JPS63111461A - ガスクロマトグラフイ質量分析方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明は、ガスクロマトグラフィ質重分析方法に係り、
特には、ガスクロマトグラフィ質量分析計で測定して得
られるマスクロマトグラムの保持時間の較正方法に関す
る。

（ロ）従来技術とその問題点 一般に、キャピラリーカラムをもつガスクロマトグラフ
は、ピークの分離度が良く、分析時間が短い等の優れた
性能をもつため広く使用されている。しかし、この種の
ガスクロマトグラフを用いても分離がなお不十分であっ
たり、未知化合物を含む試料では、各成分の同定が困難
になる。そのため、従来、ガスクロマトグラフと質量分
析計とを結合し、これによって、同定が確実にでき、し
かも、未知化合物の検出や構造解析もできるようにした
、いわゆるガスクロマトグラフィ質量分析計が提供され
ている。特に、その内でカラム・イオン源直結方式のも
のは、構造が簡単であり、しかも、試料の結合部での損
失が少ないなどの利点がある。しかし、その反面、イオ
ン源が減圧状態にあるため、カラム出口が負圧になり、
ガスクロマトグラフと同一条件で分析した場合でも、得
られるマスクロマトグラムの保持時間は、ガスクロマド
グラムの保持時間と一致しなくなる。このため、未知試
料の同定が十分にできない等の難点があった。

たとえば、未知試料が異性体Ａ４、Ａ１、Ａ３を含む場
合、質量分析計で測定されるマススペクトルのパターン
は互いに似かよったものとなる。したがって、マススペ
クトルを観察すれば未知試料には異性体Ａ、、Ａｔ、Ａ
、が含まれていることが分かるものの、マスクロマトグ
ラムの各保持時間は、上記の理由からガスクロマトグラ
ムの保持時間と一致しないために、マスクロマトグラム
だけからは各異性体Ａ８、Ａ１、Ａ、を相互に区別する
ことができない。一方、従来より、ガスクロマトグラフ
においては、ガスクロマトグラムの測定データが大量に
蓄積されており、しかも、ガスクロマトグラムでは異性
体Ａ１、Ａ２、Ａ、の場合でも互いに異なる保持時間が
得られるので、各保持時間が分かれば異性体Ａ４、Ａ２
、Ａ３を個別に同定することができる。それゆえに、測
定したマスクロマトグラムに基づいて各異性体ＡＩ、Ａ
２、Ａ。

を同定するには、その保持時間をガスクロマトグラムの
保持時間に補正し直し、両者を直接比較することによっ
て可能となる。

ところが、従来は、かかる点について十分に考慮されて
おらず、しかも、マスクロマトグラムの保持時間測定デ
ータがデータベースとして十分に整理されていなかった
こともあって、マスクロマトグラムの保持時間とガスク
ロマトグラムの保持時間とを直接比較するといったこと
は為されていなかった。

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、マスクロマトグラムの保持時間と、ガスクロマトグ
ラムの保持時間とを直接的に比較できるようにして、未
知試料の成分同定等を確実かつ容易に行なえるようにす
ることを目的とする。

（ハ）問題点を解決するための手段 本発明は、上記の目的を達成するために、ガスクロマト
グラフ単独で既知成分を含む試料についてガスクロマト
グラムを測定する一方、ガスクロマトグラフを同一分析
条件に設定して、このガスクロマトグラフで気相分離さ
れた各成分のマススペクトルを質量分析計で測定してマ
スクロマトグラムを作成し、得られた前記ガスクロマト
グラムとマスクロマトグラムの各成分についての保持時
間の値から両者の対応関係を示す校正曲線を求め、この
校正曲線に基づいて未知試料について得られるマスクロ
マトグラムの保持時間を補正するようにしている。

（ニ）実施例 第１図は、本発明方法を実施するために適用されるガス
クロマトグラフィ質量分析計の構成図である。同図にお
いて、符号ｌはガスクロマトグラフィ質量分析計の全体
を示し、２はガスクロマトグラフ、４は質量分析計で、
ガスクロマトグラフ２と質量分析計４とがインターフェ
イス６を介して結合されている。なお、イオン源直結方
式では、インターフェイス６を介せずに結合される。８
はガスクロマトグラフ２で気相分離された成分を検出す
るガス検出器、１０は質１分析計４で質１分離されてた
イオンを検出するイオン検出器、１２ハカス検出器６の
検出信号に基づいてガスクロマトグラムを測定するとと
もに、イオン検出器の検出信号に基づいてマススペクト
ルを測定してマスクロマトグラムを作成する計測演算部
、１４はＴＶモニタである。

上記構成のガスクロマトグラフィ質量分析計１を適用し
た本発明方法について説明する。

まず、ガスクロマトグラフ２に一定の保持時間間隔をも
つ既知成分の混合試料を導入し、ここで気相分離された
各成分をガス検出器８で検出して、計測演算部！２で第
２図（ａ）に示すようなガスクロマトグラムを測定する
。第２図（ａ）には、４つの成分Ａ、ＢＳＣ，Ｄをもつ
混合試料の例を示しており、この場合、測定されたガス
クロマトグラムの各ピークトップ位置が各成分ＡＳＢＳ
ＣＳＤの保持時間となる。

次に、同一成分の混合試料を上記と同一分析条件に設定
されたガスクロマトグラフ２に導入し、気相分離された
各成分をさらにインターフェイス６を介して質量分析計
４に導（。そして、質蚤分析計４で質量分離されたイオ
ンをイオン検出器ｌＯで検出して、計測演算部１２でマ
ススペクトルを測定する。そして、計測演算部１２によ
って、測定したマススペクトルのデータに基づいて、第
２図（ｂ）に示すようなマスクロマトグラムを作成する
。作成されたマスクロマトグラムの各ピークトップ位置
が各成分Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄの保持時間となる。

この場合、各成分Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄについて得られたガス
クロマトグラム（第２図（ａ））の保持時間と、マスク
ロマトグラム（同図（ｂ））の保持時間は、ガスクロマ
トグラム２のカラム出口の圧力状態の相異に起因して互
いに異なったものとなる。そこで、次に、上記の保持時
間のデータに基づいて、第３図に示すように、横軸をマ
スクロマトグラムから得られた保持時間、縦軸をガスク
ロマトグラムから得られた保持時間として、両者の対応
関係を示す校正曲線を求める。そして、この校正曲線を
、たとえば計測演算部１２内のメモリに記憶しておく。

上記の校正曲線か得られると、次に、未知試料について
マススペクトルを測定し、この測定結果から計測演算部
１２において第４図（ｂ）に示すようなガスクロマトグ
ラムを作成する。作成されたマスクロマトグラムの各ピ
ークトップ位置が各成分ｘ、ｙ、ｚ、ｗの保持時間とな
るが、このマスクロマトグラムの保持時間は、ガスクロ
マトグラフ２で測定した場合に得られるガスクロマトグ
ラムの保持時間（第４図（ａ））と一致しない。そこで
、予め求めておいた校正曲線（第３図）を用い、マスク
ロマトグラムの保持時間がガスクロマトグラムの保持時
間になるように補正する。この補正により、第５図に示
すように、各成分ｘＳｙＳｚ、ｗについて、ガスクロマ
トグラフ（同図（ａ））と同一の保持時間にマスクロマ
トグラム（同図（ｂ））のピークが出現するので、両者
のピークを直接比較することができる。したがって、未
知試料中にきよう雑物や異性体が含まれているような場
合でも、各成分を確実かつ容易に同定することができる
。

（ホ）効果 以上のように本発明によれば、校正曲線を予め求めてお
き、未知試料についてガスクロマトグラフィ質量分析計
で測定して得られたマスクロマトグラフの保持時間を校
正曲線に基づいてガスクロマトグラフで測定されたガス
クロマトグラムの保持時間１．：、補正するので、ガス
クロマトグラムのデータとマスクロマトグラムのデータ
とを直接比較できるようになる。したがって、未知試料
の成分同定等を確実かつ容易に行なえるようになる等の
優れた効果が発揮される。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明方法を実施するために適用されるガスク
ロマトグラフィ質量分析計の概略構成図、第２図は既知
成分試料について測定されたガスクロマトグラムとマス
クロマトグラムの測定例を示す説明図、第３図は第２図
に基づいて得られた校正曲線を示す特性図、第４図は未
知試料について測定されたガスクロマトグラムとマスク
ロマトグラムの測定例を示す説明図、第５図は保持時間
を修正した後のガスクロマトグラムとマスクロマトグラ
ムとの関係を示す説明図である。 １・・・ガスクロマトグラフィ質量分析計、２・・・ガ
スクロマトグラフ、４・・・質量分析計。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）ガスクロマトグラフ単独で既知成分を含む試料に
   ついてガスクロマトグラムを測定する一方、ガスクロマ
   トグラフを同一分析条件に設定して、このガスクロマト
   グラフで気相分離された各成分のマススペクトルを質量
   分析計で測定してマスクロマトグラムを作成し、得られ
   た前記ガスクロマトグラムとマスクロマトグラムの各成
   分についての保持時間の値から両者の対応関係を示す較
   正曲線を求め、この校正曲線に基づいて未知試料につい
   て得られるマスクロマトグラムの保持時間を補正するこ
   とを特徴とするガスクロマトグラフィ質量分析方法。