JPH08184772A

JPH08184772A - 光ビーム走査方法及び光ビーム走査装置

Info

Publication number: JPH08184772A
Application number: JP32838594A
Authority: JP
Inventors: Hidenari Tatebe; 秀成立部; Yoshihiro Inagaki; 義弘稲垣; Nobuo Kanai; 伸夫金井
Original assignee: Minolta Co Ltd
Current assignee: Minolta Co Ltd
Priority date: 1994-12-28
Filing date: 1994-12-28
Publication date: 1996-07-16

Abstract

(57)【要約】【目的】光学系の位置調整によらずに、光学系の走査線
のずれに起因した画像の再現性の低下を防止することを
目的とする。【構成】光ビームを射出する光源と光ビームを偏向する
手段とを有した光学系を用いて、主走査方向の画像走査
を行うための光ビーム走査方法であって、主走査基準線
に対する光学系の走査線のずれを記憶しておき、原画像
Ｇ１ｍ，ｃ，ｋの各画素の位置を光学系の走査線のずれ
に応じて副走査方向にずらした補正画像Ｇ２ｍ，ｃ，ｋ
をビットマップメモリ上に仮想的に描画し、補正画像に
対応したビットマップデータに基づいて光ビームを変調
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、画像を量子化した画像
データに基づいて光ビームを変調するライン順次方式の
光ビーム走査方法及び走査装置に関し、ディジタル複写
機、ページプリンタ、ファクシミリ装置などにおける画
像形成に利用される。

【０００２】

【従来の技術】レーザビームを機械的に偏向する光学系
は、電子写真式の画像形成装置の露光手段として広く用
いられている。通常は、光学系に対して露光面を副走査
方向に移動させながら、レーザビームの偏向による主走
査方向の走査を繰り返すライン順次の露光が行われる。

【０００３】このようなライン順次の露光において、レ
ーザビームの偏向が理想的であれば、露光面上に走査基
準線に沿った直線状のスポット軌跡（走査線）が描かれ
る。しかし、実際には、光学系を収納するハウジングと
露光面との配置関係のずれ、ハウジング内でのレンズや
ミラーなどの光学部品の取付け位置のずれに起因して、
走査線が走査基準線に対して傾く場合がある。

【０００４】走査基準線に対して実際の走査線がずれる
と、画像の再現性が損なわれる。また、複数の光学系に
よって１つの画像を形成する場合、例えば３つの光学ユ
ニットを用いて３色のトナー像を同時に形成し、その後
に各色のトナー像を重ね合わせてカラー画像を形成する
場合において、各光学系の走査線の傾き（スキュー）の
様相が互いに異なるとき、特に傾きの方向が異なるとき
には、画像の再現性の低下が顕著になってしまう。

【０００５】そのため、従来では、画像形成装置の組み
立て段階で、走査線のずれができるだけ小さくなるよう
に、光学系を構成する各光学部品の取付け位置及び光学
系のハウジングの取付け位置を最適化する位置調整作業
が行われていた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】従来では、取付け位置
の微調整を可能にする調整機構が必要であることから、
光学部品やハウジングの取付け構造が複雑になるととも
に、位置調整に長時間を要するという問題があった。ま
た、取付け位置の調整では、レンズやミラーの歪みに起
因した走査線の湾曲（ボウ）を補正することができない
という問題もあった。

【０００７】なお、ボウの影響を軽減する手法として、
ボウに応じて光ビームの強度を切り換えて走査線の幅を
段階的に変化させる手法が提案されている（特開昭６１
−２５３６７号）。しかし、この手法による場合は、光
ビームに対して３値以上の多値変調を行うことになるの
で、光ビームの強度の安定性の確保が困難になる。

【０００８】本発明は、上述の問題に鑑みてなされたも
ので、光学系の位置調整によらずに、光学系の走査線の
ずれに起因した画像の再現性の低下を防止することを目
的としている。

【０００９】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明の方法
は、光ビームを射出する光源と前記光ビームを偏向する
手段とを有した光学系を用いて、主走査方向の画像走査
を行うための光ビーム走査方法であって、主走査基準線
に対する前記光学系の走査線のずれを記憶しておき、原
画像の各画素の位置を前記光学系の走査線のずれに応じ
て副走査方向にずらした補正画像をビットマップメモリ
上に仮想的に描画し、前記補正画像に対応したビットマ
ップデータに基づいて前記光ビームを変調する方法であ
る。

【００１０】請求項２の発明に係る光ビーム走査装置
は、光ビームを偏向して主走査方向の画像走査を行う光
学系と、画像を仮想的に描画するためのビットマップメ
モリと、主走査基準線に対する前記光学系の走査線のず
れを示す偏向特性データを記憶する不揮発型のメモリ
と、原画像の各画素の位置を前記偏向特性データに応じ
て副走査方向にずらした補正画像を、前記ビットマップ
メモリ上に描画する描画処理手段と、前記補正画像に対
応したビットマップデータに基づいて前記光ビームを変
調する光源制御手段と、を有してなる。

【００１１】請求項３の発明に係る光ビーム走査装置
は、光ビームを偏向して主走査方向の画像走査を行う第
１及び第２の光学系と、画像を仮想的に描画するための
ビットマップメモリと、前記第１の光学系の走査線に対
する前記第２の光学系の走査線のずれを示す偏向特性デ
ータを記憶する不揮発型のメモリと、前記第２の光学系
に対応した原画像の各画素の位置を前記偏向特性データ
に応じて副走査方向にずらした補正画像を、前記ビット
マップメモリ上に描画する描画処理手段と、前記補正画
像に対応したビットマップデータに基づいて、前記第２
の光学系の前記光ビームを変調する光源制御手段と、を
有してなる。

【００１２】

【作用】予め主走査基準線に対する光学系の走査線のず
れ、すなわち主走査基準線を基準軌跡とした照射面上で
の光ビームの１ライン分の軌跡の変動の様相が測定さ
れ、その結果を示す偏向特性データがメモリによって記
憶される。

【００１３】偏向特性データに応じて各画素の位置を副
走査方向にずらす画像データ処理によって、走査線のず
れを打ち消すように原画像を変形した補正画像がビット
マップメモリ上に仮想的に描画される。

【００１４】補正画像に対応したビットマップデータに
基づいて光ビームを変調すると、走査線のずれの分だけ
光ビームのスポットが副走査方向に変移することから、
照射面上で各画素の位置が元の位置に戻されるので、原
画像に忠実な画像走査が実現される。

【００１５】

【実施例】図１は本発明に係る光ビーム走査装置１の構
成を示すブロック図である。光ビーム走査装置１は、４
つの光学ユニット１１ａ〜ｄ、処理プログラムを実行す
るＣＰＵ２１、ビットマップエリアとして用いられる２
つの画像メモリ２２，２３、後述の補正データＤＸを格
納したＲＯＭ２４、各光学ユニット１１ａ〜ｄの光源を
制御するＰ／Ｈ（プリントヘッド）駆動部２５、データ
バスＢＤ、及びアレスバスＢＡから構成されている。

【００１６】この光ビーム走査装置１は、例えば４つの
感光体ドラム３を用いてフルカラープリントを実現する
タンデム型ページプリンタに組み込まれ、ライン順次の
露光手段として用いられる。なお、ＣＰＵ２１は、ペー
ジプリンタの動作全体を管理するプリントコントローラ
の役割をも担う。また、画像メモリ２２は、図示しない
インタフェースを介して外部のホストから入力されるプ
リントデータ（画像情報及びコマンド）の受信バッファ
などとしても用いられる。

【００１７】ＣＰＵ２１は、ホストから入力されたプリ
ントデータを逐次解析し、例えばページ記述言語による
プリント指示内容を解釈し、画像メモリ２２内のビット
マップエリア上でキャラクタコードなどのビットマップ
展開を行う。これにより、プリントすべき画像（原画
像）Ｇ１が画像メモリ２２内で仮想的に描画される。な
お、フルカラープリントの場合には、Ｙ（イエロー），
Ｍ（マゼンタ），Ｃ（シアン），Ｋ（ブラック）の計４
色の各色毎に原画像Ｇ１が描画される。

【００１８】そして、ＣＰＵ２１は、ＲＯＭ２４の補正
データＤＸに応じて原画像Ｇ１の各画素の位置を副走査
方向の前方側又は後方側にシフトさせる、本発明に特有
の画像データ処理を行う。この処理において、画像メモ
リ２３内に原画像Ｇ１を意図的に変形した補正画像Ｇ２
が仮想的に描画される。

【００１９】このようにして描画された原画像Ｇ１又は
補正画像Ｇ２の各画素の濃度を示すビットマップデータ
（例えば１画素当たり８ビット）は、適時にＰ／Ｈ駆動
部２５へ送られ、各光学ユニット１１ａ〜ｄから感光体
ドラム３へ向けて射出される光ビームＭの変調（２値の
強度変調）のための制御データとして用いられる。

【００２０】変調された光ビームＭの照射により、各感
光体ドラム３上に一定の時間差を設けて原画像Ｇ１又は
補正画像Ｇ２に対応した潜像が順に形成される。これら
の潜像は、図示しない現像器によってＹ，Ｍ，Ｃ，Ｋの
各色のトナー像になり、その後に転写ベルト４上で用紙
Ｐに多重転写される。トナー像が転写された用紙Ｐは定
着ローラ対５を経て排出される。

【００２１】図２は光学ユニット１１ａ〜ｄの構成を示
す斜視図である。光学ユニット１１ａ〜ｄの構造は同一
であるので、ここでは１つの光学ユニット１１ａのみを
図示してある。

【００２２】各光学ユニット１１ａ〜ｄは、ハウジング
１１０とその内部に固定配置された各種の光学部品とか
らなる。各光学ユニット１１ａ〜ｄの光源は半導体レー
ザ１１１である。この半導体レーザ１１１は、Ｐ／Ｈ駆
動部２５によって制御され、２値変調された光ビームＭ
を射出する。光ビームＭは、集光レンズ１１２及びシリ
ンダレンズ１１３を経て収束し、回転多面鏡１１４によ
って偏向される。

【００２３】偏向された光ビームＭは、回転多面鏡１１
４の面倒れ補正のための偏芯トーリックレンズ１１５を
通過し、均等走査のためのｆθミラー１１６に入射す
る。そして、光ビームＭは、折り返しミラー１１９で反
射して感光体ドラム３上に所定の大きさのスポットを形
成し、Ｈ方向（主走査方向）の光ビーム走査を行う。感
光体ドラム３上のスポットの軌跡が、各光学ユニット１
１ａ〜ｄの走査線Ｌａ〜ｄである。理想的な走査状態
は、走査線Ｌａ〜ｄが感光体ドラム３の回転軸と平行な
直線となる状態である。

【００２４】画像形成時において、感光体ドラム３は、
一定速度で回転しており、その表面が一様に帯電してい
る。光ビームＭの偏向と感光体ドラム３の回転とによっ
てライン順次で２次元走査が行われ、上述のように潜像
が形成される。

【００２５】なお、各光学ユニット１１ａ〜ｄには、主
走査の同期信号を生成するために、光検出器１１７とミ
ラー１１８とが組み付けられている。ミラー１１８は主
走査の始端位置に向かう光ビームＭを光検出器１１７に
導く。

【００２６】以下、光ビーム走査装置１の動作をさらに
詳しく説明する。図３は光ビーム走査装置１を用いた画
像形成の概要を示す模式図、図４は本発明を適用しない
場合の再生画像を示す図である。

【００２７】上述したように光学ユニット１１ａ〜ｄの
構造は同一である。しかし、ハウジング１１０及び光学
部品の寸法精度、レンズの歪みなどに起因して、走査線
Ｌａ〜ｄに微妙なスキューやボウが生じる。つまり、実
際の走査線Ｌａ〜ｄと理想の走査線（感光体ドラム３の
回転軸と平行な直線）との間にずれが生じる。

【００２８】そして、このような走査線Ｌａ〜ｄのずれ
の様相が同一であれば、比較的に影響は小さいが、例え
ばずれの様相が各光学ユニット１１ａ〜ｄ毎に異なる場
合には、フルカラープリントに際して色ずれが生じてし
まう。色ずれは画像の乱れとして目立ち易い。

【００２９】そこで、光ビーム走査装置１では、走査線
Ｌのずれによる再現性の低下を防ぐために、１つの光学
ユニットの走査線を基準とした他の走査線のずれが、補
正データ（偏向特性データ）ＤＸとして記憶されてお
り、補正データＤＸに応じて原画像Ｇ１を変形させた補
正画像Ｇ２に基づいて光ビームＭの変調が行われる。

【００３０】すなわち、図３（Ａ）の例では、各光学ユ
ニット１１ａ〜ｄに対応した走査線Ｌａ〜ｄの中で、最
も理想の走査線Ｌ０に近い光学ユニット１１ａの走査線
Ｌａが主走査基準線に選ばれている。走査線Ｌａは理想
の走査線Ｌ０に近いものの、理想の走査線Ｌ０に対して
右下がりに若干傾いている。

【００３１】光学ユニット１１ｂの走査線Ｌｂは、主走
査基準線（走査線Ｌａ）に対して、右下がりに若干傾い
ている。光学ユニット１１ｃの走査線Ｌｂは、主走査基
準線Ｌａに対して、右上がりに比較的に大きく傾いてい
る。また、光学ユニット１１ｄの走査線Ｌｄも、主走査
基準線Ｌａに対して右上がりに大きく傾いている。

【００３２】補正データＤＸは、このような各走査線Ｌ
ｂ〜ｄのずれの様相を数値化したデータである。さらに
詳しくは、主走査方向の適当数（例えば画素数）のサン
プリング位置における走査線Ｌｂ〜ｄと主走査基準線Ｌ
ａとの距離を、副走査方向の画素数に換算した数値の集
合である。

【００３３】図３（Ｂ）に示すように、光学ユニット１
１ａ〜ｄには、Ｙ，Ｍ，Ｃ，Ｋの各色の原画像Ｇ１ｙ，
Ｇ１ｍ，Ｇ１ｃ，Ｇ１ｋが対応する。これらの原画像Ｇ
１ｙ，ｍ，ｃ，ｋが画像メモリ２２内で描画されると、
補正データＤＸに応じて走査線Ｌｂ〜ｄのずれを打ち消
すように、画素の副走査方向の位置をシフトさせること
によって、原画像Ｇ１ｍ，ｃ，ｋを変形させた補正画像
Ｇ２ｍ，ｃ，ｋが画像メモリ２２内で描画される〔図３
（Ｃ）〕。画素のシフトは、原画像Ｇ１ｍ，ｃ，ｋのビ
ットマップデータを画素の配列順に画像メモリ２２から
読み出して画像メモリ２３へ転送し、その際に画素マト
リクスの副走査方向の位置を示すアドレス値を、補正デ
ータＤＸに応じて増加又は減少させるアドレス変換によ
って、容易に実現することができる。

【００３４】図３の例では、例えば走査線Ｌｂは主走査
基準線Ｌａに対して右下がりに傾いているので、このよ
うなスキューを打ち消すために、補正画像Ｇ２ｍの横線
部分は原画像Ｇ１ｍに対して右上がりに傾けられてい
る。

【００３５】Ｙについては原画像Ｇ１ｙに基づいて光ビ
ームＭを変調し、Ｍ，Ｃ，Ｋについては、それぞれ補正
画像Ｇ２ｍ，ｃ，ｋに基づいて光ビームＭを変調すれ
ば、画素の副走査方向の意図的な移動と走査線Ｌｂ〜ｄ
のずれとが相殺される。その結果、図３（Ｂ）に示す
Ｙ，Ｍ，Ｃ，Ｋの各色のトナー像Ｇ３ｙ〜ｋが得られ、
図３（Ｂ）に示すように色ずれの無い高画質のプリント
画像Ｇ４が得られる。

【００３６】これに対して、Ｙ，Ｍ，Ｃ，Ｋの各色につ
いて、原画像Ｇ１ｙ〜ｋに基づいて光ビームＭを変調し
た場合には、図４に示すように、プリント画像Ｇ４ｘに
は、主走査基準線Ｌａに対する各走査線Ｌｂ〜ｄのずれ
が、そのまま色ずれとして現れる。

【００３７】図５は補正データＤＸの内容を示す図、図
６は補正画像Ｇ２の描画の一例を示す図である。上述の
補正データＤＸは、例えば以下の手順でＲＯＭ２４に格
納される。

【００３８】まず、各光学ユニット１１ａ〜ｄを適当な
測定台に固定し、ＣＣＤラインセンサーなどを用いて光
学ユニット１１ａ〜ｄの走査状態（偏向特性）を調べ
る。ここでは、主走査方向の１６個の位置（以下、これ
を主走査方向アドレスという）でスポットの副走査方向
の位置（以下、これを副走査方向アドレスという）を測
定するものとする。

【００３９】図５（Ａ）は、２個の光学ユニット１１
ａ，ｂの走査線データＤＬ１，２の値を示している。図
５において、白抜きの四角は光学ユニット１１ａの走査
線データＤＬ１を示し、黒三角は光学ユニット１１ｂの
走査線データＤＬ２を示している。また、副走査方向ア
ドレスは、基準ラインを「０」とし、基準ラインの上方
のラインを正の数で表し、基準ラインの下方のラインを
負の数で表したものである。

【００４０】図５（Ａ）では、例えば主走査方向アドレ
ス１における走査線データＤＬ１の副走査方向アドレス
は「＋１」であり、走査線データＤＬ２の副走査方向ア
ドレスは「−３」である。また、主走査方向アドレス１
６における走査線データＤＬ１の副走査方向アドレスは
「０」であり、走査線データＤＬ２の副走査方向アドレ
スは「−２」である。

【００４１】次に、１つの光学ユニット１１ａの走査線
を主走査基準線として選び、他の光学ユニット１１ｂの
走査線のずれを数値化する。つまり、主走査方向アドレ
ス毎に、走査線データＤＬ１と走査線データＤＬ２の差
を算出する。算出の結果が補正データＤＸとなる。

【００４２】本実施例では、式（１）によって補正デー
タＤＸが算出されている。ＤＸ＝ＤＬ１−ＤＬ２ …（１）図５（Ｂ）において、例えば主走査方向アドレス１にお
ける補正データＤＸの値は「＋４」である。これは、主
走査方向アドレス１における光学ユニット１１ｂのスポ
ットを４ライン分だけ上方へシフトさせると、基準の光
学ユニット１１ａのスポットと重なるということを意味
している。また、主走査方向アドレス１６における補正
データＤＸの値は「−２」である。これは、主走査方向
アドレス１における光学ユニット１１ｂのスポットを２
ライン分だけ下方へシフトさせると、基準の光学ユニッ
ト１１ａのスポットと重なるということを意味してい
る。

【００４３】表１は、主走査方向アドレス１における走
査線データＤＬ１，２及び補正データＤＸの値を示して
いる。

【００４４】

【表１】

【００４５】補正データＤＸが求まると、ＲＯＭライタ
ーなどのデータ書込み装置を用いて半導体メモリなどか
らなるＲＯＭ２４に補正データＤＸを格納する。そし
て、ＲＯＭ２４を回路基板に実装する。

【００４６】図５に例示した値の補正データＤＸによる
場合には、図６（Ａ）のように画像メモリ２２内のビッ
トマップエリアＥ１に描画された原画像Ｇ１に対して、
図６（Ａ）に示す補正画像Ｇ２が画像メモリ２３内のビ
ットマップエリアＥ２に描画される。

【００４７】上述の実施例によれば、走査線Ｌａ〜ｄの
スキュー及びボウに係わらず、高画質の画像再現を実現
することができる。上述の実施例においては、１つの光
学ユニット１１ａの走査線Ｌａを主走査基準線として設
定した例を挙げたが、理想の走査線Ｌ０を主走査基準線
とし、光学ユニット１１ａ〜ｄの走査線Ｌａ〜ｄのずれ
を補正するようにしてもよい。光学ユニット１１ａ〜ｄ
の数は任意であり、１つの光学ユニット１１ａのみを有
した光ビーム走査装置１にも本発明を適用することがで
きる。

【００４８】また、画像メモリ２２内の原画像Ｇ１を画
像メモリ２３に転送せず、画像メモリ２２からＰ／Ｈ駆
動部２５へ直接に原画像Ｇ１を転送し、その際に補正デ
ータＤＸに応じて原画像Ｇ１の画素の位置をシフトさせ
てもよい。その場合には、Ｐ／Ｈ駆動部２５内のバッフ
ァメモリが、補正画像Ｇ２を仮想的に描画するためのビ
ットマップメモリとして用いられる。ただし、そのバッ
ファメモリは、補正画像Ｇ２の全体に対応する容量をも
つ必要はなく、少なくとも補正画像Ｇ２の一部の描画が
可能であればよい。

【００４９】さらに、原画像Ｇ１を画像メモリ２２に一
旦格納することなく、外部のホストから各種のデータ形
式で入力された原画像Ｇ１をビットマップデータに展開
する段階で、補正データＤＸに応じて原画像Ｇ１の画素
の位置をシフトさせて補正画像Ｇ２を生成してもよい。
そして、生成した補正画像Ｇ２を上述の実施例と同様に
画像メモリ２３に一旦格納してもよいが、画像メモリ２
３に格納せずにＰ／Ｈ駆動部２５へ直接に、補正画像Ｇ
２をその生成と並行して逐次転送することもできる。

【００５０】なお、本明細書において、ビットマップメ
モリとは、画素単位で画像データ（ビットマップデー
タ）の書込み及び読出しが可能に構成された記憶媒体を
意味し、画像データ専用のメモリに限られない。ビット
マップメモリを各種メモリ装置のメモリ空間の一部を用
いて実現することもできる。また、原画像Ｇ１及び補正
画像Ｇ２における１画素分のデータは、２値データ（ド
ットデータ）と多値データとを問わない。

【００５１】上述の実施例において、各光学ユニット１
１ａ〜ｄの走査線Ｌａ〜ｄにおける主走査方向のずれ
（ラインの書き出し位置のずれ）を記憶しておき、原画
像Ｇ１の各画素を副走査方向及び主走査方向にシフトさ
せた補正画像Ｇ２を生成し、その補正画像Ｇ２に基づい
て光ビームＭの変調を行うことによって、画像の再現性
をより高めることもできる。

【００５２】

【発明の効果】請求項１乃至請求項３の発明によれば、
光学系の位置調整によらずに、光学系の走査線のずれに
起因した画像の再現性の低下を防止することができ、光
学系の取付け構造の簡単化と取付けの作業の容易化を図
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ビーム走査装置の構成を示すブ
ロック図である。

【図２】光学ユニットの構成を示す斜視図である。

【図３】光ビーム走査装置を用いた画像形成の概要を示
す模式図である。

【図４】本発明を適用しない場合の再生画像を示す図で
ある。

【図５】補正データの内容を示す図である。

【図６】補正画像の描画の一例を示す図である。

【符号の説明】

Ｍ光ビーム１１１半導体レーザ（光源）１１４回転多面鏡（偏向手段）１１ａ〜ｄ光学ユニット（光学系）１光ビーム走査装置Ｌａ主走査基準線Ｌａ〜ｄ走査線Ｇ１原画像Ｇ２補正画像２３画像メモリ（ビットマップメモリ）ＤＸ補正データ（偏向特性データ）２４ＲＯＭ（不揮発型のメモリ）２１ＣＰＵ（描画処理手段）２５Ｐ／Ｈ駆動部（光源制御手段）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｂ４１Ｊ 2/525 Ｈ０４Ｎ 1/40 Ｈ０４Ｎ 1/40 １０１Ｚ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ビームを射出する光源と前記光ビームを
偏向する手段とを有した光学系を用いて、主走査方向の
画像走査を行うための光ビーム走査方法であって、主走査基準線に対する前記光学系の走査線のずれを記憶
しておき、原画像の各画素の位置を前記光学系の走査線のずれに応
じて副走査方向にずらした補正画像をビットマップメモ
リ上に仮想的に描画し、前記補正画像に対応したビットマップデータに基づいて
前記光ビームを変調することを特徴とする光ビーム走査
方法。
【請求項２】光ビームを偏向して主走査方向の画像走査
を行う光学系と、画像を仮想的に描画するためのビットマップメモリと、主走査基準線に対する前記光学系の走査線のずれを示す
偏向特性データを記憶する不揮発型のメモリと、原画像の各画素の位置を前記偏向特性データに応じて副
走査方向にずらした補正画像を、前記ビットマップメモ
リ上に描画する描画処理手段と、前記補正画像に対応したビットマップデータに基づいて
前記光ビームを変調する光源制御手段と、を有してなることを特徴とする光ビーム走査装置。
【請求項３】光ビームを偏向して主走査方向の画像走査
を行う第１及び第２の光学系と、画像を仮想的に描画するためのビットマップメモリと、前記第１の光学系の走査線に対する前記第２の光学系の
走査線のずれを示す偏向特性データを記憶する不揮発型
のメモリと、前記第２の光学系に対応した原画像の各画素の位置を前
記偏向特性データに応じて副走査方向にずらした補正画
像を、前記ビットマップメモリ上に描画する描画処理手
段と、前記補正画像に対応したビットマップデータに基づい
て、前記第２の光学系の前記光ビームを変調する光源制
御手段と、を有してなることを特徴とする光ビーム走査装置。