質
（エネルギー）を推定するものである。また、蛍光ガラ
ス素子の蛍光強度分布のピーク値の現れる位置から、放
射線の入射方向を推定するものである。
【０００６】一方、上記の様な放射線量の測定にあって
は、高精度の測定を行うべく、通常、予め基準放射線量
照射量（以下、基準照射値と呼ぶ）を照射し、所定の蛍
光量（校正線量）を発生する蛍光標準ガラスとして、校
正ガラスが用いられている。そして、この校正ガラスに
よって得られる校正線量と、蛍光ガラス線量計に装着さ
れたリン酸塩ガラスから発生する蛍光量とを比較するこ
とにより、リン酸塩ガラスの被曝放射線量を求めてい
る。
は、高精度の測定を行うべく、通常、予め基準放射線量
照射量（以下、基準照射値と呼ぶ）を照射し、所定の蛍
光量（校正線量）を発生する蛍光標準ガラスとして、校
正ガラスが用いられている。そして、この校正ガラスに
よって得られる校正線量と、蛍光ガラス線量計に装着さ
れたリン酸塩ガラスから発生する蛍光量とを比較するこ
とにより、リン酸塩ガラスの被曝放射線量を求めてい
る。
【０００７】また、上述した様な蛍光ガラス線量計測定
装置の校正を行う場合には、外部校正ガラスと内部校正
ガラスの２つの校正ガラスを用い、以下に述べる様な２
種類の校正方法を実施することにより、より精度の高い
校正を行っている。
装置の校正を行う場合には、外部校正ガラスと内部校正
ガラスの２つの校正ガラスを用い、以下に述べる様な２
種類の校正方法を実施することにより、より精度の高い
校正を行っている。
【０００８】なお、前記内部校正ガラスは、蛍光ガラス
線量計測定装置に内蔵されているものであって、本来的
には、この校正線量と蛍光ガラス線量計に装着されたリ
ン酸塩ガラスから発生する蛍光量とを比較することによ
り、リン酸塩ガラスの被曝放射線量を求めている。
線量計測定装置に内蔵されているものであって、本来的
には、この校正線量と蛍光ガラス線量計に装着されたリ
ン酸塩ガラスから発生する蛍光量とを比較することによ
り、リン酸塩ガラスの被曝放射線量を求めている。
【０００９】一方、外部校正ガラスは、前記内部校正ガ
ラスの経時変化などによる測定誤差を修正するために用
いられるものであって、内部校正ガラスと同一の素子か
ら構成され、内部校正ガラスの値づけを行うものであ
る。なお、内部校正ガラスの値づけとは、外部校正ガラ
スの基準照射値などを用いて、装置内部の内部校正ガラ
スの線量値（みかけの放射線照射量）を決定することで
ある。（１）外部校正 外部校正は、線量測定値のトレーサビリティ（高位の標
準）を確保するために行うものであって、予め基準照射
値を照射した外部校正ガラスを用いて、蛍光ガラス線量
計測定装置に内蔵されている内部校正ガラスの値づけを
行っている。この値づけとは、上述した様に、外部校正
ガラスの基準照射値などを用いて、内部校正ガラスの線
量値を決定することである。
ラスの経時変化などによる測定誤差を修正するために用
いられるものであって、内部校正ガラスと同一の素子か
ら構成され、内部校正ガラスの値づけを行うものであ
る。なお、内部校正ガラスの値づけとは、外部校正ガラ
スの基準照射値などを用いて、装置内部の内部校正ガラ
スの線量値（みかけの放射線照射量）を決定することで
ある。（１）外部校正 外部校正は、線量測定値のトレーサビリティ（高位の標
準）を確保するために行うものであって、予め基準照射
値を照射した外部校正ガラスを用いて、蛍光ガラス線量
計測定装置に内蔵されている内部校正ガラスの値づけを
行っている。この値づけとは、上述した様に、外部校正
ガラスの基準照射値などを用いて、内部校正ガラスの線
量値を決定することである。
【００１０】なお、この校正操作は、装置の設置段階の
初期設定時、および定期的（例えば、１回／３カ月また
は１回／６カ月）に行なわれるものである。（２）内部校正 内部校正は、外部校正ガラスによって値づけされた内部
校正ガラスを用いて、日常使用時において測定装置の校
正を行うものである。なお、この校正操作は、測定開始
時および予め定めた測定回数毎に自動的に行なわれる。
初期設定時、および定期的（例えば、１回／３カ月また
は１回／６カ月）に行なわれるものである。（２）内部校正 内部校正は、外部校正ガラスによって値づけされた内部
校正ガラスを用いて、日常使用時において測定装置の校
正を行うものである。なお、この校正操作は、測定開始
時および予め定めた測定回数毎に自動的に行なわれる。
【００１１】因みに、以上の様な２種類の校正ガラス
と、校正後の蛍光ガラス線量計の線量測定値との間に
は、次のような関係式が成立する。
と、校正後の蛍光ガラス線量計の線量測定値との間に
は、次のような関係式が成立する。
【００１２】
【数１】
【００１３】すなわち、上記外部校正実行時において、
次式により内部校正ガラスの値づけ“ｘ”が行われる。
次式により内部校正ガラスの値づけ“ｘ”が行われる。
【００１４】Ｃ／Ｄ＝Ｂｏ／ｘ …… この様にして得られた内部校正ガラスの線量値を用い
て、内部校正実行時において、次式により、蛍光ガラス
線量計に装着されたリン酸塩ガラスの被曝放射線量
“Ｘ”（上記式における測定対象たるガラス素子全体
の線量測定値）が求められる。
て、内部校正実行時において、次式により、蛍光ガラス
線量計に装着されたリン酸塩ガラスの被曝放射線量
“Ｘ”（上記式における測定対象たるガラス素子全体
の線量測定値）が求められる。
【００１５】Ｂｉ／ｘ＝Ａ／Ｘ …… 上記式および式より、上記式が導かれる。
【００１６】ここで、上述した様な移動式ダイアフラム
などを用いて、蛍光ガラス素子をｎ個の区画に均等分割
し、各測定位置の蛍光強度を測定することにより、蛍光
ガラス素子の蛍光強度分布を求める蛍光ガラス線量計測
定装置に、上記外部校正および内部校正を適用した場合
について説明する。◎すなわち、ｎ個の区画に均等分割
した蛍光ガラス素子のそれぞれの区画の線量測定値は、
以下の様になる。
などを用いて、蛍光ガラス素子をｎ個の区画に均等分割
し、各測定位置の蛍光強度を測定することにより、蛍光
ガラス素子の蛍光強度分布を求める蛍光ガラス線量計測
定装置に、上記外部校正および内部校正を適用した場合
について説明する。◎すなわち、ｎ個の区画に均等分割
した蛍光ガラス素子のそれぞれの区画の線量測定値は、
以下の様になる。
【００１７】
【数２】
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記関
係式を用いて蛍光ガラス素子の蛍光強度分布を測定する
方法には、以下に述べる様な欠点があった。すなわち、 （１）蛍光強度分布を測定する光電子倍増管などの光電
変換素子の検出感度分布が均一でない場合、すなわち、
蛍光ガラス素子をｎ個の区画に均等分割して測定する場
合に、各区画の測定に用いられる対応光電変換素子の検
出感度が均一でなく、ばらつきがある場合には、その検
出感度の差がそのまま各分割区画毎の各検出値の誤差と
なるため、線質（エネルギー）および放射線入射方向の
推定精度を下げる原因となっていた。
係式を用いて蛍光ガラス素子の蛍光強度分布を測定する
方法には、以下に述べる様な欠点があった。すなわち、 （１）蛍光強度分布を測定する光電子倍増管などの光電
変換素子の検出感度分布が均一でない場合、すなわち、
蛍光ガラス素子をｎ個の区画に均等分割して測定する場
合に、各区画の測定に用いられる対応光電変換素子の検
出感度が均一でなく、ばらつきがある場合には、その検
出感度の差がそのまま各分割区画毎の各検出値の誤差と
なるため、線質（エネルギー）および放射線入射方向の
推定精度を下げる原因となっていた。
【００１９】（２）上記光電子倍増管などの光電変換素
子の検出感度分布のばらつきによる各分割区画毎の各検
出値の誤差は、光電変換素子間の特性の差異によって変
化するだけでなく、同一素子であっても、測定装置への
取付け方向が変わった場合にも変化する。そのため、光
電変換素子の測定装置への取付け方向の変動により、線
質（エネルギー）および放射線入射方向の推定精度を下
げる原因となっていた。
子の検出感度分布のばらつきによる各分割区画毎の各検
出値の誤差は、光電変換素子間の特性の差異によって変
化するだけでなく、同一素子であっても、測定装置への
取付け方向が変わった場合にも変化する。そのため、光
電変換素子の測定装置への取付け方向の変動により、線
質（エネルギー）および放射線入射方向の推定精度を下
げる原因となっていた。
【００２０】本発明は、上述した様な従来技術の問題点
を解消するために提案されたもので、その目的は、光電
変換素子の素子間の検出感度分布のばらつき、および光
電変換素子の取り付け方向の差異に影響されずに、各分
割区画毎の検出値を読み取ることができ、線質（エネル
ギー）および放射線入射方向を高精度に推定することが
できる蛍光ガラス線量計測定装置を提供することにあ
る。
を解消するために提案されたもので、その目的は、光電
変換素子の素子間の検出感度分布のばらつき、および光
電変換素子の取り付け方向の差異に影響されずに、各分
割区画毎の検出値を読み取ることができ、線質（エネル
ギー）および放射線入射方向を高精度に推定することが
できる蛍光ガラス線量計測定装置を提供することにあ
る。
【００２１】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、イオン化放射線の照射を受けた蛍光ガラス素子を紫
外線で励起し、この際に前記蛍光ガラス素子の蛍光検出
面から発生する蛍光量に基づいて被曝放射線量を読み取
るとともに、前記蛍光検出面を複数の区画に分割して、
各分割区画毎に蛍光量を検出し、各検出値から前記蛍光
検出面の蛍光強度分布を求める蛍光ガラス線量計測定装
置において、前記分割区画毎に蛍光ガラス素子の蛍光量
を校正して算出する演算手段を備えたことを特徴とする
ものである。
は、イオン化放射線の照射を受けた蛍光ガラス素子を紫
外線で励起し、この際に前記蛍光ガラス素子の蛍光検出
面から発生する蛍光量に基づいて被曝放射線量を読み取
るとともに、前記蛍光検出面を複数の区画に分割して、
各分割区画毎に蛍光量を検出し、各検出値から前記蛍光
検出面の蛍光強度分布を求める蛍光ガラス線量計測定装
置において、前記分割区画毎に蛍光ガラス素子の蛍光量
を校正して算出する演算手段を備えたことを特徴とする
ものである。
【００２２】また、請求項２に記載の発明は、蛍光ガラ
ス線量計の被曝放射線量を測定する蛍光ガラス線量計測
定装置であって、前記測定装置内部に内蔵され、前記蛍
光ガラス線量計の被曝放射線量を校正する校正線量を有
する内部校正ガラス素子と、前記内部校正ガラス素子に
起因する測定誤差を校正するために用いられる外部校正
ガラス素子とを備え、前記蛍光ガラス線量計の蛍光ガラ
ス素子の蛍光検出面から発生する蛍光量に基づいて被曝
放射線量を読み取るとともに、前記蛍光検出面を複数の
区画に分割し、各分割区画毎に蛍光量を検出して、各検
出値から前記蛍光検出面の蛍光強度分布を求める蛍光ガ
ラス線量計測定装置において、前記外部校正ガラス素子
全体の蛍光量を読み取ると共に、外部校正ガラス素子の
蛍光検出面を前記蛍光ガラス素子と同一の複数の区画に
分割して、各分割区画毎の蛍光量を読み取り、この検出
値と前記蛍光ガラス素子の各分割区画毎の検出値に基づ
いて、各分割区画毎に蛍光ガラス素子の蛍光量を校正し
て算出する演算手段を備えたことを特徴とするものであ
る。
ス線量計の被曝放射線量を測定する蛍光ガラス線量計測
定装置であって、前記測定装置内部に内蔵され、前記蛍
光ガラス線量計の被曝放射線量を校正する校正線量を有
する内部校正ガラス素子と、前記内部校正ガラス素子に
起因する測定誤差を校正するために用いられる外部校正
ガラス素子とを備え、前記蛍光ガラス線量計の蛍光ガラ
ス素子の蛍光検出面から発生する蛍光量に基づいて被曝
放射線量を読み取るとともに、前記蛍光検出面を複数の
区画に分割し、各分割区画毎に蛍光量を検出して、各検
出値から前記蛍光検出面の蛍光強度分布を求める蛍光ガ
ラス線量計測定装置において、前記外部校正ガラス素子
全体の蛍光量を読み取ると共に、外部校正ガラス素子の
蛍光検出面を前記蛍光ガラス素子と同一の複数の区画に
分割して、各分割区画毎の蛍光量を読み取り、この検出
値と前記蛍光ガラス素子の各分割区画毎の検出値に基づ
いて、各分割区画毎に蛍光ガラス素子の蛍光量を校正し
て算出する演算手段を備えたことを特徴とするものであ
る。
【００２３】
【作用】請求項１に記載の発明によれば、測定対象たる
蛍光ガラス素子の蛍光検出面を複数の区画に分割して、
各分割区画毎に蛍光量を検出し、各検出値から蛍光検出
面の蛍光強度分布を求める蛍光ガラス線量計測定装置に
おいて、各分割区画毎にその蛍光量を校正して算出する
演算手段を備えたことにより、各分割区画毎に光電変換
素子の検出感度のばらつきを補正することができる。
蛍光ガラス素子の蛍光検出面を複数の区画に分割して、
各分割区画毎に蛍光量を検出し、各検出値から蛍光検出
面の蛍光強度分布を求める蛍光ガラス線量計測定装置に
おいて、各分割区画毎にその蛍光量を校正して算出する
演算手段を備えたことにより、各分割区画毎に光電変換
素子の検出感度のばらつきを補正することができる。
【００２４】その結果、光電変換素子の検出感度分布に
ばらつきがあったり、光電変換素子の取付け方向に差が
あるために光電変換素子の検出感度分布が変化した場合
でも、その影響を受けずに各分割区画の蛍光量を得るこ
とができるので、線質（エネルギー）および放射線入射
方向の推定精度を大幅に向上させることができる。
ばらつきがあったり、光電変換素子の取付け方向に差が
あるために光電変換素子の検出感度分布が変化した場合
でも、その影響を受けずに各分割区画の蛍光量を得るこ
とができるので、線質（エネルギー）および放射線入射
方向の推定精度を大幅に向上させることができる。
【００２５】請求項２に記載の発明によれば、外部校正
実行時に、外部校正ガラス素子全体の蛍光量を読み取る
と共に、外部校正ガラス素子においても、蛍光ガラス素
子と同様に各分割区画毎の蛍光量を読み取り、この検出
値と蛍光ガラス素子の各分割区画毎の検出値に基づい
て、各分割区画毎にその蛍光量を校正して算出する演算
手段を備えたことにより、各分割区画毎に光電変換素子
の検出感度のばらつきを補正することができる。
実行時に、外部校正ガラス素子全体の蛍光量を読み取る
と共に、外部校正ガラス素子においても、蛍光ガラス素
子と同様に各分割区画毎の蛍光量を読み取り、この検出
値と蛍光ガラス素子の各分割区画毎の検出値に基づい
て、各分割区画毎にその蛍光量を校正して算出する演算
手段を備えたことにより、各分割区画毎に光電変換素子
の検出感度のばらつきを補正することができる。
【００２６】その結果、光電変換素子の検出感度分布に
ばらつきがあったり、光電変換素子の取付け方向に差が
あるために光電変換素子の検出感度分布が変化した場合
でも、その影響を受けずに各分割区画の蛍光量を得るこ
とができるので、線質（エネルギー）および放射線入射
方向の推定精度を大幅に向上させることができる。
ばらつきがあったり、光電変換素子の取付け方向に差が
あるために光電変換素子の検出感度分布が変化した場合
でも、その影響を受けずに各分割区画の蛍光量を得るこ
とができるので、線質（エネルギー）および放射線入射
方向の推定精度を大幅に向上させることができる。
【００２７】
【実施例】以下、本発明の一実施例について、図面を参
照して説明する。
照して説明する。
【００２８】すなわち、本実施例の測定装置において
は、図１に示した様に、測定対象たる線量測定用蛍光ガ
ラス素子１および外部校正ガラス素子２を測定装置内の
測定位置３に搬送する搬送装置４と、前記測定位置３に
セットされた測定対象たる蛍光ガラス素子１、外部校正
ガラス素子２および内部校正ガラス素子５のそれぞれか
ら発する蛍光量を検出する検出装置６が設けられてい
る。なお、前記内部校正ガラス素子５を測定位置３にセ
ットするために、別途搬送装置（図示せず）が設けられ
ている。
は、図１に示した様に、測定対象たる線量測定用蛍光ガ
ラス素子１および外部校正ガラス素子２を測定装置内の
測定位置３に搬送する搬送装置４と、前記測定位置３に
セットされた測定対象たる蛍光ガラス素子１、外部校正
ガラス素子２および内部校正ガラス素子５のそれぞれか
ら発する蛍光量を検出する検出装置６が設けられてい
る。なお、前記内部校正ガラス素子５を測定位置３にセ
ットするために、別途搬送装置（図示せず）が設けられ
ている。
【００２９】また、前記測定位置３には、図２に示した
様な移動ダイアフラム機構が設けられている。すなわ
ち、所定の開口部２０が形成された固定ダイアフラム２
１には、所定のスリット２２が形成された移動ダイアフ
ラム２３が、図中矢印方向にスライド可能に取り付けら
れている。なお、前記スリット２２の大きさは、測定す
べきガラス素子をｎ個に均等に分割した各区画面積に相
当するものである。
様な移動ダイアフラム機構が設けられている。すなわ
ち、所定の開口部２０が形成された固定ダイアフラム２
１には、所定のスリット２２が形成された移動ダイアフ
ラム２３が、図中矢印方向にスライド可能に取り付けら
れている。なお、前記スリット２２の大きさは、測定す
べきガラス素子をｎ個に均等に分割した各区画面積に相
当するものである。
【００３０】そして、この移動ダイアフラム機構によ
り、まず、紫外線による励起によって蛍光ガラス素子１
から発生した蛍光の内、固定ダイアフラム２１に形成さ
れた所定の開口部２０を通過した蛍光が、前記検出装置
６によって検出されるように構成されている（この測定
値が、蛍光ガラス線量計の素子全体の蛍光読取値Ｘとな
る）。
り、まず、紫外線による励起によって蛍光ガラス素子１
から発生した蛍光の内、固定ダイアフラム２１に形成さ
れた所定の開口部２０を通過した蛍光が、前記検出装置
６によって検出されるように構成されている（この測定
値が、蛍光ガラス線量計の素子全体の蛍光読取値Ｘとな
る）。
【００３１】また、蛍光ガラス素子の蛍光強度分布の測
定は、前記移動ダイアフラム２３を図中矢印方向に順次
移動させ、そのスリット２２を通過した蛍光を検出する
ことによりなされる（この測定値が、蛍光ガラス線量計
の各分割区画の蛍光読取値“Ａ1 ”“Ａ2 ”…“Ａn ”
となる）。
定は、前記移動ダイアフラム２３を図中矢印方向に順次
移動させ、そのスリット２２を通過した蛍光を検出する
ことによりなされる（この測定値が、蛍光ガラス線量計
の各分割区画の蛍光読取値“Ａ1 ”“Ａ2 ”…“Ａn ”
となる）。
【００３２】さらに、本実施例の測定装置においては、
外部校正ガラス素子２においても、同様に、前記移動ダ
イアフラム２３を図中矢印方向に順次移動させ、そのス
リット２２を通過した蛍光を検出することにより、外部
校正実行時の外部校正ガラスの蛍光強度分布の測定がな
される（この測定値が、外部校正ガラスの各分割区画の
蛍光読取値“Ｃ1 ”“Ｃ2 ”…“Ｃn ”となる）。
外部校正ガラス素子２においても、同様に、前記移動ダ
イアフラム２３を図中矢印方向に順次移動させ、そのス
リット２２を通過した蛍光を検出することにより、外部
校正実行時の外部校正ガラスの蛍光強度分布の測定がな
される（この測定値が、外部校正ガラスの各分割区画の
蛍光読取値“Ｃ1 ”“Ｃ2 ”…“Ｃn ”となる）。
【００３３】また、本実施例の測定装置には、各種演算
に必要な指示データや、外部校正実行時に外部校正ガラ
ス素子に照射する基準照射値“Ｄ”などを入力する入力
装置７と、前記検出装置６によって読み取った各蛍光読
取値や入力装置７から入力された基準照射値などを用い
て所定の処理をする演算処理部８（請求項１及び請求項
２における演算手段に相当する）が設けられている。さ
らに、前記検出装置６による検出データや前記入力装置
７から入力された基準照射値、演算処理部８における演
算処理過程のデータを記憶する記憶部９、演算結果を出
力する表示部１０及びプリンタ１１が設けられている。
に必要な指示データや、外部校正実行時に外部校正ガラ
ス素子に照射する基準照射値“Ｄ”などを入力する入力
装置７と、前記検出装置６によって読み取った各蛍光読
取値や入力装置７から入力された基準照射値などを用い
て所定の処理をする演算処理部８（請求項１及び請求項
２における演算手段に相当する）が設けられている。さ
らに、前記検出装置６による検出データや前記入力装置
７から入力された基準照射値、演算処理部８における演
算処理過程のデータを記憶する記憶部９、演算結果を出
力する表示部１０及びプリンタ１１が設けられている。
【００３４】この様な構成を有する本実施例の蛍光ガラ
ス線量計測定装置は、以下に述べる様に動作する。
ス線量計測定装置は、以下に述べる様に動作する。
【００３５】まず、外部校正実行時に、搬送装置４によ
って、外部校正ガラス素子２が蛍光ガラス線量計測定装
置の測定位置３に運ばれる。この測定位置３には図２に
示した様な移動ダイアフラム機構があり、外部校正ガラ
ス素子２全体の蛍光と、各分割区画毎の蛍光が検出装置
６によって順次検出される。
って、外部校正ガラス素子２が蛍光ガラス線量計測定装
置の測定位置３に運ばれる。この測定位置３には図２に
示した様な移動ダイアフラム機構があり、外部校正ガラ
ス素子２全体の蛍光と、各分割区画毎の蛍光が検出装置
６によって順次検出される。
【００３６】そして、演算処理部８によって、これらの
検出値から、素子全体の蛍光量“Ｃ”と、各分割区画の
蛍光量“Ｃ1 ”“Ｃ2 ”…“Ｃn ”が算出され、記憶部
９に記憶される。また、外部校正実行時には、内部校正
ガラス素子５の蛍光量“Ｂｏ”が測定され、また、外部
校正ガラスの基準照射値“Ｄ”が入力装置７によって入
力され、これらのデータも記憶部９に記憶される。
検出値から、素子全体の蛍光量“Ｃ”と、各分割区画の
蛍光量“Ｃ1 ”“Ｃ2 ”…“Ｃn ”が算出され、記憶部
９に記憶される。また、外部校正実行時には、内部校正
ガラス素子５の蛍光量“Ｂｏ”が測定され、また、外部
校正ガラスの基準照射値“Ｄ”が入力装置７によって入
力され、これらのデータも記憶部９に記憶される。
【００３７】上記の外部校正が完了した状態で、測定対
象である線量測定用蛍光ガラス素子１の蛍光量が測定さ
れる。すなわち、線量測定用蛍光ガラス素子１は、搬送
装置４によって測定位置３に運ばれ、全体の蛍光量
“Ａ”と、各分割区画の蛍光量“Ａ1 ”“Ａ2 ”…“Ａ
n ”が測定される。また、この測定の測定開始時と予め
定めた測定回数毎に、上記内部校正が実行され、内部校
正ガラス素子５の蛍光量“Ｂｉ”が測定される。
象である線量測定用蛍光ガラス素子１の蛍光量が測定さ
れる。すなわち、線量測定用蛍光ガラス素子１は、搬送
装置４によって測定位置３に運ばれ、全体の蛍光量
“Ａ”と、各分割区画の蛍光量“Ａ1 ”“Ａ2 ”…“Ａ
n ”が測定される。また、この測定の測定開始時と予め
定めた測定回数毎に、上記内部校正が実行され、内部校
正ガラス素子５の蛍光量“Ｂｉ”が測定される。
【００３８】以上の外部校正ガラス素子、内部校正ガラ
ス素子、線量測定用蛍光ガラス素子の測定結果から、線
量測定用蛍光ガラス素子の放射線量および線質推定など
に使用される各分割区画の蛍光量が、以下の様にして求
められる。なお、かかる演算処理は、上記演算処理部８
によって行われる。
ス素子、線量測定用蛍光ガラス素子の測定結果から、線
量測定用蛍光ガラス素子の放射線量および線質推定など
に使用される各分割区画の蛍光量が、以下の様にして求
められる。なお、かかる演算処理は、上記演算処理部８
によって行われる。
【００３９】
【数３】
【００４０】この様に、本実施例によれば、外部校正実
行時に、外部校正ガラス素子２においても蛍光強度分布
の測定がなされるため、各分割区画ごとに光電変換素子
の検出感度のばらつきが補正される。その結果、光電変
換素子の検出感度分布にばらつきがあったり、光電変換
素子の取付け方向に差があるために光電変換素子の検出
感度分布が変化した場合でも、その影響を受けずに各分
割区画の蛍光量を得ることができるので、線質（エネル
ギー）および放射線入射方向の推定精度を大幅に向上さ
せることができる。
行時に、外部校正ガラス素子２においても蛍光強度分布
の測定がなされるため、各分割区画ごとに光電変換素子
の検出感度のばらつきが補正される。その結果、光電変
換素子の検出感度分布にばらつきがあったり、光電変換
素子の取付け方向に差があるために光電変換素子の検出
感度分布が変化した場合でも、その影響を受けずに各分
割区画の蛍光量を得ることができるので、線質（エネル
ギー）および放射線入射方向の推定精度を大幅に向上さ
せることができる。
【００４１】なお、本発明は、その要旨を逸脱しない範
囲で種々変形して実施できる。
囲で種々変形して実施できる。
【００４２】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、光
電変換素子の検出感度分布にばらつきがあったり、変化
があった場合でも、その影響を受けることなく、高精度
に線質（エネルギー）と放射線入射方向を推定すること
ができる蛍光ガラス線量計測定装置を提供することがで
きる。
電変換素子の検出感度分布にばらつきがあったり、変化
があった場合でも、その影響を受けることなく、高精度
に線質（エネルギー）と放射線入射方向を推定すること
ができる蛍光ガラス線量計測定装置を提供することがで
きる。
【図１】本発明の蛍光ガラス線量計測定装置の一実施例
を示す構成図
を示す構成図
【図２】図１に示した実施例に用いられる移動ダイアフ
ラム機構の一例を示す斜視図
ラム機構の一例を示す斜視図
１…線量測定用蛍光ガラス素子 ２…外部校正ガラス素子 ３…測定位置 ４…搬送装置 ５…内部校正ガラス素子 ６…検出装置 ７…入力装置 ８…演算処理部 ９…記憶部 １０…表示部 １１…プリンタ ２０…開口部 ２１…固定ダイアフラム ２２…スリット ２３…移動式ダイアフラム
Claims (2)
- 【請求項１】 イオン化放射線の照射を受けた蛍光ガラ
ス素子を紫外線で励起し、この際に前記蛍光ガラス素子
の蛍光検出面から発生する蛍光量に基づいて被曝放射線
量を読み取るとともに、前記蛍光検出面を複数の区画に
分割して、各分割区画毎に蛍光量を検出し、各検出値か
ら前記蛍光検出面の蛍光強度分布を求める蛍光ガラス線
量計測定装置において、 前記分割区画毎に、蛍光ガラス素子の蛍光量を校正して
算出する演算手段を備えたことを特徴とする蛍光ガラス
線量計測定装置。 - 【請求項２】 蛍光ガラス線量計の被曝放射線量を測定
する蛍光ガラス線量計測定装置であって、 前記測定装置内部に内蔵され、前記蛍光ガラス線量計の
被曝放射線量を校正する校正線量を有する内部校正ガラ
ス素子と、 前記内部校正ガラス素子に起因する測定誤差を校正する
ために用いられる外部校正ガラス素子とを備え、 前記蛍光ガラス線量計の蛍光ガラス素子の蛍光検出面か
ら発生する蛍光量に基づいて被曝放射線量を読み取ると
ともに、前記蛍光検出面を複数の区画に分割して、各分
割区画毎に蛍光量を検出し、各検出値から前記蛍光検出
面の蛍光強度分布を求める蛍光ガラス線量計測定装置に
おいて、 前記外部校正ガラス素子全体の蛍光量を読み取ると共
に、外部校正ガラス素子の蛍光検出面を前記蛍光ガラス
素子と同一の複数の区画に分割して、各分割区画毎の蛍
光量を読み取り、この検出値と前記蛍光ガラス素子の各
分割区画毎の検出値に基づいて、各分割区画毎に蛍光ガ
ラス素子の蛍光量を校正して算出する演算手段を備えた
ことを特徴とする蛍光ガラス線量計測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4338295A JP2971772B2 (ja) | 1995-02-08 | 1995-02-08 | 蛍光ガラス線量計測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4338295A JP2971772B2 (ja) | 1995-02-08 | 1995-02-08 | 蛍光ガラス線量計測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08220236A true JPH08220236A (ja) | 1996-08-30 |
| JP2971772B2 JP2971772B2 (ja) | 1999-11-08 |
Family
ID=12662273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4338295A Expired - Lifetime JP2971772B2 (ja) | 1995-02-08 | 1995-02-08 | 蛍光ガラス線量計測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2971772B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007256150A (ja) * | 2006-03-24 | 2007-10-04 | Fujitsu Ltd | α線量率測定方法及び装置 |
| JP2008202952A (ja) * | 2007-02-16 | 2008-09-04 | Fujitsu Ltd | α線放出核種同定方法及びα線測定装置 |
| JP2014202689A (ja) * | 2013-04-09 | 2014-10-27 | Ａｇｃテクノグラス株式会社 | 蛍光ガラス線量計測定装置、蛍光ガラス線量計測定装置の校正方法 |
-
1995
- 1995-02-08 JP JP4338295A patent/JP2971772B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007256150A (ja) * | 2006-03-24 | 2007-10-04 | Fujitsu Ltd | α線量率測定方法及び装置 |
| JP2008202952A (ja) * | 2007-02-16 | 2008-09-04 | Fujitsu Ltd | α線放出核種同定方法及びα線測定装置 |
| JP4717022B2 (ja) * | 2007-02-16 | 2011-07-06 | 富士通株式会社 | α線放出核種同定方法及びα線測定装置 |
| JP2014202689A (ja) * | 2013-04-09 | 2014-10-27 | Ａｇｃテクノグラス株式会社 | 蛍光ガラス線量計測定装置、蛍光ガラス線量計測定装置の校正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2971772B2 (ja) | 1999-11-08 |
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