JP2014059964A - 質量分析システム及び方法 - Google Patents
質量分析システム及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014059964A JP2014059964A JP2012202786A JP2012202786A JP2014059964A JP 2014059964 A JP2014059964 A JP 2014059964A JP 2012202786 A JP2012202786 A JP 2012202786A JP 2012202786 A JP2012202786 A JP 2012202786A JP 2014059964 A JP2014059964 A JP 2014059964A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass
- reliability
- correction
- mass spectrometry
- spectrometry system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0036—Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/4265—Controlling the number of trapped ions; preventing space charge effects
Abstract
【解決手段】質量分析システムに、質量スペクトルに基づいて空間電荷効果を補正し、補正後スペクトルとして出力する空間電荷効果補正部202と、質量スペクトルに基づいて、補正をした場合の信頼度を算出する補正信頼度算出部203とを設ける。
【選択図】図2
Description
本実施例では、測定方法及び質量スペクトルの解釈方法を、イオン量に応じて最適化できる質量分析システムについて説明する。
図1に、本実施例に係る質量分析システム100のハードウェア構成を示す。本実施例に係る質量分析システム100は、中央演算装置101、ユーザインタフェース部102、記憶媒体103、揮発性メモリ104、質量分析部110で構成される。因みに、中央演算装置101、ユーザインタフェース部102、記憶媒体103、揮発性メモリ104は、いわゆるコンピュータを構成する。
図2に、本実施例に係る質量分析システム100の機能ブロック構成を示す。図中、質量分析部110を除く機能ブロックの一部又は全部は、中央演算装置101で実行されるプログラムを通じて実現される。
図4に、本実施例に係る質量分析システム100で実行される質量分析処理を示す。まず、質量分析システム100は、操作入力部205を介して入力されるオペレータの起動操作に基づいて動作を開始し、測定制御部201が起動処理を実行する(ステップS401)。ここで、測定制御部201による起動処理の後、質量分析システム100は測定開始操作を受け付ける待機状態になる。
図5〜図9に、本実施例で使用するユーザインタフェース画面の一例を示す。ユーザインタフェース画面は、ユーザインタフェース部102に表示される。ユーザインタフェース画面は、操作入力部205に対応する起動及び測定開始ボタンの表示領域と、質量スペクトル、補正信頼度、質量スペクトルのピーク位置、補正後スペクトルのピーク位置を表示する表示領域とを有する。ここで、ピーク位置は、結果出力部204が算出し描画する。ピーク位置の算出には、例えば公知のセントロイド処理を使用する。また、後述するように、表示領域には、質量スペクトルに代えて補正後スペクトルを表示しても良いし、質量スペクトルと補正後スペクトルの両方を表示しても良い。
以下、図12〜図23に基づいて、図4で説明した質量分析処理を構成する各処理動作の具体例を説明する。
以上の通り、本実施例に係る質量分析システム100を用いれば、空間電荷効果の補正結果の信頼度を計算し、補正信頼度としてオペレータに提示することができる(図5〜図9)。また、補正信頼度を質量スペクトルの情報及び/又は補正後スペクトルの情報と共にユーザインタフェース画面に表示すれば、オペレータは、表示された質量スペクトルを正確に解釈することができる。
本実施例では、実施例1に比して、一段と高精度に補正信頼度を計算することができる質量分析システムについて説明する。なお、本実施例に係る質量分析システムの基本的なハードウェア構成及び機能構成は実施例1と同じである。以下では、実施例1と相違する部分、すなわち補正信頼度算出処理(ステップS406)についてのみ説明する。
本実施例では、実施例1に比して、頑健かつ低処理量で補正信頼度を計算することができる質量分析システムについて説明する。なお、本実施例に係る質量分析システムの基本的なハードウェア構成及び機能構成は実施例1と同じである。以下では、実施例1と相違する部分、すなわち補正信頼度算出処理(ステップS406)についてのみ説明する。
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば上述した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
101…中央演算装置
102…ユーザインタフェース部
103…記憶媒体
104…揮発性メモリ
110…質量分析部
111…試料導入部
112…イオン化部
113…イオン輸送部
114…イオントラップ
115…検出器
116…高周波電源
117…真空ポンプ
118…真空ポンプ
119…真空ポンプ
201…測定制御部
202…空間電荷効果補正部
203…補正信頼度算出部
204…結果出力部
205…操作入力部
Claims (15)
- 試料を測定して質量スペクトルを出力する質量分析部と、
前記質量スペクトルに基づいて空間電荷効果を補正し、補正後スペクトルとして出力する空間電荷効果補正部と、
前記質量スペクトルに基づいて、前記補正をした場合の信頼度を算出する補正信頼度算出部と、
を有する質量分析システム。 - 請求項1記載の質量分析システムにおいて、
算出された信頼度を画面に出力する出力部をさらに有し、
前記出力部は、前記補正後スペクトルを前記信頼度と共に画面に表示する
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項1に記載の質量分析システムにおいて、
前記出力部は、前記信頼度が所定の判定条件を満たすとき、前記質量スペクトルの補正が不可能であることを画面に表示する
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項1に記載の質量分析システムにおいて、
前記出力部は、前記信頼度と所定の判定閾値との比較結果に基づいて、前記質量スペクトルの空間電荷効果を補正した補正後スペクトル又は前記質量スペクトルの提示の有無を変更する
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項1に記載の質量分析システムにおいて、
前記出力部は、前記信頼度が所定の判定条件を満たすとき、測定シーケンスの変更、測定停止又は測定開始の入力を受け付ける受付画面を表示する
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項1に記載の質量分析システムにおいて、
前記出力部は、前記信頼度の判定閾値の設定を受け付ける受付画面を表示
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項1に記載の質量分析システムにおいて、
前記信頼度に基づいて決定した測定シーケンス又は測定停止命令を前記質量分析部に出力する測定制御部を有する
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項1に記載の質量分析システムにおいて、
前記補正信頼度算出部は、前記質量スペクトルのピーク形状に基づいて前記信頼度を算出する
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項8に記載の質量分析システムにおいて、
前記補正信頼度算出部は、前記質量スペクトルの1個以上のピーク幅に基づいて前記信頼度を算出する
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項1に記載の質量分析システムにおいて、
前記補正信頼度算出部は、前記質量スペクトルの1個以上のピークに対して高質量側の強度積算値とピーク位置の相関に基づいて前記信頼度を算出する
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項1に記載の質量分析システムにおいて、
前記補正信頼度算出部は、前記質量スペクトルの強度積算値に基づいて前記信頼度を算出する
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項8又は10に記載の質量分析システムにおいて、
前記補正信頼度算出部は、予め登録された質量対電荷比の範囲のピークを選択する
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項8又は10に記載の質量分析システムにおいて、
前記補正信頼度算出部は、強度に基づいてピークを選択する
ことを特徴とする質量分析システム。 - 請求項1に記載の質量分析システムにおいて、
前記質量スペクトルの空間電荷効果を補正した補正後スペクトル又は前記質量スペクトルと補正信頼度とを組としてデータベースに格納する
ことを特徴とする質量分析システム。 - 質量分析部が測定した試料の質量スペクトルを出力する処理と、
補正信頼度算出部が、前記質量スペクトルに基づいて、空間電荷効果の補正結果の信頼度を算出する処理と、
出力部が、算出された信頼度を画面に表示する処理と
を有する質量分析方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012202786A JP5993259B2 (ja) | 2012-09-14 | 2012-09-14 | 質量分析システム |
PCT/JP2013/068837 WO2014041886A1 (ja) | 2012-09-14 | 2013-07-10 | 質量分析システム及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012202786A JP5993259B2 (ja) | 2012-09-14 | 2012-09-14 | 質量分析システム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014059964A true JP2014059964A (ja) | 2014-04-03 |
JP2014059964A5 JP2014059964A5 (ja) | 2015-03-19 |
JP5993259B2 JP5993259B2 (ja) | 2016-09-14 |
Family
ID=50278017
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012202786A Active JP5993259B2 (ja) | 2012-09-14 | 2012-09-14 | 質量分析システム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5993259B2 (ja) |
WO (1) | WO2014041886A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10720318B2 (en) | 2018-03-19 | 2020-07-21 | Jeol Ltd. | Mass analysis apparatus and mass analysis method |
JPWO2019150576A1 (ja) * | 2018-02-05 | 2021-01-07 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置及び質量分析装置における質量較正方法 |
JP7380501B2 (ja) | 2020-09-30 | 2023-11-15 | 株式会社島津製作所 | 分子構造解析システム及び分子構造解析方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0381660A (ja) * | 1989-08-24 | 1991-04-08 | Shimadzu Corp | 質量分析計を用いた選択イオン検出方法 |
JPH08212969A (ja) * | 1995-02-08 | 1996-08-20 | Hitachi Ltd | 質量分析計データ処理装置 |
JPH1183803A (ja) * | 1997-09-01 | 1999-03-26 | Hitachi Ltd | マスマーカーの補正方法 |
US20040245461A1 (en) * | 2003-06-04 | 2004-12-09 | Senko Michael W. | Space charge adjustment of activation frequency |
JP2005251594A (ja) * | 2004-03-05 | 2005-09-15 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ/飛行時間型質量分析計 |
JP2006339087A (ja) * | 2005-06-06 | 2006-12-14 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2010529457A (ja) * | 2007-06-02 | 2010-08-26 | セルノ・バイオサイエンス・エルエルシー | 質量分析のための自己較正アプローチ |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4985153B2 (ja) * | 2007-07-03 | 2012-07-25 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ質量分析装置 |
-
2012
- 2012-09-14 JP JP2012202786A patent/JP5993259B2/ja active Active
-
2013
- 2013-07-10 WO PCT/JP2013/068837 patent/WO2014041886A1/ja active Application Filing
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0381660A (ja) * | 1989-08-24 | 1991-04-08 | Shimadzu Corp | 質量分析計を用いた選択イオン検出方法 |
JPH08212969A (ja) * | 1995-02-08 | 1996-08-20 | Hitachi Ltd | 質量分析計データ処理装置 |
JPH1183803A (ja) * | 1997-09-01 | 1999-03-26 | Hitachi Ltd | マスマーカーの補正方法 |
US20040245461A1 (en) * | 2003-06-04 | 2004-12-09 | Senko Michael W. | Space charge adjustment of activation frequency |
JP2005251594A (ja) * | 2004-03-05 | 2005-09-15 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ/飛行時間型質量分析計 |
JP2006339087A (ja) * | 2005-06-06 | 2006-12-14 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2010529457A (ja) * | 2007-06-02 | 2010-08-26 | セルノ・バイオサイエンス・エルエルシー | 質量分析のための自己較正アプローチ |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2019150576A1 (ja) * | 2018-02-05 | 2021-01-07 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置及び質量分析装置における質量較正方法 |
JP7063342B2 (ja) | 2018-02-05 | 2022-05-09 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置及び質量分析装置における質量較正方法 |
US11798795B2 (en) | 2018-02-05 | 2023-10-24 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer and mass calibration method in mass spectrometer |
US10720318B2 (en) | 2018-03-19 | 2020-07-21 | Jeol Ltd. | Mass analysis apparatus and mass analysis method |
JP7380501B2 (ja) | 2020-09-30 | 2023-11-15 | 株式会社島津製作所 | 分子構造解析システム及び分子構造解析方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5993259B2 (ja) | 2016-09-14 |
WO2014041886A1 (ja) | 2014-03-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8428889B2 (en) | Methods of automated spectral peak detection and quantification having learning mode | |
US7983852B2 (en) | Methods of automated spectral peak detection and quantification without user input | |
JP4973628B2 (ja) | クロマトグラフ質量分析データ解析方法及び装置 | |
CN109308989B (zh) | 针对校准物中不存在的离子调谐多极杆rf振幅 | |
US7985948B2 (en) | Systems and methods for analyzing substances using a mass spectrometer | |
JP6176334B2 (ja) | 質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析データ処理プログラム | |
US9482642B2 (en) | Fast method for measuring collision cross section of ions utilizing ion mobility spectrometry | |
EP2837933B1 (en) | Mass analysis device | |
US9934946B2 (en) | Plasma processing apparatus and operating method of plasma processing apparatus | |
EP2438436B1 (en) | Methods of automated spectral peak detection and quantification without user input | |
JP6813033B2 (ja) | 分析データ解析方法および分析データ解析装置 | |
CN103282997B (zh) | 用于触发用于数据获取的相关频谱的方法 | |
US20210172800A1 (en) | Systems and Methods for Analyzing Unknown Sample Compositions Using a Prediction Model Based On Optical Emission Spectra | |
JP5993259B2 (ja) | 質量分析システム | |
JP6737396B2 (ja) | 質量分析装置及びクロマトグラフ質量分析装置 | |
US8026479B2 (en) | Systems and methods for analyzing substances using a mass spectrometer | |
EP3584795A2 (en) | 3d mass spectrometry predictive classification | |
CN107209151B (zh) | 干扰检测及所关注峰值解卷积 | |
JP5947567B2 (ja) | 質量分析システム | |
CN107210181B (zh) | 在触发碎裂能量的同时迅速扫描宽四极rf窗 | |
EP2483641B1 (en) | Systems and methods for maintaining the precision of mass measurement | |
JP2005221276A (ja) | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 | |
CN109964300B (zh) | 用于实时同位素识别的系统和方法 | |
WO2021064924A1 (ja) | 波形解析方法及び波形解析装置 | |
JPWO2020110864A1 (ja) | 分析方法およびプログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150202 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150202 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160209 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160310 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160802 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160819 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5993259 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |