JPH08213719A - チップ状電子部品用セラミック基板及びその製造方法 - Google Patents

チップ状電子部品用セラミック基板及びその製造方法

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JPH08213719A
JPH08213719A JP1481395A JP1481395A JPH08213719A JP H08213719 A JPH08213719 A JP H08213719A JP 1481395 A JP1481395 A JP 1481395A JP 1481395 A JP1481395 A JP 1481395A JP H08213719 A JPH08213719 A JP H08213719A
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JP
Japan
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chip
green sheet
ceramic
ceramic substrate
curvature
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Pending
Application number
JP1481395A
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English (en)
Inventor
Toshiro Kawaguchi
敏郎 川口
Toshihiko Nakamura
俊彦 中村
Hisamitsu Sakai
久満 酒井
Yuichi Kagami
有一 各務
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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Publication of JPH08213719A publication Critical patent/JPH08213719A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0097Processing two or more printed circuits simultaneously, e.g. made from a common substrate, or temporarily stacked circuit boards

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  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【構成】チップ状電子部品用セラミック基板1の全ての
稜部1a及び角部1bに曲率半径0.02〜0.2mm
の曲面を備える。 【効果】バルクケースを用いた供給であっても欠けの発
生が極めて少ないことから、電極強度を向上し、セラミ
ック粉等による実装不良を改善できるため実装品質を向
上できるとともに、バルク供給時の実装機の稼働率を上
げられる。また、縦方向の実装が可能であるため、実装
効率を向上できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、チップ抵抗器等のチッ
プ状電子部品用のセラミック基板及びその製造法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来、チップ抵抗器に用いられるセラミ
ック基板は、セラミックグリーンシートの片面もしくは
両面にV溝を設けて焼成する多数個取りの製造方法にて
得られている。図6(A)に示すように、セラミック基
板21のV溝25、26を形成し、図6(B)〜(D)
のようにこれらのV溝25、26で囲まれた部分に端子
電極22、抵抗体23、ガラス24を印刷した後、横方
向のV溝25に沿ってセラミック基板1を分割する。さ
らに図6(E)のように分割面に側面電極26を印刷し
た後、縦方向のV溝26に沿って再度分割する事によ
り、図6(F)に示すチップ抵抗器28を得ている。
【0003】またこのチップ抵抗器28やその他の表面
実装用チップ電子部品を搬送する場合は、キャリアテー
プの凹部に1個ずつ包装して自動実装機に供給される場
合と、バルクケースに多数個を同時に収納して自動実装
機に供給される場合がある。近年、包装材のリサイクル
による環境問題対策とその経済性によりバルクケースに
よるチップ状電子部品の供給が増加し重要度が増してい
る。
【0004】バルクケースによる供給の場合、例えば図
6(F)に示すような1.6×0.8×0.5mmのチ
ップ抵抗器28の場合には、バルクケース1個の中に2
5,000個収納されている。そして、収納された状態
ではバルクケースの内容積に対してチップ抵抗器28の
占める割合が約80%程度となっており、見かけの空間
部の体積率は約20%となっている。この空間はバルク
ケースを自動実装機に装着してチップ抵抗器28を供給
する際にバルクケース内のチップ抵抗器28がスムーズ
に流れ出るために必要なものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
従来のチップ抵抗器28では、分割時にバリの発生が避
けられず、またチップ抵抗器28の各稜部及び各角部の
全てもしくは一部に曲面がなくシャープエッジとなって
いる部分があるため、例えば実装時等にこれを自動機で
取り扱う場合、欠け、セラミック粉等の発生などの不具
合を避けられないという欠点があった。
【0006】特に上述したバルクケースを用いて供給す
る場合、バルクケースを搬送する時、自動実装器にセッ
トする時、及び自動実装時にバルクケースが移動する時
等に内部に収納したチップ抵抗器28同士が衝突したり
こすれ合ったりするため、カケやセラミック粉が発生し
やすかった。
【0007】この欠け落ちたセラミック片やセラミック
粉は自動実装時に実装機のゲート部、シュート部、チュ
ーブ部等に付着したり詰まったりするため、チップ抵抗
器28が正常に流れなかったり内部に詰まったりしてし
まい、これにより自動実装機の頻繁な停止が発生しその
復旧の時間も長くかかるため大幅な生産性の低下を余儀
なくされているという問題点があった。
【0008】同時に、この欠け落ちたセラミック片やセ
ラミック粉の発生がチップ抵抗器28自身に付着し、プ
リント基板に載置する場合、基板面との間に隙間が生じ
たりして、良好な取付ができなくなるという欠点もあっ
た。また、バリのために電極コーナー部に機械的ストレ
スが集中する問題や、分割面が凸凹面となるため、側面
電極26が分断されるという不具合もあった。
【0009】さらに、実装密度の向上を図るために、図
7に示すようにプリント配線基板29上にチップ抵抗器
28を縦に実装することも行われているが、従来のチッ
プ抵抗器28では実装面側に分割時のバリ等の突起があ
るため、実装不良が発生したり実装の信頼性が悪くなる
等の問題点があった。
【0010】そこで、分割溝の形状を工夫して断面形状
を多角形にした電子部品用セラミック基板(特開昭63
−226092号公報参照)や、幅方向両端面が曲面の
長尺状の平板に電極及び抵抗体を付与した後にスライサ
ーにて切断するチップ抵抗器の製造方法(特開昭60−
8603公報参照)などが提案されている。
【0011】しかし、これらの方法でも、電極及び抵抗
被膜を焼き付けた後に分割するため、セラミックスのバ
リの問題は避けられなかった。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、チップ状電子
部品用セラミック基板の全ての稜部及び角部に曲率半径
0.02〜0.2mmの曲面を有することを特徴とす
る。
【0013】また、本発明はセラミックグリーンシート
をチップ状電子部品の単体サイズに切断した後、焼成前
もしくは焼成後にバレル研磨を行うことによりチップ状
電子部品用セラミック基板を製造するようにした。
【0014】なお、曲率半径を0.02〜0.2mmと
したのは、0.02mm未満ではカケを防止する効果に
乏しく、一方0.2mmを超えるとチップ抵抗器の抵抗
体を形成する有効面積が小さくなり過ぎるだけでなく、
図7に示すような縦の実装方向を採用する場合にうまく
立たないためである。特に本発明の効果を大きく発揮す
るには曲率半径が0.05〜0.15mm以下の範囲に
ある事が望ましい。
【0015】そして、本発明ではセラミック基板の全て
の稜部と角部に上記曲面を有し、シャープエッジとなる
部分が存在しないことを特徴とし、そのためにカケ等の
発生を防止できるのである。
【0016】このような本発明のセラミック基板を得る
ためには、従来のような多数個取りの製造方法ではな
く、予め未焼成のグリーンシートの段階で分割しておい
て、焼成前または焼成後にバレル研磨を行うことによ
り、全ての稜部と角部に曲面を形成することができる。
【0017】また、セラミックグリーンシートの分割方
法についても、カット刃を用いた押し切り方式や、回転
刃を用いたスライサー方式、金型による打ち抜き方式等
あるが、特に限定されるものでない。
【0018】さらに本発明のセラミック基板の材質は特
に限定されるものでなく、アルミナ、フォルステライ
ト、ステアタイト、フェライト、各種誘電体材料等、使
用目的に応じて広く使用される。なかでもアルミナ系セ
ラミックスは絶縁材としてチップ状電子部品に広く使用
されている。
【0019】
【実施例】次に本発明をチップ抵抗器用セラミック基板
の実施例について説明する。
【0020】図1に示すチップ抵抗器用セラミック基板
1は、1.6×0.8×0.4mmの大きさであり、全
ての稜部1aと角部1bに曲率半径0.02〜0.2m
mの曲面を有している。
【0021】このチップ抵抗器用セラミック基板1の製
造方法は以下の通りである。
【0022】まず、図2に示すようにAl2 3 含有率
96%で焼成後の厚みが0.4mmとなるセラミックグ
リーンシート10を100×150mmの大きさに切断
した。次にカッター刃を用いた押し切り方式にて、グリ
ーンシート10を焼成後の寸法が1.6×0.8mmと
なるように押し切りライン11にそって切断した。この
ときグリーンシート10の周囲約20mmは切断耳とし
て残し、その内側の部分を切断した。
【0023】これにより、1枚のグリーンシート10を
約5000個に分割し、図3に示すようなセラミックグ
リーンシートの切断片12を得た。この切断片12を焼
成用治具にのせ、連続トンネル炉を用いて約1600℃
の酸化雰囲気中にて焼成した。
【0024】次に、得られた焼結体にバレル研磨を行
い、各稜部、各角部に曲面加工を行った。バレル研磨条
件としては、内寸法が直径25cm×30cmの円筒型
ポットの中に焼結体とと直径5mmのアルミナボールと
水をそれぞれ1:10:10の体積比で投入し、ポット
内の空間率を50%とした。このポットを毎分15回転
のスピードで120時間回転させバレル研磨を行った後
に流水中で洗浄し乾燥した。
【0025】その結果、図1に示すように全ての稜部1
a、角部1bにバリ等の突起がなく曲率半径0.08〜
0.12mmの曲面を持ったセラミック基板1が得られ
た。そして、このセラミック基板1に対し、図4に示す
ように電極2、抵抗体3、メッキ層4、ガラス層5を形
成すればチップ固定抵抗器となる。
【0026】なお、上記実施例では焼成後にバレル研磨
したが、成形体の状態でバレル研磨を施した後で焼成を
行うこともできる。さらに、成形体を上記焼成温度より
も低い温度で仮焼し、得られた仮焼体をバレル研磨した
後で焼成を行ってもよい。
【0027】また、上記実施例ではチップ抵抗器用のセ
ラミック基板について述べたが、この他にチップコンデ
ンサやチップインダクタ等の各種チップ状電子部品用セ
ラミック基板に本発明を適用できる。
【0028】実験例1 次に、上記の本発明実施例のセラミック基板1を用いた
チップ抵抗器と、比較例として従来の製造方法で作製し
た同サイズのチップ抵抗器について、稜部、角部の曲率
半径とバリの高さの比較を行った。
【0029】結果を表1に示すように、比較例では分割
面のために曲面が形成されていないのに対し、本発明実
施例では全周に曲率半径が0.08〜0.12mmの曲
面が存在していた。また比較例ではバリが0.001〜
0.051mmの高さであるのに対して、本発明実施例
ではバリは全く無かった。
【0030】
【表1】
【0031】実験例2 次に本発明実施例のセラミック基板1を用いたチップ抵
抗器と、比較例として従来の製造方法で作製した同サイ
ズのチップ抵抗器について、欠け易さの比較をするため
の振動テストを行った。それぞれのチップ抵抗器を2
5,000個ずつ別々のバルクケースに入れ、振動モー
ターにより振幅1mm、周波数60Hzの振動を1時間
与えた。その後、双眼顕微鏡を用いて倍率200倍にて
0.02×0.02mm以上の欠けの発生した製品個数
を調べた。
【0032】結果を表2に示すように、比較例では欠け
発生率が2560ppmであったのに対し、本発明実施
例では欠け発生率が2ppmと極めて小さいことがわか
る。
【0033】
【表2】
【0034】次に、本発明実施例と比較例のチップ抵抗
器をそれぞれ25,000個づつ用意し、同一の実装機
にてバルク供給方式にて、同一条件で実装テストを行
い、その時の実装機の停止回数と実装し終わるまでの時
間を測定した。
【0035】結果を表3に示す。比較例では途中でチッ
プ抵抗器が詰まって38回停止し、実装し終わるまでに
162分かかったのに対し、本発明実施例では1回しか
停止ぜず、97分で実装を終えた。したがって、本発明
のセラミック基板を用いれば実装機の稼働率を向上でき
ることがわかる。
【0036】
【表3】
【0037】実験例3 次に、本発明実施例のセラミック基板1において、バレ
ル研磨時間のみ変化させて、稜部1aの曲率半径が0.
02mm、0.05mm、0.10mm、0.15m
m、0.20mmの5種類のサンプルを各25,000
個作成し、前述の振動テストを行い、欠けの発生率を調
査した。
【0038】結果を図5に示すように、曲率半径を0.
02mm以上とすれば欠け発生率を1000ppm以下
とでき、特に0.05mm以上とすれば欠け発生率をほ
とんど0とできることがわかる。
【0039】最後に、本発明実施例のセラミック基板1
を用いたチップ抵抗器を図7のように縦方向に実装して
みたところ、バリなどの突起がないため問題なく実装で
きた。
【0040】
【発明の効果】このように本発明によれば、チップ状電
子部品用セラミック基板の全ての稜部及び角部に曲率半
径0.02〜0.2mmの曲面を備えたことによって、
バルクケースを用いた供給であっても欠けの発生が極め
て少ないことから、電極強度を向上し、セラミック粉等
による実装不良を改善できるため実装品質を向上できる
とともに、バルク供給時の実装機の稼働率を上げられ
る。また、縦方向の実装が可能であるため、実装効率を
向上できる。
【0041】さらに本発明のチップ状電子部品用セラミ
ック基板は、セラミックグリーンシートをチップ状電子
部品の単体サイズに切断した後、焼成前もしくは焼成後
にバレル研磨を行うことによって、極めて容易に製造す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のチップ状電子部品用セラミック基板を
示す斜視図である。
【図2】本発明のチップ状電子部品用セラミック基板の
製造方法を説明するためのセラミックグリーンシートの
斜視図である。
【図3】本発明のチップ状電子部品用セラミック基板の
製造方法を説明するためのセラミックグリーンシートの
切断片を示す斜視図である。
【図4】本発明のセラミック基板を用いたチップ抵抗器
の斜視図である。
【図5】本発明のセラミック基板における稜部の曲率半
径と欠け発生率の関係を示すグラフである。
【図6】従来のチップ抵抗器の製造工程を示す図であ
る。
【図7】チップ抵抗器の実装状態を示す図である。
【符合の説明】
1 :セラミック基板 1a:稜部 1b:角部 10 :セラミックグリーンシート 11 :押し切りライン 12 :切断片
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 各務 有一 京都府京都市山科区東野北井ノ上町5番地 の22 京セラ株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】全ての稜部及び角部に曲率半径0.02〜
    0.2mmの曲面を有することを特徴とするチップ状電
    子部品用セラミック基板。
  2. 【請求項2】セラミックグリーンシートをチップ状電子
    部品の単体サイズに切断した後、成形体の状態、仮焼
    後、または焼成後のいずれかの段階でバレル研磨を行う
    ことを特徴とするチップ状電子部品用セラミック基板の
    製造方法。
JP1481395A 1995-01-31 1995-01-31 チップ状電子部品用セラミック基板及びその製造方法 Pending JPH08213719A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005026365A (ja) * 2003-06-30 2005-01-27 Tdk Corp ドラムコア
JP2011223025A (ja) * 2011-07-04 2011-11-04 Kyocera Corp セラミックコアおよびその製造方法、ならびにこれを用いたチップ状電子部品
JP2015170845A (ja) * 2014-03-10 2015-09-28 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. チップ型コイル部品及びその実装基板
JP2018117004A (ja) * 2017-01-17 2018-07-26 株式会社トーキン 磁心、インダクタ、およびその製造方法

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