JPH0818290A - チップ部品の認識方法及び同装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 実装機の部品装着用ヘッドに吸着されたチッ
プ部品を撮像した画像から、チップ部品の位置及び傾き
を求めるものにおいて、画像が小さい場合でも、容易
に、かつ高精度にチップ部品の位置等を求めることがで
きるようにする。 【構成】 カメラ３により撮像されたチップ部品の画像
を画像メモリ１２から読み出して処理する処理手段１３
を備え、この処理手段１３はコーナー部検出手段１５及
び演算手段１６を含む。上記コーナー部検出手段１５
は、上記処理ウインド内を走査する走査線を処理ウイン
ドのＸ軸方向及びＹ軸方向に対して４５°傾斜した方向
に設定し、この走査線を平行移動させつつ走査を行うこ
とによりチップ部品のコーナー部を検出する。上記演算
手段１６は、コーナー部検出データに基づいてチップ部
品の重心位置及び傾きを算出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、実装機の部品装着用ヘ
ッドに吸着されたチップ部品を撮像した画像から、チッ
プ部品の位置及び傾きを求めるチップ部品の認識方法及
び同装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、プリント基板にトランジスタ等の
チップ部品を装着する実装機において、チップ部品装着
位置の補正等のため、部品装着用ヘッドに吸着されたチ
ップ部品を撮像し、その画像から、チップ部品の位置及
び傾きを求めるようにしたチップ部品の認識装置は知ら
れている。

【０００３】すなわち、上記実装機は、吸着ノズルを有
する部品装着用ヘッドにより、部品供給部からチップ部
品を吸着して、位置決めされているプリント基板上に移
送し、プリント基板に装着する作業を自動的に行うよう
になっている。この実装機に装備される認識装置は、上
記部品装着用ヘッドに吸着されたチップ部品を撮像する
ＣＣＤカメラ等の撮像手段を有するとともに、この撮像
手段により撮像されたチップ部品の画像を取り込んでこ
れを処理する画像処理手段を備えており、この画像処理
手段によりチップ部品の位置及び傾きが求められ、これ
に基づいてプリント基板に対するチップ部品装着位置の
補正等が行われるようになっている。

【０００４】上記画像処理手段によるチップ部品の認識
方法としては、上記チップ部品の画像を表した処理ウイ
ンド内をＸ軸方向（横方向）またはＹ軸方向（縦方向）
の走査線に沿って走査し、この走査によってチップ部品
のエッジ等を調べ、これに基づいてチップ部品の位置及
び傾きを求めるようにしている。

【０００５】上記走査に基づいてチップ部品の位置及び
傾きを求める方法は種々考えられており、例えば、画像
が長方形もしくはこれに準じた形状となるチップ部品を
認識するような場合には、処理ウインド内におけるＸ軸
方向またはＹ軸方向の平行な多数の走査線に沿ってそれ
ぞれ濃度値の変化を調べ、その濃度値変化点の位置関係
から直線部分を求めることによりチップ部品の側辺部を
検出し、その側辺部の位置、角度等のデータからチップ
部品の重心位置及び傾きを求める方法がある。

【０００６】また、例えば特開平４−３３２１９９号公
報に示されるように、四方側辺部に多数のリードを有す
るチップ部品を認識するような場合に、処理ウインド内
におけるＸ軸方向またはＹ軸方向の走査線のうちで同一
側辺部にあるリード列を横切る走査線を抽出し、この走
査線に沿った濃度値のデータに基づいてリード列の中心
を求め、このようにして各側辺部について調べたリード
列の中心から、チップ部品の重心位置及び傾きを求める
ようにした方法も知られている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記のように、Ｘ軸方
向またはＹ軸方向の走査線による走査に基づいてチップ
部品の重心位置及び傾きを求める従来の方法では、極小
チップ部品を認識する場合のようにチップ部品の画像が
極めて小さい場合に、誤差が生じ易く、精度を高めるこ
とが難しい。

【０００８】具体的に説明すると、上記の２つの方法の
うちの前者の方法によると、チップ部品の画像が小さい
場合に、Ｘ軸方向またはＹ軸方向の走査に基づいて求め
る直線成分の精度が充分に得られにくく、このため、チ
ップ部品の側辺部の検出とそれに基づく重心位置及び傾
きの算出に誤差が生じ易くなる。また、後者の特開平４
−３３２１９９号公報に示された方法によると、画面上
においてリードが小さい場合に、リード列を横切るよう
な走査線を抽出することが容易でなく、かつ抽出走査線
の位置にばらつきが生じ易く、これにより測定値がばら
ついて誤差が生じ易くなる。

【０００９】本発明は、上記の事情に鑑み、チップ部品
の画像が小さい場合でも、容易に、かつ高精度にチップ
部品の位置等を求めることができるチップ部品の認識方
法及び同装置を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】請求項１に係る発明は、
実装機の部品装着用ヘッドに吸着されたチップ部品を撮
像した後、その画像を処理ウインド内に表わし、この処
理ウインド内の走査に基づき、チップ部品の位置及び傾
きを求めるチップ部品の認識方法であって、上記処理ウ
インド内を走査する走査線を、処理ウインドのＸ軸方向
及びＹ軸方向に対して傾斜した方向に設定し、この走査
線を平行移動させつつ走査線上の画像データを判別し
て、上記走査線がチップ部品のコーナー部を横切ったと
きにその位置を検出することによりチップ部品のコーナ
ー部を検出し、このコーナー部の検出データに基づき、
チップ部品の位置及び傾きを求めるようにしたものであ
る。

【００１１】この発明において、上記走査線はＸ軸方向
及びＹ軸方向に対して４５°に設定すること（請求項
２）が好ましい。

【００１２】請求項３に係る発明は、請求項１または２
の方法において、画像が長方形もしくはこれに準じる形
状となるチップ部品を認識対象とし、上記コーナー部の
検出をチップ部品の４つのコーナー部について順次行な
うようにし、チップ部品の位置及び傾きを求める処理と
しては、チップ部品の一側辺部とこれとは反対側の側辺
部とにおいてそれぞれ、コーナー部の検出データに基づ
いて設定した側辺部プロフィール測定ラインに沿って濃
度値のプロフィールをとり、このプロフィールからチッ
プ部品の両側辺部におけるの中心点を求める処理と、こ
の２つの側辺部中心点を通る中心線を求めるとともに、
この中心線上の濃度値のプロフィールから上記中心線上
のチップ部品の両側エッジ点を求め、この両側エッジ点
の中点と上記中心線の傾きとを、チップ部品の重心及び
傾きとして求める処理とを行うようにしたものである。

【００１３】請求項４に係る発明は、請求項１または２
の方法において、画像が長方形もしくはこれに準じる形
状となるチップ部品を認識対象とし、上記コーナー部の
検出をチップ部品の４つのコーナー部について順次行な
うようにし、チップ部品の位置及び傾きを求める処理と
しては、チップ部品の一側辺部とこれとは反対側の側辺
部とにおいてそれぞれ、コーナー部の検出データに基づ
いて設定した側辺部プロフィール測定ラインに沿って濃
度値のプロフィールをとり、このプロフィールから上記
各側辺部プロフィール測定ライン上でそれぞれ部品側辺
部中心点より両側に所定量だけオフセットした２点ずつ
の特定点を求める処理と、上記各側辺部プロフィール測
定ラインと交差してそれぞれの１つずつの特定点を通る
２本の直線を設定して、この各直線に沿ったプロフィー
ルから各直線上の部品の両側エッジ点の中点を求め、こ
の各中点に基づいてチップ部品の重心及び傾きを求める
ようにしたものである。

【００１４】請求項５に係る発明は、請求項１または２
の方法において、両側辺部に複数のピンを有するチップ
部品を認識対象とし、上記コーナー部の検出をチップ部
品の両側辺部におけるピン列の両端の外側コーナー部に
ついて行うようにし、チップ部品の位置及び傾きを求め
る処理としては、上記両側辺部においてそれぞれ、コー
ナー部の検出データに基づいて求めたピン列方向のプロ
フィール測定ラインに沿って濃度値のプロフィールをと
り、このプロフィールから、このプロフィール測定ライ
ン上の各ピンの中心点の位置を求める処理と、この各ピ
ンの中心点に対応する各ピンのエッジ点の位置を求め、
この各ピンのエッジ点に基づいて両側辺部におけるピン
列の中心を求め、この２つのピン列中心の中点とこの２
つのピン列中心を結ぶ直線の傾きとを、チップ部品の重
心及び傾きとして求める処理とを行うようにしたもので
ある。

【００１５】請求項６に係る発明は、請求項１または２
の方法において、少なくとも一側辺部に複数のピンを有
するチップ部品を認識対象とし、上記コーナー部の検出
をチップ部品の上記一側辺部におけるピン列の両端の外
側コーナー部について行うようにし、チップ部品の位置
及び傾きを求める処理としては、コーナー部の検出デー
タに基づいて求めたピン列方向のプロフィール測定ライ
ン上の濃度値のプロフィールから、一側辺部における上
記プロフィール測定ライン上の各ピンの中心点の位置を
求め、この各ピンの中心点に対応する各ピンのエッジ点
の位置を求める処理と、この各ピンのエッジ点の配置に
基づいてチップ部品の傾きを求める処理と、上記各ピン
のエッジ点に基づいて一側辺部側のエッジにおけるピン
列の中心を求め、この一側辺部のエッジにおけるピン列
の中心と上記チップ部品の傾きとに基づいて求めた中心
線上の濃度値のプロフィールから、この中心線上の他側
辺部側のエッジ点を検出し、上記一側辺部のエッジにお
けるピン列の中心と上記中心線上の他側辺部側のエッジ
点とからチップ部品の重心を求める処理とを行うように
したものである。

【００１６】請求項７に係る発明のチップ部品の認識装
置は、実装機の部品装着用ヘッドに吸着されたチップ部
品を撮像する撮像手段と、この撮像手段により撮像され
たチップ部品の画像を記憶する画像記憶手段と、この画
像記憶手段から画像を読み出し、この画像を表す処理ウ
インド内を走査するとともにそれに基づく演算処理を行
う処理手段とを備え、この処理手段は、上記処理ウイン
ド内を走査する走査線を処理ウインドのＸ軸方向及びＹ
軸方向に対して傾斜した方向に設定し、この走査線を平
行移動させつつ走査線上の画像の濃度値を判別して、走
査線がチップ部品のコーナー部を横切ることによって上
記濃度値が変化した位置を検出するコーナー部検出手段
と、このコーナー部の検出データに基づいてチップ部品
の重心位置及び傾きを算出する演算手段とを有するもの
である。

【００１７】

【作用】上記請求項１に係る発明の方法によると、上記
処理ウインドのＸ軸方向及びＹ軸方向に対して傾斜した
方向の走査により、処理ウインド内の画像におけるチッ
プ部品のコーナー部が容易に、かつ確実に検出される。
そして、このコーナー部の検出に基づき、チップ部品の
重心位置及び傾きを精度良く求めることが可能となる。
とくに、走査線をＸ軸方向及びＹ軸方向に対して４５°
に設定すれば（請求項２）、走査線の設定及びこの走査
線に沿った走査も容易である。

【００１８】上記請求項３に係る発明の方法によると、
画像が長方形もしくはこれに準じる形状となるチップ部
品を認識対象とする場合に、上記のような斜め方向の走
査によってチップ部品の４つのコーナー部が検出され、
その検出データに基づき、左右もしくは上下の側辺部に
おいて側辺に沿った方向のプロフィール測定ラインが適
正に定められる。そして、このプロフィール測定ライン
に沿ったプロフィールに基づいて両側辺部における中心
点が求められ、この両側辺部の中心点から求められる中
心線とこの中心線上のプロフィールとに基づき、チップ
部品の重心及び傾きが求められる。この場合に、上記プ
ロフィール測定ラインが適正に定められることに伴い、
上記のようにして求められるチップ部品の重心及び傾き
の精度も高められる。

【００１９】上記請求項４に係る発明の方法によって
も、左右もしくは上下の側辺部において側辺に沿った方
向のプロフィール測定ラインが適正に定められる。そし
て、このプロフィール測定ライン上の特定点を通る２本
の直線が設定され、その各直線上の中点から、チップ部
品の重心及び傾きが求められることにより、例えば一側
辺部の中間部に凹みがあるような部品でも、上記重心等
が精度良く求められる。

【００２０】上記請求項５に係る発明の方法によると、
両側辺部に複数のピンを有するチップ部品を認識対象と
する場合に、上記のような斜め方向の走査によってチッ
プ部品の両側辺部におけるピン列の両端の外側コーナー
部が検出され、その検出データに基づき、上記両側辺部
においてピン列方向のプロフィール測定ラインが適正に
定められる。そして、このプロフィール測定ラインに沿
ったプロフィールからこのライン上の各ピンの中心点の
位置が求められ、さらにこの各中心点に対応する各ピン
のエッジ点の位置、両側辺部におけるピン列の中心点の
位置、チップ部品の重心位置及び傾きが順次求められ
る。この場合に、上記プロフィール測定ラインが適正に
定められることに伴い、上記のようにして求められるチ
ップ部品の重心及び傾きの精度も高められる。

【００２１】上記請求項６に係る発明の方法によると、
少なくとも一側辺部に複数のピンを有するチップ部品を
認識対象とする場合に、上記のような斜め方向の走査に
よって上記一側辺部におけるピン列の両端の外側コーナ
ー部が検出され、その検出データに基づき、この側辺部
におけるピン列方向のプロフィール測定ラインが適正に
定められる。そして、このプロフィール測定ラインに沿
ったプロフィールからこのライン上の各ピンの中心点の
位置が求められ、さらにこの各中心点に対応する各ピン
のエッジ点の位置、チップ部品の傾き、一側辺部側のエ
ッジにおけるピン列の中心点の位置、これに対応する他
側辺部側のエッジ点の位置、重心位置が順次求められ
る。この場合に、上記プロフィール測定ラインが適正に
定められることに伴い、上記のようにして求められるチ
ップ部品の重心及び傾きの精度も高められる。

【００２２】上記請求項７に係る発明の装置によると、
上記コーナー部検出手段及び演算手段を含む処理手段に
より、上記画像記憶手段からチップ部品の画像が読み出
されるとともに、この画像につき、斜め方向の走査によ
るコーナー部の検出とその検出データに基づくチップ部
品の重心位置及び傾きの検出とが自動的に行われる。

【００２３】

【実施例】本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

【００２４】図１はチップ部品の認識装置の一実施例を
示している。この図において、１は実装機に装備された
部品装着用ヘッドであって、図外の部品供給部及びプリ
ント基板に対して相対的に移動可能となっており、この
部品装着用ヘッドには吸着ノズル１ａが昇降及び回転可
能に設けられている。そして、上記吸着ノズル１ａによ
り部品供給部からチップ部品２を吸着した後、上記部品
装着用ヘッド１がプリント基板上に移動し、プリント基
板の所定装着位置にチップ部品２を装着するようになっ
ている。

【００２５】また、３は撮像手段としてのＣＣＤカメラ
であって、実装機の所定位置に設置されており、上記部
品装着用ヘッド１がチップ部品吸着後にこのカメラ３上
に移動し、このカメラ３による撮像が行われてからプリ
ント基板へのチップ部品２の装着が行われるようになっ
ている。上記カメラ３は、上記吸着ノズル１ａに吸着さ
れたチップ部品２を下方から撮像するものであり、図１
に示す実施例ではこのカメラ３の両側にランプ４を配置
して、反射照明により撮像を行うようになっている。な
お、チップ部品によっては上方に照明手段を配置して透
過照明により撮像を行うようにしてもよく、反射照明と
透過照明とを使い分けるようにしてもよい。

【００２６】また、実装機には、上記部品装着用ヘッド
１の作動等を制御する実装機コントローラ５が設けられ
るとともに、上記カメラ３により撮像されたチップ部品
２の画像を処理する画像処理ユニット１０が設けられて
いる。上記実装機コントローラ５には、上記部品装着用
ヘッド１に吸着されるチップ部品２についての各種デー
タを記憶する部品データ記憶部６が設けられている。

【００２７】上記画像処理ユニット１０には、上記カメ
ラ３からの映像をアナログ・デジタル変換して取り込む
Ａ／Ｄ変換部１１と、このＡ／Ｄ変換部１１を経た画像
を記憶する画像メモリ（画像記憶手段）１２と、この画
像メモリ１２から読み出した画像を処理する処理手段１
３と、この処理手段１３と上記実装機コントローラ１０
との間で情報の受け渡しを行うデュアルポートメモリ１
４とを有している。

【００２８】上記処理手段１３は、上記画像メモリ１２
から画像を読み出し、この画像を表す処理ウインド内を
走査するとともにそれに基づく演算処理を行うものであ
って、とくに次のようなコーナー部検出手段１５及び演
算手段１６を含んでいる。

【００２９】コーナー部検出手段１５は、上記処理ウイ
ンド内を走査する走査線を処理ウインドのＸ軸方向及び
Ｙ軸方向に対して傾斜した方向に設定し、この走査線を
平行移動させつつ走査線上の画像の濃度値を判別して、
走査線がチップ部品のコーナー部を横切ることによって
上記濃度値が変化した位置を検出するようになってい
る。上記走査線の傾斜角度は、吸着ノズル１ａに吸着さ
れる際のチップ部品の角度ずれ（チップ部品の傾き）の
範囲の限界よりも大きくし、望ましくは走査を容易にす
るために処理ウインドのＸ軸方向及びＹ軸方向に対して
４５°とする。また、演算手段１６は、コーナー部検出
手段１５によるコーナー部の検出データに基づいてチッ
プ部品の重心位置及び傾きを算出するようになってい
る。

【００３０】そして、上記処理手段により求められたチ
ップ部品の重心位置及び傾きのデータは、デュアルポー
トメモリ１４を介して実装機コントローラ５に送られ、
実装機コントローラ５により、上記重心位置のノズル中
心に対するずれ及び上記傾きに応じ、プリント基板に対
するチップ部品の装着位置及び角度が補正されるように
なっている。

【００３１】なお、上記コーナー部検出手段１５及び演
算手段１６を含む処理手段１３は、具体的には後述する
各種認識方法（認識方法第１例乃至第４例）のプログラ
ムを有し、撮像されるチップ部品２の種類に応じていず
れかの方法のプログラムを選択し、その方法を実行する
ようになっている。

【００３２】ここで、認識対象となるチップ部品の数例
を図２乃至図６によって説明しておく。

【００３３】図２（ａ）（ｂ）はチップ抵抗２Ａ及びそ
の画像を示し、このチップ抵抗２Ａは両側辺部に電極２
１を有する角ブロック状のものである。このチップ抵抗
２Ａを撮像するときは反射照明、透過照明のいずれによ
ってもよく、反射照明の場合は図２（ｂ）に実線で示す
電極部分が明るい画像となり、透過照明の場合は上記電
極部分と本体部分（破線で示す）の全体が暗い画像とな
る。図３はタンタルコンデンサ２Ｂの画像を示し、この
タンタルコンデンサ２Ｂも両側辺部に電極２２を有して
上記チップ抵抗２Ａと形状が近似しており、撮像は反射
照明、透過照明のいずれによってもよい。図４はアルミ
コンデンサ２Ｃの画像を示し、このアルミコンデンサ２
Ｃは底部の中央部両側に電極２３を有しており、撮像は
反射照明によるものとし、その画像は実線で示すように
なる。

【００３４】これらのチップ部品２Ａ，２Ｂ，２Ｃは、
画像が長方形もしくはこれに準じた形状となり、後述の
認識方法第１例または認識方法第２例の認識対象とな
る。なお、このほかに、例えばカラー抵抗のような円筒
形状等のものでも撮像した画像が長方形もしくはこれに
準じた形状であれば認識方法第１例または認識方法第２
例の認識対象となる。

【００３５】また、図５（ａ）（ｂ）はミニトランジス
タ２Ｄ及びその画像を示し、このミニトランジスタ２Ｄ
は両側辺部に複数個ずつ（図では２個ずつ）のピン２４
を有しており、後述の認識方法第３例の認識対象とな
る。このミニトランジスタ２Ｄの撮像は反射照明による
ものとし、実線で示すピン２４部分が明るい画像とな
る。

【００３６】図６はパワートランジスタ２Ｅの画像を示
し、このパワートランジスタ２Ｅは一側辺部に３個のピ
ン２５、他側辺部に１個のピン２６を有しており、後述
の認識方法第４例の認識対象となる。このパワートラン
ジスタ２Ｅの撮像は反射照明によるものとし、実線で示
すピン２５，２６等が明るい画像となる。

【００３７】次に、上記の認識装置によるチップ部品の
認識方法の各種具体例を説明する。なお、以下の説明の
中で、濃度値に関しては反射照明を用いるものとして述
べるが、透過照明を用いる場合は、濃度値の大小（明
暗）を逆に考えればよい。

【００３８】(1) 認識方法第１例 図７は、上記チップ抵抗２Ａ、タンタルコンデンサ２
Ｂ、アルミコンデンサ２Ｃ、カラー抵抗等の、画像が長
方形もしくはこれに準じる形状となるチップ部品を認識
対象とする場合に適する認識方法第１例をフローチャー
トで示している。この方法を、図８〜図１３を参照しつ
つ説明する。

【００３９】先ずステップＳ１では、チップ部品の画像
を表した処理ウインド３０内の複数箇所の濃度値に基づ
き、コーナー部検出のための閾値を設定する。具体的に
は、図８に示すように、多数の画素３１を含む処理ウイ
ンド３０内を数画素おきに走査して濃度値を調べ、例え
ば縦横５画素ずつの区画ごとに１つずつの画素（斜線を
付した部分）について濃度値を調べる。そして、これら
の画素の濃度値の中から最大値Ｄmax と最小値Ｄmin と
を選出し、この最大値Ｄmax よりも小さくて最小値Ｄmi
n よりも大きい適当な値、例えばＤmin＋(Ｄmax−Ｄmi
n)・１／２を閾値とする。

【００４０】次にステップＳ２で、Ｘ軸，Ｙ軸に対して
４５°傾斜した走査線Ｌｓによる走査でチップ部品２の
各コーナー部を検出する。すなわち、図９，図１０に示
すように、先ずチップ部品２の左上コーナー部を検出す
るときには、左下がりの斜め４５°に走査線を設定し
て、上記処理ウインドの左上隅から中央部へ向けて走査
線を順次平行移動させつつ、走査線上の画素の濃度値と
上記閾値との比較を行うことにより、走査線がチップ部
品のコーナー部を横切ったときにその位置を検出する。

【００４１】具体的には、対象画素の濃度値が閾値以上
で、かつ走査方向に垂直でチップ部品の中心側にある画
素の濃度値も閾値以上となることが最初に見つかった点
ＮＷ１と、対象画素の濃度値が再び閾値以下となる直前
の点ＮＷ２とを求める。この場合に、走査方向に垂直で
チップ部品の中心側にある画素の濃度値も閾値以上とな
るという条件を加えているのは、ノイズによる誤検出を
防止するためである。上記２点ＮＷ１，ＮＷ２は、コー
ナー部の頂点を挾む２辺を上記走査線が横切る点であ
り、これをコーナー候補点と呼ぶこととする。

【００４２】他のコーナー部についても同様にして２点
ずつ、コーナー候補点を見つける。ただし、左下コーナ
ー部を検出するときには右下がり斜め４５°の走査線Ｌ
ｓを処理ウインド３０の左下隅から中央部へ向けて平行
移動させ、右上コーナー部を検出するときには右下がり
斜め４５°の走査線Ｌｓを処理ウインド３０の右上隅か
ら中央部へ向けて平行移動させ、右下コーナー部を検出
するときには左下がり斜め４５°の走査線Ｌｓを処理ウ
インド３０の右下隅から中央部へ向けて平行移動させ
る。

【００４３】このようにして、図１１（ａ）に示すよう
に都合８点のコーナー候補点ＮＷ１，ＮＷ２，ＳＷ１，
ＳＷ２，ＮＥ１，ＮＥ２，ＳＥ１，ＳＥ２を求め、この
各コーナー候補点の座標（ＮＷ１ｘ，ＮＷ１ｙ）（ＮＷ
２ｘ，ＮＷ２ｙ）（ＳＷ１ｘ，ＳＷ１ｙ）（ＳＷ２ｘ，
ＳＷ２ｙ）（ＮＥ１ｘ，ＮＥ１ｙ）（ＮＥ２ｘ，ＮＥ２
ｙ）（ＳＥ１ｘ，ＳＥ１ｙ）（ＳＥ２ｘ，ＳＥ２ｙ）を
記憶する。

【００４４】コーナー部の検出が終わると、その検出デ
ータに基づき、チップ部品２の重心位置及び傾きを求め
る処理を行なう。当実施例では、実装機コントローラ５
の部品データ記憶部６から読み出されるデータに基づ
き、チップ部品２の電極が左右に配置されているか上下
に配置されているかを判定し（ステップＳ３）、電極が
左右に配置されている場合はステップＳ４〜Ｓ１５の各
処理を行ない、電極が上下に配置されている場合はステ
ップＳ１６〜Ｓ２７の各処理を行なう。

【００４５】［電極左右配置の場合の処理］ステップＳ
４では、左側電極部分（左側辺部）のプロフィールを調
べる。具体的には、図１１（ａ）中に示すように、左側
電極部分において、上下両側コーナー部の各コーナー候
補点のうちの２点（上辺側及び下辺側）ＮＷ１，ＳＷ２
を通るプロフィール測定ラインＬＡ１を設定し、例えば
次のようにプロフィール測定ラインＬＡ１の始点ＳＴの
座標（Ｘｓ，Ｙｓ）及び終点ＥＮの座標（Ｘｅ，Ｙｅ）
を定める。

【００４６】

【数１】 Ｘｓ＝ＮＷ１ｘ−（ＳＷ２ｘ−ＮＷ１ｘ） …(1) Ｙｓ＝ＮＷ１ｙ−（ＳＷ２ｙ−ＮＷ１ｙ） …(2) Ｘｅ＝ＳＷ２ｘ＋（ＳＷ２ｘ−ＮＷ１ｘ） …(3) Ｙｅ＝ＳＷ２ｙ＋（ＳＷ２ｙ−ＮＷ１ｙ） …(4) そして、上記始点ＳＴから終点ＥＥまでのラインＬＡ１
上の各位置の濃度値を調べ、図１２に示すような濃度値
のプロフィールをとる。

【００４７】続いてステップＳ５では、上記プロフィー
ルから、図１１（ｂ）中に示すような左側電極部分の上
下方向の中心点ｂ１の位置を計算する。具体的には、上
記プロフィールの中で濃度値の最大値Ｄmax 及び最小値
Ｄmin を求め、この最大値Ｄmax よりも小さくて最小値
Ｄmin よりも大きい値、例えばＤmin＋(Ｄmax−Ｄmin)
・１／２を閾値とする。そして、上記プロフィールの濃
度値を始点側から順に見ていって最初に閾値を越える点
を求め、この点の濃度値とその直前の点の濃度値と上記
閾値とから、直線状補間によりサブピクセル化した上側
エッジ点ａ１のＹ座標を算出する。

【００４８】この直線状補間によるサブピクセル化は、
画素単位よりも微少な単位（サブピクセル単位）で位置
を求めるためのものであり、上記プロフィールの始点か
ら数えてｉ番目の点で初めて濃度値が閾値を越えた場
合、その点の濃度値をＤ_i 、（ｉ−１）番目の点の濃度
値をＤ_i-1 、閾値をＤthとすると（図１２参照）、次式
により上側エッジ点ａ１のＹ座標（Ｙａ）がサブピクセ
ル単位で求められる。

【００４９】

【数２】 Ｙａ＝Ｙｓ＋ｉ−（Ｄ_i−Ｄth）／（Ｄ_i−Ｄ_i-1） …(5) さらに、上記プロフィールの濃度値を終点側から順に見
ていって、上記上側エッジ点ａ１のＹ座標の算出と同様
の手法で下側エッジ点ａ２のＹ座標を求める。そして、
上記上側エッジ点ａ１のＹ座標と下側エッジ点ａ２のＹ
座標の真中の値を左側電極部分の上下方向中心点ｂ１の
Ｙ座標とし、上記プロフィール始点ＳＴ、終点ＥＮを通
る直線（プロフィール測定ラインＬＡ１）の方程式から
上記Ｙ座標に対応する上記中心点ｂ１のＸ座標を求め
る。

【００５０】次にステップＳ６，Ｓ７では、ステップＳ
４，Ｓ５と同様の処理を右側電極部分（右側辺部）につ
いて行なう。つまり、上下両側コーナー部の各コーナー
候補点のうちの２点ＮＥ２，ＳＥ１を通るプロフィール
測定ラインＬＡ２の始点の座標（Ｘｓ，Ｙｓ）及び終点
の座標（Ｘｅ，Ｙｅ）を次のように定める。

【００５１】

【数３】 Ｘｓ＝ＮＥ２ｘ−（ＳＥ１ｘ−ＮＥ２ｘ） …(6) Ｙｓ＝ＮＥ２ｙ−（ＳＥ１ｙ−ＮＥ２ｙ） …(7) Ｘｅ＝ＳＥ１ｘ＋（ＳＥ１ｘ−ＮＥ２ｘ） …(8) Ｙｅ＝ＳＥ１ｙ＋（ＳＥ１ｙ−ＮＥ２ｙ） …(9) そして、上記始点から終点までのプロフィールをとり、
このプロフィールに基づき、上側エッジ点ａ３のＹ座標
と下側エッジ点ａ４のＹ座標とを直線状補間によりサブ
ピクセル単位で求め、右側電極部分の上下方向中心点ｂ
２のＹ座標及びこれに対応した中心点ｂ２のＸ座標を求
める（図１１（ｂ）参照）。

【００５２】このように左右両側電極部分の各中心点ｂ
１，ｂ２を求めることにより、後述のステップＳ１３〜
Ｓ１５の処理でチップ部品の重心位置及び傾きを求める
ことができるが、当実施例では、精度向上のため、ステ
ップＳ８〜Ｓ１２で、左右各電極部分についてそれぞれ
プロフィール測定ラインを修正して、再度上下方向中心
点を算出する処理を行なっている（図１１（ｂ）及び同
（ｃ）参照）。

【００５３】すなわち、上記ステップＳ５及びステップ
Ｓ７で求めた両側電極部分の中心点ｂ１，ｂ２を暫定中
心点と呼ぶと、ステップＳ８では、上記両暫定中心点ｂ
１，ｂ２を通る直線ＬＢの傾きを算出する。そして、ス
テップＳ９では、この直線ＬＢに直交して上記左側電極
部分の暫定中心点ｂ１を通る直線ＬＣ１の方程式を求
め、この直線ＬＣ１上でＹ座標が上記暫定中心点ｂ１の
Ｙ座標より電極幅分だけ小さい点を始点、電極幅分だけ
大きい点を終点としてプロフィールをとり、ステップＳ
１０ではステップＳ５と同様の手法で左側電極の上下方
向の中心点ｃ１を算出する。さらに、ステップＳ１１で
は、上記直線ＬＢに直交して上記右側電極部分の暫定中
心点ｂ２を通る直線ＬＣ２の方程式を求め、この直線Ｌ
Ｃ２上でＹ座標が上記暫定中心点ｂ２のＹ座標より電極
幅分だけ小さい点を始点、電極幅分だけ大きい点を終点
としてプロフィールをとり、ステップＳ１２ではステッ
プＳ７と同様の手法で右側電極の上下方向の中心点ｃ２
を算出する。

【００５４】次に、ステップＳ１３では、図１１（ｃ）
に示すような上記両側電極部分の中心点ｃ１，ｃ２を通
る直線（中心線）ＬＤの方程式を求め、ステップＳ１４
では、上記直線ＬＤ上で、線分の長さが〔（電極間距
離）＋（電極幅）×２〕となり、かつ、始点ＳＴから一
方の電極部分の中心点ｃ１までの距離と終点ＥＮから他
方の電極部分の中心点ｃ２までの距離とが等しくなるよ
うにプロフィールの始点ＳＴ及び終点ＥＮを設定して、
この直線ＬＤ上のプロフィールをとる。

【００５５】続いてステップＳ１５では、チップ部品の
重心位置及び傾きを算出する。具体的には、上記直線Ｌ
Ｄ上のプロフィールの中で濃度値のＤmax 及び最小値Ｄ
minを求め、この最大値Ｄmax よりも小さくて最小値Ｄm
in よりも大きい値、例えばＤmin＋(Ｄmax−Ｄmin)・１
／２を閾値とし、前記のステップＳ５で行ったエッジの
Ｙ座標の算出と同様の手法により、上記直線ＬＤ上の左
側エッジ点ｄ１のＸ座標及び右側エッジ点ｄ２のＸ座標
をサブピクセル単位で算出する。そして、これらのエッ
ジ点ｄ１，ｄ２のＸ座標から両者の中点のＸ座標を算出
し、このＸ座標と上記直線ＬＤの方程式とからこの中点
のＹ座標を算出する。そして、この中点をチップ部品２
の重心ｗとするとともに、上記直線ＬＤの方程式からそ
の勾配を算出して、この勾配をチップ部品の傾きθとす
る。

【００５６】［電極上下配置の場合の処理］ステップＳ
１６では上側電極部分（上側辺部）のプロフィールをと
り、ステップＳ１７ではこのプロフィールから上側電極
部分の左右方向の中心を計算し、ステップＳ１８では下
側電極部分（下側辺部）のプロフィールをとり、ステッ
プＳ１９ではこのプロフィールから下側電極部分の左右
方向の中心を計算する。これらの処理は前記のステップ
Ｓ４〜Ｓ７と同様である。ただし、図１３に示すよう
に、上側電極部分のプロフィール測定ラインＬＡ１は上
側左右コーナー部の２点ＮＷ２，ＮＥ１を通るように
し、下側電極部分のプロフィール測定ラインＬＡ２は下
側左右コーナー部の２点ＳＷ１，ＳＥ２を通るようにす
る。つまり、上側のプロフィール測定ラインＬＡ１につ
いてはその始点の座標（Ｘｓ，Ｙｓ）及び終点の座標
（Ｘｅ，Ｙｅ）を次のように定める。

【００５７】

【数４】 Ｘｓ＝ＮＷ２ｘ−（ＮＥ１ｘ−ＮＷ２ｘ） …(10) Ｙｓ＝ＮＷ２ｙ−（ＮＥ１ｙ−ＮＷ２ｙ） …(11) Ｘｅ＝ＮＥ１ｘ＋（ＮＥ１ｘ−ＮＷ２ｘ） …(12) Ｙｅ＝ＮＥ１ｙ＋（ＮＥ１ｙ−ＮＷ２ｙ） …(13) また、下側のプロフィール測定ラインＬＡ２については
その始点の座標（Ｘｓ，Ｙｓ）及び終点の座標（Ｘｅ，
Ｙｅ）を次のように定める。

【００５８】

【数５】 Ｘｓ＝ＳＷ１ｘ−（ＳＥ２ｘ−ＳＷ１ｘ） …(14) Ｙｓ＝ＳＷ１ｙ−（ＳＥ２ｙ−ＳＷ１ｙ） …（１５） Ｘｅ＝ＳＥ２ｘ＋（ＳＥ２ｘ−ＳＷ１ｘ） …（１６） Ｙｅ＝ＳＥ２ｙ＋（ＳＥ２ｙ−ＳＷ１ｙ） …(17) そして、各プロフィール測定ラインＬＡ１，ＬＡ２上で
の左右方向の中心点を求める。

【００５９】続いて、ステップＳ２０では上下両側電極
部分の中心点（暫定中心点）を通る直線の傾きを算出
し、ステップＳ２１では上側電極部分のプロフィールを
とり、ステップＳ２２では上側電極の左右方向の中心点
を計算し、ステップＳ２３では下側電極部分のプロフィ
ールをとり、ステップＳ２４では下側電極の左右方向の
中心点を計算する。さらに、ステップＳ２５では上下両
側電極部分の中心点を通る直線の方程式を算出し、ステ
ップＳ２６では上下両側電極間のプロフィールをとり、
ステップＳ２７ではチップ部品の重心の位置及び傾きを
算出する。これらの処理は、前述の電極左右配置の場合
におけるステップＳ８〜Ｓ１５の処理と同様（ただし左
側を上側、右側を下側と置き換える）である。

【００６０】以上のような認識方法第１例によると、斜
め方向の走査によりチップ部品の四方コーナー部が容易
に、かつ確実に検出され、これに基づいて、左右もしく
は上下の側辺部において側辺に沿った方向のプロフィー
ル測定ラインＬＡ１，ＬＡ２が適正に定められ、プロフ
ィール測定ラインＬＡ１，ＬＡ２にばらつきを生じるこ
とがなくてプロフィール測定の精度が高められる。そし
て、このプロフィール測定ラインＬＡ１，ＬＡ２に沿っ
たプロフィールに基づいて側辺部における中心点が求め
られ、両側の側辺部の中心点に基づいてチップ部品の重
心及び傾きが算出される。こうして、画像が長方形もし
くはこれに準じる形状となるチップ部品の重心及び傾き
が精度良く求められる。

【００６１】(2) 認識方法第２例 画像が長方形もしくはこれに準じる形状となるチップ部
品を認識対象とする場合に適する認識方法の他の具体例
である認識方法第２例を、図１４を参照しつつ説明す
る。なお、この認識方法第２例は、上記認識方法第１例
の一部を変更したものであって、次に説明するような変
更点を除けば認識方法第１例と同様の処理を行なうの
で、フローチャートは省略する。

【００６２】認識方法第２例においても、コーナー部検
出のための閾値を設定してから斜め４５°の走査でチッ
プ部品２の四方各コーナー部を検出し、その検出データ
に基づいて両側辺部のプロフィールラインを設定し、そ
れぞれ濃度値のプロフィールをとる処理は認識方法第１
例と同様である（図７中のステップＳ１〜Ｓ３及びステ
ップＳ４〜Ｓ９，Ｓ１１またはステップ１６〜Ｓ２１，
Ｓ２３）。そして、側辺部プロフィールライン（望まし
くは前述のように修正したライン）ＬＣ１，ＬＣ２に沿
ったプロフィールに基づき、図１４のようにチップ部品
の重心ｗ及び傾きを求める。

【００６３】すなわち、上記各ラインＬＣ１，ＬＣ２に
沿ったプロフィールから、各ラインＬＣ１，ＬＣ２上で
部品側辺部中心点より両側に所定量だけオフセットした
２つずつの特定点を定める。例えば、一方（図１４で左
側）のラインＬＣ１上において、その両側（図１４で上
下両側）のエッジ点ａ１１，ａ１２からそれぞれ部品長
さ（両エッジ点ａ１１，ａ１２間の長さ）の１／４の位
置に第１特定点ｃ１１及び第２特定点ｃ１２を定め、他
方（図１４で右側）のラインＬＣ２上においても同様に
両側エッジ点ａ２１，ａ２２からそれぞれ部品長さの１
／４の位置に第１特定点ｃ２１及び第２特定点ｃ２２を
定める。

【００６４】次に、上記各ラインＬＣ１，ＬＣ２と交差
して各第１特定点ｃ１１，ｃ２１を通る直線ＬＤ１及び
各第２特定点ｃ１２，ｃ２２を通る直線ＬＤ２を設定し
て、この２つの直線ＬＤ１，ＬＤ２に沿ってそれぞれプ
ロフィールをとり、その各プロフィールから、一方の直
線ＬＤ１上における両エッジ点ｄ１１，ｄ２１の中点で
ある第１中点ｄ３と、他方の直線ＬＤ２上における両エ
ッジ点ｄ１２，ｄ２２の中点である第２中点ｄ４とを求
める。そして、この第１，第２中点ｄ３，ｄ４の中点を
計算してこれを重心ｗとするとともに、第１，第２中点
ｄ３，ｄ４を通る直線（もしくはこれと直交する直線）
の勾配を計算してこれをチップ部品の傾きとする。

【００６５】このような認識方法第２例によると、画像
が長方形もしくはこれに準じる形状となるチップ部品２
の重心及び傾きが精度良く求められ、とくにこの種の部
品のうちでも、図３に示すタンタルコンデンサ２Ｂのよ
うに一側辺部の電極の中間部に凹み２８等を有するよう
な部品を認識対象とする場合に効果的である。つまり、
上記タンタルコンデンサ２Ｂの場合、前記の認識方法第
１例のように中心線ＬＤを求めてこの中心線ＬＤから重
心ｗを算出すると、中心線ＬＤが上記凹み２８を通るこ
とにより誤差を生じるが、認識方法第２例によると、上
記２直線ＬＤ１，ＬＤ２が凹み２８を避けた位置を通
り、この２直線ＬＤ１，ＬＤ２上のの上記各中点ｄ３，
ｄ４から重心ｗが求められるため、上記凹み２８等の存
在によって誤差を生じるようなことがない。

【００６６】(3) 認識方法第３例 図１５は、上記ミニトランジスタ２Ｄ等の、両側辺部
（左右側辺部もしくは上下側辺部）に複数本ずつのリー
ドピンが配設されているチップ部品を認識対象とする場
合に適する認識方法第２例をフローチャートで示してい
る。この方法を、図１６を参照しつつ説明する。

【００６７】先ずステップＳ１０１では、上記第１例に
おけるステップＳ１とほぼ同様にしてコーナー部検出の
ための閾値を設定する。具体的には、チップ部品の画像
を表した処理ウインド内を数画素おきに走査し、例えば
縦横２画素ずつの区画ごとに１つずつの画素について濃
度値を調べ、これらの画素の濃度値の中から最大値Ｄma
x と最小値Ｄmin とを選出して、例えばＤmin＋（Ｄmax
−Ｄmin）・１／２を閾値とする。

【００６８】次にステップＳ１０２では、上記第１例に
おけるステップＳ２と同様の方法で四方各コーナー部を
検出する。すなわち、図１６（ａ）に示すように、Ｘ
軸，Ｙ軸に対して４５°傾斜した走査線Ｌｓによる走査
で、チップ部品２Ｄの両側のピン列においてそれぞれ各
両端のピンの外側コーナー部を検出し、これらのコーナ
ー部について２点ずつ、都合８点のコーナー候補点ＮＷ
１，ＮＷ２，ＳＷ１，ＳＷ２，ＮＥ１，ＮＥ２，ＳＥ
１，ＳＥ２を求め、この各コーナー候補点の座標を記憶
する。

【００６９】コーナー部の検出が終わると、その検出デ
ータに基づき、チップ部品の重心位置及び傾きを求める
処理を行なう。この場合に、実装機コントローラ５の部
品データ記憶部６から読み出されるデータに基づき、チ
ップ部品２Ｄの電極が左右に配置されているか上下に配
置されているかを判定し（ステップＳ１０３）、電極が
左右に配置されている場合はステップＳ１０４〜Ｓ１１
２の各処理を行ない、電極が上下に配置されている場合
はステップＳ１１３〜Ｓ１２１の各処理を行なう。

【００７０】［電極左右配置の場合の処理］ステップＳ
１０４では、左辺側のプロフィールを求める。つまり、
プロフィール測定ラインＬＡ１が上下のコーナー候補点
ＮＷ１，ＳＷ２を通るように、その始点ＳＴ及び終点Ｅ
Ｎの座標を前記の(1)〜(4)式により設定し（図１６
（ａ）参照）、このラインＬＡ１に沿った濃度値のプロ
フィールをとる。

【００７１】次にステップＳ１０５では、上記プロフィ
ールに基づいて、左辺の各ピンの中心を計算する。具体
的には、上記プロフィールにおける濃度値の最大値Ｄma
x よりも小さくて最小値Ｄmin よりも大きい値、例えば
Ｄmin＋（Ｄmax−Ｄmin）・１／３を閾値とし、この閾
値と濃度値との比較に基づき、上記各ピンについてそれ
ぞれ上下両エッジ点を直線状補間によりサブピクセル単
位で算出し、その中点の座標を各ピンの中心点ｅ１，ｅ
２の位置として求める（図１６（ｂ）参照）。

【００７２】ステップＳ１０６では、図１６（ｂ）中に
示すような各ピンの左側エッジ点ｆ１，ｆ２を算出す
る。具体的には、上記プロフィール測定ラインＬＡ１と
直交し、かつ上記中心点ｅ１，ｅ２を通る直線ＬＥ１，
ＬＥ２の方程式を求め、その直線ＬＥ１，ＬＥ２上でＸ
座標が各ピンの中心点ｅ１，ｅ２のＸ座標よりもチップ
部品横方向長さの１／４だけ小さい点及び大きい点を始
点及び終点としてプロフィールをとる。そして、このプ
ロフィールにおける濃度値の最大値Ｄmax よりも小さく
て最小値Ｄmin よりも大きい値を閾値とし、この閾値と
濃度値との比較に基づき、直線状補間を用いて上記各ピ
ンの左側エッジ点ｆ１，ｆ２の座標をサブピクセル単位
で求める。この際、画面上のピンが小さい場合に、部品
重心位置及び傾きの演算のためのデータ数を増加させて
精度を高めるため、上記閾値を複数種類設定し、例えば
Ｄmin＋（Ｄmax−Ｄmin）・１／３，Ｄmin＋（Ｄmax−
Ｄmin）・１／２，Ｄmin＋（Ｄmax−Ｄmin）・２／３の
３種類の閾値を設定して、それぞれにつき各ピンの左側
エッジ座標を求めることが好ましい。

【００７３】ステップＳ１０７では、左辺ピン列の中心
点ｇ１の位置を計算する。具体的には、上記各ピンの左
側エッジ点ｆ１，ｆ２の座標からこれらの中心点ｇ１の
座標を求め、この際、上記のように各ピンの左側エッジ
点ｆ１，ｆ２が３種類の閾値についてそれぞれ求められ
ている場合は、その３種類についてそれぞれ中心点ｇ１
の座標を求める。

【００７４】また、ステップＳ１０８〜Ｓ１１１では、
ステップＳ１０４〜Ｓ１０７と同様の処理により、右辺
側の上下のコーナー候補点ＮＥ２，ＳＥ１を通るプロフ
ィール測定ラインＬＡ２に沿ったプロフィールをとり、
このプロフィールから右辺各ピンの中心点ｅ３，ｅ４を
計算し、これらの中心点ｅ３，ｅ４に対応した右辺各ピ
ンの右側エッジ点ｆ３，ｆ４を検出し、これらのエッジ
点ｆ３，ｆ４に基づいて右辺ピン列の中心点ｇ２を計算
する。

【００７５】ステップＳ１１２では、チップ部品の重心
位置ｗ及び傾きを算出する。具体的には、左辺ピン列の
中心点ｇ１と右辺ピン列の中心点ｇ２とからこれらの中
点を求めるとともに、両ピン列の中心点ｇ１，ｇ２を通
る直線ＬＧの方程式からその傾きを求め、これらをチッ
プ部品の重心ｗ及び傾きとする。この際、左辺ピン列の
中心点ｇ１と右辺ピン列の中心点ｇ２とがそれぞれ上記
のように３種類求められている場合は、その３種類の各
々につき中点を求めてこれらを平均したものを重心ｗと
し、また、３種類の各々につき両ピン列の中心点ｇ１，
ｇ２を通る直線ＬＧの傾きを求めてその平均値をチップ
部品の傾きとする。

【００７６】［電極上下配置の場合の処理］ステップＳ
１１３〜Ｓ１１６では、上辺側の左右のコーナー候補点
を通るプロフィール測定ラインに沿ったプロフィールを
とり、このプロフィールから上辺各ピンの中心点を計算
し、これらの中心点に対応した上辺各ピンの上側エッジ
点を検出し、これらのエッジ点に基づいて上辺ピン列の
中心点を計算する。また、ステップＳ１１７〜Ｓ１２０
では、下辺側の左右のコーナー候補点を通るプロフィー
ル測定ラインに沿ったプロフィールをとり、このプロフ
ィールから下辺各ピンの中心点を計算し、これらの中心
点に対応した下辺各ピンの下側エッジ点を検出し、これ
らのエッジ点に基づいて下辺ピン列の中心点を計算す
る。そして、ステップＳ１２１では、上記上辺ピン列の
中心点と下辺ピン列の中心点とに基づいてチップ部品の
重心位置及び傾きを算出する。これらステップＳ１１３
〜Ｓ１２１の処理は、電極左右配置の場合の処理におけ
る左辺を上辺に、右辺を下辺に置き換えれば、上記ステ
ップＳ１０４〜Ｓ１１２と同様である。

【００７７】以上のような認識方法第３例によると、斜
め方向の走査により左右もしくは上下の側辺部における
両端のピンのコーナー部が容易に、かつ確実に検出さ
れ、これに基づいて、ピン列を横切る方向のプロフィー
ル測定ラインＬＡ１，ＬＡ２が適正に定められ、プロフ
ィール測定ラインＬＡ１，ＬＡ２にばらつきを生じるこ
とがなくてプロフィール測定の精度が高められる。そし
て、このプロフィール測定ラインＬＡ１，ＬＡ２に沿っ
たプロフィールからこのライン上における各ピンの中心
点が求められ、さらに各ピンのエッジ点、ピン列中心点
が順次求められ、両側ピン列中心点からチップ部品の重
心及び傾きが算出される。こうして、ミニトランジスタ
２Ｄ等のチップ部品の重心及び傾きが精度良く求められ
る。

【００７８】(4) 認識方法第４例 図１７及び図１８は、少なくとも一側辺部に複数のピン
を有するチップ部品を認識対象とし、とくに上記パワー
トランジスタ２Ｅ等の、片側の側辺部と反対側の側辺部
とでピンの個数、配置が異なるチップ部品を認識対象と
する場合に適する認識方法第３例をフローチャートで示
しており、この方法を、図１９を参照しつつ説明する。

【００７９】先ずステップＳ２０１では、上記第１例に
おけるステップＳ１と同様にしてコーナー部検出のため
の閾値を設定する。

【００８０】それから、コーナー部を検出し、これに基
づいてチップ部品の重心位置及び傾きを求める処理を行
うが、本例では、これらの処理に先立って、電極が左右
に配置されているか上下に配置されているかを判定し
（ステップＳ２０２）、電極が左右に配置されている場
合は左右両辺うちのいずれの側のピン数が多いかを判定
し（ステップＳ２０３）、電極が上下に配置されている
場合は上下両辺うちのいずれの側のピン数が多いかを判
定する（ステップＳ２０４）。そして、電極が左右配置
で左辺側のピン数が多い場合には、ステップＳ２０５の
コーナー部検出処理及びそれに基づくステップＳ１０６
〜Ｓ２１２の各処理を行い、電極が左右配置で右辺側の
ピン数が多い場合には、ステップＳ２１３のコーナー部
検出処理及びそれに基づくステップＳ２１４〜Ｓ２２０
の各処理を行う。また、電極が上下配置で上辺側のピン
数が多い場合には、ステップＳ２２１のコーナー部検出
処理及びそれに基づくステップＳ２２２〜Ｓ２２８の各
処理を行い、電極が上下配置で下辺側のピン数が多い場
合には、ステップＳ２２９のコーナー部検出処理及びそ
れに基づくステップＳ２３０〜Ｓ２３６の各処理を行
う。

【００８１】［電極左右配置で左辺側のピン数が多い場
合の処理］ステップＳ２０５では、コーナー部検出の処
理として、図１９（ａ）に示すように、Ｘ軸，Ｙ軸に対
して４５°傾斜した走査線Ｌｓによる走査で、左辺のピ
ン列の上下両端のピンの外側コーナー部を検出し、これ
らのコーナー部の各コーナー候補点ＮＷ１，ＮＷ２，Ｓ
Ｗ１，ＳＷ２を求める。

【００８２】次にステップＳ２０６では、左辺部分につ
いて、上記コーナー部検出に基づいて設定したプロフィ
ール測定ラインＬＡに沿って濃度値のプロフィールをと
る。つまり、プロフィール測定ラインＬＡが上下のコー
ナー候補点ＮＷ１，ＳＷ２を通るように、その始点ＳＴ
及び終点ＥＮの座標を前記の(1)〜(4)式により設定し
（図１９（ａ）参照）、このラインＬＡに沿ったプロフ
ィールをとる。

【００８３】ステップＳ２０７では、上記プロフィール
に基づいて、左辺の各ピンの中心点ｈ１，ｈ２，ｈ３の
位置を計算する。具体的には、上記プロフィールにおけ
る濃度値の最大値Ｄmax よりも小さくて最小値Ｄmin よ
りも大きい値、例えばＤmin＋（Ｄmax−Ｄmin）・１／
３を閾値とし、この閾値と濃度値との比較に基づき、上
記各ピンについてそれぞれ上下両エッジを直線状補間に
よりサブピクセル単位で求め、その中点の座標を各ピン
の中心点ｈ１，ｈ２，ｈ３の位置として求める（図１９
（ｂ）参照）。

【００８４】ステップＳ２０８では、図１９（ｂ）中に
示すような各ピンの左側エッジ点ｉ１，ｉ２，ｉ３を算
出する。具体的には、上記プロフィール測定ラインＬＡ
と直交し、かつ上記中心点ｈ１，ｈ２，ｈ３を通る直線
ＬＨ１，ＬＨ２，ＬＨ３の方程式を求め、その直線ＬＨ
１，ＬＨ２，ＬＨ３上でＸ座標が各ピンの中心点ｈ１，
ｈ２，ｈ３のＸ座標よりもチップ部品横方向長さの１／
２だけ小さい点及び大きい点を始点及び終点としたライ
ン上でプロフィールをとる。そして、このプロフィール
における濃度値の最大値Ｄmax よりも小さくて最小値Ｄ
min よりも大きい値、例えばＤmin＋（Ｄmax−Ｄmin）
・１／２を閾値とし、この閾値と濃度値との比較に基づ
き、上記各ピンの左側エッジ点ｉ１，ｉ２，ｉ３を、直
線状補間を用いてサブピクセル単位で算出する。

【００８５】ステップＳ２０９では、上記各ピンの左側
エッジ点ｉ１，ｉ２，ｉ３の配置に基づき、チップ部品
の傾きを算出する。具体的には、上記各エッジ点ｉ１，
ｉ２，ｉ３のうちの２点の組合せの全て（図１８に示す
例ではｉ１とｉ２、ｉ１とｉ３、ｉ２とｉ３の各組合
せ）についてそれぞれ、２点を通る直線に直交する直線
の傾きを求め、これを平均した値をチップ部品の傾きと
する。

【００８６】ステップＳ２１０では、上記各左側エッジ
点ｉ１，ｉ２，ｉ３に基づいて左辺ピン列の中心点ｊ１
を計算し、つまり、これらのエッジ点ｉ１，ｉ２，ｉ３
の座標の中心（平均値）をピン列の中心点ｊ１の座標と
する。

【００８７】ステップＳ２１１では、上記傾きと上記左
辺ピン列の中心点ｊ１とから求められる中心線の方向の
プロフィールに基づいて右辺のピンの右側エッジ点ｊ２
を検出する（図１９（ｃ）参照）。具体的には、左辺の
ピン列の中心点ｊ１を通り、傾きが上記チップ部品の傾
きと等しい直線（中心線）ＬＪの方程式を求め、その直
線ＬＪ上でＸ座標が左辺ピン列の中心点ｊ１のＸ座標よ
りもチップ部品横方向長さの３／２だけ大きい点を始点
ＳＴ、左辺ピン列の中心点ｊ１を終点ＥＮとしてプロフ
ィールをとる。そして、このプロフィールにおける濃度
値の最大値Ｄmax よりも小さくて最小値Ｄmin よりも大
きい値、例えばＤmin＋（Ｄmax−Ｄmin）・１／２を閾
値とし、この閾値と濃度値との比較に基づき、上記直線
上における右辺ピンの右側エッジ点ｊ２を直線状補間に
よりサブピクセル単位で求める。

【００８８】ステップＳ２１２では、上記ステップＳ２
１０で求めた左辺ピン列の中心点ｊ１と上記ステップＳ
２１１で求めた右辺ピンの右側エッジ点ｊ２との中点
を、チップ部品の重心ｗとして算出する。

【００８９】［電極左右配置で右辺側のピン数が多い場
合の処理］ステップＳ２１３では、斜め４５°の走査
で、右辺のピン列の上下両端のピンの外側コーナー部を
検出し、ステップＳ２１４では上記コーナー部検出に基
づいて右辺側のプロフィールをとり、ステップＳ２１５
では上記プロフィールから右辺各ピンの中心点の位置を
計算し、ステップＳ２１６では上記各中心点に対応した
各ピンの右側エッジ点の位置を検出する。さらに、ステ
ップＳ２１７では上記各右側エッジ点の配置からチップ
部品の傾きを算出し、ステップＳ２１８では上記各右側
エッジ点から右辺ピン列の中心点の位置を計算し、ステ
ップＳ２１９では左辺のピンの左側エッジ点を検出し、
ステップＳ２２０では上記右辺ピン列の中心点と左辺の
ピンの左側エッジ点とからチップ部品の重心の位置を算
出する。

【００９０】これらステップＳ２１３〜Ｓ２２０の処理
は、左辺側のピン数が多い場合の処理における左辺、右
辺を置き換えれば、上記ステップＳ２０５〜Ｓ２１２と
同様である。

【００９１】［電極上下配置で上辺側のピン数が多い場
合の処理］ステップＳ２２１では、斜め４５°の走査
で、上辺のピン列の左右両端のピンの外側コーナー部を
検出し、ステップＳ２２２では上記コーナー部検出に基
づいて上辺側のプロフィールをとり、ステップＳ２２３
では上記プロフィールから上辺各ピンの中心点の位置を
計算し、ステップＳ２２４では上記各中心点に対応した
各ピンの上側エッジ点の位置を検出する。さらに、ステ
ップＳ２２５では上記各上側エッジ点の配置からチップ
部品の傾きを算出し、ステップＳ２２６では上記各上側
エッジ点から上辺ピン列の中心点の位置を計算し、ステ
ップＳ２２７では下辺のピンの下側エッジ点を検出し、
ステップＳ２２８では上記上辺ピン列の中心点と下辺の
ピンの下側エッジ点とからチップ部品の重心の位置を算
出する。

【００９２】これらステップＳ２２１〜Ｓ２２８の処理
は、電極左右配置で左辺側のピン数が多い場合の処理に
おける左辺を上辺に、右辺を下辺に置き換えれば、上記
ステップＳ２０５〜Ｓ２１２と同様である。

【００９３】［電極上下配置で下辺側のピン数が多い場
合の処理］ステップＳ２２９では、斜め４５°の走査
で、下辺のピン列の左右両端のピンの外側コーナー部を
検出し、ステップＳ２３０では上記コーナー部検出に基
づいて下辺側のプロフィールをとり、ステップＳ２３１
では上記プロフィールから下辺各ピンの中心点の位置を
計算し、ステップＳ２３２では上記各中心点に対応した
各ピンの下側エッジ点の位置を検出する。さらに、ステ
ップＳ２３３では上記各下側エッジ点の配置からチップ
部品の傾きを算出し、ステップＳ２３４では上記各下側
エッジ点から下辺ピン列の中心点の位置を計算し、ステ
ップＳ２３５では上辺のピンの上側エッジ点を検出し、
ステップＳ２３６では上記下辺ピン列の中心点と上辺の
ピンの上側エッジ点とからチップ部品の重心の位置を算
出する。

【００９４】これらステップＳ２２９〜Ｓ２３６の処理
は、電極左右配置で左辺側のピン数が多い場合の処理に
おける左辺を下辺に、右辺を上辺に置き換えれば、上記
ステップＳ２０５〜Ｓ２１２と同様である。

【００９５】以上のような認識方法第４例によると、斜
め方向の走査によりピン数の多い側辺部における両端の
ピンのコーナー部が容易に、かつ確実に検出され、これ
に基づいて、この側辺部のピン列を横切る方向のプロフ
ィール測定ラインＬＡが適正に定められ、プロフィール
測定ラインにばらつきを生じることがなくてプロフィー
ル測定の精度が高められる。そして、このプロフィール
測定ラインに沿ったプロフィールからこのライン上にお
ける各ピンの中心点が求められ、さらに各ピンのエッジ
点が求められ、これらのエッジ点の配置からチップ部品
の傾きが求められるとともに、この側辺部エッジ側にお
けるピン列中心点、中心線上の反対側の側辺部のエッジ
点、チップ部品の重心が順次求められる。こうして、パ
ワートランジスタ２ｅ等のチップ部品の重心及び傾きが
精度良く求められることとなる。

【００９６】(5)その他 コーナー部の判別の他の例 上記各具体例に示すような認識方法の中で、斜め４５°
の走査でコーナー部の検出を行う処理として、前述の図
１０に示す例では、対象画素の濃度が閾値以上で、か
つ、これより中心側の画素の濃度も閾値以上であること
をコーナー候補点の条件としているが、大きいノイズが
存在する場合等の誤判定を確実に防止するため、次に述
べるような追跡を用いた手法でコーナー候補点を判別す
ることがより一層好ましい。

【００９７】この手法を、図２０に示すようなチップ部
品２０のピン２０１，２０２のコーナー候補点ＮＷ，Ｎ
Ｅ，ＳＷ，ＳＥを判別する場合を例にとって説明する。

【００９８】ピン２０１の左上コーナー部を検出する場
合、斜め４５°の走査で判別対象点（濃度が閾値を越え
る画素）が見つかると、先ず第１条件として、図２１に
示すような対象点の周囲の各画素（右上から反時計回り
に順に「１」「２」「３」「４」「５」「６」「７」
「０」とする）のうちで「２」「３」「４」の画素の濃
度値が閾値以下であることを調べる。この条件が成立す
ると、次に上記対象点を起点として上辺部の追跡を行
う。具体的には、その右側の「１」「０」「７」の３画
素をこの順に調べ、濃度が閾値を越えていればその画素
に起点を移して再びその右側の３画素を調べ、このよう
な追跡処理を、上記３画素（「１」「０」「７」）の濃
度がすべて閾値以下となるまで繰り返す。従って、上記
判別対象点が正しいコーナー候補点ＮＷであれば、この
対象点からピン２０１の上辺部右端まで追跡が行われる
こととなる。

【００９９】そして、判別の第２条件として、この追跡
の繰り返し回数とライブラリデータで与えられるピン幅
相当値とを比較して両者の偏差が所定の許容範囲にある
という条件が成立するか否かを調べ、これが成立すれ
ば、上記判別対象点をコーナー候補点ＮＷとする。な
お、上記第１条件が成立しないときや、第１条件が成立
しても上記第２条件が成立しないときには、上記斜め４
５°の走査を引き続き行って、他の判別対象点を探す。

【０１００】また、ピン２０１の右上コーナー部を検出
する場合には、判別対象点の周囲の各画素のうちで
「０」「１」「２」の画素の濃度値が閾値以下であるこ
とを第１条件とし、この条件が成立すると、起点の左側
の「３」「４」「５」の３画素をこの順に調べるように
して、その３画素の濃度が閾値以下となるまで追跡を繰
り返す。ピン２０２の左下コーナー部を検出する場合に
は、判別対象点の周囲の各画素のうちで「４」「５」
「６」の画素の濃度値が閾値以下であることを第１条件
とし、この条件が成立すると、起点の右側の「７」
「０」「１」の３画素をこの順に調べるようにして、そ
の３画素の濃度が閾値以下となるまで追跡を繰り返す。
ピン２０２の右下コーナー部を検出する場合には、判別
対象点の周囲の各画素のうちで「６」「７」「０」の画
素の濃度値が閾値以下であることを第１条件とし、この
条件が成立すると、起点の左側の「５」「４」「３」の
３画素をこの順に調べるようにして、その３画素の濃度
が閾値以下となるまで追跡を繰り返す。

【０１０１】そして、これら右上コーナー部、左下コー
ナー部、右下コーナー部の各場合でも、追跡の繰り返し
回数とピン幅相当値との偏差が所定の許容範囲にあれ
ば、判別対象点をコーナー候補点ＮＥ，ＳＷ，ＳＥとす
る。

【０１０２】このようなコーナー部判別の手法による
と、仮に判別対象点がノイズであった場合には、上記繰
り返し回数がピン幅相当値より小さくて上記偏差が許容
範囲外となるので、ノイズによる誤判定を確実に防止す
ることができる。また、仮に判別対象点が上記チップ部
品２０の本体２００のコーナー部ＮＷ′，ＮＥ′，Ｓ
Ｗ′，ＳＥ′であった場合には上記繰り返し回数が大き
くなることで上記偏差が許容範囲外にとなるため、図２
０に示すような部品２０でもピン２０１，２０２のコー
ナー部と本体２００のコーナー部とを混同することがな
く、正確にコーナー部の判別を行うことができる。

【０１０３】プロフィールに基づくエッジ点計算の手
法の他の例 上記認識方法の各具体例の中には、プロフィールに基づ
きエッジ点を補間によりサブピクセル単位で計算する処
理があり、この処理として、具体例の説明の中では一次
元補間（図１２及び前記の(5)式参照）を行っているが、
計算の精度を高めるため、次に説明するような二次元的
な補間を行うことがより一層望ましい。本例の二次元的
な補間の手法を、図２２のようなｙ＝ａｘ＋ｂ（ａ＜
１）で表される直線上でプロフィールをとって最初に閾
値を超える点の座標を求める場合について説明する。

【０１０４】先ず、プロフィール段階においてｘ座標が
整数値の各点の濃度値を求めて行く場合に、一次元的手
法によるとｙ方向の補間を行わない値（ｘ座標に対する
値に最も近い整数値のｙ座標の位置の濃度値、図２２中
の黒丸印の濃度値）が順に一次元配列に格納されるが、
本例の手法では、ｙ座標の値を少数（図２２中の×印）
で考える。そして、位置ｘ₀での濃度値Ｆ（ｘ₀）を

【０１０５】

【数６】Ｆ（ｘ₀）＝Ｆ（ｘ₀，〔ａｘ₀＋ｂ〕）｛１−
（ａｘ₀−〔ａｘ₀〕）｝＋Ｆ（ｘ₀，〔ａｘ₀＋ｂ〕＋
１）（ａｘ₀−〔ａｘ₀〕） として、順に一次元配列に格納する。ただし、この式に
おいて、〔ａｘ₀＋ｂ〕、〔ａｘ₀〕はそれぞれａｘ₀＋
ｂ、ａｘ₀の値を超えない最大の整数を表す。また、Ｆ
（ｘ₀，〔ａｘ₀＋ｂ〕）、Ｆ（ｘ₀，〔ａｘ₀＋ｂ〕＋
１）はそれぞれ（ｘ₀，〔ａｘ₀＋ｂ〕）、（ｘ₀，〔ａ
ｘ₀＋ｂ〕＋１）の各座標位置の画素の濃度値である。

【０１０６】次に、この一次元配列を順に見てゆき、ｉ
番目の要素ｄ_iで始めて閾値θを超えたとすると、その
座標（ｘ₁，ｙ₁）を次のように求める。

【０１０７】

【数７】ｘ₁＝ｘ_s＋ｉ−（ｄ_i−θ）／（ｄ_i−ｄ_i-1） y₁＝aｘ₁＋ｂ ただし、ｘ_sはプロフィールの始点のｘ座標である。

【０１０８】このように本例の手法では、プロフィール
段階での補間を含めた二次元的な補間を行っているの
で、プロフィールからエッジ点をサブピクセル単位で求
める処理を、より高精度に行うことができる。

【０１０９】プロフィール測定ラインの始点、終点の
設定の仕方の他の例 認識方法第１例におけるステップＳ４，Ｓ６，のＳ１
６，Ｓ１８処理でのプロフィール測定ラインの測定ライ
ンの始点、終点の設定の仕方としては、前記の(1)〜(4)
式に代えて

【０１１０】

【数８】Ｘｓ＝ＮＷ２ｘ−（ＳＷ１ｘ−ＮＷ２ｘ）＋ｏ
ｆｆｓｅｔ Ｙｓ＝ＮＷ２ｙ−（ＳＷ１ｙ−ＮＷ２ｙ） Ｘｅ＝ＳＷ１ｘ＋（ＳＷ１ｘ−ＮＷ２ｘ）＋ｏｆｆｓｅ
ｔ Ｙｅ＝ＳＷ１ｙ＋（ＳＷ１ｙ−ＮＷ２ｙ） とし、前記の(6)〜(9)式に代えて

【０１１１】

【数９】Ｘｓ＝ＮＥ１ｘ−（ＳＥ２ｘ−ＮＥ１ｘ）−ｏ
ｆｆｓｅｔ Ｙｓ＝ＮＥ１ｙ−（ＳＥ２ｙ−ＮＥ１ｙ） Ｘｅ＝ＳＥ２ｘ＋（ＳＥ２ｘ−ＮＥ１ｘ）−ｏｆｆｓｅ
ｔ Ｙｅ＝ＳＥ２ｙ＋（ＳＥ２ｙ−ＮＥ１ｙ） とし、前記の(10)〜(13)式に代えて

【０１１２】

【数１０】Ｘｓ＝ＮＷ１ｘ−（ＮＥ２ｘ−ＮＷ２ｘ） Ｙｓ＝ＮＷ１ｙ−（ＮＥ２ｙ−ＮＷ１ｙ）＋ｏｆｆｓｅ
ｔ Ｘｅ＝ＮＥ２ｘ＋（ＮＥ２ｘ−ＮＷ１ｘ） Ｙｅ＝ＮＥ２ｙ＋（ＮＥ２ｙ−ＮＷ１ｙ）＋ｏｆｆｓｅ
ｔ とし、前記の(14)〜(17)式に代えて

【０１１３】

【数１１】Ｘｓ＝ＳＷ２ｘ−（ＳＥ１ｘ−ＳＷ２ｘ） Ｙｓ＝ＳＷ２ｙ−（ＳＥ１ｙ−ＳＷ２ｙ）−ｏｆｆｓｅ
ｔ Ｘｅ＝ＳＥ１ｘ＋（ＳＥ１ｘ−ＳＷ２ｘ） Ｙｅ＝ＳＥ１ｙ＋（ＳＥ１ｙ−ＳＷ２ｙ）−ｏｆｆｓｅ
ｔ としてもよい。ただし、ｏｆｆｓｅｔはライブラリデー
タに登録されている値である。

【０１１４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、チップ
部品の画像を表した上記処理ウインド内を走査する走査
線を、処理ウインドのＸ軸方向及びＹ軸方向に対して傾
斜した方向に設定し、とくに望ましくは４５°に設定
し、この走査線を平行移動させつつ走査線に沿った斜め
方向の走査を行うことによりチップ部品のコーナー部を
検出し、その検出データに基づいてチップ部品の位置及
び傾きを求めるようにしている。このため、チップ部品
の画像が小さい場合でも、上記コーナー部を容易に、か
つ確実に検出することができ、それに基づいてチップ部
品の位置及び傾きを精度良く求めることができる。

【０１１５】この方法において、画像が長方形もしくは
これに準じる形状となるチップ部品を認識対象とする場
合は、斜め方向の走査によるコーナー部の検出をチップ
部品の４つのコーナー部について順次行ない、その検出
データに基づいて設定した側辺部プロフィール測定ライ
ンに沿う濃度値のプロフィールから両側辺部におけるチ
ップ部品の中心点を求め、この２つの側辺部中心点を通
る中心線上の両側エッジ点の中点及び上記中心線の傾き
とを、チップ部品の重心及び傾きとして求めるようにす
ることにより、この種のチップ部品の位置及び傾きを精
度良く求めることができる。あるいは、上記側辺部プロ
フィール測定ラインと交差して特定点を通る２本の直線
を設定して、各直線上の両側エッジ点の中点を求め、そ
の中点に基づき、チップ部品の重心及び傾きとして求め
るようにすることによっても、精度を高めることができ
る。

【０１１６】また、両側辺部に複数のピンを有するチッ
プ部品を認識対象とする場合は、斜め方向の走査による
コーナー部の検出をチップ部品の両側辺部におけるピン
列の両端の外側コーナー部について行い、その検出デー
タに基づいて設定したプロフィール測定ラインに沿う濃
度値のプロフィールから両側辺部における各ピンの中心
点の位置を求め、この各ピンの中心点に対応する各ピン
のエッジ点をもとめ、これらのエッジ点に基づいて両側
辺部におけるピン列の中心を求め、この２つのピン列中
心の中点とこの２つのピン列中心を結ぶ直線の傾きと
を、チップ部品の重心及び傾きとして求めるようにする
ことにより、この種のチップ部品の位置及び傾きを精度
良く求めることができる。

【０１１７】また、少なくとも一側辺部に複数のピンを
有するチップ部品を認識対象とする場合は、斜め方向の
走査によるコーナー部の検出をチップ部品の一側辺部に
おけるピン列の両端の外側コーナー部について行い、そ
の検出データに基づいて設定したプロフィール測定ライ
ンに沿う濃度値のプロフィールから一側辺部における各
ピンの中心点の位置を求め、これに対応する各ピンのエ
ッジ点の位置を求め、これらのエッジ点に基づいて、チ
ップ部品の傾きを求めるとともに、一側辺部側のエッジ
におけるピン列の中心点とこれに対応する他側辺部側の
エッジ点を求め、チップ部品の重心を求めるようにする
ことにより、この種のチップ部品の位置及び傾きを精度
良く求めることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のチップ部品の認識装置の一実施例を示
す概略図である。

【図２】（ａ）はチップ部品の具体例であるチップ抵抗
の斜視図であり、（ｂ）はこのチップ抵抗の画像を示す
図である。

【図３】チップ部品の具体例としてのタンタルコンデン
サの画像を示す図である。

【図４】チップ部品の具体例としてのアルミコンデンサ
の画像を示す図である。

【図５】（ａ）はチップ部品の具体例であるミニトラン
ジスタの斜視図であり、（ｂ）はこのミニトランジスタ
の画像を示す図である。

【図６】チップ部品の具体例としてのパワートランジス
タの画像を示す図である。

【図７】認識方法第１例を示すフローチャートである。

【図８】処理ウインドを示す説明図である。

【図９】処理ウインド内を斜め方向に走査する手法の具
体例を示す説明図である。

【図１０】コーナー部の検出の仕方の具体例を示す説明
図である。

【図１１】（ａ）（ｂ）（ｃ）は上記認識方法第１例で
順次行われる処理を示す説明図である。

【図１２】濃度値のプロフィールおよびサブピクセル化
の仕方を示す説明図である。

【図１３】上記認識方法第１例において電極上下配置の
場合のプロフィール測定ラインを示す説明図である。

【図１４】認識方法第２例の概略を示す説明図である。

【図１５】認識方法第３例を示すフローチャートであ
る。

【図１６】（ａ）（ｂ）は上記認識方法第３例で順次行
われる処理を示す説明図である。

【図１７】認識方法第４例を示すフローチャートの一部
分である。

【図１８】認識方法第４例を示すフローチャートの他の
部分である。

【図１９】（ａ）（ｂ）（ｃ）は上記認識方法第４例で
順次行われる処理を示す説明図である。

【図２０】コーナー部の判別の他の例を示す説明図であ
る。

【図２１】図２０に示す例において用いる追跡の仕方を
示す説明図である。

【図２２】プロフィールに基づくエッジ点計算の手法の
他の例を示す説明図である。

【符号の説明】

１ 部品装着用ヘッド ２ チップ部品 ３ カメラ １０ 画像処理ユニット １２ 画像メモリ １３ 処理手段 １４ コーナー部検出手段 １５ 演算手段

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｔ 7/00 Ｈ０５Ｋ 13/08 Ｂ 8315−4Ｅ

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 実装機の部品装着用ヘッドに吸着された
   チップ部品を撮像した後、その画像を処理ウインド内に
   表わし、この処理ウインド内の走査に基づき、チップ部
   品の位置及び傾きを求めるチップ部品の認識方法であっ
   て、上記処理ウインド内を走査する走査線を、処理ウイ
   ンドのＸ軸方向及びＹ軸方向に対して傾斜した方向に設
   定し、この走査線を平行移動させつつ走査線上の画像デ
   ータを判別して、上記走査線がチップ部品のコーナー部
   を横切ったときにその位置を検出することによりチップ
   部品のコーナー部を検出し、このコーナー部の検出デー
   タに基づき、チップ部品の位置及び傾きを求めることを
   特徴とするチップ部品の認識方法。
2. 【請求項２】 上記走査線をＸ軸方向及びＹ軸方向に対
   して４５°に設定したことを特徴とする請求項１記載の
   チップ部品の認識方法。
3. 【請求項３】 画像が長方形もしくはこれに準じる形状
   となるチップ部品を認識対象とし、上記コーナー部の検
   出をチップ部品の４つのコーナー部について順次行なう
   ようにし、チップ部品の位置及び傾きを求める処理とし
   ては、チップ部品の一側辺部とこれとは反対側の側辺部
   とにおいてそれぞれ、コーナー部の検出データに基づい
   て設定した側辺部プロフィール測定ラインに沿って濃度
   値のプロフィールをとり、このプロフィールからチップ
   部品の両側辺部における中心点を求める処理と、この２
   つの側辺部中心点を通る中心線を求めるとともに、この
   中心線上の濃度値のプロフィールからこの中心線上にお
   けるチップ部品の両側エッジ点を求め、この両側エッジ
   点の中点と上記中心線の傾きとを、チップ部品の重心及
   び傾きとして求める処理とを行うことを特徴とする請求
   項１または２記載のチップ部品の認識方法。
4. 【請求項４】 画像が長方形もしくはこれに準じる形状
   となるチップ部品を認識対象とし、上記コーナー部の検
   出をチップ部品の４つのコーナー部について順次行なう
   ようにし、チップ部品の位置及び傾きを求める処理とし
   ては、チップ部品の一側辺部とこれとは反対側の側辺部
   とにおいてそれぞれ、コーナー部の検出データに基づい
   て設定した側辺部プロフィール測定ラインに沿って濃度
   値のプロフィールをとり、このプロフィールから上記各
   側辺部プロフィール測定ライン上でそれぞれ部品側辺部
   中心点より両側に所定量だけオフセットした２点ずつの
   特定点を求める処理と、上記各側辺部プロフィール測定
   ラインと交差してそれぞれの１つずつの特定点を通る２
   本の直線を設定して、この各直線に沿ったプロフィール
   から各直線上の部品の両側エッジ点の中点を求め、この
   各中点に基づいてチップ部品の重心及び傾きを求めるこ
   とを特徴とする請求項１または２記載のチップ部品の認
   識方法。
5. 【請求項５】 両側辺部に複数のピンを有するチップ部
   品を認識対象とし、上記コーナー部の検出をチップ部品
   の両側辺部におけるピン列の両端の外側コーナー部につ
   いて行うようにし、チップ部品の位置及び傾きを求める
   処理としては、上記両側辺部においてそれぞれ、コーナ
   ー部の検出データに基づいて求めたピン列方向のプロフ
   ィール測定ラインに沿って濃度値のプロフィールをと
   り、このプロフィールから、このプロフィール測定ライ
   ン上の各ピンの中心点の位置を求める処理と、この各ピ
   ンの中心点に対応する各ピンのエッジ点の位置を求め、
   この各ピンのエッジ点に基づいて両側辺部におけるピン
   列の中心を求め、この２つのピン列中心の中点とこの２
   つのピン列中心を結ぶ直線の傾きとを、チップ部品の重
   心及び傾きとして求める処理とを行うことを特徴とする
   請求項１または２記載のチップ部品の認識方法。
6. 【請求項６】 少なくとも一側辺部に複数のピンを有す
   るチップ部品を認識対象とし、上記コーナー部の検出を
   チップ部品の上記一側辺部におけるピン列の両端の外側
   コーナー部について行うようにし、チップ部品の位置及
   び傾きを求める処理としては、コーナー部の検出データ
   に基づいて求めたピン列方向のプロフィール測定ライン
   上の濃度値のプロフィールから、一側辺部における上記
   プロフィール測定ライン上の各ピンの中心点の位置を求
   め、この各ピンの中心点に対応する各ピンのエッジ点の
   位置を求める処理と、この各ピンのエッジ点の配置に基
   づいてチップ部品の傾きを求める処理と、上記各ピンの
   エッジ点に基づいて一側辺部側のエッジにおけるピン列
   の中心を求め、この一側辺部のエッジにおけるピン列の
   中心と上記チップ部品の傾きとに基づいて求めた中心線
   上の濃度値のプロフィールから、この中心線上の他側辺
   部側のエッジ点を検出し、上記一側辺部のエッジにおけ
   るピン列の中心と上記中心線上の他側辺部側のエッジ点
   とからチップ部品の重心を求める処理とを行うことを特
   徴とする請求項１または２記載のチップ部品の認識方
   法。
7. 【請求項７】 実装機の部品装着用ヘッドに吸着された
   チップ部品を撮像する撮像手段と、この撮像手段により
   撮像されたチップ部品の画像を記憶する画像記憶手段
   と、この画像記憶手段から画像を読み出し、この画像を
   表す処理ウインド内を走査するとともにそれに基づく演
   算処理を行う処理手段とを備え、この処理手段は、上記
   処理ウインド内を走査する走査線を処理ウインドのＸ軸
   方向及びＹ軸方向に対して傾斜した方向に設定し、この
   走査線を平行移動させつつ走査線上の画像の濃度値を判
   別して、走査線がチップ部品のコーナー部を横切ること
   によって上記濃度値が変化した位置を検出するコーナー
   部検出手段と、このコーナー部の検出データに基づいて
   チップ部品の重心位置及び傾きを算出する演算手段とを
   有することを特徴とするチップ部品の認識装置。