JPH08212969A - 質量分析計データ処理装置 - Google Patents
質量分析計データ処理装置Info
- Publication number
- JPH08212969A JPH08212969A JP7020113A JP2011395A JPH08212969A JP H08212969 A JPH08212969 A JP H08212969A JP 7020113 A JP7020113 A JP 7020113A JP 2011395 A JP2011395 A JP 2011395A JP H08212969 A JPH08212969 A JP H08212969A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass spectrum
- mass
- peak
- mass spectrometer
- correction value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0036—Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】質量分析計から取得したマススペクトルを補正
する際に、各ピークの質量と補正値との誤差をグラフ化
し、マススペクトルのバーグラフと同一画面内に表示
し、一目で各ピークのずれの傾向を把握し、ノイズやず
れの大きいマススペクトルでも容易に補正するピークを
判断できるようにする。 【構成】質量分析計1より収集されたマススペクトル
は、記憶手段2に記憶される。取得されたマススペクト
ルのピークに対する補正値は入力手段3より入力され、
記憶手段2に記憶される。記憶されたマススペクトルと
補正値は制御手段4によって計算され、マススペクトル
のバーグラフと誤差のグラフが表示手段5に表示され
る。
する際に、各ピークの質量と補正値との誤差をグラフ化
し、マススペクトルのバーグラフと同一画面内に表示
し、一目で各ピークのずれの傾向を把握し、ノイズやず
れの大きいマススペクトルでも容易に補正するピークを
判断できるようにする。 【構成】質量分析計1より収集されたマススペクトル
は、記憶手段2に記憶される。取得されたマススペクト
ルのピークに対する補正値は入力手段3より入力され、
記憶手段2に記憶される。記憶されたマススペクトルと
補正値は制御手段4によって計算され、マススペクトル
のバーグラフと誤差のグラフが表示手段5に表示され
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は質量分析計データ処理装
置に係り、特に、取得したマススペクトルの各ピークの
値と補正値との誤差を表示する装置に関する。
置に係り、特に、取得したマススペクトルの各ピークの
値と補正値との誤差を表示する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の技術では、マススペクトルを補正
する際に、マススペクトルのバーグラフのピーク上に示
されたピークの質量数と理論値を比較し、補正が必要な
ピークを見つけだして補正値を入力し、その結果を補正
前,後の値の一覧リストに数値表示していた。取得した
マススペクトルのノイズが大きい場合や実際に測定され
たピークの質量と理論値との誤差が大きい場合に補正す
るピークがどれであるかを判断するには、他のピークで
の補正量から判断する必要があり、リストからではスペ
クトル全体の誤差の傾向が捕まえにくく困難であった。
自動補正した場合でも、正しくピークの質量を補正して
いるかどうかは、補正前,後の質量をリストをサーチし
て全ての補正ピークに対して確認する必要があった。ま
た、どのピークの質量を補正したかは、リストをサーチ
して値を確認しなければならないという問題点があっ
た。
する際に、マススペクトルのバーグラフのピーク上に示
されたピークの質量数と理論値を比較し、補正が必要な
ピークを見つけだして補正値を入力し、その結果を補正
前,後の値の一覧リストに数値表示していた。取得した
マススペクトルのノイズが大きい場合や実際に測定され
たピークの質量と理論値との誤差が大きい場合に補正す
るピークがどれであるかを判断するには、他のピークで
の補正量から判断する必要があり、リストからではスペ
クトル全体の誤差の傾向が捕まえにくく困難であった。
自動補正した場合でも、正しくピークの質量を補正して
いるかどうかは、補正前,後の質量をリストをサーチし
て全ての補正ピークに対して確認する必要があった。ま
た、どのピークの質量を補正したかは、リストをサーチ
して値を確認しなければならないという問題点があっ
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】一般にマススペクトル
の質量のずれは一様になっているため補正値を決定する
には他のピークの質量の補正量を相対的に判断する必要
がある。
の質量のずれは一様になっているため補正値を決定する
には他のピークの質量の補正量を相対的に判断する必要
がある。
【0004】本発明の目的は、取得したデータと補正値
との誤差をグラフ化しマススペクトルのバーグラフと同
一画面上で表示することによって質量のずれの傾向が分
り、補正するピークが正しく選択されているかどうかを
一目で判断できる手段を提供することにある。
との誤差をグラフ化しマススペクトルのバーグラフと同
一画面上で表示することによって質量のずれの傾向が分
り、補正するピークが正しく選択されているかどうかを
一目で判断できる手段を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の構成を図1に示
す。質量分析計1より収集されたマススペクトルは、記
憶手段2に記憶される。取得されたマススペクトルのピ
ークに対する補正値は入力手段3より入力され、記憶手
段2に記憶される。記憶されたマススペクトルと補正値
は制御手段4によって計算され、取得したマススペクト
ルのバーグラフと誤差のグラフが表示手段5に表示され
る。
す。質量分析計1より収集されたマススペクトルは、記
憶手段2に記憶される。取得されたマススペクトルのピ
ークに対する補正値は入力手段3より入力され、記憶手
段2に記憶される。記憶されたマススペクトルと補正値
は制御手段4によって計算され、取得したマススペクト
ルのバーグラフと誤差のグラフが表示手段5に表示され
る。
【0006】
【作用】取得したマススペクトルデータの補正値とのず
れをグラフで表示するため、ずれの全体的な傾向がつか
みやすく一目で補正するピークを正しく判断することが
できる。また、補正したマススペクトルのピークを色分
けして表示することにより、補正したピークを明確にす
ることができる。
れをグラフで表示するため、ずれの全体的な傾向がつか
みやすく一目で補正するピークを正しく判断することが
できる。また、補正したマススペクトルのピークを色分
けして表示することにより、補正したピークを明確にす
ることができる。
【0007】
【実施例】図2に本発明の実施例1を示す。質量分析計
から取得したマススペクトルをバーグラフとして表示
し、その下に誤差のグラフを横軸に質量数を縦軸に誤差
をとり、折れ線グラフとして表示する。その下に質量数
を補正した結果のマススペクトルを表示している。質量
数68.9のピークでは誤差1.9AMUであり、質量数
99.9のピークでは誤差2.8AMUと、質量数11
5.6では誤差3.3AMUと、一方向にずれている。この
ため、傾きが変わった質量数168.9 のピークの質量
を間違って補正したことが一目で解る。
から取得したマススペクトルをバーグラフとして表示
し、その下に誤差のグラフを横軸に質量数を縦軸に誤差
をとり、折れ線グラフとして表示する。その下に質量数
を補正した結果のマススペクトルを表示している。質量
数68.9のピークでは誤差1.9AMUであり、質量数
99.9のピークでは誤差2.8AMUと、質量数11
5.6では誤差3.3AMUと、一方向にずれている。この
ため、傾きが変わった質量数168.9 のピークの質量
を間違って補正したことが一目で解る。
【0008】図3に本発明の実施例2を示す。測定した
マススペクトルを最上段に表示している。その下に、あ
らかじめ設定されたサーチ範囲で計算し自動補正した結
果の誤差を、横軸に質量を、縦軸に誤差値をとり表示す
る。誤差が大きくなっている質量数151のピークが誤
って選択されていることを視覚的に認識することができ
る。この点を修正するだけで容易に補正を行うことがで
きる。また、補正されたピークを色を変えて表示するこ
とで質量が補正されたピークが一目で解り、修正が容易
となる。
マススペクトルを最上段に表示している。その下に、あ
らかじめ設定されたサーチ範囲で計算し自動補正した結
果の誤差を、横軸に質量を、縦軸に誤差値をとり表示す
る。誤差が大きくなっている質量数151のピークが誤
って選択されていることを視覚的に認識することができ
る。この点を修正するだけで容易に補正を行うことがで
きる。また、補正されたピークを色を変えて表示するこ
とで質量が補正されたピークが一目で解り、修正が容易
となる。
【0009】
【発明の効果】本発明によれば、一目でマススペクトル
の各ピークのずれの傾向を把握することができ、ノイズ
やずれの大きいマススペクトルでも容易にピークの質量
を補正することができる。また、補正値を入力したピー
クの色を変えることで補正したピークを明確にすること
ができる。
の各ピークのずれの傾向を把握することができ、ノイズ
やずれの大きいマススペクトルでも容易にピークの質量
を補正することができる。また、補正値を入力したピー
クの色を変えることで補正したピークを明確にすること
ができる。
【図1】本発明の一実施例のブロック図。
【図2】本発明の実施例1の説明図。
【図3】本発明の実施例2の説明図。
1…質量分析計、2…記憶手段、3…入力手段、4…制
御手段、5…表示手段。
御手段、5…表示手段。
Claims (2)
- 【請求項1】質量分析計から取得したマススペクトルを
記憶する手段と,スペクトルの各ピークに対応する補正
値を入力し記憶する手段と,取得したマススペクトルと
補正値との誤差をグラフ化し、マススペクトルのバーグ
ラフと同一画面内に表示する手段を有することを特徴と
する質量分析計データ処理装置。 - 【請求項2】請求項1において、補正値を入力したマス
スペクトルのピークと,入力していないピークとを色分
けして、前記表示手段に表示するように構成されている
質量分析計データ処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7020113A JPH08212969A (ja) | 1995-02-08 | 1995-02-08 | 質量分析計データ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7020113A JPH08212969A (ja) | 1995-02-08 | 1995-02-08 | 質量分析計データ処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08212969A true JPH08212969A (ja) | 1996-08-20 |
Family
ID=12018074
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7020113A Pending JPH08212969A (ja) | 1995-02-08 | 1995-02-08 | 質量分析計データ処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08212969A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004317509A (ja) * | 2003-04-10 | 2004-11-11 | Micromass Uk Ltd | 質量分析計 |
JP2007333535A (ja) * | 2006-06-14 | 2007-12-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | ピーク位置変動量測定装置、その測定方法及びプログラム |
JP2014059964A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析システム及び方法 |
-
1995
- 1995-02-08 JP JP7020113A patent/JPH08212969A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004317509A (ja) * | 2003-04-10 | 2004-11-11 | Micromass Uk Ltd | 質量分析計 |
JP4497455B2 (ja) * | 2003-04-10 | 2010-07-07 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2007333535A (ja) * | 2006-06-14 | 2007-12-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | ピーク位置変動量測定装置、その測定方法及びプログラム |
JP4663590B2 (ja) * | 2006-06-14 | 2011-04-06 | 日本電信電話株式会社 | ピーク位置変動量測定装置、その測定方法及びプログラム |
JP2014059964A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析システム及び方法 |
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