JPH08178861A - 表面検査装置 - Google Patents

表面検査装置

Info

Publication number
JPH08178861A
JPH08178861A JP31955194A JP31955194A JPH08178861A JP H08178861 A JPH08178861 A JP H08178861A JP 31955194 A JP31955194 A JP 31955194A JP 31955194 A JP31955194 A JP 31955194A JP H08178861 A JPH08178861 A JP H08178861A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
calibration
inspection
inspection head
sample plate
calibration table
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP31955194A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3150552B2 (ja
Inventor
Tetsuo Furuta
哲夫 古田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP31955194A priority Critical patent/JP3150552B2/ja
Publication of JPH08178861A publication Critical patent/JPH08178861A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3150552B2 publication Critical patent/JP3150552B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 サンプル板と検査ヘッドとの間隔および角度
調整が簡単でしかも高精度に行えるようにする。 【構成】 軌道に沿って走行する台車9に検査ヘッド5
を搭載し、台車9により検査ヘッド5を移動してオンラ
イン検査位置とオフライン校正位置とにセットする表面
検査装置において、台車9に可動支持機構10を介して
取り付けられ、校正用のサンプル板4を装着するための
校正台6と、可動支持機構10を駆動して校正台6を測
定位置と退避位置とにセットする第1の駆動機構11
と、可動支持機構10と校正台6との間に介在し、測定
位置にセットされた校正台6を変位させて検査ヘッド5
に対する間隔および角度を変化させる変位機構と、この
変位機構を駆動する第2の駆動機構12と13を設け
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、鉄・アルミニウム・
紙・フィルム等の長尺シート物の製造プラントにおいて
シート物の表面欠陥を連続的に光電的に検査する表面検
査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】表面検査装置の原理的構成を図4に示し
ている。検査対象物である長尺シート物2が連続的に矢
印方向に送給される。このシート物2の片面に非接触状
態で対向するようにスキャナ1とレシーバ3が配設され
る。スキャナ1からは発せられるレーザ光がシート物2
の幅方向に走査され、シート物2の表面での反射回折光
がレシーバ3によって受光される。レシーバ3からはシ
ート物2の表面の走査ラインに沿った部位の反射レベル
に相当する電気信号が得られ、この信号から表面欠陥の
有無を弁別する。
【0003】このスキャナ1とレシーバ3を一体化した
ものが検査ヘッドであり、この検査ヘッドの投光光学系
および受光光学系を含む光学機器の精度を定期的に検定
する必要がある。つまり前記シート物に代って、既知の
欠陥を意図的に作ってあるサンプル板を検査対象として
測定を行い、検査ヘッドの特性をチェックする。この検
定のことを校正試験と呼んでいる。
【0004】具体的な表面検査装置は図5および図6に
示すように構成されており、校正試験は以下のように行
っている。軌道に沿って走行する台車9に検査ヘッド5
を搭載し、この台車9により検査ヘッド5を移動して、
検査対象シート物2に検査ヘッド5を対向させるオンラ
イン検査位置と、検査対象シート物2から検査ヘッド5
をシート物2の幅方向に引き離したオフライン校正位置
とにセットさせることができる。
【0005】オフライン校正位置には台車9とは別個の
校正台6が設置されている。そこに操作員がサンプル板
4を持っていき、校正台6にサンプル板4を取り付け
る。そうすると校正位置にセットした検査ヘッド5がサ
ンプル板4と対向する。検査ヘッド5によりサンプル板
4についての測定を行いながら、検査ヘッド5とサンプ
ル板4の間隔を変化させたり、検査ヘッド5に対するサ
ンプル板4の角度を変化させ、その変化に対する検査ヘ
ッド5の出力変化をチェックし、正常範囲内か否かを判
定する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】図5および図6に示し
た従来の表面検査装置では、校正台6にセットしたサン
プル板4を変位させて検査ヘッド5に対する間隔および
角度を変えるために、校正台6の可動部に設けたピン7
を抜き差しして調整と固定を繰り返さなければならず、
そのための作業時間が長くなってしまうという問題と、
サンプル板4の検査ヘッド5に対する間隔および角度の
精度を確保するのが難しいという問題があった。また、
検査対象シート物2と同様にサンプル板4をその面方向
に移動させて校正試験を行うのが望ましいが、従来この
試験を行うには搬送機構のついた別の校正装置を使用し
なければならなかった。
【0007】この発明は前述した従来の問題点に鑑みな
されたもので、その目的は、サンプル板と検査ヘッドと
の間隔および角度調整が簡単でしかも高精度に行え、ま
たサンプル板の面方向への搬送も簡単に行えるようにし
た表面検査装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】そこでこの発明では、軌
道に沿って走行する台車に検査ヘッドを搭載し、この台
車により検査ヘッドを移動して、検査対象物に検査ヘッ
ドを対向させるオンライン検査位置と、検査対象物から
検査ヘッドを引き離したオフライン校正位置とにセット
させる表面検査装置において、前記台車に可動支持機構
を介して取り付けられ、校正用のサンプル板を装着する
ための校正台と、前記可動支持機構を駆動して前記校正
台を前記検査ヘッドの正面に対向させる測定位置と前記
検査ヘッドの正面から退避させた退避位置とにセットす
る第1の駆動機構と、前記可動支持機構と前記校正台と
の間に介在し、前記測定位置にセットされた前記校正台
を変位させて前記検査ヘッドに対する間隔および角度を
変化させる変位機構と、この変位機構を駆動する第2の
駆動機構とを設けた。また、前記の校正台に装着した前
記サンプル板を校正台の表面に沿って移動させる搬送機
構を付設した。
【0009】
【作用】検査ヘッドが台車に搭載されているだけでな
く、前記の可動支持機構と変位機構を介して校正台も台
車に搭載されている。したがって、従来のように台車と
まったく別個に校正台を設けたものに比べて、検査ヘッ
ドと校正台との位置関係の精度は充分に高くなる。
【0010】校正試験を行うには、まず台車をオフライ
ン校正位置に移動し、つぎに第1の駆動機構で校正台を
測定位置に移動し、その校正台にサンプル板をセット
し、第2の駆動機構でサンプル板を変位させながら測定
を行う。必要に応じて搬送機構を動作させ、サンプル板
を面方向に搬送しながら測定を行う。
【0011】
【実施例】この発明の一実施例の概略構成を図1乃至図
3に示している。軌道に沿って走行する台車9に検査ヘ
ッド5が搭載されている点は従来と同じであり、従来の
構成を示す図5のように、台車9が移動してオンライン
検査位置とオフライン構成位置とをとる。この発明の特
徴の1つは、台車9に回転アーム10を介して校正台6
が取り付けられている点である。
【0012】回転アーム10の基部は検査ヘッド5のケ
ーシングの側面に回動自在に取り付けられており、この
部分にアーム10を矢印aのように往復回動させるアー
ム駆動モータ11が設けられている。この回転アーム1
0の先端部に校正台6が装着されている。通常は回転ア
ーム10は左回転した退避位置にあり、このとき校正台
6は検査ヘッド5の上方に位置し、ヘッド正面(図6の
右側面)から大きく離れている。この状態で台車9がオ
ンライン検査位置に移動すると、ヘッド正面に検査対象
シート物2が対向する(図5参照)。
【0013】台車9をオフライン校正位置に移動し、ア
ーム駆動モータ11により回転アーム10を右回転させ
て測定位置にセットすると、アーム先端の校正台6が検
査ヘッド5の正面に対向する。この状態で校正試験を行
う。
【0014】校正台6はアーム先端に固定的に取り付け
られているのではなく、モータ12により駆動されるネ
ジ送り機構によりアーム10の長手方向(矢印b)に変
位自在に取り付けられているとともに、モータ13によ
り駆動される回動機構により矢印c方向に回動自在に取
り付けられている。測定位置にある校正台6にサンプル
板4をセットし、このサンプル板4を検査ヘッド5に対
向させる。その状態でモータ12により前記ネジ送り機
構を適宜に駆動すると検査ヘッド5に対するサンプル板
4の間隔が変化する。またモータ13により前記回動機
構を適宜に駆動すると、検査ヘッド5に対するサンプル
板4の角度が変化する。
【0015】また、校正台6におけるサンプル板4の取
付面にはベルトコンベア14およびガイドローラ15か
らなる搬送機構が付設されている。ここにサンプル板4
をセットしてベルトコンベア14を駆動すると、サンプ
ル板4をその面方向に上下に移動させることができ、移
動させながら校正試験を行える。
【0016】
【発明の効果】この発明によれば、検査ヘッドとともに
校正台も台車に搭載し、この校正台を可動支持機構によ
り測定位置と退避位置とに移動できるように構成したの
で、検査ヘッドと校正台との位置関係がきわめて高精度
になり、したがってサンプル板を用いた校正試験を高精
度に行うことができる。また可動支持機構の作動と、校
正試験時の校正台の距離および角度調整用の変位機構の
作動をモータ等で行うようにしたので、校正試験時に係
員が行わなければならない操作がほとんど自動化され、
試験時間を短縮できる。さらに、校正台にベルトコンベ
アのような搬送機構を設けてサンプル板を面方向に移動
させながら校正試験を行えるように構成すれば、試験の
能率がさらに向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例による校正装置を備えた表
面検査装置の正面図である。
【図2】同上実施例装置の要部抽出図である。
【図3】同上実施例装置における校正台の詳細図であ
る。
【図4】表面検査装置の原理的構成を示す概略図であ
る。
【図5】従来の表面検査装置の平面図である。
【図6】同上従来装置における校正試験状態の正面図で
ある。
【符号の説明】
1…スキャナ、2…検査対象シート物、3…レシーバ、
4…サンプル板、5…検査ヘッド、6…校正台、7…ピ
ン、9…台車、10…回転アーム(可動支持機構)、1
1…アーム駆動モータ(第1の駆動機構)、12…距離
変更用モータ(第2の駆動機構)、13…角度変更用モ
ータ(第2の駆動機構)、14…ベルトコンベア(搬送
機構)、15…ガイドローラ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 軌道に沿って走行する台車に検査ヘッド
    を搭載し、この台車により検査ヘッドを移動して、検査
    対象物に検査ヘッドを対向させるオンライン検査位置
    と、検査対象物から検査ヘッドを引き離したオフライン
    校正位置とにセットさせる表面検査装置において、前記
    台車に可動支持機構を介して取り付けられ、校正用のサ
    ンプル板を装着するための校正台と、前記可動支持機構
    を駆動して前記校正台を前記検査ヘッドの正面に対向さ
    せる測定位置と前記検査ヘッドの正面から退避させた退
    避位置とにセットする第1の駆動機構と、前記可動支持
    機構と前記校正台との間に介在し、前記測定位置にセッ
    トされた前記校正台を変位させて前記検査ヘッドに対す
    る間隔および角度を変化させる変位機構と、この変位機
    構を駆動する第2の駆動機構とを備えたことを特徴とす
    る表面検査装置。
  2. 【請求項2】 前記校正台は、これに装着した前記サン
    プル板を校正台の表面に沿って移動させる搬送機構を備
    えていることを特徴とする請求項1に記載の表面検査装
    置。
JP31955194A 1994-12-22 1994-12-22 表面検査装置 Expired - Fee Related JP3150552B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31955194A JP3150552B2 (ja) 1994-12-22 1994-12-22 表面検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31955194A JP3150552B2 (ja) 1994-12-22 1994-12-22 表面検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08178861A true JPH08178861A (ja) 1996-07-12
JP3150552B2 JP3150552B2 (ja) 2001-03-26

Family

ID=18111526

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31955194A Expired - Fee Related JP3150552B2 (ja) 1994-12-22 1994-12-22 表面検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3150552B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013205378A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Nisshin Steel Co Ltd オフライン調整装置
CN111487251A (zh) * 2020-04-27 2020-08-04 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种aoi成像组件系统及其使用方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013205378A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Nisshin Steel Co Ltd オフライン調整装置
CN111487251A (zh) * 2020-04-27 2020-08-04 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种aoi成像组件系统及其使用方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3150552B2 (ja) 2001-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2608648C (en) On-line/off-line scoring bridge
CA1216513A (en) Method and arrangement for observing a position
FI58027B (fi) Ultraljudsanlaeggning
US4136949A (en) Method for optically measuring a distance
US5551906A (en) Caliper assembly for grinder
JP3707803B2 (ja) 平行に動作する2個のマニュプレータを有する位置決め装置及びその位置決め装置が設けられている光学リソグラフィック装置
CN212540183U (zh) 一种棒材表面缺陷在线检测系统
CN109590751B (zh) 一种制动盘制造系统
US7422042B2 (en) Method and apparatus for centering a log
JPH08178861A (ja) 表面検査装置
KR20210059938A (ko) 이송위치 정밀도가 개선된 와이어드럼 구동방식의 빌렛 표면 연마 장치
JP2001264042A (ja) 鉄道用輪軸の主要寸法測定装置
JP2000146564A (ja) 接触式管内径測定装置の精度確認装置
CN212903057U (zh) 一种侧边盖板装配尺寸检测设备
JP2000146506A (ja) 接触式管内径測定装置
CN211602893U (zh) 一种太阳能电池片成像检测装置
JP3190723B2 (ja) ローラ偏心量測定装置
JP2001059720A (ja) シート材検査装置
KR100341057B1 (ko) 코일원주면자동검사장치
JP4594643B2 (ja) 原木の芯出し処理方法及び原木の芯出し処理装置
CN218168903U (zh) 一种制管机定尺切台
KR102661269B1 (ko) 원단 비전검사장치
JP6057853B2 (ja) 切削装置
CN101293314B (zh) 单面焊接装置
JP2002350356A (ja) 疵検査装置用校正ロールの調整方法および疵検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees