JPH08178618A - 光学式センサ - Google Patents
光学式センサInfo
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- JPH08178618A JPH08178618A JP31861694A JP31861694A JPH08178618A JP H08178618 A JPH08178618 A JP H08178618A JP 31861694 A JP31861694 A JP 31861694A JP 31861694 A JP31861694 A JP 31861694A JP H08178618 A JPH08178618 A JP H08178618A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】受光素子の断線または出力低下、受光素子の断
線や劣化、汚れ、また、電流フィードバック回路の短絡
等の異常が発生した場合に、異常の発生及び異常の原因
及び箇所を検出できる光学式センサを提供する。 【構成】発光素子と、発光素子からの光を受光する受光
素子と、受光素子の出力信号レベルが常に一定レベルと
なるように発光素子への駆動電流を制御するフィードバ
ック手段を備えた光学式センサにおいて、受光素子の出
力信号レベルと基準信号レベルとを比較する比較手段か
らなり、比較手段の比較結果を異常検出結果として出力
する異常検出手段を備える。
線や劣化、汚れ、また、電流フィードバック回路の短絡
等の異常が発生した場合に、異常の発生及び異常の原因
及び箇所を検出できる光学式センサを提供する。 【構成】発光素子と、発光素子からの光を受光する受光
素子と、受光素子の出力信号レベルが常に一定レベルと
なるように発光素子への駆動電流を制御するフィードバ
ック手段を備えた光学式センサにおいて、受光素子の出
力信号レベルと基準信号レベルとを比較する比較手段か
らなり、比較手段の比較結果を異常検出結果として出力
する異常検出手段を備える。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光学式センサの発光素
子、受光素子、フィードバック回路等における故障が検
出できる光学式センサに関する。
子、受光素子、フィードバック回路等における故障が検
出できる光学式センサに関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来の光学式センサを説明するた
めの図で、（ａ）は光位置検出素子による位置検出原理
図、（ｂ）は従来の位置検出回路部を示すブロック図で
ある。以下、図を用いて説明する。先ず、位置検出原理
について述べる。
めの図で、（ａ）は光位置検出素子による位置検出原理
図、（ｂ）は従来の位置検出回路部を示すブロック図で
ある。以下、図を用いて説明する。先ず、位置検出原理
について述べる。
【０００３】３は光の照射位置を検出する光位置検出素
子（以下、ＰＳＤと称す）で、セラミック基板上に一種
のｐｉｎダイオードが構成されている。その等価回路は
ＰＳＤ３の両端のアノードＡ1 、Ａ2 間に抵抗Ｒが形成
され、光の照射によりフォトダイオードＤが導通状態と
なると共に、ＰＳＤ３に対する光照射点がフォトダイオ
ードＤと抵抗Ｒの接続点ａに対応していると見做され
る。光の照射により両アノードＡ1 、Ａ2 にはアノード
電流Ｉ1 、Ｉ2 が出力される（ＰＳＤの中央部に光が照
射されたときはＩ1 ＝Ｉ2 となる）。そして、後述する
センサ出力部４で処理され、演算処理装置により式
（１）を用いて光の照射位置ｘ（ＰＳＤ３の中央部から
の変位）が算出される。尚、ＬはＰＳＤの有効長であ
る。
子（以下、ＰＳＤと称す）で、セラミック基板上に一種
のｐｉｎダイオードが構成されている。その等価回路は
ＰＳＤ３の両端のアノードＡ1 、Ａ2 間に抵抗Ｒが形成
され、光の照射によりフォトダイオードＤが導通状態と
なると共に、ＰＳＤ３に対する光照射点がフォトダイオ
ードＤと抵抗Ｒの接続点ａに対応していると見做され
る。光の照射により両アノードＡ1 、Ａ2 にはアノード
電流Ｉ1 、Ｉ2 が出力される（ＰＳＤの中央部に光が照
射されたときはＩ1 ＝Ｉ2 となる）。そして、後述する
センサ出力部４で処理され、演算処理装置により式
（１）を用いて光の照射位置ｘ（ＰＳＤ３の中央部から
の変位）が算出される。尚、ＬはＰＳＤの有効長であ
る。
【０００４】 ｘ＝（Ｌ／２）×（Ｉ1 −Ｉ2 ）÷（Ｉ1 ＋Ｉ2 ） ・・・・・ 式（１） 次に、従来の位置検出装置の回路部の構成について述べ
る。２は発光ダイオードで、発光ダイオード２とＰＳＤ
３の間に設けられた位置を検出すべき被検出部に連結さ
れたスリット板（図示せず）のスリットを通過してＰＳ
Ｄ３に光を照射する。３は光位置検出素子（ＰＳＤ）
で、ＰＳＤ３上の照射位置に応じて、つまり、被検出部
の位置に応じて両端子Ａ1 、Ａ2 から電流Ｉ1、Ｉ2 が
出力される。
る。２は発光ダイオードで、発光ダイオード２とＰＳＤ
３の間に設けられた位置を検出すべき被検出部に連結さ
れたスリット板（図示せず）のスリットを通過してＰＳ
Ｄ３に光を照射する。３は光位置検出素子（ＰＳＤ）
で、ＰＳＤ３上の照射位置に応じて、つまり、被検出部
の位置に応じて両端子Ａ1 、Ａ2 から電流Ｉ1、Ｉ2 が
出力される。
【０００５】４はセンサ出力部で、ＰＳＤ３からの出力
電流Ｉ1 、Ｉ2 を差動増幅器４３に入力するために、対
応した電圧に変換する電流−電圧変換器４１，４２、Ｐ
ＳＤ３の両端子Ａ1 、Ａ2 からの出力電流Ｉ1 、Ｉ2 の
差に比例した電圧を出力する差動増幅器４３及びセンサ
出力のバイアス電圧を調整する（出力電圧と被検出部の
位置関係、つまり、基準位置の場合に出力電圧を何Ｖと
するかを調整する）オフセット電圧調整部４４で構成さ
れる。
電流Ｉ1 、Ｉ2 を差動増幅器４３に入力するために、対
応した電圧に変換する電流−電圧変換器４１，４２、Ｐ
ＳＤ３の両端子Ａ1 、Ａ2 からの出力電流Ｉ1 、Ｉ2 の
差に比例した電圧を出力する差動増幅器４３及びセンサ
出力のバイアス電圧を調整する（出力電圧と被検出部の
位置関係、つまり、基準位置の場合に出力電圧を何Ｖと
するかを調整する）オフセット電圧調整部４４で構成さ
れる。
【０００６】５は電流フィードバック部で、ＰＳＤ３の
両端子Ａ1 、Ａ2 に出力される電流Ｉ1 、Ｉ2 の和を常
に一定に保つようにフィードバックをかける。電流−電
圧変換器４１，４２の出力和を求める加算器５１、抵抗
Ｒ1 、コンデンサＣ1 及び加算器５１の出力と基準電圧
ＶR1と比較して比較結果に応じた電圧を出力する差動増
幅器５２から構成され、常に出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）
が一定になるようにフィードバックをかける。
両端子Ａ1 、Ａ2 に出力される電流Ｉ1 、Ｉ2 の和を常
に一定に保つようにフィードバックをかける。電流−電
圧変換器４１，４２の出力和を求める加算器５１、抵抗
Ｒ1 、コンデンサＣ1 及び加算器５１の出力と基準電圧
ＶR1と比較して比較結果に応じた電圧を出力する差動増
幅器５２から構成され、常に出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）
が一定になるようにフィードバックをかける。
【０００７】次に、位置検出装置の回路部の動作につい
て述べる。ＰＳＤ３の両端子Ａ1 、Ａ2 からは図示しな
いスリットを通過した光の照射位置及び光量に応じた電
流Ｉ1 、Ｉ2 が出力される。センサ出力部４では、この
電流を電流−電圧変換器４１，４２に入力して、それぞ
れ対応する電圧に変換する。変換された出力は差動増幅
器４３に入力され、出力電流Ｉ1 、Ｉ2 の差に比例した
電圧が出力される。さらに、センサ出力のバイアス電圧
を調整するために、オフセット調整器４４によりオフセ
ット電圧が加算され、最終的にＰＳＤ３の出力電流Ｉ1
、Ｉ2 の差に比例した電圧がセンサ出力として外部に
取り出される。このセンサ出力は演算処理装置（図示せ
ず）へ送られ、このセンサ出力から式（１）により光の
照射位置ｘが求められる。
て述べる。ＰＳＤ３の両端子Ａ1 、Ａ2 からは図示しな
いスリットを通過した光の照射位置及び光量に応じた電
流Ｉ1 、Ｉ2 が出力される。センサ出力部４では、この
電流を電流−電圧変換器４１，４２に入力して、それぞ
れ対応する電圧に変換する。変換された出力は差動増幅
器４３に入力され、出力電流Ｉ1 、Ｉ2 の差に比例した
電圧が出力される。さらに、センサ出力のバイアス電圧
を調整するために、オフセット調整器４４によりオフセ
ット電圧が加算され、最終的にＰＳＤ３の出力電流Ｉ1
、Ｉ2 の差に比例した電圧がセンサ出力として外部に
取り出される。このセンサ出力は演算処理装置（図示せ
ず）へ送られ、このセンサ出力から式（１）により光の
照射位置ｘが求められる。
【０００８】一方、電流フィードバック部５では、ＰＳ
Ｄ３の出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を常に一定に保つため
に、先ず、電流−電圧変換器４１，４２の出力は加算器
５１に送られ、両出力電圧の和がとられる。この加算器
５１の出力電圧は出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）に比例して
おり、抵抗Ｒ1 を介して差動増幅器５２に入力され、基
準電圧（通常値ＶR1）と比較され、この比較結果、つま
り差動増幅器５２の出力により、常に、差動増幅器５２
の入力電圧が基準電圧ＶR1と同じになるように、発光ダ
イオード２への供給電流Ｉ3 が調整される（フィードバ
ックがかけられる）。このようにして、常にＰＳＤ３の
出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）が一定になるよう発光ダイオ
ード２の輝度が調整される。
Ｄ３の出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を常に一定に保つため
に、先ず、電流−電圧変換器４１，４２の出力は加算器
５１に送られ、両出力電圧の和がとられる。この加算器
５１の出力電圧は出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）に比例して
おり、抵抗Ｒ1 を介して差動増幅器５２に入力され、基
準電圧（通常値ＶR1）と比較され、この比較結果、つま
り差動増幅器５２の出力により、常に、差動増幅器５２
の入力電圧が基準電圧ＶR1と同じになるように、発光ダ
イオード２への供給電流Ｉ3 が調整される（フィードバ
ックがかけられる）。このようにして、常にＰＳＤ３の
出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）が一定になるよう発光ダイオ
ード２の輝度が調整される。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上述の方法では、ＰＳ
Ｄ３の断線または出力低下、発光ダイオード２の断線、
電流フィードバック部５の短絡等の異常が発生し、電流
フィードバックがかからなくなっても、異常の発生、ま
た異常の原因及び箇所が判らないという問題がある。
Ｄ３の断線または出力低下、発光ダイオード２の断線、
電流フィードバック部５の短絡等の異常が発生し、電流
フィードバックがかからなくなっても、異常の発生、ま
た異常の原因及び箇所が判らないという問題がある。
【００１０】また、発光ダイオード２が汚れ、劣化等に
より輝度が低下しても、電流フィードバック部５が、光
位置検出素子３の出力電流（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）が常に一定に
なるように、自動的に発光ダイオード２に供給する電流
Ｉ3 を調整する。この電流フィードバックは発光ダイオ
ード２が汚れ、劣化等でさらに輝度が低下すれば、際限
なく供給電流Ｉ3 を増加するように作用する（実際には
発光ダイオードの特性または供給電源により限界があ
る）。そのために、動作が完全におかしくなるまで、発
光ダイオード２の汚れ、劣化等に気付かず、必要以上の
大電流で駆動し続けることになる。従って、突然光学式
センサが動作しなくなってしまったり、また過電流によ
り発光素子等の寿命が短くなるという問題が生ずる。
より輝度が低下しても、電流フィードバック部５が、光
位置検出素子３の出力電流（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）が常に一定に
なるように、自動的に発光ダイオード２に供給する電流
Ｉ3 を調整する。この電流フィードバックは発光ダイオ
ード２が汚れ、劣化等でさらに輝度が低下すれば、際限
なく供給電流Ｉ3 を増加するように作用する（実際には
発光ダイオードの特性または供給電源により限界があ
る）。そのために、動作が完全におかしくなるまで、発
光ダイオード２の汚れ、劣化等に気付かず、必要以上の
大電流で駆動し続けることになる。従って、突然光学式
センサが動作しなくなってしまったり、また過電流によ
り発光素子等の寿命が短くなるという問題が生ずる。
【００１１】本発明は、受光素子の断線または出力低
下、発光素子の断線や劣化、汚れ、また、電流フィード
バック回路の短絡等の異常が発生した場合に、異常の発
生及び異常の原因及び箇所を検出できる光学式センサを
提供することを目的とする。
下、発光素子の断線や劣化、汚れ、また、電流フィード
バック回路の短絡等の異常が発生した場合に、異常の発
生及び異常の原因及び箇所を検出できる光学式センサを
提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、発光素子と、該発光素子からの光を受光す
る受光素子と、該受光素子の出力信号レベルが常に一定
レベルとなるように前記発光素子への駆動電流を制御す
るフィードバック手段を備えた光学式センサにおいて、
前記受光素子の出力信号レベルと基準信号レベルとを比
較する比較手段からなり、該比較手段の比較結果を異常
検出結果として出力する異常検出手段を備えたことを特
徴とするものである。
に本発明は、発光素子と、該発光素子からの光を受光す
る受光素子と、該受光素子の出力信号レベルが常に一定
レベルとなるように前記発光素子への駆動電流を制御す
るフィードバック手段を備えた光学式センサにおいて、
前記受光素子の出力信号レベルと基準信号レベルとを比
較する比較手段からなり、該比較手段の比較結果を異常
検出結果として出力する異常検出手段を備えたことを特
徴とするものである。
【００１３】また、前記異常検出手段は前記受光素子か
らの出力信号と信号レベルの異なる複数の基準信号とを
比較する複数の比較手段を有することを特徴とするもの
である。また、発光素子と、該発光素子からの光を受光
する受光素子と、該受光素子の出力信号レベルが常に一
定レベルとなるように前記発光素子への駆動電流を制御
するフィードバック手段を備えた光学式センサにおい
て、前記駆動電流の電流を検出する駆動電流検出手段
と、前記駆動電流の電流値と基準電流値を比較する第２
比較手段からなり、該第２比較手段の比較結果を異常検
出結果として出力する第２異常検出手段を備えたことを
特徴とするものである。
らの出力信号と信号レベルの異なる複数の基準信号とを
比較する複数の比較手段を有することを特徴とするもの
である。また、発光素子と、該発光素子からの光を受光
する受光素子と、該受光素子の出力信号レベルが常に一
定レベルとなるように前記発光素子への駆動電流を制御
するフィードバック手段を備えた光学式センサにおい
て、前記駆動電流の電流を検出する駆動電流検出手段
と、前記駆動電流の電流値と基準電流値を比較する第２
比較手段からなり、該第２比較手段の比較結果を異常検
出結果として出力する第２異常検出手段を備えたことを
特徴とするものである。
【００１４】
【作用】発光素子からの光が受光素子に照射されると、
受光素子からは光の照射量に応じた信号が出力される。
フィードバック手段が受光素子からの出力信号レベルが
常に一定レベルになるように、発光素子への駆動電流を
制御する。このとき発光素子の断線等で出力信号レベル
が極端に低下したときは、比較手段が受光素子からの出
力信号レベルと正常時の基準信号レベルと比較する。出
力信号レベルが正常時の基準信号レベルより低くなる
と、異常検出手段が発光素子の異常を検出する。
受光素子からは光の照射量に応じた信号が出力される。
フィードバック手段が受光素子からの出力信号レベルが
常に一定レベルになるように、発光素子への駆動電流を
制御する。このとき発光素子の断線等で出力信号レベル
が極端に低下したときは、比較手段が受光素子からの出
力信号レベルと正常時の基準信号レベルと比較する。出
力信号レベルが正常時の基準信号レベルより低くなる
と、異常検出手段が発光素子の異常を検出する。
【００１５】また、発光素子からの光が受光素子に照射
されると、受光素子からは光の照射量に応じた信号が出
力される。フィードバック手段が受光素子からの出力信
号レベルが常に一定レベルになるように、発光素子への
駆動電流を制御する。このとき異常の種別により出力信
号レベルが異なる。複数の比較手段が受光素子からの出
力信号レベルと複数の基準信号レベルと比較する。受光
素子からの出力信号レベルの高低により、複数の比較手
段からの出力の組み合わせが異なるので、異常検出手段
が異常の種別を検出することができる。
されると、受光素子からは光の照射量に応じた信号が出
力される。フィードバック手段が受光素子からの出力信
号レベルが常に一定レベルになるように、発光素子への
駆動電流を制御する。このとき異常の種別により出力信
号レベルが異なる。複数の比較手段が受光素子からの出
力信号レベルと複数の基準信号レベルと比較する。受光
素子からの出力信号レベルの高低により、複数の比較手
段からの出力の組み合わせが異なるので、異常検出手段
が異常の種別を検出することができる。
【００１６】また、発光素子からの光が受光素子に照射
されると、受光素子からは光の照射量に応じた信号が出
力される。フィードバック手段が受光素子からの出力信
号レベルが常に一定レベルになるように、発光素子への
駆動電流を制御する。ここで、発光素子の輝度が低下し
て、受光素子からの出力信号レベルが低下すると、これ
を補うように発光素子の駆動電流が増加される。このと
き駆動電流検出手段が発光素子への駆動電流を検出し、
第２比較手段がこの駆動電流値と正常時の基準電流値を
比較する。この比較結果を基に第２異常検出手段が発光
素子の異常を検出する。
されると、受光素子からは光の照射量に応じた信号が出
力される。フィードバック手段が受光素子からの出力信
号レベルが常に一定レベルになるように、発光素子への
駆動電流を制御する。ここで、発光素子の輝度が低下し
て、受光素子からの出力信号レベルが低下すると、これ
を補うように発光素子の駆動電流が増加される。このと
き駆動電流検出手段が発光素子への駆動電流を検出し、
第２比較手段がこの駆動電流値と正常時の基準電流値を
比較する。この比較結果を基に第２異常検出手段が発光
素子の異常を検出する。
【００１７】
【実施例】図１は本発明の第１の実施例の光学式センサ
の回路部を示すブロック図である。以下、図を用いて説
明する。２は発光ダイオードで、発光ダイオード２とＰ
ＳＤ３の間に設けられた位置を検出すべき被検出部に連
結されたスリット板（図示せず）のスリットを通過して
ＰＳＤ３に光を照射する。３は光位置検出素子（ＰＳ
Ｄ）で、ＰＳＤ３上の照射位置に応じて、つまり、被検
出部の位置に応じて両端子Ａ1 、Ａ2 から電流Ｉ1、Ｉ2
が出力される。
の回路部を示すブロック図である。以下、図を用いて説
明する。２は発光ダイオードで、発光ダイオード２とＰ
ＳＤ３の間に設けられた位置を検出すべき被検出部に連
結されたスリット板（図示せず）のスリットを通過して
ＰＳＤ３に光を照射する。３は光位置検出素子（ＰＳ
Ｄ）で、ＰＳＤ３上の照射位置に応じて、つまり、被検
出部の位置に応じて両端子Ａ1 、Ａ2 から電流Ｉ1、Ｉ2
が出力される。
【００１８】４はセンサ出力部で、ＰＳＤ３からの出力
電流Ｉ1 、Ｉ2 を差動増幅器４３に入力するために、対
応した電圧に変換する電流−電圧変換器４１，４２、Ｐ
ＳＤ３の両端子Ａ1 、Ａ2 からの出力電流Ｉ1 、Ｉ2 の
差に比例した電圧を出力する差動増幅器４３及びセンサ
出力のバイアス電圧を調整する（出力電圧と被検出部の
位置の関係、つまり基準位置の場合に出力電圧を何Ｖと
するかを調整する）オフセット電圧調整部４４で構成さ
れる。
電流Ｉ1 、Ｉ2 を差動増幅器４３に入力するために、対
応した電圧に変換する電流−電圧変換器４１，４２、Ｐ
ＳＤ３の両端子Ａ1 、Ａ2 からの出力電流Ｉ1 、Ｉ2 の
差に比例した電圧を出力する差動増幅器４３及びセンサ
出力のバイアス電圧を調整する（出力電圧と被検出部の
位置の関係、つまり基準位置の場合に出力電圧を何Ｖと
するかを調整する）オフセット電圧調整部４４で構成さ
れる。
【００１９】５は電流フィードバック部で、ＰＳＤ３の
両端子Ａ1 、Ａ2 に出力される電流Ｉ1 、Ｉ2 の和を常
に一定に保つようにフィードバックをかける。電流−電
圧変換器４１，４２の出力和を求める加算器５１、抵抗
Ｒ1 、コンデンサＣ1 及び加算器５１の出力と基準電圧
ＶR1と比較して、比較結果に応じた電圧を出力する差動
増幅器５２から構成され、常に出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2
）が一定になるようにフィードバックをかける。
両端子Ａ1 、Ａ2 に出力される電流Ｉ1 、Ｉ2 の和を常
に一定に保つようにフィードバックをかける。電流−電
圧変換器４１，４２の出力和を求める加算器５１、抵抗
Ｒ1 、コンデンサＣ1 及び加算器５１の出力と基準電圧
ＶR1と比較して、比較結果に応じた電圧を出力する差動
増幅器５２から構成され、常に出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2
）が一定になるようにフィードバックをかける。
【００２０】１は故障検出部で、電流−電圧変換器４
１，４２の出力和を求める加算器５１の出力（Ｂ点）を
基準電圧ＶR2と比較するコンパレータ１１で構成され、
外部端子としてコンパレータ１１の比較結果を出力する
出力端子Ｔ１１が設けられている。先ず、位置検出装置
の回路部の動作について述べる。
１，４２の出力和を求める加算器５１の出力（Ｂ点）を
基準電圧ＶR2と比較するコンパレータ１１で構成され、
外部端子としてコンパレータ１１の比較結果を出力する
出力端子Ｔ１１が設けられている。先ず、位置検出装置
の回路部の動作について述べる。
【００２１】ＰＳＤ３の両端子Ａ1 、Ａ2 からは図示し
ないスリットを通過した光の照射位置及び光量に応じた
電流Ｉ1 、Ｉ2 が出力される。センサ出力部４では、こ
の電流を電流−電圧変換器４１，４２に入力して、それ
ぞれ対応する電圧に変換する。変換された出力は差動増
幅器４３に入力され、出力電流Ｉ1 、Ｉ2 の差に比例し
た電圧が出力される。さらに、センサ出力のバイアス電
圧を調整するために、オフセット調整器４４によりオフ
セット電圧が加算され、最終的にＰＳＤ３の出力電流Ｉ
1 、Ｉ2 の差に比例した電圧がセンサ出力として外部に
取り出される。このセンサ出力は演算処理装置（図示せ
ず）へ送られ、このセンサ出力から式（１）により光の
照射位置ｘが求められる。
ないスリットを通過した光の照射位置及び光量に応じた
電流Ｉ1 、Ｉ2 が出力される。センサ出力部４では、こ
の電流を電流−電圧変換器４１，４２に入力して、それ
ぞれ対応する電圧に変換する。変換された出力は差動増
幅器４３に入力され、出力電流Ｉ1 、Ｉ2 の差に比例し
た電圧が出力される。さらに、センサ出力のバイアス電
圧を調整するために、オフセット調整器４４によりオフ
セット電圧が加算され、最終的にＰＳＤ３の出力電流Ｉ
1 、Ｉ2 の差に比例した電圧がセンサ出力として外部に
取り出される。このセンサ出力は演算処理装置（図示せ
ず）へ送られ、このセンサ出力から式（１）により光の
照射位置ｘが求められる。
【００２２】一方、電流フィードバック部５では、ＰＳ
Ｄ３の出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を常に一定に保つため
に、先ず、電流−電圧変換器４１，４２の出力は加算器
５１に送られ、両出力電圧の和がとられる。この加算器
５１の出力電圧は出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）に比例して
おり、抵抗Ｒ1 を介して差動増幅器５２に入力され、基
準電圧（通常値ＶR1）と比較され、この比較結果、つま
り、差動増幅器５２の出力により、常に、差動増幅器５
２の入力電圧が基準電圧ＶR1と同じになるように、発光
ダイオード２への供給電流Ｉ3 が調整される（フィード
バックがかけられる）。このようにして、常にＰＳＤ３
の出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）が一定になるよう発光ダイ
オード２の輝度が調整される。
Ｄ３の出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を常に一定に保つため
に、先ず、電流−電圧変換器４１，４２の出力は加算器
５１に送られ、両出力電圧の和がとられる。この加算器
５１の出力電圧は出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）に比例して
おり、抵抗Ｒ1 を介して差動増幅器５２に入力され、基
準電圧（通常値ＶR1）と比較され、この比較結果、つま
り、差動増幅器５２の出力により、常に、差動増幅器５
２の入力電圧が基準電圧ＶR1と同じになるように、発光
ダイオード２への供給電流Ｉ3 が調整される（フィード
バックがかけられる）。このようにして、常にＰＳＤ３
の出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）が一定になるよう発光ダイ
オード２の輝度が調整される。
【００２３】次に、本光学式センサの発光ダイオード２
が使用中に断線した場合の故障検出動作について述べ
る。ＰＳＤ３には発光ダイオード２からの光が照射され
ず、電流フィードバック部５がＰＳＤ３の出力電流和
（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を一定に保つように作用（電流を増大さ
せる）しても、発光ダイオード２が断線しているため
に、出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）は０となる（実際には少
量の暗電流は流れる）。
が使用中に断線した場合の故障検出動作について述べ
る。ＰＳＤ３には発光ダイオード２からの光が照射され
ず、電流フィードバック部５がＰＳＤ３の出力電流和
（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を一定に保つように作用（電流を増大さ
せる）しても、発光ダイオード２が断線しているため
に、出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）は０となる（実際には少
量の暗電流は流れる）。
【００２４】その結果、フィードバック部５のＢ点にお
ける電圧は０Ｖとなるので、故障検出部１のコンパレー
タ１１で、Ｂ点の電圧を基準電圧ＶR2（通常値よりやや
低い電圧に設定されている）と比較すれば、異常時には
コンパレータ１１の出力端子Ｔ１１からは高レベル信号
（Ｈ信号）が出力される（正常時はＬ出力）。尚、出力
端子Ｔ１１からの出力信号の利用方法としては、例え
ば、出力端子Ｔ１１からＨが出力されると、異常がある
ことを知らせる警告灯（図示せず）を点灯する等の制御
を行えばよい。
ける電圧は０Ｖとなるので、故障検出部１のコンパレー
タ１１で、Ｂ点の電圧を基準電圧ＶR2（通常値よりやや
低い電圧に設定されている）と比較すれば、異常時には
コンパレータ１１の出力端子Ｔ１１からは高レベル信号
（Ｈ信号）が出力される（正常時はＬ出力）。尚、出力
端子Ｔ１１からの出力信号の利用方法としては、例え
ば、出力端子Ｔ１１からＨが出力されると、異常がある
ことを知らせる警告灯（図示せず）を点灯する等の制御
を行えばよい。
【００２５】以上のように本実施例では、光位置検出素
子の出力電流を常時検知しており、この値が予め設定さ
れた値以下なると異常と判断でき、発光ダイオードの交
換等の処置が迅速かつ適切に行え、光学式センサの信頼
性が向上する。図２は本発明の第２の実施例の光学式セ
ンサの回路部を示すブロック図である。以下、図を用い
て説明する。
子の出力電流を常時検知しており、この値が予め設定さ
れた値以下なると異常と判断でき、発光ダイオードの交
換等の処置が迅速かつ適切に行え、光学式センサの信頼
性が向上する。図２は本発明の第２の実施例の光学式セ
ンサの回路部を示すブロック図である。以下、図を用い
て説明する。
【００２６】発光ダイオード２、ＰＳＤ３、センサ出力
部４及び電流フィードバック部５の各部またはブロック
の名称、機能及び動作は第１の実施例と全く同じである
ため同一符号を付し、説明は省略する。６は故障検出部
で、電流−電圧変換器４１，４２の出力和を求める加算
器５１の出力（Ｂ点）を基準電圧ＶR3及び基準電圧ＶR4
（但し、ＶR3＜ＶR4とする）と比較するコンパレータ６
１，６２及びコンパレータ６１，６２の出力の論理和を
求める論理回路６３で構成される。尚、外部端子として
コンパレータ６１，６２の比較結果を出力する出力端子
Ｔ６１、Ｔ６２、論理回路６３の論理結果を出力する出
力端子Ｔ６３が設けられている。
部４及び電流フィードバック部５の各部またはブロック
の名称、機能及び動作は第１の実施例と全く同じである
ため同一符号を付し、説明は省略する。６は故障検出部
で、電流−電圧変換器４１，４２の出力和を求める加算
器５１の出力（Ｂ点）を基準電圧ＶR3及び基準電圧ＶR4
（但し、ＶR3＜ＶR4とする）と比較するコンパレータ６
１，６２及びコンパレータ６１，６２の出力の論理和を
求める論理回路６３で構成される。尚、外部端子として
コンパレータ６１，６２の比較結果を出力する出力端子
Ｔ６１、Ｔ６２、論理回路６３の論理結果を出力する出
力端子Ｔ６３が設けられている。
【００２７】次に、本光学式センサの故障検出動作につ
いて述べる。 発光ダイオード２が使用中に断線した場合 この場合は、ＰＳＤ３には発光ダイオード２からの光が
照射されず、電流フィードバック部５がＰＳＤ３の出力
電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を一定に保つように作用しても、
発光ダイオード２が断線しているために、出力電流和
（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）は０となる（実際には少量の暗電流は流
れる）。
いて述べる。 発光ダイオード２が使用中に断線した場合 この場合は、ＰＳＤ３には発光ダイオード２からの光が
照射されず、電流フィードバック部５がＰＳＤ３の出力
電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を一定に保つように作用しても、
発光ダイオード２が断線しているために、出力電流和
（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）は０となる（実際には少量の暗電流は流
れる）。
【００２８】その結果、Ｂ点における電圧は０Ｖとなる
ので、故障検出部６のコンパレータ６１，６２で、基準
電圧ＶR3（通常値よりやや低い電圧に設定されてい
る），ＶR4（通常値よりやや高い電圧に設定されてい
る）と比較することにより、コンパレータ６１の出力端
子Ｔ６１からは高レベル（Ｈ）が出力される。同様に、
コンパレータ６２の出力端子Ｔ６２からは低レベル
（Ｌ）が出力される。また、論理回路６３の出力端子Ｔ
６３からは高レベル（Ｈ）が出力される。
ので、故障検出部６のコンパレータ６１，６２で、基準
電圧ＶR3（通常値よりやや低い電圧に設定されてい
る），ＶR4（通常値よりやや高い電圧に設定されてい
る）と比較することにより、コンパレータ６１の出力端
子Ｔ６１からは高レベル（Ｈ）が出力される。同様に、
コンパレータ６２の出力端子Ｔ６２からは低レベル
（Ｌ）が出力される。また、論理回路６３の出力端子Ｔ
６３からは高レベル（Ｈ）が出力される。
【００２９】ＰＳＤ３が使用中に劣化した場合 ＰＳＤ３が使用中に劣化すると出力電流が低下するの
で、電流フィードバック部５がＰＳＤ３の出力電流和
（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を一定に保つように作用しても、出力電
流がほとんど増加せず、出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）は正
常な値よりも低い値で飽和する。
で、電流フィードバック部５がＰＳＤ３の出力電流和
（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）を一定に保つように作用しても、出力電
流がほとんど増加せず、出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）は正
常な値よりも低い値で飽和する。
【００３０】その結果、Ｂ点における電圧は基準電圧Ｖ
R3とＶR4の間の電圧（ＶR3、ＶR4をそのような値に予め
設定しておく）となるので、故障検出部６のコンパレー
タ６１，６２で、基準電圧ＶR3，ＶR4と比較することに
より、コンパレータ６１の出力端子Ｔ６１からは低レベ
ル（Ｌ）が出力される。同様に、コンパレータ６２の出
力端子Ｔ６２からは低レベル（Ｌ）が出力される。ま
た、論理回路６３の出力端子Ｔ６３からは低レベル
（Ｌ）が出力される。
R3とＶR4の間の電圧（ＶR3、ＶR4をそのような値に予め
設定しておく）となるので、故障検出部６のコンパレー
タ６１，６２で、基準電圧ＶR3，ＶR4と比較することに
より、コンパレータ６１の出力端子Ｔ６１からは低レベ
ル（Ｌ）が出力される。同様に、コンパレータ６２の出
力端子Ｔ６２からは低レベル（Ｌ）が出力される。ま
た、論理回路６３の出力端子Ｔ６３からは低レベル
（Ｌ）が出力される。
【００３１】フィードバック回路５が短絡（発光ダイ
オード２のフィードバック回路５側の端子が接地状態）
した場合 フィードバック回路５が短絡すると、発光ダイオード２
は最大輝度で発光し続けるので、出力電流が正常な値よ
りも極端に上昇する。その結果、Ｂ点における電圧は高
くなるので、故障検出部６のコンパレータ６１，６２
で、基準電圧ＶR3，ＶR4と比較することにより、コンパ
レータ６１の出力端子Ｔ６１からは低レベル（Ｌ）が出
力される。同様に、コンパレータ６２の出力端子Ｔ６２
からは高レベル（Ｈ）が出力される。また、論理回路６
３の出力端子Ｔ６３からは高レベル（Ｈ）が出力され
る。
オード２のフィードバック回路５側の端子が接地状態）
した場合 フィードバック回路５が短絡すると、発光ダイオード２
は最大輝度で発光し続けるので、出力電流が正常な値よ
りも極端に上昇する。その結果、Ｂ点における電圧は高
くなるので、故障検出部６のコンパレータ６１，６２
で、基準電圧ＶR3，ＶR4と比較することにより、コンパ
レータ６１の出力端子Ｔ６１からは低レベル（Ｌ）が出
力される。同様に、コンパレータ６２の出力端子Ｔ６２
からは高レベル（Ｈ）が出力される。また、論理回路６
３の出力端子Ｔ６３からは高レベル（Ｈ）が出力され
る。
【００３２】従って、出力端子Ｔ６１、Ｔ６２、Ｔ６３
からの出力の組み合わせにより、どのような故障（，
，）かが判定できる。即ち、前述の出力端子の出力
がＨ、Ｌ、Ｈならば発光ダイオード２の断線等による障
害、Ｌ、Ｌ、Ｌならば、ＰＳＤの劣化、汚れ等による出
力低下、Ｌ、Ｈ、Ｈならばフィードバック回路の短絡等
の発光ダイオード２の駆動電圧の異常増加となる故障で
あることが判る。
からの出力の組み合わせにより、どのような故障（，
，）かが判定できる。即ち、前述の出力端子の出力
がＨ、Ｌ、Ｈならば発光ダイオード２の断線等による障
害、Ｌ、Ｌ、Ｌならば、ＰＳＤの劣化、汚れ等による出
力低下、Ｌ、Ｈ、Ｈならばフィードバック回路の短絡等
の発光ダイオード２の駆動電圧の異常増加となる故障で
あることが判る。
【００３３】尚、出力端子Ｔ６１、Ｔ６２、Ｔ６３から
の出力信号の利用方法としては、例えば、以上の結果に
基づき異常の発生及び故障の種類を知らせる警告灯（図
示せず）を点灯する等の制御を行えばよい。以上のよう
に本実施例では、光位置検出素子の出力電流を常時検知
しており、この電流値（電圧値）を複数の予め設定され
た値と比較しているので、その出力レベルの組み合わせ
により故障種別が診断でき、適切な処置ができる。
の出力信号の利用方法としては、例えば、以上の結果に
基づき異常の発生及び故障の種類を知らせる警告灯（図
示せず）を点灯する等の制御を行えばよい。以上のよう
に本実施例では、光位置検出素子の出力電流を常時検知
しており、この電流値（電圧値）を複数の予め設定され
た値と比較しているので、その出力レベルの組み合わせ
により故障種別が診断でき、適切な処置ができる。
【００３４】図３は本発明の第３の実施例の光学式セン
サの回路部を示すブロック図である。以下、図を用いて
説明する。発光ダイオード２、ＰＳＤ３、センサ出力部
４及び電流フィードバック部５の各部またはブロックの
名称、機能及び動作は第１の実施例と全く同じため同一
の符号を付し、説明は省略する。７は故障検出部で、発
光ダイオード２に供給される電流Ｉ3 を電圧として取り
出すための抵抗Ｒ2 、抵抗Ｒ2 の両端に生ずる電位差
（電圧）を増幅する差動増幅器７１及び差動増幅器７１
で増幅された出力を基準電圧ＶR5と比較するコンパレー
タ７２で構成される。
サの回路部を示すブロック図である。以下、図を用いて
説明する。発光ダイオード２、ＰＳＤ３、センサ出力部
４及び電流フィードバック部５の各部またはブロックの
名称、機能及び動作は第１の実施例と全く同じため同一
の符号を付し、説明は省略する。７は故障検出部で、発
光ダイオード２に供給される電流Ｉ3 を電圧として取り
出すための抵抗Ｒ2 、抵抗Ｒ2 の両端に生ずる電位差
（電圧）を増幅する差動増幅器７１及び差動増幅器７１
で増幅された出力を基準電圧ＶR5と比較するコンパレー
タ７２で構成される。
【００３５】尚、外部端子としてコンパレータ７２の比
較結果等を出力する出力端子Ｔ７２が設けられている。
次に、本光学式センサの故障検出動作について述べる。
故障検出部１の抵抗Ｒ２に流れる電流Ｉ3 によって、抵
抗Ｒ２の両端には供給電流Ｉ3 に比例した電圧が生じ
る。この電圧は差動増幅器７１に入力され、増幅され
て、コンパレータ７２で基準電圧ＶR5（この電圧を超え
ると異常と判断される電圧で予め設定されている）と比
較される。従って、コンパレータ７２は入力電圧が基準
電圧ＶR5より低いときは高レベル（Ｈ）を出力し、高い
ときは低レベル（Ｌ）を出力する。
較結果等を出力する出力端子Ｔ７２が設けられている。
次に、本光学式センサの故障検出動作について述べる。
故障検出部１の抵抗Ｒ２に流れる電流Ｉ3 によって、抵
抗Ｒ２の両端には供給電流Ｉ3 に比例した電圧が生じ
る。この電圧は差動増幅器７１に入力され、増幅され
て、コンパレータ７２で基準電圧ＶR5（この電圧を超え
ると異常と判断される電圧で予め設定されている）と比
較される。従って、コンパレータ７２は入力電圧が基準
電圧ＶR5より低いときは高レベル（Ｈ）を出力し、高い
ときは低レベル（Ｌ）を出力する。
【００３６】従って、発光ダイオード２が正常なときは
供給電流Ｉ3 が低いので、高レベル（Ｈ）が出力されて
いる。しかし、発光ダイオード２は長時間の使用するこ
とにより、または、使用環境により、その表面が汚れ、
または、劣化して輝度が低下し、それにともなって、Ｐ
ＳＤ３に照射される照度も低下する。そこで、電流フィ
ードバック部５はＰＳＤ３の出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）
を一定に保つように、発光ダイオード２に供給する電流
Ｉ3 を増加させて輝度を上昇させる。この電流フィード
バックは発光ダイオード２が汚れ、劣化等でさらに輝度
が低下すれば、際限なく電流を増加するように作用す
る。このため、このような状態となるとコンパレータ７
２の入力電圧が基準電圧ＶR5より高くなり、コンパレー
タ７２の出力はＬとなる。
供給電流Ｉ3 が低いので、高レベル（Ｈ）が出力されて
いる。しかし、発光ダイオード２は長時間の使用するこ
とにより、または、使用環境により、その表面が汚れ、
または、劣化して輝度が低下し、それにともなって、Ｐ
ＳＤ３に照射される照度も低下する。そこで、電流フィ
ードバック部５はＰＳＤ３の出力電流和（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）
を一定に保つように、発光ダイオード２に供給する電流
Ｉ3 を増加させて輝度を上昇させる。この電流フィード
バックは発光ダイオード２が汚れ、劣化等でさらに輝度
が低下すれば、際限なく電流を増加するように作用す
る。このため、このような状態となるとコンパレータ７
２の入力電圧が基準電圧ＶR5より高くなり、コンパレー
タ７２の出力はＬとなる。
【００３７】従って、コンパレータ７２から低レベル
（Ｌ）が出力されると、供給電流Ｉ3が増大して発光ダ
イオード２が異常な状態になっていると判断されるの
で、清掃，交換等の必要な措置をとることができる。
尚、出力端子Ｔ７２からの出力信号の利用方法として
は、出力端子Ｔ７２からの低レベル（Ｌ）出力で、発光
ダイオードに異常があることを知らせる警告灯（図示せ
ず）を点灯する等の制御を行えばよい。
（Ｌ）が出力されると、供給電流Ｉ3が増大して発光ダ
イオード２が異常な状態になっていると判断されるの
で、清掃，交換等の必要な措置をとることができる。
尚、出力端子Ｔ７２からの出力信号の利用方法として
は、出力端子Ｔ７２からの低レベル（Ｌ）出力で、発光
ダイオードに異常があることを知らせる警告灯（図示せ
ず）を点灯する等の制御を行えばよい。
【００３８】以上のように本実施例では、発光ダイオー
ドへの供給電流により生ずる抵抗両端の電圧を常に検知
しており、この値が予め設定された値を超えると異常と
判断でき、発光ダイオードの清掃、または、交換等の処
置ができ光学式センサの信頼性が向上する。
ドへの供給電流により生ずる抵抗両端の電圧を常に検知
しており、この値が予め設定された値を超えると異常と
判断でき、発光ダイオードの清掃、または、交換等の処
置ができ光学式センサの信頼性が向上する。
【００３９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光学式センサの使用中に常に異常が監視でき、異常が早
期に発見できて適切な措置がとれるので光学式センサの
信頼性が向上する。
光学式センサの使用中に常に異常が監視でき、異常が早
期に発見できて適切な措置がとれるので光学式センサの
信頼性が向上する。
【図１】本発明の第１の実施例の光学式センサの回路部
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】本発明の第２の実施例の光学式センサの回路部
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図３】本発明の第３の実施例の光学式センサの回路部
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図４】従来の光学式センサのセンサ部を説明する図
で、（ａ）は位置検出原理図、（ｂ）は回路部を示すブ
ロック図である。
で、（ａ）は位置検出原理図、（ｂ）は回路部を示すブ
ロック図である。
１、６、７・・・故障検出部 ２・・・発光ダイオード ３・・・光位置検出素子（ＰＳＤ） ４・・・センサ出力部 ５・・・電流フィードバック部 １１・・・差動増幅器 １１、６１、６２、７２・・・コンパレータ
Claims (3)
- 【請求項１】 発光素子と、該発光素子からの光を受光
する受光素子と、該受光素子の出力信号レベルが常に一
定レベルとなるように前記発光素子への駆動電流を制御
するフィードバック手段を備えた光学式センサにおい
て、 前記受光素子の出力信号レベルと基準信号レベルとを比
較する比較手段からなり、該比較手段の比較結果を異常
検出結果として出力する異常検出手段を備えたことを特
徴とする光学式センサ。 - 【請求項２】 前記異常検出手段は前記受光素子からの
出力信号と信号レベルの異なる複数の基準信号とを比較
する複数の比較手段を有することを特徴とする請求項１
記載の光学式センサ。 - 【請求項３】 発光素子と、該発光素子からの光を受光
する受光素子と、該受光素子の出力信号レベルが常に一
定レベルとなるように前記発光素子への駆動電流を制御
するフィードバック手段を備えた光学式センサにおい
て、 前記駆動電流の電流を検出する駆動電流検出手段と、 前記駆動電流の電流値と基準電流値を比較する第２比較
手段からなり、該第２比較手段の比較結果を異常検出結
果として出力する第２異常検出手段を備えたことを特徴
とする光学式センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31861694A JPH08178618A (ja) | 1994-12-21 | 1994-12-21 | 光学式センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31861694A JPH08178618A (ja) | 1994-12-21 | 1994-12-21 | 光学式センサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08178618A true JPH08178618A (ja) | 1996-07-12 |
Family
ID=18101131
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31861694A Withdrawn JPH08178618A (ja) | 1994-12-21 | 1994-12-21 | 光学式センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08178618A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20010017895A (ko) * | 1999-08-16 | 2001-03-05 | 배길훈 | 광량센서의 오픈감지 장치 및 그 방법 |
| JP2002071334A (ja) * | 2000-08-30 | 2002-03-08 | Shinko Electric Co Ltd | 測距センサの故障検出装置および故障検出方法 |
| EP1276228A2 (de) * | 2001-07-09 | 2003-01-15 | Pwb-Ruhlatec Industrieprodukte GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Signalstabilisierung |
| JP2003043160A (ja) * | 2001-07-27 | 2003-02-13 | Canon Inc | 媒体検出装置 |
| CN104061847A (zh) * | 2014-06-12 | 2014-09-24 | 北京航天发射技术研究所 | 一种光电弱信号处理系统 |
| KR20190016319A (ko) * | 2017-08-08 | 2019-02-18 | 주식회사 에이텍에이피 | 센서 자동 레벨링 장치 및 방법 |
-
1994
- 1994-12-21 JP JP31861694A patent/JPH08178618A/ja not_active Withdrawn
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20010017895A (ko) * | 1999-08-16 | 2001-03-05 | 배길훈 | 광량센서의 오픈감지 장치 및 그 방법 |
| JP2002071334A (ja) * | 2000-08-30 | 2002-03-08 | Shinko Electric Co Ltd | 測距センサの故障検出装置および故障検出方法 |
| EP1276228A2 (de) * | 2001-07-09 | 2003-01-15 | Pwb-Ruhlatec Industrieprodukte GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Signalstabilisierung |
| EP1276228A3 (de) * | 2001-07-09 | 2005-06-22 | Pwb-Ruhlatec Industrieprodukte GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Signalstabilisierung |
| JP2003043160A (ja) * | 2001-07-27 | 2003-02-13 | Canon Inc | 媒体検出装置 |
| JP4536964B2 (ja) * | 2001-07-27 | 2010-09-01 | キヤノン株式会社 | 媒体検出装置および画像形成装置 |
| CN104061847A (zh) * | 2014-06-12 | 2014-09-24 | 北京航天发射技术研究所 | 一种光电弱信号处理系统 |
| CN104061847B (zh) * | 2014-06-12 | 2017-09-08 | 北京航天发射技术研究所 | 一种光电弱信号处理系统 |
| KR20190016319A (ko) * | 2017-08-08 | 2019-02-18 | 주식회사 에이텍에이피 | 센서 자동 레벨링 장치 및 방법 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020305 |