JPH081971B2 - 薄膜超電導素子の製造方法 - Google Patents

薄膜超電導素子の製造方法

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JPH081971B2
JPH081971B2 JP62252895A JP25289587A JPH081971B2 JP H081971 B2 JPH081971 B2 JP H081971B2 JP 62252895 A JP62252895 A JP 62252895A JP 25289587 A JP25289587 A JP 25289587A JP H081971 B2 JPH081971 B2 JP H081971B2
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謙太郎 瀬恒
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、超電導素子、特に弱結合部を有する複合化
合物薄膜を用いた超電導素子の製造方法に関するもので
ある。
従来の技術 従来、超電導体としては、A15型2元系化合物として
窒化ニオブ(NbN)やニオブ3ゲルマニウム(Nb3Ge)な
どが知られていた。また、これらの材料を用いた超電導
素子も種々提案されている。しかし、これらの材料の超
電導転移温度Tcはたかだか24Kであった。また、ペロブ
スカイト系化合物としては、Ba−Pb−Bi−O系(特開昭
60−173885号)が知られており、この系の材料を用いた
超電導素子も数多く研究されている。しかし、この材料
のTcは13K程度と低く実用化は困難であった。ところが
Tが30〜40Kを示すBa−La−Cu−O系の高温超電導体が
提案された[J.G.Bednorz and K.A.Muller,ツァイト
シュリフト フェア フィジーク(Zeitshrift fur phy
sik B)−Condensed Matter 64,189−193(1986)]。
さらに、最近提案されたY−Ba−Cu−O系では90Kを越
えるTcが報告されており[M.K.Wu等、フィジカル レビ
ューレターズ(Physical Review Letters)Vol.58,No.
9,908−910(1987)]、液体窒素の沸点(77K)よりも
高くなったことで実用化が有望となってきた。
発明が解決しようとする問題点 Y−Ba−Cu−O系に代表される複合化合物材料は、例
えばスパッタリング法等の薄膜形成手法を用いると、薄
膜状の高温超電導体として形成される。しかしながら、
この超電導薄膜を利用して素子を作製するためのプロセ
ス技術が確立されておらず、新規素子の作製が困難であ
る。
問題点を解決するための手段 この複合化合物薄膜の性質は、下地の基板の影響を非
常に多く受ける。ある種の単結晶基板を用いるとエピタ
キシャル成長により単結晶の複合化合物薄膜を得ること
ができる。また、非晶質基板上には単結晶の複合化合物
薄膜を得ることはできない。複合化合物薄膜が単結晶で
あるかないかによって、超電導転移温度Tcや結合状態が
大きく異なる。この性質を利用して、複合化合物がエピ
タキシャル成長する単結晶基板の1部に、イオンを注入
して単結晶基板の1部を非晶質化した基板上に、複合化
合物薄膜を形成することにより、単結晶上には超伝導薄
膜が非晶質上には弱結合の薄膜が形成される。この弱結
合によって超電導体薄膜が少なくとも2つの領域に分離
した構造を有することになり、これを用いて超電導素子
を形成することができる。
作用 本発明に係る薄膜超電導素子の製造方法は、複合化合
物超電導体を薄膜化しているため、従来の焼結体に比べ
均質な超電導体を用いていること、基板を微細加工して
いるため超電導体薄膜を微細加工することなく弱結合部
を形成することができるため、非常に高精度な超電導素
子を容易に形成することができる。
実施例 本発明の実施例を図面を用いて説明する。
第1図に示すように、単結晶基板1上にレジスト等で
マスクパターン2を形成する。超電導薄膜の作製が数百
度の高温で行われ、超電導素子は液体窒素温度(−196
℃)の低温で動作させるため、基板と超電導薄膜との密
着性が悪くなり破損する場合があるが、基板の線熱膨張
係数が10-6deg-1以上であれば薄膜の破損もなく実用さ
れることを確認した。また結晶性の超電導薄膜を基板上
に形成するためには、単結晶の基板が有効であることを
確認した。。したがって、ここで用いる基板としては、
酸化マグネシウム、サファイア(α−Al2O3)、スピネ
ル、チタン酸ストロンチウム、シリコン、ガリウムひ
素、ふっ化カルシウム等の単結晶基板が超電導素子の作
製に有効であった。このマスクを通して酸素或は窒素等
のイオン3を注入して単結晶基板1の1部を非晶質化し
た。注入条件として、イオンの加速電圧は5kV以上であ
り注入量は1×1013〜1×1018cm-2である。10はこの非
晶質化部分を示す。
次に、第2図に示すように、レジスト2を除去して単
結晶基板1の表面を露出させた後、高周波プレナーマグ
ネトロンスパッタにより、焼結したYBa2Cu3O7ターゲッ
トをArとO2の混合ガス雰囲気でスパッタリング蒸着し
て、上記基板上にYBa2Cu3O7薄膜4を形成した。スパッ
タリング条件は、ガス圧力0.5Pa、スパッリング電力150
W,基板温度700℃であった。膜厚は約1μmであった。
このYBa2Cu3O7薄膜4を形成後、酸素ガス雰囲気中800℃
で約5時間熱処理を行った。このようにして、同一の薄
膜4中に弱結合部5を有する超電導薄膜を基板上に得る
ことができる。単結晶基板1上のYBa2Cu3O7薄膜4は単
結晶であり、その超電導転移温度Tcは82Kであった。非
晶質部分10上の弱結合部を構成するYBa2Cu3O7は,作成
条件によって常電導体あるいは半導体あるいは絶縁体あ
るいは超伝導を示すが単結晶上に比べてTcが非常に低い
ものができる。このようにして、この弱結合部5を用い
て、例えば超伝導電極が2つ即ち二端子素子であると、
弱結合部がトンネル形のジョセフソン素子等の超伝導素
子を作成することができる。このような効果は、他のイ
オン注入技術を用いても得ることができた。
超電導薄膜として、Y−Ba−Cu−O以外に元素のモル
比が 0.5≦(A+B)/Cu≦2.5 であるA元素、B元素およびCuを含む酸化物を用いても
良い。ここに、AはScおよびランタン系列元素(原子番
号57〜71)のうち少なくとも1種、BはII a属元素のう
ち少なくとも1種の元素を含むものである。
発明の効果 以上のような方法により容易に薄膜超伝導素子を作成
することができる。複合化合物薄膜にレジストを塗布し
たりエッチング等の微細加工を行うことなく、弱結合を
有する超伝導薄膜を得ることができるため、超伝導特性
の劣化なしで良好な超伝導素子を得ることができる。ま
た、素子の分離は、超電導体の距離即ちイオン注入層の
領域を大きくすることによってできるため、1回のマス
ク工程と1回の薄膜形成工程によって集積した超伝導素
子を形成することができる。また、SiやGaAs等の半導体
やCaF2等の絶縁体上に超伝導素子を形成できるため、他
のデバイスと積層した新規なデバイスを作成することが
できるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明の一実施例による薄膜超電
導素子の製造方法の基本概念断面図である。 1……単結晶基板(サファイア)、2……レジスト、3
……酸素あるいは窒素イオン、4……YBa2Cu3O7薄膜、
5……弱結合部、10……非晶質部分
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01B 12/06 ZAA

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】単結晶基板の1部にイオンを注入して、前
    記単結晶基板の1部を非晶質化し、前記基板上に複合化
    合物を用いた超電導体被膜を形成することを特徴とする
    薄膜超電導素子の製造方法。
  2. 【請求項2】非晶質化した基板上の複合化合物薄膜が弱
    結合状態であり、この弱結合部によって前記超電導体被
    膜を少なくとも2つの領域に分離した構造を形成するこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄膜超電導
    素子の製造方法。
  3. 【請求項3】複合化合物として元素のモル比率が 0.5≦(A+B)/Cu≦2.5 であるA元素、B元素およびCuを含む酸化物を用いるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄膜超電導
    素子の製造方法。 ここに、AはSc,Yおよびランタン系列元素(原子番号57
    〜71)のうち少なくとも1種、BはII a族元素のうち少
    なくとも1種の元素を示す。
  4. 【請求項4】単結晶基板として、サファイア、酸化マグ
    ネシウム、スピネル、チタン酸ストロンチウム、シリコ
    ン、ガリウムひ素、インジウム燐、ふっ化カルシウム等
    の単結晶の少なくとも1種で構成したことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の薄膜超電導素子の製造方
    法。
  5. 【請求項5】酸素あるいは窒素のイオンを少なくとも1
    種を加速して単結晶基板に注入することを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の薄膜超電導素子の製造方法。
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