JPH0381660A - 質量分析計を用いた選択イオン検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、特定の質量数（ｍ／　ｚ）をもつイオンのみ
を選択してマスフラグメントグラムを得る選択イオン検
出（Ｓ　Ｉ　Ｍ）方法に係り、特には、選択するターゲ
ットイオンのピーク位置の決定方法に関する。

〈従来の技術〉 従来より、質量分析計を用いてターゲットイオンの定量
分析等を行う手法として選択イオン検出方法（Ｓ　ｅｌ
ｅｃｔｅｄ　Ｉ　ｏｎ　Ｍｏｎｉｔｏｒｉｎｇ）がある
。この方法は、試料に特有なターゲットイオン（分子イ
オンやフラグメントイオン）を予め選定しておき、質量
分析計の加速電圧をターゲットイオンの特有の質量数（
ｍ／　Ｚ）に対応する値に設定してターゲットイオンの
経時的な強度変化を測定することによりマスフラグ−メ
ントゲラム（Ｍ　Ｐ　）を得るものである。この選択イ
オン検出方法は、イオン種を限定して検出するので、共
存する妨害成分の影響を受は難く、検出感度が非常に高
いという利点を有する。

この選択イオン検出では、質量分析計の加速電圧をター
ゲットイオンを検出できる値に精度良く設定する必要が
あるが、ターゲットイオンを高感度に検出できる加速電
圧は、ドリフト等の影響によりターゲットイオンの既知
の質量数から導かれる加速電圧の値から若干ずれること
がある。このため、従来では、第３図に示すように、質
量数が既知のＰＦＫ（パーフルオロケロセン）等Ｑ標準
試料について、測定対象となるターゲットイオンを挟む
ある限られた質量数の範囲を質量走査してピークｐ１、
ｐ、の位置を決定し、採取した各ピークｐ１、ｐ、の位
置からターゲットイオンの質量数に対応する加速電圧の
値を算出するようにしている。

〈発明が解決しようとする課題〉 ところで、従来技術では、このような選択イオン検出方
法をガスクロマトグラフ質量分析計（ＧＣ／ＭＳ）に適
用する場合、ガスクロマトグラムを通ったガスのイオン
化は比較的安定して行うことができるために、質量走査
により得られるマススペクトルのピーク位置も比較的安
定している。

したがって、従来は、質量数の校正のための標準試料に
ついての質量走査は、選択イオン検出に先立って一度だ
け行い、そのデータから標準試料のピーク位置を決定し
ていた。すなわち、第４図に示すように、標準試料につ
いて、測定対象となるターゲットイオンを挟むある限ら
れた質量数の範囲を一度だけ質量走査し、これにより得
られた一回限りのデータでもって各ピークｐＩＳｐ、の
位置を決定していた。

ところが、近年は、液体クロマトグラフ質量分析計を適
用して選択イオン検出を行う機会も増えてきている。こ
の液体クロマトグラフを通った液体試料をイオン化する
場合には、液体試料を加熱して気化させる関係上、イオ
ン化が一時的に不安定となることが、あり、そのため、
質量走査により得られるマス−“スペクトルに含まれる
ノイズ成分が多くなる。したがって、従来のように質量
数の校正のための標準試料についての質量走査を選択イ
オン検出に先立って一度だけ行っていたのでは標準試料
のピーク位置を正確に決定できないという不具合があっ
た。

く課題を解決するための手段〉 本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、選択イオン検出に先立って行うターゲットイオンの
ピーク位置の校正を従来よりも一層正確に行えるように
するものである。

そのため、質量数が既知の標準試料について、測定対象
となるターゲットイオンを挟む所定の質量数の範囲を質
量走査してピーク位置を決定し、採取した各ピーク位置
からターゲットイオンの質量数に対応する加速電圧の値
を算出し、この算出した加速電圧の値に選択的に切り換
えて各ターゲットイオンのマスフラグメントグラムを得
る質量分析計を用いた選択イオン検出方法において、本
発明では、標準試料についての質量走査を複数回にわた
って行い、これにより得られる各マススペクトルのサン
プリングデータをそれぞれ積算あるいは平均をとって標
準試料のピーク位置を決定するようにしている。

く作用〉 上記の方法によれば、標準試料について質量走査して得
られるマススペクトルの所定のピーク位置が従来よりも
一層正確に決定できるので、選択イオン検出を行うに先
だって、ターゲットイオンのピーク位置を正確に校正す
ることができる。

〈実施例〉 本発明の実施例の選択イオン検出法を適用するに際して
選択するターゲットイオンのピーク位置を決定する手順
を、第１図に示すフローチャートを参照して説明する。

予め、ＰＦＫ等の標準試料を準備し、この標準試料につ
いて、測定対象となるターゲットイオンを挟む所定の質
量数の範囲について質量走査を行なう。この質量走査は
、従来のように一回限り行なうのでなく複数回にわたっ
て繰り返して行う。

その際、各質量走査のたびに得られる各スペクトルの強
度データをそれぞれのサンプリング点ごとに積算する（
たとえば、第２図に示す例では、第１回目の質量走査で
得られた実線で示す強度データに、第２回目の質量走査
で得られた破線で示す強度データを積算している）。こ
れにより積算後の一つのスペクトルが得られるので、こ
のスペクトルの各ピークトップの位置を決定する。ある
いは、各ピークの重心計算を行ってその重心位置を決定
する。このピーク位置の決定は、複数回の質量走査によ
り得られたものであるから一度の質量走査で決定するよ
りも精度が良い。

こうして、標準試料のピーク位置（ｍ／ｚ）が決定でき
れば、このピーク位置に対応する加速電圧を算出する。

そして、算出した各加速電圧の値に時分割で切り換えて
各ターゲットイオンのマスフラグメントグラムを得る。

なお、標準試料のターゲットイオンのピーク位置の決定
は、上記の実施例の他に、各質量走査の際に得られる各
スペクトルの強度データをそれぞれのサンプリング点ご
とに平均値をとって平均化した一つのスペクトルを得、
このスペクトルからピークトップの位置を決定してもよ
い。

〈発明の効果〉 本発明によれば、標準試料についての質量走査を複数回
にわたって行い、これにより得られる各サンプリングデ
ータをそれぞれ積算あるいは平均をとってターゲットイ
オンのピーク位置を決定するので、ターゲットイオンの
のピーク位置が従来よりも一層正確に決定される。この
ため、選択イオン検出を行うにあたってのターゲットイ
オンの質量数に対応する加速電圧を正確に決定すること
ができる。その結果、液体クロマトグラフと質量分析計
とを組み合わせて試料成分の選択イオン検出を行う場合
にも、精度良い測定結果を得ることができるようになる
等の優れた効果が発揮される。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は本発明の実施例に係り、第１図は
選択イオン検出法を適用するのに際してターゲットイオ
ンのピーク位置を決定する手順を示すフローチャート、
第２図は標準試料の質量走査により得られたスペクトル
からピーク位置を決定する場合の説明図である。また、
第３図は標準試料をターゲットイオンを挟む範囲で質量
走査して得られるスペクトルの説明図、第４図は従来の
選択イオン検出法を適用するのに際してターゲットイオ
ンのピーク位置を決定する手順を示すフローチャートで
ある。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）質量数が既知の標準試料について、測定対象とな
   るターゲットイオンを挟む所定の質量数の範囲を質量走
   査してピーク位置を決定し、採取した各ピーク位置から
   ターゲットイオンの質量数に対応する加速電圧の値を算
   出し、この算出した加速電圧の値に選択的に切り換えて
   各ターゲットイオンのマスフラグメントグラムを得る質
   量分析計を用いた選択イオン検出方法において、 前記標準試料についての質量走査を複数回にわたって行
   い、これにより得られる各マススペクトルのサンプリン
   グデータをそれぞれ積算あるいは平均をとって標準試料
   のピーク位置を決定することを特徴とする質量分析計を
   用いた選択イオン検出方法。