JPH0195576A - 薄膜超電導素子の製造方法 - Google Patents
薄膜超電導素子の製造方法Info
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- JPH0195576A JPH0195576A JP62252895A JP25289587A JPH0195576A JP H0195576 A JPH0195576 A JP H0195576A JP 62252895 A JP62252895 A JP 62252895A JP 25289587 A JP25289587 A JP 25289587A JP H0195576 A JPH0195576 A JP H0195576A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、超電導素子、特に弱結合部を有する複合化合
物薄膜を°用いた超電導素子の製造方法に関するもので
ある。
物薄膜を°用いた超電導素子の製造方法に関するもので
ある。
従来の技術
従来、超電導体としては、A15型2元系化合物として
窒化ニオブ(NbN)やニオブ3ゲルマニラム(Nb3
Ge)などが知られていた。また、これらの材料を用い
た超電導素子も種々提案されている。しかし、これらの
材料の超電導転移温度TCはたかだか24にであった。
窒化ニオブ(NbN)やニオブ3ゲルマニラム(Nb3
Ge)などが知られていた。また、これらの材料を用い
た超電導素子も種々提案されている。しかし、これらの
材料の超電導転移温度TCはたかだか24にであった。
また、ペロブスカイト系化合物としては、Ba−Pb−
B i −0系(特開昭60−173885号)が知ら
れており、この系の材料を用いた超電導素子も数多く研
究されている。しかし、この材料のTcは13に程度と
低く実用化は困難であった。ところがTcが30〜40
Kを示すBa−La−Cu−0系の高温超電導体が提案
された[J、G、Bednorz and K、A、M
uller、ツアイト シュリフト フェア フィジー
ク(Zeitshrift fur physik B
)−Condensed Matter 64.189
−193 (1986)] 、さらに、最近提案された
Y−Ba−Cu−0系では90Kを越えるTcが報告さ
れており[M、 K、 Nu等、フィジカル レピュー
レターズ(Physical Review Lett
ers) Vol、58.No。
B i −0系(特開昭60−173885号)が知ら
れており、この系の材料を用いた超電導素子も数多く研
究されている。しかし、この材料のTcは13に程度と
低く実用化は困難であった。ところがTcが30〜40
Kを示すBa−La−Cu−0系の高温超電導体が提案
された[J、G、Bednorz and K、A、M
uller、ツアイト シュリフト フェア フィジー
ク(Zeitshrift fur physik B
)−Condensed Matter 64.189
−193 (1986)] 、さらに、最近提案された
Y−Ba−Cu−0系では90Kを越えるTcが報告さ
れており[M、 K、 Nu等、フィジカル レピュー
レターズ(Physical Review Lett
ers) Vol、58.No。
9.908−910(1987)] 、液体窒素の沸点
(77K)よりも高くなったことで実用化が有望となっ
てきた。
(77K)よりも高くなったことで実用化が有望となっ
てきた。
発明が解決しようとする問題点
Y−Ba−Cu−0系に代表される複合化合物材料は、
例えばスパッタリング法等の薄膜形成手法を用いると、
薄膜状の高温超電導体として形成される。しかしながら
、この超電導薄膜を利用して素子を作製するためのプロ
セス技術が確立されておらず、新規素子の作製が困難で
ある。
例えばスパッタリング法等の薄膜形成手法を用いると、
薄膜状の高温超電導体として形成される。しかしながら
、この超電導薄膜を利用して素子を作製するためのプロ
セス技術が確立されておらず、新規素子の作製が困難で
ある。
゛ 問題点を解決するための手段
この複合1ヒ合物薄膜の性質は、下地の基板の影響を非
常に強く受ける。ある種の単結晶基板を用いるとエピタ
キシャル成長により単結晶の複合化合物薄膜を得ること
ができる。また、非晶質基板上には単結晶の複合化合物
薄膜を得ることはできない、複合化合物薄膜が単結晶で
あるかないかによって、超電導転移温度Tcや結合状態
が大きく異なる。この性質を利用して、複合化合物がエ
ピタキシャル成長する単結晶基板の1部に、イオンを注
入して単結晶基板の1部を非晶質化した基板上に、複合
化合物薄膜を形成することにより、単結晶上には超伝導
薄膜が非晶質上には弱結合の薄膜が形成される。この弱
結合によって超電導体薄膜が少なくとも2つの領域に分
離した構造を有することになり、これを用いて超電導素
子を形成することができる。
常に強く受ける。ある種の単結晶基板を用いるとエピタ
キシャル成長により単結晶の複合化合物薄膜を得ること
ができる。また、非晶質基板上には単結晶の複合化合物
薄膜を得ることはできない、複合化合物薄膜が単結晶で
あるかないかによって、超電導転移温度Tcや結合状態
が大きく異なる。この性質を利用して、複合化合物がエ
ピタキシャル成長する単結晶基板の1部に、イオンを注
入して単結晶基板の1部を非晶質化した基板上に、複合
化合物薄膜を形成することにより、単結晶上には超伝導
薄膜が非晶質上には弱結合の薄膜が形成される。この弱
結合によって超電導体薄膜が少なくとも2つの領域に分
離した構造を有することになり、これを用いて超電導素
子を形成することができる。
作用
本発明に係る薄膜超電導素子の製造方法は、複合化合物
超電導体を薄膜化しているため、従来の焼結体に比べ均
質な超電導体を用いていること、基板を微細加工してい
るなめ超電導体薄膜を微細加工することなく弱結合部を
形成することができるため、非常に高精度な超電導素子
を容易に形成することができる。
超電導体を薄膜化しているため、従来の焼結体に比べ均
質な超電導体を用いていること、基板を微細加工してい
るなめ超電導体薄膜を微細加工することなく弱結合部を
形成することができるため、非常に高精度な超電導素子
を容易に形成することができる。
実施例
本発明の実施例を図面を用いて説明する。
第1図に示すように、単結晶基板1上にレジスト等でマ
スクパターン2を形成する。超電導薄膜の作製が数百度
の高温で行われ、超電導素子は液体窒素温度(−196
℃)の低温で動作させるため、基板と超電導薄膜との密
着性が悪くなり破損する場合があるが、基板の線熱膨張
係数が110−6de”以上であれば薄膜の破損もなく
実用されることを確認した。また結晶性の超電導薄膜を
基板上°に形成するためには、単結晶の基板が有効であ
ることを確認した0、シたがって、ここで用いる基板と
しては、酸化マグネシウム、サファイア(α−A120
3)、スピネル、チタン酸ストロンチウム、シリコン、
ガリウムひ素、ふり化カルシウム等の単結晶基板が超電
導素子の作製に有効であった。このマスクを通して酸素
或は窒素等のイオン3を注入して単結晶基板1の1部を
非晶質化した。
スクパターン2を形成する。超電導薄膜の作製が数百度
の高温で行われ、超電導素子は液体窒素温度(−196
℃)の低温で動作させるため、基板と超電導薄膜との密
着性が悪くなり破損する場合があるが、基板の線熱膨張
係数が110−6de”以上であれば薄膜の破損もなく
実用されることを確認した。また結晶性の超電導薄膜を
基板上°に形成するためには、単結晶の基板が有効であ
ることを確認した0、シたがって、ここで用いる基板と
しては、酸化マグネシウム、サファイア(α−A120
3)、スピネル、チタン酸ストロンチウム、シリコン、
ガリウムひ素、ふり化カルシウム等の単結晶基板が超電
導素子の作製に有効であった。このマスクを通して酸素
或は窒素等のイオン3を注入して単結晶基板1の1部を
非晶質化した。
注入条件として、イオンの加速電圧は5kV以上であり
注入量はI X 10”〜I X I O”cm−”で
ある、10はこの非晶質化部分を示す。
注入量はI X 10”〜I X I O”cm−”で
ある、10はこの非晶質化部分を示す。
次に、第2図に示すように、レジスト2を除去して単結
晶基板1の表面を露出させた後、高周波プレナーマグネ
トロンスバッタにより、焼結しなYBa2Cu3O7タ
ーゲットをArと02の混合ガス雰囲気でスパッタリン
グ蒸着して、上記基板上にYBa2Cu3O7薄ll1
4を形成した。スパッタリング条件は、ガス圧力0.5
Pa、スパッタリング電力150W、基板温度700℃
であった。膜厚は約1μmであった。このYBa2Cu
3O7薄膜4を形成後、酸素ガス雰囲気中800℃で約
5時間熱処理を行った。このようにして、同一の薄膜4
中に弱結合部5を有する超電導薄膜を基板上に得ること
ができる。単結晶基板1上のYBa2CulOフ薄膜4
は単結晶であり、その超電導転移温度TCは82にであ
った。非晶質部分10上の弱結合部を構成するYBa2
Cu3O7は1作成条件によって常電導体あるいは半導
体あるいは絶縁体あるいは超伝導を示すが単結晶上に比
べてTcが非常に低いものができる。このようにして、
この弱結合部5を用いて、例えば超伝導電極が2つ即ち
二端子素子であると、弱結合形かトンネル形のジョセフ
ソン素子等の超伝導素子を作成す、ることができる。
晶基板1の表面を露出させた後、高周波プレナーマグネ
トロンスバッタにより、焼結しなYBa2Cu3O7タ
ーゲットをArと02の混合ガス雰囲気でスパッタリン
グ蒸着して、上記基板上にYBa2Cu3O7薄ll1
4を形成した。スパッタリング条件は、ガス圧力0.5
Pa、スパッタリング電力150W、基板温度700℃
であった。膜厚は約1μmであった。このYBa2Cu
3O7薄膜4を形成後、酸素ガス雰囲気中800℃で約
5時間熱処理を行った。このようにして、同一の薄膜4
中に弱結合部5を有する超電導薄膜を基板上に得ること
ができる。単結晶基板1上のYBa2CulOフ薄膜4
は単結晶であり、その超電導転移温度TCは82にであ
った。非晶質部分10上の弱結合部を構成するYBa2
Cu3O7は1作成条件によって常電導体あるいは半導
体あるいは絶縁体あるいは超伝導を示すが単結晶上に比
べてTcが非常に低いものができる。このようにして、
この弱結合部5を用いて、例えば超伝導電極が2つ即ち
二端子素子であると、弱結合形かトンネル形のジョセフ
ソン素子等の超伝導素子を作成す、ることができる。
超電導薄膜として、Y−Ba−Cu−0以外に元素のモ
ル比が 0.5≦(A+B)/Cu≦2.5 であるA元素、B元素およびCuを含む酸化物を用いて
も良い、ここに、AはScおよびランタン系列元素(原
子番号57〜71)のうち少なくと°も1種、BはII
a族元素のうち少なくとも1種の元素を含むものである
。
ル比が 0.5≦(A+B)/Cu≦2.5 であるA元素、B元素およびCuを含む酸化物を用いて
も良い、ここに、AはScおよびランタン系列元素(原
子番号57〜71)のうち少なくと°も1種、BはII
a族元素のうち少なくとも1種の元素を含むものである
。
発明の効果
以上のような方法により容易に薄膜超伝導素子を作成す
ることができる。複合化合物薄膜にレジストを塗布した
りエツチング等の微細加工を行うことなく、弱結合を有
する超伝導薄膜を得ることができるため、超伝導特性の
劣下なしで良好な超伝導素子を得ることができる。また
、素子の分離は、超電導体の距離即ちイオン注入層の領
域を大きくすることによってできるため、1回のマスク
工程と1回の薄膜形成工程によって集積した超伝導素子
を形成することができる。また、StやGaAs等の半
導体やCaF2等の絶縁体上に超伝導素子を形成できる
ため、他のデバイスと積層した新規なデバイスを作成す
ることができるようになる。
ることができる。複合化合物薄膜にレジストを塗布した
りエツチング等の微細加工を行うことなく、弱結合を有
する超伝導薄膜を得ることができるため、超伝導特性の
劣下なしで良好な超伝導素子を得ることができる。また
、素子の分離は、超電導体の距離即ちイオン注入層の領
域を大きくすることによってできるため、1回のマスク
工程と1回の薄膜形成工程によって集積した超伝導素子
を形成することができる。また、StやGaAs等の半
導体やCaF2等の絶縁体上に超伝導素子を形成できる
ため、他のデバイスと積層した新規なデバイスを作成す
ることができるようになる。
第1図および第2図は本発明の一実施例による薄膜超電
導素子の製造方法の基本概念断面図である。 1・・・単結晶基板(サファイア)、2・・・レジスト
、3・・・酸素あるいは窒素イオン、4・・・YBa2
Cu30フ薄膜、5・・・弱結合部、10・・・非晶質
部分 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名第1図 第2111
導素子の製造方法の基本概念断面図である。 1・・・単結晶基板(サファイア)、2・・・レジスト
、3・・・酸素あるいは窒素イオン、4・・・YBa2
Cu30フ薄膜、5・・・弱結合部、10・・・非晶質
部分 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名第1図 第2111
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)単結晶基板の1部にイオンを注入して、前記単結
晶基板の1部を非晶質化し、前記基板上に複合化合物を
用いた超電導体被膜を形成することを特徴とする薄膜超
電導素子の製造方法。 (2)非晶質化した基板上の複合化合物薄膜が弱結合状
態であり、この弱結合部によって前記超電導体被膜を少
なくとも2つの領域に分離した構造を形成することを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄膜超電導素子の
製造方法。 (3)複合化合物として元素のモル比率が 0.5≦(A+B)/Cu≦2.5 であるA元素、B元素およびCuを含む酸化物を用いる
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄膜超電
導素子の製造方法。 ここに、AはSc、Yおよびランタン系列元素(原子番
号57〜71)のうち少なくとも1種、BはIIa族元素
のうち少なくとも1種の元素を示す。 (4)単結晶基板として、サファイア、酸化マグネシウ
ム、スピネル、チタン酸ストロンチウム、シリコン、ガ
リウムひ素、インジウム燐、ふっ化カルシウム等の単結
晶の少なくとも1種で構成したことを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の薄膜超電導素子の製造方法。 (5)酸素あるいは窒素のイオンを少なくとも1種を加
速して単結晶基板に注入することを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の薄膜超電導素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62252895A JPH081971B2 (ja) | 1987-10-07 | 1987-10-07 | 薄膜超電導素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62252895A JPH081971B2 (ja) | 1987-10-07 | 1987-10-07 | 薄膜超電導素子の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0195576A true JPH0195576A (ja) | 1989-04-13 |
JPH081971B2 JPH081971B2 (ja) | 1996-01-10 |
Family
ID=17243662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62252895A Expired - Fee Related JPH081971B2 (ja) | 1987-10-07 | 1987-10-07 | 薄膜超電導素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH081971B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02154484A (ja) * | 1988-12-06 | 1990-06-13 | Nec Corp | ジヨセフソン素子 |
JP2012109263A (ja) * | 2012-02-08 | 2012-06-07 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 超電導テープ線材の製造方法、超電導テープ線材、および超電導機器 |
-
1987
- 1987-10-07 JP JP62252895A patent/JPH081971B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02154484A (ja) * | 1988-12-06 | 1990-06-13 | Nec Corp | ジヨセフソン素子 |
JP2012109263A (ja) * | 2012-02-08 | 2012-06-07 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 超電導テープ線材の製造方法、超電導テープ線材、および超電導機器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH081971B2 (ja) | 1996-01-10 |
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